JP4814017B2

JP4814017B2 - 変調方式識別装置

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Publication number: JP4814017B2
Application number: JP2006230460A
Authority: JP
Inventors: 晴彦細谷; 理江子東久保
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2006-08-28
Filing date: 2006-08-28
Publication date: 2011-11-09
Anticipated expiration: 2026-08-28
Also published as: JP2008054186A

Description

本発明は、デジタル変調信号の変調方式を識別するための技術に関し、特に、位相変調（ＰＳＫ）方式について、周波数ずれがある場合や信号のＳ／Ｎが低い場合でも、簡易な構成で高精度な識別が行えるようにするための技術に関する。

信号の変調方式のうち近年多く用いられている主なデジタル変調方式として、位相変調方式（ＰＳＫ）、位相振幅変調方式（ＱＡＭ）があり、それぞれの変調方式についても多くの方式が存在している。

したがって、このようなデジタル変調方式で変調された信号を扱う受信装置や解析装置等では、複数の変調方式にそれぞれ対応した復調機能を有しているが、予め信号の変調方式が分かっていないとデータを正しく復調することはできない。

特に、電波監視業務等では、監視対象の信号の変調方式が未知であり、その業務の性質上、速やかに変調方式を特定してデータの復調を行う必要があり、そのために、信号の変調方式を自動的に識別する変調方式識別装置が必須となる。

デジタル変調された信号の変調方式を識別する技術として、特許文献１には、解析対象の信号を直交検波してベースバンドの２相の信号Ｉ、Ｑに分け、その信号Ｉ、Ｑで決まるＩＱ直交座標面上の点（シンボル点という）が集合する領域数を求め、その領域数と各変調方式で決まる領域数とを比較することで、解析対象の信号の変調方式を特定する技術が開示されている。

また、特許文献２には、解析対象の信号の包絡線の分布を求めるとともに、前記したＩＱ直交座標の原点からシンボル点までの距離（ベクトル半径）についての分布を求め、これらの分布のパターンと各変調方式について予め設定した基準の分布パターンとを比較することで、解析対象の信号の変調方式を特定する技術が開示されている。

特開平０５−２１８９１４号公報特開２０００−２８６９０８号公報

しかしながら、上記の特許文献１のように、シンボル点が集合する領域数に基づいて変調方式を特定する方法は、解析対象の信号と識別装置側の周波数同期が完全にとれていることが前提となり、周波数ずれが僅かでもあると、その周波数ずれに応じた速度でシンボル点の座標が原点を中心にして回転してしまい、領域の特定が困難となる。

一方、特許文献２のように、包絡線の分布を比較することで変調方式を特定する技術は、原理的に周波数ずれによるシンボル点の回転の影響を受けないが、信号自体のＳ／Ｎ等の影響を大きく受けて包絡線分布が変動し、その区別が困難になる場合がある。

本発明は、多少の周波数ずれや低Ｓ／Ｎの状況でも、簡単な構成で変調方式を正確に識別できる変調方式識別装置を提供することを目的としている。

前記目的を達成するために、本発明の請求項１の変調方式識別装置は、
識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部（２１）と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてＩＱ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段（２２）と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段（２３）と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段（２４）と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段（２５）と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段（２７）と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段（２６）とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲のうちの特定領域における前記各変調方式の理想シンボル点の位相差の出現確率と、前記識別対象信号について得られた位相差の分布のうち前記特定領域の出現確率とを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴としている。

また、本発明の請求項２の変調方式識別装置は、
識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部（２１）と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてＩＱ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段（２２）と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段（２３）と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段（２４）と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段（２５）と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段（２７）と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段（２６）とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲を複数の領域に分け、前記各変調方式の理想シンボル点の位相差が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンと、前記識別対象信号について得られた位相差の分布が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンとを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴としている。

このように本発明の変調方式識別装置は、識別対象信号について得られたシンボル点間の位相差を求め、その位相差の度数分布と各変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴、即ち、位相差の出現確率あるいは分布パターンを比較することで識別対象信号の変調方式を特定している。

