JP4358189B2 - Substrate processing method - Google Patents
Substrate processing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP4358189B2 JP4358189B2 JP2006008940A JP2006008940A JP4358189B2 JP 4358189 B2 JP4358189 B2 JP 4358189B2 JP 2006008940 A JP2006008940 A JP 2006008940A JP 2006008940 A JP2006008940 A JP 2006008940A JP 4358189 B2 JP4358189 B2 JP 4358189B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- plate
- resist
- exposure
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
本発明は、柔軟性を有する基板の加工方法に関する。 The present invention relates to a method for processing a flexible substrate.
電子部品を搭載する基板の加工におけるリソグラフィでは、所定パターンのマスクを用いて、基板の表面に形成したレジストの露光が行われる。かかる基板の中には、例えばフレキシブル基板のように柔軟性を有するものも存在する。柔軟性を有する基板は、基板表面のうねりや歪みが生じ易いため、露光パターンの精度低下が問題となる。 In lithography for processing a substrate on which an electronic component is mounted, a resist formed on the surface of the substrate is exposed using a mask having a predetermined pattern. Some of these substrates have flexibility such as a flexible substrate. Since a flexible substrate tends to cause undulation and distortion of the substrate surface, there is a problem that the accuracy of the exposure pattern is lowered.
そこで、このような基板における露光パターンの精度向上を図る技術として、例えば特許文献1に記載の露光装置がある。この従来の露光装置では、柔軟性を有するプリント基板材をワーク保持板に吸着させた後、高圧空気によってワーク保持板をガラスマスクに押圧している。これにより、プリント基板材をワーク保持板とガラスマスクとで挟み込み、プリント基板材とガラスマスクとの密着性を高めている。
しかしながら、上述した従来の露光装置は、基板の形状をガラスマスクの表面形状に追従させるものであり、基板自体の平坦化を図ったものではない。そのため、露光パターンの精度向上には限界があった。また、従来の露光装置では、高圧空気を供給するためのコンプレッサやノズル等が必要であり、構成が非常に複雑となっている。その上、ワーク保持板には多数の吸気孔が設けられているので、例えば貫通孔などが加工された基板など、露光しようとする基板の加工状態によっては、プリント基板材とガラスマスクとの密着性を確保できず、露光パターンの精度向上を図ることが困難であった。 However, the above-described conventional exposure apparatus makes the shape of the substrate follow the surface shape of the glass mask, and does not attempt to flatten the substrate itself. For this reason, there has been a limit to improving the accuracy of the exposure pattern. Further, the conventional exposure apparatus requires a compressor, a nozzle, and the like for supplying high-pressure air, and the configuration is very complicated. In addition, since the work holding plate is provided with a large number of air intake holes, depending on the processing state of the substrate to be exposed, such as a substrate on which through holes are processed, the printed circuit board material and the glass mask are in close contact with each other. Therefore, it has been difficult to improve the accuracy of the exposure pattern.
本発明は、上記課題の解決のためになされたものであり、基板の加工状態によらずに、簡単な構成で露光パターンの精度を向上させることができる基板の加工方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a substrate processing method capable of improving the accuracy of an exposure pattern with a simple configuration regardless of the processing state of the substrate. And
上記課題の解決のため、本発明に係る基板の加工方法は、柔軟性を有する基板の加工方法であって、基板の表面にレジスト層を形成するレジスト形成工程と、レジストに所定パターンを形成するパターン形成工程とを備え、パターン形成工程は、載置板を用意し、レジスト層が形成された基板を載置板上に載置する載置工程と、載置板に載置した基板上に、露光光に対して透過性を有する光透過板を載置し、載置板と光透過板とによって基板を挟持する挟持工程と、所定パターンが設けられたマスクを介し、挟持された基板のレジスト層に光透過板側から露光光を照射する照射工程とを含むことを特徴としている。 In order to solve the above-mentioned problems, a substrate processing method according to the present invention is a flexible substrate processing method, in which a resist layer is formed on a surface of a substrate, and a predetermined pattern is formed on the resist. A pattern forming step, wherein the pattern forming step prepares a mounting plate and places the substrate on which the resist layer is formed on the mounting plate; and on the substrate placed on the mounting plate. A sandwiching step of placing a light transmissive plate that is transmissive to exposure light, sandwiching the substrate between the placement plate and the light transmissive plate, and a substrate sandwiched via a mask provided with a predetermined pattern And an irradiation step of irradiating the resist layer with exposure light from the light transmitting plate side.
この基板の加工方法では、柔軟性を有する基板を載置板と光透過板とによって挟持し、基板を平坦化する。これにより、基板表面のうねりや歪みが解消されるため、マスクの画像が基板に忠実に再現され、露光パターンの精度の向上を図ることができる。また、この基板の加工方法では、基板の平坦化にあたり、光透過板の自重を利用して基板を載置板側に押し付けるので、従来のように高圧空気を供給する手段は不要であり、構成を極めて簡単化できる。さらには、載置板に吸気孔等を設ける必要もないため、基板の加工状態によらずに露光パターンの精度向上を実現できる。 In this substrate processing method, a flexible substrate is sandwiched between a mounting plate and a light transmission plate to flatten the substrate. This eliminates the undulation and distortion of the substrate surface, so that the mask image is faithfully reproduced on the substrate, and the accuracy of the exposure pattern can be improved. Further, in this substrate processing method, when flattening the substrate, the substrate is pressed against the mounting plate side using the weight of the light transmitting plate, so there is no need for a means for supplying high-pressure air as in the prior art. Can be greatly simplified. Furthermore, since it is not necessary to provide an intake hole or the like on the mounting plate, it is possible to improve the accuracy of the exposure pattern regardless of the processing state of the substrate.
また、本発明に係る基板の加工方法は、柔軟性を有する基板の加工方法であって、基板の表面にレジスト層を形成するレジスト形成工程と、レジストに所定パターンを形成するパターン形成工程とを備え、パターン形成工程は、粘着性を有するシート体が設けられた載置板を用意し、シート体を介してレジスト層が形成された基板を載置板に載置する載置工程と、所定パターンが設けられたマスクを介し、載置された基板のレジスト層に露光光を照射する照射工程とを含むことを特徴としている。 The substrate processing method according to the present invention is a flexible substrate processing method comprising: a resist forming step of forming a resist layer on the surface of the substrate; and a pattern forming step of forming a predetermined pattern on the resist. The pattern forming step includes a mounting step in which a mounting plate provided with a sticky sheet body is provided, and a substrate on which a resist layer is formed via the sheet body is mounted on the mounting plate; And an irradiation step of irradiating the resist layer of the placed substrate with exposure light through a mask provided with a pattern.
この基板の加工方法では、粘着性を有するシート体を介して柔軟性を有する基板を載置板に載置することで、基板を平坦化する。これにより、基板表面のうねりや歪みが解消されるため、マスクの画像が基板に忠実に再現され、露光パターンの精度の向上を図ることができる。また、この基板の加工方法では、基板の平坦化にあたり、シート体の粘着性を利用して基板を載置板に固定するので、従来のように高圧空気を供給する手段は不要であり、構成を極めて簡単化できる。さらには、載置板に吸気孔等を設ける必要もないため、基板の加工状態によらずに露光パターンの精度向上を実現できる。 In this substrate processing method, the substrate is flattened by placing the flexible substrate on the placement plate via the adhesive sheet. This eliminates the undulation and distortion of the substrate surface, so that the mask image is faithfully reproduced on the substrate, and the accuracy of the exposure pattern can be improved. Further, in this substrate processing method, when the substrate is flattened, the substrate is fixed to the mounting plate by using the adhesiveness of the sheet body, so there is no need for a means for supplying high-pressure air as in the prior art. Can be greatly simplified. Furthermore, since it is not necessary to provide an intake hole or the like on the mounting plate, it is possible to improve the accuracy of the exposure pattern regardless of the processing state of the substrate.
また、パターン形成工程は、載置板に載置した基板上に、露光光に対して透過性を有する光透過板を載置し、載置板と光透過板とによって基板を挟持する挟持工程を更に含み、照射工程において、所定パターンが設けられたマスクを介し、挟持された基板のレジスト層に光透過板側から露光光を照射することが好ましい。この場合、粘着性を有するシート体を介して柔軟性を有する基板を載置板に載置した上で、更に載置板と光透過板とによって基板を挟持するので、当該基板をより平坦化できる。したがって、露光パターンの精度を一層向上させることができる。 In the pattern forming step, a light transmission plate having transparency to exposure light is placed on the substrate placed on the placement plate, and the substrate is sandwiched between the placement plate and the light transmission plate. In the irradiation step, it is preferable to irradiate the resist layer of the sandwiched substrate with exposure light from the light transmitting plate side through a mask provided with a predetermined pattern. In this case, after placing the flexible substrate on the placement plate via the adhesive sheet, the substrate is further sandwiched between the placement plate and the light transmission plate, so that the substrate is further flattened. it can. Therefore, the accuracy of the exposure pattern can be further improved.
以上説明したように、本発明に係る基板の加工方法によれば、基板の加工状態によらずに、簡単な構成で露光パターンの精度を向上させることができる。 As described above, according to the substrate processing method of the present invention, it is possible to improve the accuracy of the exposure pattern with a simple configuration regardless of the processing state of the substrate.
以下、図面を参照しながら、本発明に係る基板の加工方法の好適な実施形態について詳細に説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of a substrate processing method according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[第1実施形態]
図1は、本発明に係る基板の加工方法の一実施形態を用いて製造される基板の一例として示すコイル基板の平面図である。図1に示すように、コイル基板1は、一辺が数mmの略正方形状の絶縁板2を有している。絶縁板2は、いわゆるフレキシブル基板であり、例えばポリイミド樹脂によって厚さ約60μmに形成され、折り曲げ可能な程度の柔軟性を有している。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a plan view of a coil substrate shown as an example of a substrate manufactured using an embodiment of a substrate processing method according to the present invention. As shown in FIG. 1, the
絶縁板2の略中央には、コイル基板1を収容するフェライトコアの内脚部(図示しない)を挿通させるための円形の開口3が形成されている。絶縁板2の両面の各隅部には、導出端電極4がそれぞれ形成されている。
A
また、コイル基板1の両面には、例えばCuなどの導体材料をめっき成長させることにより、開口3を囲む渦巻状のコイル5a,5bが形成されている。この両面のコイル5a,5bの一端部同士は、開口3の周縁部に設けられたコンタクト部6を介して電気的に接続され、各コイル5a,5bの他端部は、絶縁板2の一方の辺側に設けられた導出端電極4と、他方の辺側に設けられた導出端電極4とにそれぞれ電気的に接続されている。
Further,
したがって、絶縁板2の一方の辺側に設けられた導出端電極4と、他方の辺側に設けられた導出端電極4との間に所定の電圧を印加すると、絶縁板2の両面に形成されているコイル5a,5b間に電流が生じるようになっている。
Therefore, when a predetermined voltage is applied between the leading end electrode 4 provided on one side of the
次に、上述したコイル基板1の加工方法について、図2〜図4を参照しながら説明する。
Next, the processing method of the coil board |
まず、図2(a)に示すように、絶縁板2を準備する。絶縁板2は、厚さが60μmのポリイミド樹脂であり、折り曲げ可能な程度の柔軟性を有している。絶縁板2の略中央には、上述した円形の開口3(図2においては図示しない)が既に形成されている。この絶縁板2の両面に、図2(b)に示すように、例えば無電解めっき法によって銅からなる下地層10,10をそれぞれ形成する。
First, as shown in FIG. 2A, an
次に、図2(c)に示すように、例えば感光性ドライフィルムをラミネートし、絶縁板2の両面に形成した下地層10,10の表面に、ネガ型のレジスト層11,11をそれぞれ形成する。これにより、レジスト付絶縁板12が形成される。このレジスト付絶縁板12も、絶縁板2と同程度の柔軟性を有しており、折り曲げ自在となっている。
Next, as shown in FIG. 2C, for example, a photosensitive dry film is laminated, and
続いて、図3に示すように、ステンレス製の露光用搬送板(載置板)13を用意する。この露光用搬送板13の表面の平坦度は、レジスト付絶縁板12の表面の平坦度よりも高くなっている。
Subsequently, as shown in FIG. 3, a stainless steel exposure transport plate (mounting plate) 13 is prepared. The flatness of the surface of the
次に、図4(a)に示すように、レジスト付絶縁板12を露光用搬送板13上に載置する。さらに、図4(b)に示すように、露光用搬送板13に載置したレジスト付絶縁板12上に、露光光に対する透過性を有するガラス製の光透過板14を載置し、露光用搬送板13と光透過板14とによってレジスト付絶縁板12を挟持する。
Next, as shown in FIG. 4A, the resist-equipped
この光透過板14の表面の平坦度も、露光用搬送板13と同様に、レジスト付絶縁板12の表面の平坦度よりも高くなっている。したがって、光透過板14をレジスト付絶縁板12上に載置すると、光透過板14の自重がレジスト付絶縁板12の全面に略均等に加わることにより、露光用搬送板13及び光透過板14の表面形状に沿って柔軟性を有するレジスト付絶縁板12が平坦化される。
The flatness of the surface of the
レジスト付絶縁板12を露光用搬送板13と光透過板14とによって挟持した後、図4(c)に示すように、所定パターンが設けられたマスク15を光透過板14の上面側に近接配置し、このマスク15を介してレジスト付絶縁板12の一面側のレジスト層11に光透過板14側から露光光Pを照射する。露光光Pとしては、例えばフライアイレンズ及び放物面鏡(図示しない)の組み合わせにより、水銀アークランプからの出射光を平行光としたものを用いる。
After the insulating insulating
レジスト層11の露光が終了した後、レジスト付絶縁板12の上下を反転させ、再びレジスト付絶縁板12を露光用搬送板13と光透過板14とによって挟持し、図4(c)と同様の状態で、レジスト付絶縁板12の他面側のレジスト層11に光透過板14側から露光光Pを照射する。
After the exposure of the resist
露光光Pの照射の後、例えば炭酸ナトリウム水溶液などの現像液を用いてレジスト付絶縁板12の両面を同時に現像する。これにより、図5(a)に示すように、レジスト層11,11において、コイル5a,5b(図1参照)を形成する領域に対応する位置に開口部11aがそれぞれパターン形成される。
After the exposure light P is irradiated, both surfaces of the resist-coated insulating
次に、開口部11aがパターン形成されたレジスト層11,11をマスクとして、例えば電解めっき法により、図5(b)に示すように、レジスト付絶縁板12の両面にコイル導体用めっき層16a,16bを形成する。コイル導体用めっき層16a,16bをそれぞれ所定の高さまで成長させた後、例えば水酸化ナトリウム水溶液を用いて、図5(c)に示すように、絶縁板2の両面に残るレジスト層11,11を剥離する。
Next, using the resist
そして、図5(d)に示すように、例えばアルカリエッチャントによって下地層10,10をエッチングし、コイル導体用めっき層16a,16bの頂面を研磨してコイル5a,5bを形成すると、図1に示したコイル基板1が完成する。
Then, as shown in FIG. 5D, when the base layers 10 and 10 are etched by, for example, an alkali etchant and the top surfaces of the coil conductor plating layers 16a and 16b are polished to form the
この基板の加工方法では、柔軟性を有するレジスト付絶縁板12を露光用搬送板13と光透過板14とによって挟持し、レジスト付絶縁板12を平坦化する。これにより、レジスト付絶縁板12の表面のうねりや歪みが解消されるため、マスク15の画像がレジスト付絶縁板12に忠実に再現され、露光パターンの精度の向上を図ることができる。
In this substrate processing method, the resist-equipped insulating
また、この基板の加工方法では、レジスト付絶縁板12の平坦化にあたり、光透過板14の自重を利用してレジスト付絶縁板12を露光用搬送板13側に押し付けるので、従来のように高圧空気を供給する手段は不要であり、構成を極めて簡単化できる。さらには、露光用搬送板13に吸気孔等を設ける必要もないため、上述したレジスト付絶縁板12のように、円形の開口3が設けられているような基板に対しても、露光パターンの精度向上を実現できる。
Further, in this substrate processing method, when the insulating
[第2実施形態]
続いて、本発明に係る基板の加工方法の第2実施形態について説明する。この実施形態は、露光用搬送板13と光透過板14とによってレジスト付絶縁板12を挟持するにあたり、粘着性を有するシート体20を更に用いる点で、上述した第1実施形態と相違している。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the substrate processing method according to the present invention will be described. This embodiment is different from the above-described first embodiment in that an
すなわち、第2実施形態においては、図6に示すように、粘着性を有するシート体20を設けた露光用搬送板13を準備する。このシート体20は、例えばシリコンによって形成されており、接着剤等によって露光用搬送板13の上面側に強固に固定されている。シート体20の粘着性は、レジスト付絶縁板12を着脱可能に固定(仮固定)できる程度の微弱なものとなっている。
That is, in the second embodiment, as shown in FIG. 6, an
次に、図7(a)に示すように、レジスト付絶縁板12をシート体20上に載置する。このとき、レジスト付絶縁板12は、図7(b)に示すように、シート体20の粘着性により、シート体20の表面形状に沿って平坦化された状態でシート体20の上面側に仮固定される。
Next, as shown in FIG. 7A, the resist-equipped insulating
さらに、図7(c)に示すように、シート体20に載置したレジスト付絶縁板12上に、光透過板14を載置し、露光用搬送板13と光透過板14とによってレジスト付絶縁板12を挟持する。これにより、光透過板14の自重がレジスト付絶縁板12の全面に略均等に加わり、柔軟性を有するレジスト付絶縁板12が一層平坦化される。
Further, as shown in FIG. 7C, a
レジスト付絶縁板12を露光用搬送板13と光透過板14とによって挟持した後、図7(d)に示すように、所定パターンが設けられたマスク15を光透過板14の上面側に近接配置し、このマスク15を介してレジスト付絶縁板12の一面側のレジスト層11に光透過板14側から露光光Pを照射する。
After the insulating insulating
レジスト層11の露光が終了した後、レジスト付絶縁板12の上下を反転させ、再びレジスト付絶縁板12を露光用搬送板13上のシート体20に仮固定する。さらに、レジスト付絶縁板12を露光用搬送板13と光透過板14とによって挟持し、図7(d)と同様の状態で、レジスト付絶縁板12の他面側のレジスト層11に光透過板14側から露光光Pを照射する。
After the exposure of the resist
この後、第1実施形態と同様に、レジスト層11,11の現像処理を行い、このレジスト層11,11をマスクとして、レジスト付絶縁板12の両面にコイル導体用めっき層16a,16bを形成する。そして、コイル導体用めっき層16a,16bの頂面を研磨してコイル5a,5bを形成すると、図1に示したコイル基板1が完成する。
Thereafter, similarly to the first embodiment, the resist
この基板の加工方法では、粘着性を有するシート体20上にレジスト付絶縁板12を載置し、シート体20の表面形状に沿ってレジスト付絶縁板12を平坦化した上で、露光用搬送板13と光透過板14とによってレジスト付絶縁板12を挟持する。したがって、レジスト付絶縁板12をより確実に平坦化でき、露光パターンの精度の一層向上を実現できる。
In this substrate processing method, the resist-coated insulating
また、第1実施形態と同様に、レジスト付絶縁板12の平坦化にあたり、光透過板14の自重を利用してレジスト付絶縁板12を露光用搬送板13側に押し付けるので、構成を極めて簡単化できると共に、レジスト付絶縁板12の加工状態によらずに露光パターンの精度向上を実現できる。
Further, as in the first embodiment, when the insulating insulating
本発明は、上記実施形態に限られるものではない。本発明に係る基板の加工方法は、柔軟性を有する基板であれば、材質、厚さ、層数などに関わらず適用可能である。また、シート体20の材料は、基板を着脱可能に固定できる程度の粘着性を有しているものであればよく、上述したシリコンに限られない。このような材料としては、例えばポリプロピレン、ポリイミド、ポリブチレンテレフタラートなどが挙げられる。
The present invention is not limited to the above embodiment. The substrate processing method according to the present invention is applicable to any flexible substrate, regardless of the material, thickness, number of layers, and the like. Moreover, the material of the sheet |
また、第2実施形態では、シート体20に載置したレジスト付絶縁板12上に、更に光透過板14を載置しているが、図8に示すように、光透過板14を載置せず、レジスト付絶縁板12の上面側にマスク15を近接配置して露光を行うようにしてもよい。この場合、光透過板14を載置する工程を省略できるので、加工コストの低減化を図りつつ、十分な露光パターン精度が得られる。
In the second embodiment, the
2…絶縁板、11…レジスト層、12…レジスト付絶縁板、13…載置板、14…光透過板、15…マスク、20…シート体。
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記基板の表面にレジスト層を形成するレジスト形成工程と、
前記レジストに所定パターンを形成するパターン形成工程とを備え、
前記パターン形成工程は、
載置板を用意し、前記レジスト層が形成された前記基板を前記載置板上に載置する載置工程と、
前記載置板に載置した前記基板上に、露光光に対して透過性を有する光透過板を載置し、前記載置板と前記光透過板とによって前記基板を挟持する挟持工程と、
所定パターンが設けられたマスクを介し、前記挟持された基板の前記レジスト層に前記光透過板側から露光光を照射する照射工程とを含むことを特徴とする基板の加工方法。 A substrate processing method having flexibility,
A resist forming step of forming a resist layer on the surface of the substrate;
A pattern forming step of forming a predetermined pattern on the resist,
The pattern forming step includes
Preparing a mounting plate, and mounting the substrate on which the resist layer is formed on the mounting plate;
A sandwiching step of placing a light transmissive plate having transparency to exposure light on the substrate placed on the placement plate, and sandwiching the substrate by the placement plate and the light transmissive plate,
An irradiation step of irradiating the resist layer of the sandwiched substrate with exposure light from the light transmitting plate side through a mask provided with a predetermined pattern.
前記基板の表面にレジスト層を形成するレジスト形成工程と、
前記レジストに所定パターンを形成するパターン形成工程とを備え、
前記パターン形成工程は、
粘着性を有するシート体が設けられ、前記基板の平坦度よりも高い平坦度を有する載置板を用意し、前記シート体の表面形状に沿って平坦化した状態で前記レジスト層が形成された前記基板を前記載置板に載置する載置工程と、
所定パターンが設けられたマスクを介し、前記載置された基板の前記レジスト層に露光光を照射する照射工程とを含むことを特徴とする基板の加工方法。 A substrate processing method having flexibility,
A resist forming step of forming a resist layer on the surface of the substrate;
A pattern forming step of forming a predetermined pattern on the resist,
The pattern forming step includes
An adhesive sheet was provided , a mounting plate having a flatness higher than the flatness of the substrate was prepared, and the resist layer was formed in a state of being flattened along the surface shape of the sheet A mounting step of mounting the substrate on the mounting plate;
An irradiation step of irradiating the resist layer of the previously placed substrate with exposure light through a mask provided with a predetermined pattern.
前記載置板に載置した前記基板上に、露光光に対して透過性を有する光透過板を載置し、前記載置板と前記光透過板とによって前記基板を挟持する挟持工程を更に含み、
前記照射工程において、前記所定パターンが設けられたマスクを介し、前記挟持された基板の前記レジスト層に前記光透過板側から露光光を照射することを特徴とする請求項2記載の基板の加工方法。 The pattern forming step includes
A clamping step of placing a light transmissive plate having transparency to exposure light on the substrate placed on the placement plate, and sandwiching the substrate by the placement plate and the light transmission plate; Including
3. The substrate processing according to claim 2, wherein, in the irradiation step, exposure light is irradiated from the light transmitting plate side to the resist layer of the sandwiched substrate through a mask provided with the predetermined pattern. Method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006008940A JP4358189B2 (en) | 2006-01-17 | 2006-01-17 | Substrate processing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006008940A JP4358189B2 (en) | 2006-01-17 | 2006-01-17 | Substrate processing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007192918A JP2007192918A (en) | 2007-08-02 |
JP4358189B2 true JP4358189B2 (en) | 2009-11-04 |
Family
ID=38448688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006008940A Expired - Fee Related JP4358189B2 (en) | 2006-01-17 | 2006-01-17 | Substrate processing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4358189B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008129982A1 (en) * | 2007-04-19 | 2008-10-30 | Nikon Corporation | Substrate processing method and system, and device manufacturing method |
IT201900006740A1 (en) * | 2019-05-10 | 2020-11-10 | Applied Materials Inc | SUBSTRATE STRUCTURING PROCEDURES |
-
2006
- 2006-01-17 JP JP2006008940A patent/JP4358189B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007192918A (en) | 2007-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3802309B2 (en) | Positioning apparatus and exposure apparatus in multilayer circuit board manufacture | |
JP2001352137A (en) | Wiring circuit board | |
JP3699575B2 (en) | IC package mounting method | |
US5485495A (en) | X-ray mask, and exposure apparatus and device production using the mask | |
JP5227753B2 (en) | Method for manufacturing printed circuit board | |
JP4358189B2 (en) | Substrate processing method | |
JP5175779B2 (en) | Method for manufacturing printed circuit board | |
JP2001251042A (en) | Method of forming land of printed board | |
JP2001209192A (en) | Method for exposing substrate and aligner | |
JP2002134597A (en) | Stage apparatus | |
US20120204420A1 (en) | Method for manufacturing wiring board | |
JP2001210540A (en) | Method of manufacturing electromagnetic coil, charged particle beam exposure system using the same, and method of manufacturing semiconductor device | |
TWI272044B (en) | Electric contact structure body and method for preparing same | |
JP2009177071A (en) | Polyimide film circuit board and method of manufacturing the same | |
JP2006066830A (en) | Method of manufacturing high aspect semiconductor device | |
CN101661218A (en) | Method for preparing transparent light mask | |
JP4039839B2 (en) | Exposure apparatus for manufacturing multilayer circuit boards | |
KR20150025885A (en) | Manufacturing method of circuit board for car black box | |
JP3686717B2 (en) | Mask for solder paste printing | |
JP2002344120A (en) | Flexible circuit board and its manufacturing method | |
JP2008227209A (en) | Method of manufacturing member for circuit board | |
US20080217522A1 (en) | Illuminance detecting component and illuminance detecting apparatus | |
JP2003001475A (en) | Surface plate for laser beam machining, and film carrier manufacturing method | |
JP2000181074A (en) | Method for exposing photosensitive layer | |
KR20030042873A (en) | The method for manufacturing circuit pattern of printed circuit board using resist plating by pure metal |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090410 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090421 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090617 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090804 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090805 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4358189 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |