JP4650695B2 - 圧電体磁器組成物及び圧電セラミック電子部品 - Google Patents

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Description

本発明は圧電体磁器組成物、及び該圧電体磁器組成物を使用して製造された積層圧電アクチュエータ、圧電ブザー等の圧電セラミック電子部品に関する。
圧電セラミック電子部品の素材としては、従来より、強誘電体のPbTiOと反強誘電体のPbZrOとの固溶体からなるPb(Zr、Ti)Oを主成分とした圧電体磁器組成物が広く使用されている。
そして、近年、セラミックの薄層化技術の進展に伴い、高電界駆動の積層型圧電セラミック電子部品が開発され実用化されている。
ところで、高電界駆動用の圧電セラミック材料としては、実使用電界である高電界での圧電定数が高いのが望ましく、斯かる観点から、例えば、組成式aPbTiO+bPbZrO+cPb(Ni1/3Nb2/3)Oで表されると共に、a、b、cが所定モル組成範囲とされ、かつPbが0〜3モル%(0%を含まず)の範囲で減少させた圧電磁器組成物が提案されている(特許文献1)。
この特許文献1では、Aサイト成分であるPbを化学量論組成よりも減じることにより、高電界時(400〜500V/mm程度)の圧電定数を向上させている。
また、積層型圧電セラミック電子部品の場合、通常、内部電極パターンの形成されたセラミックグリーンシートを積層した後、焼成して製造されるが、内部電極材料としては、Pt等に比べて安価なAgを主成分としたAg−Pd等の導電性材料を使用するのが好ましく、したがって、内部電極材料とセラミック材料とを共焼結できるように低温で焼結できるセラミック材料が望まれる。
そこで、このような観点から、XPbβ(Niα/3Nb2/3)O−YPbZrO−ZPbTiOを基本組成とし、一般式ABOで表されるペロブスカイト型の圧電磁器組成物であって、X、Y、Zがそれぞれ0.20≦X≦0.60、0.15≦Y≦0.60、0.30≦Z≦0.60の範囲にあり、かつBサイトのNi比率(α)が1<α<2の範囲にあって、化学量論組成よりも過剰であると共に、AサイトのPb比率(β)が1<β≦1.06の範囲にあって、化学量論組成よりも過剰とされた圧電磁器組成物が提案されている(特許文献2)。
この特許文献2では、NiとNbの比率を化学量論組成よりもNi過剰とし、かつAサイトとBサイトとの比率を化学量論組成よりもAサイト過剰とすることにより、低温焼成を可能とし、これにより内部電極材料としてPtなどの高価な高融点貴金属材料を使用することなく、セラミック材料と内部電極材料とを低温で共焼結させることができる。
特開2001−302348号公報 特開平7−45883号公報
しかしながら、特許文献1は、比較的低電界での使用を前提とした従前の圧電磁器組成物に比べると、高電界での使用は可能ではあるが、セラミック材料と焼結する場合、1100〜1300℃の高温が必要となる。例えば融点の低いAgを70重量%以上含むような内部電極ペーストと共焼結しようとすると十分な圧電定数が得られない。また、十分に焼結したとしても高電界としている電界が400〜500V/mm程度を対象としており、より高い電界を印加した場合は、所望の高圧電定数を得るのが困難であるという問題点があった。
また、特許文献2は、低温焼成が可能であり、これによりセラミック材料と内部電極材料とを共焼結することができるが、高電界印加に対応したものではない。
本発明はこのような事情に鑑みなされたものであって、400〜500V/mmの電界域のみならず、1kV/mm以上の高電界でも十分に高い圧電定数を得ることができ、しかも低温焼成が可能な圧電体磁器組成物、及び該圧電体磁器組成物を使用して製造された圧電セラミック電子部品を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明者らが鋭意研究したところ、PbZrO−PbTiO−Pb(Ni,Nb)Oからなる三成分系のペロブスカイト型複合酸化物(一般式ABO)において、Aサイト成分を化学量論組成よりも減少させ、かつNiとNbの比率を化学量論組成よりもNi過剰とすることにより、1kV/mm以上の高電界を印加しても圧電定数|d31|が350pC/N以上の高い圧電定数を得ることができ、しかも低温焼成が可能な圧電体磁器組成物を得ることができるという知見を得た。
本発明はこのような知見に基づきなされたものであって、本発明に係る圧電体磁器組成物は、組成式〔Pb{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O〕で表され、前記配合比a、b、c、dが、それぞれ0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6であることを特徴としている。
また、本発明者らが鋭意研究を重ねたところ、Pbの一部を、Sr、Ba、Ca、及びLaの中から選択された少なくとも1種で置換し、その配合比がモル比で0.001〜0.1とすることにより、高電界印加時に圧電定数|d31|が450pC/N以上のより一層高い圧電定数を有する圧電体磁器組成物の得られることが分かった。
すなわち、本発明の圧電体磁器組成物は、組成式〔(Pb1-xx{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O〕で表されると共に、Xが、Sr、Ba、Ca、及びLaの中から選択された少なくとも1種からなり、前記配合比x、a、b、c、及びdが、それぞれ0.001≦x≦0.1、0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6であることを特徴としている。
また、本発明者らの更なる鋭意研究の結果、焼成前の原料粉末の比表面積を5m/g以上とすることにより、原料粉末がより微細化されてセラミック材料の均質性や結晶性が向上し、比表面積が5m/g未満の場合に比べ、高電界での圧電定数がより一層向上することが分かった。
したがって、本発明の圧電体磁器組成物は、焼成前の原料粉末の比表面積が5m/g以上であることを特徴としている。
また、本発明に係る圧電セラミック電子部品は、圧電セラミック素体が、上記圧電体磁器組成物で形成されていることを特徴としている。
また、本発明の圧電セラミック電子部品は、前記圧電セラミック素体に内部電極が埋設されると共に、該内部電極は、Agを主成分とする導電性ペーストが焼結されてなることを特徴としている。
上記圧電体磁器組成物によれば、組成式〔Pb{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O〕で表され、前記配合比a、b、c、dが、それぞれ0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6であるので、Pb成分が化学量論組成よりも減じられ、かつNiとNbとの比率が化学量論組成よりもNi過剰となり、これにより1kV/mm以上の高電界を印加しても高い圧電定数を有する圧電体磁器組成物を得ることができる。さらに、低温焼成しても優れた圧電定数を有する圧電磁器組成物が得られる。
また、組成式〔(Pb1-xx{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O〕で表されると共に、Xが、Sr、Ba、Ca、及びLaの中から選択された少なくとも1種からなり、前記配合比x、a、b、c、及びdが、それぞれ0.001≦x≦0.1、0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6とすることにより、高電界が印加されても圧電定数のより一層の向上を図ることができる。
さらに、焼成前の原料粉末の比表面積が5m/g以上であるので、高電界が印加されても圧電定数のより一層の向上を図ることができる。
また、本発明の圧電セラミック電子部品によれば、圧電セラミック素体が上記圧電体磁器組成物で形成されているので、高電界が印加されても高い圧電定数を有する圧電セラミック電子部品を容易に得ることができる。
また、本発明の圧電セラミック電子部品は、前記圧電セラミック素体に内部電極が埋設されると共に、該内部電極は、Agを主成分とする電極ペーストが焼結されてなるので、圧電セラミック材料と例えばAgを70重量%以上含有した内部電極材料とが共焼結された積層型圧電セラミック電子部品であっても低温焼結で作製することができ、かつ優れた圧電定数を有する積層型圧電セラミック電子部品を容易に得ることができる。
本発明に係る圧電セラミック電子部品としての積層圧電アクチュエータの一実施の形態を示す断面図である。 上記圧電アクチュエータの製造過程で得られるセラミックグリーンシートの斜視図である。 上記圧電アクチュエータの斜視図である。 本発明の試料番号33の圧電特性を本発明外の試料番号31の圧電特性と共に示した図である。
符号の説明
1 圧電セラミック素体
3 内部電極
次に、本発明の実施の形態を詳説する。
本発明に係る一実施の形態(第1の実施の形態)としての圧電体磁器組成物は、ペロブスカイト構造(一般式ABO)を有するPbTiO−PbZrO−Pb(Ni,Nb)Oの三成分系複合酸化物からなり、成分組成は下記組成式(A)で表される。
Pba{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O…(A)
ここで、配合比a、b、c及びdは下記数式(1)〜(4)を充足している。
0.930≦a≦0.998…(1)
1.02≦b≦1.40…(2)
0.1≦c≦0.6…(3)
0.3≦d≦0.6…(4)
このようにAサイトを構成するPbの配合比を化学量論組成よりも所定量減じ、かつBサイト中のNiとNbとの比率を化学量論組成よりもNi過剰とすることにより1kV/mm程度の高電界を印加しても圧電定数|d31|が350pC/N以上の高圧電定数を有する圧電体磁器組成物を低温焼成して得ることができる。
すなわち、圧電体磁器組成物は、キュリー点以下の強誘電相で圧電性を示すが、結晶粒は常誘電相からキュリー点を経て強誘電相に相転移するときに、ドメインと呼称される自発分極の方向が異なる多くの領域に分かれる。そして、分極処理により大多数のドメインは、180ドメインの方向に揃うが、一部のドメインは90°ドメインの方向に残ってしまう。この90°ドメインが多いほど圧電定数は小さくなる。
従来、90°ドメインを容易に回転させる方法として、NiとNbとの比率を化学量論組成よりもNb過剰にすることが知られている。この場合、酸素空孔の形成が抑制されるため、酸素空孔によるドメインのピン止め効果が小さくなり、90°ドメインの回転が容易となって圧電定数は大きくなると考えられる。
しかしながら、本発明者らの実験結果により、NiとNbとの比率を化学量論組成よりもNb過剰にしても、1kV以上の高電界を印加した場合は、十分に大きな所望の圧電定数を得ることができないことが分かった。
そこで、本発明者らが鋭意研究を重ねたところ、NiとNbとの比率を化学量論組成よりもNi過剰とし、Aサイトを構成するPbの配合比を化学量論組成よりも所定量減じることにより、十分に高電界を印加しても圧電定数が大きくなることを見出した。これは、十分に高い電界を印加した場合は、前記酸素空孔によるドメインのピン止め効果よりも高電界印加によるドメインの回転、変形力が上回るため、ドメインが一様に回転、変形するものと思われる。
本発明者らは、上記の知見から高電界における圧電定数の大きさは、酸素空孔の数量に殆ど依存せず、むしろ結晶粒(グレイン)内の結晶性やセラミック材料の均質性に依存するのではないかと考えた。つまり、高電界印加での圧電定数を高めるためには、結晶粒内の結晶性やセラミック材料の均質性を向上させることが重要と考えたのである。
尚、Aサイトを構成するPbの配合比aを化学量論組成(=1.000)よりも所定量減じ、かつ、NiとNbとの比率を化学量論組成よりも所定量だけNi過剰とすることにより、PbとNbからなる非圧電相、すなわちパイロクロア相の生成が抑制されて結晶粒内の結晶性と圧電セラミック材料の均質性を高めることができると考えられ、したがってこれらの現象も高電界印加での圧電定数向上という本発明の効果に寄与するものと推察される。
また、上述したようにNi過剰としてパイロクロア相の生成が抑制される結果、焼結性も向上し、その結果低温焼成をも可能となる。
このようにAサイトを構成するPbの配合比aを化学量論組成よりも所定量減じ、かつNiとNbとの比率を化学量論組成よりもNi過剰とすることにより1kV/mm程度の高電界を印加しても圧電定数|d31|が350pC/N以上の高圧電定数を有する圧電体磁器組成物を低温焼成して得ることができる。
以下、配合比a〜dを上記数式(1)〜(4)に限定した理由を述べる。
(1)配合比a
Aサイトを構成するPbの配合比aが0.998を超えて化学量論組成に近付くと、低温での焼成は可能であるが、高電界印加時に所望の高圧電定数を得ることができなくなる。一方、前記配合比aが0.930未満になると焼結性が低下するため、900〜1000℃といった低温焼成では高圧電定数を得ることができなくなる。
そこで、本実施の形態では、配合比aを0.930≦a≦0.998としている。
(2)配合比b
NiとNbの比率を規定する配合比bが1.02未満になるとNbに対するNiの含有量が少なくなりすぎて焼結性が低下し、低温焼成では高い圧電定数を得ることができなくなる。一方、前記配合比bが1.40を超えた場合は低温での焼成は可能であるが、高電界印加時に所望の高圧電定数を得ることができなくなる。
そこで、本実施の形態では、配合比bを1.02≦b≦1.40としている。
(3)配合比c
Bサイト中の(Ni,Nb)成分の配合比cが0.1未満の場合は低温での焼成は可能であるが、高電界印加時に高圧電定数を得ることができなくなる。一方、配合比cが0.6を超えると焼結性が低下し、低温焼成では高圧電定数を得ることができなくなる。
そこで、本実施の形態では、配合比cを0.1≦c≦0.6としている。
(4)配合比d
Bサイト中のTi成分の配合比dが0.3未満、又は0.6を超えた場合は、いずれの場合も低温焼成は可能であるが、高電界印加時に所望の高圧電定数を得ることができなくなる。
そこで、本実施の形態では配合比dを0.3≦d≦0.6としている。
そして、このように組成式(A)が数式(1)〜(4)を充足することにより、1kV/mmの高電界を印加しても圧電定数|d31|が350pC/N以上の高圧電定数を有する圧電体磁器組成物を低温焼成で得ることができる。
また、上記第1の実施の形態では、AサイトをPbで構成しているが、下記組成式(B)で示すように、Pbの一部を、Sr、Ba、Ca、Laのうちの少なくとも1種以上で置換するのも好ましく、これによりパイロクロア相の生成を効果的に抑制することができ、高電界での圧電定数をより一層向上させることができ、圧電定数|d31|が450pC/N以上の高圧電定数を有する圧電体磁器組成物を得ることができる。
(Pb1-xx{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O…(B)
ここで、置換元素XはSr、Ba、Ca、Laの中から選択された少なくとも1種以上を示す。
また、置換元素Xの配合比xは、0.001≦x≦0.1が好ましい。これは配合比xが0.001未満となると圧電定数向上の効果を発揮することができず、一方、配合比xが0.1を超えると、置換元素Xの配合比xが過剰となって焼結性が低下すると共に、キュリー点が低下して強誘電性が低下し、圧電定数が極端に低下してしまうおそれがあるからである。
次に、上記圧電体磁器組成物を使用して製造された圧電セラミック電子部品について説明する。
図1は本発明に係る圧電セラミック電子部品としての積層圧電アクチュエータの一実施の形態を示す断面図であって、該積層圧電アクチュエータは、圧電セラミック素体1と、該圧電セラミック素体1の両端部に形成されたAg等の導電性材料からなる外部電極2(2a、2b)と、圧電セラミック素体1の内部に並列対向状に埋設されたAgやAg−Pd等の導電性材料で形成された内部電極3(3a〜3g)とから構成されている。
該積層圧電アクチュエータは、内部電極3a、3c、3e、3gの一端が一方の外部電極2aと電気的に接続され、内部電極3b、3d、3fの一端は他方の外部電極2bと電気的に接続されている。そして、該積層圧電アクチュエータでは、外部電極2aと外部電極2bとの間に電圧が印加されると、圧電縦効果により矢印Xで示す積層方向に変位する。
次に、上記積層圧電アクチュエータの製造方法を詳述する。
まず、セラミック素原料としてPb、TiO、ZrO、NiO、Nb、さらに必要に応じてSrO、BaO、CaO、及びLaを所定量秤量し、次いで該秤量物をジルコニア等の粉砕媒体が内有されたボールミルに投入して十分に湿式粉砕し、セラミック原料粉末を得る。
そしてこの後、セラミック原料粉末を所定温度(例えば、600〜1000℃)で仮焼し、仮焼物を作製した後、再度ボールミル内で湿式粉砕し、焼成前原料粉末を作製した。
ここで、焼成前原料粉末の比表面積(SSA:Specific Surface Area)は5m/g以上が好ましい。
すなわち、焼成前原料粉末の粉体粒径を小さくすることにより、焼成後のセラミック素体1の均質性及び結晶性が向上し、高電界での圧電定数を更に向上させることができる。そしてこのような作用効果を奏するためには、焼成前原料粉末の比表面積は、上述したように5m/g以上とするのが好ましい。
尚、焼成前原料粉末の比表面積が同一であってもセラミック原料粉末の比表面積が大きい場合は、結晶粒内の微小な領域でのセラミック原料粉末の分散性がより一層向上することから、高電界での圧電定数を更に向上させることができる。そしてこのような作用効果を奏するためには、セラミック原料粉末の比表面積は、7m/g以上であるのが好ましい。
次に、このようにして作製された焼成前原料粉末に有機バインダを加え、湿式で混合処理を行なってスラリー状とし、その後、ドクターブレード法等を使用して成形加工を施し、セラミックグリーンシートを作製する。
次いで、AgやAg−Pdを主成分とした内部電極用ペーストを使用し、図2に示すように上記セラミックグリーンシート4(4a〜4g)上にスクリーン印刷を施して電極パターン5(5a〜5g)を形成する。
次に、これら電極パターン5がスクリーン印刷されたセラミックグリーンシート4a〜4gを積層した後、電極パターン5がスクリーン印刷されていないセラミックグリーンシート6a、6bで挟持し、圧着して積層体を作製する。次いで、この積層体を所定寸法に切断してアルミナ製の匣(さや)に収容し、所定温度(例えば、250〜500℃)で脱バインダ処理を行った後、所定温度(例えば、950〜1100℃)で焼成処理を施し、内部電極3a〜3gが埋設された圧電セラミック素体1を形成する。
このように本実施の形態では、低温焼成が可能であるので、内部電極用導電性ペーストとセラミックグリーンシートとを積層し、共焼結することにより、内部電極が埋設された圧電セラミック素体1を容易に形成することができる。特にAgが70重量%以上を占める内部電極の場合、焼成温度が高いとデラミネーションが発生したり内部電極の被覆率が低下することから、低温焼成可能な本実施の形態は有用である。
そしてこの後、圧電セラミック素体1の両端部にAg等からなる外部電極用ペーストを塗布し、所定温度(例えば、750℃〜850℃)で焼付け処理を行って図3に示すように外部電極2a、2bを形成し、さらに所定の分極処理を行ない、これにより積層圧電アクチュエータが製造される。尚、外部電極2a、2bは、密着性が良好であればよく、例えばスパッタリング法や真空蒸着法等の薄膜形成方法で形成してもよい。
このように本実施の形態では、積層圧電アクチュエータが、本発明の圧電磁器組成物を使用して製造されているので、例えば、1kV/mmの高電界を印加した場合でも、圧電定数が大きく、変位量の大きな圧電アクチュエータを得ることができる。しかも、例えば1100℃以下での低温焼成が可能であるので、Agを主成分とする導電性材料を内部電極材料として使用してもセラミックグリーンシートと内部電極用ペーストとを低温で共焼結することができる。本発明ではAgを70重量%以上に含有すると比較的安価な内部電極材料であっても、内部電極に使用可能である。
尚、本発明は上記実施の形態に限定されるものではない。上記実施の形態では、セラミック素原料としてPb等の酸化物を使用したが、炭酸塩や水酸化物等を使用することもできる。
また、上記実施の形態では、圧電体磁器組成物中に微量のシリカ、アルミナ、或いは鉄等が不純物として含有され得るが、特性に影響を与えることはない。
また、上記組成式(A)又は(B)の各配合比a、b、c、d、及びxは焼成前の組成を示しているが、これは焼成後の組成と略一致する。すなわち、焼成時にPbの一部は飛散するものの、焼成前と焼成後とで組成が実質的に変動することはない。
また、圧電セラミック電子部品についても上記積層圧電アクチュエータの他、単板型圧電アクチュエータやバイモルフ型圧電アクチュエータにも適用でき、さらには圧電発振子、圧電ブザー、圧電センサ等の種々の圧電セラミック電子部品に適用できるのはいうまでもない。
次に、本発明の実施例を具体的に説明する。
まず、セラミック素原料として、Pb、TiO、ZrO、NiO、Nbを準備し、表1の成分組成となるようにこれらセラミック素原料を秤量し、この秤量物をボールミル中で水を加えて湿式で十分に混合粉砕し、比表面積が7m/gのセラミック原料粉末を作製した。
次いで、このセラミック原料粉末を600〜1000℃の温度で2時間仮焼し、その後、ボールミル中で再度十分に湿式粉砕し、比表面積が5m/gの焼成前原料粉末を作製した。
次に、この焼成前原料粉末にバインダとしての酢酸ビニル系バインダを加え、ボールミル中で混合してスラリー状とし、ドクターブレード法でシート成形を行いセラミックグリーンシートを作製した。
次いで、このセラミックグリーンシートを複数枚積層し、厚みが約1.0mmの積層体を作製し、その後4.9×10〜1.96×10Paの圧力で加圧し、さらに900〜1100℃の焼成温度で焼成して、角板状磁器を得た。
次に、この角板状磁器を厚みが約0.6mmとなるように研磨した後、両主面にAgを主成分とする導電性ペーストを塗布・焼付けて電極を形成し、80℃の絶縁油中で3.0kV/mmの電界を30分間印加し、分極処理を行った。そうして得られた角板状圧電磁器を縦約13mm、横約3mmに切断し、試料番号1〜24の圧電体試験片を得た。
次に、これら圧電体試験片について、1kV/mmの高電界を印加し、圧電定数|d31|を算出した。圧電定数|d31|は、具体的には、各圧電体試験片に1kV/mmの電界を印加した時の長手方向の変位量を変位計で測定し、該変位量を素子長(長手方向)で除算して歪みを算出し、更に該歪みを電界で除算して求めた。
表1は試料番号1〜24の各成分組成と圧電定数|d31|、及び焼成温度を示している。尚、表1中の各焼成温度は、900〜1100℃の焼成温度で焼成した結果、圧電定数|d31|が最も高かったときの焼成温度を示している。
Figure 0004650695
この表1から明らかなように試料番号1は、Pbの配合比aが0.920と少なすぎるため、焼結性が悪く1100℃の焼成温度では十分に焼結せず、このため圧電定数|d31|が250pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
試料番号6は、焼結性は良好であり900℃の低温で焼結したが、配合比aが1.000であり、したがってAサイトとBサイトの配合比が化学量論組成であるため、圧電定数|d31|が300pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
試料番号7は、配合比bが0.98であり、NiとNbの比率が化学量論組成よりもNb過剰であるが、圧電定数|d31|は280pC/Nしか得られず、高電界を印加した場合には所望の高圧電定数を得ることができなかった。
試料番号8は、配合比bが1.00であり、NiとNbの比率が化学量論組成であるため、焼結性が悪く1100℃の焼成温度では十分に焼結せず、このため圧電定数|d31|が290pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
試料番号14は、焼結性は良好であり900℃の低温で焼結したが、配合比bが1.50でありNiの含有量が多すぎるため、圧電定数|d31|が260pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
試料番号15は、焼結性は良好であり950℃の低温で焼結したが、配合比cが0.05でありBサイト中の(Ni,Nb)の含有量が少なすぎるため、圧電定数|d31|が250pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
試料番号19は、配合比cが0.70でありBサイト中の(Ni,Nb)の含有量が多すぎるため、焼結性が悪く1100℃の焼成温度では十分に焼結せず、このため圧電定数|d31|が200pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
試料番号20は、焼結性は良好であり1050℃の低温で焼結したが、配合比dが0.20でありBサイト中のTiの含有量が少なすぎるため、圧電定数|d31|が260pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
試料番号24も、試料番号20と略同様、焼結性は良好であり1050℃の低温で焼結したが、配合比dが0.70でありBサイト中のTiの含有量が多すぎるため、圧電定数|d31|が290pC/Nと小さく、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
これに対して試料番号2〜5、9〜13、16〜18、及び21〜23は、各配合比a〜dが、0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6の範囲にあり、したがって本発明範囲内であるので、焼成温度900〜1100℃の範囲で良好な焼結性を得ることができ、斯かる低温焼成下で圧電定数|d31|が350pC/N以上の高圧電定数を有する圧電体を得ることができた。
〔実施例1〕のセラミック素原料にSrCOを準備し、表2の成分組成となるようにこれらセラミック素原料を秤量し、〔実施例1〕と同様の方法・手順で試料番号31〜56の圧電体試験片を作製した。
次に、〔実施例1〕と同様、これら圧電体試験片について、1kV/mmの高電界を印加し、圧電定数|d31|を算出した。
表2は試料番号31〜56の各成分組成と圧電定数|d31|、及び焼成温度を示している。尚、表2中の各焼成温度は、900〜1100℃の焼成温度で焼成した結果、圧電定数|d31|が最も高かったときの焼成温度を示している。
Figure 0004650695
この表2から明らかなように、試料番号31、37、40、50、及び56は、〔実施例1〕の試料番号1、8、及び19と同様、焼結性が悪く1100℃では十分に焼結せず、このため圧電定数|d31|が160〜340pC/Nとなり、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
また、試料番号39、45、46、51、及び54は、試料番号6、14、15、20、及び24と同様、焼結性は良好であるが、圧電定数|d31|が280〜340pC/Nとなり、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
これに対して試料番号32〜36、38、41〜44、47〜49、52、53、及び55は、0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6の範囲にあり、したがって本発明範囲内であるので、焼成温度900〜1100℃の範囲で良好な焼結性を得ることができ、しかもAサイト中に配合比で0.05のSrをPbに固溶させているので、圧電定数|d31|が450pC/N以上となり、Srを含有していない場合に比べ(表1参照)、より一層の高圧電定数を有する圧電体を得ることができることが分かった。
図4は本発明の試料番号33の圧電特性を本発明外の試料番号31の圧電特性と共に示した図であって、実線が試料番号33、破線が試料番号31である。尚、横軸が印加電界(kV/mm)、縦軸は圧電定数|d31|(pC/N)を示している。
この図4から明らかなように試料番号31は印加電界が0.4kV/mmを超えて大きくなると圧電定数|d31|が低下するのに対し、試料番号33は0.4kV/mmを超えても高圧電定数を維持することができ、さらに印加電界が1kV/mmを超えても高圧電定数を維持できることが確認された。
〔実施例2〕のセラミック素原料に加え、BaCO、CaCO、Laを準備し、表3の成分組成となるようにこれらセラミック素原料を秤量し、〔実施例1〕と同様の方法・手順で試料番号61〜75の圧電体試験片を作製した。
次に、〔実施例1〕と同様、これら圧電体試験片について、1kV/mmの高電界を印加し、圧電定数|d31|を算出した。
表3は試料番号61〜75の各成分組成と圧電定数|d31|、及び焼成温度を示している。尚、表3中の各焼成温度は、900〜1100℃の焼成温度で焼成した結果、圧電定数|d31|が最も高かったときの焼成温度を示している。
Figure 0004650695
この表3から明らかなように試料番号63、67、71及び75は、Aサイト中のSr、Ba、Ca、Laの配合比xがそれぞれ0.15と多すぎるため、焼結性が悪く焼成温度1100℃では十分に焼結せず、このため圧電定数|d31|が170〜250pC/Nとなり、高圧電定数を有する圧電体を得ることができなかった。
これに対し、試料番号61、62、64〜66、68〜70、及び72〜74は、0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6の範囲にあり、かつ、Aサイト中のSr、Ba、Ca、Laの配合比xが0.001〜0.10であるので、焼成温度900〜1100℃の範囲で良好な焼結性を得ることができ、圧電定数|d31|が550〜580pC/Nの高圧電定数を有する圧電体を得ることができることが分かった。
表2の試料番号33と同一組成を有するように各セラミック素原料を秤量し、この秤量物をボールミル中で水を加え、粉砕時間を0.5〜100時間の範囲で異ならせて湿式で混合粉砕し、表4に示すように比表面積の異なる試料番号81〜85のセラミック原料粉末を作製した。
次いで、このセラミック原料粉末を600〜1000℃の温度で2時間仮焼し、その後、粉砕時間を0.5〜100時間の範囲で異ならせてボールミル中で湿式で混合粉砕し、表4に示すように比表面積の異なる試料番号81〜85の焼成前原料粉末を作製した。
そしてこの後、〔実施例1〕と同様の方法・手順で試料番号81〜85の圧電体試験片を作製した。
次に、〔実施例1〕と同様、これら圧電体試験片について、1kV/mmの高電界を印加し、圧電定数|d31|を算出した。
表4は試料番号81〜85のセラミック原料粉末及び焼成前原料粉末の比表面積、圧電定数|d31|、及び焼成温度を示している。
Figure 0004650695
この表4から明らかなように焼成前原料粉末の比表面積が5m/g以上である試料番号82〜85は、比表面積が1m/gである試料番号81に比べて圧電定数|d31|が大きくなっており、したがって、焼成前原料粉末の比表面積を5m/g以上とすることにより、高電界での圧電定数|d31|をより一層向上させることができた。
さらに、試料番号82と試料番号84との比較から明らかなように、焼成前原料粉末の比表面積を8m/gと大きくすることにより、1kV/mmでの圧電定数|d31|を更に向上させることができ、しかも焼成温度も低下させることができることが分かった。
また、試料番号82と試料番号83、及び試料番号84と試料番号85との比較から明らかなように、焼成前原料粉末の比表面積は同一であっても、セラミック原料粉末の比表面積を10m/gと大きくすることにより、1kV/mmでの圧電定数|d31|を更に向上させることができることが分かった。

Claims (5)

  1. 組成式〔Pb{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O〕で表され、前記配合比a、b、c、及びdが、それぞれ0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6であることを特徴とする圧電体磁器組成物。
  2. 組成式〔(Pb1-xx{(Nib/3Nb2/3TiZr1-c-d}O〕で表されると共に、Xが、Sr、Ba、Ca、及びLaの中から選択された少なくとも1種からなり、前記配合比x、a、b、c、及びdが、それぞれ0.001≦x≦0.1、0.930≦a≦0.998、1.02≦b≦1.40、0.1≦c≦0.6、及び0.3≦d≦0.6であることを特徴とする圧電体磁器組成物。
  3. 焼成前の原料粉末の比表面積が5m/g以上であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の圧電体磁器組成物。
  4. 圧電セラミック素体が、請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の圧電体磁器組成物で形成されていることを特徴とする圧電セラミック電子部品。
  5. 前記圧電セラミック素体に内部電極が埋設されると共に、該内部電極は、Agを主成分とする電極ペーストが焼結されてなることを特徴とする請求項4記載の圧電セラミック電子部品。
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