ここで、識別対象信号と直交検波処理との周波数ずれによる位相変動成分が各シンボル点に含まれていても、シンボル点間の位相差にはその位相変動成分が除去されており、位相差の分布が周波数ずれによって移動することはなく、しかも、信号のＳ／Ｎが低い場合であっても、位相差の分布の広がりが大きくなるだけで全体的な特徴は維持される。

したがって、シンボル点間の位相差の分布は、識別対象信号の変調方式の特徴を正確に表しており、変調方式毎の理想シンボル点の位相差の分布の特徴と比較することで識別対象信号の変調方式を正確に特定できる。

以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した変調方式識別装置２０の構成を示している。

図１において、デジタル変調方式のうちの位相変調方式（ＰＳＫ）で変調されている識別対象信号ｓ（ｔ）は、直交検波部２１に入力される。

直交検波部２１は、識別対象信号ｓ（ｔ）を２相のベースバンド信号に変換するためのものであり、図２に示すように、識別対象信号ｓ（ｔ）を２つのミキサ２１ａ、２１ｂに入力し、ローカル信号発生器２１ｃから出力される周波数ｆｃのローカル信号Ｌを移相器２１ｄに入力して、互いに位相が９０°異なるローカル信号Ｌａ、Ｌｂを生成し、それぞれミキサ２１ａ、２１ｂに入力し、識別対象信号ｓ（ｔ）と各ローカル信号Ｌａ、Ｌｂの差の周波数成分をＬＰＦ２１ｅ、２１ｆで抽出する。

ここで、ローカル信号Ｌ、Ｌａ、Ｌｂの周波数ｆｃは、信号ｓ（ｔ）のキャリア周波数にほぼ一致しているため、ＬＰＦ２１ｅ、２１ｆからは、識別対象信号ｓ（ｔ）の２相のベースバンド信号ｉ（ｔ）、ｑ（ｔ）が出力されることになる。

なお、ここでは、識別対象信号ｓ（ｔ）を直交検波部２１でベースバンド信号に直接変換するダイレクトコンバージョン方式の例を示しているが、識別対象信号ｓ（ｔ）を周波数変換部で中間周波数帯に一旦変換してから、直交検波部２１に入力する方式であってもよい。

このようにして得られたベースバンド信号ｉ（ｔ）、ｑ（ｔ）は、シンボル点検出手段２２に入力される。シンボル点検出手段２２は、入力されるベースバンド信号ｉ（ｔ）、ｑ（ｔ）に基づいてＩＱ直交座標平面上のシンボル点Ｘ（ｋ）の座標［Ｉ（ｋ）、Ｑ（ｋ）］を検出する。

このシンボル点Ｘ（ｋ）の検出は、ベースバンド信号ｉ、ｑから識別対象信号ｓ（ｔ）の位相変化周期Ｔｓ（シンボルタイミング）を求め、その周期Ｔｓでベースバンド信号ｉ（ｔ）、ｑ（ｔ）に対するサンプリングを行うことで得られる。

このシンボル点検出手段２２により周期Ｔｓで順次得られるシンボル点Ｘ（ｋ）の座標情報は、シンボル点位相算出手段２３に入力される。

シンボル点位相算出手段２３は、シンボル点Ｘ（ｋ）の位相を次の演算で求めて、位相差算出手段２４に順次出力する。

θ（ｋ）＝tan^−１［Ｑ（ｋ）／Ｉ（ｋ）］

位相差算出手段２４は、シンボル点の間の差Δθ（ｋ）を次の演算によって順次算出し、位相差分布作成手段２５に出力する。

Δθ（ｋ）＝θ（ｋ）−θ（ｋ−１）

ここで、前記したように、直交検波部２１のローカル信号周波数ｆｃと識別対象信号ｓ（ｔ）のキャリア周波数との間に僅かでも差があると、検出されるシンボル点の位相は、その周波数差に相当する位相Δφ分だけ変化することになる。

