JP4963704B2 - メモリ装置およびシステム - Google Patents

メモリ装置およびシステム Download PDF

Info

Publication number
JP4963704B2
JP4963704B2 JP2008518443A JP2008518443A JP4963704B2 JP 4963704 B2 JP4963704 B2 JP 4963704B2 JP 2008518443 A JP2008518443 A JP 2008518443A JP 2008518443 A JP2008518443 A JP 2008518443A JP 4963704 B2 JP4963704 B2 JP 4963704B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory device
memory
order
training pattern
signal lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008518443A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008547124A (ja
Inventor
フォークト、ピート
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Intel Corp
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of JP2008547124A publication Critical patent/JP2008547124A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4963704B2 publication Critical patent/JP4963704B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/20Memory cell initialisation circuits, e.g. when powering up or down, memory clear, latent image memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4072Circuits for initialization, powering up or down, clearing memory or presetting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15172Fan-out arrangement of the internal vias
    • H01L2924/15174Fan-out arrangement of the internal vias in different layers of the multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Memory System (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Communication Control (AREA)
  • Medicines That Contain Protein Lipid Enzymes And Other Medicines (AREA)
  • Medicines Containing Antibodies Or Antigens For Use As Internal Diagnostic Agents (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Description

図1は、従来技術のメモリモジュール10を示す。このモジュールは、回路基板12上に実装され、インタフェース18を介してコンピュータメモリシステムに接続される複数のメモリデバイス14を含む。このモジュールは、たとえば、デュアルインラインメモリモジュール(DIMM)でありうる。このとき、メモリデバイスは、印刷回路基板(PCB)上に実装されるダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)デバイスであり、インタフェース18は、モジュールとコンピュータマザーボード上のメモリコントローラとの間のカードエッジ接続を形成するようPCBの両側の2列の導電接点20を単に含む。
信号ルーティングスキーム22は、メモリデバイスが、メモリシステムにおける他のコンポーネントと通信する方法を決定する。たとえば、メモリデバイス14は、個々の信号線は接点20と1つ以上のメモリデバイスとの間に直接接続されるバス配置で接続されうる。これは、マルチドロップまたはスター配置とも称されうる。メモリデバイスはさらに、個々の信号線は接点を単一のメモリデバイスにだけ接続するポイントツーポイント(P2P)配置で接続されうる。メモリデバイスを他のメモリデバイスに接続するために追加のポイントツーポイント信号線も使用しうる。これは、デイジーチェーン配置とも称されうる。また、ポイントツーポイント接続が閉ループを考慮する場合、これは、リング配置とも称されうる。
一部のメモリモジュールでは、インタフェース18は、追加の機能性を含みうる。たとえば、レジスタードDIMM(RDIMM)では、インタフェースは、コマンドおよびアドレス信号用のレジスタを含む一方で、データ線は一般的に、チャネルに直接接続される。フリーバッファードDIMM(FB−DIMM)では、データ線を含むメモリデバイスのすべての信号線は、チャネルからバッファリングされる。
モジュール上のメモリデバイスは、図1に示すように同じスタック内の異なるデバイスにアクセスするための信号伝達に幾らかのオーバーラップがある複数の論理スタック16に配置されうる。たとえば、デュアルランクDIMM上では、1つのメモリデバイスは、ランクが別々にアクセス可能であるよう別個に配線されるチップ選択(CS)端子CS0、CS1以外は、上部デバイス(ランク1)のすべての端子が下部デバイス(ランク0)の対応端子に直接接続されてもう1つのメモリデバイス上に物理的にスタックされうる。メモリデバイスはさらに、メモリデバイスが物理的にスタックされていない場合でも論理スタックに配置されうる。たとえば、2つのメモリデバイスのすべての対応端子(CS端子以外)を、両方のメモリデバイスが基板上に直接実装されている場合でもPCBトレースを介して互いに接続されうる。これは、PCBが曲がりやすくまた厳密に平面ではなく、または、メモリデバイスが基板の両面に実装されうる場合でも平面設計と称されうる。
この特許開示は、独立した有用性を有する複数の発明原理を包含する。一部の場合では、これらの原理のうちの一部を互いに様々な組み合わせで使用した場合に追加の利点を実現しうるので、追加の発明をもたらす。これらの原理は、無数の実施形態で実現しうる。一部の特定の詳細は、発明原理を説明する目的で示すが、本特許開示の発明原理に従って多くの他の配置も考案されうる。したがって、発明原理は、本願に開示する特定の詳細に限定されない。
図2は、本特許開示の発明原理によるメモリシステムの一実施形態を示す。図2のシステムは、メモリコントローラ24と、2つの論理的にスタックされたメモリデバイス26および28を含む。メモリコントローラは、メモリデバイスにトレーニングパターン32を送信する論理30を含む。論理34は、各メモリデバイスで受信されるトレーニングパターンにおける信号の順序を変更する。それぞれメモリデバイス26および28に関連付けられる論理40および42は、各メモリデバイスがそのデバイス識別(デバイスID)を、トレーニングパターンが受信される順序を観察することによって決定することを可能にする。トレーニングパターンは、メモリコントローラによって、たとえば、初期化手順の間に送信されうる。各メモリデバイスが一度そのデバイスIDを決定すると、メモリコントローラは、メモリデバイスに対して発行する任意の更なるコマンドにデバイスIDを含めることによって個別に各デバイスにアクセスしうる。図2の実施形態は、2つのメモリデバイスと共に示すが、本発明原理は、様々な論理構成に配置される任意の数のデバイスに拡張しうる。
図3は、本特許開示の発明原理によるメモリコンポーネントの一実施形態を示す。図3の実施形態は、それぞれ基板48および50上に実装された2つのメモリデバイス44および46を含む。基板48上の信号線52は、信号が信号線を横断する間に信号を並べ替えるようスウィズルされる。もう1つの基板50上の信号線54は、信号線52と同様にスウィズルされうる。信号線はさらに、各基板上のそれぞれのメモリデバイスに接続される。
図3のコンポーネントは、本特許開示の発明原理によって、チップ選択信号を必要とすることなくデバイス識別を実施するよう配置されうる。たとえば、メモリデバイス44および46は、図3に破線で示すようにポイントツーポイント配置で信号線52および54が互いに接続されて論理スタックとなるよう配置されうる。メモリコントローラからのコマンド/アドレス/書込み(CA)信号は、信号線54に供給されうる。CA信号は、その元の順序で第1のメモリデバイス46により受信されるが、信号線54上のスウィズリングによって、第2のメモリデバイス44により信号が受信される順序が並べ替えられる。CA信号上で適切なトレーニングパターンを送信することによって、各メモリデバイスにおける論理は、そのデバイスIDを決定しうる。追加のメモリデバイス/基板アセンブリを論理的にスタックし、それにより、信号線52上のスウィズリングによって、第3のメモリデバイスへのCA信号の順序がさらに並べ替えられうる。以下も同様に続けられる。
メモリデバイスはさらに、デバイスIDが一旦決定されると、元のパターンにCA信号を並べなおすデスウィズル論理を含みうる。読出し(RD)された信号は、任意の適切な技術によってメモリデバイスから戻されうる。たとえば、読出しされたデータは、メモリデバイスからメモリコントローラに、マルチドロップ配置、ポイントツーポイント配置、リング配置などで構成されうる別個の信号線を介して戻されうる。
図4は、本特許開示の発明原理によるメモリモジュールの一実施形態を示す。図4は、4ランクの高密度メモリモジュールを生成するよう論理的且つ物理的にスタックされうる4つのメモリデバイスを示す側面図である。4つのメモリデバイスパッケージ60、62、64、および66は、半田ボール接続58を介して互いに且つモジュール印刷回路基板56に機械的および電気的に接続される。パッケージ60は、基板80上に実装されるメモリデバイス70を含む。パッケージ62−66は、それぞれ基板82−86上に実装されるメモリデバイス72−76を含む。基板は、たとえば、信号をルーティングするおよび半田接続を作るためにエッチングされた導電トレースを有する繊維ガラスPCB材料といった任意の好適な材料から製造されうる。図4の実施形態では、CA信号は、スター構成でルーティングされ、一方で、RD信号は、チェーン構成で戻される。しかし、他の構成を使用してもよい。各基板上のCA線は、各メモリデバイスがCA信号を異なる順序で認識するようスウィズルされ、それにより、各メモリデバイスが、CA線上で送信されるトレーニングシーケンスに応じてスタックにおけるそのランクを決定することを可能にする。図4には1スタックだけを示すが、任意の数のスタックおよびランクを本特許開示の発明原理に従って実施しうる。
