JP4812675B2 - 縦型ウエハボート - Google Patents

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本発明は、縦型ウエハボートに関し、特にパーティクルの発生を抑制した縦型ウエハボートに関する。
半導体製造プロセスのうちで加熱を伴う工程、例えば、LP−CVD(low pressure−chemical vapor deposition:低圧CVD)によるSi34(窒化ケイ素)膜等の成膜工程において、縦型ウエハボードが広く用いられている。
この縦型ウエハボート1は、図7に示すように、成膜処理されるウエハWを搭載するための棚部2a、3a,4aが形成された複数本の支柱2,3,4と、前記支柱2,3,4の上下端部を固定する天板5及び底板6とを備えている。
そして、この縦型ウエハボート1に複数のウエハWを載置し、成膜装置に投入することにより、ウエハWにSi34(窒化ケイ素)膜等のCVD膜の形成が行なわれる。このとき、前記CVD膜はウエハWのみならず、縦型ウエハボート1の表面にも付着する。
この付着したSi34等のCVD膜が成膜工程において剥離すると、パーティクルとなり、ウエハW上に形成されるCVD膜に悪影響を与える。
特に、前記棚部2aは、図8に示すように、支柱2の側面から延設された延設部2a1と、この延設部2a1の先端部に形成されたウエハ載置部2a2とを備え、このウエハ載置部2a1の上面2a3は、前記延設部2a1の上面2a4よりも高位置に形成されているため、支柱2とウエハ載置部2a2との間に溝部Aが形成される。そして、この溝部AにもSi34等のCVD膜Mが付着する。
そのため、縦型ウエハボート1の表面に付着したCVD膜Mを除去し、膜の剥離によるパーティクル汚染を防止するため、縦型ウエハボート1の洗浄が行われている。
また、Si34等のCVD膜の剥がれによるパーティクル汚染を防止するため、特許文献1に示すような特定の表面粗さになした半導体処理用部材が提案されている。
特開2004−111686号公報
ところで、半導体処理用部材の表面を、特許文献1に記載されたような特定の表面粗さになした場合には、Si34等のCVD膜の付着性(密着性)に優れ、前記CVD膜の剥離によるパーティクル汚染を抑制することができる。
しかしながら、形状が複雑な棚部及びその近傍にあっては、表面粗さによるCVD膜の剥離抑制効果は小さく、縦型ウエハボートを繰り返し使用することにより、図8に示すように、前記溝部Aに付着したCVD膜Mは昇降温度のヒートサイクルを受け、熱応力によって溝部Aの角部に位置するCVD膜MにクラックM1が生じ、パーティクルの発生につながっていた。
また、前記溝部Aに付着したCVD膜Mを洗浄しても、溝部Aの角部に付着したCVD膜Mを完全に除去するのは難しく、前記溝部Aの角部にCVD膜Mが残存するという技術的課題があった。
本発明は、上記技術的課題を解決するためになされたものであり、付着したCVD膜の剥離を抑制することができる、所定形状の棚部を有する縦型ウエハボートを提供することを目的とするものである。
本発明は上記目的を達成するために成されたものであり、本発明にかかる縦型ウエハボートは、成膜処理されるウエハを搭載するための棚部が形成された複数本の支柱と、前記支柱の上下端部を固定する天板及び底板とを備え、前記棚部は、前記支柱の側面から延設された延設部と、この延設部の先端部に形成されたウエハ載置部とを有し、かつ前記延設部の上面が凹曲面に形成されていることを特徴としている。
このように前記延設部の上面が凹曲面に形成されているため、延設部の上面に付着したCVD膜が昇降温度のヒートサイクルを受けても、熱応力が分散され、応力集中が緩和されるため、CVD膜のクラックは抑制され、パーティクルの発生が抑制される。
また、延設部の上面に付着したCVD膜は洗浄により除去でき、CVD膜の残存を抑制できる。
また、前記延設部の上面に形成される凹曲面が、半径3〜20mmの円弧状曲面であることが望ましい。このように延設部の上面に形成される凹曲面が特定形状で形成されるため、熱応力分散による応力集中緩和がより効果的に達成される。
更に、前記ウエハ載置部の上面が凸曲面に形成され、前記延設部上面の凹曲面と滑らかに接続され、ウエハが前記ウエハ載置部に線接触状態で載置されることが望ましい。
