JP4816287B2 - カットオフ波長の測定方法 - Google Patents
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図2は、曲げ法によるカットオフ波長の測定原理を示したものである。
図2(a)は、曲げを与えない初期状態で被測定光ファイバの入射端に2つのモードLP11,LP01の測定光を入射した時の各モードLP11,LP01の伝搬パワーと波長との関係を示している。図中の領域S1は、モードLP11を理論的には伝搬できるが、実際の光ファイバの使用状態では伝搬できない領域である。この領域S1の前端における波長λcがカットオフ波長としての実効波長であり、領域S1の後端における波長λLが理論カットオフ波長となる。
図2(b)は、所定の半径の円弧状に曲げた状態の被測定光ファイバの入射端に2つのモードLP11,LP01の測定光を入射した時の各モードLP11,LP01の伝搬パワーと波長との関係を示している。図中の領域S2,S3は、曲げによってパワーが失われる領域である。
また、被測定光ファイバをマンドレルに巻き付ける際に、不当な側圧が作用しているか否かは、測定した損失−波長の波形のベースラインとの交点の傾斜角度が標準傾斜角度よりも緩やかになったか否かにより判別でき、更に、この標準傾斜角度は、被測定光ファイバを側圧が作用しないように注意深くマンドレルに巻き付けて、カットオフ波長の測定を繰り返し試行した結果、約78度程度になることも解明した。
ところで、上述した損失波長特性での傾斜角度は、横軸、縦軸の単位のとり方で変化するので、被測定ファイバに不当な側圧が作用しているか否かを判別するために、傾斜角度に代えて、損失−波長の波形において所定領域の損失に対する波長間隔を利用することができる。つまり、測定された波長間隔を、予めファイバ品種毎に事前に設定された基準値と比較し、測定された波長間隔がこの基準値を超える場合には、被測定ファイバのマンドレルへの巻き付けをやり直して再測定を実施することにより、正確なカットオフ波長を求めることができる。
具体的には、シングルモードファイバでは、損失−波長の波形のベースラインからの損失が、0.1dBと3dBの点で示される範囲の波長間隔が、基準値となる48.2nm以上の場合には、正確なカットオフ波長を求めることができないので、巻き付けをやり直して、再測定を行う。
従って、本発明の請求項1記載のカットオフ波長の測定方法のように、損失−波長の波形においてベースラインから所定領域の損失に対する波長間隔の値を基準値とし、この基準値をファイバ品種毎に予め事前に設定して、測定された波長間隔がこの基準値を超えないように、被測定光ファイバのマンドレルへの巻き付けを調整すれば、不当な側圧が作用しない状態で規定半径の曲げ部を形成でき、側圧によるロスがない正確な損失−波長の波形を測定でき、その損失−波長の波形から、被測定光ファイバのカットオフ波長を正確に測定することができる。
なお、上述の所定領域に関し、品種によっては、3dBを2.5dBあるいはそれ以下とすることがあり、必ずしも3dBでなくてもよく、その近辺を選択し、それに合わせて基準値を適宜設定することを含む。
本願発明者等は、曲げ法によるカットオフ波長の測定の多数の試行結果を解析して、以下に示す事実を解明した。
一つは、曲げ法によるカットオフ波長の測定方法において、図3に示したように、曲げ部の形成のために規定長の被測定光ファイバ2を規定半径のマンドレル1へ巻き付ける時に、側圧が掛からない良好な巻き付け状態が得られた場合には、その測定結果としての損失−波長の波形fは、図4に実線で示す形態となる。しかし、マンドレル1への巻き付けの際に、一定以上の側圧が掛かっている巻き付け不良の状態では、その側圧により被測定光ファイバ1内を伝搬する測定光のロスが増加する。その結果、図4に破線fqで示したように、測定により算出した損失−波長の波形fに膨らみが無くなり、損失−波長の波形fのベースラインBLとの交点T1での傾斜角度θが緩くなる傾向が見られ、そのように膨らみが無くなった状態の損失−波長の波形fqからカットオフ波長を求めると、カットオフ波長が実際よりも短めに決定され、正確なカットオフ波長を求めることができないことが解明した。
しかし、既述したように、損失波長特性での傾斜角度は、横軸、縦軸の単位のとり方で変化するので、本発明に係る実施の形態では、測定された所定領域の損失に対する波長間隔が予め事前に設定した基準値を超える場合には、被測定ファイバのマンドレルへの巻き付けをやり直して再測定を実施することにより、正確なカットオフ波長を求めることとした。
その際、具体的には、シングルモードファイバでは、波長間隔の基準値が、48.2nm程度になることも見出した。
本発明の一実施の形態のカットオフ波長の測定方法は、所謂曲げ法により被測定光ファイバ2のカットオフ波長λcを測定するもので、規定長である2mの被測定光ファイバ2を規定半径の円柱状のマンドレル1に巻き付けて規定の曲げ状態(280φ)の曲げと、この曲げに更に別の曲げ状態(60φ)の曲げを加えた形態を作り、それぞれの形態で被測定光ファイバ2の入射端に測定光を入射させて、図2(a),(b)に示したように、被測定光ファイバ2内の測定光の伝搬パワーと波長との相関を測定する点は、従来と共通である。
その測定結果から、図1に示すように、損失増加分をパワー比として算出した損失−波長の波形fを求めて、この波形f上で、パワー比が徐々に下がってベースラインBLと交差する点(交点)T1から0.1dB上昇した位置Q1に対する波長を、当該被測定光ファイバ2のカットオフ波長λcに決定する点も従来と共通である。
なお、ベースラインBLは、実効カットオフ波長λcよりも長波長側の所定の領域でパワー比が最大となる部分、あるいは、損失が最小となる部分とする。
上記の基準値λhの規制は、上述した光ファイバの光学特性の解明事項に基づき、交点T1から0.1dB及び3dBそれぞれ上昇した位置Q1とQ2とで示される所定領域での損失に対する波長間隔を48.2nmに設定することで、正確な測定に不可欠な被測定光ファイバ2のマンドレル1への良好な巻き付け状態を確実に得るためのものである。
2 被測定光ファイバ
f 損失−波長の波形
θ1 交点の傾斜角度
Claims (1)
- マンドレルに被測定ファイバを巻き付けた際の前記被測定光ファイバの透過光の波長特性を、2種類の所定径のマンドレルを使用して測定し、測定結果のパワー比より求められる損失−波長特性から所定領域の損失に対する波長間隔を算出し、前記波長間隔がファイバ品種毎に事前に設定された基準値を超える場合は、前記被測定ファイバのマンドレルへの巻き付けをやり直し、再測定を実施することを特徴とするカットオフ波長の測定方法。
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