JP4334899B2 - 電気泳動速度測定装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、溶液中の粒子の電気泳動速度を測定することができる電気泳動速度測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
高分子やその集合体であるコロイド粒子は、水溶液中で、解離基やイオンの吸着により帯電している。この帯電により形成される電位をゼータ(ζ)電位という。このような粒子の帯電量を調べるには、粒子に電界をかけてその移動速度(電気泳動速度という)を測定することが行われている。
図13は従来の電気泳動速度測定装置の概略断面図である。電気泳動速度測定装置は、直方体又は円筒体のセル101の中に、試料(例えば高分子を含む水溶液)Sを入れて閉じ込めている。セル101の両端面は白金などで形成された電極102,103で構成され、側端面は、透明な石英ガラス104で形成されている。電極102,103に直流電圧を印加しながら、1つの側端面104にほぼ垂直にレーザ光線を入射して、所定角度(散乱角度)θで散乱される出射光を受光し、入射光との振動数の差(干渉現象)を測定することにより、試料S中の粒子の移動速度を算出する。
【0003】
なお、図13の構成では、入射光が側端面104に垂直に入り、散乱光が斜めに出て行くので、後に説明する散乱ベクトルqの方向が、粒子の移動速度の方向(紙面水平方向)から散乱角度θ/2だけ傾くので、粒子の移動速度を求めるには、正味の散乱ベクトルqにcos (θ/2)をかける必要がある。
【0004】
【非特許文献1】
筒井和典「高分子の界面動電現象と測定法」高分子第51巻7月号第500-503頁(2002)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
前記セル内には測定用試料が満たされているが、一般的には、入射光光路と検出用光路が、セル中心付近で交差するように光学配置されており、セル中心付近に存在する粒子の移動速度を観測している。従って、従来は、セル中心部まで入射光が減衰されない非常に希薄な溶液のみを対象としており、試料濃度が高く、光の減衰が大きい場合は、測定精度が著しく悪くなるか、または測定不可能であった。
【0006】
光の減衰を少なくして、より広範囲の濃度領域で測定を行うためには、入射光と逆の方向に、戻ってくる散乱光を測定することが有効である。しかしながら、この場合、観測ベクトルである散乱ベクトル(図11参照)が、電界方向とほぼ直交するため、電界方向に移動する粒子の移動速度の測定が困難となる。
そこで、本発明は、電極面から光を当てることにより、光の減衰が少なく、良好な感度で測定することのできる電気泳動速度測定装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の電気泳動速度測定装置は、試料を閉じ込めることのできるセル、セルの壁の一部を構成する透明電極、 透明電極に対向する他方の電極、両電極に対して電圧を印加する電圧印加手段、透明電極を通してセルの中に光を入射させる光入射部、セル内の試料からの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光を、前記透明電極を通して受光する受光部、並びに入射光と出射光との振動数差に基づいてドップラー変位を測定する測定部とを備え、入射ベクトルと出射ベクトルとの差である散乱ベクトルの方向が、透明電極面の法線とほぼ同じ方向をなしている(請求項1)。
【0008】
この構成によれば、透明電極と他方の電極との間に電圧を印加して、透明電極を通してセルの中に光を入射させると、試料からの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光を受光することができる。
入射光の伝播方向の単位ベクトルをki、出射光の伝播方向の単位ベクトルをksで表す。図11は、入射ベクトルkiと出射ベクトルksとの関係を示す図であり、入射ベクトルkiと出射ベクトルksとのなす散乱角はθとなっている。入射ベクトルkiから出射ベクトルksを引いたベクトルqを散乱ベクトルという。
【0009】
q=ki−ks
この発明の構成では、散乱ベクトルqの方向が、透明電極の法線と同じ向きになっている。「入射光と出射光との振動数差に基づいてドップラー変位を測定する測定部」が測定可能なドップラー変位は、散乱ベクトルqの方向の変位であるので、測定部は、透明電極の法線方向の粒子の移動速度を測定することができる。透明電極の法線の方向は、電界の方向であるので、散乱ベクトルの向きが電界の方向とほぼ一致する(請求項2)。その結果、電極面からあまり奥に入らない部分の、電界の方向に沿った粒子の移動速度を測定できる。
【0010】
透明電極のセル内面側に白金又は白金合金が被覆されていれば(請求項3)、白金又は白金合金の膜は、溶液から透明電極を保護する保護膜として作用する。セルの具体的形状としては、内面形状が、直方体又は円筒体などの筒状体であり、その両端面に前記電極が形成され、一方が透明電極であるという形状が考えられる(請求項4)。
その場合、散乱光測定ポイントを、筒状体の中心線と側面内壁との間の、戻り流の方向が透明電極の面に平行な範囲に設定することが好ましい(請求項5)。図1を参照して説明すると、セル内の粒子の電気泳動速度は矢印Dで示されている。筒状体の端面を構成する透明電極63付近では、周辺から中心への電気浸透流Aの戻り流A1が生じている。この戻り流A1の発生している範囲のうち、戻り流A1の方向がほとんど透明電極63の面に平行であって、法線成分が小さな範囲をBで示す。この戻り流A1の方向がほとんど透明電極の面に平行な範囲Bに向けて光を入射させると、法線方向の電気浸透流に邪魔されずに、試料中の粒子の、法線方向すなわち電界の方向に沿った速度Dを測定できる。
【0011】
前記透明電極は透明基板上に形成されたものであり、前記光入射部は透明基板の側面から光を入射させ、前記受光部は透明基板の側面から出射される光を受光するような構成とすることが好ましい(請求項6)。この構成は、透明基板の側面から光を入射させるので、透明基板の底面から光を入射させる構成と比べて、低い角度で光を入射させることができる。したがって、低角の散乱測定が行える。電気泳動速度の測定では、電気泳動速度に比例する散乱光の周波数シフト(ドップラーシフト)量と、粒子の拡散による周波数の広がりの両方が測定されるが、散乱角度が大きくなると、拡散による周波数の広がりが大きくなり、測定分解能が低下する。そこで、透明基板の側面から光を入射させることで、低角の散乱測定を可能にし、測定の精度を向上させることができる。
【0012】
前記セルを前記透明電極面の法線方向及び法線方向と直角な方向に移動可能にすれば(請求項7)、散乱光測定ポイント(散乱体積部)を、電気浸透流の影響を受けにくいセル内の最適な位置に設定することができる。また透明電極の接液面に散乱体積部が重なると、接液面からの散乱光が受光されるので、これが迷光になり正確な測定ができなくなるが、このような配置にならないようにすることができる。
【0013】
また、前記光入射部又は受光部に、光を散乱体積部に結像させるレンズとして蒲鉾型レンズを使用すれば(請求項8、請求項9)、像のゆがみを修正して、散乱体積部を小さくして、多重散乱や、透明電極の接液面からの散乱の影響を避けることもできる。
本発明の電気泳動速度測定装置は、試料を閉じ込めることのできるセル、セルの壁の一部を構成する不透明電極、 不透明電極に対向する他方の電極、両電極に対して電圧を印加する電圧印加手段、不透明電極を通してセルの中に光を入射させる光入射部、セル内の試料からの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光を受光する受光部、入射光と出射光との振動数差に基づいてドップラー変位を測定する測定部とを備え、入射ベクトルと出射ベクトルとの差である散乱ベクトルの方向が、透明電極面の法線とほぼ同じ方向をなし、前記不透明電極に、入射光が入射する透明な入射窓と、出射光が出射する透明な出射窓とが設けられている(請求項10)。
【0014】
この構成であれば、電極に入射窓と出射窓とを設けていれば、電極全体を透明にしなくてもよい。入射光は入射窓を通してセル内に入射し、散乱体積部分から散乱光が出射窓を通して出射する。したがって、保護膜を設ける必要がなくなり、製造工程の簡略化ができる。
この構成においても、散乱ベクトルの向きが電界の方向とほぼ一致することが好ましい(請求項11)。
【0015】
また不透明電極のセル内面側に白金又は白金合金を被覆してもよい(請求項12)。
前記不透明電極は透明基板上に形成されたものであり、前記光入射部は透明基板の側面から光を入射させ、前記受光部は透明基板の側面から出射される光を受光することが好ましい(請求項13)。
前記セルを前記透明電極面の法線方向及び法線方向と直角な方向に移動させるセル駆動手段を備えることが好ましい(請求項14)。
【0016】
前記光入射部又は受光部は、光を散乱体積部に結像させるため蒲鉾型レンズ(cylindrical lens)を使用していることが好ましい(請求項15、請求項16)。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
図3は、電気泳動速度測定装置1の全体光路図である。電気泳動速度測定装置1は、レーザ発振装置2、レーザ発振装置2から発射されるレーザ光の光量を調整するNDフィルター3、レーザ光を反射させるミラー4、セルの中に光を入射させるためのレンズ5、試料Sを閉じ込めているセル6、試料Sからの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光を受けるレンズ7、受光光路上にあるピンホール9及びレンズ10、ならびに光電子増倍管若しくはCCD素子などで構成される受光器11からなる光学系を備えている。また、レーザ発振装置2から発射されるレーザ光の一部を分岐するハーフミラー12、NDフィルター13、反射板を一方向に振動させることにより反射光の波長に変調を与えて参照光を作る変調器14、変調器からの参照光と前記出射光とを混合するハーフミラー15からなる参照光学系を備えている。
