JP4610437B2 - 表面実装装置及び表面実装方法 - Google Patents
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Description
表面実装装置20には、実装基板21を搬送する搬送部22や、トレイフィーダ23等のデバイス供給装置、実装するデバイス24を実装基板21へ移送するためのヘッド部27等の他に、デバイス24の端子形状等を検査する2次元検査カメラ25が含まれている。従って、2次元検査は表面実装作業の前工程として表面実装装置20の実装動作の中で実施される。一方、平坦度測定器30による3次元検査は、別置きのスタンドアロン型の平坦度測定器30によって実施されている。
5 テープフィーダ、 6 トレイフィーダ、 7 平坦度測定器、
8 2次元検査カメラ、 9 不良品トレイ、 10 ヘッド部、
11 駆動部、 12 制御部、 13 操作部、
20 表面実装装置、 21 実装基板、 22 搬送部、
23 トレイフィーダ、 24 デバイス、 25 2次元検査カメラ、
26 テープフィーダ、 27 ヘッド部、 28 制御部、 29 操作部、
30 平坦度測定器、 31 良品トレイ、 32 不良品トレイ、
33 ヘッド部、 34 制御装置、 35 検査前トレイ
Claims (8)
- 表面実装デバイスの外観形状を測定する2次元検査カメラと、
前記表面実装デバイスのコプラナリティを測定する平坦度測定器と、
前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器によって得られた情報に基づいて、前記表面実装デバイスを実装基板に実装するかどうかを判定する制御部と、
前記表面実装デバイスを前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器の測定位置と前記実装基板の実装位置へ移動させる駆動部を有する表面実装装置において、
前記駆動部は、前記表面実装デバイスを前記2次元検査カメラの測定位置へ配置する機構と、前記2次元検査カメラの測定位置から前記平坦度測定器の測定位置へ移動させる機構と、前記平坦度測定器の測定位置から取り除く機構とをそれぞれ有するとともに、少なくとも前記2次元検査カメラによる測定と、前記平坦度測定器による測定とを時間的に同期して並列に実施可能に構成されたことを特徴とする表面実装装置。 - 前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器によって測定された情報において、
前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器のどちらか一方によって測定された情報を、他の一方で利用し、
前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器によって得られた情報に基づいて、前記表面実装デバイスを前記実装基板に実装するかどうかを判定する制御部を有する請求項1に記載の表面実装装置。 - 前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器による測定、及び前記実装基板への実装において、前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器の測定位置と前記実装基板の実装位置へ、前記表面実装デバイスを移動させる駆動部が同一のものである請求項1又は2に記載の表面実装装置。
- 前記コプラナリティを測定する平坦度測定器が、モアレトポグラフィ法を用いた計測装置である請求項1〜3のいずれかに記載の表面実装装置。
- 表面実装デバイスの外観形状を2次元検査カメラによって測定し、
前記表面実装デバイスのコプラナリティを平坦度測定器によって測定し、
前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器によって得られた情報に基づいて、前記表面実装デバイスを実装基板に実装するかどうかを判定し、
前記表面実装デバイスを前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器の測定位置と実装基板の実装位置へ移動させる表面実装方法において、
前記実装位置への移動は、前記表面実装デバイスを前記2次元検査カメラの測定位置へ配置するステップと、前記2次元検査カメラの測定位置から前記平坦度測定器の測定位置へ移動させるステップと、前記平坦度測定器の測定位置から取り除くステップとを有するとともに、少なくとも前記2次元検査カメラによる測定ステップと、前記平坦度測定器による測定ステップとを時間的に同期して並列に実施することを特徴とする表面実装方法。 - 前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器によって測定された情報において、
前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器のどちらか一方によって測定された情報を、他の一方で利用し、
前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器によって得られた情報に基づいて、前記表面実装デバイスを実装基板に実装するかどうかを判定する請求項5に記載の表面実装方法。 - 前記2次元検査カメラ及び平坦度測定器による測定、及び前記実装基板の実装は、連続的に実施されるものである請求項5又は6に記載の表面実装方法。
- 前記コプラナリティを測定する測定方法が、モアレトポグラフィ法を用いたものである請求項5〜7のいずれかに記載の表面実装方法。
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