JP4491328B2 - トナーの製造方法 - Google Patents
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Description
工程(I):結着樹脂、着色剤及び正帯電性荷電制御剤を含有した原料を溶融混練する工程、
工程(II):工程(I)で得られた混練物を冷却し、正帯電性シリカの存在下、粉砕する工程
工程(III):工程(II)で得られた粉砕物を分級する工程、及び
を有するものである。
高化式フローテスター((株)島津製作所製、CFT-500D)を用い、1gの試料を昇温速度6℃/分で加熱しながら、プランジャーにより1.96MPaの荷重を与え、直径1mm、長さ1mmのノズルを押し出すようにし、これによりフローテスターのプランジャー降下量(流れ値)−温度曲線を描き、そのS字曲線の高さをhとするときh/2に対応する温度(樹脂の半分が流出した温度)を軟化点とする。
示差走査熱量計(セイコー電子工業社製、DSC210)を用いて200℃まで昇温し、その温度から降温速度10℃/分で0℃まで冷却したサンプルを昇温速度10℃/分で測定した際の、最大吸熱ピーク温度以下のベースラインの延長線と、ピークの立ち上がり部分からピークの頂点まで最大傾斜を示す接線との交点の温度をガラス転移点とする。
JIS K0070の方法により測定する。
コールターカウンター「コールターマルチサイザーII」(コールター社製)を用い、下記の方法に従って、トナーの粒径及び粒度分布を求める。
(2)測定装置:コールターマルチサイザーII(ベックマンコールター社製)
アパチャー径:100μm
測定粒径範囲:2〜60μm
解析ソフト:コールターマルチサイザーアキュコンプ バージョン 1.19(ベックマンコールター社製)
(3)測定条件:ビーカーに電解液100mlと分散液を加え、3万個の粒子の粒径を20秒で測定できる濃度で、3万個の粒子の粒径を測定する。
(4)測定値から、体積中位粒径(D50v、μm)、個数中位粒径(D50p、μm)、体積粒度分布における標準偏差、粒径が(1.4×D50v)μm以上の粒子の含有量(体積%)及び粒径が(0.6×D50p)μm以下の粒子の含有量(個数%)を求める。
ポリオキシプロピレン(2.2)-2,2-ビス(4-ヒドロキシフェニル)プロパン 568g、ポリオキシエチレン(2.2)-2,2-ビス(4-ヒドロキシフェニル)プロパン 792g、テレフタル酸 640g、及びオクチル酸錫 10gを窒素気流下、210℃にて攪拌しつつ反応させた。軟化点により重合度を追跡し、軟化点が110℃に達した時点で反応を終了した。得られた樹脂を樹脂Aとする。樹脂Aのガラス転移点は68℃、酸価は5mgKOH/gであった。
樹脂A 100重量部、着色剤「ECB-301」(大日精化工業社製)3.5重量部、「カルナウバワックス C1」(加藤洋行社製)3.0重量部、パラフィンワックス「HNP-9」(日本精蝋社製)2.0重量部及び荷電制御剤「ボントロン P-51」(オリエント化学工業社製)0.5重量部をヘンシェルミキサーにて混合し、得られた混合物を連続式二本オープンロール型混練機「ニーデックス」(三井鉱山(株)製)により混練し、混練物を得た。
粉砕収率とは、粗粉砕物に対するトナーの収率である。
Claims (3)
- 結着樹脂、着色剤及び正帯電性荷電制御剤を含有した原料を溶融混練する工程(I)、並びに該工程(I)で得られた混練物を冷却し、体積中位粒径を10〜1000μmに粗粉砕した後、正帯電性シリカの存在下、さらに微粉砕する工程(II)、及び該工程(II)で得られた粉砕物を分級する工程(III)を有するトナーの製造方法であって、前記工程(II)における正帯電性シリカの存在量が、工程(I)で得られた混練物100重量部に対して1.5〜6重量部であり、前記工程(III)により得られるトナーの体積中位粒子径(D 50 v)が3〜7μmであり、体積粒度分布の標準偏差が体積中位粒子径(D50v)の1/4以下であり、(1.4×D50v)μm以上の粒径を有する粒子の含有量が7体積%以下であり、粒径が〔0.6×個数中位粒子径(D50p)〕μm以下の粒子の含有量が5個数%以下である、トナーの製造方法。
- 正帯電性荷電制御剤の含有量が、工程(I)で用いる原料中、0.2〜5重量%である請求項1記載のトナーの製造方法。
- 正帯電性シリカの平均粒子径が4〜40nmである請求項1又は2記載のトナーの製造方法。
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