【0018】
前記レーザ光の波長は限定されないが、例えば波長633nmの赤い可視光が使用される。レーザ光の振動数をν、散乱光の振動数をν′、参照光の振動数をν″で表す。
セル6の電極には直流電源21から直流電圧(例えば数十ボルト)が印加される。電界Eの方向が一方向のままだと、溶液中の粒子の電気泳動速度が常に一方向になり、粒子がセル6の一方に偏るので、ある時間(例えば1秒)ごとに電界Eの方向を切り換える切り換えスイッチ22が設けられている。
【0019】
そして、切り換えスイッチ22の切り換え制御、変調器14及び受光器11の制御を行うコンピュータ制御部23が設けられている。
セル6は、図4に示すように、セルホルダー82に固定されている。セルホルダー82はモータを内蔵したセル駆動部81に連結されており、セルホルダー82はセル駆動部81によって、x方向、y方向に移動可能となっている。したがって、セル6は、x方向、y方向に自由に移動できる。このセル駆動部81のx方向、y方向の移動制御により、入射光と出射光とが交わる試料Sの散乱体積部分の電極からの距離や、同散乱体積部分のセル側面の壁64からの距離を、任意に設定することができる。
【0020】
図1は、セル6の断面図である。セル6の内面形状は直方体又は円筒体となっている。その平行な両端面の一方は透明な石英ガラス61で形成され、他方は白金電極62で形成されている。石英ガラス61の内面には透明電極63が形成されている。側面の壁64は、ガラス、セラミック、樹脂など任意の材質で形成することができる。側面の壁64は、従来のように光透過性が必ずしも要求されないので、材質の透明・不透明は重要ではない。したがって、材料選択の自由度は高い。例えば、テフロン(登録商標)のような撥水性の高い材料を選ぶことにより、試料の付着を少なくし、簡単な洗浄で汚れを落とすことができる。また、反射の少ない暗い色の材質を選ぶことにより、セル内の迷光の発生が少なくなり、より正確な測定ができる。
【0021】
図2は、石英ガラス61及び透明電極63の拡大図であり、石英ガラス61の上にITO膜63aが形成され、ITO膜63aの上に白金63bがコートされている。ITO膜63aと白金63bとをまとめて透明電極63という。入射光は、前記ミラー4、レンズ5、石英ガラス61、透明電極63を通してセル6の中に入射される。試料Sからの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光が、透明電極63、石英ガラス61を通して出射し、前記ピンホール9及びレンズ10を通って受光器11により受光される。透明電極63の法線成分はhで表している。
【0022】
図2から分かるように、セルの中に入射するレーザ光は、石英ガラス61の側面から入射している。石英ガラス61の底面から入射させると、散乱角θを小さな角度に設定しようとすれば、光は石英ガラス61と試料溶液との界面で全反射してしまう。このため、大きな散乱角θでしか測定できなくなる。ところが、散乱角θが大きくなれば、粒子の拡散による振動数の広がりが大きく観測され、これがドップラー変位の測定精度に悪い影響を与える。したがって、小さな散乱角θで測定することが好ましい。そこで、図2に示すように、セルの中に入射するレーザ光を石英ガラス61の側面から入射させているのである。
【0023】
図5は、レーザ光を石英ガラス61の側面から入射させる場合の入射光路図である。レーザ光の石英ガラス61の側面への入射角をψ、石英ガラス61の試料Sに接する面への接触角をφ、石英ガラス61から試料Sに入った光の接触角をθ/2で表している。
ガラスの屈折率nを1.4564とし、試料Sを水としてその屈折率を1とする。散乱角θを20°に設定するには、スネルの法則を使って計算すれば、φ=25.84°、ψ=39.40°とすればよい。
【0024】
このように、レーザ光を石英ガラス61の側面から入射させることによって、低角の散乱角θを得ることができ、分解能の高い正確な測定ができる。石英に代えて他のガラスを用いても基本的に同じことがいえる。
なお、石英ガラス61にレーザ光を斜めに入射させるので、レンズ5を通ったレーザ光の焦点は、図5のF方向から見た場合の焦点距離のほうが、図5の紙面に垂直な方向から見た焦点距離よりも長くなる。図6(a)は、レーザ発振装置2のレーザ光を、NDフィルター3、レンズ5を通して石英ガラス61の側面から入射させる状態を示す側面図、図6(b)は同平面図である。図6(a)における焦点位置P1は、図6(b)における焦点位置P2よりも短くなっていて、その差をΔfで表している。
【0025】
そこで2つの焦点位置を一致させΔf=0とするために、レンズ5に蒲鉾レンズを追加するとよい。図7は、レーザ光を石英ガラス61の側面に入射させる光路に蒲鉾レンズ5aを追加した状態を示す。なお、図7に示していないが、石英ガラス61の側面から出射する光路にも蒲鉾レンズを挿入する。これにより、2つの焦点位置を一致させ、像のゆがみをなくして、散乱体積を小さく絞ることができる。したがって、濃厚な試料Sにおける多重散乱の影響を最小限にできるので、測定の精度を上げることができる。
【0026】
