JP4564441B2 - 回路基板 - Google Patents

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Description

本発明は、種々の電子機器や電子回路ユニット等に使用され、特に、半導体部品の取付に適した回路基板に関するものである。
半導体部品の取付に使用される従来の回路基板を図3,図4に基づいて説明すると、絶縁基板51に設けられた導電パターン52は、ビアを含むパターン部52aと、このパターン部52aの一部に設けられたランド部52bを有し、このランド部52b上には、無電解メッキによって形成され、ニッケルを下地層53aとし、金を上部層53bとした金属層53が設けられて、従来の回路基板が形成されており、このような従来の回路基板には、図4に示すように、半導体部品54の電極55が金属層53に半田56で接続されるようになっている(例えば、特許文献1参照)。
このような半導体部品の取付に使用される従来の回路基板の導電パターン52は、一般的には図5に示すように、電気信号が流れるパターン部52aに接続されたランド部52bと、電気的にノンコネクション(非接続)のNCランド部52cとで構成され、このNCランド部52cは、半導体部品54の半田付強度を増大させたり、将来の半導体回路の増加のために予備的に設けたり、或いは、現在では使用されなくなった半導体回路の残存用として形成されており、このような導電パターン52のランド部52bとNCランド部52cには、パターン部52aを絶縁被覆57によって覆った状態で無電解メッキによって金属層53が形成されるようになっている。
特開平11−163042号公報
しかし、回路基板に構成されたNCランド部52cとランド部52bの表面にニッケルあるいは金を無電解メッキにより形成する場合、NCランド部52cとランド部52bは、ほぼ同じ露出面積を有しているが、絶縁被膜57で覆われたパターン部52aを含むランド部52bは導体の体積が大きいのに対して、パターン部52aが存在しないNCランド部52cは導体の体積が著しく小さいので、無電解メッキ液に浸漬しニッケルまたは金を露出部の表面に析出する量が少なくなる。
このため、ニッケル下地層53aが薄い場合は、ランドを形成する銅が金上部層53bに移行してしまうので、半田とのなじみが悪化し確実な半田接続ができず、金上部層53bが薄い場合は、ニッケル下地層53aに対する酸化防止が低下し、確実な半田接続に支障を来すという問題があった。
本発明は、このような従来技術の実情に鑑みてなされたもので、その目的は、NCランド部の金属層の形成が厚くできて、半田付の確実な回路基板を提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明の第1の解決手段として、金属からなる導電パターンが形成された絶縁基板を備え、前記導電パターンは、絶縁被膜から表面が露出したランド部と、前記絶縁被膜に覆われた状態で前記ランド部に接続され、電気信号が流れるパターン部と、前記絶縁被膜から表面が露出したNCランド部と、前記絶縁被膜に覆われた状態で前記NCランド部に接続され、電気信号が流れない延設パターン部を有し、複数の前記NCランド部を有し、前記NCランド部の複数が前記延設パターン部によって接続され、前記ランド部と前記NCランド部は、双方の前記ランド部によって四角状に配設され、前記延設パターン部が前記四角状内に形成され、前記ランド部と前記NCランド部には、無電解メッキによって形成された金属層が設けられた構成とした。
また、第の解決手段として、前記ランド部と前記NCランド部には、半導体部品の電極が半田付けされた構成とした。
本発明の回路基板において、導電パターンは、絶縁被膜から表面が露出したランド部と、絶縁被膜に覆われた状態でランド部に接続され、電気信号が流れるパターン部と、絶縁被膜から表面が露出したNCランド部と、絶縁被膜に覆われた状態でNCランド部に接続され、電気信号が流れない延設パターン部とを有し、複数のNCランド部を有し、NCランド部の複数が延設パターン部によって接続され、ランド部とNCランド部は、双方の前記ランド部によって四角状に配設され、延設パターン部が四角状内に形成され、前記ランド部と前記NCランド部には、無電解メッキによって形成された金属層が設けられて構成されたため、延設パターン部に結合され、この延設パターを含むNCランド部の体積は、パターン部に結合され、このパターン部を含むランド部の体積とほぼ等しくなって、NCランド部上に無電解メッキによって金属層が形成され際には、ランド部上と同等の厚さの金属層が形成でき、半田付の確実なものが得られる。
また、複数のNCランド部を有し、NCランド部の複数が延設パターン部によって接続されたため、延設パターン部をNCランド部毎に個々に設けることなく、延設パターン部を互いに兼用できて、小型化を図ることができる。
また、ランド部とNCランド部は、双方のランド部によって四角状に配設され、延設パターン部が四角状内に形成されたため、延設パターン部のスペースファクタが良く、小型化を図ることができる。
また、ランド部とNCランド部には、無電解メッキによって形成された金属層が設けられたため、NCランド部上にはランド部上と同等の厚さの金属層が形成できて、半田付の確実なものが得られる。
また、ランド部とNCランド部には、半導体部品の電極が半田付けされたため、挟ピッチ化、小ランド部化が要求される半導体部品において、半田付の確実なものが得られる。
発明の実施の形態について図面を参照して説明すると、図1は本発明の回路基板に係る要部の拡大断面図、図2は本発明の回路基板に係る要部の平面図であり、次に、本発明の回路基板に係る構成を図1,図2に基づいて説明すると、セラミック等からなる絶縁基板1には、導電パターン2が設けられ、この導電パターン2は、電気信号が流れるパターン部2aと、このパターン部2aの一部に設けられた複数のランド部2bと、電気的にノンコネクション(非接続)の複数のNCランド部2cと、このNCランド部2cに接続された電気的にノンコネクション(非接続)の延設パターン部2dを有し、そして、ランド部2bとNCランド部2cは、双方のランド部2b、2cによって四角状に配設されると共に、NCランド部2cに接続された延設パターン部2dは、複数のNCランド部2cに繋がった状態で、四角状内に形成されている。
この絶縁基板1上には、パターン部2aと延設パターン部2dを覆うレジストからなる絶縁被膜3が設けられ、ランド部2bとNCランド部2cの表面が絶縁被膜3から露出した状態で、ランド部2bとNCランド部2c上には、無電解メッキによって形成され、ニッケルを下地層4aとし、金を上部層4bとした金属層4が設けられて、本発明の回路基板が形成されている。
このような本発明の回路基板には、図1に示すように、ベアチップ等からなる四角形状をなした半導体部品5の電極6がランド部2b、及びNCランド部2c上の金属層4に半田7付されるようになっているが、半導体部品5は、複数のランド部2bと、半導体部品5の半田付強度を増大させたり、将来の半導体回路の増加のために予備的に設けたり、或いは、現在では使用されなくなった半導体回路の残存用としての複数のNCランド部2cに半田7付けされている。
また、ランド部2b上とNCランド部2c上への金属層4の形成のための無電解メッキは、前処理としてランド部2b上とNCランド部2c上に脱脂とソフトエッチングを含む活性化処理した後、ニッケルが溶融した無電解メッキ液に浸漬し、酸化還元方によってニッケルメッキ膜を形成し、このニッケルメッキ膜の上に、金が溶融した無電解メッキ液に浸漬し、酸化還元方によって金メッキ膜が形成されるが、メッキされるNCランド部2cは延設パターン部2dを含む体積が大きいため、電位差が大きくなってイオンが付着する量が多くなり、ランド部2bと同等の厚さの金属層4が形成できると共に、ランド部の挟ピッチ化や小ランド部化においても、NCランド部2c上に形成された金属層4は、ランド部2bと同等の厚さが得られるようになる。
本発明の回路基板に係る要部の拡大断面図である。 本発明の回路基板に係る要部の平面図である。 従来の回路基板に係る要部拡大断面図である。 従来の回路基板に係り、半導体部品を取り付けた状態を示す要部拡大断面図である。 従来の回路基板に係る要部の平面図である。
符号の説明
1 絶縁基板
2 導電パターン
2a パターン部
2b ランド部
2c NCランド部
2d 延設パターン部
3 絶縁被膜
4 金属層
4a 下地層
4b 上部層
5 半導体部品
6 電極
7 半田

Claims (2)

  1. 金属からなる導電パターンが形成された絶縁基板を備え、前記導電パターンは、絶縁被膜から表面が露出したランド部と、前記絶縁被膜に覆われた状態で前記ランド部に接続され、電気信号が流れるパターン部と、前記絶縁被膜から表面が露出したNCランド部と、前記絶縁被膜に覆われた状態で前記NCランド部に接続され、電気信号が流れない延設パターン部を有し、
    複数の前記NCランド部を有し、前記NCランド部の複数が前記延設パターン部によって接続され、
    前記ランド部と前記NCランド部は、双方の前記ランド部によって四角状に配設され、前記延設パターン部が前記四角状内に形成され
    前記ランド部と前記NCランド部には、無電解メッキによって形成された金属層が設けられたことを特徴とする回路基板。
  2. 前記ランド部と前記NCランド部には、半導体部品の電極が半田付けされたことを特徴とする請求項1に記載の回路基板。
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