JP4915555B2 - Infrared sensor - Google Patents

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本発明は、赤外線センサに関するものである。   The present invention relates to an infrared sensor.

従来から、熱型の赤外線センサとして、温度検知部がベース基板の一表面から離間して配置され、温度検知部が当該温度検知部とベース基板とを熱絶縁する断熱部を介してベース基板に支持された赤外線センサが提案されている(例えば、特許文献1参照)。なお、上記特許文献1に開示された赤外線センサでは、断熱部が、シリコン酸化膜とシリコン窒化膜との積層膜により構成されている。
特開2000−97765号公報
Conventionally, as a thermal infrared sensor, a temperature detection unit is arranged away from one surface of a base substrate, and the temperature detection unit is attached to the base substrate via a heat insulating unit that thermally insulates the temperature detection unit and the base substrate. A supported infrared sensor has been proposed (see, for example, Patent Document 1). In the infrared sensor disclosed in Patent Document 1, the heat insulating portion is formed of a laminated film of a silicon oxide film and a silicon nitride film.
JP 2000-97765 A

ところで、上述のように温度検知部が断熱部を介してベース基板に支持された赤外線センサにおいて、応答速度の高速化を目的として、温度検知部の熱容量を低減するために温度検知部の平面サイズを小さくすることが考えられる。   By the way, in the infrared sensor in which the temperature detection unit is supported on the base substrate through the heat insulating unit as described above, the planar size of the temperature detection unit is used to reduce the heat capacity of the temperature detection unit in order to increase the response speed. It is conceivable to reduce.

しかしながら、上述の赤外線センサでは、温度検知部の平面サイズが小さくなると、受光効率が低下し感度が低下してしまう。   However, in the above-described infrared sensor, when the planar size of the temperature detection unit is reduced, the light receiving efficiency is lowered and the sensitivity is lowered.

本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、応答速度の高速化を図れ、且つ、温度検知部の受光効率および感度の低下を抑制することができる赤外線センサを提供することにある。   The present invention has been made in view of the above reasons, and an object of the present invention is to provide an infrared sensor capable of increasing the response speed and suppressing the decrease in the light receiving efficiency and sensitivity of the temperature detector. There is.

請求項1の発明は、ベース基板と、赤外線を吸収するとともに該吸収による温度変化を検知する温度検知部と、温度検知部がベース基板の一表面から離間して配置されるように温度検知部を支持して温度検知部とベース基板とを熱絶縁する多孔質材料からなる断熱部と、温度検知部におけるベース基板側とは反対側に配置された受光レンズとを備え、温度検知部は、ベース基板の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数の温度検知素子を有するとともに各温度検知素子ごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる接続関係で全ての温度検知素子が電気的に接続されてなり、受光レンズは、各温度検知素子に各別に赤外線を収束させるように2次元アレイ状に配列された複数のレンズ小体を有し、断熱部は、ベース基板の前記一表面から離間して配置されベース基板側とは反対側に温度検知部が形成される支持部と、支持部とベース基板とを連結した脚部とを有し、支持部は、ベース基板の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数の矩形状の支持セル部と、隣り合う支持セル部同士を連結した複数の連結部とで構成されてなり、温度検知部は、脚部に沿って形成された配線を介してベース基板の前記一表面上の導体パターンと電気的に接続されてなり、脚部は、ベース基板の前記一表面側において導体パターン上に立設された円筒状の支持ポスト部と、支持ポスト部の上端部と支持部とを連結した梁部とで構成され、配線のうち支持ポスト部に形成されている部位は、支持ポスト部の内周面の全体と導体パターンの表面とに跨って形成されてなり、支持ポスト部が配線により補強されていることを特徴とする。 According to the first aspect of the present invention, there is provided a base substrate, a temperature detection unit that absorbs infrared rays and detects a temperature change due to the absorption, and a temperature detection unit such that the temperature detection unit is disposed away from one surface of the base substrate. the support includes a temperature detecting portion and the base substrate and the sectional heat portion made of a porous material you thermal insulation, and a light receiving lens and the base substrate side which is disposed on the opposite side of the temperature detecting section, temperature detection section Has a plurality of temperature detection elements arranged in a two-dimensional array in a plane orthogonal to the thickness direction of the base substrate, and the output change with respect to the temperature change is larger than when output is taken out for each temperature detection element. All temperature detection elements are electrically connected in connection, and the light receiving lens has a plurality of lens bodies arranged in a two-dimensional array so that each temperature detection element converges infrared rays. The heat insulating portion includes a support portion that is disposed apart from the one surface of the base substrate and has a temperature detection portion formed on the side opposite to the base substrate side, and a leg portion that connects the support portion and the base substrate. The support portion includes a plurality of rectangular support cell portions arranged in a two-dimensional array in a plane orthogonal to the thickness direction of the base substrate, and a plurality of connection portions connecting adjacent support cell portions. The temperature detection unit is configured to be electrically connected to the conductor pattern on the one surface of the base substrate via wiring formed along the leg portion, and the leg portion is connected to the one of the base substrate. It is composed of a cylindrical support post portion standing on the conductor pattern on the surface side, and a beam portion connecting the upper end portion of the support post portion and the support portion, and is formed on the support post portion of the wiring. The part is the entire inner peripheral surface of the support post and the conductor pattern It is formed across the surface, the support post portion, characterized in that it is reinforced by wires.

この発明によれば、温度検知部が、ベース基板の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数の温度検知素子を有するので、温度検知部の熱容量を小さくできて応答速度の高速化を図れ、しかも、受光レンズが、各温度検知素子に各別に赤外線を収束させるように2次元アレイ状に配列された複数のレンズ小体を有するので、温度検知部の受光効率の低下を抑制することができ、温度検知部では、各温度検知素子ごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる接続関係で全ての温度検知素子が電気的に接続されているので、感度の低下を抑制することができる。また、この発明によれば、多孔質材料からなる断熱部を備えているので、断熱部が非多孔質材料により形成されている場合に比べて、断熱性が向上して感度が高くなるとともに、断熱部の熱容量を小さくできて応答速度の高速化を図れる。また、この発明によれば、温度検知部は、脚部に沿って形成された配線を介してベース基板の前記一表面上の導体パターンと電気的に接続されてなり、脚部は、ベース基板の前記一表面側において導体パターン上に立設された円筒状の支持ポスト部と、支持ポスト部の上端部と支持部とを連結した梁部とで構成され、配線のうち支持ポスト部に形成されている部位は、支持ポスト部の内周面の全体と導体パターンの表面とに跨って形成されてなり、支持ポスト部が配線により補強されているので、多孔質材料からなる支持ポスト部が配線により補強される。 According to this invention, since the temperature detection unit has the plurality of temperature detection elements arranged in a two-dimensional array in a plane orthogonal to the thickness direction of the base substrate, the heat capacity of the temperature detection unit can be reduced and the response speed can be reduced. In addition, since the light receiving lens has a plurality of lens bodies arranged in a two-dimensional array so that infrared rays are individually focused on each temperature detecting element, the light receiving efficiency of the temperature detecting unit is reduced. In the temperature detection unit, all the temperature detection elements are electrically connected in a connection relationship in which the output change with respect to the temperature change is larger than when the output is taken out for each temperature detection element. , It is possible to suppress a decrease in sensitivity . In addition, according to the present invention, since the heat insulating portion made of a porous material is provided, the heat insulating property is improved and the sensitivity is increased as compared with the case where the heat insulating portion is formed of a non-porous material. The heat capacity of the heat insulating part can be reduced, and the response speed can be increased. Further, according to the present invention, the temperature detecting unit is electrically connected to the conductor pattern on the one surface of the base substrate through the wiring formed along the leg unit, and the leg unit is formed on the base substrate. The cylindrical support post portion erected on the conductor pattern on the one surface side, and a beam portion connecting the upper end portion of the support post portion and the support portion, and formed on the support post portion of the wiring The part that is formed is formed across the entire inner peripheral surface of the support post part and the surface of the conductor pattern, and the support post part is reinforced by wiring, so the support post part made of porous material is Reinforced by wiring.

