JP4803846B2 - 光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法 - Google Patents

光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法 Download PDF

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Description

本発明は光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法に係り、特に、高速のデータ信号で変調された光信号の波形情報を十分な分解能で精度よくサンプリングすることができるようにするための技術を採用した光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いて該光信号を正確にモニタできるようにした光信号モニタ装置及びその方法に関する。
データ信号で変調された光信号によるネットワークを構成するにあたり、光信号モニタ装置によりネットワーク上を伝搬する光信号の品質の監視することが必要になる。
一般的に、光信号モニタ装置は、伝送路上の信号の波形情報を取得し、その波形情報から信号品質を表す値を算出して、その算出結果を出力するものであって、数10Gb/sという極めて高いビットレートのデータ信号で変調された光信号を直接受光器で受けてその波形情報を取得することは極めて困難である。
そこで、従来の光信号モニタ装置では、このような高速な光信号の波形情報を得るために等価時間サンプリング方式が用いられている。
この等価時間サンプリング方式は、図9の(a)に示すように、周期Taで同一波形が繰り返される光信号Pに対して、図9の(b)に示すように、周期TaのN倍(Nは整数)に対して僅かな時間ΔTだけ長い周期Ts=N・Ta+ΔTのサンプリングパルスSでサンプリングを行うことにより、図9の(c)に示すように、光信号Pの繰り返し波形内でΔTずつ異なる位置の瞬時振幅値(瞬時強度)を取得する。
そして,この取得した瞬時振幅値を結ぶ包絡線が描く波形P′は、光信号Pの波形を時間軸上でTs/ΔT倍に拡大された波形であり、元の光信号Pの波形の特徴を保持している。
したがって、この等価時間サンプリングで得られた波形情報に対して、例えば、2値レベルの一方を表す振幅と他方を表す振幅の確率分布を求め、その標準偏差を算出することにより、信号品質を表すQ値を得ることができる。
上記のように光信号に対する等価時間サンプリングを行い、得られた波形情報から信号品質を表すQ値を算出する技術は、次の特許文献1に開示されている。
日本国特許第3796357号公報
上記特許文献1では、光信号を等価時間サンプリングするための素子として、通常、非線形光学材が用いられている。
この非線形光学材は、一般的に、サンプリング効率が悪い(波長変換現象を用いたサンプリング効率、つまり波長変換効率が−20dB以下)ため、強い光信号の波形情報については高S/Nで得ることができるものの、弱い光信号の波形情報については十分なS/Nを得ることができない。
そこで、光信号を等価時間サンプリングするための素子として非線形光学材に比べて格段に透過損失が少ない、言い換えれば実質的にサンプリング効率が高い電界吸収型光変調器を用いることが考えられる。
この電界吸収型光変調器は、2つの光端子間を結ぶ光路内に与える電界の大きさに応じてその光路を通過する光に対する吸収率が変化する特性を持っており、一方の光端子に光信号を入射し、電源端子に電気のサンプリング用パルス信号を与えて、そのサンプリング用パルス信号が入力しているときだけ、光信号に対する吸収率を低下させて他方の光端子から出射させることにより、光信号に対するサンプリングを行う。
このように電界吸収型光変調器の電源端子に電気のサンプリング用パルス信号を与えることによって光信号に対するサンプリングを行う技術は、例えば、次の特許文献2に開示されている。
特開2004−222252公報
ところが、上記特許文献2では、電気のサンプリング用パルス信号は、高周波のインピーダンス整合を必要とし、そのパルス幅を安定に且つリンギングなく狭くすることが極めて困難であり、上記のような数10Gb/sで変調された光信号の波形情報を十分な分解能で精度よく取得することができないという新たな問題を生じる。
また、上記特許文献1による等価時間サンプリング方式を用いた光信号品質モニタ装置は、取得した波形を所定ビット数分重ね合わせるによってアイパターンを生成し、そのアイパターンに対して品質の演算処理を行う場合に、サンプリング周期Tsが厳密にN・Tc+ΔTに一致していないと、重ね合わされる波形の時間軸が徐々にずれてしまい、品質演算を正確に行うことができないという別の問題を有している。
本発明の目的は、上記従来技術の問題を解決し、高いサンプリング効率をもち、高速な光信号の波形情報を十分な分解能で精度よくサンプリングすることができるようにした光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いて該光信号を正確にモニタすることができると共に、該光信号のアイパターンを安定に得ることができるようにした光信号モニタ装置及びその方法を提供することである。
前記目的を達成するために、本発明の第1の態様によると、
サンプリング対象の光信号(Px)を変調しているデータ信号のクロック周期(Tc)の整数(N)倍に対して所定オフセット時間(ΔT)だけ異なる周期(Ts)を有するサンプリング用光パルス(Ps)を出射するサンプリング用光パルス発生部(21)と、
前記サンプリング用光パルス発生部(21)から出射される前記サンプリング用光パルスを(Ps)用いて前記サンプリング対象の光信号(Px)を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号(Py)を出力する光サンプリング部(22)とを有する光信号同期サンプリング装置(100)であって、
前記光サンプリング部(22)は、
光を入出射するための2つの光端子(23a、23b)と、該2つの光端子(23a、23b)間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子(23c)とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子(23a、23b)の一方で前記サンプリング対象の光信号(Px)を受ける電界吸収型光変調器(23)と、
前記電界吸収型光変調器(23)の前記電源端子(23c)に、前記サンプリング対象の光信号(Px)に対して前記電界吸収型光変調器(23)が高い吸収率を示す所定の直流電圧(Vdc)を与える直流電源(24)と、
前記サンプリング用光パルス発生部(21)によって出射される前記サンプリング用光パルス(Ps)を受けて前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子から出射される前記サンプリング対象の光信号(Px)を受けて前記光パルス信号(Py)として出射させる光カプラ(25)とを含み、
前記サンプリング用光パルス(Ps)の入射によって前記電界吸収型光変調器(23)の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記サンプリング対象の光信号(Px)を前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うように構成されていることを特徴とする光信号同期サンプリング装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第2の態様によると、
前記光サンプリング部(22)は、前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子に入射される前記サンプリング用光パルス(Ps)が前記サンプリング対象の光信号(Px)の伝送路へ漏れるのを防ぐために、
前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記一方の光端子に挿入されている第2の光カプラ(26)と、
前記サンプリング用光パルス(Ps)を前記第2の光カプラ(26)を介して終端する光終端器(27)とをさらに含むことを特徴とする第1の態様に従う光信号同期サンプリング装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第3の態様によると、
前記サンプリング用光パルス発生部(21)は、
前記サンプリング用光パルスの周期に対応した周期(Ts)を有する安定な信号(Ra)を生成するシンセサイザ構成の基準信号発生器(21a)と、
前記基準信号発生器(21a)によって生成される前記周期Tsを有する安定な信号(Ra)をM(Mは複数)逓倍した信号(Rb)として出力する逓倍器(21b)と、
連続光(Pcw)を出射する光源(21d)と、
前記逓倍器(21b)から出力される前記M逓倍した信号(Rb)によって前記光源(21d)から出射される前記連続光(Pcw)を変調することにより、周期(Ts/M)を有する光パルス(Pa)を出射する光変調器(21c)と、
前記光変調器(21c)から出射される前記光パルス(Pa)を1/Mに間引いて、周期(Ts)を有する光パルス(Pb)に変換する光ゲート回路(21e)と、
前記光ゲート回路(21e)により変換された前記周期(Ts)を有する光パルス(Pb)についてそのパルス幅をさらに狭めて、前記サンプリング用光パルス(Ps)として出射する分散減少ファイバ(21f)とを含むことを特徴とする第1の態様に従う光信号同期サンプリング装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第4の態様によると、
前記サンプリング対象の光信号(Px)を変調している前記データ信号のクロック周期(Tc)又はそのビットレートと前記所定オフセット時間(ΔT)の情報を受けて、前記サンプリング用光パルス(Ps)のサンプリング周期Tsを、
Ts=N・Tc+ΔT
(ここで、Nの値は、前記データ信号のクロック周期(Tc)と前記サンプリング用光パルス発生部(21)が出力可能な信号の周波数可変範囲によって決まる)
の演算で求めて、前記サンプリング用光パルス発生部(21)に設定するパラメータ設定部(28)をさらに含むことを特徴とする第1の態様に従う光信号同期サンプリング装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第5の態様によると、
監視対象の光信号(Px)を変調しているデータ信号のクロック周期(Tc)の整数(N)倍に対して所定オフセット時間(ΔT)だけ異なる周期(Ts)を有するサンプリング用光パルス(Ps)を出射するサンプリング用光パルス発生部(21)と、前記サンプリング用光パルス発生部(21)から出射される前記サンプリング用光パルス(Ps)を用いて前記監視対象の光信号(Px)を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号(Py)を出力する光サンプリング部(22)とを含む光信号同期サンプリング装置(100)と、
前記光信号同期サンプリング装置(100)の前記光サンプリング部(22)によって出力された前記光パルス信号(Py)を受光して電気信号(Ey)に変換して出力する光電変換器(30)と、
前記光電変換器(30)からの前記電気信号(Ey)の包絡線波形の基本波成分と等しい周波数の基本波成分信号(U)を出力する基本波成分信号出力手段(35)と、
前記基本波成分信号出力手段(35)からの前記基本波成分信号(U)と所定のしきい値(Vr)とを比較するコンパレータ(36)と、
前記コンパレータ(36)による比較において前記基本波成分信号(U)が前記しきい値(Vr)を超えるタイミングから前記光電変換器(30)からの前記電気信号(Ey)に対する波形情報の取得を開始するデータ取得制御部(38)とを有する光信号モニタ装置(20)であって、
前記光信号同期サンプリング装置(100)の光サンプリング部(22)は、
光を入出射するための2つの光端子(23a、23b)と、該2つの光端子(23a、23b)間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子(23c)とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子(23a、23b)の一方で前記監視対象の光信号(Px)を受ける電界吸収型光変調器(23)と、
前記電界吸収型光変調器(23)の前記電源端子(23c)に、前記監視対象の光信号(Px)に対して前記電界吸収型光変調器(23)が高い吸収率を示す所定の直流電圧(Vdc)を与える直流電源(24)と、
前記光信号サンプリング装置(100)のサンプリング用光パルス発生部(21)によって出射される前記サンプリング用光パルス(Ps)を受けて前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子から出射される前記監視対象の光信号(Px)を受けて前記光パルス信号(Py)として前記光電変換器(30)へ入射させる光カプラ(25)とを含み、
前記サンプリング用光パルス(Ps)の入射によって前記電界吸収型光変調器(23)の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記監視対象の光信号(Px)を前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うように構成されていることを特徴とする光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第6の態様によると、
前記光サンプリング部(22)は、前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子に入射されるサンプリング用光パルス(Ps)が前記監視対象の光信号(Px)の伝送路へ漏れるのを防ぐために、
前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記一方の光端子に挿入されている第2の光カプラ(26)と、
前記サンプリング用光パルス(Ps)を前記第2の光カプラ(26)を介して終端する光終端器(27)とをさらに含むことを特徴とする第5の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第7の態様によると、
前記サンプリング用光パルス発生部(21)は、
前記サンプリング用光パルス(Ps)の周期に対応した周期(Ts)を有する安定な信号(Ra)を生成するシンセサイザ構成の基準信号発生器(21a)と、
前記基準信号発生器(21a)によって生成される前記周期(Ts)を有する安定な信号(Ra)をM(Mは複数)逓倍した信号(Rb)として出力する逓倍器(21b)と、連続光(Pcw)を出射する光源(21d)と、
前記逓倍器(21b)から出力される前記M逓倍した信号(Rb)によって前記光源(21d)から出射される前記連続光(Pcw)を変調することにより、周期(Ts/M)を有する光パルス(Pa)を出射する光変調器(21c)と、
前記光変調器(21c)から出射される前記光パルス(Pa)を1/Mに間引いて、周期(Ts)を有する光パルス(Pb)に変換する光ゲート回路(21e)と、
前記光ゲート回路(21e)により変換された前記周期(Ts)を有する光パルス(Pb)についてそのパルス幅をさらに狭めて、前記サンプリング用光パルス(Ps)として出射する分散減少ファイバ(21f)とを含むことを特徴とする第5の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第8の態様によると、
前記監視対象の光信号(Px)を変調している前記データ信号のクロック周期(Tc)又はそのビットレートと前記所定オフセット時間(ΔT)の情報を受けて、前記サンプリング用光パルス(Ps)のサンプリング周期Tsを、
Ts=N・Tc+ΔT
(ここで、Nの値は、前記データ信号のクロック周期(Tc)と前記サンプリング用光パルス発生部(21)が出力可能な信号の周波数可変範囲によって決まる)
の演算で求めて、前記サンプリング用光パルス発生部(21)に設定するパラメータ設定部(28)をさらに含むことを特徴とする第5の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第9の態様によると、
前記光電変換器(30)と前記データ取得制御部(38)との間に挿入され、前記光電変換器(30)からの電気信号(Ey)を前記サンプリング用光パルス(Ps)と同期したサンプリングクロック(Es)によってサンプリングすることにより、デジタル値(Dy)に変換して前記データ取得制御部(38)にデータ信号(Dy)として出力するアナログ/デジタル(A/D)変換器(31)をさらに含むことを特徴とする第5の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第10の態様によると、
前記サンプリングクロック(Es)は、前記サンプリング用光パルス発生部(21)により前記サンプリング用光パルス(Ps)と同期して出力されることを特徴とする第9の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第11の態様によると、
前記基本波成分信号出力部(35)は,フィルタ方式として、
前記監視対象の光信号(Px)を変調している前記データ信号のクロック周波数(Fc)と等しい中心周波数あるいは前記クロック周波数(Fc)の2倍に等しい中心周波数を有し、前記光電変換器(30)からの電気信号(Ey)から正弦波の基本波成分信号(U)を抽出する狭帯域な帯域通過フィルタ(35f)を含むことを特徴とする第5の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第12の態様によると、
前記基本波成分信号出力部(35)は,PLL(位相ロックループ)方式として、
前記監視対象の光信号(Px)を変調している前記データ信号のクロック周波数(Fc)と等しい中心周波数あるいは前記クロック周波数(Fc)の2倍に等しい中心周波数を有し、前記光電変換器(30)からの電気信号(Ey)から正弦波の基本波成分信号(U)を抽出する狭帯域な帯域通過フィルタ(35a)と、
所定の発振周波数を有する発振出力信号を出力する電圧制御発振器(35b)と、
前記帯域通過フィルタ(35a)の出力信号と前記電圧制御発振器(35b)の出力信号との位相差に応じた制御信号(Vc)を出力する位相比較器(35c)とを含み、
前記位相比較器(35c)から出力される前記制御信号(Vc)により前記電圧制御発振器(35b)の発振周波数を制御して、前記発振出力信号の位相を前記帯域通過フィルタ(35a)の出力信号の位相に同期させることにより、この同期した正弦波の発振出力信号を前記基本波成分信号(U)として出力することを特徴とする第5の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第13の態様によると、
前記基本波成分信号出力部(35)は,
前記光電変換器(30)からの電気信号(Ey)の周波数解析を行い、基本波成分の周波数を求める周波数解析演算部(35g)と、
前記周波数解析演算部(35g)によって求められた周波数と等しい基本波成分信号(U)を生成して出力する信号発生器(35h)とを含むことを特徴とする第5の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第14の態様によると、
前記データ取得制御部(38)により、前記コンパレータ(36)からの出力信号に基づいて、前記A/D変換器(31)から出力されるデータ信号(Dy)が書き込まれる複数(H)の異なる領域を有する波形メモリ(39)をさらに含むことを特徴とする第9の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第15の態様によると、
前記データ取得制御部(38)は、前記コンパレータ(36)において、前記基本波成分信号(U)が前記しきい値(Vr)を越えたタイミングから、前記波形メモリ(39)に対する前記データ信号(Dy)の書き込みを開始し、所定数(W)のデータ信号の書き込みが終了した後で、前記基本波成分信号(U)が再度前記しきい値(Vr)を越えるタイミングまで待機するという動作を所定回数(H)繰り返し、前記所定数(W)のデータ信号(Dy)の書き込みを、前記波形メモリ(39)の前記複数(H)の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に行うことを特徴とする第14の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第16の態様によると、
前記波形メモリ(39)に書き込まれたデータ信号(Dy)に基づいて、監視対象の光信号(Px)の品質を表す値を算出する演算部(40)をさらに含むことを特徴とする第15の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第17の態様によると、
前記演算部(40)は、前記波形メモリ(39)に書き込まれた前記データ信号(Dy)を所定のしきい値と比較して、データ「1」に属するサンプル値と、データ「0」に属するサンプル値とに分け、それぞれのデータについてのサンプル値群の平均値、標準偏差を求め、その平均値の差(μ)と標準偏差の和(γ)の比(μ/γ)を品質値(Q)として求めることを特徴とする第16の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第18の態様によると、
前記演算部(40)は、前記所定数(W)のデータ信号(Dy)が前記波形メモリ(39)の前記複数(H)の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に各回ごとに記憶された所定ビット分の波形データ(Dy)をアドレス順に重ね合わせることにより、アイパターンを得ることを可能とすることを特徴とする第16の態様に従う光信号モニタ装置が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第19の態様によると、
サンプリング対象の光信号(Px)を変調しているデータ信号のクロック周期(Tc)の整数(N)倍に対して所定オフセット時間(ΔT)だけ異なる周期(Ts)を有するサンプリング用光パルス(Ps)を出射するサンプリング用光パルス発生段階と、
前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルス(Ps)を用いて前記サンプリング対象の光信号(Px)を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号(Py)を出力する光同期サンプリング段階とを具備し、
前記光同期サンプリング段階は、
光を入出射するための2つの光端子(23a、23b)と、該2つの光端子(23a、23b)間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子(23c)とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子(23a、23b)の一方で前記サンプリング対象の光信号(Px)を受ける電界吸収型光変調器(23)を準備する段階と、
前記電界吸収型光変調器(23)の前記電源端子(23c)に、前記サンプリング対象の光信号(Px)に対して前記電界吸収型光変調器(23)が高い吸収率を示す所定の直流電圧(Vdc)を与える直流電源(24)を準備する段階と、
前記サンプリング用光パルス発生部(21)によって出射される前記サンプリング用光パルス(Ps)を受けて前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子から出射される前記サンプリング対象の光信号(Px)を受けて前記光パルス信号(Py)として出射させる光カプラ(25)を準備する段階とを含み、
前記サンプリング用光パルス(Ps)の入射によって前記電界吸収型光変調器(23)の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記サンプリング対象の光信号(Px)を前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うことを特徴とする光信号同期サンプリング方法が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第20の態様によると、
監視対象の光信号(Px)を変調しているデータ信号のクロック周期(Tc)の整数(N)倍に対して所定オフセット時間(ΔT)だけ異なる周期(Ts)を有するサンプリング用光パルス(Ps)を出射するサンプリング用光パルス発生段階と、
前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルス(Ps)を用いて前記監視対象の光信号(Px)を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号(Py)を出力する光同期サンプリング段階と、
前記光同期サンプリング段階によって出力された前記光パルス信号(Py)を受光して電気信号(Ey)に変換して出力する光電変換段階と、
前記光電変換段階によって出力された前記電気信号(Ey)の包絡線波形の基本波成分と等しい周波数の基本波成分信号(U)を出力する基本波成分信号出力段階と、
前記基本波成分信号出力段階によって出力された前記基本波成分信号(U)と所定のしきい値(Vr)とを比較する比較段階と、
前記比較段階において前記基本波成分信号(U)が前記しきい値(Vr)を超えるタイミングから前記光電変換段階によって出力された前記電気信号(Ey)に対する波形情報の取得を開始するデータ取得制御段階とを有する光信号モニタ方法であって、
前記光同期サンプリング段階は、
光を入出射するための2つの光端子(23a、23b)と、該2つの光端子(23a、23b)間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子(23c)とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子(23a、23b)の一方で前記監視対象の光信号(Px)を受ける電界吸収型光変調器(23)を準備する段階と、
前記電界吸収型光変調器(23)の前記電源端子(23c)に、前記監視対象の光信号(Px)に対して前記電界吸収型光変調器(23)が高い吸収率を示す所定の直流電圧(Vdc)を与える直流電源(24)を準備する段階と、
前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルス(Ps)を受けて前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子から出射される前記監視対象の光信号(Px)を受けて前記光電変換段階で前記電気信号(Ey)に変換して出力する前記光パルス信号 (Py)として出射させる光カプラ(25)を準備する段階とを含み、
前記サンプリング用光パルス(Ps)の入射によって前記電界吸収型光変調器(23)の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記監視対象の光信号(Px)を前記電界吸収型光変調器(23)の前記2つの光端子(23a、23b)の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うことを特徴とする光信号モニタ方法が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第21の態様によると、
前記光電変換段階によって出力された前記電気信号(Ey)を前記サンプリング用光パルス(Ps)と同期したサンプリングクロック(Es)によってサンプリングすることにより、デジタル値に変換してデータ信号(Dy)として出力するアナログ/デジタル(A/D)変換段階と、
前記データ取得制御段階において、前記比較段階による出力信号に基づいて、前記A/D変換段階により出力される前記データ信号(Dy)が書き込まれる複数(H)の異なる領域を有する波形メモリ(39)を準備する段階とをさらに含むことを特徴とする第20の態様に従う光信号モニタ方法が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第22の態様によると、
前記データ取得制御段階は、前記比較段階において、前記基本波成分信号(U)が前記しきい値(Vr)を越えたタイミングから、前記波形メモリ(39)に対する前記データ信号(Dy)の書き込みを開始し、所定数(W)のデータ信号の書き込みが終了した後で、前記基本波成分信号(U)が再度前記しきい値(Vr)を越えるタイミングまで待機するという動作を所定回数H繰り返し、前記所定数(W)のデータ信号の書き込みを、前記波形メモリ(39)の前記複数(H)の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に行うことを特徴とする第21の態様に従う光信号モニタ方法が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第23の態様によると、
前記波形メモリ(39)に書き込まれた前記データ信号(Dy)に基づいて、前記監視対象(Px)の光信号の品質を表す値を算出する演算段階をさらに含むことを特徴とする第22の態様に従う光信号モニタ方法が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第24の態様によると、
前記演算段階は、前記波形メモリ(39)に書き込まれた前記データ信号(Dy)を所定のしきい値と比較して、データ「1」に属するサンプル値と、データ「0」に属するサンプル値とに分け、それぞれのデータについてのサンプル値群の平均値、標準偏差を求め、その平均値の差(μ)と標準偏差の和(γ)の比(μ/γ)を品質値(Q)として求めることを特徴とする第23の態様に従う光信号モニタ方法が提供される。
前記目的を達成するために、本発明の第25の態様によると、
前記演算段階は、前記所定数(W)のデータ信号が前記波形メモリ(39)の前記複数(H)の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に各回ごとに記憶された所定ビット分の波形データをアドレス順に重ね合わせることにより、アイパターンを得ることを可能とすることを特徴とする第23の態様に従う光信号モニタ方法が提供される。
以上のように、本発明の光信号同期サンプリング装置及びその方法は、サンプリング用の素子として電界吸収型光変調器を用い、その一方の光端子にサンプリング対象の光信号を入射させ、電源端子にはその光信号に対して高い吸収率を示す直流電圧を与えておき、サンプリング用光パルスを光カプラを介して電界吸収型光変調器の他方の光端子へ入射させ、そのサンプリング用光パルスが入射したときに生じる相互吸収飽和特性によりサンプリング対象の光信号に対する吸収率を低下させて他方の光端子からサンプリング対象の光信号を出射させるようにしている。
このため、サンプリング用光パルスとして狭い幅の光パルスが使用でき、しかも、サンプリング対象の光信号に対する損失を少なくすることができ、実質的にサンプリング効率を向上させ、サンプリング対象の光信号が弱い光信号であってもその波形情報を十分な分解能で精度よく同期サンプリングすることができる。
また、以上のように、本発明の光信号モニタ装置及びその方法は、サンプリング用の素子として電界吸収型光変調器を用い、その一方の光端子に監視対象の光信号を入射させ、電源端子にはその光信号に対して高い吸収率を示す直流電圧を与えておき、サンプリング用光パルスを光カプラを介して電界吸収型光変調器の他方の光端子へ入射させ、そのサンプリング用光パルスが入射したときに生じる相互吸収飽和特性により光信号に対する吸収率を低下させて他方の光端子から監視対象の光信号を出射させるようにしている。
このため、サンプリング用光パルスとして狭い幅の光パルスが使用でき、しかも、監視対象の光信号に対する損失を少なくすることができ、実質的にサンプリング効率を向上させ、監視対象の光信号が弱い光信号であってもその波形情報を十分な分解能で精度よく得ることができる。
また、監視対象の光信号に対するサンプリングで得られた信号から基本波成分信号を抽出し、その基本波成分信号がしきい値を越えたタイミングから波形情報の取得を開始しているので、実際に入射された監視対象の光信号を変調しているデータ信号に対して波形情報の取得開始タイミングを同期させることができ、その開始タイミングで得られた複数組の波形情報を重ね合わせることで、監視対象の光信号のアイパターンを安定に得ることができる。
図1は、本発明による光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法が適用される実施形態の構成を説明するために示すブロック図である。 図2は、図1の要部の構成例を説明するために示すブロック図である。 図3は、図1の要部の特性例を説明するために示す図である。 図4は、図1の要部の構成例を説明するために示すブロック図である。 図5は、図1の構成による実施形態の動作として繰り返し波形の光信号に対する動作を説明するために示す波形図である。 図6は、図1の構成による実施形態の動作としてサンプリングによって得られた波形の記憶例を説明するために示す波形図である。 図7は、図6で記憶した波形の重ね合わせによって得られるアイパターンを説明するために示す波形図である。 図8は、図1の構成による実施形態の動作として繰り返し波形でない光信号に対する動作を説明するために示す波形図である。 図9は、従来の光信号サンプリング装置に採用されている等価時間サンプリング方式を説明するために示す波形図である。
以下、図面を参照して本発明による光信号同期サンプリング装置及びそれを用いる光信号モニタ装置が適用される第1の実施形態について説明する。
図1は、本発明による光信号同期サンプリング装置100及びそれを用いる光信号モニタ装置20の第1の実施形態の構成を説明するために示すブロック図である。
