JP4492901B2 - 固体撮像装置およびそれを用いた指紋照合装置 - Google Patents
固体撮像装置およびそれを用いた指紋照合装置 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、光電変換セルによるセンサアレイの出力側増幅回路の改良を図った固体撮像装置およびそれを用いた指紋照合装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図9は従来の固体撮像装置の構成例を示すブロック図であり、この図において、符号1は多数の光電変換セルをマトリックス状に配置したセンサアレイ、2はセンサアレイ1の各光電変換セルをX方向(横方向)にスキャンするXスキャナ、3はセンサアレイ1の各光電変換セルをY方向(縦方向)にスキャンするYスキャナである。また、5はセンサアレイ1から順次出力される各光電変換セル電圧を増幅するVGA(Variable Gain Amplifier)であり、制御信号に応じた率で入力信号を増幅するアンプである。6はVGA5の出力をディジタルデータに変換するADC(A/D変換器)、7はADC6の出力が印加される出力端子である。また、8はADC6の出力の平均値、すなわち、センサアレイ1の各光電変換セルの出力電圧の平均値を演算する平均計算ユニット、9は予め設定されている基準値を平均計算ユニットの出力で割る除算器であり、この除算器の出力がVGA5のゲイン制御端子へ印加される。これにより、出力端子7から出力されるデータの平均値が基準値に一致するように制御される。
【0003】
このように、従来の固体撮像装置は、平均計算ユニット8によって、センサアレイ1の全光電変換セルの出力電圧の平均を演算し、その演算結果に基づいてVGA5のゲインを制御していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、センサアレイ1の全光電変換セルの出力電圧の平均に基づいてVGA5のゲインを制御することは、固体撮像装置の使用目的によっては不適切な場合があり、そのような場合、固体撮像装置の能力を充分に発揮させることができない。
この発明は、このような事情を考慮してなされたもので、その目的は、撮像能力を充分に発揮させることができる固体撮像装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
この発明は上記の課題を解決すべくなされたもので、複数の光電変換セルをマトリックス状に配置したセンサアレイと、前記センサアレイから順次出力される前記光電変換セルの出力を増幅する増幅手段と、前記増幅手段の出力をディジタルデータに変換するアナログ/ディジタル変換器とを具備する固体撮像装置において、前記アナログ/ディジタル変換器の出力に基づいて、前記センサアレイの予め決められている特定領域の光電変換セルの出力の平均値を算出する平均計算手段と、前記平均計算手段の算出結果を、前記増幅手段のゲインを制御するゲイン制御信号に変換する変換手段と、を具備し、前記変換手段は、前フレームのゲイン制御信号を記憶するレジスタと、予め決められた基準値を前記平均計算手段の出力で除算する除算器と、当該除算器の出力と前記レジスタの出力とを乗算する乗算器とをさらに具備し、前記乗算器の出力をゲイン制御信号として出力することを特徴とする固体撮像装置である。
【0007】
また本発明は、上述の固体撮像装置において、前記平均計算手段は、前記センサアレイを走査するクロックパルスに基づいて前記特定領域の光電変換セルのデータが前記アナログ/ディジタル変換器から出力されるタイミングを検出するタイミング検出手段と、前記タイミング検出手段の検出タイミングにおいて前記アナログ/ディジタル変換器の出力を順次累算する累算手段と、前記累算手段の累算結果を前記特定領域の光電変換セル数で除算する除算器とを具備することを特徴とする。
【0008】
また本発明は、上述の固体撮像装置において、前記タイミング検出手段は、前記クロックパルスのタイミングで入力端のデータを読み込むレジスタと、前記レジスタの出力に「1」を加算して該レジスタの入力端へ出力する加算器と、前記加算器の出力が前記特定領域の座標に一致している時検出信号を出力する比較器とを具備することを特徴とする。
また本発明は、上述の固体撮像装置において、前記タイミング検出手段は、前記特定領域の走査タイミングにおいて”1”信号を出力するアドレスデコーダと、前記アドレスデコーダの出力および前記センサアレイを走査する走査信号が共に”1”の時、タイミング検出信号を出力する回路とを具備することを特徴とする。
【0009】
また本発明は、上述の固体撮像装置において、前記累算手段は、前記タイミング検出手段の検出タイミングにおいて前記アナログ/ディジタル変換器の出力を選択して出力し、それ以外のタイミングにおいて0を出力するセレクタと、前記クロックパルスのタイミングで入力端のデータを読み込むレジスタと、前記レジスタの出力に前記セレクタの出力を加算して該レジスタの入力端へ出力する加算器とを具備することを特徴とする。
【0010】
また本発明は、上述の固体撮像装置において、前記特定領域の開始点の座標および終了点の座標から前記特定領域のX方向の光電変換セル数およびY方向の光電変換セル数を算出する演算手段と、前記演算手段によって算出されたX方向の光電変換セル数およびY方向の光電変換セル数を乗算する乗算手段とからなる光電変換セル数算出手段を設けたことを特徴とする。
また本発明は、上述の固体撮像装置において、複数の前記特定領域を予め設定しておき、前記平均計算手段は、ユーザの選択した特定領域について光電変換セルの出力の平均値を算出することを特徴とする。
【0011】
また本発明は、複数の光電変換セルをマトリックス状に配置したセンサアレイと、前記センサアレイから順次出力される前記光電変換セルの出力を増幅する増幅手段と、前記増幅手段の出力をディジタルデータに変換するアナログ/ディジタル変換器とを具備する固体撮像装置であって、前記アナログ/ディジタル変換器の出力に基づいて、前記センサアレイの予め決められている特定領域の光電変換セルの出力の平均値を算出する平均計算手段と、前記平均計算手段の算出結果を、前記増幅手段のゲインを制御するゲイン制御信号に変換する変換手段と、を具備し、前記変換手段は、前フレームのゲイン制御信号を記憶するレジスタと、予め決められた基準値を前記平均計算手段の出力で除算する除算器と、当該除算器の出力と前記レジスタの出力とを乗算する乗算器とをさらに具備し、前記乗算器の出力をゲイン制御信号として出力する固体撮像装置と、指に向けて光を照射する照明部と、前記指において反射した光を前記固体撮像装置の前記センサアレイへ導く光学系と、前記固体撮像装置の出力から前記指の指紋の特徴点を抽出する抽出手段と、複数の指紋の特徴点が記憶された記憶手段と、前記抽出手段によって抽出された特徴点と前記記憶手段に記憶された特徴点とを照合する照合手段と、を具備することを特徴とする指紋照合装置である。
また本発明は、上述の指紋照合装置において、前記固体撮像装置の出力に基づいて指の位置を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果から前記特定領域の開始点座標と終了点座標を求め、前記固体撮像装置へ出力する手段とを設けたことを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しこの発明の実施の形態について説明する。図1はこの発明の第1の実施形態による固体撮像装置の構成を示すブロック図であり、この図において、図9に示す従来の装置の各部と対応する部分には同一の符号が付してある。この図において、1はセンサアレイ、2はXスキャナ、3はYスキャナ、5はセンサアレイ1の各光電変換セルの出力電圧を増幅するVGA、6はVGA5の出力をディジタルデータに変換するADC、7は出力端子であり、これらの構成は図9のものと同じである。11は平均計算ユニットであり、ADC6の出力に基づいて、センサアレイ1の予め決められた領域Rの各光電変換セルの出力電圧の平均値を演算する。12は上記平均計算ユニット11に付属する平均計算制御ユニットである。
【0013】