また、散乱体積を小さくすることができれば、セル駆動部81の操作により、試料Sの測定点を、電極面に極力近づけることができる。したがって、試料S中の光路長を最小にすることができるので、特に濃厚な試料Sの場合、光減衰を少なくできで有利である。
以上に説明した電気泳動速度測定装置1において、受光器11は、試料に電界をかけたときの参照光と散乱光との振動数の変化Δν=ν′−ν″を検出し、これに基づいて粒子の電界Eの方向に沿った速度を測定することができる。ここでドップラー変位Δνは、
Δν=(νq/2π)cos(θ/2)=(νn/λ)sin θ
で表される。ここでνは粒子の移動速度、qは散乱ベクトルの大きさ、nは試料媒体の屈折率、λは媒体内の光の波長である。n,λ,θは既知であるから、ドップラー変位Δνを測定して、粒子の移動速度νを求めることができる。
【0027】
次に、セル6の方の面に設置される石英ガラス及び電極の変形例を説明する。
図8は、石英ガラス61の側面、すなわち光の入射面61aを斜めにカットした断面図を示す。これにより、入射光と石英ガラス61との入射角、出射光と石英ガラス61との出射角を直角にし、入射光が石英ガラス61の中に入る際の反射量を低減させ、散乱光線が石英ガラス61の中から出て行く際に内面反射量を低減させている。
【0028】
図9(a)は、石英ガラス61の試料側の面に白金膜63cを不透明になるまで厚く形成した例を示す側断面図であり、図9(b)は、同正面図である。白金膜63cに光を通す機能はなく、電極として機能している。入射光線が通過する個所と散乱光線が通過する個所との、少なくとも2箇所は、白金膜63cを形成しないで、石英ガラス61が露出している。この石英ガラス61が露出した入射光線が通過する個所を入射窓61b、散乱光が通過する個所を出射窓61cという。この構成によれば、ITO膜を設けなくても、入射窓61bと出射窓61cとを通して、セル内の粒子の移動速度をドップラー測定することができる。白金膜63cを厚く形成することができるので、電極の電気抵抗を低くすることが容易にできる。
【0029】
図10は、石英ガラス61の試料側の面を、入射光が入射する個所と、散乱光が出射する個所とを除いて所定の厚さだけ削り取り、その削り取った部分に、白金膜63cを形成した状態を示す断面図である。この構造においても、図9と同じく、この石英ガラス61が露出した入射窓61bを通って入射光線が通過し、出射窓61cを通って散乱光が通過する。白金膜63cは光を通す機能はなく、電極として機能している。
【0030】
以上で、本発明の実施の形態を説明したが、本発明の実施は、前記の形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変更を施すことが可能である。
【0031】
【実施例】
図12に示すように、石英ガラス61の上に、幅10mm、厚さ100nmのITO膜63aを、長さ6mmにわたって形成し、その上に白金63bを約4nmコートした。垂直方向の光透過率を測定すると、約50%が得られた。端面間の電気抵抗値を計算してみると、ITOの抵抗率は1.4×10-4Ωcm、端面の断面積は10-5cm2であるから、ITOの抵抗値は8.4Ωとなる。白金の抵抗率は10×1〇-6Ωcmであるが薄膜にするとこの半分くらいになるようである。端面の断面積は4×10-7cm2であるから、白金の抵抗値は38.25Ωとなる。両方の合成抵抗は、1/(1/8.4+1/38.25)=6.9Ωとなる。したがって、白金自体の抵抗率は低いものの、膜厚が薄いため、抵抗値の低減にはそれほど大きく寄与しないことがわかる。
【0032】
図1に示すセル6の石英ガラス61の上に、厚さ100nmのITO膜63aと、その上に厚さ約4nm白金63bを形成して、このセル6の中に、NaClの10mモルと100mモルの2種類の水溶液を入れて、透明電極63に電圧300Vを1秒ごとに切り換えてそれぞれ印加したところ、50時間経過しても、光透過率、電気抵抗に変化は見られなかった。したがって、白金膜の保護膜としての機能が十分に発揮されたと考えられる。
【0033】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、透明電極を通してセルの中に光を入射させ、試料からの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光を、透明電極を通して受光する構成とし、入射光の入射ベクトルと散乱光の出射ベクトルとの差である散乱ベクトルの方向を、透明電極面の法線とほぼ同じ方向に設定しているので、セル内の透明電極面から奥に入らない、透明電極面に近い部分の、透明電極の法線方向すなわち電界の方向に沿った粒子の移動速度を測定できる。したがって、光の減衰が少なく、良好な感度で粒子の移動速度を測定することができる。また、透明電極に代えて、入射窓と出射窓とが設けられた不透明電極を採用してもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に使用するセル6の断面図である。
【図2】セル6の一部を構成する石英ガラス61及び透明電極63の拡大図である。
【図3】本発明の電気泳動速度測定装置1の全体光路図である。
【図4】セル6をx方向、y方向に自由に移動可能とした構成を示す図である。
【図5】レーザ光を石英ガラス61の側面から入射させる場合の入射光路図である。
【図6】 (a)は、レーザ発振装置2のレーザ光を、NDフィルター3、レンズ5を通して石英ガラス61の側面から入射させる状態を示す側面図、(b)は同平面図である。
【図7】レーザ光を石英ガラス61の側面に入射させる光路に蒲鉾レンズ5aを使用した状態を示す斜視図である。
【図8】石英ガラス61の光の入射面61aを斜めにカットした場合の断面図である。
【図9】 (a)は、石英ガラス61の試料側の面に白金膜63cを不透明になるまで厚く形成した例を示す側断面図であり、(b)は同正面図である。
【図10】石英ガラス61の試料側の面を、入射光が入射する個所と、散乱光が出射する個所とを除いて所定の厚さだけ削り取り、その削り取った部分に、白金膜63cを形成した状態を示す断面図である。
【図11】入射ベクトルkiと出射ベクトルksとの関係を示す図である。
【図12】石英ガラス61の上に、透明電極としてITO膜63aを形成し、その上に白金63bをコートした状態を示す斜視図である。
【図13】従来の電気泳動速度測定装置の概略断面図である。
【符号の説明】
1 電気泳動速度測定装置
2 レーザ発振装置
3 NDフィルター
4 ミラー
5 レンズ
5a 蒲鉾レンズ
6 セル
7 レンズ
9 ピンホール
10 レンズ
11 受光器
12 ハーフミラー
13 NDフィルター
14 変調器
15 ハーフミラー
21 直流電源
22 切り換えスイッチ
23 コンピュータ制御部
61 石英ガラス
63 透明電極
63a ITO膜
63b コートされた白金膜
63c 白金膜
61b 入射窓
61c 出射窓
81 セル駆動部
82 セルホルダー
A,A1,A2 電気浸透流
B 戻り流A1の方向がほとんど透明電極の面に平行な領域
C セル壁と中心との間にある中間部
D 粒子の電気泳動速度
E 電界
h 法線成分
S 試料

Claims (16)

  1. 試料を閉じ込めることのできるセルと、セルの壁の一部を構成する透明電極と、透明電極に対向する他方の電極と、両電極に対して電圧を印加する電圧印加手段と、透明電極を通してセルの中に光を入射させる光入射部と、セル内の試料からの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光を、前記透明電極を通して受光する受光部と、並びに入射光と出射光との振動数差に基づいて試料中の粒子のドップラー変位を測定する測定部とを備え、
    入射ベクトルと出射ベクトルとの差である散乱ベクトルの方向が、前記透明電極面の法線とほぼ同じ方向をなすことを特徴とする電気泳動速度測定装置。
  2. 散乱ベクトルの向きが電界の方向とほぼ一致することを特徴とする請求項1記載の電気泳動速度測定装置。
  3. 透明電極のセル内面側に白金又は白金合金が被覆されていることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の電気泳動速度測定装置。
  4. セルの内面形状が筒状体であり、その両端面に前記電極が形成され、一方が透明電極であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  5. 散乱光測定ポイントが、直方体又は円筒体などの筒状体の中心線と側面内壁との間の、戻り流の方向が透明電極の面に平行な範囲に位置することを特徴とする請求項4記載の電気泳動速度測定装置。
  6. 前記透明電極は透明基板上に形成されたものであり、前記光入射部は透明基板の側面から光を入射させ、前記受光部は透明基板の側面から出射される光を受光するものであることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  7. 前記セルを前記透明電極面の法線方向及び法線方向と直角な方向に移動させるセル駆動手段を備えることを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  8. 前記光入射部は、光を散乱体積部に結像させるため蒲鉾型レンズを使用していることを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  9. 前記受光部は、散乱体積部からの光を検出するため蒲鉾型レンズを使用していることを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  10. 試料を閉じ込めることのできるセル、セルの壁の一部を構成する不透明電極、不透明電極に対向する他方の電極、両電極に対して電圧を印加する電圧印加手段、不透明電極を通してセルの中に光を入射させる光入射部、セル内の試料からの散乱光のうち入射角に対して所定角度θで散乱する出射光を受光する受光部、入射光と出射光との振動数差に基づいて試料中の粒子のドップラー変位を測定する測定部とを備え、
    入射ベクトルと出射ベクトルとの差である散乱ベクトルの方向が、不透明電極面の法線とほぼ同じ方向をなし、
    前記不透明電極に、入射光が入射する透明な入射窓と、出射光が出射する透明な出射窓とが設けられていることを特徴とする電気泳動速度測定装置。
  11. 散乱ベクトルの向きが電界の方向とほぼ一致することを特徴とする請求項10記載の電気泳動速度測定装置。
  12. 不透明電極のセル内面側に白金又は白金合金が被覆されていることを特徴とする請求項10又は請求項11記載の電気泳動速度測定装置。
  13. 前記不透明電極は透明基板上に形成されたものであり、前記光入射部は透明基板の側面から光を入射させ、前記受光部は透明基板の側面から出射される光を受光するものであることを特徴とする請求項10〜請求項12のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  14. 前記セルを前記不透明電極面の法線方向及び法線方向と直角な方向に移動させるセル駆動手段を備えることを特徴とする請求項10〜請求項13のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  15. 前記光入射部は、光を散乱体積部に結像させるため蒲鉾型レンズを使用していることを特徴とする請求項10〜請求項14のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
  16. 前記受光部は、散乱体積部からの光を受光するため蒲鉾型レンズを使用していることを特徴とする請求項10〜請求項15のいずれかに記載の電気泳動速度測定装置。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010035775A1 (ja) 2008-09-26 2010-04-01 株式会社堀場製作所 粒子物性測定装置
US9341564B2 (en) 2008-10-09 2016-05-17 Malvern Instruments, Ltd. Apparatus for high-throughput suspension measurements
US8441638B2 (en) * 2010-02-26 2013-05-14 Wyatt Technology Corporation Apparatus to measure particle mobility in solution with scattered and unscattered light
US8451434B2 (en) * 2009-08-11 2013-05-28 Microtrac Inc. Method and apparatus for measuring zeta potential of suspended particles
JP5643497B2 (ja) * 2009-08-31 2014-12-17 株式会社堀場製作所 散乱光を用いた粒子測定装置
US8702942B2 (en) 2010-12-17 2014-04-22 Malvern Instruments, Ltd. Laser doppler electrophoresis using a diffusion barrier
US10648945B2 (en) 2010-12-17 2020-05-12 Malvern Panalytical Limited Laser doppler electrophoresis using a diffusion barrier
JP5805989B2 (ja) * 2011-04-26 2015-11-10 大塚電子株式会社 電気泳動移動度測定用セル並びにそれを用いた測定装置及び測定方法
JP6023184B2 (ja) 2011-06-15 2016-11-09 マルバーン インストゥルメンツ リミテッド 表面電荷測定
EP2860513B1 (en) 2013-10-08 2018-04-25 Anton Paar GmbH Apparatus and method for analyzing a sample which compensate for refraction index related distortions
DE102015003019A1 (de) 2015-03-06 2016-09-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion einer Bewegung in einer biologischen Probe mit räumlicher Ausdehnung
EP3350588B1 (en) * 2015-08-19 2021-05-05 Solaris Nanosciences, Inc. Nondegenerate two-wave mixing for determining the radius of particles
CN105203831B (zh) * 2015-09-30 2018-02-02 丹东百特仪器有限公司 光学法颗粒Zeta电位测量时电位极性测量方法及装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3708402A (en) * 1970-10-19 1973-01-02 Gen Electric Measurements of particles and molecules
US3766048A (en) * 1972-11-24 1973-10-16 Univ Illinois Analysis of polymer mixtures in solution utilizing electrophoretic light scattering apparatus
GB1450911A (en) * 1973-01-17 1976-09-29 Nat Res Dev Laser doppler velocimetry
US4059067A (en) * 1974-10-09 1977-11-22 Balzers Patent-Und Beteiligungs-Aktiengesellschaft Apparatus for determining the rate of flow of particles in a vacuum deposition device
US4025200A (en) * 1975-02-03 1977-05-24 Zeineh Rashid A Soft and line laser
JPS5810753B2 (ja) * 1975-09-29 1983-02-26 シャープ株式会社 エレクトロクロミツクヒヨウジソシノ セイゾウホウホウ
US4097153A (en) * 1976-05-17 1978-06-27 Sentrol Systems Ltd. Method and apparatus for measuring the electrophoretic mobility of suspended particles
US4101220A (en) * 1977-03-31 1978-07-18 General Electric Company Laser Doppler spectroscopy with smoothened spectra line shapes
JPS6042405B2 (ja) * 1978-07-21 1985-09-21 株式会社トキメック パルス式超音波ドツプラ−流速計
JPS55113974A (en) * 1979-02-24 1980-09-02 Ebara Corp Ultrasonic current and flow meter utilizing doppler's shift
JPS56166460A (en) * 1980-05-27 1981-12-21 Shimadzu Corp Cell for measuring electrophoresis
GB8617661D0 (en) * 1986-07-18 1986-08-28 Malvern Instr Ltd Laser doppler velocimetry
JPH083481B2 (ja) * 1989-06-07 1996-01-17 日立ソフトウェアエンジニアリング株式会社 蛍光式電気泳動パターン読み取り装置
WO1994014567A1 (en) * 1992-12-18 1994-07-07 Firebird Traders Ltd. Process and apparatus for etching an image within a solid article
US5325220A (en) * 1993-03-09 1994-06-28 Research Frontiers Incorporated Light valve with low emissivity coating as electrode
US5587532A (en) * 1995-01-12 1996-12-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method of measuring crack propagation in opaque materials
JP2924815B2 (ja) * 1996-09-27 1999-07-26 日本電気株式会社 ゼータ電位測定装置
GB2361772B (en) * 2000-04-29 2004-05-19 Malvern Instr Ltd Mobility and effects arising from surface charge
GB2368904A (en) * 2000-11-10 2002-05-15 Zetatronics Ltd Obtaining informatiion about zeta potential, electrophoretic mobility and numbers of suspended particles
JP2002360237A (ja) * 2001-06-08 2002-12-17 Mitsubishi Chemicals Corp 試料収容容器

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