JP4520979B2 - 質量分析計内へとイオンを効率的に搬送するための方法および装置 - Google Patents
質量分析計内へとイオンを効率的に搬送するための方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4520979B2 JP4520979B2 JP2006503357A JP2006503357A JP4520979B2 JP 4520979 B2 JP4520979 B2 JP 4520979B2 JP 2006503357 A JP2006503357 A JP 2006503357A JP 2006503357 A JP2006503357 A JP 2006503357A JP 4520979 B2 JP4520979 B2 JP 4520979B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electric field
- ion
- ions
- mass analyzer
- transient electric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/403—Time-of-flight spectrometers characterised by the acceleration optics and/or the extraction fields
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
coupled plasma,ICP)放電や、光イオン化、といったような手法によって行うことができる。生成されたイオンは、大気圧導入口を通して、減圧領域内へと、搬送される。減圧領域内においては、イオンガイドが、質量検出器内へとイオンを直接的に導く。
Research Systems, Inc.社によるモデルDG535)をトリガーすることができ、これにより、レーザーパルス発生後における設定時間経過時点で、高速HVトランジスタスイッチ70(例えば、Behlke Electronic GmBH 社による モデルHTS121)を活性化することができる。高速HVトランジスタスイッチ70が活性化されると、HVは、即座に短絡され、所定の保持時間にわたってグラウンド値に維持される。保持時間の経過後に、100MΩ抵抗器と、負荷キャパシタンス(つまり、ターゲットプレート80のキャパシタンス)とが、HVを初期値へと復帰させるための立ち上がり時間を決定する。図3に示す例示としての回路においては、立ち上がり時間は、約4msである。立ち上がり時間は、この実施形態においては、10Hzレーザーにおけるレーザーパルスどうしの時間間隔よりも短いものとされている。しかしながら、立ち上がり時間は、本発明においては、様々なレーザー繰返し速度や様々なイオンパルス速度に適合するように、調節することができる。
Laiko 氏他による Anal. Chem. vol. 72, pp. 652-657, 2000 に記載されているようなAP−MALDIのようにガスがイオンのドリフト方向に流れ得るようなガス支援イオン化方法に対して、また、例えば、John Fenn 氏他による Science vol. 246, pp. 64-71, 1989という文献に記載されているイオン化源といったような電気噴霧イオン化の場合のようにガスがイオンのドリフト方向とは逆向きに他のガス支援イオン化方法に対して、適用可能である。これら文献の記載内容は、参考のため、ここに組み込まれる。
20 遅延機能付きの抽出イオン生成源(過渡的電界形成デバイス)
90 毛細管
80 ターゲットプレート
100 絶縁スペーサチューブ
140 円錐形状導入口
230 スキマー
Claims (70)
- 導入開口を有した質量分析器内へとイオンを搬送するための方法であって、
持続時間を有したイオンパルスを生成し;
前記イオンパルスの前記持続時間と関連させつつ時間的に変動する過渡的電界を生成し、これにより、前記開口に向けて前記イオンをドリフトさせ;
前記イオンパルスを前記過渡的電界の中へと受領し;
前記イオンパルスが前記開口に近づくにつれて、前記過渡的電界を低減させ;
前記過渡的電界のイオンドリフト領域から、前記導入開口の動的ガスフロー領域内へと、前記イオンを収集する;
ことを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記低減を、前記イオンパルスが前記質量分析器の導入口に到着した時点で、終了させることを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記低減を、前記イオンパルスが前記質量分析器の導入口のところにおいて中性化する前に、終了させることを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記生成に際しては、第1電位と第2電位との間のスイッチングを行うことを特徴とする方法。 - 請求項4記載の方法において、
前記スイッチングに際しては、前記第1電位と前記第2電位とのいずれかをゼロまたはゼロ近傍のものとすることを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記生成に際しては、前記イオンパルスの前記生成ステップの前に、前記過渡的電界を形成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記生成に際しては、前記イオンパルスの前記生成ステップの後に、前記過渡的電界を形成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記生成に際しては、前記過渡的電界の持続時間を、前記イオンパルスの持続時間よりも長いものとすることを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記生成に際しては、前記過渡的電界の持続時間を、前記イオンパルスの持続時間よりも短いものとすることを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記生成に際しては、前記イオンパルスの生成時に、前記過渡的電界を形成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記過渡的電界の前記生成に際しては、時間的に変動する電界パルスを形成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記イオンの前記収集に際しては、前記質量分析器の壁がなす導入口へと流入するガス流によって前記イオンを搬送することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の方法において、
前記ガス流による前記イオンの前記搬送に際しては、前記質量分析器の毛細管の導入口内へと前記イオンを搬送することを特徴とする方法。 - 請求項13記載の方法において、
前記ガス流による前記イオンの前記搬送に際しては、加熱した毛細管内へと前記イオンを搬送することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の方法において、
前記ガス流による前記イオンの前記搬送に際しては、スキマーがなす渦内へと前記イオンを搬送することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の方法において、
前記ガス流による前記イオンの前記搬送に際しては、前記イオン収集を補助し得るよう、前記イオンドリフト領域内へと追加的ガスフローを供給することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記イオンパルスの前記生成に際しては、大気圧であるいは大気圧近傍で、前記イオンを生成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記イオンパルスの前記生成に際しては、1Torr以上の圧力で、前記イオンを生成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記イオンパルスの前記生成に際しては、100mTorr以上の圧力で、前記イオンを生成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記イオンパルスの前記生成に際しては、レーザー脱離/イオン化技術を使用して、前記イオンを生成することを特徴とする方法。 - 請求項20記載の方法において、
前記レーザー脱離/イオン化技術を使用した前記イオンの前記生成に際しては、前記質量分析器の導入口の直径の1〜6倍の直径を有したレーザービームを使用して、サンプルをイオン化することを特徴とする方法。 - 請求項20記載の方法において、
前記レーザー脱離/イオン化技術を使用した前記イオンの前記生成に際しては、前記質量分析器の導入口の直径の1〜6倍という距離だけ前記質量分析器の導入軸からオフセットしたレーザービームを使用して、サンプルをイオン化することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記収集に際しては、焦点合わせデバイスを使用して、前記質量分析器の導入口に前記イオンを案内することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記イオンパルスの前記生成に際しては、化学的イオン化技術によって前記イオンを生成することを特徴とする方法。 - 請求項24記載の方法において、
前記イオンの前記生成に際しては、大気圧コロナ放電を利用することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記イオンパルスの前記生成に際しては、電気噴霧イオン化技術によって前記イオンを生成することを特徴とする方法。 - 請求項26記載の方法において、
前記イオンの前記生成に際しては、前記質量分析器の導入口のところにおける電界値と比較してより大きな電界値を有した領域を通過させつつ、帯電した液滴をスプレーすることを特徴とする方法。 - 請求項27記載の方法において、
さらに、過渡的電位を有した電界構成によって前記質量分析器の前記導入口へと前記液滴を案内し、これにより、前記イオンパルスを生成することを特徴とする方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記収集に際しては、ガスフロー内の前記イオンを、高圧領域から、前記質量分析器の内部の低圧領域に向けて、搬送することを特徴とする方法。 - 請求項29記載の方法において、
前記搬送に際しては、前記高圧領域と前記低圧領域とを接続している毛細管チューブ内に前記ガスを流すことを特徴とする方法。 - 請求項30記載の方法において、
前記ガスを前記のように流すに際しては、2つ以上へとセグメント化されたセグメント化毛細管チューブの内部に前記ガスを流すことを特徴とする方法。 - 請求項31記載の方法において、
さらに、前記セグメント化毛細管をなす各セグメントに対してそれぞれ個別の電圧を印加することを特徴とする方法。 - 請求項32記載の方法において、
前記個別の電圧の前記印加によって、前記イオンパルスを生成することを特徴とする方法。 - 請求項32記載の方法において、
前記個別の電圧の前記印加によって、前記質量分析器の内部へのイオン収集を補助することを特徴とする方法。 - 導入開口を有した質量分析器内へとイオンを搬送するための装置であって、
持続時間を有したイオンパルスを生成し得るよう構成されたイオン生成源と;
前記イオンパルスを受領し得るとともに前記イオンパルスの前記持続時間と関連させつつ時間的に変動する過渡的電界を生成し得るよう構成され、これにより、前記質量分析器の前記開口に向けて前記過渡的電界がなすイオンドリフト領域内にわたって前記イオンをドリフトさせ得るような、過渡的電界形成デバイスと:
前記イオンドリフト領域から、前記導入開口の動的ガスフロー領域へと、前記イオンを収集し得るとともに、さらに、前記質量分析器内へと前記イオンを搬送し得るよう構成されたイオンコレクタと;
を具備し、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記イオンパルスが前記導入開口に接近するにつれて前記過渡的電界を低減させ得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記イオンパルスが前記質量分析器の導入口に到着した時点で、前記電界を終了させるように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記イオンパルスが前記質量分析器の導入口のところにおいて中性化する前に、前記電界を終了させるように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、第1電位と第2電位との間にわたってスイッチングを行い得るように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記第1電位と前記第2電位とのいずれかが、ゼロまたはゼロ近傍のものとされていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記イオンパルスの生成終了前に、前記過渡的電界を形成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記イオンパルスの生成終了後に、前記過渡的電界を形成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記過渡的電界の持続時間を前記イオンパルスの持続時間よりも長いものとして、前記過渡的電界をパルス的に形成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記過渡的電界の持続時間を前記イオンパルスの持続時間よりも短いものとして、前記過渡的電界をパルス的に形成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、時間的に変動する電界パルスを形成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオンコレクタが、前記質量分析器に対する導入口を備え、
この導入口が、ガス流に乗せて前記イオンを前記質量分析器内へと導入し得るような寸法とされていることを特徴とする装置。 - 請求項45記載の装置において、
前記導入口が、ガススキマーを備えていることを特徴とする装置。 - 請求項45記載の装置において、
前記導入口が、前記ガス流に乗せて前記イオンを導入し得るよう構成された毛細管を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項47記載の装置において、
前記毛細管が、加熱された毛細管とされていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオン生成源が、大気圧であるいは大気圧近傍で、前記イオンを生成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオン生成源が、1Torr以上の圧力で、前記イオンを生成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオン生成源が、100mTorr以上の圧力で、前記イオンを生成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオン生成源が、レーザーイオン化生成源を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項52記載の装置において、
前記レーザーイオン化生成源が、前記質量分析器の導入口の直径の1〜6倍の直径を有したレーザービームを備え、これにより、サンプルをイオン化し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項52記載の装置において、
前記レーザーイオン化生成源が、前記質量分析器の導入口の直径の1〜6倍という距離だけ前記質量分析器の導入軸からオフセットしたレーザービームを備え、これにより、サンプルをイオン化し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオン化生成源が、電気噴霧イオン化生成源を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項55記載の装置において、
前記電気噴霧イオン生成源が、前記質量分析器の導入口のところにおける電界値と比較してより大きな電界値を有した領域を通過させつつ、帯電した液滴をスプレーし得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項56記載の装置において、
前記電気噴霧イオン生成源が、過渡的電位を有した電界構成によって前記質量分析器の前記導入口へと前記液滴を案内し、これにより、前記イオンパルスを生成し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオン化生成源が、化学的イオン化生成源を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項58記載の装置において、
前記化学的イオン化生成源が、前記イオンを生成し得るよう、大気圧コロナ放電を行うことを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、前記質量分析器の導入口に対して前記イオンを直接的に案内し得るよう構成された焦点合わせデバイスを備えていることを特徴とする装置。 - 請求項60記載の装置において、
前記焦点合わせデバイスが、レンズを備えていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオンコレクタが、ガスフロー内の前記イオンを、高圧領域から、前記質量分析器の内部の低圧領域に向けて、搬送し得るよう構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項62記載の装置において、
前記イオンコレクタが、前記高圧領域と前記低圧領域とを接続している毛細管チューブを備えていることを特徴とする装置。 - 請求項63記載の装置において、
前記毛細管チューブが、2つ以上へとセグメント化されたセグメント化毛細管チューブとされていることを特徴とする装置。 - 請求項64記載の装置において、
さらに、前記セグメント化された各セグメントを相互連結する絶縁毛細管を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記過渡的電界形成デバイスが、
前記イオンコレクタから離間して配置されたプレートと、
このプレートに対する高電圧の印加をオンオフし得るよう構成された高電圧スイッチと、
を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項66記載の装置において、
さらに、前記イオンパルスと関連させつつ前記高電圧スイッチを駆動させ得るよう構成された遅延/パルス発生器を具備していることを特徴とする装置。 - 請求項66記載の装置において、
前記プレートが、サンプルを備え、
このサンプル上においてレーザーパルス脱離/イオン化を行うことにより、前記イオンパルスが生成されることを特徴とする装置。 - 請求項35記載の装置において、
前記イオンコレクタが、前記質量分析器に対する円錐形状導入口を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項69記載の装置において、
前記円錐形状導入口が、スキマーを有していることを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/367,917 US6791080B2 (en) | 2003-02-19 | 2003-02-19 | Method and apparatus for efficient transfer of ions into a mass spectrometer |
PCT/US2004/003355 WO2004075230A2 (en) | 2003-02-19 | 2004-02-19 | Method and apparatus for efficient transfer of ions into a mass spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006518914A JP2006518914A (ja) | 2006-08-17 |
JP4520979B2 true JP4520979B2 (ja) | 2010-08-11 |
Family
ID=32850051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006503357A Expired - Fee Related JP4520979B2 (ja) | 2003-02-19 | 2004-02-19 | 質量分析計内へとイオンを効率的に搬送するための方法および装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6791080B2 (ja) |
EP (1) | EP1595274A4 (ja) |
JP (1) | JP4520979B2 (ja) |
WO (1) | WO2004075230A2 (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2404613C (en) * | 2002-09-20 | 2008-07-08 | Is2 Research Inc. | Method of localizing a scintillation event in a scintillation camera |
US7122789B2 (en) * | 2004-05-11 | 2006-10-17 | Science & Engineering Services, Inc. | Method and apparatus to increase ionization efficiency in an ion source |
WO2006081240A1 (en) * | 2005-01-27 | 2006-08-03 | The George Washington University | Protein microscope |
JP4498283B2 (ja) * | 2006-01-30 | 2010-07-07 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、放射線撮像装置及びこれらの製造方法 |
US8026477B2 (en) | 2006-03-03 | 2011-09-27 | Ionsense, Inc. | Sampling system for use with surface ionization spectroscopy |
US7700913B2 (en) | 2006-03-03 | 2010-04-20 | Ionsense, Inc. | Sampling system for use with surface ionization spectroscopy |
WO2007140351A2 (en) * | 2006-05-26 | 2007-12-06 | Ionsense, Inc. | Flexible open tube sampling system for use with surface ionization technology |
US7928364B2 (en) * | 2006-10-13 | 2011-04-19 | Ionsense, Inc. | Sampling system for containment and transfer of ions into a spectroscopy system |
US8440965B2 (en) | 2006-10-13 | 2013-05-14 | Ionsense, Inc. | Sampling system for use with surface ionization spectroscopy |
TWI320395B (en) * | 2007-02-09 | 2010-02-11 | Primax Electronics Ltd | An automatic duplex document feeder with a function of releasing paper jam |
US8242440B2 (en) * | 2009-05-01 | 2012-08-14 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for an ion transfer tube and mass spectrometer system using same |
US8207497B2 (en) | 2009-05-08 | 2012-06-26 | Ionsense, Inc. | Sampling of confined spaces |
US9105457B2 (en) * | 2010-02-24 | 2015-08-11 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Cone-shaped orifice arrangement for inductively coupled plasma sample introduction system |
US8502159B2 (en) | 2010-04-29 | 2013-08-06 | Battelle Energy Alliance, Llc | Apparatuses and methods for generating electric fields |
US9552973B2 (en) * | 2010-09-02 | 2017-01-24 | University Of The Sciences In Philadelphia | System and method for ionization of molecules for mass spectrometry and ion mobility spectrometry |
US20140166875A1 (en) * | 2010-09-02 | 2014-06-19 | Wayne State University | Systems and methods for high throughput solvent assisted ionization inlet for mass spectrometry |
WO2012058248A2 (en) | 2010-10-25 | 2012-05-03 | Wayne State University | Systems and methods extending the laserspray ionization mass spectrometry concept from atmospheric pressure to vacuum |
US8822949B2 (en) | 2011-02-05 | 2014-09-02 | Ionsense Inc. | Apparatus and method for thermal assisted desorption ionization systems |
US8901488B1 (en) | 2011-04-18 | 2014-12-02 | Ionsense, Inc. | Robust, rapid, secure sample manipulation before during and after ionization for a spectroscopy system |
US9275842B2 (en) | 2011-05-27 | 2016-03-01 | Dsa Detection Llc | Multi-dopant permeation tube |
EP2732457A4 (en) * | 2011-07-14 | 2015-09-16 | Univ George Washington | COLLIMATION OF PANACES FOR MASS SPECTROMETRY WITH IONIZATION BY ELECTROPULVERIZATION IN LASER ABLATION |
US9337007B2 (en) | 2014-06-15 | 2016-05-10 | Ionsense, Inc. | Apparatus and method for generating chemical signatures using differential desorption |
US9899196B1 (en) | 2016-01-12 | 2018-02-20 | Jeol Usa, Inc. | Dopant-assisted direct analysis in real time mass spectrometry |
US10636640B2 (en) | 2017-07-06 | 2020-04-28 | Ionsense, Inc. | Apparatus and method for chemical phase sampling analysis |
US10825673B2 (en) | 2018-06-01 | 2020-11-03 | Ionsense Inc. | Apparatus and method for reducing matrix effects |
KR20220088409A (ko) | 2019-10-28 | 2022-06-27 | 이온센스 인코포레이티드 | 실시간 맥동 흐름 대기 이온화 |
US11913861B2 (en) | 2020-05-26 | 2024-02-27 | Bruker Scientific Llc | Electrostatic loading of powder samples for ionization |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4209696A (en) * | 1977-09-21 | 1980-06-24 | Fite Wade L | Methods and apparatus for mass spectrometric analysis of constituents in liquids |
US4542293A (en) * | 1983-04-20 | 1985-09-17 | Yale University | Process and apparatus for changing the energy of charged particles contained in a gaseous medium |
US5206506A (en) * | 1991-02-12 | 1993-04-27 | Kirchner Nicholas J | Ion processing: control and analysis |
US5157260A (en) * | 1991-05-17 | 1992-10-20 | Finnian Corporation | Method and apparatus for focusing ions in viscous flow jet expansion region of an electrospray apparatus |
US5306910A (en) * | 1992-04-10 | 1994-04-26 | Millipore Corporation | Time modulated electrified spray apparatus and process |
JP2953344B2 (ja) * | 1995-04-28 | 1999-09-27 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
DE19520276C2 (de) * | 1995-06-02 | 1999-08-26 | Bruker Daltonik Gmbh | Vorrichtung für die Einführung von Ionen in ein Massenspektrometer |
US5654545A (en) * | 1995-09-19 | 1997-08-05 | Bruker-Franzen Analytik Gmbh | Mass resolution in time-of-flight mass spectrometers with reflectors |
US6107628A (en) * | 1998-06-03 | 2000-08-22 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for directing ions and other charged particles generated at near atmospheric pressures into a region under vacuum |
US5965884A (en) * | 1998-06-04 | 1999-10-12 | The Regents Of The University Of California | Atmospheric pressure matrix assisted laser desorption |
JP3561422B2 (ja) * | 1998-08-20 | 2004-09-02 | 日本電子株式会社 | 大気圧イオン源 |
US6486469B1 (en) * | 1999-10-29 | 2002-11-26 | Agilent Technologies, Inc. | Dielectric capillary high pass ion filter |
GB0028586D0 (en) * | 2000-11-23 | 2001-01-10 | Univ Warwick | An ion focussing and conveying device |
CA2391140C (en) * | 2001-06-25 | 2008-10-07 | Micromass Limited | Mass spectrometer |
CA2430563C (en) * | 2002-05-30 | 2012-03-13 | Micromass Limited | Mass spectrometer |
-
2003
- 2003-02-19 US US10/367,917 patent/US6791080B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-02-19 JP JP2006503357A patent/JP4520979B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-02-19 EP EP04712799A patent/EP1595274A4/en not_active Withdrawn
- 2004-02-19 WO PCT/US2004/003355 patent/WO2004075230A2/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20040159784A1 (en) | 2004-08-19 |
EP1595274A2 (en) | 2005-11-16 |
EP1595274A4 (en) | 2007-08-15 |
WO2004075230A3 (en) | 2005-02-24 |
JP2006518914A (ja) | 2006-08-17 |
US6791080B2 (en) | 2004-09-14 |
WO2004075230A2 (en) | 2004-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4520979B2 (ja) | 質量分析計内へとイオンを効率的に搬送するための方法および装置 | |
US11309175B2 (en) | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers | |
US7888635B2 (en) | Ion funnel ion trap and process | |
US5864137A (en) | Mass spectrometer | |
US7893401B2 (en) | Mass spectrometer using a dynamic pressure ion source | |
US7855357B2 (en) | Apparatus and method for ion calibrant introduction | |
US20170016863A1 (en) | Method of targeted mass spectrometric analysis | |
JP6593548B2 (ja) | 質量分析装置及びイオン検出装置 | |
JP2015503109A (ja) | インパクタスプレーイオン化源を介した、キャピラリー電気泳動から質量分析計のへのインターフェース化 | |
JP2006521006A (ja) | 直交加速飛行時間型質量分析のための新規な電子イオン化源 | |
US11056327B2 (en) | Inorganic and organic mass spectrometry systems and methods of using them | |
Wu et al. | Incorporation of a flared inlet capillary tube on a Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometer | |
Chien et al. | The design and performance of an ion trap storage—reflectron time-of-flight mass spectrometer | |
US10622200B2 (en) | Ionization sources and systems and methods using them | |
CN117038425A (zh) | 用于离子累积控制的电荷检测 | |
US9406494B2 (en) | Spatially correlated dynamic focusing | |
US7122789B2 (en) | Method and apparatus to increase ionization efficiency in an ion source | |
Hang et al. | Practical considerations when using radio frequency-only quadrupole ion guide for atmospheric pressure ionization sources with time-of-flight mass spectrometry | |
US20240203724A1 (en) | Systems and methods for single-ion mass spectrometry with temporal information | |
Chien | The design and performance of a quadrupole ion trap storage/reflectron time-of-flight mass spectrometer | |
Doig et al. | 10 Fundamental Aspects |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070131 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090925 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090929 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091216 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100126 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100329 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100423 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100521 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |