JP4548994B2 - 面圧センサ - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は面圧センサの検出感度を向上する構造改良に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、面圧を直接検出する手段として感圧紙があるが、最高圧のデータしか得られないため、電気的な圧力ゲージを備えたセンサが提案されている。かかるセンサによれば、最高圧以外にも圧力の経時変動の測定が可能である。
【0003】
特開平8−327474号公報には、複数の帯状の電極が並列するように形成された2つの層を、一方の層の帯状電極と他方の層の帯状電極とが交叉するように貼り合わせるとともに、両帯状電極の対向面のそれぞれには感圧導電インク層を形成したものがある。このものでは、交叉位置における感圧導電インク層の接触面積が層の厚さ方向の圧力によって変化し、交叉位置における電極間の抵抗値変化から面圧を求めるようにしている。この技術では、さらに一方の層の帯状電極の幅が段階的に変化する形状として、前記交叉位置における検出感度を、帯状電極の幅に応じて複数種類選択可能としている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記特開平8−327474号公報記載の技術では、微小な圧力に対して検出感度を高めようとすれば、感圧導電インク層を挟む両帯状電極の対向部の面積を広くすることになるが、これらの周囲を配線用のパターン等で取り囲む場合等には、十分には対向部の面積を広くすることはできず、加圧面からの面圧が感度十分に検出信号に反映されない。
【0005】
本発明は前記実情に鑑みなされたもので、面圧を高感度で検出することのできる面圧センサを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明では、基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記面圧の大きさに応じて変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
前記抵抗体のうち、前記ホイートストンブリッジ回路の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置の直上位置で前記積層構造体の表面に、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成され、前記受圧ブロックを載置する複数の台部を突設するとともに、他の2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置には台部を非形成とし、
前記抵抗体の形成位置を含む位置で前記積層構造体の表面に、前記受圧ブロックを載置する台部を突設し、
前記受圧ブロックを、前記相手方部材との当接面積が前記台部の平面積よりも広い形状とする。
【0010】
相手方部材からの力は、受圧ブロックから台部を経てその直下の抵抗体に伝達される。抵抗体では伝達された力の大きさに応じて抵抗値が変化し、検出しようとする面圧に応じた検出信号が得られる。
【0011】
前記台部の平面積が受圧ブロックと相手方部材との当接面積よりも狭いから、受圧ブロックが相手方部材から受ける力が、ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体形成位置に集中することになる。そして、ホイートストンブリッジ回路の他方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体形成位置には圧力が伝達されない。これにより、高感度で面圧を検出することができる。
【0014】
請求項記載の発明では、基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記基板の一部を薄肉としてダイアフラムとし、前記面圧の大きさに応じてダイアフラムが撓むことにより変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
前記抵抗体のうち、前記ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの中央部に形成し、
前記ホイートストンブリッジ回路の他方対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの周縁側の位置に形成し、
前記ダイアフラム中央部の複数の抵抗体の形成位置の直上位置で前記積層構造体の表面に、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成され、前記受圧ブロックを載置する台部を突設するとともに、前記ダイアフラム周縁側の複数の抵抗体の形成位置には台部を非形成とし、
前記受圧ブロックを、前記相手方部材との当接面積が前記台部の平面積よりも広い形状とする。
【0015】
相手方部材からの力は、受圧ブロックから積層構造体に伝達される。前記台部の平面積が受圧ブロックと相手方部材との当接面積よりも狭いから、受圧ブロックが相手方部材から受ける力はダイアフラムの中央部に集中し、ダイアフラムが大きく撓む。そして、ダイアフラム中央部の抵抗体では圧縮方向の歪みが生じ、ダイアフラム周縁側の抵抗体では引っ張り方向の歪みが生じる。しかして、ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体と他方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体とで、歪みの大きさに応じて抵抗値が逆方向に変化し、検出しようとする面圧に応じた圧力信号が高感度で得られる。
【0016】
請求項記載の発明では、請求項1または2の発明の構成において、前記積層構造体と前記受圧ブロックとを、前記台部の段差よりも薄い絶縁被膜で覆う構造とする。
【0017】
この結果、本受圧センサを腐食環境や水中で使用することが可能となる。
【0018】
絶縁被膜により覆われて積層構造体と受圧ブロックとが一体化する。絶縁被膜が台部の段差よりも薄いので、台部以外の場所で積層構造体と受圧ブロックとが接触せず、感度の個体差や感度の低下を抑制することができる。
【0023】
請求項記載の発明では、基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記面圧の大きさに応じて変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
該受圧ブロックを、前記抵抗体のうち、前記ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置の直上位置から前記積層構造体側に突出し、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成される、複数の脚部を具備するとともに、他方の2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置には脚部を非形成とし、かつ、前記積層構造体との当接面積よりも前記相手方部材との当接面積の方が広い形状とする。
【0024】
相手方部材からの力は、受圧ブロックからその脚部直下の抵抗体に伝達される。抵抗体では伝達された力の大きさに応じて抵抗値が変化し、検出しようとする面圧に応じた圧力信号が得られる。
【0025】
前記受圧ブロックと前記積層構造体との当接面積が受圧ブロックと相手方部材との当接面積よりも狭いから、受圧ブロックが相手方部材から受ける力が、ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体の形成位置に集中することになる。そして、ホイートストンブリッジ回路の他方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体の形成位置には圧力が伝達されない。これにより、高感度で面圧を検出することができる。
【0026】
しかも、脚部が、抵抗体が形成される積層構造体とは別体であり、受圧ブロックと積層構造体との熱膨張率の相違で面圧センサの出力特性が温度変動で影響するのを防止することができる。
【0030】
請求項記載の発明では、基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記基板の一部を薄肉としてダイアフラムとし、前記面圧の大きさに応じてダイアフラムが撓むことにより変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
前記抵抗体のうち、前記ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの中央部に形成し、
前記ホイートストンブリッジ回路の他方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの周縁側の位置に形成し、
前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
該受圧ブロックを、前記ダイアフラム中央部の複数の抵抗体の形成位置の直上位置から前記積層構造体側に突出し、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成される、複数の脚部を具備するとともに、前記ダイアフラム周縁側の複数の抵抗体の形成位置には台部を非形成とし、かつ、前記積層構造体との当接面積よりも前記相手方部材との当接面積の方が広い形状とする。
【0031】
相手方部材からの力は、受圧ブロックからその脚部位置で積層構造体に伝達される。受圧ブロックと前記積層構造体との当接面積が受圧ブロックと相手方部材との当接面積よりも狭いから、受圧ブロックが相手方部材から受ける力はダイアフラムの中央部に集中し、ダイアフラムが大きく撓む。そして、ダイアフラム中央部の抵抗体では圧縮方向の歪みが生じ、ダイアフラム周縁側の抵抗体では引っ張り方向の歪みが生じる。しかして、ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体と他方の対向辺となる2つの線路を構成する抵抗体とで、歪みの大きさに応じて抵抗値が逆方向に変化し、検出しようとする面圧に応じた圧力信号が得られる。
【0032】
しかも、脚部が、抵抗体が形成される積層構造体とは別体であり、受圧ブロックと積層構造体との熱膨張率の相違で面圧センサの出力特性が温度変動で影響するのを防止することができる。
【0033】
請求項記載の発明では、請求項4または5の発明の構成において、前記積層構造体の前記受圧ブロックとの対向面に前記受圧ブロックの位置決め用の段差を形成する。
【0034】
段底部に受圧ブロックを納めるだけで受圧ブロックの脚部の直下に所定の抵抗体が位置するから、面圧センサの個体差が少なく、検出感度がばらつかない。
【0035】
請求項記載の発明では、請求項ないしの発明の構成において、前記積層構造体と前記受圧ブロックとを、前記脚部の段差よりも薄い絶縁被膜で覆う構造とする。
【0036】
この結果、本受圧センサを腐食環境や水中で使用することが可能となる。
【0037】
絶縁被膜により覆われて積層構造体と受圧ブロックとが一体化する。絶縁被膜が脚部の高さよりも薄いので、脚部以外の場所で積層構造体と受圧ブロックとが接触せず、感度の個体差や感度の低下を抑制することができる。
【0038】
請求項記載の発明では、請求項1ないしの発明の構成において、前記基板上には温度に応じて抵抗値が変化する抵抗体を設けて、前記抵抗値に基づいて面圧の検出信号を補正可能とする。
【0039】
使用環境の温度変動によらず高精度に面圧を測定することができる。
【0040】
【発明の実施の形態】
(第1実施形態)
以下、図面にしたがい、本発明の面圧センサについて説明する。図1に面圧センサの上面を、図2に面圧センサの側面を示す。図3は面圧センサが設置された状態を示している。本実施形態は、相手方部材である板状部材12が重ねられて、その方向に力が伝達する装置に関するもので、各板状部材12の一方の面には格子状に正方形の凸部121が形成されており、この凸部121で力が伝達していくようになっている。板状部材12には一部に凸部121を間引いたところが形成してあり、ここに面圧センサ11が設置される。
【0041】
面圧センサ11は、基板であるセンサ基板21上に薄膜形成とフォトリソグラフィを組み合わせた微細加工技術によりセンサ形成層22が形成された積層構造体であるセンシング部2を有している。薄膜形成はスパッタリング、蒸着、CVD等の一般的な成膜技術が用いられ得る。センサ基板21は、これに板状部材12との対向面からの圧力が印加されるため面圧により塑性変形を起こさない耐力の大きなものが用いられ、例えば0.2mmのSiにより構成する。また、面圧センサ11は微細なセンサ構造を有するため、断線等のない所期のセンサ構造が得られるように、センサ基板21の表面は成膜に先立ち鏡面研磨されていることが望ましい。
【0042】
センシング部22は圧力検知のためのゲージ(感圧ゲージ)421,422,423,424,431,432,433,434、温度補正のためのゲージ(感温ゲージ)44を有している。これらは後述するように、圧力や温度に応じて抵抗値が変化する抵抗体であり、センサ基板21上に積層する絶縁膜41の層間に設けられている。絶縁膜41の層間にはまた、これら感圧ゲージ421〜434、感温ゲージ44の配線用の配線膜45が設けられている。
【0043】
感圧ゲージ421〜434、感温ゲージ44は正方形の各頂点位置および各辺の中点位置にそれぞれ、合計8か所に、実質的に同じ構造のものが形成される。
感圧ゲージ421〜434は、圧力感度が高く、歪み感度や温度感度の小さい材質、例えばCr60〜99原子%、酸素20〜30原子%、金属元素0〜10原子%のCrサーメットやマンガニン等を成膜して、これをフォトリソグラフィにより、図4に示すような蛇行パターンに形成したものである。蛇行パターンとすることでコンパクト化しており、縦横0.1〜0.4mm程度の大きさとなっている。感圧ゲージ421〜434では、その両面から圧力が印加されると、その圧力の大きさに応じて電気抵抗値が変化する。
【0044】
感圧ゲージ421〜434は抵抗値(以下、適宜、ゲージ抵抗という)が50Ω以上となるように長さおよび幅を設計するのがよい。ゲージ抵抗を下げるには、線幅を狭く、線路長を長くとることになる。ここで、線幅は、断線を回避するため、下地の欠陥の大きさやフォトリソグラフィの最小加工寸法等を考慮して設定する。配線膜45の抵抗(以下、適宜、配線抵抗という)/ゲージ抵抗を小さくして測定誤差を抑えるためである。また、ゲージ抵抗が小さいと、その分、面圧検出信号が小さくなり、十分なS/Nを確保することができないためである。
【0045】
感温ゲージ44は温度感度が高く、歪み感度や圧力感度の小さい材質、例えばTiやPt等を成膜して、これをフォトリソグラフィにより蛇行パターンに形成したものである。感温ゲージ44は感圧ゲージ421〜434と近接して形成され、感温ゲージ44により検出された温度は感圧ゲージ421〜434の温度とみなすことができる。
【0046】
配線膜45には比抵抗が小さく、圧力、歪み、および温度等に対する感度が低いことが望まれる。AlやCuが好適である。
【0047】
また、絶縁膜41は配線膜45上の所定位置がフォトリソグラフィにより開口せしめてあり、開口部には外部の計測回路と配線膜45とを接続するための電極膜46が形成される。電極膜46にはリード線47の取り付けを行い得るようになっている。
【0048】
センシング部2とその上方の板状部材12との間には受圧ブロック3が介設せしめてあり、板状部材12からの面圧をセンシング部2へと伝達するようになっている。受圧ブロック3は樹脂やCu、SUS等の金属等を成形したもので、図例のものでは板状部材12に形成された前記凸部121と同じ平面形状を有する矩形体である。
【0049】
一方、受圧ブロック3の直下位置でセンシング部2の表面には台部231,232,232,234が形成してあり、台部231〜234上に受圧ブロック3が載置される。台部231〜234はAl等を成膜して、フォトリソグラフィによるパターン転写で前記感圧ゲージ421〜434形成位置を規定する前記正方形の4か所の頂点位置に形成した島パターンである。したがって、台部231〜234は、感圧ゲージ421,422,423,424上に、これと1対1に対応して形成されることになる。台部231〜234は矩形で、直下の感圧ゲージ421〜424をカバーする大きさとしてあり、かつ、前記正方形の各辺の中点位置の感圧ゲージ431,432,433,434や感温ゲージ44の形成位置が外れるような大きさとしてある。なお、以下の説明において、適宜、台部231〜234の直下に位置する感圧ゲージ421〜424をアクティブゲージ421〜424といい、台部231〜234の直下に位置しない残りの感圧ゲージ431〜434をダミーゲージという。
【0050】
8つの感圧ゲージ421〜434は2つずつ配線パターン45により直列に接続されて4つの線路を形成している。図5はかかる線路の配線状態を示す回路図であり、線路51,52,53,54がさらに接続されてホイートストンブリッジ回路5を形成している。相隣れる線路51〜54の接続点は4つの電極膜46からリード線47を介して取り出される。ホイートストンブリッジ回路5の2つの対向辺のうち、一方の対向辺となる2つの線路51,52はアクティブゲージ421〜424のみで構成される。他方の対向辺となる2つの線路53,54はダミーゲージ431〜434のみで構成される。入力電圧を、アクティブゲージ421,422で構成された一方の線路51とダミーゲージ433,434で構成された一方の線路54とで分割した電圧と、ダミーゲージ431,432で構成された他方の線路53とアクティブゲージ423,424で構成された他方の線路52とで分割した電圧との差分が圧力検出信号として取り出されるようになっている。
【0051】
さて、受圧ブロック3に印加された力は、4つの台部231〜234に分散してセンシング部2に伝達される。受圧ブロック3は、アクティブゲージ421〜424の他、ダミーゲージ431〜434、感温ゲージ44、配線膜45が形成された領域(電極膜46で囲まれた領域)程度の大きさを有しており、台部231〜234の平面積(厳密には台部231〜234の基端部の面積)が受圧ブロック3の板状部材12との当接面積、すなわち受圧ブロック3の上端面の面積よりも狭くなっている。したがって、受圧ブロック3に印加された力は4つのアクティブゲージ421〜424の形成位置に集中することになる。しかして、アクティブゲージ421〜424の抵抗値が、検出すべき面圧の大きさに応じて高感度で変化する。
【0052】
一方、ダミーゲージ431〜434には実質的に力が受圧ブロック3から伝達されないから、抵抗値は殆ど変化しない。
【0053】
これにより、検出しようとする面圧の大きさに対して感度よく変化する圧力検出信号を得ることができ、これに基づいて面圧を求めることができる。なお、感度は、台部231〜234の平面積と、受圧ブロック3と板状部材12との当接面積との比で規定されることになる。なお、この比において、受圧ブロック3と板状部材12との当接面積は、実際に面圧値を求めるに際して、台部231〜234一つ分に換算されるのは勿論である。
【0054】
この圧力検出信号は感温ゲージ44からの温度検出信号により補正される。ブリッジ回路5を構成する感圧ゲージ421〜434の温度特性が完全には一致せず、温度に応じて0点がドリフトするためである。したがって、補正は温度検出信号と0点における圧力検出信号との間の関係を予め記憶しておき、これに基づいて補正する。温度検出信号と0点における圧力検出信号との間の関係は予め実験等により求め得る。かかる圧力検出信号および温度検出信号に基づいて面圧を得る手段としては、例えば、マイクロコンピュータやA/D変換器等を中心とする構成により実現される。
【0055】
なお、受圧ブロック3の台部231〜234への固定は、接着剤により行う。
このとき、接着剤は受圧ブロック3と台部231〜234との当接面にのみ用いるのが望ましい。台部231〜234以外の場所で受圧ブロック3とセンシング部2との間に余分な接着剤があると、受圧ブロック3から台部231〜234以外の場所から力が伝達してしまい、受圧ブロック3が受けた力と台部231〜234からアクティブゲージ421〜424に伝達される力の比が変化したり、接着剤がダミーゲージ431〜434上にあれば、ダミーゲージ431〜434の抵抗値までが、検出しようとする面圧の大きさに応じて変化して、検出誤差を増大させるからである。
【0056】
あるいは、受圧ブロック3を前記台部231〜234上に位置決めした後に、図6に示すように、さらに絶縁被膜6を形成して、受圧ブロック3を台部231〜234に載置した状態で固定するのもよい。なお、この絶縁被膜6は台部231〜234の段差よりも薄く形成し、絶縁被膜6の形成後にも、受圧ブロック3が台部231〜234でのみセンシング部2と当接するようにする。
【0057】
なお、これらの接着剤、絶縁被膜として十分に剛性の低いものを用いることができれば、受圧ブロックが台部以外の場所でセンシング部と当接することに基因した検出誤差を抑制することができる。
【0058】
なお、図例のものでは板状部材12が同方向に向けて積層しているが、板状部材が図7のように凹凸面同志が対向するように積層する構造であっても、図例のように本面圧センサはそのまま適用することができる。
【0059】
(第2実施形態)
図8、図9に本発明の第2実施形態を示す。図中、第1実施形態と実質的に同じ作動をする部分には同じ番号を付して第1実施形態との相違点を中心に説明する。面圧センサ11Aのセンシング部2Aは、センサ基板21Aの円形の領域が薄肉に形成されており、ダイアフラム7としてある。ダイアフラム7の形成にはフォトリソグラフィが用いられる。
【0060】
センサ基板21Aの上方のセンサ形成層22Aは、基本的な構造は第1実施形態と同じである。絶縁膜41の層間には、ダイアフラム7の中央部71と周縁部72とに、それぞれ4つずつ周方向等間隔に感圧ゲージ421〜434が形成してある。感圧ゲージ421〜434の他、これらの配線用の配線膜45や電極膜46が形成される。また、センシング部2Aの表面には台部231〜234が突設してある。感温ゲージ45、電極膜46はダイアフラム7の外周に感圧ゲージ421〜434を囲むように配置される。
【0061】
台部231〜234は実質的に第1実施形態と同じもので、ダイアフラム7の中央部71に配置される前記4つの感圧ゲージ(以下、適宜、アクティブゲージという)421〜424の直上位置に形成してある。この4つの台部231〜234には受圧ブロック3が載置される。ダイアフラム7の周縁部72の4つの感圧ゲージ(以下、適宜、ダミーゲージという)431〜434の直上位置には台部は非形成である。また、ダイアフラム7の撓みは、その径方向の歪みの分布が、中央部71では圧縮歪みであるのに対し、そこから径方向に周縁側にいくほど引っ張り歪み側へ漸次変化し、周縁部72では引っ張り歪みとなる。アクティブゲージ421〜424はこの圧縮歪みが現れる位置に、ダミーゲージ431〜434は引っ張り歪みが現れる位置に形成される。
【0062】
本実施形態でも、台部231〜234の形成位置に配置される4つのアクティブゲージ421〜424と、台部非形成位置に配置される4つのダミーゲージ431〜434とで、図5と同様のホイートストンブリッジ回路が形成される。
【0063】
本実施形態では受圧ブロック3に伝達された力がダイアフラム中央部71に集中するので、ダイアフラム7に大きな撓みを生じる。この撓みは各感圧ゲージ421〜434に歪みを生じさせる。そして、アクティブゲージ421〜424がダイアフラム中央部71に配置されて圧縮歪みが生じるのに対し、ダミーゲージ431〜434がダイアフラム周縁部72に配置されて引っ張り歪みが生じるので、受圧ブロック3からの力に対して、アクティブゲージ421〜424とダミーゲージ431〜434とで逆方向の抵抗値変化が生じる。これにより、より検出感度が高められる。
【0064】
(第3実施形態)
図10、図11、図12に本発明の第3実施形態を示す。図中、第1実施形態と実質的に同じ作動をする部分には同じ番号を付して第1実施形態との相違点を中心に説明する。
【0065】
面圧センサ11Bのセンシング部2Bは、センサ形成層22Bが第1実施形態のセンサ形成層において台部を非形成としたものである。一方、受圧ブロック3Bは第1実施形態のものと基本的な矩形の本体部31を有している。そして、アクティブゲージ421〜424の形成位置で本体部31の底面の四隅から、センシング部2B側に突出する脚部321,322,323,324が設けてある。
脚部321〜324は、アクティブゲージ421〜424の形成位置でセンシング部2B上に載るように、ダミーゲージ431〜434の形成位置には載らないように面積や間隔などが設定される。受圧ブロック3Bの底面は、板状部材12と当接する上面と同じ形状であり、脚部321〜324が非形成の底面部分の面積だけ、受圧ブロック3Bの板状部材12との当接面積が脚部321〜324の平面積(厳密には脚部321〜324の底面の面積)よりも広くなっている。
【0066】
本実施形態の構成によれば、脚部321〜324が第1実施形態の台部と等価な作用をし、検出感度を高めることができる。
【0067】
さらに、第1実施形態では台部とセンシング部の熱膨張率差に基因して面圧センサの温度特性が受ける影響に十分に考慮する必要があるのに対して、本実施形態では、かかる熱膨張率差の問題がなく、温度変動に対して面圧センサの出力特性が変化せず、検出精度をさらに高精度化することができる。
【0068】
この、台部と等価な脚部を有する受圧ブロックは、第2実施形態に適用することができ、第2実施形態において、台部を非形成とするとともに、台部が形成されていた位置に脚部が載るようにして、アクティブゲージ上に荷重が集中するようにする。
【0069】
(第4実施形態)
図13、図14に本発明の第4実施形態を示す。図中、第3実施形態と実質的に同じ作動をする部分には同じ番号を付して第3実施形態との相違点を中心に説明する。面圧センサ11Cのセンシング部2Cは基本的な構造は第3実施形態のものと同じで、相違点は、センサ形成層22Cの表面221に段差221aを形成した点である。段底部2211は、受圧ブロック3Aと略同じ平面形状の正方形であり、受圧ブロック3Aをその脚部321〜324がアクティブゲージ421〜424上に位置するように設置したときに、受圧ブロック3Aが段底部2211に納まるようになっている。すなわち、段差221aが受圧ブロック3Aをセンシング部2Cに設置するときの、位置決め用のガイドとなる。なお、段差221aは、受圧ブロック3Aとセンシング部2Cとの脚部321〜324以外での接触を回避すべく脚部321〜324の高さよりも浅く形成する。段差221aの形成はフォトリソグラィによりなし得る。
【0070】
これにより、受圧ブロック脚部321〜324がアクティブゲージ421〜424に対して位置ずれしないので、製造ばらつきがなく、しかも、組み立てが容易である。
【0071】
本実施形態の特徴部分は、第2実施形態の構成において脚付きの受圧ブロックに代えたものにも適用することができる。
【0072】
なお、前記各実施形態では、感温ゲージを設けることで温度変動による検出誤差を低減するようにしているが、温度変動の幅や要求される仕様によっては省略して、構造を簡略化することができる。
【0073】
また、感圧ゲージがホイートストンブリッジ回路を構成することでさらに高感度化を図っているが、アクティブゲージとダミーゲージとの分割電圧を圧力検出信号とするのもよい。あるいは、さらに簡略化してアクティブゲージだけの構成とすることもできる。
【0074】
また、ホイートストンブリッジ回路を構成する線路を2つの感圧ゲージを直列に接続した構成とするのではなく、単一の感圧ゲージにより構成するのもよい。
【0075】
また、図例の構成に比して感圧ゲージの数が少ないこれらの変形例では台部や脚部の数が少なくて済むことになるが、この場合、感圧ゲージの非形成位置にもダミーの台部や脚部を設けるのは構わない。例えば単一の台部でこれよりも広い平面形状を有する受圧ブロックを支持しようとすると、台部にもある程度の面積を確保する必要があるが、複数の台部で支持すれば、台部の面積の総和がさ程なくとも安定的に受圧ブロックを載置することができるからである。これにより、台部のセンシング部との当接面積を受圧ブロックの板状部材との当接面積に対して十分に狭くすることができ、高感度化と受圧ブロックの安定性とを両立することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態になる面圧センサの、受圧ブロックを省略した平面図である。
【図2】前記面圧センサの側面図である。
【図3】前記面圧センサの実装状態を示す図である。
【図4】前記面圧センサを構成する感圧ゲージの平面図である。
【図5】前記面圧センサの要部の電気回路図である。
【図6】前記面圧センサの変形例の側面図である。
【図7】前記面圧センサの別の実装状態を示す図である。
【図8】本発明の第2実施形態になる面圧センサの、受圧ブロックを省略した平面図である。
【図9】前記面圧センサの側面図である。
【図10】本発明の第3実施形態になる面圧センサの、受圧ブロックを省略した平面図である。
【図11】前記面圧センサの側面図である。
【図12】前記面圧センサを構成する受圧ブロックの底面図である。
【図13】本発明の第4実施形態になる面圧センサの、受圧ブロックを省略した平面図である。
【図14】前記面圧センサの側面図である。
【符号の説明】
11,11A,11B,11C 面圧センサ
12 板状部材(相手方部材)
2,2A,2B,2C センシング部(積層構造体)
21,21A センサ基板(基板)
22,22A,22B,22C センサ形成層
221 表面
2211 段底部
221a 段差
231,232,233,234 台部
3,3A 受圧ブロック
31 本体部
321,322,323,324 脚部
41 絶縁膜
421,422,423,424,431,432,433,434 感圧ゲージ(抵抗体)
44 感温ゲージ(抵抗体)
45 配線膜
46 電極膜
47 リード線
5 ホイートストンブリッジ回路
51,52,53,54 線路
6 絶縁被膜
7 ダイアフラム
71 中央部
72 周縁部

Claims (8)

  1. 基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記面圧の大きさに応じて変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
    前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
    前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
    前記抵抗体のうち、前記ホイートストンブリッジ回路の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置の直上位置で前記積層構造体の表面に、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成され、前記受圧ブロックを載置する複数の台部を突設するとともに、他の2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置には台部を非形成とし、
    前記受圧ブロックを、前記相手方部材との当接面積が前記台部の平面積よりも広い形状としたことを特徴とする面圧センサ。
  2. 基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記面圧の大きさに応じて変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
    前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
    前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
    前記抵抗体のうち、前記ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの中央部に形成し、
    前記ブリッジ回路の他方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの周縁側の位置に形成し、
    前記ダイアフラム中央部の複数の抵抗体の形成位置の直上位置で前記積層構造体の表面に、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成され、前記受圧ブロックを載置する台部を突設するとともに、前記ダイアフラム周縁側の複数の抵抗体の形成位置には台部を非形成とし、
    前記受圧ブロックを、前記相手方部材との当接面積が前記台部の平面積よりも広い形状としたことを特徴とする面圧センサ。
  3. 請求項1または2いずれか記載の面圧センサにおいて、前記積層構造体と前記受圧ブロックとを、前記台部の段差よりも薄い絶縁被膜で覆った面圧センサ。
  4. 基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記基板の一部を薄肉としてダイアフラムとし、前記面圧の大きさに応じてダイアフラムが撓むことにより変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
    前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
    前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
    該受圧ブロックを、前記抵抗体のうち、前記ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置の直上位置から前記積層構造体側に突出し、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成される、複数の脚部を具備するとともに、他方の2つの線路を構成する複数の抵抗体の形成位置には脚部を非形成とし、かつ、前記積層構造体との当接面積よりも前記相手方部材との当接面積の方が広い形状としたことを特徴とする面圧センサ。
  5. 基板上に薄膜状の抵抗体を設けてなり、相手方部材から面圧が印加される積層構造体を有し、前記基板の一部を薄肉としてダイアフラムとし、前記面圧の大きさに応じてダイアフラムが撓むことにより変化する前記抵抗体の電気抵抗値に基づいて面圧を検出する面圧センサであって、
    前記基板上に少なくとも4つの薄膜状の抵抗体を形成するとともに、該抵抗体を少なくとも1つ含む4つの線路によりホイートストンブリッジ回路を形成し、
    前記抵抗体のうち、該ホイートストンブリッジ回路の一方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの中央部に形成し、
    前記ホイートストンブリッジ回路の他方の対向辺となる2つの線路を構成する複数の抵抗体を、前記ダイアフラムの周縁側の位置に形成し、
    前記積層構造体と前記相手方部材との間に該相手方部材から前記積層構造体に面圧を伝達する受圧ブロックを介設せしめ、
    該受圧ブロックを、前記ダイアフラム中央部の複数の抵抗体の形成位置の直上位置から前記積層構造体側に突出し、前記複数の抵抗体の形成位置をそれぞれカバーする大きさで1対1に対応して形成される、複数の脚部を具備するとともに、前記ダイアフラム周縁側の複数の抵抗体の形成位置には台部を非形成とし、かつ、前記積層構造体との当接面積よりも前記相手方部材との当接面積の方が広い形状としたことを特徴とする面圧センサ。
  6. 請求項4または5いずれか記載の面圧センサにおいて、前記積層構造体の前記受圧ブロックとの対向面に前記受圧ブロックの位置決め用の段差を形成した面圧センサ。
  7. 請求項4ないし6いずれか記載の面圧センサにおいて、前記積層構造体と前記受圧ブロックとを、前記脚部の段差よりも薄い絶縁被膜で覆った面圧センサ。
  8. 請求項1ないし7いずれか記載の面圧センサにおいて、前記基板上には温度に応じて抵抗値が変化する抵抗体を設けて、前記抵抗値に基づいて面圧の検出信号を補正可能とした面圧センサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4793461B2 (ja) 2009-03-11 2011-10-12 株式会社デンソー 荷重検出装置の製造方法
JP5688792B2 (ja) * 2010-09-10 2015-03-25 国立大学法人弘前大学 センサ装置および分布測定装置
JP5885249B2 (ja) * 2012-05-16 2016-03-15 株式会社エー・アンド・デイ 軸力センサ
KR102185937B1 (ko) * 2013-03-27 2020-12-02 세미텍 가부시키가이샤 접촉력 센서
JP6835475B2 (ja) * 2015-07-08 2021-02-24 株式会社Soken 面圧センサ
JP2019086335A (ja) * 2017-11-02 2019-06-06 Kyb株式会社 荷重検出装置
JP2019215273A (ja) * 2018-06-13 2019-12-19 株式会社Soken 荷重センサ
JP7487070B2 (ja) 2020-11-02 2024-05-20 Koa株式会社 ブリッジ回路内蔵型歪抵抗素子およびその製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0614931U (ja) * 1992-07-23 1994-02-25 エヌオーケー株式会社 荷重計
JP2000221084A (ja) * 1999-02-03 2000-08-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 歪検出装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2581820B2 (ja) * 1990-01-23 1997-02-12 株式会社富士電機総合研究所 3次元触覚センサ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0614931U (ja) * 1992-07-23 1994-02-25 エヌオーケー株式会社 荷重計
JP2000221084A (ja) * 1999-02-03 2000-08-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 歪検出装置

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