JP4804535B2 - 分析試験エレメント上の試料の分析のための分析システム - Google Patents
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Description
− 少なくとも1つの第1および第2の光源を備える照明ユニットと、
− この照明ユニットに対して検出ゾーンが位置決めされるように検出ゾーンを有する試験エレメントの収容のための保持具と、
− 検出ゾーンから反射しまたは検出ゾーンを通して透過した光を検出する少なくとも1つの検出器を備える検出ユニットと、
− 両方の光源を作動し、かつ検出ユニットによって発生された信号を検出信号として受信する制御ユニットと、
− 試料内に含有された分析濃度を検出するために検出信号を評価する評価ユニットとを含む試験エレメントを測光評価するための装置に関する。
− 分析試験エレメント上の試料で測定を実施する測定モジュールと、
− 1つのレンズと1つの絞りとを含み、それを通して光を合焦できる光学モジュールとを含み、
− 前記光学モジュールのレンズおよび絞りが一体に1つの多重成分系射出成形部品にまとめられている分析試験エレメント上の試料を分析する分析システムによって解決される。
− レンズおよび絞りが組み込まれている一体のマルチコンポーネント射出成形部品のマルチコンポーネント射出成形工程と、
− 分析システム内のマルチコンポーネント射出成形部品の位置決めおよび組立工程とを特徴とする方法に関する。
2 レンズ
3 絞り
4 絞り本体
5 絞りオリフィス
6 透光性の窓
7 光学モジュール基体
8 レンズのフレーム
9 大きい中空
10 小さい中空
11 オリフィス
12 透過領域
13 測定モジュール
14 基板
15 試験エレメント収容部
16 試験エレメント
17 試験フィールド
18 検出器
19 光源
20 基板
21 絞り
22 レンズ配列
23 マルチコンポーネント射出成形部品
24 レンズモジュール
25 光学モジュール
26 第1のレンズ
27 第2のレンズ
28 光源
29 中空
30 分析システム基板
31 試験エレメントマガジン
32 側面
33 バーコード
34 第1の中空
35 第2の中空
36 検出器
37 光路
38 透光性領域
39 ピン
40 穴
41 長穴
Claims (8)
- 分析試験エレメント(16)上の試料で測定を実施する測定モジュール(13)と、
1つのレンズ(2、26、27)と1つの絞り(3、21)とを含み、それを通して光を合焦できる光学モジュール(1、25)とを含む分析試験エレメント(16)上の試料を分析する分析システムであって、
前記光学モジュール(1、25)のレンズ(2、26、27)および絞り(3、21)が一体に1つのマルチコンポーネント射出成形部品(23)にまとめられ、
前記絞りが、非透光性合成樹脂の絞り本体と、透光性合成樹脂が充填された絞りオリフィスを備え、
前記レンズが透光性合成樹脂からなり、
前記レンズと絞りオリフィスとが透光性合成樹脂の連続した領域で構成されていることを特徴とする分析システム。 - マルチコンポーネント射出成形部品(23)が、第1の透光性合成樹脂成分と第2の非透光性合成樹脂成分とを含む2成分系射出成形部品であることを特徴とする請求項1記載の分析システム。
- 測定モジュール(13)が光学モジュール(7)を含み、この光学モジュール(7)が分析試験エレメント(16)上の試料での光学測定の実施に用いられることを特徴とする請求項1または2記載の分析システム。
- 測定モジュール(13)が1つの光源(19)、1つの検出器(18)および1つの試験エレメント収容部(15)を含み、これらは光が光源(19)からマルチコンポーネント射出成形部品(23)の透光性領域(12)を通り試験エレメント収容部(15)の中に配置された試験エレメント(16)へ、かつ反射して試験エレメント(16)から透光性領域(12)を通り検出器(18)へ到達できるように配設されていることを特徴とする請求項3記載の分析システム。
- 光学的にコードされたデータの読み出し用の読取りモジュール(24)において、読取りモジュール(24)が前記光学モジュールまたはもう1つの光学モジュール(25)を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の分析システム。
- 読取りモジュール(24)がさらに1つの光源(28)、1つの検出器(36)および1つのマガジン収容部を含み、これらは光が光源(28)からマルチコンポーネント射出成形部品(23)の透光性領域(38)を通してマガジン収容部の中に収容された試験エレメントマガジン(31)へ、かつ反射して試験エレメントマガジン(31)から透光性領域(38)を通して検出器(36)へ到達できるように配設されていることを特徴とする請求項5記載の分析システム。
- 光源(28)および検出器(36)が、光学モジュール(25)に接続されている基板(20)上に配設されていることを特徴とする請求項6記載の分析システム。
- 分析試験エレメント上の試料を分析する分析システムの製造方法において、分析システムが1つの測定モジュールと1つの光学モジュールとを含み、この光学モジュールが1つのレンズと1つの絞りとを含む方法であって、
一体のマルチコンポーネント射出成形部品へのレンズおよび絞りのマルチコンポーネント射出成形工程と、
分析システム内のマルチコンポーネント射出成形部品の位置決めおよび組立工程を備え、
前記絞りが、非透光性合成樹脂の絞り本体と、透光性合成樹脂が充填された絞りオリフィスを備え、
前記レンズが透光性合成樹脂からなり、
前記レンズと絞りオリフィスとが透光性合成樹脂の連続した領域で形成されることを特徴とする方法。
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