つまり、θ（ｋ）を理想状態における位相とすれば、実際に検出されるシンボル点の位相はθ（ｋ）＋Δφとなり、次のタイミングで検出される位相は、θ（ｋ＋１）＋２Δφとなって、ＩＱ平面上で定義されるシンボル点がサンプリング時間毎に真の位置からΔφずつ変化してしまい、シンボル点の集合する角度領域は決まらない。換言すれば、ＩＱ直交軸が一定時間毎にΔφずつ回転してしまうことになる。

しかし、上記したように、位相差算出手段２４により、シンボル点の間の差Δθ（ｋ）を求めているので、たとえ周波数差による位相差Δφがあっても、
Δθ（ｋ）＝［θ（ｋ）＋Δφ］−［θ（ｋ−１）＋Δφ］
＝θ（ｋ）−θ（ｋ−１）
となり、シンボル点の位相差Δθは周波数差によって生じる位相差Δφの影響を受けない。

位相差分布作成手段２５は、上記のように周波数誤差の影響が除去されたシンボル点の位相差Δθ（ｋ）についての度数分布を作成する。

判定手段２６は、位相差分布作成手段２５によって作成された度数分布と、分布特徴情報記憶手段２７に予め記憶されている各変調方式毎の位相差の分布特徴情報とを比較して、識別対象信号ｓ（ｔ）の変調方式を特定する。

例えば、識別可能な変調方式を、ＢＰＳＫ、ＱＰＳＫ、π／４シフトＱＰＳＫ、８ＰＳＫの位相変調（ＰＳＫ）方式に限定した場合、各変調方式における理想のシンボル点は、それぞれ図３の（ａ）〜（ｄ）に示す位置に存在する。

即ち、ＢＰＳＫ方式の場合、図３の（ａ）のようにＩＱ直交座標面の半径ｒの円とＩ軸との交点Ｓ０、Ｓ１が理想のシンボル点となり、これを原点からの距離ｒと位相角度を用いて極座標表示すれば、
Ｓ０＝（ｒ，０°）
Ｓ１＝（ｒ，１８０°）または（ｒ，−１８０°）
と表すことができる。

このＢＰＳＫ方式の場合、２つの理想シンボル点Ｓ０、Ｓ１が、伝達しようとする１ビットデータ［０］、［１］にそれぞれ対応しており、例えばデータが［０］から［１］に変化する場合には、シンボル点の位置がＳ０からＳ１の位置に移動し、逆にデータが［１］から［０］に変化する場合には、シンボル点の位置がＳ１からＳ０の位置に移動し、同一データが続く場合には、シンボル点の位置は変化しない。

つまり、理想状態におけるシンボル点の位相変化量は、０°か１８０°（または−１８０°）となるが、識別対象信号ｓ（ｔ）には必ず雑音成分があり、その影響で実際のシンボル点の位置は理想位置に対してばらつく。

このため、ＢＰＳＫ方式のシンボル点の位相変化は、図４の（ａ）のように、位相角０°および１８０°を中心とする領域に分布する。

また、ＱＰＳＫ方式の場合、図３の（ｂ）に示しているように、半径ｒの円とＩ軸、Ｑ軸との交点Ｓ０〜Ｓ３が理想のシンボル点となり、その４つの理想シンボル点Ｓ０〜Ｓ３の極座標は、以下のように表される。

Ｓ０＝（ｒ，０°）
Ｓ１＝（ｒ，９０°）
Ｓ２＝（ｒ，１８０°）
Ｓ３＝（ｒ，−９０°）

ＱＰＳＫの場合、４つのシンボル点Ｓ０〜Ｓ３が、２ビットデータ［００］、［０１］、［１０］、［１１］にそれぞれ対応しており、理想状態におけるシンボル点の位相変化量は、０°、±９０°、１８０°（または−１８０°）のいずれかとなるが、前記同様に、雑音の影響により、実際のＱＰＳＫ方式のシンボル点の位相変化は、図４の（ｂ）のように、位相角０°、±９０°、１８０°を中心とする領域に分布する。

