JP4392404B2 - 仮想接地型不揮発性半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
Iread=Icell−Ileak
ΔV=Icell×Rt
2: 接地電圧印加回路
3: ビット線選択回路
4: 読み出し回路
5: ドレイン電圧印加回路
6: 電流電圧変換回路
7: センスアンプ
8: 負荷回路
CB1〜5: ドレイン電圧制御信号
CMN: 電流電圧変換回路の入力端
GBL1〜5: グローバルビット線(主ビット線)
Icell: 選択メモリセルを流れる読み出し電流
Iread: 電流電圧変換回路を流れる読み出し電流
LBL1〜5: ローカルビット線(ビット線)
MA: 選択メモリセル
MB、MC: メモリセル
MN: 電流電圧変換回路の出力端
PDN1〜5: 接地制御信号
SEL: ブロック選択信号線
Tbs1〜5: ブロック選択トランジスタ
VDB: ドレイン電圧供給線
Vd: 電源線
VCMN: 読み出しドレイン電圧
VREAD: 読み出し電圧
VREF: 参照電圧
WL1、 WL2: ワード線
YS1〜5: ビット線選択信号
Claims (5)
- MOSFET構造を有するメモリセルを行方向及び列方向にマトリクス状に複数配列し、同一行の前記メモリセルのゲートを行方向に延伸する共通のワード線に接続し、同一列の前記メモリセルのドレイン領域とソース領域を夫々列方向に延伸する2本のビット線に各別に接続し、行方向に隣接する2つの前記メモリセルの一方のドレイン領域またはソース領域と他方のドレイン領域またはソース領域を相互に接続して前記ビット線を共用する構成の仮想接地型のメモリセルアレイを備えてなる仮想接地型不揮発性半導体記憶装置であって、
読み出し動作時に、前記メモリセルの内の読み出し対象の選択メモリセルのソース領域に接続する前記ビット線である選択ソース線に接地電圧を印加する接地電圧印加回路と、
読み出し動作時に、前記選択メモリセルのドレイン領域に接続する前記ビット線である選択ビット線を介して前記選択メモリセルに読み出し電流を供給し、前記読み出し電流の大小に基づいて前記選択メモリセルの記憶データを検知する読み出し回路と、
読み出し動作時に、前記ビット線の中から前記選択ビット線を選択して前記読み出し回路に接続するビット線選択回路と、を備えてなり、
前記ビット線選択回路が、読み出し動作時に、前記選択ビット線以外に、前記ビット線の中から、前記選択ビット線に対して前記選択ソース線とは反対側に位置し、前記選択ビット線と隣接しない1以上の任意の前記ビット線からなる追加ビット線群を選択して前記読み出し回路に接続可能に構成され、
前記読み出し回路の入力端から前記選択ビット線及び前記追加ビット線群の各ビット線に至るまでの各電流経路が、前記ビット線選択回路より前記読み出し回路側で分岐しており、
前記ビット線選択回路が、読み出し動作時に、前記選択ビット線と前記追加ビット線群の間に位置し、前記選択ビット線に対して前記選択ソース線とは反対側に隣接する1以上の任意の前記ビット線である隣接ビット線を、所定のプリチャージ電圧まで充電後、フローティング状態にすることを特徴とする仮想接地型不揮発性半導体記憶装置。 - 前記隣接ビット線は、読み出し動作時に、前記選択ビット線の電圧と同電圧のプリチャージ電圧まで充電後、フローティング状態にされることを特徴とする請求項1に記載の仮想接地型不揮発性半導体記憶装置。
- 前記読み出し回路が、前記選択ビット線の電圧変動を抑制しながら、前記選択ビット線を介して前記選択メモリセルに流れる前記読み出し電流の変化を電圧変化に変換し読み出し電圧として出力する電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路から出力される前記読み出し電圧を増幅するセンスアンプと、を備えてなることを特徴とする請求項1又は2に記載の仮想接地型不揮発性半導体記憶装置。
- 前記メモリセルアレイが列方向に複数ブロックに分割され、
列方向に延伸する前記ビット線が前記ブロック単位で分断され、
前記ブロック内の前記各ビット線が、1対1に対応する主ビット線にブロック選択トランジスタを介して接続し、
前記選択メモリセルを含む前記ブロックが前記ブロック選択トランジスタにより選択され、
前記ビット線選択回路が、前記ビット線の中から前記選択ビット線と前記追加ビット線群を選択するに際し、前記選択ビット線と前記追加ビット線群の各ビット線に前記ブロック選択トランジスタを介して各別に接続する前記主ビットを選択することを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の仮想接地型不揮発性半導体記憶装置。 - 前記ブロック毎に、前記各ビット線に設けられた前記ブロック選択トランジスタの各ソース電極が前記各ビット線の両端の何れか一方側に各別に接続し、
奇数番目の前記ビット線と偶数番目の前記ビット線で、前記ブロック選択トランジスタの接続位置が異なり、
奇数番目の前記ビット線と接続する前記ブロック選択トランジスタと、偶数番目の前記ビット線と接続する前記ブロック選択トランジスタは、独立してオンオフ制御されることを特徴とする請求項4に記載の仮想接地型不揮発性半導体記憶装置。
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