JP4434943B2 - X線管 - Google Patents
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Description
項(2):当該X線管の前記高圧回路に存在する前記残余の又は余剰の電荷が、少なくとも実質的除去されるように、前記電子ビームを誘発する放電パルスを発生させるために、二つの継続的な露出の間に起動させられることができる第二のデバイスを含む、項(1)に記載のX線管。
項(3):前記第一のデバイスは、少なくとも一つの電圧源のみならず、当該X線管の陰極の第一の管の半分及び第二の管の半分を備えた分割された陰極管を含み、前記電圧源によって前記電子ビームを誘発すると共に前記誘発された電子ビームを偏向させる及び/又はデフォーカスさせるために、前記管の半分を異なる電気的なポテンシャルに接続することができる、項(1)に記載のX線管。
項(4):前記第一のデバイスは、電場を発生させるために、電圧源に接続される少なくとも一つの偏向板を含み、前記電場によって前記電子ビームが、偏向させられる及び/又はデフォーカスさせられる、項(1)に記載のX線管。
項(5):前記第一のデバイスは、磁場を発生させるために、電流源に接続される少なくとも一つの偏向コイルを含み、前記磁場によって前記電子ビームが、偏向させられる及び/又はデフォーカスさせられる、項(1)に記載のX線管。
項(6):前記第二のデバイスは、少なくとも一つの電圧源を含み、前記電圧源によって前記電子ビームが、当該X線管を通じてスイッチングすることによって誘発される、項(2)に記載のX線管。
項(7):前記偏向された電子ビームが方向付けられる放射収集器を含む項(1)に記載のX線管。
項(8):前記X線管の高圧回路に存在する残余の又は余剰の電荷によって生成させられる、電子ビームを、少なくともそれが、陽極の領域における有意な範囲に入射しないで、前記陽極から、それによって発生させられるX線が検査される対象に向かって方向付けられるような様式で、偏向させる及び/又はデフォーカスさせる、偏向パルスを発生させることに役に立つ項(1)に記載のX線管用の電圧又は電流の供給及び制御ユニット。
項(9):前記X線管の前記高圧回路に存在する前記残余の又は余剰の電荷が、少なくとも実質的に除去されるように、前記電子ビームを誘発する放電パルスを発生させることに役に立つ項(2)に記載のX線管用の電圧又は電流の供給及び制御ユニット。
項(10):項(8)又は(9)に記載の電圧又は電流の供給及び制御ユニットを含む、項(1)又は(2)に記載のX線管用の高電圧発生器。
項(1)に従って、上記目的は、X線管の高圧回路に存在する残余の又は余剰の電荷によって発生させられる、電子ビームを、少なくともそれが、陽極の領域における有意な範囲へ入射しないで、その陽極から、それによって発生させられるX線が、検査される対象に向かって方向付けられるような様式で、偏向させる及び/又はデフォーカスさせるための偏向パルスを発生させるために、二つの継続的な露出の間に起動させられることができる第一のデバイスを含むX線管によって達成される。
Claims (4)
- X線管であって、
前記X線管の陰極の第一の管の半分及び第二の管の半分、並びに、前記第一の管の半分及び前記第二の管の半分が、前記X線管の高電圧回路に有る残余の又は余剰の電荷によって発生させられた電子ビームを誘発すると共に前記誘発された電子ビームを偏向させる及び/又はデフォーカスさせるように、二つの継続的な露出の間に前記第一の管の半分及び前記第二の管の半分を異なる電位に接続させるための少なくとも一つの電圧源を含む、X線管。 - X線管であって、
二つの継続的な露出の間に前記X線管の高電圧回路に有る残余の又は余剰の電荷によって発生させられた電子ビームを誘発するための少なくとも一つの電圧源、及び、
別の電圧源に接続された且つ前記電子ビームを偏向させる及び/又はデフォーカスさせるための電場を発生させる少なくとも一つの偏向板を含む、X線管。 - X線管であって、
二つの継続的な露出の間に前記X線管の高電圧回路に有る残余の又は余剰の電荷によって発生させられた電子ビームを誘発するための少なくとも一つの電圧源、及び、
電流源に接続された且つ前記電子ビームを偏向させる及び/又はデフォーカスさせるための磁場を発生させる少なくとも一つの偏向コイルを含む、X線管。 - 請求項1乃至3のいずれか一項に記載のX線管であって、
放射収集器をさらに含むと共に、
前記電子ビームは、前記放射収集器に向かって偏向させられる及び方向付けられる、X線管。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10224292A DE10224292A1 (de) | 2002-05-31 | 2002-05-31 | Röntgenröhre |
PCT/IB2003/001976 WO2003103346A1 (en) | 2002-05-31 | 2003-05-23 | X-ray tube |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005528773A JP2005528773A (ja) | 2005-09-22 |
JP4434943B2 true JP4434943B2 (ja) | 2010-03-17 |
Family
ID=29432517
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004510291A Expired - Fee Related JP4434943B2 (ja) | 2002-05-31 | 2003-05-23 | X線管 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7123688B2 (ja) |
EP (1) | EP1514458B1 (ja) |
JP (1) | JP4434943B2 (ja) |
AT (1) | ATE536733T1 (ja) |
AU (1) | AU2003228017A1 (ja) |
DE (1) | DE10224292A1 (ja) |
WO (1) | WO2003103346A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6826255B2 (en) * | 2003-03-26 | 2004-11-30 | General Electric Company | X-ray inspection system and method of operating |
JP4563072B2 (ja) * | 2004-05-07 | 2010-10-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線検査装置 |
JP5111788B2 (ja) * | 2006-06-05 | 2013-01-09 | 株式会社日立メディコ | X線発生用電源装置 |
US7945024B2 (en) * | 2006-08-16 | 2011-05-17 | General Electric Company | Method for reducing X-ray tube power de-rating during dynamic focal spot deflection |
US7529336B2 (en) | 2007-05-31 | 2009-05-05 | Test Research, Inc. | System and method for laminography inspection |
US8189742B2 (en) * | 2007-06-21 | 2012-05-29 | Koninklijke Philips Electronics Nv | Fast dose modulation using Z-deflection in a rotaring anode or rotaring frame tube |
JP5216506B2 (ja) * | 2008-09-29 | 2013-06-19 | 株式会社東芝 | 回転陽極型x線管装置 |
DE102009037688B4 (de) * | 2009-08-17 | 2011-06-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Steuerung eines Elektronenstrahls für die Erzeugung von Röntgenstrahlung sowie Röntgenröhre |
FR2974967A1 (fr) * | 2011-05-02 | 2012-11-09 | Gen Electric | Procede et dispositif pour la mise en oeuvre d'imagerie a double energie |
EP3648136A1 (en) | 2018-10-30 | 2020-05-06 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray tube for fast kilovolt-peak switching |
DE102020134487A1 (de) * | 2020-12-21 | 2022-06-23 | Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik | Röntgenquelle und Betriebsverfahren hierfür |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5318318B2 (ja) * | 1972-12-27 | 1978-06-14 | ||
JPS52104889A (en) * | 1976-02-28 | 1977-09-02 | Jeol Ltd | X-ray generating apparatus |
JPS5423492A (en) * | 1977-07-25 | 1979-02-22 | Jeol Ltd | X-ray generator |
DE3343130A1 (de) * | 1983-11-29 | 1985-07-04 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Roentgenroehre mit einer hilfskathode |
DE3401749A1 (de) * | 1984-01-19 | 1985-08-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikeinrichtung mit einer roentgenroehre |
EP0279317A1 (de) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendiagnostikeinrichtung |
US4926452A (en) * | 1987-10-30 | 1990-05-15 | Four Pi Systems Corporation | Automated laminography system for inspection of electronics |
US5241260A (en) * | 1989-12-07 | 1993-08-31 | Electromed International | High voltage power supply and regulator circuit for an X-ray tube with transient voltage protection |
US5199054A (en) * | 1990-08-30 | 1993-03-30 | Four Pi Systems Corporation | Method and apparatus for high resolution inspection of electronic items |
US5814821A (en) * | 1996-11-26 | 1998-09-29 | Northrop Grumman Corporation | Mobile irradiation device |
GB0005717D0 (en) * | 2000-03-09 | 2000-05-03 | Univ Cambridge Tech | Scanning electron microscope |
-
2002
- 2002-05-31 DE DE10224292A patent/DE10224292A1/de not_active Withdrawn
-
2003
- 2003-05-23 AT AT03725485T patent/ATE536733T1/de active
- 2003-05-23 JP JP2004510291A patent/JP4434943B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-05-23 EP EP03725485A patent/EP1514458B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-05-23 WO PCT/IB2003/001976 patent/WO2003103346A1/en active Application Filing
- 2003-05-23 AU AU2003228017A patent/AU2003228017A1/en not_active Abandoned
- 2003-05-23 US US10/515,732 patent/US7123688B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7123688B2 (en) | 2006-10-17 |
EP1514458B1 (en) | 2011-12-07 |
DE10224292A1 (de) | 2003-12-11 |
JP2005528773A (ja) | 2005-09-22 |
EP1514458A1 (en) | 2005-03-16 |
AU2003228017A1 (en) | 2003-12-19 |
ATE536733T1 (de) | 2011-12-15 |
US20050163281A1 (en) | 2005-07-28 |
WO2003103346A1 (en) | 2003-12-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060519 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090318 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091027 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091222 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |