JP4814017B2 - 変調方式識別装置 - Google Patents
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Description
識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部(21)と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてIQ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段(22)と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段(23)と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段(24)と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段(25)と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段(27)と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段(26)とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲のうちの特定領域における前記各変調方式の理想シンボル点の位相差の出現確率と、前記識別対象信号について得られた位相差の分布のうち前記特定領域の出現確率とを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴としている。
識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部(21)と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてIQ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段(22)と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段(23)と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段(24)と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段(25)と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段(27)と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段(26)とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲を複数の領域に分け、前記各変調方式の理想シンボル点の位相差が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンと、前記識別対象信号について得られた位相差の分布が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンとを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴としている。
図1は、本発明を適用した変調方式識別装置20の構成を示している。
Δθ(k)=[θ(k)+Δφ]−[θ(k−1)+Δφ]
=θ(k)−θ(k−1)
となり、シンボル点の位相差Δθは周波数差によって生じる位相差Δφの影響を受けない。
S0=(r,0°)
S1=(r,180°)または(r,−180°)
と表すことができる。
S1=(r,90°)
S2=(r,180°)
S3=(r,−90°)
S5=(r,135°)
S6=(r,225°)
S7=(r,−45°)
S0=S4=[00]
S1=S5=[01]
S2=S6=[01]
S3=S7=[11]
例えば、上記した4つのPSK変調方式のみを識別対象とする場合で、最も単純な識別の方法は、4つの変調方式で出現確率が全て異なる特定の領域(AまたはE)を用いる方法である。
p2=(0.125+0.25)/2=0.1875
p3=(0.25+0.5)/2=0.375
Db=[10101010] (QPSK)
Dc=[01010101] (π/4シフトQPSK)
Dd=[11111111] (8PSK)
Claims (2)
- 識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部(21)と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてIQ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段(22)と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段(23)と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段(24)と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段(25)と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段(27)と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段(26)とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲のうちの特定領域における前記各変調方式の理想シンボル点の位相差の出現確率と、前記識別対象信号について得られた位相差の分布のうち前記特定領域の出現確率とを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴とする変調方式識別装置。 - 識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部(21)と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてIQ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段(22)と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段(23)と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段(24)と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段(25)と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段(27)と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段(26)とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲を複数の領域に分け、前記各変調方式の理想シンボル点の位相差が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンと、前記識別対象信号について得られた位相差の分布が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンとを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴とする変調方式識別装置。
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