JP4571093B2 - 試験システム - Google Patents
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Description
11 被試験制御部
16 半導体レーザ
20 試験部
22 試験制御部
24 試験器
30 スイッチ部
32 第1スイッチ
34 第2スイッチ
36 接続部
38 分岐部
40 第1変換部
42 第2変換部
Claims (7)
- 被試験物に被試験信号を出力させる被試験部と、
前記被試験信号を用い前記被試験物の試験項目を試験する試験部と、
前記被試験物から出力された前記被試験信号を前記試験部に接続するスイッチ部と、を具備し、
前記スイッチ部は、前記被試験部に入力ポートが接続され複数の出力ポートのいずれかを選択し前記入力ポートに接続する第1スイッチと、前記試験部に出力ポートが接続され複数の入力ポートのいずれかを選択し前記出力ポートに接続する第2スイッチと、前記第1スイッチの前記複数の出力ポートと前記第2スイッチの前記複数の入力ポートとの間を接続する複数の伝送経路を有する接続部と、を有し、
前記接続部の複数の伝送経路は、伝送距離が異なる前記第1スイッチと前記第2スイッチとに接続する複数の伝送経路であって、
前記接続部が同じ試験部および同じ被試験部を前記伝送距離の異なる前記第1スイッチと前記第2スイッチとに接続する複数の伝送経路に順次接続することにより、前記同じ試験部が、前記同じ被試験部から出力され前記伝送距離の異なる前記第1スイッチと前記第2スイッチとに接続する複数の伝送経路を通過した被試験信号の試験をそれぞれ行なうことを特徴とする試験システム。 - 前記接続部は、前記第1スイッチから出力した被試験信号を分岐し、前記第2スイッチの前記複数の入力ポートに並列に入力させる分岐部を有することを特徴とする請求項1記載の試験システム。
- 被試験物に被試験信号を出力させる被試験部と、
前記被試験信号を用い前記被試験物の試験項目を試験する試験部と、
前記被試験物から出力された前記被試験信号を前記試験部に接続するスイッチ部と、を具備し、
前記スイッチ部は、前記被試験部に入力ポートが接続され複数の出力ポートのいずれかを選択し前記入力ポートに接続する第1スイッチと、前記試験部に出力ポートが接続され複数の入力ポートのいずれかを選択し前記出力ポートに接続する第2スイッチと、前記第1スイッチの前記複数の出力ポートと前記第2スイッチの前記複数の入力ポートとの間を接続する複数の伝送経路を有する接続部と、を有し、
前記接続部は、前記第1スイッチから出力した被試験信号を分岐し、前記第2スイッチの前記複数の入力ポートに並列に接続する分岐部と、前記分岐部の複数の出力に接続された伝送に関わる異なる性質を有する複数の伝送経路であって、
前記接続部が同じ被試験部を前記伝送に関わる異なる性質を有する複数の伝送経路を介しそれぞれ複数の試験部に同時に接続することにより、前記複数の試験部が、前記同じ被試験部から出力され前記伝送に関わる異なる性質を有する複数の伝送経路を通過した被試験信号の試験を同時に行なうことを特徴とする試験システム。 - 被試験物に被試験信号を出力させる被試験部と、
前記被試験信号を用い前記被試験物の試験項目を試験する試験部と、
前記被試験物から出力された前記被試験信号を前記試験部に接続するスイッチ部と、を具備し、
前記スイッチ部は、前記被試験部に入力ポートが接続され複数の出力ポートのいずれかを選択し前記入力ポートに接続する第1スイッチと、前記試験部に出力ポートが接続され複数の入力ポートのいずれかを選択し前記出力ポートに接続する第2スイッチと、前記第1スイッチの前記複数の出力ポートと前記第2スイッチの前記複数の入力ポートとの間を接続する複数の伝送経路を有する接続部と、を有し、
前記接続部は、前記第1スイッチから出力した被試験信号を分岐し、前記第2スイッチの前記複数の入力ポートに並列に接続する分岐部を有し、
前記試験部が複数設けられ、
前記複数の試験部は、1つの前記被試験物から出力された前記被試験信号を同時に試験することを特徴とする試験システム。 - 前記被試験部は、前記試験部が試験可能な試験項目を示す試験項目情報を取得し、前記試験項目情報に基づき、試験すべき試験部を選択し、前記スイッチ部によって前記選択した試験部に前記被試験信号を接続させるための命令を出力する試験部選択手段を有することを特徴とする請求項1記載の試験システム。
- 前記試験部は、自己が試験可能な試験項目である試験項目情報を出力する試験情報手段と、前記試験項目情報に基づいて選択された被試験物からの前記被試験信号を該当する試験項目で試験する試験実行手段と、を有することを特徴とする請求項1記載の試験システム。
- 前記被試験部は、前記被試験物に第1電気信号を出力させ、
前記試験システムは、前記第1電気信号を光信号に変換する第1変換部と、前記光信号を第2電気信号に変換する第2変換部と、を具備し、
前記スイッチ部は、前記第1変換部で変換された前記光信号を前記第2変換部を介し前記試験部に接続し、
前記試験部は、前記第2電気信号を用い前記被試験物の試験項目を試験することを特徴とする請求項1記載の試験システム。
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