JP4358713B2 - 固体素子デバイス - Google Patents

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Description

本発明は、固体素子をガラス材料で封止した固体素子デバイスに関し、特に、耐湿性に優れ、失透を生じにくくした固体素子デバイスに関する。
従来、発光ダイオード等の固体素子をエポキシ樹脂等の透光性樹脂材料で封止した固体素子デバイスがある。このような固体素子デバイスにおいて、透光性樹脂が光によって劣化を生じることが知られている。特に、短波長光を放出するIII族窒化物系化合物半導体発光素子を用いる場合には、当該素子から放出される高エネルギーの光と素子自体の発熱によって素子近傍の透光性樹脂が黄変し、そのことにより光取り出し効率が無視できないほどに低下することがある。
このような封止部材の劣化を防止するものとして、封止部材に低融点ガラスを用いた発光デバイスが提案されている(例えば、特許文献1,2参照。)。
特許文献1に記載された発光デバイスは、LED素子、ワイヤボンディング部、およびリード部の上端の周囲を低融点ガラスからなる透明の封止体で覆って構成されている。低融点ガラスには、例えば、セレン、タリウム、ヒ素、硫黄等を加えて融点を摂氏130〜350度としたものが使用される。この場合、好ましくは、融点が摂氏200度以下(より好ましくは150度以下)の低融点ガラスが使用される。
特許文献1に記載される発光デバイスによれば、エポキシ系樹脂等の透光性樹脂材料の紫外線に対する悪特性あるいは弱特性に起因して、時間経過とともにその封止体が光劣化するといった不具合を回避できる。
また、特許文献2に記載された発光デバイスは、LED発光素子を覆う封止体として、GaN系LED発光素子の屈折率2.3程度に近い屈折率2程度の低融点ガラスを用いている。
特許文献2に記載された発光デバイスによれば、GaN系LED発光素子の屈折率に近い低融点ガラスでLED発光素子を封止することによって、LED発光素子と低融点ガラスとの界面で全反射される光が少なくなり、LED発光素子から外部放射されて低融点ガラスに入射する光の量が多くなる。その結果、発光効率は、LED発光素子をエポキシ樹脂で封止している従来のものよりも高くなる。
特開平8−102553号公報 特開平11−177129号公報
しかし、従来の低融点ガラスを封止部材に用いた固体素子デバイスによると、低融点ガラスとはいえ高温加工を行う必要があり、かつガラスが硬質材料であるため、樹脂封止加工の延長ではデバイスを具現化することができないという問題があった。
従って、本発明の目的は、無機材料封止加工を具現化するための課題を抽出、解決し、ガラス封止を行うことで期待できる効果を実際に得ることができ、さらに耐湿性に優れ、ガラス封止時における失透、特性評価時における白濁を生じにくくした固体素子デバイスを提供することにある。
本発明は、上記目的を達成するため、固体素子と、前記固体素子に対して電力の受供給を行うセラミック基板と、前記固体素子を封止し、Pを45〜50wt%、ZnOを15〜35wt%含有するP−ZnO系からなりガラス転位温度が350〜400℃の低融点ガラスによって設けられるガラス封止部とを有し、前記低融点ガラスは、P :45〜50wt%、Li O:3〜6wt%、MgO:0〜3.5wt%、CaO:0〜10wt%、SrO:0〜15wt%、BaO:0〜30wt%、ZnO:15〜35wt%、ZrO :0〜1wt%、Nb :0〜1.5wt%、およびAl :0〜5wt%の範囲からなり、RO(R:Mg、Ca、Sr、Ba、Zn)の合計が38〜49wt%であり、前記セラミック基板と前記ガラス封止部につき、熱膨張率が高い方の部材に対する低い方の部材の熱膨張率の比が0.85以上であることを特徴とする固体素子デバイスを提供する。
本発明の固体素子デバイスによると、無機材料封止加工を具現化するための課題を抽出、解決し、ガラス封止を行うことで期待できる効果を実際に得ることができ、さらに耐湿性に優れ、ガラス封止時における失透、特性評価時における白濁を生じないようにすることができる。
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る固体素子デバイスとしての発光装置を示し、同図中、(a)は発光装置の縦断面図、(b)は光源であるGaN系LED素子の側面図である。
この発光装置1は、図1(a)に示すようにフリップチップ型のGaN系LED素子2と、GaN系LED素子2を搭載する無機材料基板としてのガラス含有Al基板3と、タングステン(W)−ニッケル(Ni)−金(Au)で構成されてガラス含有Al基板3に形成される回路パターン4と、GaN系LED素子2と回路パターン4とを電気的に接続するAuスタッドバンプ5と、GaN系LED素子2を封止するとともにガラス含有Al基板3と接着されるP−ZnO−LiO系の透明な無機封止部であるガラス封止部6とを有する。本実施の形態において、ガラス含有Al基板3および回路パターン4は、電力受供給部を形成している。
GaN系LED素子2は、図1(b)に示すように、サファイア(Al)からなる基板20の表面に、バッファ層21と、n型層22と、発光する層を含む層23と、p型層24とを順次結晶成長させることによって形成されている。更に、GaN系LED素子2は、p型層24の表面に設けられるp電極25と、p型層24からn型層22の一部にかけてエッチングすることにより除去して露出したn型層22に形成されるn電極26とを有する。このGaN系LED素子2は、700℃以上でエピタキシャル成長され、その耐熱温度は600℃以上であり、後述する低融点ガラスを用いた封止加工における加工温度に対して安定である。
また、p電極25は、発光する層を含む層23から発せられる光を基板20の方向に反射する光反射層として機能する。本実施の形態において、p電極25のサイズは0.34mm×0.34mm×厚さ0.09mmである。
ガラス含有Al基板3は、熱膨張率が12.3×10−6/℃であり、複数のビアホール3Aを有する。このビアホール3Aは、基板の表面および裏面にメタライズされた回路パターン4を導通させている。回路パターン4は、GaN系LED素子2をマウントする側に設けられる第1の導電パターンと、その裏面側に設けられる第2の導電パターンと、その両側を電気的に接続するW(タングステン)からなる第3の導電パターンとを有する。
ガラス封止部6は、P−ZnO−LiO系の低融点ガラス(ガラス転移温度Tg:380℃、屈伏点At:407℃、熱膨張率α:12.2×10−6/℃、屈折率nd:1.60、内部透過率:99%(470nm))によって形成されており、金型によるホットプレス加工によってガラス含有Al基板3と接着された後、上面6Aおよびダイサー(dicer)でカットされることに基づいて形成される側面6Bを有する矩形状に形成されている。
低融点ガラスは、一般に、樹脂において高粘度といわれるレベルより、桁違いに高い粘度で加工される。また、ガラスの場合には、屈伏点を数十℃超えても粘度が一般の樹脂封止レベルまで低くはならない。また、一般の樹脂成型時レベルの粘度にしようとすると、LED素子の結晶成長温度を超える温度を要するもの、あるいは金型に付着するものとなり、封止・成形加工が困難になる。このため、10ポアズ以上で加工するのが好ましい。
(発光装置の製造方法)
この発光装置1の製造方法について、以下に説明する。まず、ビアホール3Aを有したガラス含有Al基板3を用意し、ガラス含有Al基板3の表面に回路パターンに応じてWペーストをスクリーン印刷する。
次に、Wペーストを印刷されたガラス含有Al基板3を1000℃余で熱処理することによりWを基板3に焼き付け、さらに、W上にNiめっき、Auめっきを施すことで回路パターン4を形成する。
次に、ガラス含有Al基板3の回路パターン4(表面側)にGaN系LED素子2をAuスタッドバンプ5によって電気的に接合する。
次に、GaN系LED素子2をマウントしたガラス含有Al基板3に対して板状のP−ZnO−LiO系の低融点ガラスを平行にセットし、窒素雰囲気中でホットプレス加工を行う。この条件での低融点ガラスの粘度は10〜10ポアズであり、低融点ガラスはガラス含有Al基板3とそれらに含まれる酸化物を介して接着される。
次に、低融点ガラスと一体化されたガラス含有Al基板3をダイサーにセットしてダイシングすることにより、発光装置1を個別に分離する。
なお、GaN系LED素子2は、スクライブ加工に基づいて形成したものを使用することができる。この場合、スクライブ加工により形成されたGaN系LED素子2は、切断部である側面に尖った凹凸を有することがあり、GaN系LED素子2の側面を素子コート材でコーティングすることが望ましい。この素子コート材として、例えば、光透過性を有するSiO系コート材を用いることができる。素子コート材を用いることにより、クラックやボイド発生を防止することができる。
以下に、本発明で用いる低融点ガラスについて具体的に説明する。ガラス封止部6のP、LiO、MgO、CaO、SrO、BaO、ZnO、ZrO、RO、Nb、およびAlの各組成を変えて、第1〜第3の3つの試料を作製した。また、比較検討のために、試料と同じ組成による比較例を作製した。試料1〜3、および比較例を表1に示す。表1において、nF−nCは主分散である。
Figure 0004358713
次に、試料1〜3、および比較例について、失透の有無について評価を実施したところ、表2に示す実施結果を得た。この評価は60℃、Rh90%、1000hと、85℃、Rh85%、1000hの条件で行った。
Figure 0004358713
表2から明らかなように、試料1〜3は、いずれも失透を生じることがなく、透明であった。これに対し、比較例では85℃、Rh85%、1000hで白濁が生じた。ガラス封止部6がP:45〜50wt%、LiO:3〜6wt%、MgO:0〜3.5wt%、CaO:0〜10wt%、SrO:0〜15wt%、BaO:0〜30wt%、ZnO:15〜35wt%、ZrO:0〜1wt%、RO(R:Mg、Ca、Sr、Ba、Zn)の合計:38〜49wt%、NbO5:0〜1.5wt%、およびAl:0〜5wt%の組成範囲であれば、85℃、Rh85%、1000hで白濁が生じないものとできる。
−ZnO−LiO系の低融点ガラスとしては、本発明者らの検討によると、P:45〜50wt%、LiO:3〜6wt%、MgO:0〜3.5wt%、CaO:0〜10wt%、SrO:0〜15wt%、BaO:0〜30wt%、ZnO:15〜35wt%、ZrO:0〜1wt%、RO(R:Mg、Ca、Sr、Ba、Zn)の合計:38〜49wt%、Nb:0〜1.5wt%、およびAl:0〜5wt%の組成が、本実施の形態におけるガラス封止部6として好ましい特性を示すことを確認している。なお、この組成範囲とすることで、ガラス封止部6の特性は、Tg:350〜400℃、At:375〜450℃、α:10.0〜14.0(×10−6)、nd:1.58〜1.62、アッベ数νd:59.0〜64.0となる。
(第1の実施の形態の効果)
上記した第1の実施の形態によると、以下の効果が得られる。
(1)P−ZnO−LiO系による低融点ガラスをガラス封止部6に用い、高粘度状態でホットプレス加工を行うことで、結晶成長温度に対して充分に低い加工が可能になる。
(2)ガラス含有Al基板3とガラス封止部6とが酸化物を介した化学結合に基づいて接着することにより強固な封着強度が得られる。そのため、接合面積が小さい小形パッケージであっても具現化できる。
(3)ガラス含有Al基板3とガラス封止部6とは熱膨張率が同等であるため、高温で接着された後、常温あるいは低温状態としても剥離、クラック等の接着不良が生じにくい。しかも、ガラスは引っ張り応力にはクラックが生じ易いが、圧縮応力にはクラックは生じにくく、ガラス封止部6はガラス含有Al基板3に対しやや熱膨張率が小さいものとしてある。発明者の確認では、−40℃←→100℃の液相冷熱衝激試験1000サイクルでも剥離、クラックは生じていない。また5mm×5mmサイズのガラス片のセラミック基板への接合基礎確認として、ガラス、セラミック基板とも種々の熱膨張率の組み合わせで実験を行った結果では、熱膨張率が高い方の部材に対する低い方の部材の熱膨張率の比が0.85以上ではクラックを生じない接合を行うことができた。部材の剛性やサイズ等にも依存するが、熱膨張率が同等というのは、この程度の範囲を示す。
(4)フリップチップ接合によりワイヤを不要できるので、高粘度状態での加工に対しても電極の不具合を生じない。封止加工時の低融点ガラスの粘度は10から10ポアズと硬く、熱硬化処理前のエポキシ樹脂が5ポアズ程度の液状であることと比較して物性が大きく異なるため、素子表面の電極とリード等の給電部材とをワイヤで電気的に接続するフェイスアップ型のLED素子を封止する場合、ガラス封止加工時にワイヤが押し潰されたり変形するが、これを防げる。また、素子表面の電極を金(Au)等のバンプを介してリード等の給電部材にフリップチップ接合するフリップチップ型のLED素子を封止する場合、ガラスの粘度に基づいてLED素子に給電部材方向への圧力が付加され、そのことによるバンプの潰れやバンプ間での短絡が生じるが、これも防ぐことができる。
(5)低融点ガラスとガラス含有Al基板3とを平行にセットし、高粘度状態でホットプレス加工することで、低融点ガラスがガラス含有Al基板3の表面に平行移動して密着し、GaN系LED素子2を封止するためにボイドが生じない。
(6)ガラス含有Al基板3の配線用回路パターン4はビアホール3Aにて裏面に引き出されるため、ガラスが不必要な箇所へ入り込むことや、電気端子が覆われること等への特別な対策をとることなく板状の低融点ガラスを複数デバイスに対して一括封止加工するだけで、ダイサーカットに基づいて複数の発光装置1を容易に量産することができる。なお、低融点ガラスは高粘度状態で加工されるため、樹脂のように充分な対策をとる必要はなくビアホールによらなくても外部端子が裏面に引き出されていれば充分に量産対応可能である。
(7)GaN系LED素子2をフリップ実装とすることで、ガラス封止を具現化するにあたっての問題点を克服するとともに0.5mm角といった超小型の発光装置1を具現化できるという効果もある。これは、ワイヤのボンディングスペースが不要で、かつ、ガラス封止部6とガラス含有Al基板3とは同等の熱膨張率部材が選択されるとともに、化学結合に基づく強固な接合によって、わずかなスペースでの接着でも界面剥離が生じないことによる。
(8)さらに、ガラス封止部6のP比を50%以下としたことにより、高湿度の環境においても安定した耐湿性を有し、白濁を生じにくくすることができる。
(9)さらに、ガラス封止部6にLiOを加えることで、耐候性の改善、低融点化、ガラスの安定化を図ることができる。
なお、第1の実施の形態では、LED素子としてGaN系LED素子2を用いた発光装置1を説明したが、ガラス封止の適用可能なLED素子はGaN系LED素子2に限定されず、他の半導体材料からなる半導体発光素子であっても良い。
また、第1の実施の形態で用いたP−ZnO−LiO系の低融点ガラスに蛍光体を含有し、GaN系LED素子2から放射された光で励起されることにより生じる励起光を、GaN系LED素子2から放射される光と混合することにより波長変換を行う波長変換型の発光装置1とすることもできる。
[第2の実施の形態]
図2は、本発明の第2の実施の形態に係る固体素子デバイスとしての発光装置を示し、同図中、(a)は発光装置の平面図、(b)は(a)A−A断面図、(c)は下部ガラスの斜視図である。
発光装置1は、フェイスアップ型のGaN系LED素子2と、GaN系LED素子2をマウントするリードカップ部19Bを有した電力受供給部としてのリード19と、GaN系LED素子2とリード19とを電気的に接続するワイヤ10と、GaN系LED素子2およびワイヤ10を覆って保護するシリコン樹脂コート35とを備え、プレフォームされた上部ガラス60Aおよび下部ガラス60BによってGaN系LED素子2およびリード19をP−F系のガラス封止部6で一体的に封止して構成されている。
ガラス封止部6は、酸化物基準の重量%でP:43wt%、LiO:4.3wt%、NaO:18.9wt%、KO:10.7wt%、Al:23.5wt%、およびF:11wtの組成、そしてTg:326℃、At:354℃、α:18.0×10−6、nd:1.50、νd:69.8の特性のものを用いる。
リードカップ部19Bは、傾斜面190および底面191によってすり鉢状に形成されており、(c)に示す下部ガラス60Bのリード収容溝60Cに収容される。リード収容溝60Cは、下部ガラス60Bを図示しない金型でプレフォームする際に形成される。
(発光装置の製造方法)
次に、第2の実施の形態における発光装置1の製造方法について説明する。まず、銅を材料とし、表面に銀めっき処理が施された一対のリード19を備えた図示しないリードフレームを用意する。次に、リード19のリードカップ部19BにGaN系LED素子2をマウントする。GaN系LED素子2は、無機透明接着剤によってリードカップ部19Bの底面191に接着される。次に、一対のリード19とGaN系LED素子2の電極とを、ワイヤ10で電気的に接続する。
次に、一対のリード19とGaN系LED素子2とが電気的に接続された状態で、予めプレフォームされた下部ガラス60Bのリード収容溝60Cに収容する。次に、一対のリード19とGaN系LED素子2とが覆われるように、シリコン樹脂コート35をポッティングする。次に、上部ガラス60Aを用意し、ホットプレス加工に基づいて下部ガラス60Bと一体化する。次に、リードフレームから発光装置1を切り離す。
(第2の実施の形態の効果)
上記した第2の実施の形態によると、以下の効果が得られる。
(1)第1の実施の形態の発光装置と同様に、P−F系による低融点ガラスをガラス封止部6に用いたことにより、高湿度の環境においても安定した耐湿性を有し、白濁を生じにくくすることができる。また、フッ素による撥水効果により、85℃、Rh85%、1000hでも全く変化を生じないものとすることができる。
(2)シリコン樹脂はおよそ400℃以上で、熱によって分子結合が切れ、ガスが発生するが、シリコン樹脂コート35を熱分解しない360℃での加工が可能になるので、ガラス封止加工時の熱をシリコン樹脂で吸収し、応力を緩和することができる。
(3)リードカップ部19Bを収容するプレフォームされた下部ガラス60Bを用いることで、一対のリード19を安定してガラス封止することができる。
(4)リードフレームに対してホットプレス加工を行い、リードへ個別にガラス封止するとともにリードフレームからタイバーカットすることで、一括的な製造が可能になり、生産性を向上させることができる。
(5)Cu等の軟金属によって形成された一対のリード19はガラス材と比べて弾性に富むことから、仮に、GaN系LED素子2に対して熱膨張率の差が150%から500%の範囲であれば、ガラス材との良好な接着性を維持しながら熱収縮差に基づく応力を構造的に吸収することができる。このことから、一対のリード19をガラス材で挟み込んで封止する場合でもクラック等の不良を生じることはない。
−F系の低融点ガラスとしては、本発明者らの検討によると、酸化物基準の重量%でP:34〜50wt%、LiO:2〜9wt%、NaO:7〜28wt%、KO:3〜27wt%、但し、ROの合量が17〜41%(R:Li,Na,K)、Al:6.5〜30wt%、およびF:1.5〜32wtの組成が、本実施の形態におけるガラス封止部6として好ましい特性を示すことを確認している。
なお、上記した組成範囲とすることで、Tg:230〜350℃、At:260〜390℃、α:15.0〜28.0×10−6、nd:1.43〜1.55となる。また、この組成範囲とすれば、耐湿性に加え、約400℃以下のガラス封止が可能になるが、耐湿性のみが求められる場合には、酸化物基準の重量%で6〜50wt%のPと1〜45wt%のFとを含む低融点ガラスであれば良い。
また、他のP−F系低融点ガラスとして、モル%でP:3.0〜8.0mol%、Al:0.1〜2.0mol%、BaO:1.0〜7.0mol%、AlF:35.5〜41.0mol%、MgF:8.0〜13.0wt%、CaF:16.0〜26.0mol%、SrF:15.0〜21.0mol%、BaF:3.5〜10.0mol%、NaF:1.0〜6.0mol%の範囲からなるものであっても良い。
また、更に他のP−F系低融点ガラスとして、Al(PO:15〜32wt%、Ba(PO:0〜10wt%、Sr(PO:0〜10wt%、Ca(PO:0〜10wt%、Mg(PO:0〜10wt%、メタ燐酸塩合量で20〜32wt%、BaF:20〜70wt%、SrF:5〜40wt%、CaF:0〜15wt%、MgF:0〜10wt%、AlF:0〜5wt%、GdF:0〜5wt%、フッ化物合量で55〜75wt%、Gd:5〜22wt%、La:0〜7wt%、Y:0〜10wt%、Yb:0〜10wt%、希土類合量で5〜22wt%の範囲からなるものであっても良い。
なお、本発明は、上記各実施の形態に限定されず、その要旨を変更しない範囲内で種々な変形が可能である。例えば、ガラス封止部6の表面に耐湿性、耐酸・アルカリ性向上用の表面処理(コーティング)を施しても良い。この場合、MgF、SiO、SiN等の表面処理が有効である。また、反射防止多層膜等により界面反射を減じる処理でも良い。この場合、TiO+SiO多層コートが有効である。
また、第1の実施の形態において、ガラス封止部6の表面の全体をエポキシ樹脂からなる半球状等のオーバーモールド部をトランスファーモールド法等によって設け、耐湿性を更に向上させることもできる。このオーバーモールド部は、エポキシ樹脂以外の他の樹脂材料、例えば、シリコン樹脂によって形成されても良く、トランスファーモールド法以外のポッティングモールド法等の成型手法を適用することも可能である。
また、オーバーモールド部は、アクリル、ポリカーボネート等の樹脂材料を用いてインジェクション法によって形成することも可能であり、この場合には生産性を向上させることができる。更に、オーバーモールド部に蛍光体を含有させても良い。蛍光体としては、YAG(Yttrium Aluminum Garnet)蛍光体、珪酸塩蛍光体、あるいはこれらを所定の割合で混合したもの等であっても良い。
また、固体素子としては、上記したLED素子の他に、例えば、受光素子、太陽電池等の他の光学素子であってもよい。
第1の実施の形態に係る固体素子デバイスとしての発光装置を示し、同図中、(a)は発光装置の縦断面図、(b)は光源であるGaN系LED素子の側面図である。 第2の実施の形態に係る固体素子デバイスとしての発光装置を示し、同図中、(a)は発光装置の平面図、(b)は(a)A−A断面図、(c)は下部ガラスの斜視図である。
符号の説明
1、発光装置 2、GaN系LED素子 3、ガラス含有Al基板
3A、ビアホール 4、回路パターン 5、スタッドバンプ
6、ガラス封止部 6A、上面 6B、側面 7、封止体 10、ワイヤ
19、リード 19B、リードカップ部 20、基板 21、バッファ層
22、n型層 23、発光する素子を含む層 24、p型層 25、p電極
26、n電極 35、シリコン樹脂コート 60A、上部ガラス 60B、下部ガラス
60C、リード収容溝 190、傾斜面 191、底面

Claims (12)

  1. 固体素子と、
    前記固体素子に対して電力の受供給を行うセラミック基板と、
    前記固体素子を封止し、Pを45〜50wt%、ZnOを15〜35wt%含有するP−ZnO系からなりガラス転位温度が350〜400℃の低融点ガラスによって設けられるガラス封止部とを有し、
    前記低融点ガラスは、P :45〜50wt%、Li O:3〜6wt%、MgO:0〜3.5wt%、CaO:0〜10wt%、SrO:0〜15wt%、BaO:0〜30wt%、ZnO:15〜35wt%、ZrO :0〜1wt%、Nb :0〜1.5wt%、およびAl :0〜5wt%の範囲からなり、RO(R:Mg、Ca、Sr、Ba、Zn)の合計が38〜49wt%であり、
    前記セラミック基板と前記ガラス封止部につき、熱膨張率が高い方の部材に対する低い方の部材の熱膨張率の比が0.85以上であることを特徴とする固体素子デバイス。
  2. 前記低融点ガラスは、屈伏点が375〜450℃であることを特徴とする請求項1に記載の固体素子デバイス。
  3. 前記低融点ガラスは、熱膨張率が10.0〜14.0×10−6/℃であることを特徴とする請求項1または2に記載の固体素子デバイス。
  4. 前記低融点ガラスは、アッベ数が59.0〜64.0であることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の固体素子デバイス。
  5. 前記低融点ガラスは、屈折率が1.58〜1.62であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の固体素子デバイス。
  6. 前記固体素子は、フリップ実装されることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の固体素子デバイス。
  7. 前記セラミック基板は、前記固体素子をマウントする側に設けられる第1の導電パターンと、その裏面側に設けられる第2の導電パターンと、およびその両側を電気的に接続する第3の導電パターンとを有することを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の固体素子デバイス。
  8. 前記ガラス封止部は、表面に耐湿、耐酸、耐アルカリ性を付与するコーティング処理が施されていることを特徴とする請求項1からのいずれか1項に記載の固体素子デバイス。
  9. 前記固体素子は、光学素子であり、かつ、前記ガラス封止部は透光性材料であることを特徴とする請求項1からのいずれか1項に記載の固体素子デバイス。
  10. 前記光学素子は、発光素子であることを特徴とする請求項に記載の固体素子デバイス。
  11. 前記光学素子は、受光素子であることを特徴とする請求項に記載の固体素子デバイス。
  12. 前記ガラス封止部は、表面を樹脂でオーバーモールドされていることを特徴とする請求項1から11のいずれか1項に記載の固体素子デバイス。
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