図5は、本特許開示の発明原理による、論理的にスタックされるが物理的に平面状であるメモリデバイスを有するメモリモジュールの一実施形態の側面図である。図5の実施形態は、メモリデバイスパッケージ100および102が、半田ボール接続58を介してPCB120の両面に実装された2ランクモジュールである。CA信号は、スター構成でルーティングされる。しかし、この実施形態では、RD信号もスター構成で戻されうる。各基板上のCA線は、各メモリデバイスがCA信号を異なる順序で認識するようスウィズルされ、それにより、各メモリデバイスが、CA線上で送信されるトレーニングシーケンスに応じてスタックにおけるそのランクを決定することを可能にする。図4の実施形態と同様に、図5の実施形態は多くの変形が可能である。たとえば、RD信号はチェーンまたはリング構成で戻されうる、複数のメモリデバイスは基板の同じ面に実装されうる、任意の数のスタックおよびランクが実施されうる。
図6は、本特許開示の発明原理によるメモリシステムの別の実施形態を概略的に示す。図6の実施形態では、メモリデバイス126の2つのスタック122、124は、各スタックがすべての書き込みデータを受信するがそのデータの半分しか格納しないよう配置される。2つの左のCA線は、各スタックにデータのどの半分を書き込むか伝えるよう各スタックに対してスウィズルされうる。読出し演算の間、各スタックにおけるメモリデバイスはデータのその半分をRD線上にドライブする。CA線上のスウィズリングによって、各メモリデバイスが、メモリコントローラ128によってCA線上に送信されたトレーニングシーケンスに応じてそのスタックにおけるそのランクを決定することを可能にする。各スタックの最下位論理(ランク0)メモリデバイスは、そのスタックにおける他のメモリデバイスに対して、および、他のメモリデバイスから信号をリドライブするリピータデバイスとして実施されうる。
或いは、スタックは、可変パスサイズ演算に対して再構成可能でありうる。つまり、1つの構成では、各メモリデバイスは、図6に示すようにx4(半分のデータ)モード、または、各メモリデバイスが完全な8ビットパスで動作するx8モードで動作しうる。再構成可能および/または分割パス演算を可能にするには、各メモリデバイスがそのデバイスIDを決定し、パス幅を選択し、および/または分割バスのどの部分が特定のメモリデバイスに関連付けられるのかを選択することを可能にするよう共通のメカニズムを使用しうる。たとえば、初期化手順の間に、メモリコントローラにより送信されるトレーニングパターンは、デバイスIDを決定するためのパターンだけでなく、各メモリデバイスにそれが完全パスまたは分割パスで演算するのか、また、分割パスの場合には、分割パスのどの部分(すなわち、図6の実施形態では上位4ビット部分または下位4ビット部分か)に関連付けられるのかを伝える情報も含みうる。メモリデバイス内の論理は、この追加情報を復号化し、デバイスを適宜構成しうる。
図7は、本特許開示の発明原理によるメモリモジュールの別の実施形態を示す。メモリモジュール130は、基板132上に実装されるメモリバッファ134と、1つ以上のメモリデバイス138を含む。この実施形態では、論理136は、メモリデバイスIDはバッファ内に位置付けられることを決定する。メモリバッファは、従来のメモリバッファでありうる。または、メモリバッファは、メモリバッファとほぼ同じ機能性を含みうるが、たとえば、DRAMコントローラといったメモリデバイス用のコントローラといった追加の機能性も含みうるメモリハブとして実施されうる。
本願に記載する実施形態は、発明原理から逸脱することなく配置および詳細において変更されうる。たとえば、モジュール、パッケージ基板、およびマザーボードは、一般的に別個の装置として上述しているが、すべてのまたは一部のメモリデバイス、論理、メモリコントローラなどは、単一の基板上、または、任意の好都合な基板の組み合わせで製造されうる。一部の実施形態は、特定数のランクおよび/またはスタックを使用して説明したが、発明原理は、任意の特定数に限定されない。論理は、特定の回路または導体として実施されうるが、ソフトウェア、状態マシンなどを使用しても実施されうる。一部の接続は半田ボール技術を使用して説明したが、発明原理は、任意の特定の接続スキームに限定されない。同様に発明原理は、アンレジスタード、アンバッファード、レジスタード、またはフリーバッファードメモリモジュールまたはデバイスを有するメモリシステムに限定されない。したがって、このような変更および修正は、請求項の範囲内であると考えられる。
従来技術のメモリモジュールを示す図である。
本特許開示の発明原理によるメモリシステムの一実施形態を示す図である。
本特許開示の発明原理によるメモリコンポーネントの一実施形態を示す図である。
本特許開示の発明原理によるメモリモジュールの一実施形態を示す図である。
本特許開示の発明原理によるメモリモジュールの別の実施形態を示す図である。
本特許開示の発明原理によるメモリシステムの別の実施形態を示す図である。
本特許開示の発明原理によるメモリモジュールの別の実施形態を示す図である。

Claims (18)

  1. メモリコアと、
    複数のビットを有するトレーニングパターンを受信する複数の信号線と、
    前記メモリコアおよび前記複数の信号線に接続され、前記トレーニングパターンの順序を第1の順序に変更する複数の信号線を含む基板と、
    受信した前記トレーニングパターンにおける複数のビットの前記第1の順序に応じて前記メモリコアの他のメモリコアからの識別を決定する論理回路と、
    を含むメモリ装置。
  2. 前記識別を決定する論理回路を含むメモリバッファを含む請求項1に記載のメモリ装置。
  3. 前記メモリコアを含む第1のメモリデバイスを含む請求項1に記載のメモリ装置。
  4. パス幅情報を復号化する論理回路をさらに含む請求項1に記載のメモリ装置。
  5. パス部分情報を復号化する論理回路をさらに含む請求項1に記載のメモリ装置。
  6. 第2のメモリデバイスと、
    前記第2のメモリデバイスに接続され、前記トレーニングパターンの前記順序を第1の順序から第2の順序に変更する複数の信号線を含む第2の基板と、
    受信したトレーニングパターンにおける複数のビットの前記第2の順序に応じて前記第2のメモリデバイスの他のメモリデバイスからの識別を決定する論理回路と、
    をさらに含む請求項3に記載のメモリ装置。
  7. 前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスは、論理的にスタックされる請求項6に記載のメモリ装置。
  8. 前記複数の信号線で受信した複数の信号を元の順序に並べ直す論回路をさらに含む請求項1に記載のメモリ装置。
  9. 第1のメモリデバイスと、
    複数のビットを有するトレーニングパターンを受信する複数の信号線と、
    前記第1のメモリデバイスに接続され、前記トレーニングパターンの順序を第1の順序に変更する複数の信号線を含む第1の基板と、
    前記第1のメモリデバイスに論理的にスタックされる第2のメモリデバイスと、
    前記第2のメモリデバイスに接続され、前記トレーニングパターンの前記順序を第1の順序から第2の順序に変更する複数の信号線を含む第2の基板と、
    前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスに一のトレーニングパターンを送信するよう前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスに結合されるメモリコントローラと、
    各メモリデバイスに対して受信される前記トレーニングパターンの順序を変更する論理回路と、
    前記トレーニングパターンにおける複数のビットの前記第1の順序および第2の順序にそれぞれ基づき前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスの識別を決定する論理回路と、
    を含むシステム。
  10. 前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスは、物理的にスタックされる請求項9に記載のシステム。
  11. 前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスは、物理的に平面状である請求項9に記載のシステム。
  12. マルチドロップ構成で前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスに結合される複数のコマンド/アドレス/書込み信号線をさらに含む請求項9に記載のシステム。
  13. マルチドロップ構成で前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスに結合される複数の読出し信号線をさらに含む請求項9に記載のシステム。
  14. チェーン構成で前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスに結合される複数の読出し信号線をさらに含む請求項9に記載のシステム。
  15. リング構成で前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスに結合される複数の読出し信号線をさらに含む請求項9に記載のシステム。
  16. 前記第1のメモリデバイスは、前記第2のメモリデバイスに向けて、および/または、前記第2のメモリデバイスから信号をリドライブする論理回路を含む請求項9に記載のシステム。
  17. 前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスと、前記第1の基板および前記第2の基板は、実質的に同一である請求項9に記載のシステム。
  18. 前記第1のメモリデバイスおよび前記第2のメモリデバイスは、回路基板上に実装される請求項9に記載のシステム。
JP2008518443A 2005-06-22 2006-06-22 メモリ装置およびシステム Expired - Fee Related JP4963704B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/165,595 US7702874B2 (en) 2005-06-22 2005-06-22 Memory device identification
US11/165,595 2005-06-22
PCT/US2006/024507 WO2007002420A1 (en) 2005-06-22 2006-06-22 Memory device identification

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008547124A JP2008547124A (ja) 2008-12-25
JP4963704B2 true JP4963704B2 (ja) 2012-06-27

Family

ID=37056443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008518443A Expired - Fee Related JP4963704B2 (ja) 2005-06-22 2006-06-22 メモリ装置およびシステム

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7702874B2 (ja)
EP (1) EP1894201B1 (ja)
JP (1) JP4963704B2 (ja)
KR (1) KR101020453B1 (ja)
CN (1) CN101194318B (ja)
AT (1) ATE524810T1 (ja)
GB (1) GB2441082B8 (ja)
WO (1) WO2007002420A1 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005043547B4 (de) * 2005-09-13 2008-03-13 Qimonda Ag Speichermodul, Speichervorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Speichervorrichtung
KR100906999B1 (ko) * 2007-06-11 2009-07-08 주식회사 하이닉스반도체 메모리 모듈 및 메모리 시스템
JP5098616B2 (ja) * 2007-12-12 2012-12-12 セイコーエプソン株式会社 電子装置、半導体記憶装置、印刷記録材収容体および制御装置
US8825939B2 (en) * 2007-12-12 2014-09-02 Conversant Intellectual Property Management Inc. Semiconductor memory device suitable for interconnection in a ring topology
US8205138B2 (en) * 2008-08-07 2012-06-19 International Business Machines Corporation Memory controller for reducing time to initialize main memory
US8595428B2 (en) * 2009-12-22 2013-11-26 Intel Corporation Memory controller functionalities to support data swizzling
US8437163B2 (en) 2010-02-11 2013-05-07 Micron Technology, Inc. Memory dies, stacked memories, memory devices and methods
US8760945B2 (en) 2011-03-28 2014-06-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory devices, systems and methods employing command/address calibration
KR20130011138A (ko) * 2011-07-20 2013-01-30 삼성전자주식회사 모노 랭크와 멀티 랭크로 호환 가능한 메모리 장치
JP2013131534A (ja) * 2011-12-20 2013-07-04 Elpida Memory Inc 半導体装置
US9009400B2 (en) 2012-10-16 2015-04-14 Rambus Inc. Semiconductor memory systems with on-die data buffering
US9767868B2 (en) * 2014-01-24 2017-09-19 Qualcomm Incorporated Providing memory training of dynamic random access memory (DRAM) systems using port-to-port loopbacks, and related methods, systems, and apparatuses
SG11201701725QA (en) * 2014-09-17 2017-04-27 Toshiba Kk Semiconductor device
JP6736441B2 (ja) * 2016-09-28 2020-08-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US10216657B2 (en) 2016-09-30 2019-02-26 Intel Corporation Extended platform with additional memory module slots per CPU socket and configured for increased performance
US9818457B1 (en) 2016-09-30 2017-11-14 Intel Corporation Extended platform with additional memory module slots per CPU socket
KR102365110B1 (ko) * 2017-09-13 2022-02-18 삼성전자주식회사 복수의 메모리 장치들에 대한 트레이닝 동작을 지원하는 버퍼 장치를 포함하는 메모리 모듈 및 이를 포함하는 메모리 시스템
CN115799230B (zh) * 2023-02-08 2023-10-20 深圳时识科技有限公司 堆叠芯片及电子设备
CN115802602B (zh) * 2023-02-08 2023-09-26 深圳时识科技有限公司 三维堆叠装置及方法、电路板和电子设备

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61224061A (ja) * 1985-03-29 1986-10-04 Fujitsu Ltd 選択方式
JP2723935B2 (ja) * 1988-11-18 1998-03-09 株式会社テック 電子機器のメモリ増設装置
JPH06310827A (ja) * 1993-04-26 1994-11-04 Nec Corp 表面実装部品配置構造
JP3740746B2 (ja) * 1996-08-27 2006-02-01 松下電工株式会社 増設ユニットを備えるプログラマブルコントローラ
US6167495A (en) 1998-08-27 2000-12-26 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for detecting an initialization signal and a command packet error in packetized dynamic random access memories
US6370668B1 (en) * 1999-07-23 2002-04-09 Rambus Inc High speed memory system capable of selectively operating in non-chip-kill and chip-kill modes
JP3723725B2 (ja) * 2000-07-31 2005-12-07 シャープ株式会社 半導体装置及び3次元積層半導体装置
US7197098B2 (en) 2000-12-29 2007-03-27 Intel Corporation High-speed serial data recovery
JP2002278910A (ja) * 2001-03-21 2002-09-27 Toshiba Corp バス接続方法及びバス接続装置
US7093076B2 (en) * 2002-12-12 2006-08-15 Samsung Electronics, Co., Ltd. Memory system having two-way ring topology and memory device and memory module for ring-topology memory system
JP2004206462A (ja) * 2002-12-25 2004-07-22 Mitsubishi Electric Corp 入出力制御装置の拡張モジュール増設方法及び入出力制御装置
US20060236042A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-19 Sandeep Jain Training sequence for deswizzling signals

Also Published As

Publication number Publication date
GB2441082A (en) 2008-02-20
GB2441082B8 (en) 2011-03-09
EP1894201B1 (en) 2011-09-14
US7702874B2 (en) 2010-04-20
KR101020453B1 (ko) 2011-03-08
GB2441082B (en) 2011-01-19
US20060294335A1 (en) 2006-12-28
WO2007002420A1 (en) 2007-01-04
EP1894201A1 (en) 2008-03-05
GB0722948D0 (en) 2008-01-02
ATE524810T1 (de) 2011-09-15
KR20080011711A (ko) 2008-02-05
WO2007002420A8 (en) 2007-03-29
CN101194318B (zh) 2012-09-26
JP2008547124A (ja) 2008-12-25
CN101194318A (zh) 2008-06-04
GB2441082A8 (en) 2011-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4963704B2 (ja) メモリ装置およびシステム
US11994982B2 (en) Memory module with distributed data buffers
US8750010B2 (en) Memory modules and memory devices having memory device stacks, and method of forming same
EP1587112B1 (en) Buffered memory module with configurable interface width.
US8417870B2 (en) System and method of increasing addressable memory space on a memory board
US10109324B2 (en) Extended capacity memory module with dynamic data buffers
JP2011090441A (ja) メモリモジュール
US9748953B2 (en) Memory modules including plural memory devices arranged in rows and module resistor units
KR100703969B1 (ko) 메모리 모듈의 테스트 장치
KR100996786B1 (ko) 메모리 구성요소 간에 통신을 제공하는 메모리 시스템 및 방법
US8183676B2 (en) Memory circuit having memory chips parallel connected to ports and corresponding production method
US20090307417A1 (en) Integrated buffer device

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110330

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110412

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110705

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110816

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120321

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120326

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4963704

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150406

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees