JP4596324B2 - 電子部品のリード幅検出位置決定方法及びリード幅検出方法並びにそれらの装置 - Google Patents
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Description
本実施例1で使用するリード幅検出位置決定装置は、電子部品の画像データからその電子部品の特徴を表す部品データを作成する部品データ作成システムを使用し、図1に示すように、パーソナルコンピュータ等のコンピュータ11と、部品の画像データを取り込むためのカメラ等の画像データ取り込み手段12と、キーボード、マウス等の入力装置13と、液晶ディスプレイ、CRT等の表示装置14と、後述するプログラムやデータ等を記憶する記憶装置15(記憶手段)を備えた構成となっている。
プロファイル作成処理では、画像データ取り込み手段12により取り込んだ電子部品のリードの画像をそのリードの幅方向に走査してリード幅方向両側のエッジを検出し、両側のエッジの間隔をリード幅として検出する処理を、リードの付け根(又は先端)から当該リードの長さ方向に所定の走査ピッチで繰り返すことで、図4に示すように、当該リードの付け根から先端までの各走査位置[pixel] のリード幅検出値W(1) ,W(2) ,……,W(n) を連ねたプロファイルを作成する。
リード幅安定区間検出処理では、図4のリード幅検出値のプロファイルに基づいてリード幅検出値Wが連続してほぼ一定となるリード幅安定区間を検出する。具体的には、図5(a)に示すように、リードの付け根から先端までの各走査位置[pixel] のリード幅検出値Wの差分[W(i-1) −W(i) ]を算出する。この後、各走査位置[pixel] のリード幅検出値Wの差分[W(i-1) −W(i) ]が連続して所定のしきい値以内であるか否か(つまりリード幅検出値Wの差分[W(i-1) −W(i) ]が連続して0付近であるか否か)を判定し、リード幅検出値Wの差分[W(i-1) −W(i) ]が連続してしきい値以内である区間を、リード幅検出値Wが連続してほぼ一定となるリード幅安定区間として検出する。
リード幅検出位置決定処理では、リード幅安定区間内の適宜の位置にリード幅検出位置を決定する。但し、リード幅検出位置がリード幅安定区間の境界付近に位置すると、電子部品の製造ばらつきによる実際のリード幅安定区間のばらつきやリード幅検出時の位置決め誤差によって、実際にリード幅を検出する位置が実際のリード幅安定区間からはみ出してしまう可能性があり、リード幅の検出精度が低下する懸念がある。
Claims (10)
- 画像データ取り込み手段により取り込んだ電子部品の画像データに基づいて当該電子部品のリード幅を検出する位置(以下「リード幅検出位置」という)を決定する電子部品のリード幅検出位置決定方法において、
前記電子部品の画像データに基づいて当該電子部品のリード幅を検出する処理を当該リードの長さ方向に沿って繰り返すことで、当該リードの長さ方向に関するリード幅検出値のプロファイルを作成するプロファイル作成処理と、
前記リード幅検出値のプロファイルに基づいてリード幅検出値の差分が連続して所定のしきい値以内となるリード幅安定区間を検出するリード幅安定区間検出処理と、
前記リード幅安定区間内でリード幅検出位置を決定するリード幅検出位置決定処理と
を含むことを特徴とする電子部品のリード幅検出位置決定方法。 - 前記リード幅安定区間検出処理で、1つのリードについて複数のリード幅安定区間を検出したときには最も長いリード幅安定区間のみを有効なリード幅安定区間とすることを特徴とする請求項1に記載の電子部品のリード幅検出位置決定方法。
- 前記リード幅安定区間検出処理で、リード幅検出値の差分が連続して所定のしきい値以内となる区間においてリード両側のエッジ画像の明瞭度合を評価してその明瞭度合が所定値以下となる区間を前記リード幅安定区間から除外することを特徴とする請求項1又は2に記載の電子部品のリード幅検出位置決定方法。
- 前記リード幅検出位置決定処理で、前記リード幅安定区間の中央の位置をリード幅検出位置として決定することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の電子部品のリード幅検出位置決定方法。
- 請求項1乃至4のいずれかに記載の電子部品のリード幅検出位置決定方法により決定したリード幅検出位置を記憶手段に記憶しておき、以後、画像データ取り込み手段により取り込んだ同種の電子部品のリード幅を検出する際に、前記記憶手段に記憶されているリード幅検出位置でリード幅を検出することを特徴とする電子部品のリード幅検出方法。
- 画像データ取り込み手段により取り込んだ電子部品の画像データに基づいて当該電子部品のリード幅を検出する位置(以下「リード幅検出位置」という)を決定する電子部品のリード幅検出位置決定装置において、
前記電子部品の画像データに基づいて当該電子部品のリード幅を検出する処理を当該リードの長さ方向に沿って繰り返すことで、当該リードの長さ方向に関するリード幅検出値のプロファイルを作成するプロファイル作成手段と、
前記リード幅検出値のプロファイルに基づいてリード幅検出値の差分が連続して所定のしきい値以内となるリード幅安定区間を検出するリード幅安定区間検出手段と、
前記リード幅安定区間内でリード幅検出位置を決定するリード幅検出位置決定手段と
を含むことを特徴とする電子部品のリード幅検出位置決定装置。 - 前記リード幅安定区間検出手段は、1つのリードについて複数のリード幅安定区間を検出したときには最も長いリード幅安定区間のみを有効なリード幅安定区間とすることを特徴とする請求項6に記載の電子部品のリード幅検出位置決定装置。
