JP4837300B2 - 光画像計測装置 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施形態について説明する。
本発明に係る光画像計測装置の第1の実施形態の構成を図1、2を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る光画像計測装置1の光学系の概略構成の一例を表し、図2は、その制御系の構成の一例を表している。
本実施形態に係る光画像計測装置1は、低コヒーレントな計測光Hを出力する広帯域光源2と、この計測光Hの偏光特性を直線偏光に変換する偏光板3と、直線偏光とされた計測光Hを平行光束にするとともに、そのビーム径を拡大するレンズ4、5と、ビーム径が拡大された計測光Hを信号光Sと参照光Rとに分割するとともに、それらを重畳して干渉光Lを生成するハーフミラー6と、参照光Rの偏光特性を直線偏光から円偏光に変換する波長板7と、参照光Rの進行方向に対して直交する反射面によって参照光Rを全反射する参照鏡8と、この参照鏡8の反射面の背面側に設けられたピエゾ素子9とを含んでいる。
被測定物体Oを観察するための観察光学系は、たとえば可視領域の観察光Mを出射する観察光源12と、観察光Mを集光する集光レンズ13と、観察光Mの光路を信号光Sの光路に合成して観察光Mを被測定物体Oに照射するハーフミラー14とを含んでいる。ハーフミラー14は、本発明の「合成手段」の一例に相当する。また、観察光源12、集光レンズ13及びハーフミラー14は、本発明の「照明光学系」の一例に相当する。
本実施形態の光画像計測装置1には、2つの移動ステージ(装置移動ステージ40、干渉計移動ステージ50)が設けられている。干渉計移動ステージ50は、装置移動ステージ40上に搭載されている。
ここで、観察用CCDカメラ23に対する観察光の合焦状態と、計測用CCDカメラ21、22に対する計測光の合焦状態との関係について説明する。本実施形態の光画像計測装置1においては、観察用CCDカメラ23にピントの合う位置と計測用CCDカメラ21、22にピントの合う位置とをあらかじめ変位させた構成が適用されている。
次に、図2を参照して、光画像計測装置1の制御系の構成について説明する。光画像計測装置1の制御系は、信号処理部20を中心に構成され、この信号処理部20に接続された計測用CCDカメラ21、22、観察用CCDカメラ23、計測開始スイッチ60、ピエゾ素子9、ステージ駆動機構41、51、照明光源12、駆動パルス発生器2A及び表示装置50とを含んで構成される。
装置制御部24は、CPU等の演算処理回路を含んで構成され、駆動パルス発生器2A、ピエゾ素子9、照明光源12、ステージ駆動機構41、51、計測用CCDカメラ21、22、観察用CCDカメラ23など装置各部の動作制御を行う。なお、装置制御部24は、前述の観察操作部に対する操作に応じてステージ駆動機構41を制御して、装置移動ステージ40を移動させる。また、装置制御部24は、観察用CCDカメラ23から入力された検出信号に基づいてモニタ装置30に観察画像を表示させる処理を行う。また、画像や各種データを記憶部26に記憶させる処理や、記憶部26に記憶された情報の読出処理なども行う。更に、前述の観察開始スイッチや計測開始スイッチ60が操作されたことに対応して装置各部の制御を行う。
画像形成部25は、本発明の「画像形成手段」の一例に相当し、後述の〔計測原理〕にて詳述する演算処理を実行することにより、計測用CCDカメラ21、22から出力された検出信号に基づいて被測定物体Oの2次元断層画像や3次元画像などを形成する。
画像形成部25によって形成された画像は、装置制御部24によって記憶部26に記憶されたり、モニタ装置30に表示されたりする。
記憶部26は、イメージメモリ、ハードディスクドライブ、ROM等の記憶装置によって構成される。なお、図2中では単一の記憶部26が記載されているが、実際の構成では、複数の記憶装置から構成されていてもよい。
ここで、本実施形態の光画像計測装置1によって実施される画像計測の基本原理について説明する。
以上のような本実施形態の光画像計測装置1による処理態様について説明する。光画像計測装置1は、まず被測定物体Oを観察に使用されて検者が計測領域を決定し、それからその計測領域の画像計測に使用される。図4のフローチャートは、そのような光画像計測装置1の処理態様の一例を表している。
以上のように動作する本実施形態の光画像計測装置1によれば、計測用CCDカメラ21、22の計測物点Qは、被測定物体Oの観察時には観察物点Pから距離dだけ離れた位置にあり、計測開始スイッチ60が操作されたことに対応して観察物点Pの位置の方向に向かって移動を開始する。計測物点Qは、一定速度となるまで加速された後に、観察物点Pの位置を通過する。換言すると、計測用CCDカメラ21、22は、最初は被測定物体Oの観察位置(観察深度)から距離dだけ離れた位置を計測するようにピントが合っており、計測開始のトリガに対応して、その計測位置(ピントが合っている位置)を上記観察位置に向けて移動させていく。そして、その移動速度が一定速度となった後、計測位置が上記観察位置を通過することととなる。したがって、本実施形態の光画像計測装置1によれば、計測開始のトリガの入力後、迅速に画像計測を開始することができ、観察物点Pの位置の画像(計測領域決定時に観察していた領域の画像)を好適に取得することが可能となる。
以下、本発明に係る光画像計測装置の各種変形例について説明する。
続いて、本発明に係る光画像計測装置の第2の実施形態について説明する。図6は、本実施形態の光画像計測装置1′の光学系の構成の一例を表している。
続いて、本発明に係る光画像計測装置の第3の実施形態について説明する。図9は、本実施形態の光画像計測装置1″の光学系の構成の一例を表している。また、図10は、この光画像計測装置1″の制御系の構成の一例を表している。
2 広帯域光源
2A 駆動パルス発生器
3 偏光板
4、5 レンズ
6 ハーフミラー
7 波長板
8 参照鏡
9 ピエゾ素子
10 結像用レンズ群
11 偏光ビームスプリッタ
12 観察光源
13 集光レンズ
14 ハーフミラー
15 ビームスプリッタ
16 反射ミラー
17 結像レンズ
20 信号処理部
21、22 計測用CCDカメラ
23 観察用CCDカメラ
24 装置制御部
25 画像形成部
26 記憶部
30 モニタ装置
40 装置移動ステージ
41 ステージ駆動機構
50 干渉計移動ステージ
51 ステージ駆動機構
60 計測開始スイッチ
P 観察物点
p 観察像点
Q 計測物点
q1、q2 計測像点
R 参照光
S 信号光
L 干渉光
L1 干渉光のS偏光成分
L2 干渉光のP偏光成分
O 被測定物体
Claims (9)
- 受光した干渉光に基づいて被測定物体の画像を形成する光画像計測装置であって、
被測定物体を観察光で照明する照明光学系と、
前記被測定物体による前記観察光の反射光を受光して信号を生成する観察用受光手段と、
前記観察光の反射光を前記観察用受光手段に合焦させる観察光合焦手段と、
前記観察用受光手段により生成された信号に基づいて前記被測定物体の観察画像を表示する表示手段と、
前記観察画像を参照して画像計測を開始するときに操作される操作手段と、
前記操作手段が操作されたことに対応して計測光を出射する計測光源と、
前記出射された計測光を前記被測定物体を経由する信号光と参照物体を経由する参照光とに分割する分割手段と、
前記被測定物体を経由した前記信号光と前記参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する重畳手段と、
前記観察光の反射光が前記観察用受光手段に合焦されているときに、その観察物点の位置から前記信号光の光路方向に所定距離だけ離れた位置に計測物点を有するように配置され、前記生成された干渉光を受光する計測用受光手段と、
前記操作手段が操作されたことに対応し、前記計測用受光手段の計測物点を前記所定距離だけ離れた前記観察物点の位置の方向に移動させるように、前記計測光源と前記分割手段とを移動させることにより、前記信号光と前記参照光との光路長差を変更する光路長変更手段と、
を備え、
前記観察物点は、前記観察用受光手段上に前記観察光の反射光を合焦する点であり、前記計測物点は、前記計測用受光手段上に前記干渉光の像点を形成する点である、
ことを特徴とする光画像計測装置。 - 前記光路長変更手段は、前記計測光源、前記参照物体、前記分割手段、及び前記重畳手段を前記信号光の光路方向に一体的に移動させる移動手段を含むことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
- 前記移動手段は、前記操作手段が操作されたことに対応して前記一体的な移動を開始し、
前記所定距離は、前記移動手段が静止状態の前記計測光源、前記参照物体、前記分割手段、及び前記重畳手段を一体的に一定速度まで加速させるのに必要な距離又はそれ以上の距離とされている、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記光路長変更手段は、前記参照物体を前記参照光の光路方向に移動させる参照物体移動手段を含むことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
- 前記参照物体移動手段は、前記操作手段が操作されたことに対応して前記参照物体の移動を開始し、
前記所定距離は、前記参照物体移動手段が静止状態の前記参照物体を一定速度まで加速させるのに必要な距離又はそれ以上の距離とされている、
ことを特徴とする請求項4に記載の光画像計測装置。 - 前記照明光学系は、前記観察光を出射する観察光源と、前記出射された観察光の光路を前記信号光の光路に合成する合成手段とを含むことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記照明光学系は、前記信号光の光路に対して斜め方向から前記被測定物体に向けて前記観察光を出射する観察光源を含むことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記被測定物体による前記観察光の反射光は、前記被測定物体を経由した前記信号光の光路に沿って導光され、前記重畳手段を経由して前記干渉光の光路に沿って導光され、
前記観察光の反射光の光路を前記干渉光の光路から分岐させる分岐手段を更に備え、
前記観察光合焦手段は、前記分岐された前記観察光の反射光を前記観察用受光手段に合焦させる、
ことを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記観察光合焦手段は、前記観察用受光手段、前記観察用合焦手段、前記計測光源、前記参照物体、前記分割手段、前記重畳手段及び計測用受光手段を前記信号光の光路方向に一体的に移動させる合焦移動手段を含むことを特徴とする請求項8に記載の光画像計測装置。
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