JP4698101B2 - 基板の重ね合わせ機構および基板の重ね合わせ方法 - Google Patents

基板の重ね合わせ機構および基板の重ね合わせ方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、対向するように重ね合わせて高精度に位置合わせを行うのに好適な、基板の重ね合わせ機構および基板の重ね合わせ方法関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶表示パネルは、ガラス製の2枚の基板が対向配置されて貼り合わされ、その貼り合わされた2枚の基板間に液晶が封入されて製造される。このような液晶表示パネル等の製造工程では、ガラス製の2枚の基板に形成されたアライメント(位置決め用)マークに基づく高精度な位置合わせないしは位置決め操作を経て、2枚の基板の重ね合わせが行われる。
【0003】
図7は、従来の基板、及びその基板の重ね合わせ機構を採用した液晶基板の貼合わせ装置の平面図で、図8(a)及び図8(b)はそれぞれ、図7に示す装置で貼り合わされるガラス製の基板、すなわち上基板1U、及び下基板1Dの拡大平面図である。
【0004】
図7に示すように、液晶基板の貼合わせ装置では、まず、上基板1U及び下基板1Dは、対向配置された一対の供給機構2U、2Dに順次供給される。
【0005】
一対の供給機構2U、2D間には、旋回しつつ図示矢印Y方向に伸縮自在なアーム3aを有して矢印X方向に移動自在な搬送ロボット3が配置されていて、上基板1U及び下基板1Dは、その搬送ロボット3により、隣接して配置された2台の貼合わせ装置4,4に交互に搬送供給される。
【0006】
貼合わせ装置4,4で重ね合わされるガラス製の上基板1U及び下基板1Dは、図8に示したように、例えば4枚の液晶パネルを取り出し製造できるようにパターン形成されていて、各基板(上基板1U及び下基板1D)の中央左右両端部の2か所に、それぞれ十字状の位置決め用のマーク1U1,1U2、及び1D1,1D2が対をなすように印刷形成されている。
【0007】
また、下基板1D面には、そのパターンに沿い接着剤5が予め塗布描画されており、マーク1U1,1U2、及び1D1,1D2に基づく基板の位置決め調整後に、接着剤5を介した上基板1Uと下基板1Dとの貼り合わせが行われる。
【0008】
貼り合わされた上基板1Uと下基板1Dは、搬送ロボット3に受け渡され、次の液晶注入工程へと搬送されるべく、図7に示す搬出台6に供給される。
【0009】
貼合わせ装置4,4は、図9の正面図に示したように構成され、まず上下(Z軸)方向に移動可能な上方の吸着ヘッド41が、搬送ロボット3から上基板1Uを先に受取り吸着保持し、次に下方の吸着ステージ42が下基板1Dを搬送ロボット3から受取り吸着保持する。
【0010】
吸着ステージ42内には、CCDカメラ等の撮像機器431,432が装着されていて、吸着ヘッド41に吸着保持された上基板1Uが図示Z方向に降下し、下基板1Dに軽く重ね合わされた状態で、ガラス製の各基板に形成されたマーク1U1,1U2、及び1D1,1D2を撮影するように構成されている。
【0011】
上方の吸着ヘッド41は、X−Y−θ移動テーブル44に組込まれていて、吸着ヘッド41を組み込んだX−Y−θ移動テーブル44は、制御器7により駆動制御される。
【0012】
制御器7は、撮像機器431,432から、各マーク1U1,1U2、及び1D1,1D2の撮像パターンの供給を受け、それに基づき、上基板1U、下基板1D間の位置ずれ量が許容範囲内に収まるように、X−Y−θ移動テーブル44を駆動制御する。
【0013】
図10(a)は、適正位置に重ね合わされた状態での撮像機器431により取り込まれた撮像パターン図である。
【0014】
2枚の基板(上基板1U及び下基板1D)が適正に重ね合わされた状態では、図10(a)に示すように、対をなす十字状のマーク1U1,1U2,及び1D1,1D2間にそれぞれ結ばれた直線Lu,Ldが直交するように交差し、かつマーク1U1,1U2、及び1D1,1D2の各中間位置Pu,Pdが一致する。 従って、たとえば上基板1Uが吸着ヘッド41に傾いて保持され、図10(b)に示すように各中間位置Pu,Pd間がX−Y方向にΔx,Δy分ずれたとき、制御器7に内蔵されたマイコンは、各撮像機器431,432からの撮像パターンから、公知のパターンマッチング手法を用いた画像処理により、中間位置Pu,Pdの座標位置を算出し、各中間位置Pu,Pdが一致するようX−Y−θ移動テーブル44を駆動制御する。
【0015】
