JP4863468B2 - 光ディスクの製造方法 - Google Patents
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Description
本発明で用いる成分(A)は硬化性組成物に低収縮性を付与する成分であり、またその硬化物に強靭性、可とう性及び寸法安定性を付与するための成分である。
成分(B)は、硬化性組成物を低粘度化し、硬化物に支持基体との密着性を付与する成分である。
本発明の硬化性組成物は単量体合計量100質量部に対して、0.1〜1.5質量部の水を含有する。水の含有量が0.1質量部未満の場合には得られる硬化性組成物をスピンコートし、被塗装基材の外側に飛散した組成物を回収したとしてもスピンコート時に空気中の水分を吸湿することによる粘度低下が大きく、同条件でスピンコートした場合に膜厚が薄くなるため、リサイクル使用が困難である。また、1.5質量部を越える場合には硬化物を光透過層として用いた光ディスクの乾燥後の反り変化が大きくなる。
成分(C)としては、多官能(メタ)アクリレート、ジ(メタ)アクリレート、モノ(メタ)アクリレート、ポリエステルポリ(メタ)アクリレート、エポキシポリ(メタ)アクリレート等であって、前述の成分(A)及び(B)以外の単量体が挙げられる。
本発明が適用可能な光情報媒体は、コンパクトディスク等、既存の光情報媒体同様、公知の手法で製造可能である。ポリカーボネート等の透明樹脂を射出成型法により円盤状に成型した後、円盤の情報記録面となる面上に、例えばスパッタリング法により情報記録層となる金属薄膜層を形成する。その後、例えばスピンコート法により金属薄膜層上に本発明の硬化性組成物を塗布し、それを硬化させて光透過層を形成することにより製造できる。
本発明を適用可能な光情報媒体の支持基体としては、例えば、金属、ガラス、セラミックス、紙、木材、プラスチック等の材料やこれらの複合材料が挙げられる。特に、従来の光ディスク製造プロセスを利用できることから、ポリメチルメタクリレート、ポリエステル、ポリ乳酸、ポリカーボネート、アモルファスポリオレフィン等の熱可塑性樹脂が好適である。
本発明の組成物硬化物層が保護する、光情報媒体用の情報記録層の材料としては、例えば、金、銀、銀・Pd・Cu合金、アルミ、アルミチタン合金、Si・Cu合金、銀・In・Te・Sb合金、銀・In・Te・Sb・Ge合金、Ge・Sb・Te合金、Ge・Sn・Sb・Te合金、Sb・Te合金、Tb・Fe・Co合金、色素等が挙げられる。これらの材料は読み取り専用型媒体、相変化型記録媒体、ピット形成タイプ記録媒体、光磁気記録媒体等の使用目的に応じて選択すればよい。
本発明の硬化性組成物の硬化物層からなる、光透過層は記録光又は再生光に対する透明性を保ち、情報記録層を保護する役割を有する。光透過層の厚みとしては、10μm以上の場合に光情報媒体の表面を十分に保護できる傾向にあり好ましく、また、500μm以下で光情報媒体の反りを抑制しやすい傾向にあり好ましい。より好ましくは20〜300μmの範囲であり、更に好ましくは25〜150μmの範囲である。
1.硬化性組成物の液特性評価
<水分含有量(%)>
得られた組成物について、京都電子工業(株)製MKS−510Nを用いて、カールフィッシャー法で(初期及び粘度低下率測定後のサンプルについて)水分含有量を測定した。
得られた組成物について、25℃における粘度をE型粘度計(東機産業(株)製、TVE−20)を用いて測定した。
得られた組成物について、以下の塗装テストを実施した。
×:不良(粘度低下率が10%を越え、同一条件でスピンコートした場合の膜厚減少が5μmを越える)
2.光ディスクの評価
<初期反り>
作成直後の評価用光ディスクについて、ジャパンイーエム(株)製DLD−3000光ディスク光学機械特性測定装置を用いて、23℃、相対湿度50%環境下にて、半径55mm位置における初期反り角を測定し、下記基準に基づいて評価を行った。
○:やや良好(初期反りが0.4度以内)
×:不良(初期反りが0.4度超)
<乾燥試験後反り>
前記同様、初期反り角を測定した光ディスクについて、23℃、相対湿度5%の環境下へ5時間放置後、半径55mm位置における反り角を同環境下にて測定し、下記基準に基づいて評価を行った。
○:やや良好(試験後反りが0.4度以内)
×:不良(試験後反りが0.4度超)
《合成例1》ウレタンアクリレート(UA1:成分A)の製造
5Lの4つ口フラスコに、イソホロンジイソシアネート1110g及びジブチル錫ジオクテート0.5gを仕込んで水浴中でフラスコ内温が40℃になるように加熱した。
ポリテトラメチレングリコールとN−メチル−N−(2−ヒドロキシエチル)−4−ヒドロキシブタナミドの代わりに、ポリカプロラクトンジオール(ダイセル化学工業(株)製プラクセル205、数平均分子量530)1206gを用いる以外は合成例1と同様にしてウレタンアクリレートUA2を製造した。
イソホロンジイソシアネートの代わりに、トリレンジイソシアネートを870g、プラクセル205の代わりに、ポリカプロラクトンジオール(保土谷化学(株)製、商品名PTG−850SN、数平均分子量862)1961gを用いる以外は合成例2と同様にしてウレタンアクリレートUA3を製造した。
(1)硬化性組成物の製造
成分(A)として合成例1で得られたUA1を65部、成分(B)として2−エチル−2−メチル−1,3−ジオキソラン−4−イル−メチルアクリレート25部、成分(C)として1,6−ヘキサンジオールジアクリレート10部、成分(D)として1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン3部、純水0.5部を密閉条件下で混合溶解し、硬化性組成物を得た。
ポリカーボネート樹脂を射出成型して得た光ディスク形状を有する透明円盤状鏡面基板(直径12cm、板厚1.1mm、反り角0度)の片面に、Ag98Pd1Cu1(原子比)合金を膜厚20nmとなるようにスパッタリング法にて製膜し、鏡面に銀合金反射膜を有する評価用光ディスク基材を得た。
UA2:合成例2で得られたウレタンアクリレート
UA3:合成例3で得られたウレタンアクリレート
THFA:テトラヒドロフルフリルアクリレート(分子量156)
MEDOL:2−エチル−2−メチル−1,3−ジオキソラン−4−イル−メチルアクリレート(分子量200)
2EEA:2−エトキシエトキシエチルアクリレート(分子量188)
TAIC:トリス(2−アクリロイルオキシエチル)イソシアヌレート
C6DA:1,6−ヘキサンジオールジアクリレート
TCDA:トリシクロデカンジメタノールジアクリレート
V540:ビスフェノールA型エポキシアクリレート(大阪有機化学工業(株)製ビスコート540)
PM−2:ビスメタクリロイルオキシエチルアシッドフォスフェート(日本化薬(株)製カヤマーPM−2)
HCPK:1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン
Claims (2)
- 新品の光ディスク用硬化性組成物を支持基体にスピンコート法により塗工し、該塗工の後に該組成物を回収する工程を含む光ディスクの製造方法において、新品の光ディスク用硬化性組成物が、ウレタン(メタ)アクリレート(A)及び分子内に少なくとも1個のエーテル結合を有する(A)以外の(メタ)アクリレート(B)を含有し、成分(A)と成分(B)とを含む単量体合計量100質量%を基準として、成分(A)を40〜90質量%、成分(B)を10〜60質量%含有し、該単量体合計量100質量部に対して、水を0.1〜1.5質量部含有し、E型粘度計を用いて測定した25℃における粘度が3980mPa・s以下である光ディスクの製造方法。
- 成分(B)の分子量が180以上である請求項1記載の光ディスクの製造方法。
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