JP4811397B2 - 受光素子および表示装置 - Google Patents

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本発明は、制御電極を含んで構成された受光素子およびそのような受光素子を備えた表示装置に関する。
近年、液晶表示装置や有機EL表示装置などの表示装置において、表示画像の明るさやコントラストを検出して制御するためにフォトダイオードなどの受光素子が広く用いられている。このフォトダイオードは、上記したような表示装置において、TFT(Thin Film Transistor;薄膜トランジスタ)などの駆動回路を有する表示素子と共に搭載されるようになっている。
このようなフォトダイオードの一種として、平面形状のPIN型フォトダイオードが知られている。このPIN型フォトダイオードは、透明基板面上に形成された多結晶シリコンからなるp型半導体領域およびn型半導体領域と、その間の透明基板面上に形成された多結晶シリコンからなるi型半導体(中間半導体)領域とを備えている。
例えば特許文献1には、PIN型フォトダイオードにおいて、第3の電極(ゲート電極)を用いて閾値電圧を制御するようにしたものが提案されている。
特開2004−119719号公報
ところで、上記のようなゲート電極に印加する電圧(ゲート電圧)の値を制御することにより、閾値電圧ではなく、受光することにより生ずる光電流を制御することも可能になると考えられる。
とこ6ろが、この方法では、ゲート電圧が高くなりすぎると、p型半導体領域と電気的に接続されたアノード電極や、n型半導体領域と電気的に接続されたカソード電極の近傍での電界の大きさが過大となってしまうため、受光素子において急激に電流が流れ出すブレークダウン現象が発生しやすくなると考えられる。そしてこのようなブレークダウン現象が発生しやすいと、製造の際のばらつきによって不良品の割合が増えてしまうため、歩留りが低下してしまうことになる。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、製造の際の歩留りを向上させることが可能な受光素子およびそのような受光素子を備えた表示装置を提供することにある。
本発明の受光素子は、素子形成面上に形成された第1導電型半導体領域と、素子形成面上に形成された第2導電型半導体領域と、第1導電型半導体領域と第2導電型半導体領域との間の素子形成面上に、これらの2つの半導体領域よりも不純物濃度が低く形成された中間半導体領域と、第1導電型半導体領域と電気的に接続された第1電極と、第2導電型半導体領域と電気的に接続された第2電極と、素子形成面上の中間半導体領域に対向する領域に絶縁膜を介して形成された制御電極とを備えたものである。また、上記第1電極またはこの第1電極と電気的に接続された電極、ならびに上記第2電極またはこの第2電極と電気的に接続された電極、のうちの少なくとも一方の電極が、中間半導体領域の少なくとも一部の領域を介して制御電極に対向して形成された対向領域を有している。
本発明の表示装置は、配列された複数の表示素子および上記受光素子を備えたものである。
本発明の受光素子および表示装置では、制御電極に電圧が印加されることにより、受光部としての中間半導体領域に光が照射された際に生ずる光電流の制御が可能となる。また、上記第1電極またはこの第1電極と電気的に接続された電極、ならびに上記第2電極またはこの第2電極と電気的に接続された電極、のうちの少なくとも一方の電極に、中間半導体領域の少なくとも一部の領域を介して制御電極に対向する対向領域が設けられていることにより、このような対向領域が設けられていない場合と比べ、中間半導体領域と第1導電型半導体領域または第2導電型半導体領域との間に生ずる電界が緩和され、ブレークダウン現象が発生しにくくなる。
本発明の受光素子または表示装置によれば、第1電極またはこの第1電極と電気的に接続された電極、ならびに第2電極またはこの第2電極と電気的に接続された電極のうちの少なくとも一方の電極に、中間半導体領域の少なくとも一部の領域を介して制御電極に対向する対向領域を設けるようにしたので、このような対向領域が設けられていない場合と比べてブレークダウン現象を発生しにくくすることができ、製造の際の歩留りを向上させることが可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係る受光素子(受光素子1)の平面構成を表したものであり、図2は、図1における受光素子1のII−II線に沿った断面構成を表したものである。
この受光素子1は、いわゆるPIN型フォトダイオードを有する光センサであり、ガラス基板10と、その一面側に設けられた第1導電型半導体領域としてのp+層11と、このp+領域11と基板10の同一面側に設けられた第2導電型半導体領域としてのn+層12と、これらp+域11およびn+領域12の間に設けられた中間半導体領域としての受光部13とを備えている。p+層11はコンタクト部241を介してアノード電極21と電気的に接続され、n+層12はコンタクト部242を介してカソード電極22と電気的に接続されている。また、ガラス基板10のp+層11、n+層12および受光部13と同一面側において、受光部13に対向する領域には、L長L1およびW長W1であるゲート電極23が形成されている。なお、ガラス基板10およびゲート電極23と、p+層11、n+層12および受光部13との間には、ゲート絶縁膜14が形成されており、p+層11、n+層12および受光部13と、アノード電極21およびカソード電極22との間には、層間絶縁膜15が形成されている。また、アノード電極21は配線層251と電気的に接続され、カソード電極22は配線層252と電気的に接続されている。
ガラス基板10は、光透過性を有する透明基板である。なお、このガラス基板10の代わりに、例えば、プラスチック、石英、酸化アルミニウムなどの透明(光透過性)材料を用いて基板を構成してもよい。
ゲート絶縁膜14および層間絶縁膜15は、例えば、酸窒化シリコン(SiN)や酸化シリコン(SiO)などの絶縁性材料により構成されている。これらは単独層を積層してもよいし、複数の材料を用いて混合層としてもよい。
p+層11は、ゲート絶縁膜14の上に受光部13と接して形成されており、p型不純物が高濃度に注入されたp型半導体により構成されている。p型不純物は、例えば、ホウ素などである。このp型半導体は、例えば、結晶質半導体により構成されているのが好ましい。キャリヤの移動度を高くすることができるからである。結晶質半導体としては、多結晶シリコン(ポリシリコン)が挙げられる。多結晶シリコンによりなるp+層11は、例えば、非晶質シリコン(アモルファスシリコン)をCVD(Chemical Vapor Deposition)法などにより製膜し、エキシマレーザなどのレーザ光を照射し、溶融固化することにより形成することができる。このため、後述する表示装置が受光素子1を搭載する場合、TFTなどの駆動回路と共に同一基板上に製造することができるので好ましい。
n+層12は、ゲート絶縁膜14の上に受光部13と接して形成されており、n型不純物が高濃度に注入されたn型半導体により構成されている。n型不純物は、例えば、リンなどである。このn型半導体は、例えば、結晶質半導体により構成されているのが好ましい。p型半導体の場合と同様に、キャリヤの移動度を高くすることができるからである。結晶質半導体としては、多結晶シリコンが挙げられる。多結晶シリコンによりなるn+層12は、例えば、p+層11と同様の製造方法により形成することができるので好ましい。
受光部13は、受光素子1の受光領域であり、p+層11およびn+層12の間のゲート絶縁膜14の上に、これらの層と接して形成されている。この受光部13は、n+層12よりも不純物(n型不純物)濃度が低く(例えば、1×1017〜5×1018(atm/cm)程度)なるように形成された中間半導体領域(n−層)である。この受光部13は、非単結晶半導体層を含んでいてもよい。この非単結晶半導体層の材料としては、例えば非晶質シリコン、微結晶シリコンまたは多結晶シリコンが挙げられる。
なお、非結晶質半導体層の膜厚はなるべく大きいほうが好ましく、例えば、30〜60nm程度が望ましい。膜厚が小さい場合には受光部13に生ずる光電流が減少する一方、膜厚が大きい場合には漏れ電流が増えてしまうからである。また、多結晶シリコンの結晶粒径は、50nm〜1μm程度が望ましい。また、上記のようなレーザ照射を用いずに、CVD法により形成された微結晶シリコンを用いる場合には、結晶粒径は、10〜100nm程度が望ましい。
アノード電極21は、p+層11と電気的に接続されており、導電性の材料により構成されている。
カソード電極22は、n+層12と電気的に接続されており、アノード電極21と同様に導電性の材料により構成されている。また、このカソード電極22には、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する(ゲート電極23の一部と重なり合う)対向領域(オーバラップ領域)d12が設けられている。
ゲート電極23は、ゲート絶縁膜14を介して受光部13に対向する領域に形成されている。このゲート電極23は、電圧を印加することにより、受光部13に光が照射された際に生ずる光電流の制御を可能とする制御電極として機能している。
次に、図1および図2に加えて図3〜図9を参照して、本実施の形態の受光素子1の作用および効果について、比較例と比較しつつ詳細に説明する。
まず、図1〜図3を参照して、受光素子1の基本的な作用について説明する。
この受光素子1では、受光部13に対して光が照射される(光が入射する)と、その光量に応じて受光部13において光電流が発生し、p+層11とn+層12との間に流れることにより、受光素子として機能する。また、このような光照射の際に、p+層11とn+層12との間に負極性の電圧(逆バイアスの電圧)Vpが印加されると共に、ゲート電極23に対し、n+層12の導電型(n型)と同極性の電圧(負極性のゲート電圧Vg)が印加されていると、例えば図3(A)に示したように、受光部13に発生する光電流Iの絶対値が増加し、受光感度が向上する。また、このときの受光感度は、例えば図3(B)に示したように、ゲート電圧Vgの大きさにおいて最適な範囲がある。
次に、図4〜図9を参照して、受光素子1の特徴的な作用および効果について、比較例と比較しつつ説明する。ここで、図4は、比較例に係る受光素子(受光素子100)の平面構成を表したものであり、図5は、図4における受光素子1のIII−III線に沿った断面構成を表したものである。
この比較例に係る受光素子100では、本実施の形態の受光素子1とは異なり、カソード電極102において、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域が設けられていない。すなわち、受光部13の上方(バックチャネル側)には、電圧を印加することが可能な電極が設けられていない。
したがって、ゲート電極23に負極性の電圧を印加した場合、例えば図6に示したように、バックチャネル側が負極側に際限なく持ち上げられることにより、n−層である受光部13において、図中の符号13Pで示した領域のように、p化される領域が大きくなる。これにより、受光部13中のp化された領域13Pとn+層12との間に生ずる電界が大きくなってトンネル電流が流れやすくなり、ブレークダウン現象が発生しやすくなってしまう。
これに対し、本実施の形態の受光素子1では、カソード電極22において、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d12が設けられている。したがって、ゲート電極23に負極性の電圧を印加した場合、例えば図7に示したように、カソード電極22における対向領域d12での印加電圧により、バックチャネル側が負極側に際限なく持ち上げられることがなくなり、図中の符号13Pで示した領域のように、n−層である受光部13において、p化される領域が抑えられる。これにより、受光部13中のp化された領域13Pとn+層12との間に生ずる電界が緩和され、例えば図8に示した符号G11のように、比較例(符号G101)と比べ、ブレークダウン現象が発生しにくくなる。
以上のように本実施の形態では、アノード電極21またはこのアノード電極21と電気的に接続された電極、ならびにカソード電極22またはこのカソード電極22と電気的に接続された電極のうちの少なくとも一方の電極に、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域を設けるようにしたので、このような対向領域が設けられていない場合と比べてブレークダウン現象を発生しにくくすることができ、製造の際の歩留りを向上させることが可能となる。
具体的には、カソード電極22に対向領域d12を設けるようにしたので、上記のような効果を得ることが可能となる。
また、受光部13が、n+層12よりも不純物(n型不純物)濃度が低くなるように(n−層として)形成されると共に、光照射の際に、ゲート電極23に対し、負電位のゲート電圧Vgが印加されるようにしたので、例えば図9に示したように、ゲート電極23のL長L1を大きくした場合に、従来の場合(符号G102)にはL1=10μm程度で光電流が飽和してしまうのに対し、L長の増加に対して広い範囲(L1=200〜400μm程度まで)で光電流を線型に増加させることが可能となり(符号G12)、受光感度を向上させることも可能となる。これは、光が照射されたときに、中間半導体領域としての受光部13において、受光素子1の厚み方向に沿ってp−i−n型の構造となることにより、空乏層内で発生した電子−正孔対が即座に分離され、再結合中心に電子−正孔対がトラップされる確率が低くなり、受光部13のL長の増大分が光電流に寄与するようになる(光電流が発生しやすくなる)ためである。また、例えば図10に示したように、L長L1を増加させた場合でも、ゲート電極23とp+層11またはn+層12との間のオーバラップ領域である寄生容量発生領域11C,12Cは増加しないため、受光素子1の形状の自由度も向上する。なお、この場合には例えば図11に示したように、受光部13における不純物濃度は、2×1018(atm/cm)以下程度であるのが望ましい。これ以上の不純濃度となると、ゲート電圧Vgを印加したときの耐圧(降伏電圧)が急激に低下してしまうからである。
以下、本発明の変形例をいくつか挙げて説明する。なお、上記実施の形態における構成要素と同一のものには同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
[変形例1]