このように、吸着ヘッド41及び吸着テーブル42に吸着保持されつつ重ね合わされた上下2枚の基板(1U,1D)は、撮像機器431,432と制御器7とによる位置ずれ検出操作と、制御器7及びX−Y−θ移動テーブル44による位置ずれ補正操作とを経て、適正な貼合わせに向けた位置合わが行われる。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
上記説明のように、従来の基板の重ね合わせ機構及び重ね合わせ方法では、制御器7はマーク1U1,1U2、1D1,1D2の撮像パターンから、中間位置Pu,Pdを算出して制御するので、各撮像機器431,432は、その撮像視野内において、各マーク1U1,1U2、1D1,1D2の位置を個々に認識できることが条件とされる。
【0017】
ところで、最近の液晶表示パネルでは、表示画面の一層の高精細化が進展し、基板の重ね合わせに際して、ミクロン単位のより高精度な位置決めが要求され、そのため、顕微鏡型で倍率の高い撮像機器431,432が採用されるようになってきている。
【0018】
高精度な位置決めでは、上基板1Uと下基板1Dとの間の位置ずれ量がわずかでも大きくなると、図11(a)に示すように、2個一対のマークのうちいずれか一方が、他の基板のマークと重なってしまうことがある。なお、図11は図10と同様に、撮像機器431により取り込まれた撮像パターンを示している。
【0019】
図10及び図11(a)では、説明の便宜上、平行斜線の有無により、上基板1Uのマーク1U1,1U2と下基板1Dのマーク1D1,1D2を区別して示しているが、実際には背景となる透明なガラス基板と識別できれば良いので、十字状のマークはいずれも、たとえば黒く塗られて表示されている。
【0020】
従って、図11(a)に示したように、2個一対のマークのうち例えばマーク1U2とマーク1D2とが部分的に重なってしまうと、撮像パターンは図11(b)に示したようになり、重なったマークはいずれも十字状のマークとして認識されないので、認識エラーとなり、制御器7は位置ずれ補正ができなくなるという問題があった。
【0021】
このように、いずれか一方のマークが互いに重なり合い、認識エラーの状態となり装置が停止すると、作業員は、X−Y−θ移動テーブル44を移動操作し、重なったマークが引き離れるように、基板1Uの位置をずらし、改めて撮像機器431,432及び制御器7による位置補正操作を再開させことになるので作業効率は著しく低下した。
【0022】
もちろん、はじめから2つのマークが重ならないように、貼合わせ装置4,4に供給保持されれば良いが、基板の搬送移動、並びに受け渡しの各過程においては多少の位置ずれが避けられない以上、マークの重なりを解消することは現実的には容易ではなく対応改善が要望されていた。
【0023】
そこで本発明は、基板の貼合わせ装置が、上下2枚の基板における2個一対のマークのうちいずれかが互いに部分的に重なるように重なり合ったとしても、マークによる2枚の基板の位置合わせ操作が円滑かつ適正に行うことができる基板、及びその基板の重ね合わせ機構、並びに重ね合わせ方法を提供することを目的とする。
【0024】
【課題を解決するための手段】
第1の発明は、透光性を有し、位置決め用のマークをそれぞれ形成した2枚一組の基板において、前記2枚一組のうち、いずれか一方の基板に形成された前記マークが他の基板のマークとは、明度あるいは色相を異にして着色されていることを特徴とする。
【0025】
このように、この発明の基板は、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは異なる色に着色されて構成されたものである。
【0026】
従って、着色されたマークの色と同じ色の光をガラス製の基板に照射し、その照射された基板を撮像機器が撮影したとき、着色されたマークは背景に溶け込み、着色されない側の一対のマークのみが背景から浮かび上がるので、撮像画面上において、着色されない側の一対のマーク形状を的確に捕えることができる。
【0027】
従って、例えば白色光と着色されたマークの色と同じ色の光とを切替え照射して撮影し、一部重なった2組のマークパターンと、着色されない側の一対のマークのみのマークパターンの2種類の撮像パターンを得ることができる。
【0028】
従ってまた、その2種類の各撮像パターンを対比し、そのパターン差の認識処理演算により、着色された側のマークのパターンのみを算出することができる。
【0029】
このように、この発明の基板によれば、たとえ一部マークに重なりがあっても、撮像パターン及びそのパターンの認識処理演算により、各マークパターンを正確に得ることができるので、従来と同様に、一対のマークの中間位置を演算により求めつつ位置ずれ補正を行い、適正かつ高精度な重ね合わせを行うことができる。
【0030】
第2の発明は、基板の重ね合わせ機構において、透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、明度あるいは色相を異にして着色された2枚一組の基板と、この2枚一組の基板をそれぞれの基板に設けられた前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ手段と、この重ね合わせ手段により重ね合わされた前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を照射自在に構成された光源と、この光源からの照射光の透過光により、前記2枚一組の基板のマークを撮影する撮像機器と、この撮像機器で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出手段と、この検出手段で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正手段とを具備することを特徴とする。
【0031】
また、第3の発明は、基板の重ね合わせ方法において、透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、明度あるいは色相を異にして着色されてなる2枚一組の基板を、それぞれの基板に設けられた前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ工程と、この重ね合わせ工程により、重ね合わされた前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を切替え照射する照射工程と、この照射工程により照射された光のもとで、前記2枚一組の基板のマークを撮影する撮影工程と、この撮影工程で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出工程と、この検出工程で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正工程とからなることを特徴とする。
【0032】
上記第2の発明の基板の重ね合わせ機構、及び第3の発明の基板の重ね合わせ方法は、いずれも上記第1の発明の基板を採用した基板の重ね合せ機構及び重ね合せ方法に関する。
【0033】
すなわち、第2の発明の基板の重ね合わせ機構は、着色光の光源やその光源からの光により基板のマークを撮像する撮像機器、並びに位置ずれを検出する検出手段等を有し、また第3の発明の基板の重ね合わせ方法は、着色光を照射する照明工程や照射された基板のマークを撮影する撮影工程、並びに位置ずれを検出する検出工程等を有するので、一部重なったマークをそれぞれ分離して捕えることができ、2枚の基板間の位置ずれを検出して補正を行い、適正かつ円滑に重ね合わせることができる。
【0034】
なお、上記第2及び第3の発明に関連し、一部重なったマークをそれぞれ分離して捕えるために、着色されたマークが撮像画面の背景に溶け込むように構成されれば良いので、上記のようにマークの色と同じ色の光(着色光)を照射して撮影する方法のほかにも、透光性の色フィルタを介して撮影したり、あるいは着色光を反射する反射板を背後にマークを撮影するように構成しても、上記第2及び第3の発明と同様な機能及び効果を得ることができる。
【0035】
【発明の実施の形態】
以下、本発明による基板、及びその基板の重ね合わせ機構、並びに重ね合わせ方法の一実施の形態を図1ないし図6を参照して詳細に説明する。なお、図7ないし図11に示した従来の基板、及びその基板の重ね合わせ機構と同一構成には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
【0036】
すなわち、図1(a)及び(b)は、本発明による基板の一実施の形態を示したもので、図1(a)は上基板8Uの平面図、図1(b)は下基板8Dの平面図である。また、図2は、本発明による基板の重ね合わせ機構の一実施の形態を採用した液晶基板の貼合わせ装置の平面図で、その装置構成の中で、貼合わせ装置9,9及び制御器10は、図3に示すように構成されている。
【0037】
まず、図1に示した本発明の一実施の形態の上基板8U及び下基板8Dは、いずれも従来と同様に、透明なガラス製からなり、透光性を有して4枚の液晶パネルを取り出し製造できるようにパターン形成されているとともに、各基板(上基板1U及び下基板1D)の中央左右両端部の2か所に、それぞれ一対の十字状の位置決め用の(アライメント)マーク8U1,8U2、及び8D1,8D2が形成されている。
【0038】
そして、この実施の形態では、上基板8Uのマーク8U1,8U2は赤色に着色され、下基板8Dのマーク8D1,8D2は黒色に塗られて表示されている。
【0039】
