JP4619529B2 - 試験用装置 - Google Patents
試験用装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4619529B2 JP4619529B2 JP2000399978A JP2000399978A JP4619529B2 JP 4619529 B2 JP4619529 B2 JP 4619529B2 JP 2000399978 A JP2000399978 A JP 2000399978A JP 2000399978 A JP2000399978 A JP 2000399978A JP 4619529 B2 JP4619529 B2 JP 4619529B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pair
- test
- test container
- electrodes
- lead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、サンプル液を収容させる試験用容器と、この試験用容器が着脱自在に取り付けられる取付部が多数設けられた支持プレートとを有する試験用装置に係り、特に、DNA解析や免疫学的解析等において、上記の各試験用容器10内に収容されたサンプル液に一対の電極を入れ、この一対の電極間に電圧を印加させて、電気化学発光反応、ポリメラーゼ連鎖反応(PCR)等の反応を行うのに使用する試験用装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、遺伝子工学分野における技術が急速に発展し、DNA解析や免疫学的解析やタクパク解析や糖鎖解析等においては、数多くのサンプルについて、様々な試験が行われるようになった。
【0003】
ここで、このように数多くのサンプルについて様々な試験を行うための試験用装置として、従来においては、サンプル液を収容させる収容部を試験プレートに多数の設けたものや、図1に示すように、サンプル液11を収容させる試験用容器10を、支持プレート20に設けられた多数の取付部21に着脱自在に取り付けるようにしたものが使用されていた。
【0004】
そして、上記の図1に示す試験用装置を用いて様々な試験を行うにあたっては、支持プレート20に設けられた各取付部21に各試験用容器10を取り付け、各試験用容器10内に検査又は各種の反応を行うサンプル液11を注入し、各試験用容器10内におけるサンプル液11について各種の試験を行うようにしていた。
【0005】
また、このように各試験用容器10内におけるサンプル液11について検査又は各種の反応を行うにあたり、近年においては、図2に示すように、各試験用容器10内におけるサンプル液11中に一対の電極12,13を挿入して、この電極12,13間に電圧を印加させ、サンプル液11中において電気化学発光反応やポリメラーゼ連鎖反応(PCR)等の各種の反応を起こさせて、各サンプル液11を試験することが行われるようになった。
【0006】
しかし、上記のように各試験用容器10内に収容されたサンプル液11中に一対の電極12,13を挿入させることは非常に面倒であり、多数のサンプル液11を効率よく検査することができず、特に、試験用容器10が小さくなると、試験用容器10内に収容されたサンプル液11中に一対の電極12,13を挿入させる操作が非常に困難になると共に、サンプル液11中において一対の電極12,13が接触してしまい、安定した各種の試験が行えなくなるという問題があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
この発明は、サンプル液を収容させる試験用容器と、この試験用容器が着脱自在に取り付けられる取付部が多数設けられた支持プレートとを有する試験用装置を用い、各試験用容器内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入し、この一対の電極間に電圧を印加させて、サンプル液中において電気化学発光反応やポリメラーゼ連鎖反応(PCR)等の各種の反応を起こさせて、多数のサンプル液を試験する場合における上記のような問題を解決することを課題とするものである。
【0008】
すなわち、この発明においては、上記の各試験用容器内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がないようにすると共に、サンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにすることを課題とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
この発明における第1の試験用装置においては、上記のような課題を解決するため、サンプル液11を収容させる試験用容器10と、この試験用容器10が着脱自在に取り付けられる取付部21が多数設けられた支持プレート20とを有する試験用装置において、上記の試験用容器10にその内部に伸びた一対の電極12,13を設けると共に、上記の支持プレート20に設けられた各取付部21の周辺部にそれぞれ試験用容器10に設けられた一対の電極12,13と個別に接触するように一対のリード部22,23を設け、上記の取付部21の列における一方の各リード部22を第1リード線26に接続させる一方、取付部21の列における他方の各リード部23を第2リード線27に接続させ、取付部21の各列における各第1リード線26を第1走査回路28に接続させると共に、取付部21の各列における各第2リード線27を第2走査回路29に接続させ、上記の第1走査回路28及び第2走査回路29を走査させて、各第1リード線26及び各第2リード線27に順々に電圧を印加させるようにしたのである。
【0010】
そして、この発明における第1試験用装置のように、各試験用容器10にその内部に伸びた一対の電極12,13を設けると共に、支持プレート20に設けられた各取付部21の周辺部にそれぞれ試験用容器10に設けられた一対の電極12,13と個別に接触するように一対のリード部22,23を設けると、各取付部21の周辺部に設けられた一対のリード部22,23を介して各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13に電圧を印加させることができ、従来のように、各試験用容器10内に収容されたサンプル液11中に一対の電極12,13を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなくなると共に、小さな試験用容器10を用いた場合においても、サンプル液11中において一対の電極12,13が接触するのも防止され、多数のサンプル液11の試験が効率よく安定して行えるようになる。
【0011】
また、この発明における第1の試験用装置において、各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13と、支持プレート20に設けられた各取付部21の周辺部における一対のリード部22,23とが確実に接触されるようにするため、各試験用容器10を支持プレート20に設けられた各取付部21に取り付けるにあたって、その位置決めを行う位置決め手段を設けることが好ましい。
【0012】
また、この発明における第2の試験用装置においては、上記のような課題を解決するため、サンプル液11を収容させる試験用容器10と、この試験用容器10が着脱自在に取り付けられる取付部21が多数設けられた支持プレート20と、この支持プレート20の各取付部21に取り付けられた各試験用容器10の開口部を閉塞させる板状の蓋板30とを有する試験用装置において、上記の試験用容器10にその内部に伸びた一対の電極12,13を設けると共に、各試験用容器10の開口部を閉塞させる上記の蓋板30に、各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13と個別に接触するようにして、試験用容器10における一対の電極12,13に対応した一対のリード部32,33を設けるようにしたのである。
また、この第2の試験用装置においても、上記の蓋板(30)に設けられた一方の列の各リード部(32)を第1リード線(36)に接続させる一方、他方の列の各リード部(33)を第2リード線(37)に接続させ、蓋板(30)の各列における各第1リード線(36)を第1走査回路(38)に接続させると共に、各列における各第2リード線(37)を第2走査回路(39)に接続させ、上記の第1走査回路(38)及び第2走査回路(39)を走査させて、各第1リード線(36)及び各第2リード線(37)に順々に電圧を印加させるようにすることができる。
【0013】
そして、この発明における第2の試験用装置のように、各試験用容器10にその内部に伸びた一対の電極12,13を設けると共に、支持プレート20の各取付部21に取り付けられた各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13と個別に接触するようにして、蓋板30に試験用容器10における一対の電極12,13に対応した一対のリード部32,33を設けると、この蓋板30により各試験用容器10の開口部を閉塞させた際に、各試験用容器10における一対の電極12,13が蓋板30にそれぞれ対応して設けられた一対のリード部32,33と接触するようになり、対応した一対のリード部32,33を介して各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13に電圧を印加させることができるようになる。このため、従来のように、各試験用容器10内に収容されたサンプル液11中に一対の電極12,13を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなくなると共に、小さな試験用容器10を用いた場合においても、サンプル液11中において一対の電極12,13が接触するのも防止され、多数のサンプル液11の試験が効率よく安定して行えるようになる。
【0014】
さらに、この発明における第2の試験用装置のように、蓋板30により各試験用容器10の開口部を閉塞させると、各試験用容器10内に供給されたサンプル液11が蒸発するのを防止できるようになる。
【0015】
ここで、この発明における第1及び第2の試験用装置において、上記のように試験用容器10に、その内部に伸びた一対の電極12,13を設けるにあたっては、試験用容器10に導電性部材を貼り付け又は塗布させるようにしたり、メッキによって一対の電極12,13を設けるようにしたり、導電性樹脂で一対の電極12,13を構成させるようにすることができる。
【0016】
そして、電極12,13に用いる上記の導電性部材としては、例えば、ニッケル箔や銅箔等の金属箔を用いることができる。
【0017】