本発明による光信号同期サンプリング装置100の基本的な構成は、サンプリング対象の光信号Pxを変調しているデータ信号のクロック周期Tcの整数N倍に対して所定オフセット時間ΔTだけ異なる周期Tsを有するサンプリング用光パルスPsを出射するサンプリング用光パルス発生部21と、前記サンプリング用光パルス発生部21から出射される前記サンプリング用光パルスPsを用いて前記サンプリング対象の光信号Pxを同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号Pyを出力する光サンプリング部22とを有する光信号同期サンプリング装置100であって、前記光サンプリング部22は、光を入出射するための2つの光端子23a、23bと、該2つの光端子23a、23b間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子23cとを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子23a、23bの一方で前記サンプリング対象の光信号Pxを受ける電界吸収型光変調器23と、前記電界吸収型光変調器23の前記電源端子23cに、前記サンプリング対象の光信号に対して前記電界吸収型光変調器23が高い吸収率を示す所定の直流電圧Vdcを与える直流電源24と、前記サンプリング用光パルス発生部21によって出射される前記サンプリング用光パルスPsを受けて前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子から出射される前記サンプリング対象の光信号を受けて前記光パルス信号Pyとして出射させる光カプラ25とを含み、前記サンプリング用光パルスPsの入射によって前記電界吸収型光変調器23の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記サンプリング対象の光信号Pxを前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うように構成されていることを特徴としている。
また、本発明による光信号同期サンプリング方法の基本的な構成は、サンプリング対象の光信号Pxを変調しているデータ信号のクロック周期Tcの整数N倍に対して所定オフセット時間ΔTだけ異なる周期Tsを有するサンプリング用光パルスPsを出射するサンプリング用光パルス発生段階と、前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルスPsを用いて前記サンプリング対象の光信号Pxを同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号Pyを出力する光同期サンプリング段階とを具備し、前記光同期サンプリング段階は、光を入出射するための2つの光端子23a、23bと、該2つの光端子23a、23b間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子23cとを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子23a、23bの一方で前記サンプリング対象の光信号Pxを受ける電界吸収型光変調器23を準備する段階と、前記電界吸収型光変調器23の前記電源端子23cに、前記サンプリング対象の光信号Pxに対して前記電界吸収型光変調器23が高い吸収率を示す所定の直流電圧Vdcを与える直流電源24を準備する段階と、前記サンプリング用光パルス発生部21によって出射される前記サンプリング用光パルスPsを受けて前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子から出射される前記サンプリング対象の光信号Pxを受けて前記光パルス信号Pyとして出射させる光カプラ25を準備する段階とを含み、前記サンプリング用光パルスの入射によって前記電界吸収型光変調器23の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記サンプリング対象の光信号Pxを前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うことを特徴としている。
また、本発明による光信号モニタ装置20の基本的な構成は、監視対象の光信号Pxを変調しているデータ信号のクロック周期Tcの整数N倍に対して所定オフセット時間ΔTだけ異なる周期Tsを有するサンプリング用光パルスPsを出射するサンプリング用光パルス発生部21と、前記サンプリング用光パルス発生部21から出射される前記サンプリング用光パルスPsを用いて前記監視対象の光信号を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号Pyを出力する光サンプリング部22とを含む光信号同期サンプリング装置100と、前記光信号サンプリング装置100の前記光サンプリング部22によって出力された前記光パルス信号Pyを受光して電気信号Eyに変換して出力する光電変換器30と、前記光電変換器30からの電気信号Eyの包絡線波形の基本波成分と等しい周波数の基本波成分信号Uを出力する基本波成分信号出力手段35と、前記基本波成分信号出力手段35からの前記基本波成分信号Uと所定のしきい値Vrとを比較するコンパレータ36と、前記コンパレータ36による比較において前記基本波成分信号Uが前記しきい値Vrを超えるタイミングから前記光電変換器30からの電気信号Eyに対する波形情報の取得を開始するデータ取得制御部38とを有する光信号モニタ20であって、前記光信号同期サンプリング装置100の前記光サンプリング部22は、光を入出射するための2つの光端子23a、23bと、該2つの光端子23a、23b間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子23cとを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子23a、23bの一方で前記監視対象の光信号を受ける電界吸収型光変調器23と、前記電界吸収型光変調器23の前記電源端子23cに、前記監視対象の光信号Pxに対して前記電界吸収型光変調器23が高い吸収率を示す所定の直流電圧Vdcを与える直流電源24と、前記サンプリング用光パルス発生部21によって出射される前記サンプリング用光パルスPsを受けて前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子から出射される前記監視対象の光信号Pxを受けて前記光パルス信号Pyとして前記光電変換器30へ入射させる光カプラ25とを含み、前記サンプリング用光パルスPsの入射によって前記電界吸収型光変調器23の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記監視対象の光信号Pxを前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うように構成されていることを特徴としている。
また、本発明による光信号モニタ方法の基本的な構成は、監視対象の光信号Pxを変調しているデータ信号のクロック周期Tcの整数N倍に対して所定オフセット時間ΔTだけ異なる周期Tsを有するサンプリング用光パルスPsを出射するサンプリング用光パルス発生段階と、前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルスPsを用いて前記監視対象の光信号Pxを同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号Pyを出力する光同期サンプリング段階と、前記光同期サンプリング段階によって出力された前記光パルス信号Pyを受光して電気信号Eyに変換して出力する光電変換段階と、前記光電変換段階によって出力された前記電気信号Eyの包絡線波形の基本波成分と等しい周波数の基本波成分信号Uを出力する基本波成分信号出力段階と、前記基本波成分信号出力段階によって出力された前記基本波成分信号Uと所定のしきい値Vrとを比較する比較段階と、前記比較段階において前記基本波成分信号Uが前記しきい値Vrを超えるタイミングから前記光電変換段階によって出力された前記電気信号Eyに対する波形情報の取得を開始するデータ取得制御段階とを有する光信号モニタ方法であって、前記光サンプリング段階は、光を入出射するための2つの光端子23a、23bと、該2つの光端子23a、23b間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子23cとを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子23a、23bの一方で前記監視対象の光信号Pxを受ける電界吸収型光変調器23を準備する段階と、前記電界吸収型光変調器23の前記電源端子23cに、前記監視対象の光信号Pxに対して前記電界吸収型光変調器23が高い吸収率を示す所定の直流電圧Vdcを与える直流電源24を準備する段階と、前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルスPsを受けて前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子から出射される前記監視対象の光信号Pxを受けて前記光電変換段階で前記電気信号Eyに変換して出力する前記光パルス信号Pyとして出射させる光カプラ25を準備する段階とを含み、前記サンプリング用光パルスPsの入射によって前記電界吸収型光変調器23の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記監視対象の光信号Pxを前記電界吸収型光変調器23の前記2つの光端子23a、23bの前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うことを特徴とする。
具体的には、以下に、本発明を適用した光信号同期サンプリング装置100及びその方法を用いる光信号モニタ装置20及びその方法について説明される。
本発明を適用した光信号同期サンプリング装置100及びその方法を用いる光信号モニタ装置20及びその方法では、図示しない光ネットワーク上に伝送される所定クロック周期Tcのデータ信号で変調された光信号Pxを監視(サンプリング)対象としているものである。
サンプリング用光パルス発生部21は、その監視(サンプリング)対象の光信号Pxを変調しているデータ信号のクロック周期Tcの整数N倍に対して所定のオフセット時間ΔTだけ異なる周期Tsのサンプリング用光パルスPsを生成して光サンプリング部22に入射する。
ここで、サンプリング用光パルス発生部21及び光サンプリング部22は、本発明を適用した光信号同期サンプリング装置100を構成する。
サンプリング用光パルス発生部21は、前記したように幅の狭い光パルスを指定された周期Tsで生成できるものであればその構成は任意である。
図2は、サンプリング用光パルス発生部21の一例を示すブロック図である。
このサンプリング用光パルス発生部21は、前記サンプリング用光パルスPsの周期に対応した周期Tsを有する安定な信号Raを生成するシンセサイザ構成の基準信号発生器21aと、前記基準信号発生器21aによって生成される前記周期Ts(周波数Fs)を有する安定な信号RaをM(Mは複数)逓倍した信号Rbとして出力する逓倍器21bと、連続光Pcwを出射する光源21dと、前記逓倍器21bから出力される前記M逓倍した信号Rbによって前記光源21dから出射される前記連続光Pcwを変調することにより、周期Ts/Mを有する光パルスPaを出射する光変調器21cと、前記光変調器21cから出射される前記光パルスPaを1/Mに間引いて、周期Tsを有する光パルスPbに変換する光ゲート回路21eと、前記光ゲート回路21eにより周期Tsを有する光パルスPbに変換された前記光パルスPbについてそのパルス幅をさらに狭めて、前記サンプリング用光パルスPsとして出射する分散減少ファイバ21fとを含んでいる。
すなわち、シンセサイザ構成の基準信号発生器21aにより後述するパラメータ設定部28から指定された周期Ts(周波数Fs)の安定な信号Raが生成され、逓倍器21bに入力されてM(Mは複数)逓倍された後、その出力信号Rbが光変調器21cに入力されて、光源21dから出射される連続光Pcwを変調し、周期Ts/Mの光パルスPaが生成される。
この光パルスPaのパルス幅は、信号Raで連続光Pcwを直接変調した場合に比べて1/Mに狭められている。
そして、この光パルスPaは、光ゲート回路21eにより1/Mに間引かれて、周期Tsの光パルスPbに変換された後、分散減少ファイバ21fに入射されてそのパルス幅がさらに狭められ、最終的にサンプリング用光パルスPsとして出射される。
一方、光サンプリング部22は、サンプリング用光パルス発生部21から出射されたサンプリング用光パルスPsにより、監視(サンプリング)対象の光信号Pxをサンプリングし、そのサンプリングで得られた光パルス信号Pyを出射する。
この光サンプリング部22は、電界吸収型光変調器23、直流電源24およびサーキュレータ型の光カプラ25を有している。
電界吸収型光変調器23は、前記したように、光を入出射するための2つの光端子23a、23bおよび両光端子間の光路に電界を与えるための電源端子23cを有し、その光路を伝搬する光に対する吸収率が光路に与えられた電界の大きさに応じて変化する特性を有している。
通常、電界吸収型光変調器は、前記特許文献2に開示されているように、電源端子23cに電気のサンプリング用パルス信号が与えられる。
しかるに、電気のサンプリング用パルス信号の場合には、前記したように数10Gb/sの波形情報の取得に必要な狭い幅を有する電気のサンプリング用パルス信号として生成することが極めて困難である。
そこで、この発明では、図1に示しているように、電界吸収型光変調器23の一方の光端子23aに光信号Pxを入射させ、その光信号Pxに対して高い吸収率を示すような所定の直流電圧Vdを直流電源24から電源端子23cに与えた状態で、前記した幅の狭いサンプリング用光パルスPsを、光カプラ25を介して他方の光端子23bに入射して、このサンプリング用光パルスPsにより電界吸収型光変調器23の相互吸収飽和特性を利用して吸収率を変化させ、サンプリング用光パルスPsが入射したときだけ監視(サンプリング)対象の光信号Pxに対する吸収率を低下させて該監視(サンプリング)対象の光信号Px他方の光端子23bへ通過させることにより、光のサンプリング用パルス信号でもってサンプリングを行うようにしている。
なお、このように光信号をサンプリングする素子として電界吸収型光変調器23を用いて光のサンプリング用パルス信号でもってサンプリングを行うようにしたときのサンプリング効率は、電界吸収型光変調器23の挿入損失で決定される。
電界吸収型光変調器23の挿入損失は、約−10dB程度であるので、本発明によるサンプリング効率は約−10dB程度となる。
これは、前記特許文献1のように、光信号をサンプリングする素子として非線形光学材を用いた場合の約−20dB以下と比較して本発明によるサンプリング効率の方が約10dB以上、向上していることを示している。
ここで、例えば、電界吸収型光変調器23の電界に対する吸収率の変化特性が図3のFで示される場合、電界吸収型光変調器23の電源端子23cに吸収率が大きな値α(例えば、20dB)となる電界に対応した直流電圧Vdcを与えておくものとする。
そして、電界吸収型光変調器23の他方の光端子23bには、相互吸収飽和特性により実質的に電界が図3の矢印A方向に変化して、吸収率が小さい値β(例えば、3dB)となるようなピーク強度を持つサンプリング用光パルスPsを入射させる。
なお、図3の特性Fは模式的なものである。
すなわち、電界吸収型光変調器23の他方の光端子23bにサンプリング用光パルスPsが入射したとき、電界吸収型光変調器23の相互吸収飽和特性により電界吸収型光変調器23の吸収率が低下される。
これにより、この状態下で、電界吸収型光変調器23の一方の光端子23aに入射されている監視(サンプリング)対象の光信号Pxは、そのときの瞬時強度から電界吸収型光変調器23の挿入損失相当分だけ低いレベルのピーク値を持つ光パルス信号Pyとして電界吸収型光変調器23内を通過することが許容されるようになる。
このようにして電界吸収型光変調器23内を通過した監視(サンプリング)対象の光信号Pxが電界吸収型光変調器23の他方の光端子23bから光サンプリング部22の光カプラ25を介して光パルス信号Pyとして出射される。
ここで、光サンプリング部22の光カプラ25は、光の入射方向に応じて光路を振り分けるサーキュレータ型のものだけでなく、波長の違いによって光路を振り分ける分光型のものであってもよく、その場合には光信号Pxと異なる波長のサンプリング用光パルスPsが用いられる。
なお、電界吸収型光変調器23の一方の光端子23aに挿入されているサーキュレータ型の光カプラ26は、他方の光端子23bに入射されて一方の光端子23aから出射されるサンプリング用光パルスPsを光終端器27で終端して、監視対象の光信号Pxの伝送路へ入射(漏洩)するのを防ぐためのものである。
また、サンプリング用光パルス発生部21が出力するサンプリング用光パルスPs及びサンプリングクロックEsの周期Tsは、パラメータ設定部28により設定される。
このパラメータ設定部28は、監視対象の光信号Pxを変調しているデータ信号のクロック周期Tc(ビットレートでもよい)とオフセット時間ΔTの情報を受け、サンプリング周期Tsを、
Ts=N・Tc+ΔT
の演算で求め、サンプリング用光パルス発生部21に設定する。
ここで、Nの値は、データ信号のクロック周期Tcとサンプリング用光パルス発生部21が出力可能な信号の周波数可変範囲によって決まる。
例えば、ΔTがTsに対して無視できる程小さく、Tcが約0.1ns(10GHz)で、Tsが0.1μs(10MHz)の近傍で可変できるものとすれば、Nの値は大凡Ts/Tc=1000となる。
そして、前述したようにして光サンプリング部22の光カプラ25を介して出射される光パルス信号Pyは、光電変換器30に入射されることにより、該光電変換器30により電気信号Eyに変換されて出力される。
光電変換器30からの電気信号Eyは、アナログ/デジタル(A/D)変換器31によりサンプリングされてデジタル値に変換される。
このA/D変換器31によるサンプリングは、サンプリング用光パルスPsと同期したサンプリングクロックEsによって行われる。
この実施形態では、この電気のサンプリングクロックEsもサンプリング用光パルス発生部21(前記した基準信号発生器21a)から出力されるものとする。
また、光電変換器30からの電気信号Eyは、基本波成分信号出力部35にも入力されている。
この基本波成分信号出力部35は、光電変換器30からパルス状として出力される電気信号Eyの包絡線波の基本波成分の周波数と等しい周波数の基本波成分信号Uを出力するためのものである。
この基本波成分信号出力部35の構成としてはフィルタ方式とPLL(位相ロックループ)方式とが考えられる。
フィルタ方式の場合、図4の(a)に示すように、監視対象の光信号Pxを変調しているデータ信号のクロック周波数Fcと等しい中心周波数(RZ方式の場合)、あるいはその2倍に等しい中心周波数(NRZ方式の場合)を有する狭帯域な帯域通過フィルタ35fによって正弦波の基本波成分信号Uが抽出される。
また、PLL方式の場合には、図4の(b)に示すように、前記監視対象の光信号Pxを変調している前記データ信号のクロック周波数Fcと等しい中心周波数あるいは前記クロック周波数Fcの2倍に等しい中心周波数を有し、前記光電変換器30の出力信号Eyから正弦波の基本波成分信号を抽出する狭帯域な帯域通過フィルタ35aと、所定の発振周波数を有する発振出力信号を出力する電圧制御発振器35bと、前記帯域通過フィルタ35aの出力信号と前記電圧制御発振器35bの出力信号との位相差に応じた制御信号Vcを出力する位相比較器35cとを含み、前記位相比較器35cから出力される前記制御信号Vcにより前記電圧制御発振器35bの発振周波数を制御して、前記発振出力信号の位相を前記帯域通過フィルタ35aの出力信号の位相に同期させることにより、この同期した正弦波の発振出力信号を基本波成分信号Uとして出力するように構成されている。
すなわち、PLL方式の場合には、上記フィルタ方式の場合の狭帯域な帯域通過フィルタ35fと同様の狭帯域な帯域通過特性を有する帯域通過フィルタ35aの出力信号と電圧制御発振器35bの出力信号とを位相比較器35cに入力し、その位相差に応じた制御信号Vcで電圧制御発振器35bの発振周波数を制御して、その発振出力信号の位相を帯域通過フィルタ35aの出力信号に同期させ、この同期した正弦波の発振出力信号を基本波成分信号Uとして用いる。
また、別の例として、図4の(c)に示すように、光電変換器30から出力される電気信号EyをFFT(高速フーリェ変換)等の周波数解析演算部35gに入力してその周波数解析を行い、基本波成分の周波数を求め、その求めた周波数と等しい基本波成分信号Uを信号発生器35hにより生成して出力するような構成であってもよい。
ここで、監視対象の光信号Pxのクロック周波数Fcを10GHz、オフセット時間ΔTを0.1psとすれば、監視対象の光信号Pxの1ビット分の波形データを得るのに、1000回のサンプリングが必要となり、その1000回のサンプリングをほぼ10MHzの周波数Fsで行うために必要な時間はおよそ0.1msとなり、この時間が信号Eyの包絡線波の基本波成分の周期に等しく、その周波数はおよそ10kHzとなる。
この基本波成分信号Uは、コンパレータ36に入力され、しきい値設定器37によって予め設定されたしきい値Vrと比較され、その比較結果がデータ取得制御部38に入力される。
データ取得制御部38は、コンパレータ36からの出力信号に基づいて、A/D変換器31から出力されるデータ信号Dyを波形メモリ39に書き込む。
すなわち、基本波成分信号Uが、例えば、低い方からしきい値Vrを越えたタイミングから、波形メモリ39に対するデータ信号Dyの書き込みを開始し、所定数Wのデータ信号の書き込みが終了した後で、基本波成分信号Uが低い方からしきい値Vrを越えるタイミングまで待機するという動作を所定回数H繰り返す。
なお、この所定数Wのデータ信号Dyの書き込みは、波形メモリ39の複数Hの異なる領域に対してそれぞれアドレス順に行う。
演算部40は、波形メモリ39に書き込まれたデータ信号Dyに基づいて、監視対象の光信号Pxの品質を表す値を算出する。
この演算部40による監視対象の光信号Pxの品質を表す値を算出するための演算手法は任意であるが、例えば、前記特許文献1に記載されているように、波形メモリ39に書き込まれたデータ信号Dyを所定のしきい値と比較して、データ「1」に属するサンプル値と、データ「0」に属するサンプル値とに分け、それぞれのデータについてのサンプル値群の平均値、標準偏差を求め、その平均値の差μと標準偏差の和γの比μ/γを品質値Qとして求める。
なお、このQ値が大きい程、監視対象の光信号Pxの品質が高いことを示している。
次に、監視対象の光信号Pxの波形と、データ取得制御部38によるその波形取得タイミングとの関係について説明する。
ここで、監視対象の光信号Pxが、例えば、試験用として生成されたものであって、図5の(a)に示すように所定ビット長Lの所定符号列で繰り返し変調されている場合を想定する。
そして、このような監視対象の光信号Pxついて、図5の(b)に示すように、サンプリング用光パルスPsの周期Tsを決めるNの値がビット長Lの整数K倍に等しい状態でサンプリングが行われるものとする。
このサンプリングにより、図5の(c)に示すように、監視対象の光信号Pxの時間軸を拡大した包絡線波形をもつ光パルス信号Pyが得られる。
この光パルス信号Pyから、図5の(d)に示すような電気信号Eyが得られる。
そして、この電気信号Eyから、例えば、図5の(e)に示すような正弦波の基本波成分信号Uが得られる。
そして、この基本波成分信号Uがしきい値Vrを越えたタイミングから、図5の(f)に示すように、データ取得が開始され、例えば、J・Tc/ΔT回(Jは整数)のサンプリングで得られたデータが取得されて、波形メモリ39に記憶される。
この波形メモリ39に記憶されるJビット分の波形データDyに対し前記演算部40による演算を行うことにより、Q値を求めることができる。
なお、図5の(d)〜(f)は、時間軸を狭めて示したものである。
また、アイパターンを得る場合には、図5の(d)〜(f)に示しているように、波形データの取得を基本波成分信号Uがしきい値Vrを超えるタイミングからデータの取得を開始してJビット分の波形データDyを取得する処理が複数H回行われる。
そして、この複数H回に渡って取得されたそれぞれJビット分の波形データDyは、図6に示すように波形メモリ39の異なる領域1〜Hに各回ごとにそれぞれ記憶される。
そして、波形メモリ39の異なる領域1〜Hに各回ごとにそれぞれ記憶されているJビット分の波形データDyをアドレス順に重ね合わせることにより、図7に示すようなアイパターンを得ることができる。
これらの波形データの先頭データは基本波成分信号Uがしきい値Vrを超えたタイミングの直後にサンプリングされた値で、データ信号に正確に同期しているので、波形データの時間軸が大きくずれて重ね合わされることはなく、監視対象の光信号Pxの振幅のバラツキをほぼ正確に表している。
そして、この図7に示されているアイパターン上で、ビット内の位置と品質との関係が求められる。
例えば、図7に示されているように2つのクロス位置の中間点L(1ビットの中間点)におけるサンプル値に基づいて、上記Qの値が算出される。
この算出されたQの値は、前記した位置と無関係な全体データについて求められるQ値と共に図示しない通信手段を介して他装置へ通知される。
なお、光ネットワーク上に実際に伝送されているような光信号Pxは、図8の(a)に示すように、単純な繰り返し波形とはならない。
このような単純な繰り返し波形とはならない光信号Pxに対して、図8の(b)に示すようにN・Tc+ΔTの周期Tsを有するサンプリング用光パルスPsでサンプリングを行った場合、光信号PxのNビットおきのデータについてΔTずつ異なるタイミングでサンプリングを行っていることになる。
そして、このサンプリングによって得られる光パルス信号Pyのピーク値は、図8の (c)及びその時間軸を狭めた図8の(d)に示すように、データ「1」、「0」に対応した振幅あるいはその間の遷移状態における振幅のいずれにもなり得るので、光信号Pxの一定期間の連続した波形を拡大した包絡線波は得られない。
しかるに、この包絡線波には、光信号Pxを変調しているデータ信号の基本波成分が含まれているので、図8の(e)に示すようなその基本波成分信号Uが得られる。
そして、前記と同様に、その基本波成分信号Uがしきい値Vrを越えたタイミングから図8の(f)に示すようにデータ取得が開始され、例えば、J・Tc/ΔT回(Jは整数)のサンプリングで得られたデータが取得される。
このJビット分の波形データに対し前記演算部40による演算を行うことにより、Q値を求めることができる。
なお、図8の(d)〜(f)は、時間軸を狭めて示したものである。
このJビット分の波形データはそれ自身がアイパターンを表しているとも言える。
しかるに、より多くのサンプル値を用いて光信号の品質をより正確に表すアイパターンを得る場合には、図8の(d)〜(f)に示しているように、基本波成分信号Uがしきい値Vrを超えるタイミングから波形データの取得を開始してJビット分の波形データDyを取得する処理が複数H回行われる。
そして、この複数H回に渡って取得されたそれぞれは、前記と同様に、波形メモリ39の異なる領域1〜Hに各回ごとにそれぞれ記憶される。
そして、これらの複数領域の波形データDyすなわち波形メモリ39の異なる領域1〜Hに各回ごとにそれぞれ記憶されたJビット分の波形データDyをアドレス順に重ね合わせることにより、正確なアイパターンを得ることができる。
この場合でも、各波形データの先頭データは基本波成分信号Uがしきい値Vrを超えたタイミングの直後にサンプリングされた値で、データ信号に正確に同期しているので、アイパターンを得る場合に波形データの時間軸が大きくずれて重ね合わされることはなく、重ね合わせによって得られるアイパターンは監視対象の光信号Pxの振幅のバラツキをほぼ正確に表している。
上記のように、光信号モニタ装置20は、サンプリング用の素子として電界吸収型光変調器23を用い、その一方の光端子23aに監視対象の光信号Pxを入射させ、その電源端子23cには監視対象の光信号Pxに対して高い吸収率を示す直流電圧Vdcを与えておき、サンプリング用光パルスPsを光カプラ25を介して電界吸収型光変調器23の他方の光端子23bへ入射させ、そのサンプリング用光パルスPsが入射したときに生じる相互吸収飽和特性により監視対象の光信号Pxに対する吸収率を低下させることにより、監視対象の光信号Pxをサンプリングして電界吸収型光変調器23の他方の光端子23bから出射させるようにしている。
したがって、このような光信号モニタ装置20によれば、サンプリング用として狭い幅の光パルスを使用することができると共に、監視対象の光信号Pxに対するサンプリング効率を向上することができるので、監視対象の光信号Pxが弱い光信号であってもその波形情報を精度よく得ることができる。
また、このような光信号モニタ装置20によれば、監視対象の光信号Pxをサンプリングすることによって得られた電気信号Eyから基本波成分信号Uを得て、波形取得の開始タイミングを同期させるようにしているので、異なる期間に取得されたデータ信号Dyの重ね合わせても、時間軸が大きくずれる恐れがなく、監視対象の光信号Pxのアイパターンを安定に得ることができる。
なお、この実施形態では、演算部40により監視対象の光信号Pxの品質値やアイパターンを求めているが、演算部40を省略して、波形メモリ39の各領域に書き込まれたデータを図示しない通信手段を介して外部の他装置へ伝送して、その他装置側で監視対象の光信号Pxの品質の演算処理やアイパターンを表示するようにしてもよい。
また、本発明による光信号同期サンプリング装置及びその方法は、光信号モニタ装置及びその方法のみならず、光サンプリングオッシロスコープや光スペクトラムアナライザ等にも適用することができる。
したがって、以上詳述したような本発明によれば、上記従来技術の問題を解決し、高いサンプリング効率をもち、高速な光信号の波形情報を十分な分解能で精度よくサンプリングすることができるようにした光信号同期サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いて該光信号を正確にモニタすることができると共に、該光信号のアイパターンを安定に得ることができるようにした光信号モニタ装置及びその方法を提供することができる。

Claims (25)

  1. サンプリング対象の光信号を変調しているデータ信号のクロック周期の整数倍に対して所定オフセット時間だけ異なる周期を有するサンプリング用光パルスを出射するサンプリング用光パルス発生部と、
    前記サンプリング用光パルス発生部から出射される前記サンプリング用光パルスを用いて前記サンプリング対象の光信号を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号を出力する光サンプリング部とを有する光信号同期サンプリング装置であって、
    前記光サンプリング部は、
    光を入出射するための2つの光端子と、該2つの光端子間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子の一方で前記サンプリング対象の光信号を受ける電界吸収型光変調器と、
    前記電界吸収型光変調器の前記電源端子に、前記サンプリング対象の光信号に対して前記電界吸収型光変調器が高い吸収率を示す所定の直流電圧を与える直流電源と、
    前記サンプリング用光パルス発生部によって出射される前記サンプリング用光パルスを受けて前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子から出射される前記サンプリング対象の光信号を受けて前記光パルス信号として出射させる光カプラとを含み、
    前記サンプリング用光パルスの入射によって前記電界吸収型光変調器の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記サンプリング対象の光信号を前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うように構成されていることを特徴とする光信号同期サンプリング装置。
  2. 前記光サンプリング部は、前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子に入射される前記サンプリング用光パルスが前記サンプリング対象の光信号の伝送路へ漏れるのを防ぐために、
    前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記一方の光端子に挿入されている第2の光カプラと、
    前記サンプリング用光パルスを前記第2の光カプラを介して終端する光終端器とをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の光信号同期サンプリング装置。
  3. 前記サンプリング用光パルス発生部は、
    前記サンプリング用光パルスの周期に対応した周期Tsを有する安定な信号を生成するシンセサイザ構成の基準信号発生器と、
    前記基準信号発生器によって生成される前記周期Tsを有する安定な信号をM(Mは複数)逓倍した信号として出力する逓倍器と、
    連続光を出射する光源と、
    前記逓倍器から出力される前記M逓倍した信号によって前記光源から出射される前記連続光を変調することにより、周期Ts/Mを有する光パルスを出射する光変調器と、
    前記光変調器から出射される前記光パルスを1/Mに間引いて、周期Tsを有する光パルスに変換する光ゲート回路と、
    前記光ゲート回路により変換された前記周期Tsを有する光パルスについてそのパルス幅をさらに狭めて、前記サンプリング用光パルスとして出射する分散減少ファイバとを含むことを特徴とする請求項1に記載の光信号同期サンプリング装置。
  4. 前記サンプリング対象の光信号を変調している前記データ信号のクロック周期Tc又はそのビットレートと前記所定オフセット時間ΔTの情報を受けて、前記サンプリング用光パルスのサンプリング周期Tsを、
    Ts=N・Tc+ΔT
    (ここで、Nの値は、前記データ信号のクロック周期Tcと前記サンプリング用光パルス発生部が出力可能な信号の周波数可変範囲によって決まる)
    の演算で求めて、前記サンプリング用光パルス発生部に設定するパラメータ設定部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の光信号同期サンプリング装置。
  5. 監視対象の光信号を変調しているデータ信号のクロック周期の整数倍に対して所定オフセット時間だけ異なる周期を有するサンプリング用光パルスを出射するサンプリング用光パルス発生部と、前記サンプリング用光パルス発生部から出射される前記サンプリング用光パルスを用いて前記監視対象の光信号を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号を出力する光サンプリング部とを含む光信号同期サンプリング装置と、
    前記光信号同期サンプリング装置の前記光サンプリング部によって出力された前記光パルス信号を受光して電気信号に変換して出力する光電変換器と、
    前記光電変換器からの前記電気信号の包絡線波形の基本波成分と等しい周波数の基本波成分信号を出力する基本波成分信号出力手段と、
    前記基本波成分信号出力手段からの前記基本波成分信号と所定のしきい値とを比較するコンパレータと、
    前記コンパレータによる比較において前記基本波成分信号が前記しきい値を超えるタイミングから前記光電変換器からの前記電気信号に対する波形情報の取得を開始するデータ取得制御部とを有する光信号モニタ装置であって、
    前記光信号同期サンプリング装置の光サンプリング部は、
    光を入出射するための2つの光端子と、該2つの光端子間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子の一方で前記監視対象の光信号を受ける電界吸収型光変調器と、
    前記電界吸収型光変調器の前記電源端子に、前記監視対象の光信号に対して前記電界吸収型光変調器が高い吸収率を示す所定の直流電圧を与える直流電源と、
    前記光信号同期サンプリング装置のサンプリング用光パルス発生部によって出射される前記サンプリング用光パルスを受けて前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子から出射される前記監視対象の光信号を受けて前記光パルス信号として前記光電変換器へ入射させる光カプラとを含み、
    前記サンプリング用光パルスの入射によって前記電界吸収型光変調器の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記監視対象の光信号を前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うように構成されていることを特徴とする光信号モニタ装置。
  6. 前記光サンプリング部は、前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子に入射されるサンプリング用光パルスが前記監視対象の光信号の伝送路へ漏れるのを防ぐために、
    前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記一方の光端子に挿入されている第2の光カプラと、
    前記サンプリング用光パルスを前記第2の光カプラを介して終端する光終端器とをさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の光信号モニタ装置。
  7. 前記サンプリング用光パルス発生部は、
    前記サンプリング用光パルスの周期に対応した周期Tsを有する安定な信号を生成するシンセサイザ構成の基準信号発生器と、
    前記基準信号発生器によって生成される前記周期Tsを有する安定な信号をM(Mは複数)逓倍した信号として出力する逓倍器と、
    連続光を出射する光源と、
    前記逓倍器から出力される前記M逓倍した信号によって前記光源から出射される前記連続光を変調することにより、周期Ts/Mを有する光パルスを出射する光変調器と、
    前記光変調器から出射される前記光パルスを1/Mに間引いて、周期Tsを有する光パルスに変換する光ゲート回路と、
    前記光ゲート回路により変換された前記周期Tsを有する光パルスについてそのパルス幅をさらに狭めて、前記サンプリング用光パルスとして出射する分散減少ファイバとを含むことを特徴とする請求項5に記載の光信号モニタ装置。
  8. 前記監視対象の光信号を変調している前記データ信号のクロック周期Tc又はそのビットレートと前記所定オフセット時間の情報を受けて、前記サンプリング用光パルスのサンプリング周期Tsを、
    Ts=N・Tc+ΔT
    (ここで、Nの値は、前記データ信号のクロック周期Tcと前記サンプリング用光パルス発生部が出力可能な信号の周波数可変範囲によって決まる)
    の演算で求めて、前記サンプリング用光パルス発生部に設定するパラメータ設定部をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の光信号モニタ装置。
  9. 前記光電変換器と前記データ取得制御部との間に挿入され、前記光電変換器からの電気信号を前記サンプリング用光パルスと同期したサンプリングクロックによってサンプリングすることにより、デジタル値に変換して前記データ取得制御部にデータ信号として出力するアナログ/デジタル(A/D)変換器をさらに含むことを特徴とする請求項5に記載の光信号モニタ装置。
  10. 前記サンプリングクロックは、前記サンプリング用光パルス発生部により前記サンプリング用光パルスと同期して出力されることを特徴とする請求項9に記載の光信号モニタ装置。
  11. 前記基本波成分信号出力部は,フィルタ方式として、
    前記監視対象の光信号を変調している前記データ信号のクロック周波数と等しい中心周波数あるいは前記クロック周波数の2倍に等しい中心周波数を有し、前記光電変換器からの電気信号から正弦波の基本波成分信号を抽出する狭帯域な帯域通過フィルタを含むことを特徴とする請求項5に記載の光信号モニタ装置。
  12. 前記基本波成分信号出力部は,PLL(位相ロックループ)方式として、
    前記監視対象の光信号を変調している前記データ信号のクロック周波数と等しい中心周波数あるいは前記クロック周波数の2倍に等しい中心周波数を有し、前記光電変換器からの電気信号から正弦波の基本波成分信号を抽出する狭帯域な帯域通過フィルタと、
    所定の発振周波数を有する発振出力信号を出力する電圧制御発振器と、
    前記帯域通過フィルタの出力信号と前記電圧制御発振器の出力信号との位相差に応じた制御信号を出力する位相比較器とを含み、
    前記位相比較器から出力される前記制御信号により前記電圧制御発振器の発振周波数を制御して、前記発振出力信号の位相を前記帯域通過フィルタの出力信号の位相に同期させることにより、この同期した正弦波の発振出力信号を前記基本波成分信号として出力することを特徴とする請求項5に記載の光信号モニタ装置。
  13. 前記基本波成分信号出力部は,
    前記光電変換器からの電気信号の周波数解析を行い、基本波成分の周波数を求める周波数解析演算部と、
    前記周波数解析演算部によって求められた前記基本波成分の周波数と等しい周波数を有する基本波成分信号を生成して出力する信号発生器とを含むことを特徴とする請求項5に記載の光信号モニタ装置。
  14. 前記データ取得制御部により、前記コンパレータからの出力信号に基づいて、前記A/D変換器から出力される前記データ信号が書き込まれる複数の異なる領域を有する波形メモリをさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の光信号モニタ装置。
  15. 前記データ取得制御部は、前記コンパレータにおいて、前記基本波成分信号が前記しきい値を越えたタイミングから、前記波形メモリに対する前記データ信号の書き込みを開始し、所定数のデータ信号の書き込みが終了した後で、前記基本波成分信号が再度前記しきい値を越えるタイミングまで待機するという動作を所定回数繰り返し、前記所定数のデータ信号の書き込みを、前記波形メモリの前記複数の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に行うことを特徴とする請求項14に記載の光信号モニタ装置。
  16. 前記波形メモリに書き込まれた前記データ信号に基づいて、前記監視対象の光信号の品質を表す値を算出する演算部をさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の光信号モニタ装置。
  17. 前記演算部は、前記波形メモリに書き込まれた前記データ信号を所定のしきい値と比較して、データ「1」に属するサンプル値と、データ「0」に属するサンプル値とに分け、それぞれのデータについてのサンプル値群の平均値、標準偏差を求め、その平均値の差μと標準偏差の和γの比μ/γを品質値Qとして求めることを特徴とする請求項16に記載の光信号モニタ装置。
  18. 前記演算部は、前記所定数のデータ信号が前記波形メモリの前記複数の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に各回ごとに記憶された所定ビット分の波形データをアドレス順に重ね合わせることにより、アイパターンを得ることを可能とすることを特徴とする請求項16に記載の光信号モニタ装置。
  19. サンプリング対象の光信号を変調しているデータ信号のクロック周期の整数倍に対して所定オフセット時間だけ異なる周期を有するサンプリング用光パルスを出射するサンプリング用光パルス発生段階と、
    前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルスを用いて前記サンプリング対象の光信号を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号を出力する光同期サンプリング段階とを具備し、
    前記光同期サンプリング段階は、
    光を入出射するための2つの光端子と、該2つの光端子間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子の一方で前記サンプリング対象の光信号を受ける電界吸収型光変調器を準備する段階と、
    前記電界吸収型光変調器の前記電源端子に、前記サンプリング対象の光信号に対して前記電界吸収型光変調器が高い吸収率を示す所定の直流電圧を与える直流電源を準備する段階と、
    前記サンプリング用光パルス発生部によって出射される前記サンプリング用光パルスを受けて前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子から出射される前記サンプリング対象の光信号を受けて前記光パルス信号として出射させる光カプラを準備する段階とを含み、
    前記サンプリング用光パルスの入射によって前記電界吸収型光変調器の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記サンプリング対象の光信号を前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うことを特徴とする光信号同期サンプリング方法。
  20. 監視対象の光信号を変調しているデータ信号のクロック周期の整数倍に対して所定オフセット時間だけ異なる周期を有するサンプリング用光パルスを出射するサンプリング用光パルス発生段階と、
    前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルスを用いて前記監視対象の光信号を同期サンプリングすることによって得られた光パルス信号を出力する光同期サンプリング段階と、
    前記光同期サンプリング段階によって出力された前記光パルス信号を受光して電気信号に変換して出力する光電変換段階と、
    前記光電変換段階によって出力された前記電気信号の包絡線波形の基本波成分と等しい周波数の基本波成分信号を出力する基本波成分信号出力段階と、
    前記基本波成分信号出力段階によって出力された前記基本波成分信号と所定のしきい値とを比較する比較段階と、
