JP4671045B2 - 材料試験機 - Google Patents
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Description
図1は本発明の実施の形態の構成図で、試験機本体部分は断面図と機構の模式図とで表している。
ステージ12の上方には、圧子13を試料Wの表面に押し付ける負荷機構14が設けられているとともに、ステージ12上の試料表面を観察するための顕微鏡15が設けられている。
D′[i]=D[i]−K*(t[i]−t[1])
によって補正後の変位データD′[i]に換算する。
10 フレーム
11 試料台
12 ステージ
13 圧子
14 負荷機構
14a 電磁力発生装置
14b 支点
14c レバー
14d ロバーバル機構
14e 可動棒
15 顕微鏡
16 変位計
2 制御部
21 操作部
22 表示器
W 試料
Claims (1)
- 試料台上の試料に対して、設定された荷重のもとに圧子を押し付ける負荷機構と、その圧子の変位を検出する変位検出手段を備えた材料試験機において、
予想試験時間と、許容誤差量とを入力する入力手段と、試験に先立ち、上記負荷機構の停止状態で、かつ、上記圧子による試料への負荷が略ゼロの状態で、上記圧子の刻々の変位データを取り込んで保存し、その変位データの上記予想試験時間中における経時変化の近似演算に基づくドリフト補正式を算出するとともに、そのドリフト補正式に対する上記変位データの最大の逸脱量を求める演算手段と、その求められた最大の逸脱量と上記許容誤差とを比較する比較手段を有し、最大の逸脱量が上記許容誤差以下であれば試験を実行するとともに、上記最大の逸脱量が上記許容誤差を越えている場合には、上記変位データの取り込みと保存、および上記演算手段並びに比較手段による上記動作を繰り返し行うことを特徴とする材料試験機。
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JP2006276987A JP4671045B2 (ja) | 2006-10-10 | 2006-10-10 | 材料試験機 |
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Family Applications (1)
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2006
- 2006-10-10 JP JP2006276987A patent/JP4671045B2/ja active Active
Patent Citations (6)
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