請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記温度検知部は、前記各温度検出素子が、サーモパイル型のセンシングエレメントからなり、前記接続関係が直列接続であることを特徴とする。 The invention of claim 2 is the invention of claim 1, wherein the temperature detection unit, wherein the temperature sensing element, and wherein the support Mopairu type sensing elementary bets or Rannahli, the connection relation is connected in series To do.

この発明によれば、前記温度検知部が前記各温度検出素子としてサーモパイル型のセンシングエレメントを採用した構成において、前記各温度検知素子ごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる。 According to the present invention, in a configuration in which the temperature sensing portion has adopted a sensing element in the said support Mopairu types with each temperature detecting element, an output change with respect to temperature changes as compared with the case of taking out an output the each temperature sensing element Becomes larger.

請求項3の発明は、請求項1または請求項2の発明において、前記多孔質材料は、多孔質の酸化シリコン、多孔質の酸化シリコン系有機ポリマー、多孔質の酸化シリコン系無機ポリマーの群から選択される材料であることを特徴とする。 The invention of claim 3 is the invention of claim 1 or 2 , wherein the porous material is selected from the group consisting of porous silicon oxide, porous silicon oxide organic polymer, and porous silicon oxide inorganic polymer. The material is selected.

この発明によれば、前記断熱部の形成にあたっては、ゾルゲル溶液を前記ベース基板の前記一表面側に回転塗布してから、乾燥させるプロセスを採用することができ、前記断熱部を容易に形成することが可能となる。   According to the present invention, in forming the heat insulating portion, it is possible to employ a process in which a sol-gel solution is spin-coated on the one surface side of the base substrate and then dried, and the heat insulating portion is easily formed. It becomes possible.

請求項1の発明は、応答速度の高速化を図れ、且つ、温度検知部の受光効率および感度の低下を抑制することができるという効果がある。   According to the first aspect of the present invention, it is possible to increase the response speed and to suppress the decrease in the light receiving efficiency and sensitivity of the temperature detector.

以下、本実施形態の赤外線センサについて図1を参照しながら説明する。   Hereinafter, the infrared sensor of the present embodiment will be described with reference to FIG.

本実施形態の赤外線センサは、矩形板状のベース基板1と、赤外線を吸収するとともに該吸収による温度変化を検知する温度検知部3と、温度検知部3がベース基板1の一表面(図1(b)における上面)から離間して配置されるように温度検知部3を支持して温度検知部3とベース基板1とを熱絶縁する断熱部4と、ベース基板1の上記一表面上に形成され温度検知部3および断熱部4を透過した赤外線を温度検知部3側へ反射する赤外線反射膜6とを有する赤外線センサ素子Bを備え、さらに、温度検知部3におけるベース基板1側とは反対側に配置された受光レンズ20を備えている。なお、本実施形態の赤外線センサは、検出対象の赤外線として人体から放射される8μm〜13μmの波長帯の赤外線を想定しており、赤外線反射膜6の材料としては、Al−Siを採用している。   The infrared sensor according to this embodiment includes a rectangular base substrate 1, a temperature detection unit 3 that absorbs infrared rays and detects a temperature change due to the absorption, and the temperature detection unit 3 is one surface of the base substrate 1 (FIG. 1). On the one surface of the base substrate 1, the heat insulating portion 4 that supports the temperature detecting portion 3 so as to be spaced apart from the upper surface in (b) and thermally insulates the temperature detecting portion 3 and the base substrate 1. An infrared sensor element B having an infrared reflection film 6 that reflects infrared rays that are formed and transmitted through the temperature detection unit 3 and the heat insulation unit 4 to the temperature detection unit 3 side, and further, is the base substrate 1 side in the temperature detection unit 3 A light receiving lens 20 is provided on the opposite side. In addition, the infrared sensor of this embodiment assumes the infrared rays of the wavelength range of 8 micrometers-13 micrometers emitted from a human body as infrared rays of detection object, and employs Al-Si as a material of the infrared reflective film 6. Yes.

ベース基板1は、シリコン基板1aと当該シリコン基板1aの一表面側に形成されたシリコン酸化膜からなる絶縁膜1bとで構成してある。また、ベース基板1は、平面形状が正方形状に形成されている。   The base substrate 1 includes a silicon substrate 1a and an insulating film 1b made of a silicon oxide film formed on one surface side of the silicon substrate 1a. The base substrate 1 is formed in a square shape in plan view.

断熱部4は、ベース基板1の上記一表面から離間して配置されベース基板1側とは反対側に温度検知部3が形成される支持部41と、支持部41とベース基板1とを連結した2つの脚部42,42とを有している。   The heat insulating part 4 is arranged spaced apart from the one surface of the base substrate 1 and connects the support part 41 and the base substrate 1 to the support part 41 where the temperature detection part 3 is formed on the side opposite to the base substrate 1 side. The two leg portions 42 and 42 are provided.

これに対して、温度検知部3は、断熱部4の脚部42,42に沿って形成された配線8,8を介してベース基板1の上記一表面上の金属膜(例えば、Al−Si膜など)からなる導体パターン10,10と電気的に接続されている。ここにおいて、本実施形態では、各導体パターン10,10の材料としてAl−Siを採用しており、各導体パターン10,10それぞれの一部がパッドを構成しているので、一対のパッドを通して温度検知部3の出力を外部へ取り出すことができるようになっている。   On the other hand, the temperature detection unit 3 has a metal film (for example, Al—Si) on the one surface of the base substrate 1 via the wirings 8 and 8 formed along the leg portions 42 and 42 of the heat insulating unit 4. The conductive patterns 10 and 10 made of a film etc. are electrically connected. Here, in the present embodiment, Al—Si is adopted as the material of each conductor pattern 10, 10, and a part of each conductor pattern 10, 10 constitutes a pad. The output of the detector 3 can be taken out to the outside.

上述の断熱部4における脚部42,42は、ベース基板1の上記一表面側において導体パターン10,10上に立設された2つの円筒状の支持ポスト部42a,42aと、各支持ポスト部42a,42aそれぞれの上端部と支持部41とを連結した梁部42b,42bとで構成されており、支持部41とベース基板1との間に間隙7が形成されている。ここで、各梁部42b,42bは、L字状の平面形状に形成されており、支持部41の厚み方向に沿った中心軸に対して回転対称性を有するように配置されている。なお、上述の配線8,8のうち脚部42,42の梁部42b,42b上に形成された第1配線部8aの線幅は、当該第1配線部8a,8aを通した熱伝達を抑制するために梁部42b,42bの幅寸法よりも十分に小さく設定してある。また、配線8,8のうち支持ポスト部42a,42aに沿って形成されている第2配線部8b,8bは、支持ポスト部42a,42aの内周面の全体と導体パターン10,10の表面とに跨って形成されており、支持ポスト部42a,42aが第2配線部8b,8bにより補強されている。本実施形態では、第1配線部8a,8aの材料として、温度検知部3と同じ材料を採用しており、後述のように第1配線部8a,8aと温度検知部3とを同時に形成している。   The leg portions 42 in the above-described heat insulating portion 4 include two cylindrical support post portions 42 a and 42 a erected on the conductor patterns 10 and 10 on the one surface side of the base substrate 1, and each support post portion. 42a and 42a are composed of beam portions 42b and 42b that connect the support portion 41 with the upper ends thereof, and a gap 7 is formed between the support portion 41 and the base substrate 1. Here, each beam part 42b and 42b is formed in the L-shaped planar shape, and is arrange | positioned so that it may have rotational symmetry with respect to the central axis along the thickness direction of the support part 41. As shown in FIG. The line width of the first wiring portion 8a formed on the beam portions 42b and 42b of the leg portions 42 and 42 in the wirings 8 and 8 described above is the heat transfer through the first wiring portions 8a and 8a. In order to suppress it, it is set sufficiently smaller than the width dimension of the beam portions 42b, 42b. The second wiring portions 8b and 8b formed along the support post portions 42a and 42a of the wirings 8 and 8 include the entire inner peripheral surface of the support post portions 42a and 42a and the surfaces of the conductor patterns 10 and 10, respectively. The support post portions 42a and 42a are reinforced by the second wiring portions 8b and 8b. In the present embodiment, the same material as that of the temperature detection unit 3 is adopted as the material of the first wiring units 8a and 8a, and the first wiring units 8a and 8a and the temperature detection unit 3 are formed simultaneously as described later. ing.

ところで、断熱部4における支持部41は、ベース基板1の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数(本実施形態では、9つ)の矩形状(本実施形態では、正方形状)の支持セル部41aと、支持部41全体としてつづら折れ状の形状となるように一方向において隣り合う支持セル部41a同士を連結した複数の連結部41bとで構成されており、各支持セル部41aそれぞれにおけるベース基板1側とは反対側に温度検知素子3aが形成されている。ここで、断熱部4は、上記一方向において隣り合う支持セル部41a間の熱伝達を抑制するために、連結部41bにおいて上記一方向に直交する幅方向の寸法を支持セル部41aの寸法に比べて十分に小さく設定してある。   By the way, the support part 41 in the heat insulating part 4 has a plurality of (in this embodiment, nine) rectangular shapes (in this embodiment, nine) rectangular shapes (in this embodiment, in a plane orthogonal to the thickness direction of the base substrate 1. (Square shape) support cell portion 41a and a plurality of connection portions 41b in which the support cell portions 41a adjacent to each other in one direction are connected to each other so as to be in a folded shape as the entire support portion 41. A temperature detecting element 3a is formed on the side of the support cell portion 41a opposite to the base substrate 1 side. Here, in order to suppress heat transfer between the support cell portions 41a adjacent to each other in the one direction, the heat insulating portion 4 uses the dimension in the width direction orthogonal to the one direction in the connection portion 41b as the size of the support cell portion 41a. It is set to be sufficiently small.

上述の説明から分かるように、温度検知部3は、ベース基板1の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数(本実施形態では、9つ)の温度検知素子3aを有している。ここで、温度検知部3は、各温度検知素子3aごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる接続関係で全ての温度検知素子3aが電気的に接続されている。ここにおいて、温度検知素子3aは、温度に応じて電気抵抗値が変化するボロメータ形のセンシングエレメントであり、上記一方向において隣り合う支持セル部41a上に形成された温度検知素子3a同士が連結部41b上に形成された素子間接続用配線3bを介して直列接続されている。要するに、温度検知部3は、全ての温度検知素子3aが直列接続されており、各温度検知素子3aそれぞれの抵抗値変化に応じた出力変化が加算して出力されることになるので、上記接続関係を満足することができ、感度が高くなる。   As can be seen from the above description, the temperature detection unit 3 includes a plurality of (in this embodiment, nine) temperature detection elements 3 a arranged in a two-dimensional array in a plane orthogonal to the thickness direction of the base substrate 1. Have. Here, in the temperature detection unit 3, all the temperature detection elements 3a are electrically connected in a connection relationship in which an output change with respect to a temperature change becomes larger than when an output is taken out for each temperature detection element 3a. Here, the temperature detection element 3a is a bolometer-type sensing element whose electric resistance value changes according to temperature, and the temperature detection elements 3a formed on the support cell portions 41a adjacent in the one direction are connected portions. The elements are connected in series via an inter-element connection wiring 3b formed on 41b. In short, all the temperature detection elements 3a are connected in series in the temperature detection unit 3, and output changes corresponding to changes in the resistance values of the respective temperature detection elements 3a are added and output. The relationship can be satisfied and the sensitivity is increased.

温度検知素子3aは、支持セル部41a側のチタン膜と当該チタン膜上の窒化チタン膜とからなるセンサ層で構成され、平面形状が直線状あるいはL字状に形成されている。ここで、窒化チタン膜は、チタン膜の酸化防止膜として設けてある。また、素子間接続用配線3bは、温度検知素子3aと同じ材料を採用しており、温度検知素子3aと同時に形成している。なお、センサ層の材料としては、チタンに限らず、例えば、アモルファスシリコン、酸化バナジウムなどを採用してもよい。各温度検知素子3aの平面形状は特に限定するものではないが、例えば、図2に示すように、蛇行した形状(ここでは、つづら折れ状の形状)とすれば、各温度検知素子3aの抵抗値を大きくすることができ、感度を高めることができる。   The temperature detection element 3a is composed of a sensor layer composed of a titanium film on the support cell portion 41a side and a titanium nitride film on the titanium film, and the planar shape is formed in a linear shape or an L shape. Here, the titanium nitride film is provided as an antioxidant film for the titanium film. The inter-element connection wiring 3b is made of the same material as that of the temperature detection element 3a and is formed simultaneously with the temperature detection element 3a. Note that the material of the sensor layer is not limited to titanium, and for example, amorphous silicon, vanadium oxide, or the like may be employed. The planar shape of each temperature detection element 3a is not particularly limited. For example, as shown in FIG. 2, if the meandering shape (here, a zigzag shape) is used, the resistance of each temperature detection element 3a The value can be increased and the sensitivity can be increased.

温度検知素子3aは、温度に応じて電気抵抗値が変化するセンシングエレメントに限らず、サーモパイル型のセンシングエレメント、焦電型のセンシングエレメント、温度に応じて誘電率が変化するセンシングエレメントなどを採用してもよく、いずれのセンシングエレメントを採用した場合でも、材料を適宜選択することで一般的な薄膜形成技術を利用して形成することができる。   The temperature detection element 3a is not limited to a sensing element whose electric resistance value changes according to temperature, but employs a thermopile type sensing element, a pyroelectric type sensing element, a sensing element whose dielectric constant changes according to temperature, and the like. Even when any sensing element is adopted, it can be formed using a general thin film forming technique by appropriately selecting the material.

ここで、各温度検知素子3aとして、サーモパイル型のセンシングエレメントを採用する場合には、全ての温度検知素子3aを直列接続すれば、各温度検知素子3aそれぞれの熱起電力が加算して出力されることになるので、上記接続関係を満足することができ、感度が高くなる。   Here, when a thermopile type sensing element is adopted as each temperature sensing element 3a, if all the temperature sensing elements 3a are connected in series, the thermoelectromotive force of each temperature sensing element 3a is added and output. Therefore, the above connection relationship can be satisfied and the sensitivity is increased.

また、各温度検知素子3aとして、温度に応じて誘電率が変化するセンシングエレメントを採用する場合には、図3に示すように、支持セル部41a上の下部電極31aと下部電極31a上の誘電体膜32aと誘電体膜32a上の上部電極33aとで構成される温度検知素子3aを並列接続すれば、各温度検知素子3aの誘電率変化が加算して出力されることになるので、上記接続関係を満足することができ、感度が高くなる。ここにおいて、図3に示した例では、各温度検知素子3aの上部電極33aを共通接続するとともに各温度検知素子3aの下部電極31aを共通接続し、一方の配線8(図3における左側の配線8)を上部電極33aと電気的に接続し、他方の配線8(図3における右側の配線8)を下部電極31aと電気的に接続してある。誘電体膜32aの材料としては、例えば、PZT、BSTなどを採用すればよい。また、各温度検知素子3aとして、焦電型のセンシングエレメントを採用する場合には、温度に応じて誘電率が変化するセンシングエレメントの場合と同様、全ての温度検知素子3aを並列接続すれば、焦電効果により発生する電荷が加算して出力されることになるので、上記接続関係を満足することができ、感度が高くなる。   Further, when a sensing element whose dielectric constant changes according to temperature is adopted as each temperature detection element 3a, as shown in FIG. 3, the lower electrode 31a on the support cell portion 41a and the dielectric on the lower electrode 31a If the temperature detection element 3a composed of the body film 32a and the upper electrode 33a on the dielectric film 32a is connected in parallel, the change in dielectric constant of each temperature detection element 3a is added and output. The connection relationship can be satisfied and the sensitivity is increased. Here, in the example shown in FIG. 3, the upper electrode 33a of each temperature detecting element 3a is commonly connected and the lower electrode 31a of each temperature detecting element 3a is commonly connected, and one wiring 8 (the left wiring in FIG. 3). 8) is electrically connected to the upper electrode 33a, and the other wiring 8 (right wiring 8 in FIG. 3) is electrically connected to the lower electrode 31a. As a material of the dielectric film 32a, for example, PZT, BST or the like may be employed. Further, when a pyroelectric sensing element is used as each temperature detection element 3a, as in the case of a sensing element whose dielectric constant changes according to temperature, if all the temperature detection elements 3a are connected in parallel, Since the charges generated by the pyroelectric effect are added and output, the above connection relationship can be satisfied and the sensitivity is increased.

ところで、本実施形態の赤外線センサでは、断熱部4の脚部42,42および支持部41が多孔質材料により形成されている。ここで、断熱部4の脚部42,42および支持部41の多孔質材料として、多孔質の酸化シリコンの一種であるポーラスシリカを採用しているが、多孔質の酸化シリコン系有機ポリマーの一種であるメチル含有ポリシロキサン、多孔質の酸化シリコン系無機ポリマーの一種であるSi−H含有ポリシロキサン、シリカエアロゲルなどを採用してもよく、多孔質材料として、多孔質の酸化シリコン、多孔質の酸化シリコン系有機ポリマー、多孔質の酸化シリコン系無機ポリマーの群から選択される材料を採用すれば、断熱部4の形成にあたっては、ゾルゲル溶液をベース基板1の上記一表面側に回転塗布してから、乾燥させるプロセスを採用することができ、断熱部4を容易に形成することが可能となる。   By the way, in the infrared sensor of this embodiment, the leg parts 42 and 42 and the support part 41 of the heat insulation part 4 are formed with the porous material. Here, porous silica, which is a kind of porous silicon oxide, is employed as the porous material of the legs 42, 42 of the heat insulating part 4 and the support part 41, but a kind of porous silicon oxide-based organic polymer. Methyl-containing polysiloxane, Si-H-containing polysiloxane which is a kind of porous silicon oxide-based inorganic polymer, silica aerogel, etc. may be employed. As the porous material, porous silicon oxide, If a material selected from the group consisting of a silicon oxide organic polymer and a porous silicon oxide inorganic polymer is employed, a sol-gel solution is spin-coated on the one surface side of the base substrate 1 in forming the heat insulating portion 4. Therefore, a drying process can be adopted, and the heat insulating portion 4 can be easily formed.

ここにおいて、本実施形態における断熱部4は、多孔度が60%のポーラスシリカ膜(多孔質シリコン酸化膜)により構成してあるが、多孔度が小さ過ぎると十分な断熱効果が得られず多孔度が大き過ぎると機械的強度が弱くなって構造形成が困難となるので、ポーラスシリカ膜の多孔度は例えば40%〜80%程度の範囲内で適宜設定することが望ましい。   Here, the heat insulating part 4 in the present embodiment is constituted by a porous silica film (porous silicon oxide film) having a porosity of 60%. However, if the porosity is too small, a sufficient heat insulating effect cannot be obtained and the porous part is porous. If the degree is too high, the mechanical strength becomes weak and it becomes difficult to form a structure. Therefore, the porosity of the porous silica film is preferably set appropriately within a range of about 40% to 80%, for example.

ここで、2つの脚部42,42合計の熱コンダクタンスGは、脚部42の材料の熱伝導率をα〔W/(m・K)〕、脚部42の長さをL〔μm〕、脚部42の延長方向に直交する断面の断面積をSとすれば、G=2×α×(S/L)で求められるが、仮に、脚部42の材料がSiOの場合には、α=1.4〔W/(m・K)〕、L=50〔μm〕、S=10〔μm〕とすれば、熱コンダクタンスGは、
G=2×α×(S/L)=560×10−9〔W/K〕となる。
Here, the total thermal conductance G of the two leg portions 42 and 42 is such that the thermal conductivity of the material of the leg portion 42 is α [W / (m · K)], the length of the leg portion 42 is L [μm], If the cross-sectional area of the cross section perpendicular to the extending direction of the leg portion 42 is S, it is obtained by G = 2 × α × (S / L). However, if the material of the leg portion 42 is SiO 2 , If α = 1.4 [W / (m · K)], L = 50 [μm], S = 10 [μm 2 ], the thermal conductance G is
G = 2 × α × (S / L) = 560 × 10 −9 [W / K].

これに対して、本実施形態のように、脚部42を多孔度が60%のポーラスシリカ膜により構成している場合には、α=0.05〔W/(m・K)〕、L=50〔μm〕、S=10〔μm〕とすれば、熱コンダクタンスGは、
G=2×α×(S/L)=2.0×10−8〔W/K〕
となり、熱コンダクタンスGを脚部42がシリコン酸化膜により構成される比較例の熱コンダクタンスGの10分の1よりも小さな値とすることができ、脚部42,42を通した熱伝達をより抑制することができ、高感度化を図れる。
On the other hand, when the leg portion 42 is composed of a porous silica film having a porosity of 60% as in this embodiment, α = 0.05 [W / (m · K)], L = 50 [μm] and S = 10 [μm 2 ], the thermal conductance G is
G = 2 × α × (S / L) = 2.0 × 10 −8 [W / K]
Thus, the thermal conductance G can be set to a value smaller than one tenth of the thermal conductance G of the comparative example in which the leg portion 42 is formed of a silicon oxide film, and the heat transfer through the leg portions 42 and 42 can be further improved. It can be suppressed and high sensitivity can be achieved.

また、支持部41の熱容量Cは、支持部41の体積比熱をcv、支持セル部41aの厚み方向に直交する断面の面積をA、支持セル部41aの数をn、支持部41の厚み方向に直交する断面の面積をA〔μm〕、支持部41の厚さをd〔μm〕とし、連結部41bの熱容量を無視すれば、C=cv×A×d=cv×(A×n)×dで求められる。ここで、仮に、支持部41の材料がSiOの場合には、cv=1.8×10〔J/(m・K)〕、A=225〔μm〕、n=9、d=0.5〔μm〕とすれば、支持部41の熱容量Cは、
C=cv×A×d=18.3×10−10〔J/K〕となる。
Further, the heat capacity C of the support portion 41 is such that the volume specific heat of the support portion 41 is c v , the area of the cross section orthogonal to the thickness direction of the support cell portion 41 a is A 0 , the number of the support cell portions 41 a is n, If the area of the cross section perpendicular to the thickness direction is A [μm 2 ], the thickness of the support portion 41 is d [μm], and the heat capacity of the connecting portion 41b is ignored, C = c v × A × d = c v × It is calculated by (A 0 × n) × d. Here, if the material of the support portion 41 is SiO 2 , c v = 1.8 × 10 6 [J / (m 3 · K)], A 0 = 225 [μm 2 ], n = 9 , D = 0.5 [μm], the heat capacity C of the support portion 41 is
C = c v × A × d = 18.3 × 10 −10 [J / K].

これに対して、本実施形態のように、支持部41を多孔度が60%のポーラスシリカ膜により構成している場合には、cv=0.88×10〔J/(m・K)〕、A=225〔μm〕、n=9、d=0.5〔μm〕とすれば、支持部41の熱容量Cは、
C=cv×A×d=8.9×10−10〔J/K〕
となり、支持部41の熱容量Cを支持部41がシリコン酸化膜により構成される比較例の場合に比べて半分よりも小さな値とすることができ、時定数が小さくなって応答速度の高速化を図れる。
On the other hand, when the support portion 41 is composed of a porous silica film having a porosity of 60% as in this embodiment, c v = 0.88 × 10 6 [J / (m 3 · K)], A 0 = 225 [μm 2 ], n = 9, d = 0.5 [μm], the heat capacity C of the support 41 is
C = c v × A × d = 8.9 × 10 −10 [J / K]
Thus, the heat capacity C of the support portion 41 can be set to a value smaller than half that of the comparative example in which the support portion 41 is made of a silicon oxide film, and the time constant is reduced to increase the response speed. I can plan.

受光レンズ20は、各温度検知素子3aに各別に赤外線を収束させるように2次元アレイ状に配列された複数(本実施形態では、9つ)のレンズ小体21を有している。ここで、受光レンズ20は、各レンズ小体21が平凸レンズであり、各レンズ小体21それぞれの凸曲面21b側の焦点が温度検知素子3aに合うように配置されている(なお、図1(b)中の一点鎖線は、受光レンズ20へ入射した赤外線を示している)。ここで、各温度検知素子3aの受光面の形状が仮に図4(a)に示すような正方形状の形状である場合、各温度検知素子3aの受光面を含む平面における赤外線の入射位置は、図4(a)中にドットで示すように大部分が温度検知素子3aの受光面上に存在することとなり、図4(a)のA−A’線上の各位置における赤外線受光量は図4(b)中に実線で示すような分布となる。一方、上述の受光レンズ20を備えていない場合の赤外線受光量の分布は図4(b)中に破線で示すような分布となる。要するに、本実施形態の赤外線センサでは、温度検知部3を複数の温度検知素子3aにより構成することで温度検知部3の受光面積が小さくなっているにも関わらず、上述の受光レンズ20を備えていることにより、温度検知部3での受光効率の低下を抑制することができる。また、受光レンズ20の材料としては、Siを採用しているが、遠赤外線の透過率が高い材料であればよく、例えば、Ge,InP,ZnSe,ZnS,Al,CdSeなどを採用してもよい。ここにおいて、赤外線センサ素子Bの素子サイズを150μm□とした場合には、凸曲面21bの曲率半径は、0.05mm〜1mm程度の範囲で設定すればよく、受光レンズ20を備えていない場合の温度検知素子3aの受光効率に比べて、2〜5倍程度の受光効率を得ることが可能となる。 The light receiving lens 20 has a plurality of (9 in the present embodiment) lens bodies 21 arranged in a two-dimensional array so that infrared rays are individually focused on each temperature detecting element 3a. Here, in the light receiving lens 20, each lens body 21 is a plano-convex lens, and each lens body 21 is disposed so that the focus on the convex curved surface 21b side of each lens body 21 is aligned with the temperature detection element 3a (FIG. 1). The alternate long and short dash line in (b) indicates the infrared rays incident on the light receiving lens 20). Here, when the shape of the light receiving surface of each temperature detecting element 3a is a square shape as shown in FIG. 4A, the incident position of infrared rays on the plane including the light receiving surface of each temperature detecting element 3a is As shown by dots in FIG. 4A, most of the light is present on the light receiving surface of the temperature detecting element 3a, and the amount of infrared light received at each position on the line AA ′ in FIG. The distribution is as shown by the solid line in (b). On the other hand, the distribution of the amount of received infrared light when the above-described light receiving lens 20 is not provided is a distribution as indicated by a broken line in FIG. In short, the infrared sensor according to the present embodiment includes the above-described light receiving lens 20 even though the light receiving area of the temperature detecting unit 3 is reduced by configuring the temperature detecting unit 3 with a plurality of temperature detecting elements 3a. Therefore, it is possible to suppress a decrease in light receiving efficiency in the temperature detection unit 3. Further, Si is adopted as the material of the light receiving lens 20, but any material having a high far-infrared transmittance may be used. For example, Ge, InP, ZnSe, ZnS, Al 2 O 3 , CdSe, etc. are adopted. May be. Here, when the element size of the infrared sensor element B is 150 μm □, the radius of curvature of the convex curved surface 21b may be set in a range of about 0.05 mm to 1 mm, and the light receiving lens 20 is not provided. It is possible to obtain a light receiving efficiency of about 2 to 5 times that of the temperature detecting element 3a.

ところで、本実施形態の赤外線センサは、上述の赤外線センサ素子Bを収納するCANパッケージ(図示せず)を備えており、受光レンズ20が、CANパッケージにおいて赤外線センサ素子Bの前方(温度検知部3におけるベース基板1側とは反対側)に位置する前壁に設けられた透光窓を閉塞する形でCANパッケージの内側に配設されている。なお、パッケージの形態は特に限定するものではなく、例えば、チップサイズパッケージでもよく、チップサイズパッケージに受光レンズ20を一体に形成してもよい。   By the way, the infrared sensor of this embodiment is equipped with the CAN package (not shown) which accommodates the above-mentioned infrared sensor element B, and the light reception lens 20 is the front (temperature detection part 3) of the infrared sensor element B in a CAN package. The light transmitting window provided on the front wall located on the side opposite to the base substrate 1 side in FIG. The form of the package is not particularly limited. For example, the package may be a chip size package, and the light receiving lens 20 may be formed integrally with the chip size package.

以下、赤外線センサ素子Bの製造方法について図5および図6を参照しながら説明する。なお、図5および図6では、図1(b)に示した断面図に対応する部位の断面を示してある。   Hereinafter, a method for manufacturing the infrared sensor element B will be described with reference to FIGS. 5 and 6 show a cross section of a portion corresponding to the cross sectional view shown in FIG.

まず、ベース基板1の基礎となる単結晶のシリコン基板(後述のダイシングを行うまではウェハ)1aの一表面側にシリコン酸化膜からなる絶縁膜1bを例えば熱酸化法により形成することによって、図5(a)に示す構造を得る。   First, an insulating film 1b made of a silicon oxide film is formed on one surface side of a single crystal silicon substrate (wafer until dicing described later) 1a as a basis of the base substrate 1 by, for example, a thermal oxidation method. The structure shown in 5 (a) is obtained.

その後、シリコン基板1aと絶縁膜1bとからなるベース基板1の一表面側(図5(a)における上面側)の全面に導体パターン10,10および赤外線反射膜6の材料からなる金属膜(例えば、Al−Si膜など)をスパッタ法などにより成膜した後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して上記金属膜をパターニングすることでそれぞれ上記金属膜の一部からなる導体パターン10,10および赤外線反射膜6を形成することによって、図5(b)に示す構造を得る。   Thereafter, a metal film made of the material of the conductor patterns 10 and 10 and the infrared reflection film 6 (for example, on the entire surface of one surface side (the upper surface side in FIG. 5A) of the base substrate 1 made of the silicon substrate 1a and the insulating film 1b (for example, , Al-Si film, etc.) are formed by sputtering or the like, and then the metal film is patterned by using a photolithography technique and an etching technique, thereby forming conductor patterns 10, 10 each consisting of a part of the metal film, and By forming the infrared reflective film 6, the structure shown in FIG. 5B is obtained.

次に、ベース基板1の上記一表面側の全面にレジストを回転塗布してレジスト層からなる犠牲層51を成膜し、その後、犠牲層51のうち各支持ポスト部42a,42aそれぞれの形成予定領域に対応する部位をエッチングして導体パターン10,10の一部の表面を露出させる円形状の開孔部53,53を形成することによって、図5(c)に示す構造を得る。   Next, a sacrificial layer 51 made of a resist layer is formed by spin-coating a resist on the entire surface of the one surface side of the base substrate 1, and then each support post portion 42 a, 42 a of the sacrificial layer 51 is scheduled to be formed. A portion shown in FIG. 5C is obtained by etching portions corresponding to the regions to form circular opening portions 53 and 53 that expose portions of the surfaces of the conductor patterns 10 and 10.

続いて、ベース基板1の上記一表面側の全面に断熱部4の材料である多孔質材料(例えば、ポーラスシリカ、シリカエアロゲルなど)からなる多孔質膜40を成膜することによって、図5(d)に示す構造を得る。ここにおいて、多孔質膜40の形成にあたっては、上記多孔質材料がポーラスシリカの場合には、ゾルゲル溶液をベース基板1の上記一表面側に回転塗布してから、熱処理で乾燥させるプロセスを採用することで容易に形成することができ、上記多孔質材料がシリカエアロゲルの場合には、ゾルゲル溶液をベース基板1の上記一表面側に回転塗布してから、超臨界乾燥処理で乾燥させるプロセスを採用することで容易に形成することができる。   Subsequently, a porous film 40 made of a porous material (for example, porous silica, silica aerogel, etc.) that is a material of the heat insulating portion 4 is formed on the entire surface of the one surface side of the base substrate 1, so that FIG. The structure shown in d) is obtained. Here, in forming the porous film 40, when the porous material is porous silica, a process is adopted in which a sol-gel solution is spin-coated on the one surface side of the base substrate 1 and then dried by heat treatment. When the porous material is silica aerogel, a process of spin-coating the sol-gel solution on the one surface side of the base substrate 1 and drying it by supercritical drying is adopted. By doing so, it can be easily formed.

その後、ベース基板1の上記一表面側の全面に温度検知部3であるセンサ層および第1配線部8a,8aの基礎となるチタン膜と窒化チタン膜との積層膜からなるセンサ材料層30をスパッタ法などにより成膜することによって、図5(e)に示す構造を得る。   Thereafter, a sensor material layer 30 formed of a laminated film of a titanium layer and a titanium nitride film serving as a basis of the sensor layer which is the temperature detection unit 3 and the first wiring units 8a and 8a is formed on the entire surface of the one surface side of the base substrate 1. By forming a film by sputtering or the like, the structure shown in FIG.

次に、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用してセンサ材料層30をパターニングすることでそれぞれセンサ材料層30の一部からなる温度検知部3(各温度検知素子3aおよび各素子間接続用配線3b)および第1配線部8a,8aを形成することによって、図6(a)に示す構造を得る。   Next, by patterning the sensor material layer 30 using photolithography technology and etching technology, each of the temperature detection units 3 (each temperature detection element 3a and each inter-element connection wiring 3b) made of a part of the sensor material layer 30 is obtained. ) And the first wiring portions 8a and 8a are obtained, thereby obtaining the structure shown in FIG.

その後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して多孔質膜40をパターニングすることで断熱部4(支持部41および脚部42,42)を形成することによって、図6(b)に示す構造を得る。   Thereafter, the porous film 40 is patterned by using a photolithography technique and an etching technique to form the heat insulating part 4 (support part 41 and leg parts 42, 42), thereby obtaining the structure shown in FIG. 6B. obtain.

続いて、ベース基板1の上記一表面側の全面に第2配線部8bの基礎となる金属膜(例えば、Al−Si膜)を成膜した後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して当該金属膜をパターニングすることで第2配線部8bを形成することによって、図6(c)に示す構造を得る。   Subsequently, after forming a metal film (for example, an Al—Si film) serving as the basis of the second wiring portion 8b on the entire surface of the one surface side of the base substrate 1, the photolithography technique and the etching technique are used to By forming the second wiring portion 8b by patterning the metal film, the structure shown in FIG. 6C is obtained.

次に、ベース基板1の上記一表面側の犠牲層51を選択的にエッチング除去することで支持部41とベース基板1との間に間隙7を形成することによって、図6(d)に示す構造の赤外線センサ素子Bを得る。ここで、上述のように赤外線センサ素子BをCANパッケージに収納する場合には、ダイシングを行うことで個々の赤外線センサ素子Bに分割すればよいし、パッケージの形態としてチップサイズパッケージを採用する場合には、例えば、ウェハレベルパッケージング技術などを利用してウェハレベルでパッケージングを行ってからダイシングを行えばよい。   Next, by selectively etching away the sacrificial layer 51 on the one surface side of the base substrate 1 to form a gap 7 between the support portion 41 and the base substrate 1, as shown in FIG. An infrared sensor element B having a structure is obtained. Here, when the infrared sensor element B is accommodated in the CAN package as described above, it may be divided into individual infrared sensor elements B by dicing, and a chip size package is adopted as a package form. For example, dicing may be performed after packaging at the wafer level using wafer level packaging technology or the like.

以下、受光レンズ20の製造方法について図7〜図12を参照しながら説明する。   Hereinafter, a method for manufacturing the light receiving lens 20 will be described with reference to FIGS.

まず、受光レンズ20の基礎となるシリコン基板100の一表面側に有機材料からなるレジストをスピンコート法により回転途布してレジスト層101を形成するレジスト層形成工程を行うことによって、図7(a)に示す構造を得る。   First, a resist layer forming step is performed in which a resist layer 101 is formed by rotating a resist made of an organic material on one surface side of the silicon substrate 100 serving as the basis of the light receiving lens 20 by spin coating to form a resist layer 101 (FIG. The structure shown in a) is obtained.

レジスト層形成工程の後、受光レンズ形成用の金型110の凹凸パターンをレジスト層101に転写する転写工程を行うことによって、図7(c)に示す構造を得る。ここにおいて、転写工程では、図7(b)に示すように受光レンズ形成用の金型110をレジスト層101にプレスしてからレジスト層101を硬化させ、レジスト層101から金型110を離型する。   After the resist layer forming step, a transfer step of transferring the concave / convex pattern of the light receiving lens forming mold 110 to the resist layer 101 is performed to obtain the structure shown in FIG. Here, in the transfer step, as shown in FIG. 7B, the mold 110 for forming the light receiving lens is pressed onto the resist layer 101 and then the resist layer 101 is cured, and the mold 110 is released from the resist layer 101. To do.

転写工程の後、反応性イオンエッチング装置を用いてシリコン基板100の上記一表面側からレジスト層101およびシリコン基板100を異方性エッチングするドライエッチング工程を行う(図7(d)は当該ドライエッチング工程の途中での断面形状を示し、同図中の矢印はイオンの入射方向を示している)ことによって、図7(e)に示す構造の受光レンズ20を得る。なお、ドライエッチング工程では、エッチングガスとして、例えば、SFガス、あるいは、SFガスとOガスとの混合ガスを採用すればよい。 After the transfer process, a dry etching process is performed in which the resist layer 101 and the silicon substrate 100 are anisotropically etched from the one surface side of the silicon substrate 100 using a reactive ion etching apparatus (FIG. 7D shows the dry etching process). The cross-sectional shape in the middle of the process is shown, and the arrow in the figure indicates the incident direction of ions) to obtain the light receiving lens 20 having the structure shown in FIG. In the dry etching process, for example, SF 6 gas or a mixed gas of SF 6 gas and O 2 gas may be employed as the etching gas.

ところで、上述の金型110としては、シリコン基板200(図9(a)参照)を用いて形成したマスタ(母型)120を基に複製した複製型を利用している。すなわち、図8(a)に示すようにマスタ120を型として用いて電鋳法によってニッケル製の電鋳型130を形成し、その後、図8(b)に示すように電鋳型130を型として用いて電鋳法によってニッケル製の金型110を形成している。   By the way, as the above-mentioned metal mold 110, a replica mold that is duplicated based on a master (matrix) 120 formed using a silicon substrate 200 (see FIG. 9A) is used. That is, as shown in FIG. 8A, a nickel electroforming mold 130 is formed by electroforming using the master 120 as a mold, and then the electroforming mold 130 is used as a mold as shown in FIG. 8B. Thus, a nickel mold 110 is formed by electroforming.

ここで、マスタ120の作製方法の一例について説明する。   Here, an example of a method for manufacturing the master 120 will be described.

まず、マスタ120の基礎となるシリコン基板200の一表面側に有機材料からなるレジストをスピンコート法により回転途布してレジスト層201を形成するレジスト形成工程を行うことによって、図9(a)に示す構造を得る。   First, by performing a resist forming process in which a resist made of an organic material is rotated on a surface side of the silicon substrate 200 serving as a base of the master 120 by a spin coating method to form a resist layer 201, FIG. The structure shown in is obtained.

その後、受光レンズ20の所望のレンズ形状に応じて設計した凹凸パターンを形成した金属製(本実施形態では、Ni−P)の構造体からなる型材220の凹凸パターンをレジスト層201に転写する転写工程を行うことによって、図9(d)に示す構造を得る。ここにおいて、転写工程では、図9(b)に示すように型材220とレジスト層201の表面に対向させた後、図9(c)に示すように型材220をレジスト層201にプレスしてからレジスト層201を硬化させ、続いて、図9(d)に示すようにレジスト層201から型材220を離型する。なお、型材220は、型材220の基礎となる金属板230(図10(a)参照)の一表面を図10(b)に示すようにダイヤモンドバイト240により切削加工することによって作製してあり、図11(a),(b)に示すように、四角錘状の山部220aが2次元アレイ状に配列されており、レジスト層201は、図12(a),(b)に示すような凹凸パターンとなる。   Thereafter, the transfer of transferring the concavo-convex pattern of the mold 220 made of a metal (Ni-P in this embodiment) formed with the concavo-convex pattern designed according to the desired lens shape of the light receiving lens 20 to the resist layer 201. By performing the steps, the structure shown in FIG. 9D is obtained. Here, in the transfer step, after the mold material 220 and the resist layer 201 are opposed to each other as shown in FIG. 9B, the mold material 220 is pressed onto the resist layer 201 as shown in FIG. 9C. The resist layer 201 is cured, and then the mold material 220 is released from the resist layer 201 as shown in FIG. The mold member 220 is manufactured by cutting one surface of a metal plate 230 (see FIG. 10A) serving as a basis of the mold member 220 with a diamond bit 240 as shown in FIG. 10B. As shown in FIGS. 11A and 11B, square pyramidal peaks 220a are arranged in a two-dimensional array, and the resist layer 201 is formed as shown in FIGS. 12A and 12B. It becomes an uneven pattern.

上述の転写工程が終了した後、シリコン基板200の上記一表面側からレジスト層201およびシリコン基板200を等方性エッチングすることでシリコン基板200の上記一表面に凹凸パターン(本実施形態では、各レンズ小体21の凸曲面21bそれぞれに対応する複数の凹曲面120bを有するパターン)を形成するパターン形成工程を行うことによって、図9(f)に示す構造のマスタ120を得る。なお、図9(e)はパターン形成工程の途中での断面形状を示してある。   After the above-described transfer process is finished, the resist layer 201 and the silicon substrate 200 are isotropically etched from the one surface side of the silicon substrate 200 to form a concavo-convex pattern on the one surface of the silicon substrate 200 (in this embodiment, each The master 120 having the structure shown in FIG. 9F is obtained by performing a pattern forming process for forming a pattern having a plurality of concave curved surfaces 120b corresponding to the convex curved surfaces 21b of the lens bodies 21. FIG. 9E shows a cross-sectional shape in the middle of the pattern forming process.

以上説明した本実施形態の赤外線センサでは、温度検知部3が、ベース基板1の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数の温度検知素子3aを有するので、温度検知部3の熱容量を小さくできて応答速度の高速化を図れ、しかも、受光レンズ20が、各温度検知素子3aに各別に赤外線を収束させるように2次元アレイ状に配列された複数のレンズ小体21を有するので、温度検知部3の受光効率の低下を抑制することができ、温度検知部3では、各温度検知素子3aごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる接続関係で全ての温度検知素子が電気的に接続されているので、感度の低下を抑制することができる。   In the infrared sensor according to the present embodiment described above, the temperature detection unit 3 includes a plurality of temperature detection elements 3a arranged in a two-dimensional array in a plane orthogonal to the thickness direction of the base substrate 1, so that the temperature detection unit 3 can reduce the heat capacity and increase the response speed, and the light receiving lenses 20 are arranged in a two-dimensional array so that the infrared rays are individually focused on the temperature detecting elements 3a. Therefore, a decrease in the light receiving efficiency of the temperature detection unit 3 can be suppressed, and the temperature detection unit 3 has a connection relationship in which an output change with respect to a temperature change is larger than when an output is taken out for each temperature detection element 3a. Since all the temperature detection elements are electrically connected, it is possible to suppress a decrease in sensitivity.

また、本実施形態の赤外線センサでは、支持部41が多孔質材料により形成されているので、支持部41がSiOやSiなどの非多孔質材料により形成されている場合に比べて、支持部41の低熱容量化を図れ、応答速度のより一層の高速化を図れる。さらに、本実施形態の赤外線センサでは、断熱部4における脚部42も多孔質材料により形成されているので、脚部42がSiOやSiなどの非多孔質材料により形成されている場合に比べて、脚部42の熱コンダクタンスを小さくできて高感度化を図れるとともに脚部42の熱容量を小さくできて応答速度の高速化を図れるから、従来に比べて高性能となる。 Further, in the infrared sensor of the present embodiment, since the support portion 41 is formed by a porous material, as compared with the case where the support portion 41 is formed by a non-porous material such as SiO 2 or Si 3 N 4 The heat capacity of the support portion 41 can be reduced, and the response speed can be further increased. Furthermore, in the infrared sensor of this embodiment, since the leg part 42 in the heat insulation part 4 is also formed of a porous material, the leg part 42 is formed of a non-porous material such as SiO 2 or Si 3 N 4 . Compared to the case, the thermal conductance of the leg portion 42 can be reduced to increase the sensitivity, and the heat capacity of the leg portion 42 can be reduced to increase the response speed.

また、本実施形態の赤外線センサでは、ベース基板1の上記一表面側に、温度検知部3および支持部41を透過した赤外線を温度検知部3側へ反射する赤外線反射膜6が設けられているので、温度検知部3での赤外線の吸収効率を高めることができ、温度検知部3の高感度化を図れる。   Moreover, in the infrared sensor of this embodiment, the infrared reflective film 6 that reflects the infrared light transmitted through the temperature detection unit 3 and the support unit 41 toward the temperature detection unit 3 is provided on the one surface side of the base substrate 1. Therefore, the infrared absorption efficiency in the temperature detection unit 3 can be increased, and the temperature detection unit 3 can be highly sensitive.

なお、上記実施形態にて説明した赤外線センサでは、1枚のベース基板1に対して温度検知部3を1つだけ設けてあるが、ベース基板1の一表面側において温度検知部3を2次元アレイ状(マトリクス状)に配列し、各温度検知部3それぞれが1画素を構成するようにした赤外線画像センサとしてもよい。また、上記実施形態にて説明した赤外線センサは、支持部41におけるベース基板1側とは反対側に温度検知部3を設けてあるが、温度検知部3は支持部41におけるベース基板1側に設けてもよい。   In the infrared sensor described in the above embodiment, only one temperature detection unit 3 is provided for one base substrate 1, but the temperature detection unit 3 is two-dimensionally provided on one surface side of the base substrate 1. It is good also as an infrared image sensor arranged in the shape of an array (matrix shape), and each temperature detection part 3 comprises 1 pixel. In the infrared sensor described in the above embodiment, the temperature detection unit 3 is provided on the side of the support unit 41 opposite to the base substrate 1 side. However, the temperature detection unit 3 is provided on the base substrate 1 side of the support unit 41. It may be provided.

実施形態を示し、(a)は要部概略斜視図、(b)は要部概略断面図である。Embodiment is shown, (a) is a principal part schematic perspective view, (b) is a principal part schematic sectional drawing. 同上の要部の他の構成例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the other structural example of the principal part same as the above. 同上の要部の別の構成例を示し、(a)は概略平面図、(b)は概略断面図である。The other example of a structure of the principal part same as the above is shown, (a) is a schematic plan view, (b) is a schematic sectional drawing. 同上の要部説明図である。It is principal part explanatory drawing same as the above. 同上の製造方法を説明するための主要工程断面図である。It is principal process sectional drawing for demonstrating the manufacturing method same as the above. 同上の製造方法を説明するための主要工程断面図である。It is principal process sectional drawing for demonstrating the manufacturing method same as the above. 同上の製造方法を説明するための主要工程断面図である。It is principal process sectional drawing for demonstrating the manufacturing method same as the above. 同上の製造方法を説明するための主要工程断面図である。It is principal process sectional drawing for demonstrating the manufacturing method same as the above. 同上の製造方法を説明するための主要工程断面図である。It is principal process sectional drawing for demonstrating the manufacturing method same as the above. 同上の製造方法を説明するための主要工程断面図である。It is principal process sectional drawing for demonstrating the manufacturing method same as the above. 同上の製造方法で用いる型材を示し、(a)は概略平面図、(b)概略斜視図である。The mold material used with the manufacturing method same as the above is shown, (a) is a schematic plan view, and (b) is a schematic perspective view. 図11の型材の凹凸パターンが転写されたレジスト層を示し、(a)は概略平面図、(b)は概略斜視図である。11A and 11B show a resist layer to which the concavo-convex pattern of the mold material of FIG. 11 is transferred, wherein FIG. 11A is a schematic plan view, and FIG. 11B is a schematic perspective view.

符号の説明Explanation of symbols

1 ベース基板
3 温度検知部
3a 温度検知素子
4 断熱部
20 受光レンズ
21 レンズ小体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Base substrate 3 Temperature detection part 3a Temperature detection element 4 Heat insulation part 20 Light receiving lens 21 Lens body

Claims (3)

ベース基板と、赤外線を吸収するとともに該吸収による温度変化を検知する温度検知部と、温度検知部がベース基板の一表面から離間して配置されるように温度検知部を支持して温度検知部とベース基板とを熱絶縁する多孔質材料からなる断熱部と、温度検知部におけるベース基板側とは反対側に配置された受光レンズとを備え、温度検知部は、ベース基板の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数の温度検知素子を有するとともに各温度検知素子ごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる接続関係で全ての温度検知素子が電気的に接続されてなり、受光レンズは、各温度検知素子に各別に赤外線を収束させるように2次元アレイ状に配列された複数のレンズ小体を有し、断熱部は、ベース基板の前記一表面から離間して配置されベース基板側とは反対側に温度検知部が形成される支持部と、支持部とベース基板とを連結した脚部とを有し、支持部は、ベース基板の厚み方向に直交する面内で2次元アレイ状に配列された複数の矩形状の支持セル部と、隣り合う支持セル部同士を連結した複数の連結部とで構成されてなり、温度検知部は、脚部に沿って形成された配線を介してベース基板の前記一表面上の導体パターンと電気的に接続されてなり、脚部は、ベース基板の前記一表面側において導体パターン上に立設された円筒状の支持ポスト部と、支持ポスト部の上端部と支持部とを連結した梁部とで構成され、配線のうち支持ポスト部に形成されている部位は、支持ポスト部の内周面の全体と導体パターンの表面とに跨って形成されてなり、支持ポスト部が配線により補強されていることを特徴とする赤外線センサ。 A temperature detection unit that supports the temperature detection unit so that the temperature detection unit is disposed away from one surface of the base substrate, and a temperature detection unit that absorbs infrared rays and detects a temperature change due to the absorption. a base substrate and a cross-sectional heat portion made of a porous material you heat insulation and, a light receiving lens disposed on the side opposite to the base substrate side in the temperature detecting section, temperature detection section, the thickness direction of the base substrate All temperature detections with a connection relationship that has a plurality of temperature sensing elements arranged in a two-dimensional array in a plane orthogonal to and increases the output change with respect to the temperature change compared to the case where the output is taken out for each temperature sensing element The elements are electrically connected, and the light receiving lens has a plurality of lens bodies arranged in a two-dimensional array so that the infrared rays are individually focused on each temperature detecting element. A support part which is arranged apart from the one surface of the substrate and has a temperature detection part formed on the side opposite to the base substrate side, and a leg part connecting the support part and the base substrate; It is composed of a plurality of rectangular support cell portions arranged in a two-dimensional array in a plane orthogonal to the thickness direction of the base substrate, and a plurality of connection portions connecting adjacent support cell portions , and the temperature The detection unit is electrically connected to the conductor pattern on the one surface of the base substrate via a wiring formed along the leg portion, and the leg portion is on the conductor pattern on the one surface side of the base substrate. The support post portion is formed by a cylindrical support post portion standing upright and a beam portion connecting the upper end portion of the support post portion and the support portion. Shaped across the entire inner peripheral surface of the conductor and the surface of the conductor pattern Is made with an infrared sensor, characterized in that it is reinforced by the support post portion wirings. 前記温度検知部は、前記各温度検出素子が、サーモパイル型のセンシングエレメントからなり、前記接続関係が直列接続であることを特徴とする請求項1記載の赤外線センサ。   2. The infrared sensor according to claim 1, wherein each of the temperature detection elements is a thermopile type sensing element, and the connection relationship is a series connection. 前記多孔質材料は、多孔質の酸化シリコン、多孔質の酸化シリコン系有機ポリマー、多孔質の酸化シリコン系無機ポリマーの群から選択される材料であることを特徴とする請求項1または請求項2記載の赤外線センサ The porous material is a material selected from the group consisting of porous silicon oxide, porous silicon oxide organic polymer, and porous silicon oxide inorganic polymer. The described infrared sensor .
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