JP4356140B2 - 画像の動きベクトル計測方法及び装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像内の物体の動きを表す動きベクトルを計測する方法に関し、
特に、パターンのない一様な画像や、明確な直線パターンを含む画像でも信頼性の高い動きベクトルを計測する、動きベクトル計測方法に関する。
【0002】
動きベクトル計測は、セキュリティ維持のため、特定エリア内に侵入する人や車両等の移動物体を、ビデオカメラで自動検知する侵入監視システム等に用いられる。
【0003】
【従来の技術】
従来、画像内の移動物体を検知する方法としては、図4に示す相関演算を用いた動きベクトル計測法が用いられている。
【0004】
ある時刻における画像フレームf上の局所画像(参照ブロックR)と、次の時刻における画像フレームg上の同じ大きさの局所画像(候補ブロックC)との間の相関演算を、探索ブロックSの範囲で、候補ブロックCの位置を変えながら繰り返すもので、相関値が最大となる候補ブロックCの位置から、参照ブロックRに含まれる物体の動きを示す動きベクトルを求めることができる。
【0005】
ここで、参照ブロックRを取り出す画像を参照画像と呼び、候補ブロックCを取り出す画像を探索画像と呼ぶ。
【0006】
局所相関演算は、具体的には以下の式で示される。
【0007】
【数1】
これは2つの局所画像の差の絶対値和を計算する演算であり、和が小さい程、相関値が大きい、すなわち、探索ブロック上の画像が、参照ブロック上の画像と類似しているとみなすことができる。
【0008】
ここで、D は相関値、S, Rはそれぞれ、探索ブロック、参照ブロック内の画素の強度、h, vはそれぞれ、水平方向、垂直方向の座標をあらわす。
【0009】
図9は従来の動きベクトル計測方法の処理の流れを示し、相関演算で得た相関値配列D(h, v) の最小値D0(h0, v0)に対応する(h0, v0)を動きベクトルとする。
【0010】
図5は相関演算で得られた相関値配列D(h, v) を示し、D が最小値D0となる、(h0, v0)が動きベクトルとなる。
【0011】
図6は通常の画像の動きに対応する相関値配列を3次元的に表現した様子である。この場合、1箇所において、下向きのピーク、すなわち最小相関値D0があり、このピークから得た動きベクトル(h0, v0)は、実際の物体の移動に対応する正しい動きベクトルである。
【0012】
図7はパターンのない一様な画像の動きに対応する相関値配列を表す。パターンのない一様な画像では、候補ブロックCをどこに持ってきても相関値がほとんど変化しないから、相関値配列は一様平坦となる。実際にはノイズが含まれるため、最小相関値D0とそれを与える座標(h0, v0)が出力されるが、それは不定な動きベクトルで、実際の物体の動きに対応したものではない。
【0013】
図8は明確な直線パターンを含む画像に対応する相関値配列である。直線パターンをその直線に沿って移動させても画像が変化しないことから、相関値配列も直線的な尾根を形成する。この尾根上のどこに動きベクトルが決まるかは図7の場合と同様ノイズに依存し、得られた最小相関値D0とそれを与える座標(h0, v0)は、やはり不定な動きベクトルで、実際の動きに対応したものではない。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
以上のように、相関演算を用いた動きベクトル計測法には、パターンのない一様な画像や、明確な直線パターンを含む画像に対しては、ノイズに依存した不定な動きベクトルを出力するという問題点がある。
【0015】
画像パターンを予め解析して、そのような箇所を除く対策も考えられるが、処理量が増すという新たな問題が生じる。
【0016】
本発明は、従来の相関演算を用いた動きベクトル計測法における、ノイズに依存した不定な動きベクトルを除外し、信頼性の高い動きベクトル計測方法を提供することを目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明では、参照画像及び、探索画像間の相関演算で得た相関値配列D(h, v) を解析し、動きベクトルの信頼性を判定することで、ノイズに依存した不定な動きベクトルを除外し、信頼性の高い動きベクトルのみを動きベクトルとして採用することを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
図1に本発明の実施例を示し、図2に本発明による動きベクトル計測方法の処理の流れを示す。
【0019】
本実施例は、セキュリティ維持のため設置されたビデオカメラで、特定エリア内に侵入する、人や車両等の移動物体を自動検知する侵入監視システムに用いられた例を示す。
【0020】
ビデオカメラから順次入力する画像は、ある時刻における入力画像は画像メモリAに蓄えられ、次の時刻における入力画像は画像メモリBにと、交互に蓄えられる。
【0021】
相関演算手段3では、ある時刻における画像を参照画像とし、次の時刻における画像を探索画像として、画像メモリAと画像メモリBを参照し、両画像間での相関演算を実施し、相関値配列を出力する。
【0022】
最小相関値算出手段4では、相関値配列全体から最小相関値D0と、それを与える座標(h0, v0)を算出する。
【0023】
部分最小値算出手段5では、最小相関値算出手段4から得た座標(h0, v0)から所定の距離以内を除いた範囲での相関値の最小値、すなわち部分最小値D1を算出する。
【0024】
図2の例では、相関値の部分最小値D1(h1, v1)の探索範囲として、(h0, v0)の周囲±w を除いた範囲、すなわち|h - h0|≦w 、および|v - v0|≦w をのぞく範囲とした場合を示す。図3は、 w=1とした場合の相関値の部分最小値を求める範囲の例であり、ハッチングの部分が相関値の部分最小値の探索範囲である。
【0025】
信頼性判定手段6では、所定の値 TをもってD1 - D0>T であるかを調べ、真の場合は(h0, v0)を信頼性の高い動きベクトルとして出力する。
【0026】
信頼性の判定結果の出力として、D1 - D0 の値、あるいはD1 - D0>T の判定結果を表すフラグを付加した上で、(h0, v0)を動きベクトルとして出力するようにしてもよい。
【0027】
図6の場合、下向きのピーク頂点がD0となり、他のどこかがD1となるが、D0が明確なピーク頂点であることから、D1 - D0 は所定の値 Tより大きくなり、信頼性の高い動きベクトルと判定される。
【0028】
これに対して、図7の場合は、相関値が平坦であるから、D1 - D0 は所定の値 Tより小さく、信頼性の低い動きベクトルと判定される。
【0029】
図8の場合は、D1, D0共に尾根上のどこかとなるが、両者はほぼ同じ値であるから、やはりD1 - D0 は所定の値 Tより小さく、信頼性の低い動きベクトルと判定される。
【0030】
T の所定値は、例えば図6、図7、図8のごときサンプルを用い、信頼性の高い動きベクトルのD1 - D0 と、信頼性の低い動きベクトルのD1 - D0 との中間の値に定めてもよい。
【0031】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、相関値解析を行い、動きベクトルの信頼性を判定することで、パターンのない一様な画像や明確な直線パターンを含む画像についても、ノイズによる不定な動きベクトルを除外し、信頼性の高い動きベクトルのみを出力することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例
【図2】 本発明による動きベクトル計測方法
【図3】 相関値の部分最小値を求める範囲の例
【図4】 従来技術の説明(相関演算による動きベクトル計測)
【図5】 従来技術の説明(相関値配列)
【図6】 通常の画像の動きに対応する相関値配列
【図7】 パターンのない一様な画像の動きに対応する相関値配列
【図8】 明確な直線パターンを含む画像に対応する相関値配列
【図9】 従来の動きベクトル計測方法
【符号の説明】
R 参照ブロック
C 候補ブロック
S 探索ブロック
(h, v) 動きベクトル
1 画像メモリA
2 画像メモリB
3 相関演算手段
4 最小相関値算出手段
5 部分最小値算出手段
6 信頼性判定手段
Claims (3)
- 相関演算を用いた動きベクトル計測方法であって、
相関演算で得られた相関値配列D(h, v) の最小値D0(h0, v0)と、
座標(h0, v0)から所定の距離以内を除いた範囲での相関値の部分最小値
D1(h1, v1)を求め、
D1 - D0 が所定の値より大きければ、(h0, v0)を動きベクトルとして採用することを特徴とする動きベクトル計測方法。 - 入力画像を蓄える画像メモリA及び画像メモリBと、
画像メモリA及び画像メモリBを参照し、両画像間での相関演算を実施し相関値配列を出力する相関演算手段と、
相関値配列全体から最小相関値D0とそれを与える座標(h0, v0)を算出する最小相関値算出手段と、
最小相関値算出手段から得た座標(h0, v0)及び、座標(h0, v0)から所定の距離以内を除いた範囲での相関値の部分最小値D1を算出する部分最小値算出手段と、
相関値の部分最小値D1と最小相関値D0との差が所定の値より大きい場合は、
(h0, v0)を動きベクトルとして出力する信頼性判定手段とを有することを特徴とする動きベクトル計測装置。 - 請求項2の動きベクトル計測装置であって、相関値の部分最小値D1と最小相関値D0との差を信頼性判定結果として出力することを特徴とする動きベクトル計測装置。
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