図2に示した液晶基板の貼合わせ装置において、対向配置された一対の供給機構2U、2Dに順次供給された上基板8U及び下基板8Dは、搬送ロボット3により、2台の貼合わせ装置9,9に交互に搬送供給される。
【0040】
貼合わせ装置9,9で重ね合わされる上基板8U及び下基板8Dは、図3に示したように、上基板8Uは吸着ヘッド91に、また下基板8Dは吸着ステージ92にそれぞれ吸着保持され、吸着ヘッド91が降下して、わずかな間隔を隔ててあるいは軽く接触した状態で対向するように重ね合わされる。
【0041】
吸着ステージ92に取付け固定されたCCDカメラ等の撮像機器931,932は、それぞれ対応するマーク8U1,8U2、及び8D1,8D2を撮影し、その撮像パターンは撮像機器931,932とともに位置ずれ検出手段を担う制御器10に供給される。
【0042】
また、吸着ヘッド91には、撮像機器931,932に対応して、光源941,942が設けられ、光源941,942からの光が、ガラス製の上基板8U及び下基板8Dをそれぞれ介して撮像機器931,932に向け照射されるように構成されている。
【0043】
各光源941,942には、それぞれ白色ランプ94a及び赤色ランプ94bが選択的に切替え点灯可能に並設されていて、制御器10の制御により切替え点灯される。
【0044】
そこでまず、白色ランプ94aが点灯され、その白色ランプ94aからの光は、マークが付された透光性の上基板8U及び下基板8Dをそれぞれ通過して撮像機器931,932に照射されるので、マーク8U1,8U2、及び8D1,8D2を撮影して得られた撮像機器931,932からのデジタル撮像パターンは、制御器10のCPU101に順次供給されるとともに、CPU101からRAM等で構成された第1のフレームメモリ102に供給され個別に記憶される。具体的には例えば、撮像機器931,932にて取り込まれた撮像パターンを、マーク8U1,8U2及び8D1,8D2に対応する明るさと背景部分に対応する明るさの間に設定された二値化しきい値(マーク8U1,8U2及び8D1,8D2を背景画像から分離する二値化しきい値)で二値化処理して二値化画像パターンを生成し、この二値化画像が第1のフレームメモリ102に記憶される。
【0045】
以下、撮像機器931により取り込まれた撮像パターンを例に説明する。
【0046】
まず、CPU101は、第1のフレームメモリ102に記憶された二値化画像パターンから、各対応する一対のマーク8U1,8U2及び8D1,8D2の認識を行なう。このとき、各マーク8U1,8U2及び8D1,8D2を正常に認識できた場合、従来技術と同様な手順で各基板8U、8Dの位置合せを行ない、各マーク8U1,8U2及び8D1,8D2を正常に認識することができなかった場合には、後述する手順により、各マーク8U1,8U2及び8D1,8D2の認識を行なう。
【0047】
すなわち、撮像機器931からの白色ランプ94aの点灯照射による撮像パターンが、図10(a)あるいは図10(b)に示されたのと同様に、各マーク8U1,8U2、及び8D1,8D2がいずれも他と重なることなく個々に独立分離した状態であるときは、CPU101は各マーク8U1,8U2及び8D1,8D2を正常に認識することが可能である。従って、CPU101は、第1のフレームメモリ102に記憶された二値化画像パターンから各対応する一対のマーク8U1,8U2及び8D1,8D2の各中間位置Pu,Pdを演算により算出する。そして他方の撮像機器932により取り込まれた撮像パターンから得た各中間点位置に基づいて、各中間位置Pu,Pdが一致するようにX−Y−θ移動テーブル95を制御して位置合せを行う。
【0048】
他方、撮像機器931からの白色ランプ94aの点灯照射による撮影パターンが、図4に示したように、マーク8U1,8U2、及び8D1,8D2のいずれか、たとえば図示にように8U2,8D2が互いに部分的に重なった状態である場合、CPU101は各マーク8U1,8U2及び8D1,8D2を正常に認識することができない。この場合、CPU101は、照明ランプを白色ランプ94aから赤色ランプ94bに切替え点灯するよう光源941,942を制御する。
【0049】
