JP4834584B2 - 変形挙動の測定方法、シミュレーション方法及び測定装置 - Google Patents
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Description
また、特許文献2の手法は、レーザー変位計と特殊な治具がなければ測定が行えず、汎用性が無い。
これにより、樹脂試験片などにマーキング可能な油性マジックなどのペン先が細い一般的なペンに比べて、粒子径が小さいので、マーキングの中心部を解析する際、解析データのバラツキが小さくなる。そのため、ポアソン比や弾性率を測定するような微小変形の解析を行うなどの場合、画像解析時の誤差が減り、より精度の高い解析ができる。
また、細かくマーキングできるため、一回の試験で様々な方向の変位を測定することや、同方向にある複数の粒子間の変位を測定することで複数個の歪みなどのデータを得ることなどができる。
なお、粒子はより好ましくは粒子径が150μm以下であることが好ましい。
これにより、歪みゲージでは樹脂などの熱膨張率に完全に対応した歪みゲージが無いため、歪みゲージ貼り付け後に温度変化した場合、歪みゲージと試験片で発生している歪みが異なる等の問題があるが、本願の方法では、粒子を貼り付けた後、温度変化した際も、試験片に追随しているため、問題がない。また、歪みゲージは高温試験時に剥れやすいという問題があるが、本発明の方法では剥れ難い。仮に幾つかの粒子が剥れても、粒子が多数あるため、問題ない。なお、試験温度に制限は無いが、好ましくは−40〜80℃である。
図1は、この実施の形態の変形挙動の測定装置の構成を示すもので、引張試験機の把持機構10,12に把持された試験片Sと、この試験片Sに対向する位置に配置された撮像装置14と、撮像装置14の出力画像を取得して画像解析を行うための解析装置16を備えている。撮像装置14としてはCCDを用いたデジタルカメラ等が、解析装置16としては画像解析ソフトを搭載したコンピュータ等が好適に使用可能である。
まず、図2(a)に示すように、試験片Sの所定領域に粒子Pを付着させる。これは、まず、表面に接着剤を塗布又は噴霧し、その上から金属等の粒子Pを降りかけることにより実施できる。この際、画像解析が行い易いように、粒子を必要以上の量を付着させないようにすることが望ましい。
例えば、ポアソン比の測定を行う場合は、引張方向の変位と引張方向と垂直方向の変位を測定する。そしてこれらのデータより、引張方向の縦歪み及び引張方向と垂直方向の横歪みを算出し、その比からポアソン比を求める。
(1)試験設備
引張試験機:島津製作所製 ハイドロショットHITS-T10
粒子:福田金属箔工業株式会社製 Cu-At 100-200(粒子径150μm以下が85%以上)
接着剤:住友スリーエム株式会社製 3Mスプレーのり55
カメラ:株式会社NIKON製 デジタル一眼レフカメラ D100
画像解析ソフト:株式会社ライブラリー製 MoveTr2D
(2)試験条件
試験片S:ASTMD−638−I
引張速度:0.1mm/s
試験温度:23℃
P 粒子
Claims (8)
- 試験片の変形挙動を測定する方法において、試験片の表面に粒子を付着させて引張試験を行い、付着させた特定の粒子間の変位を測定し、
前記粒子の変位の測定結果に基づいて求めた試験片の縦歪み及び横歪みとの比からポアソン比を測定することを特徴とする変形挙動の測定方法。 - 前記粒子として径が500μm以下である粒子を用いることを特徴とする請求項1に記載の変形挙動の測定方法。
- 高温又は低温において試験片に粒子を付着させることができる接着剤を用いることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の変形挙動の測定方法。
- 試験片の変形挙動を測定する方法において、試験片の表面に粒子を付着させて試験を行い、付着させた特定の粒子間の変位を測定し、
前記変形挙動の測定方法によって測定した前記粒子間の変位の測定結果を用いることを特徴とするシミュレーション方法。 - 前記変形挙動の測定方法において、前記粒子として径が500μm以下である粒子を用いることを特徴とする請求項4に記載のシミュレーション方法。
- 前記変形挙動の測定方法において、高温又は低温において試験片に粒子を付着させることができる接着剤を用いることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載のシミュレーション方法。
- 前記変形挙動の測定方法において、前記試験が引張試験であり、前記粒子の変位の測定結果に基づいて求めた試験片の縦歪み及び横歪みとの比からポアソン比を測定することを特徴とする請求項4ないし6の何れか一項に記載のシミュレーション方法。
- 試験片について機械的試験を行う試験機と、
試験機に取り付けられた試験片の表面に付着した粒子を撮像する撮像手段と、
撮像手段によって取得された粒子の画像を解析して、機械的試験の際の試験片の変形挙動を解析し、特定の粒子間の変位を測定することを特徴とする変形挙動の測定装置。
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