また、π／４シフトＱＰＳＫ方式の場合、図３の（ｃ）に示しているように、ＱＰＳＫの場合と同様に半径ｒの円とＩ軸、Ｑ軸の交点Ｓ０〜Ｓ３と、それらをπ／４回転移動した位置の点Ｓ４〜Ｓ７が理想のシンボル点となり、その理想シンボル点Ｓ４〜Ｓ７の極座標は、以下のように表される。

Ｓ４＝（ｒ，４５°）
Ｓ５＝（ｒ，１３５°）
Ｓ６＝（ｒ，２２５°）
Ｓ７＝（ｒ，−４５°）

これらの８つのシンボル点Ｓ０〜Ｓ７は、シンボル点Ｓ０〜Ｓ３の第１グループと、シンボル点Ｓ４〜Ｓ７の第２グループに分けられており、１サンプル毎にグループが必ず切り替わるように変調されている。

例えば、各シンボル点と２ビットデータとの関係が次のように設定されているとする。
Ｓ０＝Ｓ４＝［００］
Ｓ１＝Ｓ５＝［０１］
Ｓ２＝Ｓ６＝［０１］
Ｓ３＝Ｓ７＝［１１］

そして、例えば、現在のシンボル点がＳ０のとき、次のデータが［００］であれば、シンボル点はＳ４に移動し、現在のシンボル点がＳ０のとき、次のデータが［０１］であれば、シンボル点はＳ５に移動し、現在のシンボル点がＳ０のとき、次のデータが［１０］であれば、シンボル点はＳ６に移動し、現在のシンボル点がＳ０のとき、次のデータが［１１］であれば、シンボル点はＳ７に移動する。

現在のシンボル点が第１グループでＳ０以外の場合も同様に次のデータに対するシンボル点は第２グループの位置に移動し、逆に、現在のシンボル点が第２グループのいずれかにある場合、次のシンボル点は第１グループのシンボル点に移動する。

つまり、π／４シフトＱＰＳＫ方式の場合の理想状態におけるシンボル点の位相変化量は、±４５°、±１３５°のいずれかとなるが、前記同様に、雑音の影響により、実際のπ／４シフトＱＰＳＫ方式のシンボル点の位相変化は、図４の（ｃ）のように、位相角±４５°、±１３５°を中心とする領域に分布する。

また、８ＰＳＫ方式の場合、図３の（ｄ）に示しているように、前記したπ／４シフトＱＰＳＫの場合と同様に８つのシンボル点Ｓ０〜Ｓ７が存在し、各シンボル点は３ビットデータ［０００］〜［１１１］にそれぞれ対応しており、理想状態におけるシンボル点の位相変化量は、０°、±４５°、±９０°、±１３５°、１８０（または−１８０°）のいずれかとなるが、前記同様に、雑音の影響により、実際の８ＰＳＫ方式のシンボル点の位相変化は、図４の（ｄ）のように、位相角０°、±４５°、±９０°、±１３５°、１８０°を中心とする領域に分布する。

そこで、例えば分布特徴情報記憶手段２７には、図５に示しているように、識別可能な変調方式のうち理想シンボル点の数が最大の変調方式（この場合８ＰＳＫ）のシンボル数８で位相差の全角度範囲０°±１８０°の範囲を等分して得られる各領域Ａ〜Ｈの理論上の出現確率（またはその一部の特定領域の出現確率でもよい）を分布特徴情報として記憶しておく。

そして、この分布特徴情報と、識別対象信号ｓ（ｔ）について算出された位相差の分布とを比較することで、識別対象信号ｓ（ｔ）の変調方式を特定する。

この位相差の分布から変調方式を特定する方法としては種々考えられる。
例えば、上記した４つのＰＳＫ変調方式のみを識別対象とする場合で、最も単純な識別の方法は、４つの変調方式で出現確率が全て異なる特定の領域（ＡまたはＥ）を用いる方法である。

この場合、識別対象信号ｓ（ｔ）の位相差分布の領域Ａにおける出現確率Ｐａを求め、この確率Ｐａと、例えば次のように領域Ａにおける理論上の出現確率の中間値を用いて設定した３つのしきい値ｐ１〜ｐ３と比較する。

ｐ１＝（０＋０．１２５）／２＝０．０６２５
ｐ２＝（０．１２５＋０．２５）／２＝０．１８７５
ｐ３＝（０．２５＋０．５）／２＝０．３７５

そして、確率Ｐａがしきい値ｐ３以上であれば、信号ｓ（ｔ）の変調方式はＢＰＳＫと判定し、確率Ｐａがしきい値ｐ２以上ｐ３未満の場合、信号ｓ（ｔ）の変調方式はＱＰＳＫと判定することができる。

また、確率Ｐａがしきい値ｐ１未満の場合、信号ｓ（ｔ）の変調方式はπ／４シフトＱＰＳＫと判定することができ、さらに、確率Ｐａが、しきい値ｐ１以上ｐ２未満の場合、信号ｓ（ｔ）の変調方式は８ＰＳＫと判定することができる。

また、２つ以上の複数の領域を用いてより確実に変調方式を特定することもできる。例えば、信号ｓ（ｔ）の位相分布の２つの領域Ａ、Ｂにおける出現確率Ｐａ、Ｐｂを求め、３つのしきい値ｐ１〜ｐ３と比較する。

そして、確率Ｐａがしきい値ｐ３以上で、且つ確率Ｐｂがしきい値ｐ１未満の場合、信号ｓ（ｔ）の変調方式はＢＰＳＫと判定することができる。

また、確率Ｐａがしきい値ｐ２以上ｐ３未満で、且つ確率Ｐｂがしきい値ｐ１未満の場合、信号ｓ（ｔ）の変調方式はＱＰＳＫと判定することができる。

また、確率Ｐａがしきい値ｐ１未満で、且つ確率Ｐｂがしきい値ｐ１以上ｐ２未満の場合、信号ｓ（ｔ）の変調方式はπ／４シフトＱＰＳＫと判定することができる。

さらに、確率Ｐａ、Ｐｂがともに、しきい値ｐ１以上ｐ２未満の場合、信号ｓ（ｔ）の変調方式は８ＰＳＫと判定することができる。

なお、上記した出現確率についてのしきい値ｐ１〜ｐ３の値は、理論上の出現確率の中間値としていたが、これは本発明を限定するものではなく、任意に設定することができる。

上記判定方法は、各領域の理論上の出現確率に基づいて設定したしきい値と信号ｓ（ｔ）ついて得られた出現確率とを比較して変調方式を特定していたが、どの領域に分布があるかを示す分布パターンを比較して変調方式を特定することもできる。

例えば、識別対象信号ｓ（ｔ）について得られた位相差の分布に対して、各領域Ａ〜Ｈの出現確率Ｐａ〜Ｐｈを求め、各出現確率Ｐａ〜Ｐｈを例えばしきい値ｐ０＝０．１２５／２と比較し、しきい値ｐ０以下の出現確率には０を割り当て、しきい値ｐ０より大きい出現確率には１を割り当てて、８ビットの分布パターンＤｘを求める。

また、各変調方式における領域毎の出現確率についても同様にしきい値ｐ０との比較で０または１を割り当てる。この割り当てによって得られる８ビットの分布パターンは、次のようになる。

Ｄａ＝［１０００１０００］（ＢＰＳＫ）
Ｄｂ＝［１０１０１０１０］（ＱＰＳＫ）
Ｄｃ＝［０１０１０１０１］（π／４シフトＱＰＳＫ）
Ｄｄ＝［１１１１１１１１］（８ＰＳＫ）

そして、識別対象信号ｓ（ｔ）について得られた分布パターンＤｘが４つの分布パターンＤａ〜Ｄｄのいずれに一致するかを調べて、Ｄｘに一致した分布パターンに対応する変調方式を信号ｓ（ｔ）の変調方式と判定する。

この分布パターンの比較処理については、８ビット全体の一致不一致を調べる方法の他に、上位（または下位）の４ビットについての一致不一致を調べる方法、あるいは、最下位側（領域Ｈ側）２ビットの一致不一致を調べる方法であってもよい。

また、ここでは、識別可能な変調方式を、相変調方式（ＰＳＫ）で且つＢＰＳＫ、ＱＳＰＫ、π／４シフトＱＰＳＫ、８ＰＳＫの４方式に限定していたが、１シンボル当たりのデータ量（情報量）がより多い１６ＰＳＫ等の変調方式を加えて識別することも可能であり、Ｍ−ＰＳＫ方式までの識別を行う場合には、幅が３６０°／ＭのＭ個の領域について上記同様の処理を行えばよい。

このように実施形態の変調方式識別装置２０は、識別対象信号ｓ（ｔ）について得られたシンボル点間の位相差を求め、その位相差の度数分布と各変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴とを比較することで識別対象信号の変調方式を特定しているので、識別対象信号ｓ（ｔ）と直交検波処理との周波数ずれによる位相変動成分の影響を受けずに、識別対象信号ｓ（ｔ）の変調方式を正確に特定することができる。

なお、識別対象信号ｓ（ｔ）のＳ／Ｎが低い場合、各シンボル点の位置がばらつくため、位相差の分布が図６に示すように広がるが、各変調方式についての位相差の分布全体の特徴は維持されている。したがって、このような場合でも、前記同様の方法あるいはしきい値ｐ０〜ｐ３の微調整等で、識別対象信号ｓ（ｔ）の変調方式を正確に特定することができる。

本発明の実施形態の構成を示す図実施形態の要部の構成図各変調方式についての理想シンボル点の位置を示す図各変調方式についての位相差分布を示す図各変調方式についての位相差分布の領域毎の出現確率を示す図低Ｓ／Ｎ時の信号の各変調方式についての位相差分布を示す図

符号の説明

２０……変調方式識別装置、２１……直交検波部、２２……シンボル点検出手段、２３……シンボル位相算出手段、２４……位相差算出手段、２５……位相差分布作成手段、２６……判定手段、２７……分布特徴情報記憶手段

Claims

識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部（２１）と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてＩＱ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段（２２）と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段（２３）と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段（２４）と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段（２５）と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段（２７）と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段（２６）とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲のうちの特定領域における前記各変調方式の理想シンボル点の位相差の出現確率と、前記識別対象信号について得られた位相差の分布のうち前記特定領域の出現確率とを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴とする変調方式識別装置。
識別対象信号を直交検波してベースバンド信号を出力する直交検波部（２１）と、
前記直交検波部から出力されたベースバンド信号に基づいてＩＱ直交座標上のシンボル点を検出するシンボル点検出手段（２２）と、
前記シンボル点検出手段によって順次検出されたシンボル点の位相を算出するシンボル位相算出手段（２３）と、
前記シンボル位相算出手段によって順次算出されるシンボル点間の位相差を算出する位相差算出手段（２４）と、
前記位相差算出手段によって算出された位相差についての度数分布を作成する位相差分布作成手段（２５）と、
複数の変調方式における理想シンボル点間の位相差の分布の特徴情報を予め記憶している分布特徴情報記憶手段（２７）と、
前記位相差分布作成手段によって作成された度数分布と、前記分布特徴情報記憶手段に記憶されている特徴情報とに基づいて、前記識別対象信号の変調方式を特定する判定手段（２６）とを有する変調方式識別装置であって、
前記判定手段は、位相差の全角度範囲を複数の領域に分け、前記各変調方式の理想シンボル点の位相差が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンと、前記識別対象信号について得られた位相差の分布が前記複数の領域のいずれに出現するかを表す分布パターンとを比較して、前記識別対象信号の変調方式を特定することを特徴とする変調方式識別装置。