切替え点灯された赤色ランプ94bの光の色は、同じ色相の赤色で着色された2個一対のマーク8U1,8U2の色とは同系統の色すなわち同系色であるので、マーク8U1,8U2は、図5(a)に平行斜線で表したように、同系色からなる赤色ランプ94bの光の色(背景色)に溶け込んでしまい、黒色に着色された他方の基板のマーク8D1,8D2のみが背景から浮かび上がったように撮像される。その撮像パターンは制御器10のCPU101を経て、RAMで構成された第2のフレームメモリ103に供給記憶される。具体的には例えば、CPU101は、撮像機器931にて取り込まれた撮像パターンを、マーク8U1,8U2の赤色に対応する明るさとマーク8D1,8D2の黒色に対応する明るさとの間に設定された二値化しきい値(マーク8D1,8D2をマーク8U1,8U2および背景画像から分離する二値化しきい値)で二値化処理して二値化画像パターン(図5(b))を生成し、この二値化画像パターンを第2のフレームメモリ103に記憶させる。このとき、赤色ランプ94bの光の色(背景色)は、マーク8U1,8U2の赤色と同色或いはそれに近い赤色であるので、上記二値化しきい値にて二値化された画像パターンは、背景部分とマーク8U1,8U2とが同色(白色)となり、二値化画像中にマーク8U1,8U2は表示されず、マーク8D1,8D2のみが切り出される。
【0050】
CPU101は、その二値化画像からマーク8D1,8D2の中間位置Pdを演算により算出し、その算出された位置情報(中間位置Pd)をRAMで構成されたメモリ104に一旦供給されて記憶させる。
【0051】
次に、制御器10のCPU101は、第1のフレームメモリ102の図4(b)に示した二値化画像パターンと、第2のフレームメモリ103の図5(b)に示した二値化画像パターンをそれぞれ読み出し、2種類の両撮像パターンを対比し、その差の認識処理演算によって、図6に示すように赤色に着色された側の2個一対のマーク8U1,8U2のパターンを算出し、その算出したパターンから中間位置Puを求め、RAMで構成されたメモリ104に供給記憶する。
【0052】
差の認識処理演算によって得られた一対のマーク8U1,8U2は赤色に着色されたマークであるが、差の演算処理により、図6に示したように、黒色が付された他方のマーク8D2と重なった部分のみが欠けたに過ぎないパターン形状であり、中間位置Puは支障なく算出される。
【0053】
この後、CPU101は、メモリ104に記憶された各中間点位置Pu,Pdと、他方の撮像機器932により取り込まれた撮像パターンから得た中間点位置Pu,Pdとに基づいて、各中間点位置Pu,Pdが一致するようにX−Y−θ移動テーブル95を制御して位置合わせを行なう。
【0054】
以上説明のように、この実施の形態の基板の重ね合せ機構及び重ね合せ方法によれば、いずれか一方の基板の位置決め用のマークが他の基板の位置決め用のマークとは異なる色、すなわち異なる明度あるいは色相の色に着色されて構成されたので、その着色の色と同系色の色の背景が得られるように切替えて撮像パターンを得るので、たとえマークの一部が重なり合ったとしても、演算処理により、個々の一対のマーク位置を分離して抽出することができる。
【0055】
このように、本発明によれば、たとえマークの一部が2枚の基板間で重なったとしても、位置補正操作を効率良く行い、適切かつ円滑な位置合わせを自動的に実施することができる。
【0056】
なお、上記説明の実施の形態による基板の重ね合わせ機構及び方法では、光源に着色マークの色と同系色のランプを切替え点灯させたが、要するに着色マークの色と同系色の色の背景が得られるように光が照射されればよいので、赤色ランプ94bを省き、赤色のみを透過させるいわゆる色フィルタを、基板8U,8Dの上下いずれかに、選択的に切替え介挿されるように構成しても同様な機能及び効果を得ることができる。
【0057】
また、白色ランプ94aと赤色ランプ(一方の基板の着色マークの色と同系色のランプ)94bとから構成される光源941,942を撮像機器931,932側に配置し、このランプ94a、94bを切替え点灯させるように構成しても同様な機能及び効果を得ることができる。なお、この場合、基板8U、8Dを透過して撮像機器931,932にて撮像される背景部(吸着ヘッド91の上基板8Uの吸着面)は、白色或いは白色に近い色彩であることが好ましい。
【0058】
また、撮像機器931,932にて取り込まれた撮像パターンから、上基板8Uのマーク8U1,8U2と下基板8Dのマーク8D1,8D2を分離する手段として、上基板8Uのマーク8U1,8U2の色と同系色の光や背景を用いる例を説明したが、これに限られるものではない。
【0059】
具体的には例えば、まず、白色ランプを用いた光源による照明のもとで、撮像機器931,932によりマーク8U1,8U2及び8D1,8D2を撮像する。CPU101は、撮像機器931,932にて取り込まれた撮像パターンを、マーク8U1,8U2及び8D1,8D2と背景画像とを分離する二値化しきい値(第1の二値化しきい値)で二値化処理して二値化画像パターンを生成するとともに、この二値化画像パターン中のマーク8U1,8U2及び8D1,8D2の認識を行なう。
【0060】
この二値化画像パターンから全てのマーク8U1,8U2及び8D1,8D2についての適正な認識が行なえなかったときには、二値化しきい値を、赤色のマーク8U1,8U2からの光量レベルと黒色のマーク8D1,8D2からの光量レベルとの間に設定された二値化しきい値、すなわち、マーク8U1,8U2および背景画像とマーク8D1,8D2とを分離する二値化しきい値(第2の二値化しきい値)に切替える。そして、再度、白色ランプの照明のもとで撮像した撮像機器931,932による撮像パターンを、切替えた第2の二値化しきい値で二値化処理し、マーク8D1,8D2のみを切り出した二値化画像を生成する。これにより、撮像機器931,932による撮像パターン中から、マーク8D1,8D2のみを切り出すことができる。
【0061】
なお、マーク8U1,8U2の画像の切り出しは、第1の実施形態と同様に、第1の二値化しきい値による二値化画像パターンと第2の二値化しきい値による二値化画像パターンとの差の認識処理演算により行なうことができる。
【0062】
このような手段によっても、マーク8U1,8U2及び8D1,8D2の一部が重なり合っていたとしても、個々の一対のマーク8U1,8U2及び8D1,8D2を分離して抽出することができるので、第1の実施の形態と同様な機能及び効果を得ることができる。
【0063】
また、本発明の基板の重ね合わせ機構及び方法は、着色マークの色と同系色の色の背景を得るために、着色された色と同系色の色を反射させる反射板、すなわち上記実施の形態では赤色の色反射板が選択的に背景に挿入されるように構成し、撮像機器931,932側からの照明により撮像するように構成してもまた同様な機能及び効果を得ることができる。なおこの場合、赤色に着色されたマークを非透光性とし、このマークと対で用いられる他方のマークを反射率が高い色(例えば、銀色)で形成するとともに、色反射板を背景に挿入して撮像するときには、撮像機器側から光を照射し、色反射板を背景に挿入せずに撮像するときには、基板を挟んで撮像機器と対向する側から光を照射するようにするとよい。
【0064】
なお、上記各説明において、光源941,942が吸着ヘッド91側に、また撮像機器931,932が吸着テーブル92側に設置されるものとして説明したが、これに限らず、たとえば反対に、光源941,942を吸着テーブル92側に、また撮像機器931,932を吸着ヘッド91側に設置することもできる。
また、上基板8U,下基板8Dの位置合わせに、上基板8U側を降下させるように説明したが、もちろん下基板8U側を上昇させてもよく、さらにX−Y−θ移動テーブル95を吸着ヘッド91側に構成したが、吸着テーブル92側に構成しても良い。
【0065】
また、着色マークの色を赤色とし、他方のマークの色を黒色とした例を用いたが、これに限られるものではなく、双方のマークが互いに異なる明度あるいは異なる色相で着色されていれば良く、その色の組み合わせは自由である。
【0066】
さらにまた、光源941,942の発光源としてランプを使用する旨説明したが、LEDその他の照明器具をも採用できることは言うまでもない。
【0067】
いずれにしても、本発明の基板、及びその基板を用いた基板の重ね合わせ機構、並びに重ね合わせ方法によれば、たとえ2個一対の位置決め用のマークのいずれか一方が、他方の基板のマークと重なったとしても、これを自動的に分離して捕え、2枚の基板の重ね合わせ操作を適切かつ自動的に行うことができるので、液晶表示パネルの製造等に適用し、その製造効率の効率化を実現でき、実用に際し顕著な効果を得ることができる。
【0068】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、重ね合わせが行われる2枚の基板の位置決めが円滑かつ適切に行われるものであり、液晶表示パネル等の製造に採用して実用上得られる効果大である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による基板の一実施の形態を示した平面図である。
【図2】図1に示す基板の貼合わせに採用される液晶基板の貼合わせ装置の平面図である。
【図3】図2に示す貼合わせ装置及び制御器の要部構成図である。
【図4】図3に示す白色ランプに照射された基板の撮像機器による撮像パターンの説明図である。
【図5】図3に示す赤色ランプに照射された基板の撮像機器による撮像パターンの説明図である。
【図6】図3に示す制御器における処理によって得られるパターン図である。
【図7】従来の基板の貼合わせ装置を示す平面図である。
【図8】図7に示す装置に使用される基板の平面図である。
【図9】図7に示す貼合わせ装置及び制御器の要部構成図である。
【図10】図9に示す撮像機器による撮像パターンの説明図である。
【図11】図9に示す撮像機器による撮像パターンの説明図である。
【符号の説明】
1U 上基板
1D 下基板
2U,2D 供給機構
3 搬送ロボット
4 貼合わせ装置
41 吸着ヘッド
42 吸着ステージ
431,432 撮像機器(検出手段)
44 X−Y−θ移動テーブル(補正手段)
5 接着剤
6 搬出台
7 制御器
8U 上基板
8U1,8U2 (位置決め用)マーク
8D 下基板
8D1,8D2 (位置決め用)マーク
9 貼合わせ装置
91 吸着ヘッド
92 吸着ステージ
931,932 撮像機器(検出手段)
941,942 光源
94a 白色ランプ
94b 赤色ランプ
95 X−Y−θ移動テーブル(補正手段)
10 制御器(検出手段、補正手段)
101 CPU
102 第1のフレームメモリ
103 第2のフレームメモリ
104 メモリ
Pu,Pd 中間位置

Claims (8)

  1. 透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、色相を異にして着色された2枚一組の基板の重ね合わせ機構であって
    前記2枚一組の基板をそれぞれの基板に形成された前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ手段と、
    前記2枚一組の基板の一方側に配置され、前記重ね合わせ手段により重ね合わされた前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を含む複数の色の光を照射自在に構成された光源と、
    前記2枚一組の基板の他方側に配置され、前記光源からの照射光の透過光により、前記2枚一組の基板に形成された前記マークを撮影する撮像機器と、
    この撮像機器で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出手段と、
    この検出手段で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正手段と
    を具備することを特徴とする基板の重ね合わせ機構。
  2. 透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、色相を異にして着色された2枚一組の基板の重ね合わせ機構であって
    前記2枚一組の基板をそれぞれの基板に形成された前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ手段と、
    前記2枚一組の基板の一方側に配置された光源と、
    前記2枚一組の基板の他方側に配置され、前記光源からの照射光の透過光により、前記2枚一組の基板に形成された前記マークを撮影する撮像機器と、
    前記光源と前記撮像機器との間にて挿入自在に設けられ、挿入時に前記重ね合わせ手段により重ね合わされた前記2枚一組の基板のマーク位置に対向し、前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を透過する色フィルタと、
    前記撮像機器で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出手段と、
    この検出手段で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正手段と
    を具備することを特徴とする基板の重ね合わせ機構。
  3. 透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、色相を異にして着色された2枚一組の基板の重ね合わせ機構であって
    前記2枚一組の基板をそれぞれの基板に形成された前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ手段と、
    前記2枚一組の基板の一方側に配置された光源と、
    前記光源と同じ側に配置され、前記光源からの照射光の反射光により、前記2枚一組の基板に形成された前記マークを撮影する撮像機器と、
    前記2枚一組の基板の他方側にて挿入自在に設けられ、挿入時に前記重ね合わせ手段により重ね合わされた前記2枚一組の基板のマーク位置に対向し、前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を反射させる色反射板と、
    前記撮像機器で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出手段と、
    この検出手段で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正手段と
    を具備することを特徴とする基板の重ね合わせ機構。
  4. 前記検出手段は、少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光の照射または透過あるいは反射による撮像パターンと、前記色とは色相を異にした他の光の照射による撮像パターンとの差に基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出することを特徴とする請求項1ないし3のうちのいずれか1項に記載の基板の重ね合わせ機構。
  5. 透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、色相を異にして着色されてなる2枚一組の基板を、それぞれの基板に形成された前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ工程と、
    前記2枚一組の基板の一方側に配置された光源より、前記重ね合わせ工程により重ね合わされた前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を含む複数の色の光を切替え照射する照射工程と、
    この照射工程により照射された光のもとで、前記2枚一組の基板に形成された前記マークを前記2枚一組の基板の他方側に配置された撮像機器で撮影する撮影工程と、
    この撮影工程で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出工程と、
    この検出工程で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正工程と
    を有することを特徴とする基板の重ね合わせ方法。
  6. 透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、色相を異にして着色されてなる2枚一組の基板を、それぞれの基板に形成された前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ工程と、
    前記2枚一組の基板の一方側に配置された光源より光を照射する工程と、
    この照射工程により照射された光のもとで、前記2枚一組の基板に形成された前記マークを前記2枚一組の基板の他方側に配置された撮像機器で撮影する撮影工程と、
    この撮影工程時に、前記光源と前記撮像機器との間に、前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を通過させる色フィルタを前記重ね合わせ工程により重ね合わされた前記2枚一組の基板のマーク位置に対向するように挿入する挿入工程と、
    前記撮影工程で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出工程と、
    この検出工程で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正工程と
    を有することを特徴とする基板の重ね合わせ方法。
  7. 透光性を有し、位置決め用のマークがそれぞれ形成され、いずれか一方の基板に形成されたマークが他の基板のマークとは、色相を異にして着色されてなる2枚一組の基板を、それぞれの基板に形成された前記マークが対向するように重ね合わせる重ね合わせ工程と、
    前記2枚一組の基板の一方側に配置された光源より光を照射する工程と、
    この照射工程により照射された光のもとで、前記2枚一組の基板に形成された前記マークを前記光源と同じ側に配置された撮像機器で撮影する撮影工程と、
    この撮影工程時に、前記2枚一組の基板の他方側に、前記2枚一組の基板の少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光を反射させる色反射板を前記重ね合わせ工程により重ね合わされた前記2枚一組の基板のマーク位置に対向するように挿入する挿入工程と、
    前記撮影工程で撮影された前記各マークの撮像パターンに基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出する検出工程と、
    この検出工程で検出された前記2枚の基板間の位置ずれを補正する補正工程と
    を有することを特徴とする基板の重ね合わせ方法。
  8. 前記検出工程は、少なくとも一方のマークの色またはそれと同系統の色の光の照射または透過あるいは反射による撮像パターンと、前記色とは色相を異にした他の光による撮像パターンとの差に基づき、重ね合わされた前記2枚の基板間の位置ずれを検出することを特徴とする請求項ないしのうちのいずれか1項に記載の基板の重ね合わせ方法。
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