このように、ウエハ載置部の上面が凸曲面に形成され、前記延設部上面の凹曲面と滑らかに接続されているため、CVD膜の剥離をより抑制することができる。
更に、前記ウエハ載置部が、平面視上、ウエハの半径よりも大きな半径を有する円弧状に形成し、ウエハが前記ウエハ載置部に対して曲線の線接触状態で載置されることが好ましい。
このように、ウエハ載置部が、平面視上、ウエハの半径よりも大きな半径を有する円弧状に形成し、ウエハが前記ウエハ載置部に対して曲線の線接触状態で載置されるため、高温時自重変形したウエハをより安定に保持することができ、ウエハ裏面でのスリップ発生をより効果的に抑制することができる。
本発明の縦型ウエハボートによれば、CVD膜の剥がれによるパーティクル汚染を抑制することができる。
以下に、本発明にかかる一実施形態について、図1及び図2に基づいて説明する。なお、図1は本発明の一実施形態にかかる縦型ウエハボートの棚部を示す要部拡大図、図2は図1に示した縦型ウエハボートの棚部の断面図である。
本発明の一実施形態にかかる縦型ウエハボートは、基本的には、図7に示した縦型ウエハボート1と同様に、成膜処理されるウエハWを搭載するための棚部が形成された複数本の支柱2,3,4と、前記支柱2,3,4の上下端部を固定する天板5及び底板6とを備えている。従来の縦型ウエハボートと本発明の一実施形態にかかる縦型ウエハボートとは、棚部の形状が異なっている。そのため、この実施形態の説明では棚部について詳述し、その他の構成の説明は省略する。また、夫々の支柱2,3,4の棚部は同一形状であるため、支柱2に形成された一つの棚部について説明する。
図1に示すように、棚部10は、支柱2の側面から延設された延設部11と、この延設部11の先端部に形成されたウエハ載置部12とを備えている。そして、前記延設部11の上面11aは、上面11aの上方に中心を有する半径R1が、3mm〜20mmの円弧によって凹曲面形状に形成されている。また、ウエハ載置部12の上面12aは平面状に形成されている。
このように、前記延設部11の上面11aは、凹曲面に形成され、より好ましくは半径R1が3mm〜20mmの円弧状の凹曲面形状に形成されているため、従来ような溝部Aの角部が存在せず、洗浄により付着したCVD膜を除去することができ、また仮にCVD膜が付着した状態で使用したとしても、前記CVD膜の応力集中が緩和されるため、付着したCVD膜クラックの発生を抑制し、パーティクルの発生を抑制することができる。
次に、本発明の一実施形態にかかる縦型ウエハボートの第一の変形例について、図3、図4に基づいて説明する。なお、図3は本発明の一実施形態の第一の変形例を示す要部拡大図、図4は図3に示した棚部の断面図である。
この第一の変形例における棚部20にあっては、この延設部21の先端部に形成されたウエハ載置部22の上面22aを凸曲面形状に形成すると共に、前記延設部21の上面21aを凹曲面形状に形成し、ウエハ載置部22の上面22aと延設部21の上面21aとを滑らかに接続した点に特徴がある。
上記した図2の棚部10にあっては、上面11aが凹曲面形状に形成された延設部11から平坦面12のウエハ載置部12に移行する部分において稜線X1が形成される。この稜線X1部分に付着したCVD膜は剥離し易い。そのためこの第一の変形例にあっては、その剥離を抑制するために両者を滑らかに接続している。
具体的には、前記延設部21の上面21aの半径R2は3mm〜20mm〜の円弧状に形成されている。また、ウエハ載置部22の上面の半径R3は、5mm〜15mmの円弧状に形成されている。
このように、前記延設部22の上面22aの半径R2が3mm〜20mmの円弧状に形成され、ウエハ載置部22の上面の半径R3が5mm〜半径R15mmの円弧状に形成されているため、従来の溝部Aの角部か存在せず、洗浄によりCVD膜を充分に除去することができ、また仮にCVD膜が付着したとしても、熱応力の集中が緩和されるため、CVD膜のクラックの発生を抑制し、パーティクルの発生を抑制することができる。特に、稜線X1部分におけるCVD膜のクラックの発生を抑制し、パーティクルの発生を抑制することができる。
また、前記したように、ウエハ載置部22の上面22aが凸曲面形状(円弧形状)に形成されているため、ウエハは、図2に示した場合と異なりウエハ載置部22と線接触する(図2に示した場合にはウエハとウエハ載置部と面接触)。
その結果、より安全にウエハWを保持することができ、ウエハ裏面でのスリップ発生を抑制することができる。
尚、図4に示すように、前記支柱2の側面から延設部21の上面21aに移行する部分に角部X2が生じないように延設部21の上面21aを形成する曲線を設定するのが好ましい。
次に、本発明の一実施形態にかかる縦型ウエハボートの第二の変形例について、図5、図6に基づいて説明する。なお、図5は本発明の一実施形態の第二の変形例を示す要部拡大図、図6は図5に示した棚部の断面図である。
この第二の変形例の棚部30にあっては、前記した第一の変形例の構成を備え、更にこの延設部31の先端部に形成されたウエハ載置部32の上面32aを、平面視上、円弧状に形成した(棚部30と同一平面状に中心がある円弧で形成した)点に特徴がある。この半径R4は、載置されるウエハWの半径よりも大きく形成されている。
このように、ウエハ載置部32の上面32aを、平面視上、円弧状に形成されているため、ウエハWはウエハ載置部32と線接触となるが、その線接触は曲線状となる。
その結果、ウエハWが前記ウエハ載置部32に対して曲線の線接触状態で載置されるため、高温時自重変形したウエハをより安定に保持することができ、ウエハ裏面でのスリップ発生をより効果的に抑制することができる。
尚、前記支柱2の側面から延設部31の上面31aに移行する部分に、図4に示すような角部X2が生じないように延設部31の上面31aを形成する曲線を設定するのが好ましい。
尚、本発明において、この縦型ウエハボート1の基材は特に限定されないが、SiC(炭化ケイ素)基材を用いるのが好ましい。SiC(炭化ケイ素)基材としては、SiCの成形体を高温で熱処理した再結晶質のSiC、あるいはSiCと炭素からなる成形体に溶融シリコンを含浸させた反応焼結SiC、または上記した基材にCVDによるSiCコートを施した基材を適宜使用できる。
図1は本発明の一実施形態にかかる縦型ウエハボートの棚部を示す斜視図である。 図2は図1に示した棚部の断面図である。 図3は本発明の第一の変形例を示す斜視図である。 図4は図3に示した棚部の断面図である。 図5は本発明の第二の変形例を示す斜視図である。 図6は図5に示した棚部の断面図である。 図7は従来の縦型ウエハボートの棚部を示す斜視図である。 図8は図7に示した棚部の断面図である。
符号の説明
2 支柱
10 棚部
11 延設部
11a 凹曲面(延設部上面)
12 ウエハ載置部
12a 凸曲面(ウエハ載置部上面)
20 棚部
21 延設部
21a 凹曲面(延設部上面)
22 ウエハ載置部
22a 凸曲面(ウエハ載置部上面)
30 棚部
31 延設部
31a 凹曲面(延設部上面)
32 ウエハ載置部
32a 凸曲面(ウエハ載置部上面)
R1,R2 凹曲面(延設部上面)の半径
R3 凸曲面(ウエハ載置部上面)の半径
R4 ウエハ載置部の平面視上の半径
W ウエハ

Claims (4)

  1. 成膜処理されるウエハを搭載するための棚部が形成された複数本の支柱と、前記支柱の上下端部を固定する天板及び底板とを備え、
    前記棚部は、前記支柱の側面から延設された延設部と、この延設部の先端部に形成されたウエハ載置部とを有し、かつ前記延設部の上面が凹曲面に形成されていることを特徴とする縦型ウエハボート。
  2. 前記延設部の上面に形成される凹曲面が、半径3〜20mmの円弧状曲面であることを特徴とする請求項1記載の縦型ウエハボート。
  3. 前記ウエハ載置部の上面が凸曲面に形成され、前記延設部上面の凹曲面と滑らかに接続され、ウエハが前記ウエハ載置部に線接触状態で載置されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の縦型ウエハボート。
  4. 前記ウエハ載置部が、平面視上、ウエハの半径よりも大きな半径を有する円弧状に形成し、ウエハが前記ウエハ載置部に対して曲線の線接触状態で載置されることを特徴とする請求項3記載の縦型ウエハボート。
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