JP4345763B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
このレーザプリンタ1は、直接転写タンデム方式のカラーレーザプリンタであって、図1に示すように、略箱型の本体ケーシング2を備えている。本体ケーシング2の前面には、開閉可能な前面カバー3が設けられており、この前面カバー3を開放することにより、プロセス部25を本体ケーシング2内から前方へ引き出すことが可能となる。また、本体ケーシング2の上面には、画像形成後の被記録媒体としての用紙4が積載される排紙トレイ5が形成されている。
図2はスキャナユニット27の構成を説明するための簡略図である。このうち下側の図はスキャナユニット27の左側断面であり、上側の図(各反射ミラーは省略)はスキャナユニット27内を上方から見た図である。なお、同図において右側がレーザプリンタ1の前面側であり、紙面右から左へと用紙4がベルトユニット15によって搬送されることになる。つまり、紙面左方向が、用紙4の搬送方向であり、感光体ドラム31上における副走査方向である。また、上側の図では、レーザ光Lk、レーザ光Lyについて反射ミラーによる折り返しをせずに展開し、下側の図と光学的に等価な光路が示されている。
次に、図3は、レーザダイオードLDk,LDc,LDm,LDyの制御系の構成を表すブロック図である。なお、各レーザダイオードLDk,LDc,LDm,LDyはそれぞれ同様の回路を介して制御手段,バイアス調整手段の一例としてのASIC80に接続されているので、図3にはレーザダイオードLDkに係る回路のみを図示して他は省略した。
図4は、ASIC80における各種制御の実行タイミングを例示するタイムチャートである。図4に示すように、レーザプリンタ1の起動時に、周知の他の制御によりレーザダイオードLDk〜LDyの駆動許可(LD駆動回路動作許可)が発生すると、ASIC80はLDパワー制御部72を介してレーザダイオードLDk〜LDyへの駆動電流を徐々に増加させる。すると、図4に示すように、モニタ電圧も徐々に増加する。
なお、本発明は上記実施の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の形態で実施することができる。例えば、図7に例示するように、パワー切替時にはパワー切替時合格値MAX,パワー切替時合格値MINを設定することなくエラー判定も行わず、上記所定時間経過後のタイミングTにてモニタ電圧が切り替え後の印字パワー合格値MAXと印字パワー合格値MINとの間に入っていればOKとする、すなわちエラーなしと判定することも考えられる。このような制御は、第1BD信号等を利用した他の制御が実行されない場合に有効である。また、上記実施の形態では、各種フラグ処理をASIC80にてハードウェアにより実行しているが、全てソフトウェアで実行してもよい。
27…スキャナユニット 31…感光体ドラム 34…現像カートリッジ
49…ポリゴンモータ 51…ポリゴンミラー 67…第1BDセンサ
71…高速変調回路 72…LDパワー制御部 77…バイアス制御部
LD…レーザダイオード PD…フォトダイオード
Claims (5)
- 半導体レーザが出力したレーザ光により走査露光される感光体を備え、該感光体を介して被記録媒体に画像を形成する画像形成装置であって、
上記半導体レーザから出力されたレーザ光の光量を検出する光量検出手段と、
該光量検出手段が検出した光量に基いて上記光量が目標値に近付くように上記半導体レーザを制御し、上記被記録媒体に対する画像を形成する画像形成中に、上記光量検出手段が検出した光量が上記目標値を含む第2の範囲にあるか否かに基いて異常を判断する制御手段と、
上記光量検出手段が検出した光量が第1の範囲に入ったとき、上記画像形成に先立って上記半導体レーザのバイアスを調整するバイアス調整手段と、
を備え、
上記第1の範囲が上記第2の範囲よりも広く設定されたことを特徴とする画像形成装置。 - 上記目標値が変更されたとき、上記制御手段は、上記光量検出手段が検出した光量がその変更後の目標値を含む第3の範囲にある場合には上記異常を判断せず、その第3の範囲が、上記第1の範囲よりも狭くかつ上記第2の範囲よりも広く設定されたことを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。
- 上記光量検出手段が検出した光量の、その前に検出された光量に対する変化が、異常なデータを無視するため設定された所定量以下の場合、上記制御手段がその光量に基いて上記制御を実行し、上記変化が上記所定量を超えた場合、上記光量検出手段が検出した光量を異常なデータとして無視することを特徴とする請求項1または2記載の画像形成装置。
- 上記光量検出手段が検出した光量の、その前に検出された光量に対する変化が上記所定量を超えた場合、上記制御手段は上記半導体レーザの制御量を維持することを特徴とする請求項3記載の画像形成装置。
- 上記光量検出手段が検出した光量の、その前に検出された光量に対する変化が上記所定量を連続して複数回超えた場合、上記制御手段は該検出された光量に基いて上記半導体レーザを制御することを特徴とする請求項3記載の画像形成装置。
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