また、メッキによって電極12,13を形成する場合には、2段階の射出成形等により、試験用容器10において電極12,13が形成されない部分をメッキされにくい材料で成形する一方、電極12,13が形成される部分をメッキされやすい材料で成形するようにしたり、また試験用容器10をメッキされにくい材料で構成し、電極12,13を形成させる部分にメッキされやすい材料を塗布するようにし、このような状態で無電解メッキにより、メッキされやすい部分にメッキを行って、電極12,13を設けるようにすることができる。ここで、上記のメッキされやすい材料としては、例えば、ABS樹脂,ナイロン,AS樹脂やこれらの樹脂を構成成分の一つとするポリマーアロイ等を用いる一方、メッキされにくい材料としては、例えば、ポリブチレンテレフタレート,ポリフェニレンサルファイト,ポリスチレン,ポリカーボネート等を用いるようにする。
【0018】
また、電極12,13を導電性樹脂で構成する場合にも、2段階の射出成形等により、試験用容器10において電極12,13が形成されない部分を絶縁性の材料で成形する一方、電極12,13となる部分を導電性樹脂で成形させるようにすることができる。ここで、電極12,13となる導電性樹脂としては、例えば、カーボン、カーボン繊維、グラファイト等の導電性材料や、Cu,Ni,Fe等の金属繊維を多量混合させた樹脂等を用いることができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施形態に係る試験用装置を添付図面に基づいて具体的に説明する。
【0020】
(実施形態1)
実施形態1における試験用装置においても、サンプル液11を収容させる試験用容器10を、支持プレート20に設けられた多数の取付部21に着脱自在に取り付けるようにしている。
【0021】
そして、この実施形態1における試験用装置においては、図3(A),(B)に示すように、上記の試験用容器10の開口部の縁部に、一対の位置決め用の係止部14,15を対向するように設けると共に、帯状になった一対の電極12,13を上記の一対の係止部14,15から試験用容器10の内部に伸びるように設けている。
【0022】
一方、上記の支持プレート20においては、図4に示すように、上記の試験用容器10に設けられた一対の係止部14,15と対応するようにして、各取付部21の周辺部に、一対の位置決め用の係止凹部24,25を対向するように設けると共に、上記の試験用容器10に設けられた各電極12,13と接触するように、帯状になった一対の各リード部22,23を、上記の一対の各係止凹部24,25から支持プレート20の上面まで伸びるように設けている。
【0023】
そして、上記の取付部21の列における一方の各リード部22を第1リード線26に接続させる一方、取付部21の列における他方の各リード部23を第2リード線27に接続させ、さらに取付部21の各列における第1リード線26を第1走査回路28に接続させると共に、取付部21の各列における第2リード線27を第2走査回路29に接続させている。
【0024】
そして、この実施形態1における試験用装置を用いて各サンプル液11の検査を行うにあたっては、図5に示すように、試験用容器10に設けられた一対の係止部14,15を取付部21の周辺部に設けられた一対の係止凹部24,25に嵌め込むようにして、支持プレート20の各取付部21に試験用容器10を取り付け、各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13を各取付部21に設けられた一対のリード部22,23に接続させるようにする。
【0025】
次いで、このように支持プレート20の各取付部21に取り付けられた各試験用容器10内に検査を行うサンプル液11を注入し、上記の第1走査回路28及び第2走査回路29を走査させて、電源(図示せず)から上記の各第1リード線26及び各第2リード線27に順々に電圧を印加し、各取付部21の周辺部に設けられた一対のリード部22,23を介して各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13間に順々に電圧を印加させて、各試験用容器10内に収容されたサンプル液11について試験を行うようにする。
【0026】
ここで、この実施形態1における試験用装置においては、試験用容器10の開口部の縁部に、一対の位置決め用の係止部14,15を対向するように設けたが、図6(A),(B)に示すように、試験用容器10の開口部の縁部に、一対の位置決め用の係止部14,15を中心に対して直角になるように設け、帯状になった一対の電極12,13をこの一対の係止部14,15から試験用容器10の内部に伸びるように設けると共に、図7に示すように、支持プレート20における各取付部21の周辺部に、一対の位置決め用の係止凹部24,25を中心に対して直角になるように設け、上記の試験用容器10に設けられた各電極12,13と接触するように、帯状になったリード部22,23を各係止凹部24,25から支持プレート20の上面まで伸びるように設けることも可能である。なお、図7に示す試験用装置においては、第1走査回路28及び第2走査回路29を走査させて、電源(図示せず)から上記の各第1リード線26及び各第2リード線27に順々に電圧を印加させることにより、各取付部21の周辺部に設けられた一対のリード部22,23を介して個々の試験用容器10に設けられた一対の電極12,13間に順々に電圧を印加させて、各試験用容器10内に収容されたサンプル液11について個々に試験を行うことができるようになる。
