JP4667403B2 - シンチレータ部材及びその製造方法並びに放射線測定装置 - Google Patents
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- 放射線の入射により発光するシンチレータと、
シンチレータの表面に形成されて放射線を透過させ且つ光の透過を阻止する遮光膜と、
遮光膜の表面に形成されてシンチレータを補強するメッシュ状の硬質層と、
を有し、
前記遮光膜は、当該遮光膜の表面に硬質層を形成するための導電性材料を含み、
前記硬質層は、メッキ処理により遮光膜の表面に形成される、
ことを特徴とするシンチレータ部材。 - 請求項1に記載のシンチレータ部材において、
前記遮光膜は、
当該遮光膜を前記シンチレータの表面に貼り付けるための接着層と、
放射線を透過させ且つ光の透過を阻止する遮光層と、
遮光層を保護するとともに前記導電性材料を含んだ保護層と、
を備え、
これら複数の層を備えた遮光膜は、転写シートからシンチレータの表面に転写される、
ことを特徴とするシンチレータ部材。 - 請求項2に記載のシンチレータ部材において、
前記保護層は、前記導電性材料として、金属性のフィラーを含む、
ことを特徴とするシンチレータ部材。 - 請求項2に記載のシンチレータ部材において、
前記保護層は、前記導電性材料として、メッシュ状の金属性パターンを含む、
ことを特徴とするシンチレータ部材。 - 請求項3または4に記載のシンチレータ部材において、
前記硬質層は、転写された遮光膜の表面に電気メッキ処理により電着された金属層である、
ことを特徴とするシンチレータ部材。 - 請求項1に記載のシンチレータ部材において、
前記シンチレータは、棒状に形成されたファイバシンチレータであり、
前記遮光膜は、転写シートからファイバシンチレータの側面に転写され、
前記硬質層は、遮光膜が転写されたファイバシンチレータの側面を取り囲んでファイバシンチレータを補強する、
ことを特徴とするシンチレータ部材。 - 放射線の入射により発光するシンチレータと、
放射線を透過させ且つ光の透過を阻止する遮光膜と、
シンチレータを補強するメッシュ状の硬質層と、
を有するシンチレータ部材を製造する方法であって、
前記遮光膜は、当該遮光膜の表面に硬質層を形成するための導電性材料を含んでおり、
当該導電性材料を含んだ遮光膜を転写シートからシンチレータの表面に転写する転写工程と、
転写された遮光膜の表面にメッキ処理により硬質層を形成するメッキ処理工程と、
を含む、
ことを特徴とするシンチレータ部材の製造方法。 - 請求項7に記載の製造方法において、
前記遮光膜は、その表面にマスキング処理を施されており、
前記メッキ処理工程では、マスキング処理を施されていない遮光膜の表面部分に硬質層が付着して遮光膜の表面にメッシュ状の硬質層が形成される、
ことを特徴とするシンチレータ部材の製造方法。 - 請求項7に記載の製造方法において、
前記遮光膜は、前記導電性材料として、メッシュ状の金属性パターンを含み、
前記メッキ処理工程では、金属性パターンに対応した遮光膜の表面部分に硬質層が付着して遮光膜の表面にメッシュ状の硬質層が形成される、
ことを特徴とするシンチレータ部材の製造方法。 - 放射線の入射により発光するシンチレータと、
シンチレータの表面に形成されて放射線を透過させ且つ光の透過を阻止する遮光膜と、
遮光膜の表面に形成されてシンチレータを補強するメッシュ状の硬質層と、
シンチレータによる発光を検出する光検出器と、
を有し、
前記遮光膜は、当該遮光膜の表面に硬質層を形成するための導電性材料を含み、
前記硬質層は、メッキ処理により遮光膜の表面に形成される、
ことを特徴とする放射線測定装置。
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