JP4443953B2 - Ledチップの光学特性測定装置 - Google Patents
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100 ベース部
200 吸引手段
300 プローブピン
400 検出手段
Claims (6)
- 上面に発光面が、下面に電極が設けられたLEDチップの光学特性を測定する測定装置であって、
上面にLEDチップが発光面を下に向けた状態で載置されるベース部と、
外周縁部に所定間隔毎に前記ベース部が取り付けられており且つ当該ベース部上のLEDチップを搬入位置から測定位置、測定位置から搬出位置に移動させる円形の回転テーブルと、
測定位置に位置した前記ベース部上のLEDチップの電極に接触可能なプローブピンと、
測定位置に位置した前記ベース部の上面のLEDチップの載置箇所の鉛直線上に位置する下面の一部に対向配置された検出手段と、
前記LEDチップを前記ベース部の上面の載置箇所に吸着させる吸引手段とを具備しており、
前記ベース部の内部は中空になっており、
前記ベース部の上面の載置箇所及び下面の一部が透明にされており、
前記プローブピンの通電によりLEDチップから発せられた光はベース部の上面の載置箇所及び下面の一部を通じて前記検出手段に導かれ、当該検出手段により検出されるようになっており、
前記載置箇所の一部には前記ベース部の内部と連通する貫通孔が、前記ベース部の背面には前記ベース部の内部と連通する通風口が設けられており、
前記回転テーブルの内部には、前記通風口と連通する通風路が設けられており、
前記吸引手段は、前記通風路に接続され、該通風路、前記通風口、前記ベース部の内部及び前記貫通孔を通じて前記LEDチップを前記載置箇所に吸着させるようになっていることを特徴とするLEDチップの光学特性測定装置。 - 上面に発光面が、下面に電極が設けられたLEDチップの光学特性を測定する測定装置であって、
上面にLEDチップが発光面を下に向けた状態で載置されるベース部と、
外周縁部に所定間隔毎に前記ベース部が取り付けられており且つ当該ベース部上のLEDチップを搬入位置から測定位置、測定位置から搬出位置に移動させる円形の回転テーブルと、
測定位置に位置した前記ベース部上のLEDチップの電極に接触可能なプローブピンと、
測定位置に位置した前記ベース部の正面の一部に対向配置された検出手段と、
前記LEDチップを前記ベース部の上面のLEDチップの載置箇所に吸着させる吸引手段とを具備しており、
前記ベース部の上面の載置箇所及び正面の一部が透明にされており、
前記ベース部の内部は中空になっており且つ前記載置箇所からの光を前記正面の一部に向けて反射する反射部が設けられており、
前記プローブピンの通電によりLEDチップから発せられた光はベース部の載置箇所、反射部及び正面の一部を通じて前記検出手段に導かれ、当該検出手段により検出されるようになっており、
前記載置箇所の一部には前記ベース部の内部と連通する貫通孔が、前記ベース部の背面には前記ベース部の内部と連通する通風口が設けられており、
前記回転テーブルの内部には、前記通風口と連通する通風路が設けられており、
前記吸引手段は、前記通風路に接続され、該通風路、前記通風口、前記ベース部の内部及び前記貫通孔を通じて前記LEDチップを前記載置箇所に吸着させるようになっていることを特徴とするLEDチップの光学特性測定装置。 - 請求項1記載のLEDチップの光学特性測定装置において、
前記ベース部の上面及び下面には、透明とした箇所に開口がそれぞれ設けられており、且つこの開口を閉塞する透明プレートがそれぞれ着脱自在に取り付けられていることを特徴とするLEDチップの光学特性測定装置。 - 請求項2記載のLEDチップの光学特性測定装置において、
前記ベース部の上面及び正面には、透明とした箇所に開口がそれぞれ設けられており、且つこの開口を閉塞する透明プレートがそれぞれ着脱自在に取り付けられていることを特徴とするLEDチップの光学特性測定装置。 - 請求項1又は2記載のLEDチップの光学特性測定装置において、
前記ベース部は前記回転テーブルに対して着脱可能なっていることを特徴とするLEDチップの光学特性測定装置。 - 請求項1又は2記載のLEDチップの光学特性測定装置において、
測定位置に位置したベース部の上方に配置された位置決め手段を更に備え、
前記位置決め手段は、前記ベース部上のLEDチップに両側から当接し、該LEDチップを前記載置箇所上で位置決め保持する可動アームを有することを特徴とするLEDチップの光学特性測定装置。
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