【0027】
また、この実施形態1における試験用装置においては、試験用容器10の開口部に設けた一対の係止部14,15の部分に電極12,13を設けると共に、支持プレート20における各取付部21の周辺部に設けた一対の係止凹部24,25の部分にリード部22,23を設けるようにしたが、上記の係止部14,15とは別に位置に電極12,13を設けると共に、上記の係止凹部24,25と別の位置にリード部22,23を設け、上記の係止部14,15を係止凹部24,25に嵌め合わせて、この嵌め合わせ位置とは異なった位置で各電極12,13を各リード部22,23に接触させることも可能である。
【0028】
さらに、上記の実施形態1における試験用装置においては、試験用容器10の開口部に設けた一対の係止部14,15を設けると共に、支持プレート20における各取付部21の周辺部に上記の一対の係止部14,15が嵌め合わされる一対の係止凹部24,25を設けるようにしたが、支持プレート20における取付部21の周辺部に設けられた一対のリード部22,23と、試験用容器10に設けられた一対の電極12,13とが接触するように位置決めする方法は特に限定されず、例えば、上記の係止部や係合凹部を1つにすることも可能である。
【0029】
また、上記の実施形態1における試験用装置においては、試験用容器10として上面が開口されたものを用いるようにしたが、この試験用容器10内に供給するサンプル液11の量が少なく、またサンプル液11が蒸発しやすい場合には、この試験用容器10に蓋材(図示せず)を取り付け、試験用容器10内にサンプル液11を供給した後、試験を行うまでの間、この試験用容器10の開口部を蓋材により閉塞させて、試験用容器10内に供給されたサンプル液11が蒸発するのを防止させるようにすることも可能である。
【0030】
(実施形態2)
実施形態2における試験用装置においても、上記の実施形態1の場合と同様に、サンプル液11を収容させる試験用容器10を、支持プレート20に設けられた多数の取付部21に着脱自在に取り付けるようにしており、試験用容器10としては、前記の図3(A),(B)に示すように、開口部の縁部に一対の位置決め用の係止部14,15を対向するように設けると共に、帯状になった一対の電極12,13を上記の一対の係止部14,15から試験用容器10の内部に伸びるように設けたものを用いるようにしている。
【0031】
一方、この実施形態2における試験用装置においては、図8(A)に示すように、上記の支持プレート20における各取付部21の周辺部に、試験用容器10に設けられた電極12,13と接触するリード部22,23を設けないようにする一方、支持プレート20の各取付部21に取り付けられた各試験用容器10の開口部を閉塞させる板状の蓋板30に、図8(B)に示すように、各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13と個別に接触するようにして、試験用容器10における一対の電極12,13に対応した一対のリード部32,33を対向するように設けている。
【0032】
そして、上記のように蓋板30に設けられた一方の列の各リード部32を第1リード線36に接続させる一方、他方の列の各リード部33を第2リード線37に接続させ、さらに各列における第1リード線36を第1走査回路38に接続させると共に、各列における第2リード線37を第2走査回路39に接続させている。
【0033】
そして、この実施形態2における試験用装置を用いて各サンプル液11の検査を行うにあたっては、支持プレート20の各取付部21に各試験用容器10を取り付けた後、各試験用容器10内に検査を行うサンプル液11を注入する。
【0034】
その後、図9に示すように、支持プレート20の各取付部21に取り付けられた各試験用容器10の開口部を上記の蓋板30により閉塞させ、各試験用容器10における一対の電極12,13を、それぞれ対応して蓋板30に設けられた一対のリード部32,33と接触させるようにする。
【0035】
そして、この状態で、上記の第1走査回路38及び第2走査回路39を走査させて、電源(図示せず)から上記の各第1リード線36及び各第2リード線37に順々に電圧を印加し、上記の各リード部22,23を介して各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13間に順々に電圧を印加させて、各試験用容器10内に収容されたサンプル液11について試験を行うようにする。
【0036】
なお、この実施形態2における試験用装置においては、試験用容器10の開口部の縁部に対向するように設けた一対の位置決め用の係止部14,15に電極12,13を設けると共に、各試験用容器10における一対の電極12,13に対応して、蓋板30に一対のリード部32,33を対向するように設けたが、前記の図6(A),(B)に示すように、試験用容器10の開口部の縁部に中心に対して直角になるように設けた一対の位置決め用の係止部14,15に電極12,13を設けた場合には、図10に示すように、各試験用容器10に設けられた一対の電極12,13と対応するようにして、蓋板30に一対のリード部32,33直角に設けるようにする。なお、このようにした場合、第1走査回路38及び第2走査回路39を走査させて、電源(図示せず)から上記の各第1リード線36及び各第2リード線37に順々に電圧を印加させることにより、各試験用容器10に対応して蓋板30に設けられた一対のリード部32,33を介して個々の試験用容器10に設けられた一対の電極12,13間に順々に電圧を印加させて、各試験用容器10内に収容されたサンプル液11について個々に試験を行うことができるようになる。
【0037】
また、上記のように支持プレート20の各取付部21に取り付けられた各試験用容器10の開口部を蓋板30により閉塞させた場合に、各試験用容器10における一対の電極12,13が、それぞれ対応して蓋板30に設けられた一対のリード部32,33と確実に接触するように、上記の蓋板30と支持プレート20とに位置決め用の部材(図示せず)を設けることが好ましい。
【0038】
【発明の効果】
以上詳述したように、この発明における第1の試験用装置においては、サンプル液を収容させる試験用容器を、支持プレートに設けられた多数の取付部に着脱自在に取り付けるにあたり、試験用容器にその内部に伸びた一対の電極を設けると共に、支持プレートに設けられた各取付部の周辺部にそれぞれ試験用容器に設けられた一対の電極と個別に接触するように一対のリード部を設けたため、各取付部に試験用容器を取り付けた場合、試験用容器に設けられた各電極が取付部の周辺部に設けられた各リード部と接触するようになり、各取付部の周辺部に設けられた一対のリード部を介して各試験用容器に設けられた一対の電極に電圧を印加させることができるようになった。
【0039】
また、この発明における第2の試験用装置においては、各試験用容器にその内部に伸びた一対の電極を設けると共に、支持プレートの各取付部に取り付けられた各試験用容器における一対の電極と個別に接触するようにして、蓋板に試験用容器における一対の電極に対応した一対のリード部を設けたため、この蓋板により各試験用容器の開口部を閉塞させた際に、各試験用容器における一対の電極が蓋板にそれぞれ対応して設けられた一対のリード部と接触するようになり、蓋板における一対の各リード部を介して各試験用容器10に設けられた一対の電極に電圧を印加させることができるようになった。
【0040】
この結果、この発明における第1及び第2の試験用装置においては、従来のように、各試験用容器内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなくなると共に、小さな試験用容器を用いた場合において、サンプル液中において一対の電極が接触するのが防止され、多数のサンプル液の検査を効率よく安定して行えるようになった。
【0041】
また、この発明における第2の試験用装置のように、蓋板により各試験用容器の開口部を閉塞させると、各試験用容器内にサンプル液を供給した後、試験を行うまでの間に、各試験用容器内に供給されたサンプル液が蒸発するのも防止されるようになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の試験用装置において、支持プレートに設けられた多数の取付部に試験用容器を取り付ける状態を示した概略斜視図である。
【図2】従来の試験用装置において、試験用容器内におけるサンプル液中に一対の電極を挿入して、サンプル液を検査する状態を示した断面説明図である。
【図3】この発明の実施形態1に係る試験用装置において使用する試験用容器の平面説明図及び断面説明図である。
【図4】上記の実施形態1に係る試験用装置において使用する支持プレートの概略平面図である。
【図5】上記の実施形態1に係る試験用装置において、各試験用容器内におけるサンプル液を検査する状態を示した断面説明図である。
【図6】この発明の実施形態1に係る試験用装置の変更例において使用する試験用容器の平面説明図及び断面説明図である。
【図7】上記の変更例に係る試験用装置において使用する支持プレートの概略平面図である。
【図8】この発明の実施形態2に係る試験用装置において使用する支持プレート及び蓋板のの平面説明図である。
【図9】上記の実施形態2に係る試験用装置において、各試験用容器内におけるサンプル液を検査する状態を示した断面説明図である。
【図10】上記の実施形態2に係る試験用装置の変更例において蓋板の平面説明図である。
【符号の説明】
10 試験用容器
11 サンプル液
12,13 電極
14,15 係止部
20 支持プレート
21 取付部
22,23 リード部
24,25 係止凹部
30 蓋板
32,33 リード部
Claims (6)
- サンプル液(11)を収容させる試験用容器(10)と、この試験用容器(10)が着脱自在に取り付けられる取付部(21)が多数設けられた支持プレート(20)とを有する試験用装置において、上記の試験用容器(10)にその内部に伸びた一対の電極(12),(13)を設けると共に、上記の支持プレート(20)に設けられた各取付部(21)の周辺部にそれぞれ試験用容器(10)に設けられた一対の電極(12),(13)と個別に接触するように一対のリード部(22),(23)を設け、上記の取付部(21)の列における一方の各リード部(22)を第1リード線(26)に接続させる一方、取付部(21)の列における他方の各リード部(23)を第2リード線(27)に接続させ、取付部(21)の各列における各第1リード線(26)を第1走査回路(28)に接続させると共に、取付部(21)の各列における各第2リード線(27)を第2走査回路(29)に接続させ、上記の第1走査回路(28)及び第2走査回路(29)を走査させて、各第1リード線(26)及び各第2リード線(27)に順々に電圧を印加させることを特徴とする試験用装置。
- サンプル液(11)を収容させる試験用容器(10)と、この試験用容器(10)が着脱自在に取り付けられる取付部(21)が多数設けられた支持プレート(20)と、支持プレート(20)の各取付部(21)に取り付けられた各試験用容器(10)の開口部を閉塞させる板状の蓋板(30)とを有する試験用装置において、上記の試験用容器(10)にその内部に伸びた一対の電極(12),(13)を設けると共に、各試験用容器(10)の開口部を閉塞させる上記の蓋板(30)に、各試験用容器(10)に設けられた一対の電極(12),(13)と個別に接触するようにして、試験用容器(10)における一対の電極(12),(13)に対応した一対のリード部(32),(33)を設けたことを特徴とする試験用装置。
- 請求項2に記載した試験用装置において、上記の蓋板(30)に設けられた一方の列の各リード部(32)を第1リード線(36)に接続させる一方、他方の列の各リード部(33)を第2リード線(37)に接続させ、蓋板(30)の各列における各第1リード線(36)を第1走査回路(38)に接続させると共に、各列における各第2リード線(37)を第2走査回路(39)に接続させ、上記の第1走査回路(38)及び第2走査回路(39)を走査させて、各第1リード線(36)及び各第2リード線(37)に順々に電圧を印加させることを特徴とする試験用装置。
- 請求項1〜3の何れか1項に記載した試験用装置において、試験用容器(10)の内部に伸びた一対の電極(12),(13)を設けるにあたり、導電性部材を貼り付け又は塗布させたことを特徴とする試験用装置。
- 請求項1〜3の何れか1項に記載した試験用装置において、試験用容器(10)の内部に伸びた一対の電極(12),(13)を、メッキによって形成したことを特徴とする試験用装置。
- 請求項1〜3の何れか1項に記載した試験用装置において、試験用容器(10)の内部に伸びた一対の電極(12),(13)を、導電性樹脂で構成したことを特徴とする試験用装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000399978A JP4619529B2 (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | 試験用装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000399978A JP4619529B2 (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | 試験用装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002202278A JP2002202278A (ja) | 2002-07-19 |
JP4619529B2 true JP4619529B2 (ja) | 2011-01-26 |
Family
ID=18864648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000399978A Expired - Lifetime JP4619529B2 (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | 試験用装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4619529B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060216203A1 (en) * | 2005-03-28 | 2006-09-28 | Mds Sciex (Us) A Division Of Mds Pharma Services (Us) Inc. | Multiwell sample plate with integrated impedance electrodes and connection scheme |
KR102299408B1 (ko) * | 2020-01-07 | 2021-09-09 | 홍익대학교 산학협력단 | Pcr 튜브 전극 장치 및 그 튜브 전극 장치를 포함한 pcr 장치 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH042958A (ja) * | 1990-04-19 | 1992-01-07 | Toyo Ink Mfg Co Ltd | 電極反応を利用したガスセンサ用電極 |
JPH05281173A (ja) * | 1992-04-06 | 1993-10-29 | Toshiba Corp | 塗膜劣化測定用プローブ |
JPH0665862U (ja) * | 1993-02-19 | 1994-09-16 | 株式会社ニッテク | 発光測定容器 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2869866B2 (ja) * | 1989-10-06 | 1999-03-10 | ティーディーケイ株式会社 | 電気化学発光検出用容器 |
JPH10239240A (ja) * | 1997-02-25 | 1998-09-11 | Hitachi Ltd | 自動dnaプローブ装置 |
-
2000
- 2000-12-28 JP JP2000399978A patent/JP4619529B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH042958A (ja) * | 1990-04-19 | 1992-01-07 | Toyo Ink Mfg Co Ltd | 電極反応を利用したガスセンサ用電極 |
JPH05281173A (ja) * | 1992-04-06 | 1993-10-29 | Toshiba Corp | 塗膜劣化測定用プローブ |
JPH0665862U (ja) * | 1993-02-19 | 1994-09-16 | 株式会社ニッテク | 発光測定容器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002202278A (ja) | 2002-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1702207B1 (en) | Cartridge device for blood analysis | |
US5457882A (en) | Method of making conductive molded tip head assembly | |
JPS6134616B2 (ja) | ||
KR100928228B1 (ko) | 반도체 칩 테스트용 검사 소켓 | |
CN105874325B (zh) | 盒、包含盒的试剂盒、电气测量设备、及电气测量方法 | |
US20210325366A1 (en) | Replaceable ground electrode for electrophysiology, electrode rejuvenating apparatus, and related methods and systems | |
HK1125999A1 (en) | Apparatus for the analysis of a sample on a test element | |
RU2007110169A (ru) | Блок контактного коннектора для диспенсера тестовых датчиков | |
JP4619529B2 (ja) | 試験用装置 | |
KR101686258B1 (ko) | 복수의 반응 공간 및 전극을 구비한 용기 | |
US8293194B2 (en) | Analyzer | |
US4701703A (en) | Bed-of-pins test fixture | |
JP2003270195A (ja) | 試験用装置 | |
JP4195588B2 (ja) | 接触子の製造方法及び接触子 | |
KR20180041501A (ko) | 검사용 소켓 | |
CN217879008U (zh) | 生物检测装置 | |
EP2182345B1 (en) | Method for analysing blood | |
US9219337B2 (en) | Jumper and jumper terminal arrangement | |
JPWO2008056647A1 (ja) | カートリッジおよび分析システム | |
JPH075228A (ja) | バーンインテスト用接触装置 | |
CN218726866U (zh) | 生化分析仪中电解质离子测试模块 | |
US20080121561A1 (en) | Carrier module for use in a handler and handler for handling packaged chips for a test using the carrier modules | |
US20170212071A1 (en) | Working electrode holder and electrochemical cell | |
CN217901840U (zh) | 一种dbu8隔离器手动测试验证夹具 | |
JP3321268B2 (ja) | イオン選択性電極 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071010 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100115 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100824 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100930 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101026 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101027 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131105 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4619529 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |