JP4492267B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
空気中でのコロナ放電による試料ガスのイオン化は周知である(非特許文献1を参照)。
1次イオンと試料分子が反応する場であるイオン−分子反応の場に、1次イオンと試料分子が共存する滞在時間が長くなり、イオン−分子反応が進行する十分な時間を確保されので、試料分子が効率よくイオン化され、試料イオンの生成量が増大し、感度が向上する。
本発明の質量分析装置(GC/APCI/MS)では、イオン源を夾雑物により汚染することなく夾雑物を多く含んだ混合試料を高感度に分析できる。
本発明の実施例の質量分析装置について、詳細に図面を参照して説明する。
図1は、本発明の第1の実施例の質量分析装置の構成を示す断面図である。この質量分析装置(GC/APCI/MS)は、GCカラムにより分離された試料分子(試料ガス)をAPCI源でイオン化し、質量分析する高感度な装置である。
GCカラム9の終端の開口12の中心が試料イオン移動細孔8に近づきすぎると、試料ガスの殆ど全量が試料イオン移動細孔8から排出される。この時、イオン−分子反応の場に、1次イオンと試料分子が共存する滞在時間が短くなり、イオン−分子反応が進行する十分な時間を確保できず、試料イオンの生成量が低下し、感度が低下してしまう。
試料イオン移動細孔8を流れる、1次イオン生成用ガス、及び、試料ガスは、差動排気部17を排気する図示しない排気系により排気される。
N2 ++2N2→N4 ++N2 …(化2)
引き出し電極4には、約2mmφの1次イオン導入細孔11が形成されており、生成した1次イオンが電界により第2イオン化部5に導入される。第2イオン化部5では、コロナ放電で生成した1次イオンと、GCカラム9の終端の開口12から導入される試料ガスとのイオン−分子反応により、試料ガスのイオン(2次イオン:試料イオン)が生成される。
図2に示す構成において、第2イオン化部5の圧力P1が760Torr、差動排気部17の圧力PQ‘2が2Torr、試料イオン移動細孔8の、直径がD=0.25mmφ、長さが20mmの時、試料イオン移動細孔8に流入するガス量Q8は、約350mL/minとなる。図1、図2に一点鎖線で示す軸の近傍の位置が、コロナ放電により生成した1次イオンの濃度が高い領域であり、この領域に直接試料ガスを注入することにより、高感度化が実現できる。
試料分子と1次イオンとのイオン−分子反応により生成する試料イオンの数は、(数1)により求められる。
…(数1)
ここで、GCカラム9の出口の終端の開口12の中心位置の、試料イオン導入細孔8のイオン入口からの距離dを変えた場合、(数1)におけるA、σ、Iは、不変であり、ρも同じサンプル条件で測定した場合は、一定である。反応時間Tについては、以下のように見積もることが出来る。
V11=Q11/(2π(L−d)2) …(数3)
ここで、Q8、Q11はそれぞれ、試料イオン移動細孔8、1次イオン導入細孔11から排気されるガス流量を示し、Lは試料イオン移動細孔8の中心と1次イオン導入細孔11の中心との距離を示す。(数2)、(数3)ともに、それぞれの排気口(試料イオン移動細孔8と1次イオン導入細孔11)から離れれば離れるほど、流速が小さくなることを示している。
同様に、試料分子の位置が1次イオン導入細孔11に近く、dがLに近い場合は、流速としては、V11のみを考慮すればよく、反応時間T11は、(数3)を積分することにより、(数5)となる。
(数1)で示した試料イオンの数を増加させる、つまり感度を向上させるために、反応時間T8又はT11を増加させるような位置に、GCカラム9の出口の終端の開口12を配置するのが良い。
図4に示す点Aは、GCカラム9の終端の開口12の中心位置を試料イオン移動細孔8の極近傍に配置し、d=0.5mmとした時に検出された、試料イオンによる信号強度(任意単位)を示している。d=0.5mmとした時には、GCカラム9の終端の開口12から流出する試料ガスのほぼ全量が試料イオン移動細孔8に導入される。
(数1)において、A’=A×σ×I×ρ×(信号強度)/(試料イオンの数)とおくと、(数6)となる。
ここで、図4に示す点Aは、試料イオン移動細孔8に近く、(数7)と見なせることができる。
点A(d=0.5mm、Q8=350mL/min、信号強度=4E+6)の条件を代入すると、A’=8.0E+9となる。点A(d=0.5mm)における感度が基準感度の0.7倍であるから、基準感度と等しい感度を得られる位置は、(数6)(数7)からd=0.6mmが得られる。
同様に、1次イオン導入細孔11に近い位置で基準感度と等しい感度を得られる位置は、(数6)において、(数8)とみなせて、L=6mm、Q11=650ml/min、A=8.0E+9を代入して、d=5.4mmを得ることができる。
図4に示す点Bにおいては、GCカラム9の出口の終端の開口12から導入した試料ガスは、ほぼ半分ずつ1次イオン導入細孔11と試料イオン移動細孔8から排気されるので、反応時間については、T8とT11の平均値とみなせる。(数6)、(数7)、(数8)にd=3mmを代入すると、信号強度=1E+9となり、図4に示した実験値と合わないが、点Bでは、反応が十分進行し、飽和しているものと見なせる。
GCカラム9の出口の終端の開口12の位置を、d=0.9mmに配置したの時の、速度ベクトルV8及びV11から得られる流速比は、V8:V11≒18:1である。GCカラム9の出口の終端の開口12から導入した試料ガス流量Qが、この流速比に従って分配され、試料イオン移動細孔8及び次イオン導入細孔11から排気されるとすると、試料イオン移動細孔から排出される流量Q’は、Q’≒0.95Qとなる。同様に、d=5.1mmに配置したときのQ’は、Q’≒0.02Qとなる。
図5は、本発明の第2の実施例の質量分析装置の構成を示す断面図である。第2の実施例の構成は、試料ガスの正イオン化を行う場合に有効である。
このような条件下では、1次イオンと試料ガス(分子)が効率的に反応を起こす、針電極10の先端部と試料イオン移動細孔8のイオン入口の中心とを結ぶ軸近傍に沿って流れる試料ガスの割合が、イオン化部18に導入した全量の80%以上を占めることになり、イオン化部18に導入した全量を、針電極10の先端部と試料イオン移動細孔8のイオン入口の中心とを結ぶ軸近傍に沿って流した場合と比較して、80%〜100%の感度を維持して測定することができる。
図6は、本発明の第3の実施例の質量分析装置の構成を示す断面図である。第3の実施例の構成は、イオン化反応における反応速度定数の小さい試料成分の正イオン化を行う場合に特に有効である。
第3の実施例と第1の実施例との相違点は、GCカラム9の終端の開口12の中心を配置する位置と、1次イオン生成用ガスの導入配管1を配置する位置と、1次イオン生成用ガス排出配管7の代りにイオン通過細孔20からガスを排する点にあり、第3の実施例では、第2の実施例と同様に、GCカラム9の終端の開口12から導入した試料ガスを、コロナ放電部(図6の点線で示される領域)に導入する点にある。
第2の実施例と同様に、このような条件下では、1次イオンと試料ガス(分子)が効率的に反応を起こす、針電極10の先端部と試料イオン移動細孔8のイオン入口の中心とを結ぶ軸近傍に沿って流れる試料ガスの割合が、イオン化部18に導入した全量の80%以上を占めることになり、イオン化部18に導入した全量を、針電極10の先端部と試料イオン移動細孔8のイオン入口の中心とを結ぶ軸近傍に沿って流した場合と比較して、80%〜100%の感度を維持して測定することができる。
なお、第1の実施例、第2の実施例、第3の実施例において、サンプル(混合試料)がキャリアガス13とともに導入されるGCカラムの一端(入口)と反対側の他端の出口を、試料ガス配管の一端に結合して、この試料ガス配管の他端の出口を、GCカラム9の終端の開口12に代えても良い。
Claims (5)
- (a1)コロナ放電のための電圧が印加される針電極、及び、1次イオン生成用ガスの排出開口を具備し、前記針電極の放電により前記1次イオン生成用ガスから1次イオンを生成する第1イオン化部と、(a2)前記1次イオンが通過する1次イオン導入細孔と、(a3)前記1次イオン生成用ガスの導入開口を具備し、前記1次イオン導入細孔から導入された前記1次イオンと、ガスクロマトグラフィーのカラムの終端から導入された試料ガスとの反応により、前記試料ガスの試料イオンを生成し、前記カラムの終端が内部に配置される第2イオン化部とを、具備する大気圧化学イオン源と、
(b)前記試料イオンが移動する試料イオン移動細孔と、
(c)前記試料イオンの質量分析を行う質量分析部とを有し、
前記排出開口が前記針電極の先端と逆の側の部位に配置され、前記第2イオン化部に導入された前記1次イオン生成用ガスが、前記1次イオン導入細孔を通り、前記針電極の先端から前記排出開口に流され、前記1次イオン導入細孔の内径の半径をR、前記1次イオン導入細孔の中心と前記試料イオン移動細孔の中心とを結ぶ軸と、前記カラムの終端との距離をrとする時、r≦2Rを満たす位置に、前記カラムの終端が配置されることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、前記カラムの終端での前記試料ガスの流量をQ、前記第2イオン化部に導入された試料ガスの、前記試料イオン移動細孔から排出される流量をQ’とする時、0.02Q≦Q’≦0.95Qを満たすことを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記カラムの終端での前記試料ガスの流量をQ、前記第2イオン化部に導入された試料ガスの、前記試料イオン移動細孔から排出される流量をQ’とする時、0.4Q≦Q’≦0.6Qを満たすことを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記試料イオン移動細孔を移動した前記試料イオンが、差動排気部を経由して前記質量分析部に導入されることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記カラムの終端に接続される試料ガス配管を有し、前記第2イオン化部の内部に配置される前記カラムの終端に代えて、前記試料ガス配管の終端を前記第2イオン化部の内部に配置することを特徴とする質量分析装置。
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US7568401B1 (en) | 2005-06-20 | 2009-08-04 | Science Applications International Corporation | Sample tube holder |
US7576322B2 (en) * | 2005-11-08 | 2009-08-18 | Science Applications International Corporation | Non-contact detector system with plasma ion source |
JP4982087B2 (ja) | 2006-02-08 | 2012-07-25 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP4823794B2 (ja) * | 2006-07-24 | 2011-11-24 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置及び探知方法 |
US8123396B1 (en) | 2007-05-16 | 2012-02-28 | Science Applications International Corporation | Method and means for precision mixing |
US8008617B1 (en) | 2007-12-28 | 2011-08-30 | Science Applications International Corporation | Ion transfer device |
US8227750B1 (en) * | 2008-04-28 | 2012-07-24 | Bruker-Michrom, Inc. | Method and apparatus for nano-capillary/micro electrospray for use in liquid chromatography-mass spectrometry |
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US8071957B1 (en) | 2009-03-10 | 2011-12-06 | Science Applications International Corporation | Soft chemical ionization source |
WO2011089912A1 (ja) | 2010-01-25 | 2011-07-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
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US8319194B2 (en) | 2010-08-25 | 2012-11-27 | Hitachi High-Technologies Corporation | Drug detection equipment |
JP5497615B2 (ja) | 2010-11-08 | 2014-05-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
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US11239066B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Cell population analysis |
GB2553918B (en) | 2015-03-06 | 2022-10-12 | Micromass Ltd | Ambient ionization mass spectrometry imaging platform for direct mapping from bulk tissue |
DE202016008460U1 (de) | 2015-03-06 | 2018-01-22 | Micromass Uk Limited | Zellpopulationsanalyse |
CA2978165A1 (en) | 2015-03-06 | 2016-09-15 | Micromass Uk Limited | Improved ionisation of gaseous samples |
EP3265821B1 (en) | 2015-03-06 | 2021-06-16 | Micromass UK Limited | Liquid trap or separator for electrosurgical applications |
CN112557491B (zh) | 2015-03-06 | 2024-06-28 | 英国质谱公司 | 光谱分析 |
CN107645938B (zh) | 2015-03-06 | 2020-11-20 | 英国质谱公司 | 成像导引的敞开式电离质谱测定 |
EP3265822B1 (en) | 2015-03-06 | 2021-04-28 | Micromass UK Limited | Tissue analysis by mass spectrometry or ion mobility spectrometry |
US11282688B2 (en) | 2015-03-06 | 2022-03-22 | Micromass Uk Limited | Spectrometric analysis of microbes |
CN107580675B (zh) | 2015-03-06 | 2020-12-08 | 英国质谱公司 | 拭子和活检样品的快速蒸发电离质谱(“reims”)和解吸电喷雾电离质谱(“desi-ms”)分析 |
CA2977900A1 (en) | 2015-03-06 | 2016-09-15 | Micromass Uk Limited | Collision surface for improved ionisation |
EP3265819B1 (en) | 2015-03-06 | 2020-10-14 | Micromass UK Limited | Chemically guided ambient ionisation mass spectrometry |
EP3264990B1 (en) | 2015-03-06 | 2022-01-19 | Micromass UK Limited | Apparatus for performing rapid evaporative ionisation mass spectrometry |
GB2554181B (en) | 2015-03-06 | 2021-09-08 | Micromass Ltd | Inlet instrumentation for ion analyser coupled to rapid evaporative ionisation mass spectrometry ("REIMS") device |
CN105181785A (zh) * | 2015-03-19 | 2015-12-23 | 南昌大学 | 一种快速判别不同化学型香樟树的方法 |
GB201517195D0 (en) | 2015-09-29 | 2015-11-11 | Micromass Ltd | Capacitively coupled reims technique and optically transparent counter electrode |
WO2017178833A1 (en) | 2016-04-14 | 2017-10-19 | Micromass Uk Limited | Spectrometric analysis of plants |
JP6767037B2 (ja) * | 2016-07-28 | 2020-10-14 | 国立大学法人静岡大学 | 同位体測定装置及び同位体測定方法 |
JP7188441B2 (ja) * | 2018-04-05 | 2022-12-13 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置および質量分析方法 |
CA3172849A1 (en) * | 2020-02-25 | 2021-09-02 | Biochromato, Inc. | Ionization device, mass spectrometry system, and ionization method |
CN114864373B (zh) * | 2022-04-25 | 2023-08-11 | 苏州大学 | 一种电晕放电离子源 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0550648U (ja) * | 1991-11-27 | 1993-07-02 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計 |
JP2001351569A (ja) * | 2000-06-02 | 2001-12-21 | Hitachi Ltd | ガス測定用オンラインモニター装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06310091A (ja) * | 1993-04-26 | 1994-11-04 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析計 |
JPH0915207A (ja) * | 1995-06-29 | 1997-01-17 | Osaka Oxygen Ind Ltd | ガスの高感度分析装置 |
JP3607997B2 (ja) | 1998-04-09 | 2005-01-05 | 大陽日酸株式会社 | ガス中の微量不純物の分析装置 |
JP4054493B2 (ja) | 1999-09-20 | 2008-02-27 | 株式会社日立製作所 | イオン源 |
EP2296167B1 (en) * | 1999-09-20 | 2012-11-07 | Hitachi, Ltd. | Ion source, mass spectrometer, detector and monitoring system |
JP3660279B2 (ja) * | 2001-07-23 | 2005-06-15 | 株式会社日立製作所 | 試料イオン化装置及び質量分析計 |
JP3787116B2 (ja) * | 2002-11-06 | 2006-06-21 | 株式会社日立製作所 | 化学剤の探知方法 |
JP2004157057A (ja) * | 2002-11-08 | 2004-06-03 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
-
2004
- 2004-09-16 JP JP2004269112A patent/JP4492267B2/ja active Active
-
2005
- 2005-03-04 US US11/071,345 patent/US7064320B2/en active Active
- 2005-03-04 EP EP05004827.1A patent/EP1638132B1/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0550648U (ja) * | 1991-11-27 | 1993-07-02 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計 |
JP2001351569A (ja) * | 2000-06-02 | 2001-12-21 | Hitachi Ltd | ガス測定用オンラインモニター装置 |
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