図2は上述した平均計算ユニット11および平均計算制御ユニット12の構成を示す回路図である。この図において、15はクロックパルスclkのタイミングで入力データを読み込み、リセット信号REによってリセットされるレジスタである。ここで、クロックパルスclkは、Xスキャナ2がセンサアレイ1の各光電変換セルをスキャンする際のクロックパルスであり、また、リセット信号REは、Xスキャナ2によるセンサアレイ1のスキャンが開始される直前に出力される信号である。16は加算器であり、レジスタ15の出力に「1」を加算し、その加算結果をレジスタ15の入力端および比較器17の入力端へ出力する。以上の構成において、レジスタ15の出力データは、リセット信号REによってリセットされた後、クロックパルスclkのタイミングで順次インクリメントされる。そして、このレジスタ15の出力データに「1」が加えられて、加算器16から出力される。したがって、加算器16の出力はXスキャナ2のスキャン位置を示している。
【0014】
17は比較器であり、加算器16の出力を、領域R(図1)の開始点SのX座標Xsおよび終了点EのX座標Xeとそれぞれ比較し、加算器16の出力が座標Xsより大で、座標Xeより小の時”1”信号を出力する。すなわち、この比較器17の出力信号S−Xは、Xスキャナ2が座標Xsから座標Xeの間をスキャンしている時”1”となる。そして、この信号S−Xがアンドゲート18の第1入力端へ印加される。図示は省略するが、同様の回路がYスキャナ3に対応して設けられており、Yスキャナ3が開始点SのY座標Ysから終了点EのY座標Yeの間をスキャンしている時”1”となる信号S−Yをアンドゲート18へ出力する。したがって、アンドゲート18の出力は、Xスキャナ2およびYスキャナ3によって領域Rがスキャンされている時”1”信号となり、この”1”信号がセレクタ20のセレクト端子SEへ印加される。セレクタ20はセレクト端子SEの信号が”1”の時ADC6の出力を選択して平均計算ユニット11へ出力し、”0”の場合はデータ「0」を出力する。
【0015】
平均計算ユニット11において、22はクロックパルスclkのタイミングで入力データを読み込み、リセット信号RE1によってリセットされるレジスタである。ここで、クロックパルスclkは、前述したXスキャナ2がセンサアレイ1の各光電変換セルをスキャンする際のクロックパルスであり、また、リセット信号RE1は、センサアレイ1のスキャンが開始される直前に出力される信号である。23は加算器であり、レジスタ22の出力にセレクタ20の出力を加算し、その加算結果をレジスタ22の入力端および除算器24の入力端へ出力する。以上の構成から明らかなように、レジスタ22および加算器23は領域Rの各光電変換セルの出力電圧を順次加算し、終了点Eのスキャンが終わった時点で加算結果を除算器24へ出力する。この加算結果は、センサアレイ1の全光電変換セルのスキャンが終了するまで保持され、次のスキャンが開始される直前にリセットされる。
【0016】
除算器24は、加算器23の出力を領域Rの光電変換セル数Nで除算し、その除算結果、すなわち、領域Rの各光電変換セルの出力電圧の平均値を除算器9(図1)へ出力する。図3は領域Rの光電変換セル数Nを求める回路である。この図において、加算器26は、領域Rの終了点EのXアドレスXeから開始点SのXアドレスXsを減算し、減算結果に「1」を加算して乗算器28へ出力する。同様に、加算器27は、領域Rの終了点EのYアドレスYeから開始点SのYアドレスYsを減算し、減算結果に「1」を加算して乗算器28へ出力する。乗算器28は、加算器26、27の出力を乗算し、その結果を光電変換セル数Nとして図2の除算器24へ出力する。
【0017】
次に、図1において、除算器9は、センサアレイ1の全光電変換セルのスキャンが終了した時点で、予め決められている基準値を上述した平均計算ユニット11の出力で割り、その結果を乗算器30へ出力する。乗算器30は、除算器9の出力にレジスタ31の出力を乗算し、その結果をVGA5のゲイン制御信号Gとして出力する。ここで、レジスタ31は前述したリセット信号RE1を受けてゲイン制御信号Gを読み込むレジスタであり、前フレームのゲイン制御信号Gが記憶されるレジスタである。
【0018】
このレジスタ31および乗算器30を設けている理由は次の通りである。いま、除算器9の出力を直接VGA5へ印加する場合について考える。センサアレイ1の1回のスキャンが終了した時点で、除算器9の出力が例えば「3」であったとすると、次のスキャン時はセンサアレイ1の出力がVGA5において3倍され、ADC6においてディジタルデータに変換されて平均計算ユニット11へ印加される。そして、この場合、センサアレイ1の出力が3倍されているので、センサアレイ1の出力が前回スキャン時と全く同じであっても、除算器9の出力は「1」となり、このデータ「1」がVGA5へ印加される。これにより、次回スキャン時は、センサアレイ1の出力がVGA5において1倍され、ADC6を介して平均計算ユニット11へ印加され、この結果、除算器9の出力が再び「3」となる。このように、除算器9の出力を直接VGA5へ印加すると、センサアレイ1の出力が変化しないのにVGA5の出力が異常変動してしまう問題が生じる。
【0019】
これに対し、乗算器30およびレジスタ31を設けた場合の動作を次に説明する。いま、センサアレイ1の1回のスキャンが終了した時点で、除算器9の出力が例えば「3」であったとすると、レジスタ31の初期値を「1」とすれば、乗算器30から「3」が出力される。そして、次のスキャン時には、センサアレイ1の出力がVGA5において3倍され、ADC6においてディジタルデータに変換されて平均計算ユニット11へ印加される。センサアレイ1のスキャンが終了すると、乗算器30から出力されているデータ「3」がレジスタ31に読み込まれ、次いで、除算器9による除算が行われる。この場合、センサアレイ1の出力がVGA5によって3倍されていたので、センサアレイ1の出力が前回スキャン時と全く同じであっても、除算器9の出力は「1」となり、このデータ「1」が乗算器30へ印加される。乗算器30は、このデータ「1」とレジスタ31の出力データ「3」とを乗算し、その結果「3」をVGA5へ出力する。これにより、次回のスキャン時に、センサアレイ1の出力が、VGA5において再び3倍される。
【0020】
このように、乗算器30およびレジスタ31を設けることによって、異常変動のない正しい動作をさせることができる。
なお、上述したことを式で説明すると次の通りである。
まず、
第nフレームADC出力
=第(n−1)フレームゲイン×第nフレームアナログ出力 …(1)
である。したがって、
基準値÷第nフレームディジタル平均値
=基準値÷(第(n−1)フレームゲイン×第nフレームアナログ出力平均値)…(2)
となり、この式を変形すると、
基準値÷第nフレームディジタル平均値×第(n−1)フレームゲイン
=基準値÷第nフレームアナログ出力平均値…(3)
なる式が得られる。この第(3)式から図1の回路が得られる。
【0021】
次に、この発明の他の実施形態について説明する。図4はこの発明の第2の実施形態において用いられる平均計算制御ユニットの構成の一部を示す回路図であり、この図に示す回路は、図2におけるレジスタ15、加算器16、比較器17の代わりに用いられる回路である。但し、この図の回路はY方向制御の場合である。この図において、アドレスデコーダ35は、Yスキャナ3がスキャンする位置を示すデータYaddをデコードするデコーダであり、Yスキャナ3と同数の出力端を有し、データYaddが領域Rの開始点のY座標Ysより大で、終了点の座標Yeより小の時、対応する出力端から”1”信号を出力する。
【0022】
このアドレスデコーダ35の各出力は各々、対応するYスキャナ3の出力と共にアンドゲート36−1、36−2、・・・36−K(K;センサアレイ1の行数)へ出力される。アンドゲート36−1、36−2、・・・36−Kは各々アドレスデコーダ35の出力と、Yスキャナ3の出力のアンドをとる回路であり、各出力は各々FET(電界効果トランジスタ)37−1、37−2、・・・37−Kの各ゲートへ印加される。FET37−1、37−2、・・・37−Kは、各ドレインが共通接続されて、負荷抵抗としてのFET38のドレインに接続され、各ソースが接地されている。そして、各ドレインの共通接続線の信号が信号S−Yとして図2に示すアンドゲート18へ印加される。
【0023】
