JP4758862B2 - 質量分析方法及び装置 - Google Patents
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Claims (6)
- 試料をイオン化するイオン化部と、
前記イオン化部により生成されたイオンの中から特定のイオン種を選択して解離させる解離部と、
前記イオン化部によってイオン化されたイオンあるいは前記解離部によって生じたイオンを質量分析する質量分析部と、
前記質量分析部から継続的にマススペクトルデータを取得し、取得したマススペクトルデータに対して処理を行うと共に、装置各部を制御する制御部とを有し、
前記制御部は、前記イオン化部に試料分離手段によって成分に分離された試料が順次供給されているとき、前記質量分析部から取得したマススペクトルデータからピーク情報を抽出し、前記ピーク情報をもとにピークの干渉の有無を判断し、ピークの干渉がある場合、当該干渉ピークを過去に取得したマススペクトルデータを用いて分離し、前記干渉ピークを分離して得られたマススペクトルデータからイオンの価数を判定し、前記判定されたイオンの価数を用いて前記解離部で解離させるイオン種を選択する処理を行うことを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1記載の質量分析装置において、表示部のマススペクトルを表示する画面に、当該マススペクトルのピークを構成するイオンに対して前記判定された価数及び干渉情報を表示することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1記載の質量分析装置において、マススペクトル毎にピークを構成するイオンの質量対電荷比、前記判定された価数、信号強度、同位体情報、及び干渉情報を記憶部に記録することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1記載の質量分析装置において、干渉しているピークを前駆イオンとして選択するか否かの指示を入力する入力部を有し、前記入力部に干渉しているピークを前駆イオンとして選択しない旨の指示が入力されたとき、前記解離部で解離させる前駆イオンを干渉ピークを除いた候補から選択することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1記載の質量分析装置において、前記干渉ピークの分離は、前記干渉しているピークに対して、前記過去に取得したマススペクトルの同一ピークの強度を正規化して減算することで行うことを特徴とする質量分析装置。
- 成分に分離されて供給される試料を順次イオン化し、生成されたイオンの中から特定のイオンを選択して解離させる工程を有する質量分析方法において、
イオンのマススペクトルデータを取得する工程と、
前記マススペクトルデータ中の干渉ピークを判定する工程と、
過去に取得したマススペクトルデータを用いて前記干渉ピークを分離する工程と、
前記干渉ピークを分離したマススペクトルデータを用いてイオンの価数を判定する工程と
を有することを特徴とする質量分析方法。
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