- 前記リード幅安定区間検出手段は、リード幅検出値の差分が連続して所定のしきい値以内となる区間においてリード両側のエッジ画像の明瞭度合を評価してその明瞭度合が所定値以下となる区間を前記リード幅安定区間から除外することを特徴とする請求項6又は7に記載の電子部品のリード幅検出位置決定装置。
- 前記リード幅検出位置決定手段は、前記リード幅安定区間の中央の位置をリード幅検出位置として決定することを特徴とする請求項6乃至8のいずれかに記載の電子部品のリード幅検出位置決定装置。
- 請求項6乃至9のいずれかに記載の電子部品のリード幅検出位置決定装置により決定したリード幅検出位置を記憶する記憶手段と、
画像データ取り込み手段により取り込んだ同種の電子部品のリード幅を検出する際に前記記憶手段に記憶されているリード幅検出位置でリード幅を検出するリード幅検出手段と を含むことを特徴とする電子部品のリード幅検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005331733A JP4596324B2 (ja) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | 電子部品のリード幅検出位置決定方法及びリード幅検出方法並びにそれらの装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005331733A JP4596324B2 (ja) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | 電子部品のリード幅検出位置決定方法及びリード幅検出方法並びにそれらの装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2007142039A JP2007142039A (ja) | 2007-06-07 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005331733A Active JP4596324B2 (ja) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | 電子部品のリード幅検出位置決定方法及びリード幅検出方法並びにそれらの装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4596324B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018138921A1 (ja) | 2017-01-30 | 2018-08-02 | 株式会社Fuji | 部品実装機 |
CN117038494B (zh) * | 2023-10-10 | 2023-12-15 | 天津芯成半导体有限公司 | 一种用于芯片加工产业的辅助智能检测*** |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05272945A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-22 | Toshiba Corp | リードの曲がり検査装置 |
JPH06160040A (ja) * | 1992-11-25 | 1994-06-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リード端部検出方法 |
JPH07122900A (ja) * | 1993-10-21 | 1995-05-12 | Tenryu Technic:Kk | 電子部品の部品データ記録装置およびそれを用いた電子部品の搬送組み付け装置 |
JPH11120355A (ja) * | 1997-10-21 | 1999-04-30 | Fuji Electric Co Ltd | 画像処理方法 |
JP2001050726A (ja) * | 1999-08-12 | 2001-02-23 | Nec Corp | Ic外観検査方法 |
-
2005
- 2005-11-16 JP JP2005331733A patent/JP4596324B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05272945A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-22 | Toshiba Corp | リードの曲がり検査装置 |
JPH06160040A (ja) * | 1992-11-25 | 1994-06-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リード端部検出方法 |
JPH07122900A (ja) * | 1993-10-21 | 1995-05-12 | Tenryu Technic:Kk | 電子部品の部品データ記録装置およびそれを用いた電子部品の搬送組み付け装置 |
JPH11120355A (ja) * | 1997-10-21 | 1999-04-30 | Fuji Electric Co Ltd | 画像処理方法 |
JP2001050726A (ja) * | 1999-08-12 | 2001-02-23 | Nec Corp | Ic外観検査方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007142039A (ja) | 2007-06-07 |
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