    前記比較段階において前記基本波成分信号が前記しきい値を超えるタイミングから前記光電変換段階によって出力された前記電気信号に対する波形情報の取得を開始するデータ取得制御段階とを有する光信号モニタ方法であって、
    前記光同期サンプリング段階は、
    光を入出射するための2つの光端子と、該2つの光端子間を結ぶ光路に電界を与えるための電源端子とを有し、前記光路を伝搬する光に対する吸収率が前記電界の大きさに応じて変化する特性を有し、前記2つの光端子の一方で前記監視対象の光信号を受ける電界吸収型光変調器を準備する段階と、
    前記電界吸収型光変調器の前記電源端子に、前記監視対象の光信号に対して前記電界吸収型光変調器が高い吸収率を示す所定の直流電圧を与える直流電源を準備する段階と、
    前記サンプリング用光パルス発生段階によって出射される前記サンプリング用光パルスを受けて前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の他方の光端子に入射させると共に、該電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子から出射される前記監視対象の光信号を受けて前記光電変換段階で前記電気信号に変換して出力する前記光パルス信号として出射させる光カプラを準備する段階とを含み、
    前記サンプリング用光パルスの入射によって前記電界吸収型光変調器の相互吸収飽和特性により吸収率を低下させ、前記監視対象の光信号を前記電界吸収型光変調器の前記2つの光端子の前記他方の光端子側へ通過させることにより、同期サンプリングを行うことを特徴とする光信号モニタ方法。
  21. 前記光電変換段階によって出力された前記電気信号を前記サンプリング用光パルスと同期したサンプリングクロックによってサンプリングすることにより、デジタル値に変換してデータ信号として出力するアナログ/デジタル(A/D)変換段階と、
    前記データ取得制御段階において、前記比較段階による出力信号に基づいて、前記A/D変換段階により出力される前記データ信号が書き込まれる複数の異なる領域を有する波形メモリを準備する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項20に記載の光信号モニタ方法。
  22. 前記データ取得制御段階は、前記比較段階において、前記基本波成分信号が前記しきい値を越えたタイミングから、前記波形メモリに対する前記データ信号の書き込みを開始し、所定数のデータ信号の書き込みが終了した後で、前記基本波成分信号が再度しきい値を越えるタイミングまで待機するという動作を所定回数繰り返し、前記所定数のデータ信号の書き込みを、前記波形メモリの前記複数の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に行うことを特徴とする請求項21に記載の光信号モニタ方法。
  23. 前記波形メモリに書き込まれた前記データ信号に基づいて、前記監視対象の光信号の品質を表す値を算出する演算段階をさらに含むことを特徴とする請求項22に記載の光信号モニタ方法。
  24. 前記演算段階は、前記波形メモリに書き込まれた前記データ信号を所定のしきい値と比較して、データ「1」に属するサンプル値と、データ「0」に属するサンプル値とに分け、それぞれのデータについてのサンプル値群の平均値、標準偏差を求め、その平均値の差μと標準偏差の和γの比μ/γを品質値Qとして求めることを特徴とする請求項23に記載の光信号モニタ方法。
  25. 前記演算段階は、前記所定数のデータ信号が前記波形メモリの前記複数の異なる領域に対してそれぞれアドレス順に各回ごとに記憶された所定ビット分の波形データをアドレス順に重ね合わせることにより、アイパターンを得ることを可能とすることを特徴とする請求項23に記載の光信号モニタ方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5380647B2 (ja) * 2007-05-25 2014-01-08 アンリツ株式会社 光信号サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5604042B2 (ja) * 2007-01-15 2014-10-08 アンリツ株式会社 光信号品質モニタ装置及びその方法
JP5372447B2 (ja) * 2008-09-22 2013-12-18 アンリツ株式会社 サンプリング装置および信号モニタ
FI20095063A0 (fi) * 2009-01-26 2009-01-26 Wallac Oy Optinen mittauslaite
JP2010193174A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 Anritsu Corp 光信号モニタ装置
JP2010199996A (ja) * 2009-02-25 2010-09-09 Anritsu Corp 光信号モニタ装置
JP2012083474A (ja) * 2010-10-08 2012-04-26 Anritsu Corp 光ゲート素子
JP2012083473A (ja) * 2010-10-08 2012-04-26 Anritsu Corp 光ゲート素子
JP2012181351A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Anritsu Corp 光ゲート素子
JP2012208413A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Anritsu Corp 光ゲート素子
CN113141209A (zh) * 2021-06-21 2021-07-20 国开启科量子技术(北京)有限公司 用于在量子通信***的发射端中检测强光的装置
CN116131940B (zh) * 2023-04-17 2023-07-07 广州赛宝计量检测中心服务有限公司 光不连续性测试仪校准装置、***及方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05196641A (ja) * 1991-12-13 1993-08-06 Hioki Ee Corp 波形測定装置の波形表示方法
JPH11223575A (ja) * 1997-12-01 1999-08-17 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光信号品質モニタ
JP2002055124A (ja) * 2000-08-10 2002-02-20 Anritsu Corp 波形測定装置
JP2002214050A (ja) * 2000-12-01 2002-07-31 Agilent Technol Inc 光サンプリング装置
JP2003090766A (ja) * 2001-07-13 2003-03-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光信号品質劣化要因監視方法および装置
JP2004286511A (ja) * 2003-03-20 2004-10-14 Anritsu Corp 光サンプリング装置および光波形観測システム
JP2005070698A (ja) * 2003-08-28 2005-03-17 National Institute Of Information & Communication Technology 光パルス分離装置
JP2005337844A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光サンプリング装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3507474B2 (ja) * 2001-01-11 2004-03-15 キヤノン株式会社 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置
EP1239623B1 (en) 2001-03-07 2011-05-11 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Optical wavelength division multiplex signal monitoring apparatus
US7200328B2 (en) 2001-07-13 2007-04-03 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Method and system for determining origin of optical signal quality degradation
JP2004222252A (ja) 2002-12-24 2004-08-05 Nec Corp 光信号モニタ装置、及びその方法
JP4328724B2 (ja) * 2005-01-17 2009-09-09 富士通株式会社 光波形測定装置および光波形測定方法
TWI291814B (en) * 2005-12-30 2007-12-21 Ind Tech Res Inst Apparatus and method for homodyne detecting quality-factor measuring
JP5604042B2 (ja) * 2007-01-15 2014-10-08 アンリツ株式会社 光信号品質モニタ装置及びその方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05196641A (ja) * 1991-12-13 1993-08-06 Hioki Ee Corp 波形測定装置の波形表示方法
JPH11223575A (ja) * 1997-12-01 1999-08-17 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光信号品質モニタ
JP2002055124A (ja) * 2000-08-10 2002-02-20 Anritsu Corp 波形測定装置
JP2002214050A (ja) * 2000-12-01 2002-07-31 Agilent Technol Inc 光サンプリング装置
JP2003090766A (ja) * 2001-07-13 2003-03-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光信号品質劣化要因監視方法および装置
JP2004286511A (ja) * 2003-03-20 2004-10-14 Anritsu Corp 光サンプリング装置および光波形観測システム
JP2005070698A (ja) * 2003-08-28 2005-03-17 National Institute Of Information & Communication Technology 光パルス分離装置
JP2005337844A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光サンプリング装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5380647B2 (ja) * 2007-05-25 2014-01-08 アンリツ株式会社 光信号サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法

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