JP4817798B2 - 担体および担体の製造方法 - Google Patents
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(1)シリコン基体上に、SiO2層および生体分子と共有結合しうる官能基を有する担体。
(2)シリコン基体上に、SiO2層、生体分子を静電的に引き寄せるための静電層および生体分子と共有結合しうる官能基を有する担体。
(3)SiO2層が、シリコン基体を酸素が存在する条件で、大気圧下または減圧下でベーキングすることにより得られるものである、(1)または(2)記載の担体。
(4)ベーキングが、100〜1200℃で1〜48時間のベーキングである、(3)記載の担体。
(5)静電層が、アミノ基含有化合物を含む(2)〜(4)のいずれかに記載の担体。
(6)SiO2層が形成されたシリコン基体を、非置換または一置換されたアミノ基を有する化合物を含有する溶液中に浸漬した後、生体分子と共有結合しうる官能基を導入して得られるものである(5)記載の担体。
(7)非置換または一置換されたアミノ基を有する化合物が正荷電をもつ水溶性高分子である(6)記載の担体。
(8)生体分子が、核酸、糖鎖およびペプチドからなる群から選択される(1)〜(7)のいずれかに記載の担体。
(9)(1)〜(8)のいずれかに記載の担体上に生体分子が固定化されてなる、生体分子固定化担体。
(10)シリコン基体上に、SiO2層および生体分子と共有結合しうる官能基を有する担体の製造方法であって、シリコン基体を、酸素が存在する条件で、大気圧下または減圧下でベーキングすることによりSiO2層を形成すること、および生体分子と共有結合しうる官能基を導入することを含む、前記方法。
(11)シリコン基体上に、SiO2層、生体分子を静電的に引き寄せるための静電層および生体分子と共有結合しうる官能基を有する担体の製造方法であって、シリコン基体を、酸素が存在する条件で、大気圧下または減圧下でベーキングすることによりSiO2層を形成すること、および非置換または一置換されたアミノ基を有する化合物を含有する溶液中に浸漬した後、生体分子と共有結合しうる官能基を導入することを含む、前記方法。
(12)ベーキングを100〜1200℃で1〜48時間行う、(10)または(11)記載の方法。
SiO2層の厚みは、通常5〜10000nm、好ましくは10〜200nmである。
SiO2層、または前記のように形成した静電層には、生体分子と共有結合しうる官能基を導入するため、化学修飾を施す。
以下の(a)〜(b)の担体を製造した。
(a)シリコン基体上にSiO2層を有する担体A(真空熱酸化)
P型(100)、抵抗率:1〜10Ω・cmのシリコン基体((株)新陽製)を、O2ガスを導入した真空炉中(H2ガス少量導入)、約900℃で処理した。形成されたSiO2層の膜厚は100nm程度であった。
シリコン基体((株)新陽製、前掲)上に、メタンガス97.5体積%と水素2.5体積%を混合したガス(総流量100sccm)を原料として、イオン化蒸着法によって、加速電圧0.5kV、作動圧8Paでダイヤモンドライクカーボン(DLC)層を10nmの厚みに形成した。その後、アンモニアガス雰囲気(30sccm)でプラズマ法(作動圧3Pa、バイアス0.5kV)により10分間アミノ化し、ポリアクリル酸を反応させ、0.1Mリン酸緩衝液(PH6)に0.1MのN−エチル−N’−(3−ジメチルアミノプロピル)−カルボジイミドと20mMのN−ヒドロキシスクシンイミドを溶解した反応液中に30分間浸漬することにより化学処理した。
(c)SiO2層をHFで除去した担体
シリコン基体((株)新陽製、前掲)を、(a)と同様な手法でO2ガスを導入した真空炉中(H2ガス少量導入)、約900℃で処理した。こうしてSiO2層が形成された担体をHF(フッ化水素)に常温で5分間浸漬し、超純水で洗浄後、(a)と同様にアミノ化および化学処理した。
(d)シリコン担体
シリコン基体((株)新陽製、前掲)を、(a)と同様にアミノ化および化学処理した。
(e)ガラス基体の表面にDLC層を有する担体
スライドガラスからなる基体(コーニング社製液晶用ガラス)上に、メタンガス97.5体積%と水素2.5体積%を混合したガス(総流量100sccm)を原料として、イオン化蒸着法によって、加速電圧0.5kV、作動圧8Paでダイヤモンドライクカーボン(DLC)層を10nmの厚みに形成した。その後、アンモニアガス雰囲気(30sccm)でプラズマ法(作動圧3Pa、バイアス0.5kV)により10分間アミノ化し、ポリアクリル酸を反応させ、0.1Mリン酸緩衝液(PH6)に0.1MのN−エチル−N’−(3−ジメチルアミノプロピル)−カルボジイミドと20mMのN−ヒドロキシスクシンイミドを溶解した反応液中に30分間浸漬することにより化学処理した。
Cy3で標識したオリゴDNA(22mer)の溶液(5μM)を上記(a)〜(e)の担体上にスポットし、80℃で1時間ベーキングし、洗浄液(2×SSC/0.2%SDS)で15分間室温にて洗浄し、続いて同じ洗浄液で5分間熱洗浄(90℃以上)を行うことにより、オリゴDNAを担体上に固定化した。
シリコン基体の表面にSiO2層を有する担体B(ベーキング)
シリコン基体((株)新陽製、前掲)を大気炉(光洋サーモシステム社製)中、450℃、600℃または800℃で、3時間、12時間または20時間ベーキングすることにより、シリコン基体の表面にSiO2層を形成した。続いてこれをポリアリルアミン水溶液(0.1g/l)に浸漬することによりアミノ化し、ポリアクリル酸を反応させ、0.1Mリン酸緩衝液(PH6)に0.1MのN−エチル−N’−(3−ジメチルアミノプロピル)−カルボジイミドと20mMのN−ヒドロキシスクシンイミドを溶解した反応液中に30分間浸漬することにより化学処理した。
実施例1で作成したシリコン基体上にSiO2層を有する担体(a)、およびシリコン基体((株)新陽製、前掲)を大気炉(光洋サーモシステム社製)中、600℃で20時間ベーキングすることで得られたシリコン基体の表面にSiO2層を有する担体(j)について、2種類の異なるオリゴDNAを固定化させた後に、PCR産物をターゲットに用いたハイブリダイゼーションを行なった。
2種類のオリゴDNAの溶液(5μM)を上記(a)および(j)の担体上にスポットし、80℃で1時間ベーキングし、洗浄液(2×SSC/0.2%SDS)で15分間室温にて洗浄し、続いて同じ洗浄液で5分間熱洗浄(90℃以上)を行うことにより、オリゴDNAを担体上に固定化した。その後、Cy5で標識したPCR産物をターゲットDNAとして、ハイブリダイズ(45℃、1時間)を行った。その後、洗浄液(2×SSC)で洗浄した後に、富士写真フィルム社製FLA8000(PMT50%)を用いてシグナルを検出した。
結果を図1に示す。これより、ターゲットDNAと相補的なプローブDNA(I)がスポットされた部分では、ハイブリダイズによるCy5側のシグナル確認された。一方で、相補的でないプローブDNA(II)が固定化された部分では、Cy5側のシグナルは確認されなかった。これより、真空熱酸化(a)および大気圧下での熱酸化(j)のいずれの方法で作成したSiO2層においても、DNAプローブが機能可能に固定化されており、高感度のハイブリダイズシグナルが得られることが示された。
Claims (3)
- シリコン基体上に、SiO2層、生体分子を静電的に引き寄せるための静電層および生体分子と共有結合しうる官能基を有する担体の製造方法であって、
シリコン基体を、酸素が存在する条件で、大気圧下または減圧下で100〜1200℃の温度で1〜48時間、ベーキングすることによりSiO2層を形成すること、および
非置換または一置換されたアミノ基を有する化合物を含有する溶液中に浸漬した後、生体分子と共有結合しうる官能基を導入することを含む、前記方法。 - 600〜1200℃で3〜48時間、ベーキングすることによりSiO2層を形成することを特徴とする請求項1記載の方法。
- 600〜1200℃で12〜48時間、ベーキングすることによりSiO2層を形成することを特徴とする請求項1記載の方法。
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