図12は、変形例1に係る受光素子(受光素子1A)の断面構成を表したものである。この受光素子1Aでは、上記実施の形態におけるカソード電極22の代わりに、対向領域d12を有しないカソード電極22Aが設けられていると共に、アノード電極21Aにおいて、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d11が設けられている。また、受光部13が、p+層11よりも不純物(p型不純物)濃度が低くなるように(p−層として)形成されると共に、光照射の際に、ゲート電極23に対し、正電位のゲート電圧Vgが印加されるようになっている。
このような構成により本変形例の受光素子1Aにおいても、上記実施の形態と同様に、ゲート電極23に正極性の電圧を印加した場合に、アノード電極21Aにおける対向領域d11での印加電圧により、バックチャネル側が正極側に際限なく持ち上げられることがなくなり、p−層である受光部13において、n化される領域が抑えられる。これにより、受光部13とp+層11との間に生ずる電界が緩和され、ブレークダウン現象が発生しにくくなる。よって、本変形例においても、製造の際の歩留りを向上させることが可能となる。
また、受光部13が、p+層11よりも不純物(p型不純物)濃度が低くなるように(p−層として)形成されると共に、光照射の際に、ゲート電極23に対し、正電位のゲート電圧Vgが印加されるため、上記実施の形態と同様に、ゲート電極23のL長L1を大きくした場合に、L長の増加に対して広い範囲で光電流を線型に増加させることが可能となり、受光感度を向上させることも可能となる。
[変形例2]
図13は、変形例2に係る受光素子(受光素子1B)の断面構成を表したものである。この受光素子1Bでは、アノード電極21Aにおいて、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d11が設けられていると共に、カソード電極22において、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d12が設けられている。また、受光部13が、イントリンシック層(I層)となっている。
このような構成により本変形例の受光素子1Bでは、上記実施の形態および上記変形例1と同様の作用により、ブレークダウン現象を発生しにくくし、製造の際の歩留りを向上させることが可能となる。
[変形例3〜5]
図14〜図16は、変形例3〜5に係る受光素子(受光素子1C〜1E)の断面構成を表したものである。上記実施の形態および変形例1,2においては、ゲート電極23が、p+層11、n+層12および受光部13よりも下層に形成されているボトムゲート型の受光素子について説明したが、これら受光素子1C〜1Eは、ゲート電極23Cが、p+層11、n+層12および受光部13よりも上層に形成されているトップゲート型の受光素子である。なお、これら受光素子1C〜1Eでは、層間絶縁膜160〜162、ゲート絶縁膜14Cが形成されている。
受光素子1Cでは、カソード電極22Cとコンタクト部244を介して電気的に接続された電極262において、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d22が設けられている。また、受光素子1Dでは、アノード電極21Dとコンタクト部243を介して電気的に接続された電極261において、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d21が設けられている。また、受光素子1Eでは、カソード電極22Cとコンタクト部244を介して電気的に接続された電極262において、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d22が設けられていると共に、アノード電極21Dとコンタクト部243を介して電気的に接続された電極261において、受光部13の少なくとも一部の領域を介してゲート電極23に対向する対向領域d21が設けられている。
このような構成により変形例3〜5に係る受光素子1C〜1Eにおいても、上記実施の形態および上記変形例1,2と同様の作用により、ブレークダウン現象を発生しにくくし、製造の際の歩留りを向上させることが可能となる。
以上、実施の形態および変形例を挙げて本発明を説明したが、本発明はこれらの実施の形態等に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。
例えば、上記実施の形態で説明した、カソード電極またはこのカソード電極と電気的に接続された電極、ならびにアノード電極またはこのアノード電極と電気的に接続された電極、のうちの少なくとも一方の電極における、少なくとも対向領域(対向領域d11,d12,d21,d22)の部分は、例えばITO(Indium Tin Oxide;酸化インジウムスズ))などの透明材料により構成された透明電極であるのが好ましい。そのように構成した場合、受光部に対する光の入射効率が向上するため、受光感度をより向上させることが可能となる。
また、本発明は、可視光における効果に限定されるものではなく、不可視光(例えば、X線、電子線、紫外光、赤外光)においても効果を奏するものである。特に、半導体層のバンドギャップ近傍の光に対して本発明を用いれば、効果的な受光素子を構成することが可能となる。
また、本発明では、主にシリコン薄膜を半導体層として用いているが、電界により制御可能な半導体材料であればなんでも良く、他にも例えば、SiGe、Ge、Se、有機半導体膜、酸化物半導体膜などを用いることが可能である。
また、本発明の受光素子は、例えば図17〜図20に示した液晶表示装置4や有機EL表示装置5のように、表示素子および受光素子を備えた表示装置に適用することが可能であり、これにより外部からの環境光や表示部48等からの表示光を受光することが可能となり、表示データやバックライトの光量等を制御したり、タッチパネル機能や指紋入力機能、スキャナ機能などを有する多機能ディスプレイとして機能させることが可能となる。具体的には、図17に示した液晶表示装置4には、上記実施の形態等で説明した受光素子1等と、ソース電極3N21、ドレイン電極3N22、ゲート電極3N231,3N232、チャネル層3N131,3N132、n+層3N12およびLDD(Lightly Doped Drain)層3N14を有するN型TFT3Nと、ソース電極3P22、ドレイン電極3P21、ゲート電極3P23、チャネル層3P13およびp+層3P11を有するP型TFT3Pと、平坦化膜41と、画素電極421と、共通電極422と、液晶層43と、スペーサ44と、オーバーコート層45と、ブラックマトリクス層46と、カラーフィルタ層47と、ガラス基板40とを備えている。また、表示部48内の各画素49には、例えば図18に示したように、データラインDL、ゲートラインGL1〜GL3、電源ラインVDD、接地ラインGND、共通ラインCOM、リードラインRL、液晶素子LC、受光素子1、画素選択用TFT素子SW1,SW3、容量素子C1およびソースフォロワ素子SFを有する画素回路が形成されている。また、図19に示した有機EL表示装置5には、上記実施の形態等で説明した受光素子1等と、N型TFT3Nと、P型TFT3Pと、平坦化膜51と、アノード電極521と、カソード電極522と、発光層53と、樹脂層54と、オーバーコート層55と、ブラックマトリクス層56と、カラーフィルタ層57と、ガラス基板50とを備えている。なお、受光素子1等は、各画素49内に設ける場合には限られず、例えば図20に示した液晶表示装置4Aのように、表示部48の外縁部に設けるようにしてもよい。
また、上記実施の形態等で説明した構成等を組み合わせるようにしてもよい。
本発明の一実施の形態に係る受光素子の構成を表す平面図である。 図1に示した受光素子の構成を表す断面図である。 図1に示した受光素子の基本的な作用を説明するための特性図である。 比較例に係る受光素子の構成を表す平面図である。 図4に示した比較例に係る受光素子の構成を表す断面図である。 図4に示した比較例に係る受光素子の作用を説明するための断面図である。 図1に示したる受光素子の特徴的な作用を説明するための断面図である。 図1および図4に示した受光素子におけるゲート電圧と光電流との関係を表す特性図である。 図1および図4に示した受光素子におけるゲート電極のL長と光電流との関係を表す特性図である。 受光素子における寄生容量発生領域と光電流との関係を説明するための平面図である。 図1に示した受光素子における受光部の不純物濃度と降伏電圧との関係を表す特性図である。 本発明の変形例1に係る受光素子の構成を表す断面図である。 本発明の変形例2に係る受光素子の構成を表す断面図である。 本発明の変形例3に係る受光素子の構成を表す断面図である。 本発明の変形例4に係る受光素子の構成を表す断面図である。 本発明の変形例5に係る受光素子の構成を表す断面図である。 図1に示した受光素子を備えた液晶表示装置の一例を表す断面図である。 図17に示した液晶表示装置における画素回路の一例を表す平面図および回路図である。 図1に示した受光素子を備えた有機EL表示装置の一例を表す断面図である。 図1に示した受光素子を備えた液晶表示装置の他の例を表す平面図である。
符号の説明
1,1A〜1E…受光素子、10…ガラス基板、11…p+層、12…n+層、11C,12C…寄生容量発生領域、13…受光部、13P…p化領域、14,14C…ゲート絶縁膜、15,160〜162…層間絶縁膜、21,21A,21D…アノード電極、22,22A,22C…カソード電極、23,23C…ゲート電極、241〜244…コンタクト部、251,252…配線層、261,262…電極、3N…N型TFT、3P…P型TFT、4,4A…液晶表示装置、40…ガラス基板、41…平坦化膜、421…画素電極、422…共通電極、43…液晶層、44…スペーサ、45…オーバーコート層、46…ブラックマトリクス層、47…カラーフィルタ層、48…表示部、49…画素、5…有機EL表示装置、50…ガラス基板、51…平坦化膜、521…アノード電極、522…カソード電極、53…発光層、54…樹脂層、55…オーバーコート層、56…ブラックマトリクス層、57…カラーフィルタ層、L1…ゲート電極のL長、W1…ゲート電極のW長、d11,d12,d21,d22…オーバラップ領域(対向領域)。

Claims (13)

  1. 素子形成面上に形成された第1導電型半導体領域と、
    前記素子形成面上に形成された第2導電型半導体領域と、
    前記第1導電型半導体領域と前記第2導電型半導体領域との間の素子形成面上に、これらの2つの半導体領域よりも不純物濃度が低く形成された中間半導体領域と、
    前記第1導電型半導体領域と電気的に接続された第1電極と、
    前記第2導電型半導体領域と電気的に接続された第2電極と、
    前記素子形成面上の前記中間半導体領域に対向する領域に絶縁膜を介して形成された制御電極と
    を備え、
    前記第1電極またはこの第1電極と電気的に接続された電極、ならびに前記第2電極またはこの第2電極と電気的に接続された電極、のうちの少なくとも一方の電極が、前記中間半導体領域の少なくとも一部の領域を介して前記制御電極に対向して形成された対向領域を有する
    ことを特徴とする受光素子。
  2. 前記第1電極がアノード電極であると共に、前記第2電極がカソード電極であり、
    前記カソード電極またはこのカソード電極と電気的に接続された電極が、前記対向領域を有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の受光素子。
  3. 前記中間半導体領域に、前記第2導電型半導体領域よりも不純物濃度が低くなるように第2導電型の不純物が注入されている
    ことを特徴とする請求項2に記載の受光素子。
  4. 前記制御電極に、負極性の電圧が印加される
    ことを特徴とする請求項3に記載の受光素子。
  5. 前記第1電極がアノード電極であると共に、前記第2電極がカソード電極であり、
    前記アノード電極またはこのアノード電極と電気的に接続された電極が、前記対向領域を有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の受光素子。
  6. 前記中間半導体領域に、前記第1導電型半導体領域よりも不純物濃度が低くなるように第1導電型の不純物が注入されている
    ことを特徴とする請求項5に記載の受光素子。
  7. 前記制御電極に、正極性の電圧が印加される
    ことを特徴とする請求項6に記載の受光素子。
  8. 前記第1電極またはこの第1電極と電気的に接続された電極、ならびに前記第2電極またはこの第2電極と電気的に接続された電極が、それぞれ、前記対向領域を有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の受光素子。
  9. 前記中間半導体領域が、イントリンシック層(I層)である
    ことを特徴とする請求項8に記載の受光素子。
  10. 前記制御電極が、前記第1導電型半導体領域、前記第2導電型半導体領域および前記中間半導体領域よりも下層に形成されている
    ことを特徴とする請求項1に記載の受光素子。
  11. 前記制御電極が、前記第1導電型半導体領域、前記第2導電型半導体領域および前記中間半導体領域よりも上層に形成されている
    ことを特徴とする請求項1に記載の受光素子。
  12. 前記少なくとも一方の電極における少なくとも前記対向領域の部分が、透明電極である
    ことを特徴とする請求項1に記載の受光素子。
  13. 配列された複数の表示素子および受光素子を備えた表示装置であって、
    前記受光素子は、
    素子形成面上に形成された第1導電型半導体領域と、
    前記素子形成面上に形成された第2導電型半導体領域と、
    前記第1導電型半導体領域と前記第2導電型半導体領域との間の素子形成面上に、これらの2つの半導体領域よりも不純物濃度が低く形成された中間半導体領域と、
    前記第1導電型半導体領域と電気的に接続された第1電極と、
    前記第2導電型半導体領域と電気的に接続された第2電極と、
    前記素子形成面上の前記中間半導体領域に対向する領域に絶縁膜を介して形成された制御電極と
    を有し、
    前記第1電極またはこの第1電極と電気的に接続された電極、ならびに前記第2電極またはこの第2電極と電気的に接続された電極、のうちの少なくとも一方の電極が、前記中間半導体領域の少なくとも一部の領域を介して前記制御電極に対向して形成された対向領域を有する
    ことを特徴とする表示装置。
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