このような構成によれば、Yスキャナ3が座標Ysから座標Ye間をスキャンする時、対応するアンドゲート36の出力が”1”となり、FET37がオンとなり、信号S−Yが”1”となる。すなわち、図2におけるレジスタ15、加算器16、比較器17による回路と同様の動作を行う。
図5はこの発明の第3の実施形態による固体撮像装置の構成を示すブロック図であり、この図に示す装置が図1に示すものと異なる点は、センサアレイ1を仮想的にブロック(0,0)〜ブロック(m,n)のm×n個のブロックに分割している点である。すなわち、ユーザが操作部からいずれかのブロックを指定すると、予め記憶装置(図示略)に記憶されている全ブロックの開始点および終了点のX、Y座標の中から、指定されたブロックの開始点、終了点の座標が読み出され、平均計算制御ユニット12に設定される。これにより、指定されたブロックの平均値が平均計算ユニット11において算出される。例えば、図6(イ)に示すブロックを指定すると、同図に示す開始点P1、終了点P2のX、Y座標が平均計算制御ユニット12に設定され、また、図6(ロ)に示すように、連続する2ブロックを指定した場合は、図に示す開始点P3および終了点P4のX、Y座標が平均計算制御ユニット12に設定される。
【0024】
図7はこの発明の第4の実施形態による固体撮像装置の動作を説明するための説明図である。この第4の実施形態においては、電源投入時あるいはリセットボタンが操作された時、図1におけるVGA5のゲインを強制的に「1」に設定し、センサアレイ1のスキャンを行う。そして、得られた除算器9の出力をホールド回路(図示略)によってホールドし、以後、そのホールド回路の出力をVGA5のゲイン制御端子へ印加する。すなわち、この第4の実施形態においては、平均計算ユニット11における平均値計算が、図7(イ)に示す単一動作であり、一度決めた場合は、以後、そのゲインを連続して使用する。参考までに、前述した図1の回路による連続フレーム動作を図7(ロ)に示す。
【0025】
図8は、この発明の第5の実施形態による指紋照合装置の構成を示すブロック図である。この図において、40はプリズムであり、その一面40aが指41を当接する当接面になっている。43は照明部であり、プリズム40の当接面40aへ向けて光りを放射する。44はレンズであり、照明部43から放射され、指41において反射された光を固体撮像装置45のセンサアレイ1に結像させる。
固体撮像装置45は、図1に示す装置であり、出力端子7から出力される撮像データがCPU(中央処理装置)46へ印加される。CPU46は、固体撮像装置45の出力データから指41の指紋の特徴点を所定のアルゴリズムに従って検出する。次いで、検出した特徴点を、メモリ47内に予め記憶されている複数の人の指紋の特徴点データと照合することによって指紋を特定する。
【0026】
上記の処理において、明確な照合結果が得られなかった場合は、図1の領域Rを変更する。この変更の仕方として、図5に示すように、予め検出ブロックが設定されている場合は、ユーザがブロックの指定を変えてみる。また、ブロックが設定されていない場合は、ユーザが開始点Sと終了点Eの座標を変更する。
また、次の方法も有効である。すなわち、指41は当接面40aのどの位置に当接されるかわからず、人によって当接位置が大きく異なる場合がある。この場合、領域Rが定位置であると、指41の位置とかなり異なる位置の平均に基づいてVGA5のゲインが決まってしまい、正確な指紋検出ができなくなる。一方、指41を当接した位置と指41がない位置とではセンサアレイ1の受ける光の量が大きく異なる。したがって、センサアレイ1の各光電変換セルの出力から指41の概略当接位置を検出することができる。そこで、CPU46が固体撮像装置45の出力に基づいて指41の位置を検出し、その検出結果から開始点S、終了点Eを決定し、その座標(Xs,Ys)、(Xe,Ye)を固体撮像装置45へ出力する。
【0027】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、アナログ/ディジタル変換器の出力に基づいて、センサアレイの予め決められている特定領域の光電変換セルの出力の平均値を算出する平均計算手段と、平均計算手段の算出結果を、増幅手段のゲインを制御するゲイン制御信号に変換する変換手段とを設けたので、撮像能力を充分に発揮させることができる効果が得られる。
【0028】
また、請求項3に記載の発明によれば、前フレームのゲイン制御信号を記憶するレジスタと、除算器の出力とレジスタの出力とを乗算する乗算器とを設けたので、増幅手段のゲインを実時間で連続的に制御することができる。
また、請求項9に記載の発明によれば、複数の特定領域を予め設定しておき、平均計算手段は、ユーザの選択した特定領域について光電変換セルの出力の平均値を算出するようにしたので、特定領域を簡単に変更することができる効果がある。
【0029】
また、請求項10に記載の発明によれば、指に向けて光りを照射する照明部と、指において反射した光を請求項1〜請求項9のいずれかの項に記載の固体撮像装置のセンサアレイへ導く光学系と、固体撮像装置の出力から指の指紋の特徴点を抽出する抽出手段と、複数の指紋の特徴点が記憶された記憶手段と、抽出手段によって抽出された特徴点と記憶手段に記憶された特徴点とを照合する照合手段とを設けたので、指紋照合を従来より確実に行うことができる。
また、請求項11に記載の発明によれば、固体撮像装置の出力に基づいて指の位置を検出する検出手段と、検出手段の検出結果から特定領域の開始点座標と終了点座標を求め、固体撮像装置へ出力する手段とを設けたので、照合の確実さをさらの増すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の第1の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図2】 同実施形態における平均計算ユニット11および平均計算制御ユニット12の詳細を示す回路図である。
【図3】 同実施形態における光電変換セル数算出回路の構成を示すブロック図である。
【図4】 この発明の第2の実施形態における平均計算制御ユニット12のの構成を示す回路図である。
【図5】 この発明の第3の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図6】 同実施形態の動作を説明するための図である。
【図7】 この発明の第4の実施形態の動作を説明するための説明図である。
【図8】 この発明の第5の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図9】 従来の固体撮像装置の構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1…センサアレイ
2…Xスキャナ
3…Yスキャナ
5…VGA
6…ADC
7…出力端子
9…除算器
11…平均計算ユニット
12…平均計算制御ユニット
15…レジスタ
16…加算器
17…比較器
18…アンドゲート
20…セレクタ
22…レジスタ
23…加算器
24…除算器
26、27…加算器
28…乗算器
30…乗算器
31…レジスタ
35…アドレスデコーダ
36−1〜36−K…アンドゲート
37−1〜37−K…FET
40…プリズム
41…指
43…照明部
45…固体撮像装置
46…CPU
47…メモリ
Claims (9)
- 複数の光電変換セルをマトリックス状に配置したセンサアレイと、前記センサアレイから順次出力される前記光電変換セルの出力を増幅する増幅手段と、前記増幅手段の出力をディジタルデータに変換するアナログ/ディジタル変換器とを具備する固体撮像装置において、
前記アナログ/ディジタル変換器の出力に基づいて、前記センサアレイの予め決められている特定領域の光電変換セルの出力の平均値を算出する平均計算手段と、
前記平均計算手段の算出結果を、前記増幅手段のゲインを制御するゲイン制御信号に変換する変換手段と、
を具備し、
前記変換手段は、前フレームのゲイン制御信号を記憶するレジスタと、予め決められた基準値を前記平均計算手段の出力で除算する除算器と、当該除算器の出力と前記レジスタの出力とを乗算する乗算器とをさらに具備し、前記乗算器の出力をゲイン制御信号として出力する
ことを特徴とする固体撮像装置。 - 前記平均計算手段は、前記センサアレイを走査するクロックパルスに基づいて前記特定領域の光電変換セルのデータが前記アナログ/ディジタル変換器から出力されるタイミングを検出するタイミング検出手段と、
前記タイミング検出手段の検出タイミングにおいて前記アナログ/ディジタル変換器の出力を順次累算する累算手段と、
前記累算手段の累算結果を前記特定領域の光電変換セル数で除算する除算器と
を具備することを特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記タイミング検出手段は、前記クロックパルスのタイミングで入力端のデータを読み込むレジスタと、
前記レジスタの出力に「1」を加算して該レジスタの入力端へ出力する加算器と、
前記加算器の出力が前記特定領域の座標に一致している時検出信号を出力する比較器と
を具備することを特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記タイミング検出手段は、前記特定領域の走査タイミングにおいて”1”信号を出力するアドレスデコーダと、前記アドレスデコーダの出力および前記センサアレイを走査する走査信号が共に”1”の時、タイミング検出信号を出力する回路とを具備することを特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。
- 前記累算手段は、前記タイミング検出手段の検出タイミングにおいて前記アナログ/ディジタル変換器の出力を選択して出力し、それ以外のタイミングにおいて0を出力するセレクタと、前記クロックパルスのタイミングで入力端のデータを読み込むレジスタと、前記レジスタの出力に前記セレクタの出力を加算して該レジスタの入力端へ出力する加算器とを具備することを特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。
- 前記特定領域の開始点の座標および終了点の座標から前記特定領域のX方向の光電変換セル数およびY方向の光電変換セル数を算出する演算手段と、前記演算手段によって算出されたX方向の光電変換セル数およびY方向の光電変換セル数を乗算する乗算手段とからなる光電変換セル数算出手段を設けたことを特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。
- 複数の前記特定領域を予め設定しておき、前記平均計算手段は、ユーザの選択した特定領域について光電変換セルの出力の平均値を算出することを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれかの項に記載の固体撮像装置。
- 複数の光電変換セルをマトリックス状に配置したセンサアレイと、前記センサアレイから順次出力される前記光電変換セルの出力を増幅する増幅手段と、前記増幅手段の出力をディジタルデータに変換するアナログ/ディジタル変換器とを具備する固体撮像装置であって、
前記アナログ/ディジタル変換器の出力に基づいて、前記センサアレイの予め決められている特定領域の光電変換セルの出力の平均値を算出する平均計算手段と、
前記平均計算手段の算出結果を、前記増幅手段のゲインを制御するゲイン制御信号に変換する変換手段と、
を具備し、
前記変換手段は、前フレームのゲイン制御信号を記憶するレジスタと、予め決められた基準値を前記平均計算手段の出力で除算する除算器と、当該除算器の出力と前記レジスタの出力とを乗算する乗算器とをさらに具備し、前記乗算器の出力をゲイン制御信号として出力する固体撮像装置と、
指に向けて光を照射する照明部と、
前記指において反射した光を前記固体撮像装置の前記センサアレイへ導く光学系と、
前記固体撮像装置の出力から前記指の指紋の特徴点を抽出する抽出手段と、
複数の指紋の特徴点が記憶された記憶手段と、
前記抽出手段によって抽出された特徴点と前記記憶手段に記憶された特徴点とを照合する照合手段と、
を具備することを特徴とする指紋照合装置。 - 前記固体撮像装置の出力に基づいて指の位置を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果から前記特定領域の開始点座標と終了点座標を求め、前記固体撮像装置へ出力する手段とを設けたことを特徴とする請求項8に記載の指紋照合装置。
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