JP4799000B2 - X線撮影装置及びx線撮影方法 - Google Patents
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Description
このように、本発明者は鋭意研究の結果、被写体回転型のX線CT装置の開発にあたり、X線発生装置と被写体を回転する回転装置を連携し、2次元X線センサへの到達線量を所定値に制御することは困難であることを新たに見出した。
X線を発生するX線発生手段のX線の照射領域内で被写体を回転する回転機構、または、前記X線発生手段を前記被写体の周囲を円運動させる回転機構のいずれかによって、前記被写体を、前記X線発生手段と前記X線発生手段に対向して設けられたX線センサとに対して相対的に回転させる回転手段と、
前記回転手段により前記被写体を前記X線発生手段と前記X線センサに対して相対的に回転させながら、該被写体を透過したX線を前記X線センサで検出することにより複数回の撮像処理を行って、複数の画像データを取得する撮像手段と、
前記X線センサの電荷蓄積時間を前記回転機構の回転角度に応じて変更する変更手段と、
前記被写体を透過して前記X線センサに到達したX線の透過線量を回転角度ごとに順次に測定する透過線量測定手段と、
前記回転機構の回転角度と回転速度の関係を予め記述したテーブルを記憶した記憶手段と、
前記透過線量に応じて前記テーブルの値を修正する修正手段と、を備え、
前記回転手段は、前記複数回の撮像処理の各々の電荷蓄積時間における前記X線センサに到達する前記X線の積分値が前記回転機構の回転中に一定値に近づくように、前記記憶手段に記憶された前記テーブルにしたがって前記回転機構の各回転角度における回転速度を決定し、
前記修正手段は、前記透過線量測定手段によって前記撮像処理に先立って測定された回転角度ごとのX線の透過線量に基づいて前記テーブルに記述されている各回転角度における回転速度を修正し、
前記回転手段は前記修正手段による修正後のテーブルに基づき前記回転機構の回転速度を制御し、
前記変更手段は決定された回転速度に応じて前記電荷蓄積時間を変更する。
X線を発生するX線発生手段のX線の照射領域内で被写体を回転する回転機構、または、前記X線発生手段を前記被写体の周囲を円運動させる回転機構のいずれかによって、前記被写体を、前記X線発生手段と前記X線発生手段に対向して設けられたX線センサとに対して相対的に回転させてX線撮影を行うX線撮影装置によるX線撮影方法であって、
回転手段が前記回転機構を回転させる回転工程と、
撮像手段が、前記回転工程により前記被写体を前記X線発生手段と前記X線センサに対して相対的に回転させながら、該被写体を透過した前記X線を前記X線センサで検出する撮像処理を複数回行って、複数の画像データを取得する撮像工程と、
変更手段が、前記X線センサの電荷蓄積時間を前記回転機構の回転角度に応じて変更する変更工程と、
透過線量測定手段が、前記被写体を透過して前記X線センサに到達したX線の透過線量を回転角度ごとに順次に測定する透過線量測定工程と、
修正手段が、記憶手段に記憶されている、前記回転機構の回転角度と回転速度の関係を予め記述したテーブルの値を、前記透過線量に応じて修正する修正工程と、を有し、
前記回転工程では、前記複数回の撮像処理の各々の電荷蓄積時間における前記X線センサに到達する前記X線の積分値が、前記回転機構の回転中に一定値に近づくように、前記記憶手段に記憶された前記テーブルにしたがって前記回転機構の各回転角度における回転速度を決定し、
前記修正工程では、前記透過線量測定工程で前記撮像処理に先立って測定された回転角ごとのX線の透過線量に基づいて、前記テーブルに記述されている各回転角度における回転速度を修正し、
前記回転工程では、前記修正工程による修正後のテーブルに基づき前記回転機構の回転速度を制御し、
前記変更工程では、決定された回転速度に応じて前記電荷蓄積時間を変更する。
図1は第1の実施形態に係るX線撮影装置の全体的な構成を示すブロック図である。図2は、実施形態に係るX線撮影装置の具体的な配置例を説明する図である。図3は実施形態に係るX線撮影装置における処理を説明するための概念図である。図4は第1の実施形態における処理の流れを示すフローチャートである。図5はX線源が一定X線量でX線を放射し、回転装置15が一定回転速度で回転している場合において、関心領域を透過して2次元X線センサ12に到達したX線の線量(X線到達線量)を示す図である。図5において、縦軸は2次元X線センサ12へのX線到達線量であり、横軸は回転装置15の回転角度を示している。図5の例では、被写体側面(180度、360度)での到達線量は小さくなり、被写体正面、背面(90度、270度)での到達線量は大きくなる傾向が示されている。図6は回転装置15の回転テーブルにおける回転角度と回転速度との関係を示す図である。縦軸が回転速度であり、横軸が回転角度を示している。この例では被写体側面(180度、360度)での回転速度は小さく、被写体正面、背面(90度、270度)での回転速度は大きい傾向を示している。第1の実施形態によるX線撮影装置では、X線撮影中にX線透過線量を検出し、検出されたX線透過線量に基づいて回転テーブルの回転速度を制御する。例えば、X線透過線量が図5に示されるような特性を有する場合には、図6に示されるような速度制御が実行されることになる。
第2の実施形態を図7及び図8を使用して説明する。図7は第2の実施形態に係るX線撮影処理の流れを示すフローチャートである。図8は回転装置15の回転角と回転速度の関係を記述する複数のテーブル30,31,32の例を示す。このテーブルは、胸部、腹部などの撮影部位、又は被写体の体格の大小関係等に対応してメインメモリ20に記憶されている。例えば、30は体格の小さい人の胸部撮影、31は体格の大きな人の胸部撮影、32は腹部撮影に対応した回転速度制御のテーブル例である。人体断面は一般的には楕円形であるので、回転角度と関心領域の透過線量の関係は一般化できる。そのため、上記のようにテーブルを撮影部位及び/又は体格によって一般化することが可能となる。
第3の実施形態を図9及び図10を使用して説明する。図9は第3の実施形態に係るX線撮影処理の流れを示すフローチャートであり、図10は第3の実施形態に係る回転装置15の回転角度と回転速度の関係を記述するテーブル33及び補正後のテーブル34を示す図である。なお、図10に示されるテーブルはメインメモリ20に記憶される。
第4の実施形態として、補正回路106で実施されるオフセット補正、及びゲイン補正のためのデータ収集、及びその処理について説明する。オフセット補正は、画像データの1画素毎に行われる処理である。ここで、オフセットとは、X線に起因する光の入射がなくても、画素毎に電荷が蓄積していく現象であり、その電荷量は積分時間に依存する。そのため、長時間であれば一般に値は大きくなる。しかし、その電荷量は積分時間に対して線形ではないためオフセット値を予測するのは一般に困難である。そのため、X線曝射を伴う撮影中の積分時間がわかっている場合には、撮影前に本撮影と同じ積分時間で各画素毎のオフセット量を収集して補正することが行われる。
・ 前オフセットデータと後オフセットデータを、対応する蓄積時間ごとに平均する方法。
・ X線データの前半(90度から270度まで)に対しては前オフセットデータ、X線データの後半(270度から90度まで)に対しては後オフセットデータを適用する方法。
12 2次元X線センサ
13 透過線量測定回路
14 生成回路
15 回転装置
16 被写体
17 透過線量計算回路
18 制御回路
20 メインメモリ
21 インタフェース手段
22 回転速度計算手段
106 補正回路
Claims (6)
- X線を発生するX線発生手段のX線の照射領域内で被写体を回転する回転機構、または、前記X線発生手段を前記被写体の周囲を円運動させる回転機構のいずれかによって、前記被写体を、前記X線発生手段と前記X線発生手段に対向して設けられたX線センサとに対して相対的に回転させる回転手段と、
前記回転手段により前記被写体を前記X線発生手段と前記X線センサに対して相対的に回転させながら、該被写体を透過したX線を前記X線センサで検出することにより複数回の撮像処理を行って、複数の画像データを取得する撮像手段と、
前記X線センサの電荷蓄積時間を前記回転機構の回転角度に応じて変更する変更手段と、
前記被写体を透過して前記X線センサに到達したX線の透過線量を回転角度ごとに順次に測定する透過線量測定手段と、
前記回転機構の回転角度と回転速度の関係を予め記述したテーブルを記憶した記憶手段と、
前記透過線量に応じて前記テーブルの値を修正する修正手段と、を備え、
前記回転手段は、前記複数回の撮像処理の各々の電荷蓄積時間における前記X線センサに到達する前記X線の積分値が前記回転機構の回転中に一定値に近づくように、前記記憶手段に記憶された前記テーブルにしたがって前記回転機構の各回転角度における回転速度を決定し、
前記修正手段は、前記透過線量測定手段によって前記撮像処理に先立って測定された回転角度ごとのX線の透過線量に基づいて前記テーブルに記述されている各回転角度における回転速度を修正し、
前記回転手段は前記修正手段による修正後のテーブルに基づき前記回転機構の回転速度を制御し、
前記変更手段は決定された回転速度に応じて前記電荷蓄積時間を変更することを特徴とするX線撮影装置。 - 前記透過線量測定手段は、前記画像データ中の特定領域の画素値に基づいて前記透過線量を測定することを特徴とする請求項1に記載のX線撮影装置。
- 前記回転機構の回転角度に対応して前記X線センサの出力を補正する補正用データに基づき前記画像データを補正する補正手段を更に備えることを特徴とする請求項1または2に記載のX線撮影装置。
- 前記補正用データは、オフセット補正に用いる画像データ、又はゲイン補正に用いる画像データであることを特徴とする請求項3に記載のX線撮影装置。
- X線を発生するX線発生手段のX線の照射領域内で被写体を回転する回転機構、または、前記X線発生手段を前記被写体の周囲を円運動させる回転機構のいずれかによって、前記被写体を、前記X線発生手段と前記X線発生手段に対向して設けられたX線センサとに対して相対的に回転させてX線撮影を行うX線撮影装置によるX線撮影方法であって、
回転手段が前記回転機構を回転させる回転工程と、
撮像手段が、前記回転工程により前記被写体を前記X線発生手段と前記X線センサに対して相対的に回転させながら、該被写体を透過した前記X線を前記X線センサで検出する撮像処理を複数回行って、複数の画像データを取得する撮像工程と、
変更手段が、前記X線センサの電荷蓄積時間を前記回転機構の回転角度に応じて変更する変更工程と、
透過線量測定手段が、前記被写体を透過して前記X線センサに到達したX線の透過線量を回転角度ごとに順次に測定する透過線量測定工程と、
修正手段が、記憶手段に記憶されている、前記回転機構の回転角度と回転速度の関係を予め記述したテーブルの値を、前記透過線量に応じて修正する修正工程と、を有し、
前記回転工程では、前記複数回の撮像処理の各々の電荷蓄積時間における前記X線センサに到達する前記X線の積分値が、前記回転機構の回転中に一定値に近づくように、前記記憶手段に記憶された前記テーブルにしたがって前記回転機構の各回転角度における回転速度を決定し、
前記修正工程では、前記透過線量測定工程で前記撮像処理に先立って測定された回転角ごとのX線の透過線量に基づいて、前記テーブルに記述されている各回転角度における回転速度を修正し、
前記回転工程では、前記修正工程による修正後のテーブルに基づき前記回転機構の回転速度を制御し、
前記変更工程では、決定された回転速度に応じて前記電荷蓄積時間を変更することを特徴とするX線撮影方法。 - X線を発生するX線発生手段のX線の照射領域内で被写体を回転する回転機構、または、前記X線発生手段を前記被写体の周囲を円運動させる回転機構のいずれかによって、前記被写体を、前記X線発生手段と前記X線発生手段に対向して設けられたX線センサとに対して相対的に回転させてX線撮影を行うX線撮影装置のコンピュータに、
前記回転機構を回転させる回転工程と、
前記回転工程により前記被写体を前記X線発生手段と前記X線センサに対して相対的に回転させながら、該被写体を透過した前記X線を前記X線センサで検出する撮像処理を複数回行って、複数の画像データを取得する撮像工程と、
前記X線センサの電荷蓄積時間を前記回転機構の回転角度に応じて変更する変更工程と、
前記被写体を透過して前記X線センサに到達したX線の透過線量を回転角度ごとに順次に測定する透過線量測定工程と、
記憶手段に記憶されている、前記回転機構の回転角度と回転速度の関係を予め記述したテーブルの値を、前記透過線量に応じて修正する修正工程と、を実行させ、
前記回転工程では、前記複数回の撮像処理の各々の電荷蓄積時間における前記X線センサに到達する前記X線の積分値が、前記回転機構の回転中に一定値に近づくように、前記記憶手段に記憶された前記テーブルにしたがって前記回転機構の各回転角度における回転速度を決定し、
前記修正工程では、前記透過線量測定工程で前記撮像処理に先立って測定された回転角ごとのX線の透過線量に基づいて、前記テーブルに記述されている各回転角度における回転速度を修正し、
前記回転工程では、前記修正工程による修正後のテーブルに基づき前記回転機構の回転速度を制御し、
前記変更工程では、決定された回転速度に応じて前記電荷蓄積時間を変更する、ことを特徴とするプログラム。
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