JP4384426B2 - Flat panel display inspection apparatus and flat panel display inspection method - Google Patents
Flat panel display inspection apparatus and flat panel display inspection method Download PDFInfo
- Publication number
- JP4384426B2 JP4384426B2 JP2003043736A JP2003043736A JP4384426B2 JP 4384426 B2 JP4384426 B2 JP 4384426B2 JP 2003043736 A JP2003043736 A JP 2003043736A JP 2003043736 A JP2003043736 A JP 2003043736A JP 4384426 B2 JP4384426 B2 JP 4384426B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- line sensor
- display panel
- light receiving
- flat display
- line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、平面表示パネルの検査装置および平面表示パネルの検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、ブラウン管に代わる小型かつ軽量の表示装置として、液晶表示パネルやプラズマディスプレイなどの平面表示パネルを用いた平面表示装置(FPD)が注目されるに至っている。そして、このFPDの中心部を構成する平面表示パネルの品質を検査する装置として、CCDアレイセンサなどよりなるラインセンサを用いた検査装置が開発され、この種の検査装置に関する出願も多数行われるに至っている。
【0003】
一般的な平面表示パネルの検査装置は、複数の受光部を1直線上に配列してなる1ラインのラインセンサと、これら各受光部に平面表示パネルの像を結像させる光学系とを有している。そして、ラインセンサをその受光部の並ぶ方向に直角な方向にスキャンすることにより平面表示パネルの各部における表示欠陥の有無を光学的に検出するように構成されている。つまり、ラインセンサは走査方向に直角な方向に1列に並べられた複数の受光部を有しており、このラインセンサのスキャンによって平面表示パネルの全面の画像を取り込み、これによって欠陥検査を行っていた。
【0004】
ところで、前記平面表示パネルを用いたFPDは、一般的に各素子に対して行および列ごとに時分割的に実効値の異なる所定の波形の電圧を順次印加することにより表示内容を定めている。
【0005】
図3は前記平面液晶パネルの一つの素子に対する駆動信号とパネルの各素子における輝度の変化との関係を示す図である。そして、図3(A)は駆動信号、図3(B)は素子の輝度の変化を示している。つまり、各素子の表示内容は図3(A)に示すように、例えば60Hzの周波数で、時点t1 ,t3 ,t5 ,t7 ,t9 ,t11,t13から時点t2 ,t4 ,t6 ,t8 ,t10,t12,t14の間の短い時間に与えられた正負のパルス信号の波高値によって定められるものである。
【0006】
一方、各素子は図3(B)に示すように、与えられたパルス信号の高さ(波高値)に応じた明度を表示する。つまり、正常な素子は与えられたパルス信号を保持するようにして実線に示すような明度を表示することが可能である。しかしながら、欠陥のある素子はパルス信号を保持することができないなどの問題が生じ、例えば仮想線に示すように、表示内容に周期的な明滅変化が生じる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の平面表示パネルの検査装置では、上述の例のように測定対象素子の明るさが周期的に時間変化している場合において、前記ラインセンサがスキャン取り込み時間を測定対象素子の明滅周期(t1 〜t5 ,t5 〜t9 …)より早くすると、画像を取り込むタイミングによっては、取得する欠陥素子の出力値が変化することがあった。
【0008】
図3(C)は前記明滅周期(t1 〜t5 ,t5 〜t9 …)の半分の時間(t1〜t3 ,t3 〜t5 …)で、図3(B)の仮想線で示すような明度の変化をする素子を測定した場合の検出値を示す図である。図3(C)から分かるように、時間(t1 〜t3 )の間の測定値と、時間(t3 〜t5 )の間の測定値は大きく異なっており、取り込むタイミングによっては測定値に大きさ差が生じることが分かる。
【0009】
つまり、素子の欠陥によって周期的な明滅が生じていたとしても、その症状が現れていない期間(t1 〜t4 )に欠陥のある素子を測定した場合には、これを正常な素子と区別できないことになり、正確な欠陥検出を行うことができなかった。ゆえに、従来の平面表示パネルの検査装置では、再現性良く測定を行うためには点滅する平面表示パネルの素子(1画素点滅領域)の走査方向の長さを幅Lとすると、以下の式(1)に示すように、走査速度Vは明滅周期Tと幅Lによって決まってしまい、これより早く走査することができなかった。
V=L/T … 式(1)
【0010】
また、精度の高い測定を行うためには各素子から十分な光量を受光することが必要となるが、そのためには各部からの光をできるだけ長く受光する必要が生じ、この点からも前記走査速度Vには限界が生じていた。
【0011】
本発明は、上述の事柄を考慮に入れてなされたものであって、その目的は、平面液晶パネルなどのように周期的に明滅している表示パネルの表示欠陥を、その明滅の影響をうけることなく、高速かつ高感度に検査できる平面表示パネルの検査装置および平面表示パネルの検査方法を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、第1発明の平面表示パネルの検査装置は、複数の受光部を1直線上に配列してなるラインセンサと、各受光部に平面表示パネルの像を結像させる光学系とを有するラインセンサユニットを、平面表示パネルに対して前記受光部が1直線上に配列された方向に直角な方向に走査させることで、平面表示パネルにおける表示欠陥の有無を光学的に検出する平面表示パネルの検査装置であって、前記ラインセンサユニットの複数を走査方向に並べて固定することで、ラインセンサが、前記走査方向に並ぶ複数の直線上にそれぞれ配列されて2次元方向に並べられた複数の受光部を有し、これら2次元方向に並べられたラインセンサの各受光部が前記ラインセンサユニットの走査に伴い平面表示パネル上の同じ部分からの光をそれぞれ複数回繰り返し測定するように構成され、かつ、前記ラインセンサの各受光部が平面表示パネル上の同じ部分から測定した光の測定値を、走査速度に合わせてそれぞれ走査方向下流側に隣接する受光部側に転送してこの下流側の受光部による測定値と順次累積し、その累積値をラインセンサの出力とし、このラインセンサの出力値のレベルを監視して平面表示パネルの各部分における表示欠陥の有無を判断する演算処理装置が設けられていることを特徴としている。(請求項1)
【0013】
したがって、本発明の平面表示パネルの検査装置を用いることにより、平面パネル上の同じ部分からの光を、走査方向に並べたラインセンサの受光部の数だけ繰り返し受光して測定し、それら測定値の累算値を求めることができる。つまり、正確な検査を行うためには、平面パネル上の同じ部分からの光を、その明滅周期またはこれよりも長い所定時間の間連続して受光させる必要があるが、本発明を用いることにより、走査方向に一列に並べられたラインセンサに比べて、走査方向に並べられた複数の受光部の数だけ高速に走査させることができる。
【0014】
また、前記走査方向に並べられた受光部の数だけ平面表示パネルの同じ部分からの光を何度も受光できるので、測定感度が高くなる。つまり、再現性が良くなり、より安定した検査を行うことができる。
【0015】
本発明の平面表示パネルの検査方法は、複数の受光部を1直線上に配列してなるラインセンサと、各受光部に平面表示パネルの像を結像させる光学系とを有するラインセンサユニットを、平面表示パネルに対して前記受光部が1直線上に配列された方向に直角な方向に走査させることで、平面表示パネルにおける表示欠陥の有無を光学的に検出する平面表示パネルの検査方法であって、前記ラインセンサユニットの複数を走査方向に並べて固定することで、走査方向に等間隔に並ぶ複数の直線上にそれぞれ配列されて2次元方向に並べられた複数の受光部を有するラインセンサを用いて、このラインセンサの走査速度に合わせた定期的な読み込みタイミングで各受光部による測定値を読み込むと共に、ある読み込みタイミングにおいて1つの直線上に配列された複数の受光部によって平面表示パネルからの光を測定して得られた測定値を、次の読み込みタイミングにおいて走査方向下流側の隣接する直線上に配列された別の受光部側に転送してこの下流側の別の受光部によって平面表示パネル上の同じ部分から測定した光の測定値に順次累積し、ラインセンサの走査に伴って2次元方向に並べられた複数の受光部が複数回繰り返し測定した平面表示パネル上の同じ部分からの光の測定値を順次累積したそれら累積値をラインセンサの出力値とし、このラインセンサの出力値のレベルを監視することによって、平面表示パネルの各部分における表示欠陥の有無を判断する検査を行なうことを特徴としている。(請求項2)
【0016】
言い換えるなら、集光レンズを通して2次元の光センサアレイに平面表示パネルの表面の像を結像するように構成した検査光学系を複数並べ、これらをこの並びに垂直な方向、かつ、センサの各素子の並び方向縦横のいずれかの方向(通常短辺方向)に一定速度で移動しつつ、平面表示パネルの全面を測定する検査装置であって、センサの1素子とサンプル上で光学的に共役な領域分だけ移動する毎に各センサの1ラインで蓄えられた信号を次の測定進行方向後ろ側に相当する側へ送り、送られた側は送られてきた信号を合わせて、次のタイミングまで信号を蓄積し、最終ラインでセンサライン数分蓄積された信号を出力し、これを元に欠陥検出を行なうことを特徴とするものである。したがって、平面表示パネルの1点に対する信号蓄積時間を長くして検査精度を高くしながら、測定の走査速度、つまり、所定の検査を高速に行なうことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の平面表示パネルの検査装置1の第1実施例を示す図である。図1において、2は測定対象の平面表示パネルの一例としての液晶パネル、3は液晶パネル2をセットする載置台、4はこの載置台3の裏面側から液晶パネル2に均一な光を平面的に照射する光源、5は載置台3に対して液晶パネル2の表示面と平行する方向Yに摺動自在に形成されたスライド機構、6はこのスライド機構5に設置されたラインセンサ、7は各部を制御する演算処理装置である。
【0018】
液晶パネル2は一般的にその周囲に表示内容を示す電気信号を授受するためのコネクタ部2aを有しており、前記載置台3は前記液晶パネル2のコネクタ部2aに対して電気的に接触するためのコネクタ部3a(プローバ)を有している。
【0019】
一方、スライド機構5は、例えば複数のラインセンサユニット6A,6B,…を並べて固定することで、1直線上(1列)に並べられたラインセンサ6を保持するブラケット5aと、このブラケット5aを液晶パネル2から所定の距離だけ離して固定するための保持部材5bと、この保持部材5bを両矢印Yに示す走査方向に移動させることでラインセンサ6を液晶表示面2bに対して走査するためのモータ5cとを有している。
【0020】
前記各ラインセンサユニット6A,6B,…は、ラインセンサ6の受光部であるセンサ本体6aと、液晶表示面2bをラインセンサユニットの各受光部に結像させるための光学系としての集光レンズ6bとを有しており、全てのラインセンサユニット6A,6B,…がまとめて1列のラインセンサ6を形成する。
【0021】
また、前記ラインセンサ6は、例えば、走査方向Yに並べられた複数の直線上にそれぞれ配列することで2次元方向に並べられた複数の受光部を有し、かつ、各受光部によって測定した光の測定値を、走査速度に合わせて走査方向下流側に隣接する受光部側に転送してこの下流側の受光部による測定値と順次累積する機能を有するものである。
【0022】
演算処理装置7は、例えばパソコンであり、前記各部3〜6を適宜制御して、液晶パネル2の検査プログラムPを実行する演算処理部7aと、記憶部7bとを有する。
【0023】
図2は本発明の平面表示パネル2の画素10と、ラインセンサ6の各受光部による測定エリア11の関係を示す図である。なお、図2では、測定エリア11…は辺の長さdの正方形である例を示し、また、説明を容易とするように、この測定エリア11…はこれに対応するラインセンサ6の受光部を示すものとして受光部11…としても説明する。図2において、Lは一つの画素10の走査方向の幅、l1 〜lN は複数の受光部11を直線的に配列するライン、Yはラインセンサ6の走査方向を示している。
【0024】
前記ラインセンサ6は矢印Y方向に走査すると同時に、各受光部11…によって測定した光の測定値を、走査速度に合わせて走査方向下流側(図2の上側)に隣接する受光部側に転送してこの下流側の受光部による測定値と順次累積する機能を有するものである。
【0025】
すなわち、例えばラインセンサ6が1ラインを取り込む取込時間をtとし、ラインセンサ6をd/tの速度で走査させると、n番目のラインln が点滅画素10からの光を取り込み始めて、1ライン分のデータを取り込み終えるのはt秒後であるため、ラインセンサ6は取込開始から距離dだけ図2の下方に進んだ位置に移動していることになる。
【0026】
このとき、次のn+1番目のラインln+1 (走査方向下流側に隣接するライン)はt秒前にn番目のラインln があった位置に移動しているので、このタイミングで点滅画素10からの光を取り込み始めると、n+1番目のラインln+1 はt秒前にn番目のラインln 上の受光部11が受光したのと全く同じ部分からの光を再び取り込むことができる。これをラインl1 〜lN の数Nだけ繰り返す。
【0027】
一方、ラインセンサ6は各ラインl1 〜ln においてそれぞれ電荷に変換して1ライン分取り込んだ光量データを、それぞれ例えばCCD素子によって走査方向下流側(図2の上側)に隣接する受光部側に電荷移動させて、下流側に隣接するラインに位置する各受光部11によって取り込まれる光量データを順次累積する。このようにして順次累算した光量データは、最後のラインlN において受光部11が受光した光量データと加算してラインセンサ6の出力とする。
【0028】
本発明のようにN個のラインl1 〜lN で順番にt秒の定期的な遅延をかけて、それぞれのラインl1 〜lN が同一の画像を取り込み、それを次々と積算することができるラインセンサ6を用いると、実質的に画素点灯領域Lを測定している時間は、1ライン目l1 の受光部が点滅画素(明滅している領域)10を取り込み始め、最終ラインlN のセンサが明滅領域10を読み終わるまでの時間である。
【0029】
すなわち、前記検査装置1は平面表示パネル2上の同じ部分からの光をそれぞれN回測定し、それらN回の測定値の累積値を求めることになるから、ラインセンサ6による総取り込み時間Ttotal は以下の式(2)に示すようにN倍となる。
Ttotal =t×N … 式(2)
【0030】
また、センサラインl1 〜lN の数がNのラインセンサを用いるので、周期的に時間変化する欠陥を安定して取り込める最大スピードVmax は明滅周期をT秒として以下の式(3)に示すようになる。
Vmax =(d/T)×N+(L−d)/T … 式(3)
【0031】
つまり、Nラインのセンサラインl1 〜lN を有するラインセンサを用いることで、従来の1ラインのラインセンサを用いた場合に比べて、はるかに高速に走査することができると共に、同じ速度でセンサを走査した場合の検出感度はN倍となり、測定感度を大幅に向上することができる。ゆえに、光源4として用いる光の強度が1/N程度であっても、十分に安定した平面表示パネル2の各部分の検査が可能となる。
【0032】
本発明の平面表示パネルの検査装置1を用いることにより、図3(B)に示すような周期的な明滅変化をする素子を検出した場合、時間t1 〜t5 ,t5 〜t9 …の間の光の検出値を累積したラインセンサ6の出力値によって判断できる。すなわち、図3(B)の実線に示すような健全な素子を検出した場合には、符号LOKに示すレベルの出力値を得ることができ、仮想線に示すような周期的な明滅変化をする素子を検出した場合には、符号LNGに示すレベルの出力値を得ることができる。
【0033】
したがって、演算処理部7はラインセンサ6の出力値のレベルLOK,LNGを監視することにより、検出した素子が健全な素子であるか欠陥のある素子であるかを判断することができる。
【0034】
また、本例では、Nラインのセンサラインl1 〜lN にそれぞれ配列されることで2次元方向に並べられた複数の受光部11…を有し、かつ、各受光部11…によって測定した光の測定値を、走査速度に合わせて走査方向下流側に隣接する受光部側に転送してこの下流側の受光部による測定値と順次累積する機能を有するラインセンサ6を用いているので、演算処理部7は測定値を累積するための演算を全く行なう必要がなく、より高速な演算処理を行うように構成している。
【0035】
そして、ラインセンサ6などのイメージセンサでは一般的にCCDを用いた電荷の移動による測定値の出力を簡素化された回路を用いて行っているので、積算処理に複雑な回路を必要としておらず、回路構成の簡略化を図ることができる。しかしながら、本発明はこのラインセンサ6の構成に限定されるものではない。
【0036】
すなわち、等間隔に並べられたセンサラインl1 〜lN を有するものであれば、2次元方向に並べられた複数の受光部11…によって測定した光の測定値の全てをラインセンサ6(場合によってはエリアセンサ)から読み出して、ラインセンサ6の外部において累積演算を行うことも可能である。この場合、累積演算を行なう回路は複雑になるもののCCDによる電荷転送に比べて正確な累積演算を行なうことができ、それだけ検査精度を向上することができる。
【0037】
【発明の効果】
本発明では、平面表示パネルの品位を検査するにあたり、周期的に明るさが変動する測定対象を高精度に、安定した出力で高速に検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の平面表示パネルの検査装置の全体的な構成を示す図である。
【図2】 本発明の平面表示パネルの検査方法を説明する図である。
【図3】 液晶表示パネルの特性とラインセンサの出力との関係を説明する図である。
【符号の説明】
1…平面表示パネルの検査装置、2…平面表示パネル、6…ラインセンサ、6A,6B…ラインセンサユニット、6a…受光部(センサ本体)、6b…光学系(集光レンズ)、7…演算処理部、11…測定エリア、l1 〜lN …センサライン、Y…走査方向。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a flat display panel inspection apparatus and a flat display panel inspection method.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In recent years, flat display devices (FPD) using flat display panels such as liquid crystal display panels and plasma displays have attracted attention as small and lightweight display devices that replace CRTs. As an apparatus for inspecting the quality of the flat display panel constituting the central portion of the FPD, an inspection apparatus using a line sensor such as a CCD array sensor has been developed, and many applications relating to this type of inspection apparatus have been filed. Has reached.
[0003]
Inspecting apparatus of the general flat display panel, organic and 1 line line sensor composed by arranging a plurality of light receiving portions on a straight line, and an optical system for forming an image of the flat display panel on the respective light receiving portions is doing. The line sensor is configured to optically detect the presence or absence of display defects in each part of the flat display panel by scanning in a direction perpendicular to the direction in which the light receiving parts are arranged. That is, the line sensor has a plurality of light receiving portions arranged in a line in a direction perpendicular to the scanning direction, and the line sensor scan captures an image of the entire surface of the flat display panel, thereby performing defect inspection. It was.
[0004]
By the way, the FPD using the flat display panel generally defines display contents by sequentially applying voltages having predetermined waveforms having different effective values in a time-division manner to each element in each row and column. .
[0005]
FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a driving signal for one element of the flat liquid crystal panel and a change in luminance in each element of the panel. 3A shows a drive signal, and FIG. 3B shows a change in luminance of the element. That is, as shown in FIG. 3A, the display content of each element is, for example, at a frequency of 60 Hz, and from time t 1 , t 3 , t 5 , t 7 , t 9 , t 11 , t 13 to time t 2 , It is determined by the peak value of the positive and negative pulse signals given in a short time between t 4 , t 6 , t 8 , t 10 , t 12 , and t 14 .
[0006]
On the other hand, as shown in FIG. 3B, each element displays the lightness corresponding to the height (crest value) of a given pulse signal. That is, the normal element can display the lightness as shown by the solid line so as to hold the given pulse signal. However, there is a problem that a defective element cannot hold a pulse signal. For example, as indicated by a virtual line, a periodic blinking change occurs in display content.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional flat display panel inspection apparatus, when the brightness of the measurement target element periodically changes as in the above example, the line sensor determines the scan capture time as the blink period of the measurement target element . If it is earlier than (t 1 to t 5 , t 5 to t 9 ...), The output value of the defective element to be acquired may change depending on the timing of capturing the image.
[0008]
FIG. 3C shows a half time (t 1 to t 3 , t 3 to t 5 ...) Of the blinking cycle (t 1 to t 5 , t 5 to t 9 . It is a figure which shows the detected value at the time of measuring the element which changes the brightness as shown by a line. As can be seen from FIG. 3C, the measured value during the time (t 1 to t 3 ) and the measured value during the time (t 3 to t 5 ) are greatly different, and the measured value is dependent on the timing of capture. It can be seen that there is a difference in size.
[0009]
That is, even if periodic flickering occurs due to a defect in an element, when a defective element is measured in a period (t 1 to t 4 ) in which the symptom does not appear, this is distinguished from a normal element. As a result, accurate defect detection could not be performed. Therefore, in the conventional flat display panel inspection apparatus, in order to perform measurement with high reproducibility, when the length in the scanning direction of the flashing flat display panel element (one pixel blinking region) is defined as the width L, the following equation ( As shown in 1), the scanning speed V is determined by the blinking period T and the width L, and scanning cannot be performed faster than this.
V = L / T Expression (1)
[0010]
In addition, in order to perform highly accurate measurement, it is necessary to receive a sufficient amount of light from each element. For this purpose, it is necessary to receive light from each part as long as possible. V had a limit.
[0011]
The present invention has been made in consideration of the above-described matters, and its object is to affect display defects of a display panel that periodically flickers, such as a flat liquid crystal panel , by the blinking. An object of the present invention is to provide a flat display panel inspection apparatus and a flat display panel inspection method capable of high-speed and high-sensitivity inspection.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
To achieve the above object, a flat display panel inspection apparatus according to a first aspect of the present invention is a line sensor in which a plurality of light receiving portions are arranged on one straight line, and an optical for forming an image of the flat display panel on each light receiving portion. The line sensor unit having a system is optically detected for the presence or absence of display defects in the flat display panel by scanning the flat display panel in a direction perpendicular to the direction in which the light receiving portions are arranged on a straight line. A flat panel display inspection apparatus, wherein a plurality of the line sensor units are arranged and fixed in a scanning direction so that the line sensors are respectively arranged on a plurality of straight lines arranged in the scanning direction and arranged in a two-dimensional direction. The light receiving units of the line sensors arranged in the two-dimensional direction have light from the same part on the flat display panel as the line sensor unit scans. Each of the light receiving units of the line sensor is adjacent to the downstream side in the scanning direction in accordance with the scanning speed according to the scanning speed. The data is transferred to the light receiving unit and sequentially accumulated with the measured values from the downstream light receiving unit. The accumulated value is used as the output of the line sensor, and the level of the output value of the line sensor is monitored to monitor each part of the flat display panel. An arithmetic processing device for determining the presence or absence of a display defect is provided. (Claim 1)
[0013]
Therefore, by using the flat panel display inspection apparatus of the present invention, the light from the same portion on the flat panel is repeatedly received and measured by the number of light receiving portions of the line sensor arranged in the scanning direction, and these measured values are measured. Can be obtained. In other words, in order to perform an accurate inspection, it is necessary to continuously receive light from the same portion on the flat panel for a predetermined period longer than the blinking period, but by using the present invention. Compared with the line sensors arranged in a line in the scanning direction, scanning can be performed at a higher speed by the number of the plurality of light receiving units arranged in the scanning direction.
[0014]
Further, since the light from the same part of the flat display panel can be received many times by the number of light receiving parts arranged in the scanning direction , the measurement sensitivity is increased. That is, reproducibility is improved and more stable inspection can be performed.
[0015]
The flat display panel inspection method of the present invention includes a line sensor unit having a line sensor having a plurality of light receiving portions arranged on a straight line, and an optical system for forming an image of the flat display panel on each light receiving portion. The flat display panel inspection method optically detects the presence or absence of display defects in the flat display panel by scanning the flat panel display in a direction perpendicular to the direction in which the light receiving units are arranged on one straight line. A line sensor having a plurality of light receiving units arranged in a two-dimensional direction by being arranged on a plurality of straight lines arranged at equal intervals in the scanning direction by arranging and fixing a plurality of the line sensor units in the scanning direction. using, together with the value measured by the light receiving portions in a regular read timing matching the scanning speed of the line sensors, one in one read timing The measurements obtained by measures the light of the flat display panel or found by the plurality of light receiving portions arranged in a line, another arranged in the scanning direction downstream side of the adjacent straight line at the next read timing A plurality of light beams that are transferred to the light receiving unit and accumulated sequentially in the light measurement values measured from the same portion on the flat display panel by another light receiving unit on the downstream side, and arranged in a two-dimensional direction as the line sensor scans. By continuously accumulating the measured values of light from the same part on the flat display panel repeatedly measured by the light receiving unit, the output value of the line sensor is used, and the level of the output value of this line sensor is monitored. The present invention is characterized in that an inspection for determining the presence or absence of display defects in each portion of the flat display panel is performed. (Claim 2)
[0016]
In other words, a plurality of inspection optical systems configured to form an image of the surface of the flat display panel on a two-dimensional photosensor array through a condenser lens are arranged, and these are arranged in the vertical direction and each element of the sensor. An inspection apparatus that measures the entire surface of a flat display panel while moving at a constant speed in either the vertical or horizontal direction (usually the direction of the short side), and is optically conjugate with one sensor element and the sample. Each time it moves by the area, the signal stored in one line of each sensor is sent to the side corresponding to the rear side in the next measurement progress direction, and the sent side adds the sent signals to the next timing. A signal is accumulated, a signal accumulated for the number of sensor lines in the final line is output, and defect detection is performed based on this signal. Accordingly, the scanning speed of measurement , that is, a predetermined inspection can be performed at a high speed while increasing the inspection accuracy by increasing the signal accumulation time for one point of the flat display panel .
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of a flat display
[0018]
The
[0019]
On the other hand, the slide mechanism 5 includes, for example, a plurality of
[0020]
Each of the
[0021]
The
[0022]
The
[0023]
FIG. 2 is a diagram showing the relationship between the
[0024]
The
[0025]
That is, for example, when the
[0026]
At this time, since the next n + 1th line l n + 1 (line adjacent to the downstream side in the scanning direction) has moved to the position where the nth line l n was present t seconds ago, the blinking pixel at this timing When the light from 10 is started to be captured, the (n + 1) th line l n + 1 can recapture light from exactly the same part as the
[0027]
On the other hand, the
[0028]
As in the present invention, a periodic delay of t seconds is sequentially applied to N lines l 1 to l N so that each line l 1 to l N captures the same image and integrates them one after another. When the
[0029]
That is, since the
Ttotal = t × N Equation (2)
[0030]
In addition, since a line sensor having N sensor lines l 1 to l N is used, the maximum speed Vmax at which a defect that periodically changes in time can be stably taken in is expressed by the following formula (3) with a blinking period of T seconds. It becomes like this.
Vmax = (d / T) × N + (L−d) / T (3)
[0031]
In other words, by using a line sensor having N sensor lines l 1 to l N , it is possible to scan much faster than when using a conventional one line sensor, and at the same speed. When the sensor is scanned, the detection sensitivity is N times, and the measurement sensitivity can be greatly improved. Therefore, even if the intensity of light used as the light source 4 is about 1 / N, it is possible to inspect each part of the
[0032]
By using the
[0033]
Therefore, the
[0034]
Further, in this embodiment, it has a plurality of light receiving
[0035]
In the image sensor such as the
[0036]
That is, if the sensor lines l 1 to l N are arranged at equal intervals, all the measured values of the light measured by the plurality of light receiving
[0037]
【The invention's effect】
In the present invention, when inspecting the quality of a flat display panel, it is possible to inspect a measurement object whose brightness periodically changes with high accuracy and high speed at high speed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a flat display panel inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram for explaining an inspection method for a flat display panel according to the present invention.
FIG. 3 is a diagram for explaining a relationship between characteristics of a liquid crystal display panel and output of a line sensor.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記ラインセンサユニットの複数を走査方向に並べて固定することで、ラインセンサが、前記走査方向に並ぶ複数の直線上にそれぞれ配列されて2次元方向に並べられた複数の受光部を有し、これら2次元方向に並べられたラインセンサの各受光部が前記ラインセンサユニットの走査に伴い平面表示パネル上の同じ部分からの光をそれぞれ複数回繰り返し測定するように構成され、かつ、
前記ラインセンサの各受光部が平面表示パネル上の同じ部分から測定した光の測定値を、走査速度に合わせてそれぞれ走査方向下流側に隣接する受光部側に転送してこの下流側の受光部による測定値と順次累積し、その累積値をラインセンサの出力とし、
このラインセンサの出力値のレベルを監視して平面表示パネルの各部分における表示欠陥の有無を判断する演算処理装置が設けられていることを特徴とする平面表示パネルの検査装置。A line sensor unit having a line sensor formed by arranging a plurality of light receiving parts on a straight line and an optical system for forming an image of the flat display panel on each light receiving part. An inspection apparatus for a flat display panel that optically detects the presence or absence of display defects in the flat display panel by scanning in a direction perpendicular to the direction arranged on one straight line,
By arranging and fixing a plurality of the line sensor units in the scanning direction, the line sensor has a plurality of light receiving units arranged in a two-dimensional direction respectively arranged on a plurality of straight lines arranged in the scanning direction. Each light receiving portion of the line sensor arranged in a two-dimensional direction is configured to repeatedly measure light from the same portion on the flat display panel several times as the line sensor unit scans, and
Each downstream light receiving portion of the line sensor measures the light measurement value measured from the same part on the flat display panel to the light receiving portion adjacent to the downstream side in the scanning direction in accordance with the scanning speed, and this downstream light receiving portion. The measured value is accumulated in order, and the accumulated value is used as the output of the line sensor.
An inspection apparatus for a flat display panel, characterized in that an arithmetic processing unit is provided for monitoring the level of the output value of the line sensor and determining the presence or absence of display defects in each part of the flat display panel.
前記ラインセンサユニットの複数を走査方向に並べて固定することで、走査方向に等間隔に並ぶ複数の直線上にそれぞれ配列されて2次元方向に並べられた複数の受光部を有するラインセンサを用いて、このラインセンサの走査速度に合わせた定期的な読み込みタイミングで各受光部による測定値を読み込むと共に、ある読み込みタイミングにおいて1つの直線上に配列された複数の受光部によって平面表示パネルからの光を測定して得られた測定値を、
次の読み込みタイミングにおいて走査方向下流側の隣接する直線上に配列された別の受光部側に転送してこの下流側の別の受光部によって平面表示パネル上の同じ部分から測定した光の測定値に順次累積し、ラインセンサの走査に伴って2次元方向に並べられた複数の受光部が複数回繰り返し測定した平面表示パネル上の同じ部分からの光の測定値を順次累積したそれら累積値をラインセンサの出力値とし、
このラインセンサの出力値のレベルを監視することによって、平面表示パネルの各部分における表示欠陥の有無を判断する検査を行なうことを特徴とする平面表示パネルの検査方法。A line sensor unit having a line sensor formed by arranging a plurality of light receiving parts on a straight line and an optical system for forming an image of the flat display panel on each light receiving part. A flat display panel inspection method for optically detecting the presence or absence of display defects in a flat display panel by scanning in a direction perpendicular to the direction arranged on one straight line,
By arranging and fixing a plurality of the line sensor units in the scanning direction, using a line sensor having a plurality of light receiving sections arranged in a two-dimensional direction, respectively arranged on a plurality of straight lines arranged at equal intervals in the scanning direction. , together with the value measured by the light receiving portions in a regular read timing matching the scanning speed of the line sensor, the flat display panel or found by the plurality of light receiving portions arranged in one straight line in one read timing the measurements obtained by measure light,
Measurement value of light measured from the same part on the flat display panel by another downstream light receiving unit that is transferred to the adjacent straight line on the downstream side in the scanning direction at the next reading timing The accumulated values obtained by sequentially accumulating the measured values of the light from the same portion on the flat display panel, which are repeatedly measured a plurality of times by a plurality of light receiving units arranged in a two-dimensional direction along with the scanning of the line sensor. As the output value of the line sensor,
An inspection method for a flat display panel, wherein an inspection for determining the presence or absence of display defects in each portion of the flat display panel is performed by monitoring the level of the output value of the line sensor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003043736A JP4384426B2 (en) | 2003-02-21 | 2003-02-21 | Flat panel display inspection apparatus and flat panel display inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003043736A JP4384426B2 (en) | 2003-02-21 | 2003-02-21 | Flat panel display inspection apparatus and flat panel display inspection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004252260A JP2004252260A (en) | 2004-09-09 |
JP4384426B2 true JP4384426B2 (en) | 2009-12-16 |
Family
ID=33026655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003043736A Expired - Lifetime JP4384426B2 (en) | 2003-02-21 | 2003-02-21 | Flat panel display inspection apparatus and flat panel display inspection method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4384426B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019053162A (en) * | 2017-09-14 | 2019-04-04 | 日本電産サンキョー株式会社 | Inspection device |
US11714397B2 (en) | 2019-02-05 | 2023-08-01 | Samsung Display Co., Ltd. | System and method for generating machine learning model with trace data |
CN110455828A (en) * | 2019-09-02 | 2019-11-15 | 蚌埠中光电科技有限公司 | A kind of large scale TFT substrate glass nondestructive micro-waviness detection method |
-
2003
- 2003-02-21 JP JP2003043736A patent/JP4384426B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004252260A (en) | 2004-09-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI597981B (en) | Method and apparatus for high speed acquisition of moving images using pulsed illumination | |
JP5597055B2 (en) | Control apparatus and control method | |
TWI321218B (en) | Device, system and method for measuring response time | |
JP2010008392A (en) | Wafer defect inspection apparatus | |
US20150177061A1 (en) | Methods and Systems for In Situ Calibration of Imaging in Biological Analysis | |
WO2010021214A1 (en) | Pattern defect inspecting apparatus and method | |
US20020037099A1 (en) | Pattern inspection apparatus and pattern inspection method | |
JP4680640B2 (en) | Image input apparatus and image input method | |
JP4384426B2 (en) | Flat panel display inspection apparatus and flat panel display inspection method | |
JP5702634B2 (en) | Camera resolution automatic measurement method, automatic adjustment method, and image inspection method and apparatus | |
JP4383071B2 (en) | Wafer storage cassette inspection apparatus and method | |
CN102654465B (en) | Optical measuring device and optical measuring method | |
JP2001004339A (en) | Illumination non-uniformity measuring method for picture recognition inspecting system and picture recognition inspecting method | |
JPH0238956A (en) | Surface flaw inspection device | |
JPH0629705B2 (en) | Plate inspection method | |
JP2683248B2 (en) | Inspection method of colored periodic pattern | |
JP2004045052A (en) | Apparatus and method for inspecting image data | |
JP2010127787A (en) | Generation method of standard image | |
JP2004132801A (en) | Surface defect inspection device for band like body | |
JPH0731131B2 (en) | Method for spotting periodic pattern | |
JP2004132800A (en) | Surface defect inspection device for band like body | |
JP2010281666A (en) | Imaging inspection method | |
JP2003106936A (en) | Sensor head, luminance distribution measuring device provided with the same, appearance inspection device, and device for inspecting and evaluating display unevenness | |
JP2001201445A (en) | Displacement measuring apparatus | |
JPH09501036A (en) | Method and apparatus for detecting movement of parts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060120 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080916 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081114 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20081208 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20081209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090317 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090424 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090901 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090925 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121002 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |