JP4564677B2 - 発光ダイオード照明光源 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば工業製品等の品質をCCDカメラ等の撮像を利用して製造ライン上で検査する際に、撮影個所を照らすために用いられる、発光ダイオードを使用した照明光源に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
プリント基板や半導体等の工業製品の品質、例えば半田付けの不良、欠損、異物の付着等を製造ライン上で検査する方法として、CCDカメラ等による撮像を利用する方法が普及している。この方法は、部品の特定個所を撮像し、正常な部品の撮像結果と比較することにより異常の有無を検査するというものである。このような検査法においては、CCDカメラの撮像部位を照明光源によって明るく均一に照らし出す必要がある。ここで、上記検査法においては、一般にはハロゲンランプ、発光ダイオード等が好適に使用され、撮像用カメラの周囲に環状に取り付ける方法が一般的に知られている。
【0003】
しかしながら、上記方法では、前記環状の光源から、被検査物に対して斜めに光が当たることになり、その結果、被検査物が立体的形状の場合には影が発生して正確かつ安定な画像処理ができない場合がある。また、表面に透明なコーティング層等が存在する場合、斜めからの光では前記コーティング層表面で照射光が散乱するために下層の欠陥を判別できなくなる場合も生ずる。よって、このような検査対象においては被検査物に対して垂直に検査光を照射することが必要とされる。
【0004】
上記問題点を解決する方法としては、撮像カメラと被検査物を結んだ直線上にハーフミラーを配置し、横からハーフミラーに向けて光を照射して光軸上に照明光を落射する、いわゆる同軸落射と呼ばれる技術が知られており広く行われている。
【0005】
また、特開平9−311928号公報には、被検査物を撮像する撮像素子と、前記撮像素子の周囲に配置され、前記被検査物の真上から前記被検査物に光を照射する発光素子とを具備することを特徴とする同軸落射照明内蔵カメラであって、前記撮像素子がCCDチップであり、前記発光素子が発光ダイオードである同軸落射照明内蔵カメラが開示されている。
【0006】
更に、特開平11−173822号公報には、電子部品に照明器から照明光を照射しながら、撮像素子で電子部品の外観及び表面の表示を撮像する装置であって、電子部品の平面に対してほぼ垂直に光を照射し、撮像素子の光軸を囲むようにリング状に配置されている第一の照明器と、電子部品の平面に対して斜めに光を照射する第二の照明器と、電子部品の平面に対してほぼ垂直な光軸で同平面を撮像する撮像素子とを有し、前記照明器が発光ダイオードである電子部品外観撮像装置が開示されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の同軸落射による方法においては、光軸の問題は解決して完全な同軸落射となるものの、ハーフミラーを通過させることによって、被検査物への照射光量、及び撮像素子への到達光量が大幅に低下してしまうので、特に被検査物の微小部分を拡大して検査する場合等には光量不足となるという問題点がある。更に、ハーフミラーを同軸上に配置するので、構造も複雑でコンパクト化できず、またコスト高になるという問題点も生じる。
【0008】
また、前記特開平9−311928号公報の技術においては、同軸落射照明をカメラに内蔵したので装置がコンパクトになり、ほぼ垂直に照射することが可能ではあるが、メンテナンス等が複雑となり、また、内蔵であるため既存のCCDカメラには取り付けられず汎用性がないという問題点がある。
【0009】
更に、前記特開平11−173822号公報の技術においては、電子部品の平面に対してほぼ垂直に光を照射する第一の照明器が撮像素子の周囲に直接配置されているので、発光ダイオードの数が増えた場合には光軸から離れた外周位置に環状等に配置されることになる。このため、検査エリアが非常に小さい半導体等の場合には、被検査物に対して垂直に落射されないという問題点を生じる。
【0010】
そこで、本発明の目的は、検査に必要とされる照明に充分な光量を、被検査物にほぼ垂直に落射でき、しかも、比較的安いコストでコンパクトに製造でき、尚且つ既存の撮像カメラに取り付け可能である発光ダイオード照明光源を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の発光ダイオード照明光源は、所定箇所に孔が形成された1枚の基板と、前記基板上の前記孔の周囲に実装支持された第1発光ダイオード群と、前記基板の前記第1発光ダイオード群の周囲に、同心円状に実装支持された第2発光ダイオード群と、多角錐台の中央に撮像用の孔を設け、該多角錐台の周壁を構成する複数の斜面を反射面とし、前記撮像用の孔が前記基板の孔と整合するように、前記基板に取付けられた多面反射鏡とを備え、前記第1発光ダイオード群は、それらの足部を折り曲げられて、光の照射方向が前記多面反射鏡の対応する反射面を指向し、発した光が前記多面反射鏡の対応する反射面で反射して被検査物に照射されるように、放射状に配置されており、前記第2発光ダイオード群は、発した光が直接被検査物に向けて照射されるように、配置されていることを特徴とする。
【0012】
本発明によれば、前記第1発光ダイオード群で発光された光が、前記多面反射鏡で折り返されて反射鏡の直下の被検査物に対して照射される。この場合、前記反射鏡を利用することにより、撮像光軸に極めて近い位置で反射させることが可能であることから、前記撮影光軸に対してほぼ同軸に落射することができ、検査範囲が狭い場合においても適用可能である。
また、前記多面反射鏡を利用して放射状に設置された複数の発光ダイオード光を同時に落射できるので、十分な光量を得ることができる。
更に、中央部に撮像用の孔を設けたので、既存のCCDカメラ等にも容易に設置可能であり汎用性に優れる。
【0013】
また、第1発光ダイオード群による、ほぼ同軸の落射に加え、第2発光ダイオード群による斜め方向からの照射も可能となり、第1及び第2発光ダイオード群を同時に又は切換えて使用することにより、更に検査精度を向上させることができる。
本発明においては、前記多面反射鏡と前記第1発光ダイオード群との間の円周上に支持台が配置され、この支持台には前記第1発光ダイオード群の各発光ダイオードに対応して凹部が形成されており、前記各発光ダイオードは、それらの足部を折り曲げられて前記凹部に嵌合して、前記多面反射鏡の対応する反射面を指向するように支持されていることが好ましい。
本発明においては、前記基板上には、前記第2発光ダイオード群の各発光ダイオードに対応する複数の孔を環状に有すると共に、前記多面反射鏡が望む孔を中心部に有するハウジングが、前記第2発光ダイオード群の各発光ダイオードが対応する前記孔に挿入されて前記被検査物を指向するように設置されていることが好ましい。
本発明においては、前記多面反射鏡の各反射面は、凹曲面をなすものであることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図1から図4に、本発明による発光ダイオード照明光源の一実施形態を示し、本発明を更に詳細に説明する。
図1は本発明による発光ダイオード照明光源の側面図、図2は同照明光源の平面図、図3は同照明光源の斜視図、図4は同照明光源の分解斜視図を示す。
【0015】
図1〜図4に示すように、本実施形態の発光ダイオード照明光源100は、基板110、多面反射鏡120、第1発光ダイオード群130、支持台140、押え板150、第2発光ダイオード群160、及びハウジング170から構成されている。
【0016】
以下、各構成要素について説明する。
基板110は、前記多面反射鏡120を貫通させる孔111を有しており、更には抵抗器等の回路部品112、電源用のコネクタ113が配置されている。また、孔111の周囲には、第1発光ダイオード群130が支持されており、更に第1発光ダイオード群130の周囲には、同心円状に第2発光ダイオード群160が支持されている。
【0017】
ここで、第1発光ダイオード群130及び第2発光ダイオード群160に用いる発光ダイオードとしては、従来より通常用いられているものが使用でき、特に限定されない。また、発光ダイオードとして、所望の色のものを選択することにより、目的に応じた色の照明光を出力させることができる。この場合、予めRGB3色の発光ダイオードを交互に混ぜて配置し、目的とする色に応じて所望の発光ダイオードだけを発光させるようにすれば、1つの照明光源で各種の色を出力させることも可能である。
【0018】
多面反射鏡120は、基板110への取付けのためのフランジ部121と、基板110の孔111を介して前記基板110の裏面から挿入されて基板上に突出する多角錐台状の本体とを有している。また、フランジ部121の孔124を利用し、後述の止めネジ151によって基板110に固定されている。
【0019】
本発明においては、多面反射鏡120は、多角錐台の中央に撮像用の孔123を有しており、その多角錐台の周壁を構成する複数の斜面が反射面122をなしている。図1〜4の本実施の形態では9面の反射面を有する9面反射鏡となっており、9角錐台の形状となっている。なお、多角錐台の反射面122の数は特に限定されず、必要な光量に合わせて3角錐台、4角錐台等適宜選択可能である。また、多面反射鏡120の大きさも特に限定されないが、撮像光軸に対してより同軸に近く落射するためには小さいほうが好ましい。
【0020】
反射面122としては、アルミニウムや真鍮等の金属を研磨加工したものや、ガラスや合成樹脂をモールド成形し、その表面にアルミニウム、金、銀等の金属蒸着を施したものなど、発光ダイオード光を好適に反射する材料が適宜利用できる。また、反射面122の傾斜角度も被検査物180の大きさ、照射距離によって適宜変更できる。
【0021】
撮像用の孔123の大きさ、形状は特に限定されず、撮像カメラ190の素子部の大きさ、形状に合わせて適宜選択でき、必ずしも円形でなくともよい。更に、反射面122は必ずしも平面である必要はなく、凹曲面等にして反射した発光ダイオード光が広がらないようにすることも可能である。
【0022】
支持台140は、多面反射鏡120を貫通させる孔142を有しており、基板110上の、前記多面反射鏡120と第1発光ダイオード群130との間の円周上に配置されている。ここで、支持台140には、第1発光ダイオード群130の各発光ダイオードに対応して凹部141が形成されており、基板110に実装された各発光ダイオードは、それらの足部を折り曲げられて上記凹部141に嵌合して水平に支持され、光の照射方向が前記多面反射鏡120の対応する反射面122に指向するように放射状に配置されている。
【0023】
更にその上部から、やはり多面反射鏡120が望む孔152を有する押え板150が配置され、止めネジ151をこの押え板150、支持台140、基板110を通して多面反射鏡のフランジ部121に螺着することにより、第1発光ダイオード群130及び多面反射鏡120が基板110に固定されている。
【0024】
一方、同じく基板110上に支持され、前記第1発光ダイオード群130の周囲に同心円状に配置された第2発光ダイオード群160は、ハウジング170の孔171に挿入されて、所定の照射角度で支持されるようになっている。すなわち、ハウジング170は、第2発光ダイオード群160の各発光ダイオードに対応する複数の孔171を環状に有し、中心部には多面反射鏡120が望む孔142を有している。そして、ハウジング170は、第2発光ダイオード群160の上部から嵌め込まれ、フランジ部の孔172を通して図示しない止めネジを基板110に螺着させることにより、基板110に固定されている。
【0025】
ここで、ハウジング170の孔171は、被検査物180への照射角度に合わせた所定の角度をなして成形されており、第2発光ダイオード群160の各発光ダイオードは、上記孔171に内挿されて、所定の照射角度をなして保持されるようになっている。
【0026】
第2発光ダイオード群160の被検査物180への照射角度は、被検査物180への照射範囲、距離等によって適宜設定することができ、ハウジング170の孔171の角度を変えることにより変更可能である。また、環状に配列された第2発光ダイオード群はかならずしも1列である必要はなく、2重、3重に環状に配列していても差し支えない。
【0027】
撮像カメラ190は、図1に示すように多面反射鏡120の撮像用の孔123を望む上部にあり、撮像素子(図示しない)の光軸は、被検査物180に向けて垂直になるように配置される。撮像素子としてはCCD等が好適に用いることができる。
【0028】
ここで、本発明の発光ダイオード照明光源100と被検査物180の距離は、被検査物180の大きさ、照射範囲等により選択可能であり特に限定されない。また、撮像カメラ180は、図1に示すように発光ダイオード照明光源100と離れて配置されていてもよく、多面反射鏡120の撮像用の孔123に内挿されていてもよい。
【0029】
次に、この発光ダイオード照明光源100の作用について説明する。
まず、電源回路(図示しない)から基板110上のコネクタ113、電子回路部品112を有する回路パターン配線(図示しない)を介して第1発光ダイオード群130及び第2発光ダイオード群160に所定の電圧が供給されて発光ダイオード群が発光する。
【0030】
図1の想像線で示すように、前記第1発光ダイオード群130から前記多面反射鏡120の反射面122に向かって発光した光は、対応する各反射面122で反射されて被検査物180に照射され、前記多面反射鏡120の撮像用の孔123を介して、撮像カメラ190によって検査が行われる。
【0031】
このとき、多面反射鏡120は撮像用の孔123の周囲に隣接して反射面122を有しているので、発光ダイオードの光は撮像光軸に対してほぼ平行に近く、これにより、同軸落射に近い照明効果が得られる。
また、第1発光ダイオード群130の数を増加させた場合にも、各発光ダイオードは放射状に配置できるためスペース上の制限が少なく、反射面122の数を増やすことにより対応可能であるために多面反射鏡を大きくする必要はない。よって、落射の角度は、ほぼ撮像光軸と平行に維持したまま、発光ダイオードの数を増やして光量を増加させることができるので、周囲に直接ダイオードを配置した場合に比べて非常に有利であり、特に、被検査物が非常に小さい場合や、微小部分を拡大して検査する必要な場合等においても十分な光量でかつ同軸落射に近い照射が可能となるものである。
【0032】
また、本発明の発光ダイオード照明光源においては、撮像カメラ190は、前記多面反射鏡120の撮像用の孔123を介して検査可能であるので、既存のCCDカメラ等に取り付け可能でありながら、同軸落射に近い照明効果を得ることができるので汎用性に優れる。しかも低コストで生産可能であり、内蔵型に比べてメンテナンス性にも優れるものである。
【0033】
一方、第2発光ダイオード群160から発した光は、直接被検査物180に向けて斜めに照射される。これにより、前記第1発光ダイオード群130のみでは検査精度が不十分な垂直方向の凹凸形状等の検査も可能とすることができ、更に第1発光ダイオード群130では不十分な光量、明るさのムラも補うことができることになる。
【0034】
尚、本発明においては、第2発光ダイオード群160は、第1発光ダイオード群130と同時に併用して使用してもよく、また第1発光ダイオード群130と切換えて別個に使用してもよく適宜選択可能である。これにより、被検査物180の形状や性質に合わせて、必要な部分を精度良く検査することが共通の照明光源で可能となる。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、検査に必要とされる照明に充分な光量を、被検査物が小さい場合、又は画像処理で拡大が必要な狭い検査範囲に対してもほぼ垂直に落射でき、しかも、比較的安いコストでコンパクトに製造でき、尚且つ既存の撮像カメラに取り付け可能である発光ダイオード照明光源を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による発光ダイオード照明光源の側面図である。
【図2】同照明光源の平面図である。
【図3】同照明光源の斜視図である。
【図4】同照明光源の分解斜視図である。
【符号の説明】
100 発光ダイオード照明光源
110 基板
120 多面反射鏡
122 反射面
123 撮像用の孔
130 第1発光ダイオード群
140 支持台
150 押え板
160 第2発光ダイオード群
170 ハウジング
180 被検査物
190 撮像カメラ
Claims (4)
- 所定箇所に孔が形成された1枚の基板と、
前記基板上の前記孔の周囲に実装支持された第1発光ダイオード群と、
前記基板の前記第1発光ダイオード群の周囲に、同心円状に実装支持された第2発光ダイオード群と、
多角錐台の中央に撮像用の孔を設け、該多角錐台の周壁を構成する複数の斜面を反射面とし、前記撮像用の孔が前記基板の孔と整合するように、前記基板に取付けられた多面反射鏡とを備え、
前記第1発光ダイオード群は、それらの足部を折り曲げられて、光の照射方向が前記多面反射鏡の対応する反射面を指向し、発した光が前記多面反射鏡の対応する反射面で反射して被検査物に照射されるように、放射状に配置されており、
前記第2発光ダイオード群は、発した光が直接被検査物に向けて照射されるように、配置されていることを特徴とする発光ダイオード照明光源。 - 前記多面反射鏡と前記第1発光ダイオード群との間の円周上に支持台が配置され、この支持台には前記第1発光ダイオード群の各発光ダイオードに対応して凹部が形成されており、前記各発光ダイオードは、それらの足部を折り曲げられて前記凹部に嵌合して、前記多面反射鏡の対応する反射面を指向するように支持されている請求項1記載の発光ダイオード照明光源。
- 前記基板上には、前記第2発光ダイオード群の各発光ダイオードに対応する複数の孔を環状に有すると共に、前記多面反射鏡が望む孔を中心部に有するハウジングが、前記第2発光ダイオード群の各発光ダイオードが対応する前記孔に挿入されて前記被検査物を指向するように設置されている請求項1又は2記載の発光ダイオード照明光源。
- 前記多面反射鏡の各反射面は、凹曲面をなす請求項1〜3のいずれか1つに記載の発光ダイオード照明光源。
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Citations (2)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0672046U (ja) * | 1993-03-17 | 1994-10-07 | 三洋電機株式会社 | 検査装置用照明装置 |
JPH096942A (ja) * | 1995-06-16 | 1997-01-10 | Copal Co Ltd | 刻印読取り装置 |
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