JP4293191B2 - 画素位置取得方法、画像処理装置、画素位置取得方法をコンピュータ上で実行させるプログラム、及びこのプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents

Description

本発明は、画素位置取得方法、画像処理装置、画素位置取得方法をコンピュータ上で実行させるプログラム、及びこのプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関する。

液晶プロジェクタ等の固定画素方式ディスプレイにおいて、各画素に対して画素特性値（輝度、色度）補正処理を行うことにより固定画素方式ディスプレイの画像・映像の表示品質向上が大幅に向上する。
このような画素特性値補正処理の補正処理手法や補正量は、固定画素方式ディスプレイの表示原理や、製造工程・製造条件などに起因する画素の発光特性・透過特性に基づいて設定されるため、固定画素方式ディスプレイの画素の特性値（画素の発光特性，画素の透過特性の出力として現れる輝度や色度）を正確に取得する技術は重要である。
一般的には固定画素方式ディスプレイで適当な画像・映像を表示し、その表示画面をＣＣＤカメラなどの撮像装置で撮影し、撮影データを解析することにより画素特性値を取得する。

このような固定画素方式ディスプレイの画素特性値の取得方法では、各画素の特性値を正確に取得できなければならない。
各画素の特性値を取得する際の正確さを左右する要因は様々であるが、その中でも固定画素方式ディスプレイの各画素が撮影データ上にマッピングされる位置を正確に取得することは、特に重要である。
このため、従来、特定の分布を持つマーカを表示画面に複数表示させた状態を撮像装置で撮影し、そのマーカの対応付けから表示画面上と撮影データ上との対応関係を算出し、これにより、表示画面の各画素位置が撮影データ上にマッピングされる位置を取得する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
また、画像表示装置上に表示された画像の輪郭を直線として取得し、その輪郭の直線の交点(つまりは表示画像の四隅)から表示画像と撮影データとの射影変換を算出し、その射影変換を用いて撮影データの幾何補正を実施する方法が提案されている（例えば、特許文献２参照）。

特開２００１−３５６００５号公報（図３） 特開２００５−１２２３２３号公報（図１０、図１９）

しかしながら、前記特許文献に記載の技術では、ドット状のマーカや表示画像の四隅の点に基づいて、表示画像の各画素位置と撮影データ上にマッピングされる位置との対応関係を算出しているに過ぎず、高精度に対応関係を導き出せるとは言い難い。
また、これらの特許文献に記載された技術において、高精度に画素位置と撮影データ上にマッピングされる位置との関係を得ようとすると、対応関係を導き出すためのサンプリング点の数が多くなり、その各々について射影変換等を行わなければならないので、演算処理の複雑化を招くという問題がある。

本発明の目的は、ディスプレイの各画素が撮影データ上にマッピングされる位置を高速かつ正確に取得する画素位置取得方法、画像処理装置、画素位置取得方法をコンピュータ上で実行させるプログラム、及びこのプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することにある。

本発明に係る画素位置取得方法は、
スクリーン上に表示された表示画像を撮像装置により撮像し、撮像された撮像データに基づいて、前記スクリーン上に投影される画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を取得する画素位置取得方法であって、
前記画像生成デバイスの垂直方向に沿って延びる複数の直線からなる第１の線画像を、前記スクリーン上に表示させる手順と、
前記第１の線画像による表示画像を前記撮像装置により撮像し、撮像された第１の撮像データを取得する手順と、
前記画像生成デバイスの水平方向に沿って延びる複数の直線からなる第２の線画像を、前記スクリーン上に表示させる手順と、
前記第２の線画像による表示画像を前記撮像装置により撮像し、撮像された第２の撮像データを取得する手順と、
前記第１の撮像データ上にマッピングされた複数の撮像線を、各撮像線を含む領域を単位として切り出す手順と、
切り出された各撮像線の領域に基づいて、前記第１の撮像データにおける各撮像線を表す近似関数を設定する手順と、
前記第２の撮像データ上にマッピングされた複数の撮像線を、各撮像線を含む領域を単位として切り出す手順と、
切り出された各撮像線の領域に基づいて、前記第２の撮像データにおける各撮像線を表す近似関数を設定する手順と、
前記第１の撮像データ及び第２の撮像データで設定された近似関数に基づいて、前記画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順とを備えていることを特徴とする。

このような本発明によれば、テストパターンとなる第１の線画像及び第２の線画像が垂直又は水平方向に延びる複数の直線から構成され、この直線が撮像データ上にマッピングされた撮像線を表す近似関数を設定し、これに基づいて画像生成デバイスの画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを行うことにより、スクリーンと画像生成デバイスからなる画像表示装置に対する撮像装置の位置や、撮像装置を構成するレンズ等の光学素子に起因する撮像データの歪みを、近似関数という形で考慮しながら対応付けを行うことができるため、スクリーン上に投影される画像生成デバイスの画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を高精度に取得することができる。
また、第１の線画像及び第２の線画像を表示させるだけでスクリーン上に投影される画像生成デバイスの画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けが高精度に実行できるため、高速にその対応関係を取得することができる。

本発明では、
前記第１の線画像及び前記第２の線画像は、それぞれの撮像データとの対応を与える少なくとも４つのマーカを含んで構成され、
前記第１又は第２の撮像データ上にマッピングされた複数の撮像線を、各撮像線を含む領域として切り出す手順は、
前記第１の線画像及び前記第１の撮像データのマーカの対応関係に基づいて、前記第１の線画像及び前記第１の撮像データの変換式を設定するステップと、
前記第２の線画像及び前記第２の撮像データのマーカの対応関係に基づいて、前記第２の線画像及び前記第２の撮像データの変換式を設定するステップと、
前記第１又は第２の線画像中の各直線を囲む領域を設定するステップと、
前記第１又は第２の線画像中の各直線を囲む領域を、前記設定された変換式によって変換するステップと、
変換された領域に基づいて、前記第１の撮像データ又は前記第２の撮像データの各撮像線を切り出すステップとを備えているのが好ましい。
ここで、第１の線画像及び第１の撮像データ、又は第２の線画像及び第２の撮像データの変換式の設定は、例えば、射影変換式を用いて簡単に行うことができ、具体的には、撮像データのマッピング位置を与えるベクトルを（ｘ，ｙ）^Ｔとし、表示画像の画素位置を与えるベクトルを（Ｘ，Ｙ）^Ｔとすると、次の変換式（１）により求めることができる。

この発明によれば、マーカによって設定された変換式によって、各撮像線を切り出すための領域を第１の線画像又は第２の線画像で設定すれば、第１の撮像データ又は第２の撮像データ上の切り出す領域を変換式によって簡単に求められるので、複雑な演算処理を行うことなく、第１の撮像データ又は第２の撮像データ上にマッピングされた各撮像線の切り出しを行うことができる。特に、前記変換式（１）のような射影変換行列を用いることにより、変換をより簡単に行うことができる。

本発明では、
各撮像線を表す近似関数を設定する手順は、第１の撮像データ又は第２の撮像データの垂直方向をｙ軸、水平方向をｘ軸としたときに、
第１の撮像データ上にマッピングされた各撮像線は、ｘをｙの多項式として表した近似関数として設定され、
第２の撮像データ上にマッピングされた各撮像線は、ｙをｘの多項式として表した近似関数として設定されるのが好ましい。

この発明によれば、第１の撮像データ又は第２の撮像データ上にマッピングされた各撮像線が多項式で与えられる近似関数として設定されているので、撮像データ上にマッピングされた各撮像線が曲線であったとしても、第１、第２の線画像と、第１、第２の撮像データとの対応を高精度に取ることができる。また、撮像線に応じた多項式による近似関数として設定することにより、近似関数を求めるのに複雑な演算処理を要することなく、これらの対応関係を求めることができる。

本発明では、
画像生成デバイスの画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順は、
第１の線画像上の各直線と第１の撮像データ上の各撮像線との対応付け、並びに、第２の線画像上の各直線と第２の撮像データ上の各撮像線との対応付けを行うステップと、
対応付けされた各撮像線に応じて設定された近似関数に基づいて、第１の撮像データ上の複数の撮像線及び第２の撮像データ上の複数の撮像線の交点を求めるステップと、
求められた各交点に基づいて、第１の撮像データ上の隣り合う２本の撮像線と、第２の撮像データ上の隣り合う２本の撮像線とによって囲まれる領域内の任意の点を与える補間関数を設定するステップとを備えているのが好ましい。

この発明によれば、近似関数により線画像上の各直線と高精度に対応関係が求められた撮像線に基づいて、補間関数を設定することができるので、画像生成デバイスの任意の画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を高精度に求めることができる。

本発明では、
画像生成デバイスの画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順の後に、
既に算出された画像生成デバイスの画素位置とその画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係、並びに、再度算出された画像生成デバイスの画素位置とその画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係に基づいて、良否評価を行う手順を備え、
否と評価された場合、再度第１の線画像をスクリーン上に表示させる手順から、画像生成デバイスの画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順までを繰り返すのが好ましい。

この発明によれば、良否評価を行って、画素位置とその画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を評価しているので、否と評価された場合、再度、画像生成デバイスの画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を求めることで、その対応関係を一層高精度に求めることができる。

本発明では、
繰り返す際の第１の線画像を表示させる手順及び第２の線画像を表示させる手順の少なくともいずれかは、前回よりも各直線の間隔を狭めて更新された線画像を表示させるのが好ましい。
この発明によれば、直線の間隔を狭めて更新された線画像を用いて再度対応関係を求めることにより、第１の撮像データ上にマッピングされた隣り合う２本の撮像線と、第２の撮像データ上にマッピングされた隣り合う２本の撮像線とにより囲まれた領域が前回よりも小さくなるので、その領域内の任意の画素位置とその画素位置が撮像データ上にマッピングされた領域内の位置との対応を、より一層高精度に求めることができる。

本発明では、
繰り返す際の第１の線画像を表示させる手順及び第２の線画像を表示させる手順の少なくともいずれかは、前回とは異なる位置に各直線を配置した線画像を表示させるのが好ましい。
この発明によれば、撮像データ上にマッピングされる撮像線が前回とは異なる位置に配置された状態で対応付けを改めて行うことができるので、前回では検出できなかった撮像データの歪みを検出する可能性が高くなり、領域内の任意の画素位置とその画素位置が撮像データ上にマッピングされた領域内の位置との対応を、高精度に求めることができる。また、線画像中の撮像線の本数は同じなので、演算処理が複雑になることもなく、前回と同様の負荷で対応付けを求めることができる。

本発明は、前述した画素位置取得方法としてのみならず、前記各発明に係る方法を構成する各手順を実行することを特徴とする画像処理装置、コンピュータが前記各発明に係る画素位置取得方法を実行するプログラム、及びこのプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体として成立するものであり、これらの発明によれば、前述した作用及び効果と同様の作用及び効果を享受できる画像処理装置、コンピュータを得ることができる。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
〔第１実施形態〕
図１には、本発明の第１実施形態に係る画素位置取得方法を実施するための画素特性値取得システム１が示されている。この画素特性値取得システム１は、プロジェクタ１００を構成する液晶パネル等の固定画素方式ディスプレイの各画素についての画素特性値、例えば、輝度、色度等を取得し、取得された画素特性値に基づいて、各画素についての補正データを生成するものであり、撮像装置２及びコンピュータ３を備えて構成される。
撮像装置２は、ＣＣＤカメラやＣＭＯＳセンサ等が採用され、スクリーン１０１に対して定点位置に配置され、スクリーン１０１上に投射された画像データに基づく投射画像を撮像して取得された撮像データをコンピュータ３に出力する。

コンピュータ３は、演算処理装置及び記憶装置を備え、撮像装置２から出力された撮像データを処理して、プロジェクタ１００を構成する液晶パネル等により表示された表示画像上の画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応を求め、各画素についての画素特性値を取得する。具体的には、このコンピュータ３は、表示画像取込手段３１、表示画像形成手段３２、マッピング領域取得手段３３、近似関数設定手段３４、画素マッピング算出手段３５、及び画素特性値取得手段３６を備えて構成され、記憶装置には、予め準備された縦線画像データ蓄積部３７、横線画像データ蓄積部３８、特性値取得用画像データ蓄積部３９の他、各機能的手段による取得又は生成データを蓄積する、縦線画像撮像データ蓄積部４０、横線画像撮像データ蓄積部４１、特性値取得用撮像データ蓄積部４２、縦線マッピング領域データ蓄積部４３、横線マッピング領域データ蓄積部４４、縦線マッピングデータ蓄積部４５、横線マッピングデータ蓄積部４６、画素マッピングデータ蓄積部４７、及び画素特性値データ蓄積部４８が確保されている。以下、これらの各機能的手段で行われる処理について詳述する。

〔１〕表示画像取込手段３１及び表示画像形成手段３２における処理
表示画像取込手段３１及び表示画像形成手段３２は、画素特性値取得対象となるプロジェクタ１００に対して所定の画像データを出力し、プロジェクタ１００に所定の表示画像をスクリーン１０１上に表示させ、スクリーン１０１上に表示された表示画像を、撮像装置２によって撮像し、撮像データとして取り込む手段であり、両手段は協働して図２に示されるような一連の処理を実行する。
(1) まず、表示画像形成手段３２は、縦線画像データ蓄積部３７に蓄積された縦線画像データを読み出して取得し（処理Ｓ１）、プロジェクタ１００に取得したデータを送信する（処理Ｓ２）。ここで、縦線画像データは、図３に示されるように、画面上で垂直方向に延びる複数の直線が、水平方向に所定間隔を設けて配置された画像Ａ１であり、実際には、画像データの幅Ｗ、高さＨ、０番目の縦線位置ｗ_０、１番目の縦線位置ｗ_１、２番目の縦線位置ｗ_２…からなるメタデータＡ２として縦線画像データ蓄積部３７に記録されている。

(2) 表示画像形成手段３２は、続けてプロジェクタ１００で縦線画像データの表示を開始したことを表示画像取込手段３１に知らせる（処理Ｓ３）。表示画像取込手段３１は、表示画像形成手段３２からの画像表示が開始された旨の情報を取得すると（処理Ｓ４）、撮像装置２によって表示画像の撮像を行い（処理Ｓ５）、縦線画像撮像データをコンピュータ３内に取り込んで、縦線画像撮像データ蓄積部４０に保存する（処理Ｓ６）。
(3) 撮像データの保存が終了したら、表示画像取込手段３１は、その旨を表示画像形成手段３２に知らせる（処理Ｓ７）。表示画像形成手段３２は、撮像終了の旨の情報を取得したら（処理Ｓ８）、次の横線画像データの取得を開始する（処理Ｓ９）。

(4) 以後、表示画像形成手段３２は、横線画像データ、画素特性値取得用画像データの取得、表示を繰り返し、これに合わせて表示画像取込手段３１は、各画像の撮像データを、順次、横線画像撮像データ蓄積部４１、特性値取得用撮像データ蓄積部４２に保存していく。尚、横線画像データは、図４に示されるように、水平方向に延びる複数の直線が、垂直方向に所定間隔を設けて配置された画像Ａ３であり、横線画像データ蓄積部３８に保存されているのは、画像データの幅Ｗ、高さＨ、０番目の横線位置ｈ_０、１番目の横線位置ｈ_１、２番目の横線位置ｈ_２…というメタデータＡ４である。また、図示を略したが、画素特性値取得用画像データは、すべての画素に一定の輝度、色等を表示させる輝度信号、色信号等から構成され、例えば、各画素の電圧透過特性（ＶＴ−γ）のバラツキが判るようなデータとして特性値取得用画像データ蓄積部３９に蓄積されている。

(5) 表示画像取込手段３１は、横線画像データに基づいて表示された表示画像を撮像装置２で撮像し、横線画像撮像データとして取り込んで横線画像撮像データ蓄積部４１に蓄積し、画素特性値取得用画像データに基づいて表示された表示画像を撮像装置２で撮像し、特性値取得用撮像データとして取り込んで特性値取得用撮像データ蓄積部４２に蓄積する。
(6) 表示画像形成手段３２は、前述したすべての画像データに基づいて、プロジェクタ１００に表示させたか否かを判定し（処理Ｓ９）、すべての画像表示が終了したと判定されたら、その旨を表示画像取込手段３１に知らせ（処理Ｓ１０）、処理を終了する。
(7) 表示画像取込手段３１は、表示画像形成手段３２から画像表示が終了した旨の情報を取得したか否かを判定し（処理Ｓ１１）、終了した旨の情報を取得したら、処理を終了する。

〔２〕マッピング領域取得手段３３における処理
マッピング領域取得手段３３は、前述した縦線画像データＡ１及び横線画像データＡ３と、これらの表示画像を撮像装置２で撮像した縦線画像撮像データ及び横線画像撮像データとの大まかな対応関係を求め、これに基づいて、縦線画像撮像データ及び横線画像撮像データ上の各撮像線を切り出す手段であり、具体的には、図５に示される処理を行う。
(1) まず、マッピング領域取得手段３３は、縦線画像データ蓄積部３７に蓄積された縦線画像データＡ１、及び横線画像データ蓄積部３８に蓄積された横線画像データＡ３を取得する（処理Ｓ１２）。取得された縦線画像データ及び横線画像データを重ね合わせると、図６に示されるように、格子状の画像Ａ５となる。

(2) 次に、マッピング領域取得手段３３は、縦線画像撮像データ蓄積部４０に保存された縦線画像撮像データ、及び横線画像撮像データ蓄積部４１に蓄積された横線画像撮像データを取得する（処理Ｓ１３）。取得された縦線画像撮像データ及び横線画像撮像データを重ね合わせると、図６に示されるように、格子状の画像Ａ５が撮像装置２のスクリーン１０１に対する撮像位置に応じて変形した画像Ａ６として取得される。
(3) マッピング領域取得手段３３は、予め設定された縦線画像データ及び横線画像データとなる画像Ａ５の四隅部分のマーカＣ_Ａ、Ｃ_Ｂ、Ｃ_Ｃ、Ｃ_Ｄの位置を取得する（処理Ｓ１４）。
(4) 続けてマッピング領域取得手段３３は、画像Ａ５のマーカＣ_Ａ、Ｃ_Ｂ、Ｃ_Ｃ、Ｃ_Ｄが撮像データとなる画像Ａ６上にマッピングされたマッピング位置ｃ_Ａ、ｃ_Ｂ、ｃ_Ｃ、ｃ_Ｄを取得する（処理Ｓ１５）。

(5) マッピング領域取得手段３３は、マーカＣ_Ａ、Ｃ_Ｂ、Ｃ_Ｃ、Ｃ_Ｄ及びマッピング位置ｃ_Ａ、ｃ_Ｂ、ｃ_Ｃ、ｃ_Ｄの対応関係に基づいて、射影変換行列を算出する（処理Ｓ１６）。具体的には、ベクトル（ｘ，ｙ）^Ｔについて、座標軸を一つ増やして任意定数ｗを設定し、ベクトル（ｗｘ，ｗｙ，ｗ）^Ｔとすると、射影変換は、以下の式（２）に示される変換式によって表現できる。

この変換式（２）を整理すると、マッピング位置ｃ_Ａ、ｃ_Ｂ、ｃ_Ｃ、ｃ_Ｄのそれぞれのマッピング位置座標（ｘ，ｙ）は、マーカ座標（Ｘ，Ｙ）によって次の式（３）、式（４）で与えられる。

(6) マッピング位置座標（ｘ，ｙ）及びマーカ座標（Ｘ，Ｙ）の対応関係が求められたら、マッピング領域取得手段３３は、例えば、図７に示される縦線画像データを表す画像Ａ７上の直線を、点Ｒ_Ａ、Ｒ_Ｂ、Ｒ_Ｃ、Ｒ_Ｄで囲むことで縦線画像データから切り出す処理を行い、さらに、この各点Ｒ_Ａ、Ｒ_Ｂ、Ｒ_Ｃ、Ｒ_Ｄの座標（Ｘ，Ｙ）から、式（３）、式（４）によって縦線画像撮像データとなる画像Ａ８上にマッピングされた点ｒ_Ａ、ｒ_Ｂ、ｒ_Ｃ、ｒ_Ｄの座標（ｘ，ｙ）を求め、求められた各座標に基づいて、画像Ａ８上の撮像線の切り出しを行い、縦線マッピング領域データを取得する（処理Ｓ１７）。取得された縦線マッピング領域データは、例えば、図７の縦線画像データの左端から３本目の寸法ｗ_２の縦線であれば、画像Ａ９に示されるように、縦線画像データ上での位置ｗ_２と、縦線画像撮像データへのマッピングにより生じる撮像線を含む領域の左上位置（ｘ_２、ｙ_２）、この撮像線を含む領域の幅Δｘ_２、この撮像線を含む領域の高さΔｙ_２、及びこの撮像線を点ｒ_Ａ、ｒ_Ｂ、ｒ_Ｃ、ｒ_Ｄで取り囲んだ領域の撮像データから構成され、縦線マッピング領域データ蓄積部４３に各撮像線毎に蓄積される。尚、横線マッピング領域も縦線の場合と同様の手順で求められ、同様のデータ構造で横線マッピング領域データ蓄積部４４に蓄積される。

〔３〕近似関数設定手段３４における処理
近似関数設定手段３４は、縦線マッピング領域データ蓄積部４３及び横線マッピング領域データ蓄積部４４に蓄積された各マッピング領域データに基づいて、各撮像線を表す近似関数を設定する部分であり、例えば縦線マッピング領域データであれば、図８に示されるフローチャートに示される処理を行って近似関数の設定を行う。
(1) まず、近似関数設定手段３４は、縦線マッピング領域データ蓄積部４３より縦線マッピング領域データを取得する（処理Ｓ１８）。

(2) 次に、近似関数設定手段３４は、縦線画像データの縦線が縦線画像撮像データへマッピングされることにより生じる撮像線の位置を取得する（処理Ｓ１９）。撮像線の位置の取得は、図９に示されるように、画像Ａ１０のような縦線マッピング領域データについて、ある垂直方向位置ｙにおける縦線画像撮像データの水平方向位置ｘの広がりの範囲を求め、これに基づいて、各垂直方向位置ｙにおける水平方向位置ｘの代表値を求めることにより行われる。本実施形態では、図９の画像Ａ１１に示されるように、ある垂直方向位置ｙ_ｊ＋１７に対して撮像線であることを示す輝点は水平方向にｘ_ｉ＋７〜ｘ_ｉ＋１１までの広がりを持っているので、垂直方向位置ｙ_ｊ＋１７に対する水平方向位置ｘは、これら５点の平均値とし、これを縦線画像撮像データ中のすべての垂直方向位置ｙについて算出し、図９のＡ１２のような撮像線を与える（ｘ，ｙ）のデータ群を取得する。

(3) そして、近似関数設定手段３４は、縦線マッピング領域データ中の縦線画像データの縦線が縦線画像撮像データへマッピングされることにより生じる撮像線の位置を、縦線画像撮像データの垂直方向Ｙに関する多項式で縦線画像撮像データの水平方向位置Ｘを表す近似関数に当てはめる（処理Ｓ２０）。具体的には、この近似関数は、水平位置Ｘを垂直位置Ｙの多項式で表現し、多項式の次数をＭ、撮像線上の位置座標の数をＮ、撮像線上の位置座標の撮像データ水平方向成分をｘ、撮像線上の位置座標の撮像データの垂直方向成分をｙ、撮像線上の位置座標の撮像データの水平方向成分の平均値をμｘ、撮像線上の撮像データの垂直方向成分の平均値をμｙ、撮像線上の位置座標の撮像データ水平方向成分の標準偏差をσｘ、撮像線上の撮像データの垂直方向成分の標準偏差をσｙとすると、水平方向位置Ｘ及び垂直方向位置Ｙの関係は、以下の式（５）で与えられる。

(4) 最後に近似関数設定手段３４は、得られた近似式（５）を縦線画像データ上の縦線位置ｗとともに、縦線マッピングデータとして取得し、縦線マッピングデータ蓄積部４５に蓄積する（処理Ｓ２１）。
横線マッピング領域データの場合も、上記縦線マッピング領域データと同様の手順によって横線マッピングデータを取得することとなるが、この場合、画像Ａ１０に相当するデータ群の取得に際しては、各水平方向位置ｘに対する垂直方向位置ｙの広がりの範囲を求め、この垂直方向位置ｙの平均値を求めることにより、垂直位置Ｙを水平位置Ｘの多項式で表す。具体的には、以下の式（６）で与えられ、得られた近似式（６）は、横線画像データの横線位置ｈとともに横線マッピングデータ蓄積部４６に蓄積される。

〔４〕画素マッピング算出手段３５における処理
画素マッピング算出手段３５は、近似関数設定手段３４により得られた縦線マッピングデータ及び横線マッピングデータに基づいて、プロジェクタ１を構成する液晶パネル等により表示された表示画像の画素位置が、これを撮像した撮像データのどこにマッピングされているかを算出する部分であり、具体的には、図１０のフローチャートに示されるような処理を行う。
(1) まず、画素マッピング算出手段３５は、縦線マッピングデータ蓄積部４５に蓄積された縦線マッピングデータを取得し（処理Ｓ２２）、続けて横線マッピングデータ蓄積部４６に蓄積された横線マッピングデータを取得する（処理Ｓ２３）。

(2) 次に、画素マッピング算出手段３５は、縦線マッピングデータと横線マッピングデータの交点を算出し（処理Ｓ２４）、横線マッピングデータ、縦線マッピングデータ、及び両者のデータの交点から、縦線マッピングデータと横線マッピングデータによって構成される四辺形領域内で、固定画素型ディスプレイの液晶パネル等により表示された表示画像の各画素位置が撮像データ上にマッピングされる位置を算出する（処理Ｓ２５）。具体的には、本実施形態では、図１１に示されるように、横線画像撮像データ上の撮像線ｐ_ａ、ｐ_ｂ、縦線画像撮像データ上の撮像線ｑ_ａ、ｑ_ｂの交点ｃ_ａａ、ｃ_ａｂ、ｃ_ｂａ、ｃ_ｂｂ（画像Ａ１３）と、固定画素型ディスプレイの液晶パネル等により表示された横線画像データ上の横線Ｐ_ａ、Ｐ_ｂ、縦線画像データ上の縦線Ｑ_ａ、Ｑ_ｂの交点Ｃ_ａａ、Ｃ_ａｂ、Ｃ_ｂａ、Ｃ_ｂｂ（画像Ａ１４）の対応付けを行い（Ａ１５）、各交点の対応関係から撮像データの位置（ｘ，ｙ）が、表示画像の画素位置（Ｘ，Ｙ）へとどのような補間関数でマッピングされるかを算出する（Ａ１６）。

(3) 画素マッピング算出手段３５による補間関数の算出は、具体的には、画像Ａ１３における四辺形領域内の任意の点ｃ_αβの座標（ｘ，ｙ）は、交点ｃ_ａａの座標（ｘ_ａａ，ｙ_ａａ）、交点ｃ_ａｂの座標（ｘ_ａｂ，ｙ_ａｂ）、交点ｃ_ｂａの座標（ｘ_ｂａ，ｙ_ｂａ）、交点ｃ_ｂｂの座標
（ｘ_ｂｂ，ｙ_ｂｂ）を用いて次の式（７）、式（８）で表現することができる。

ここで、各係数Ｎ_ａａ、Ｎ_ｂａ、Ｎ_ａｂ、Ｎ_ｂｂは、表示画像の四辺形領域における交点Ｃ_ａａ、Ｃ_ｂａ間の水平方向距離をΔＷ、交点Ｃ_ｂａ、Ｃ_ｂｂ間の垂直方向距離をΔＨとすると、次の式（９）〜（１２）で与えられる。つまり、これにより、画像Ａ１３に示される撮像データ上にマッピングされた四辺形領域の任意の点ｃ_αβの座標（ｘ，ｙ）は、画像Ａ１４に示される表示画像上の四辺形領域の対応する点Ｃ_αβの座標（Ｘ、Ｙ）として表現することができ、表示画像上の画素位置とその画素位置が撮像データ上にマッピングされたマッピング位置との対応を与える補間関数が算出できる。

(4) 画素マッピング算出手段３５は、上記の手順により、撮像データ上にマッピングされたすべての四辺形領域内の任意のマッピング位置と、表示画像上のすべての四辺形領域内の任意の画素位置との対応を与える補間関数を算出し、画素マッピングデータとして画素マッピングデータ蓄積部４７に保存する（処理Ｓ２６）。

〔５〕画素特性値取得手段３６における処理
画素特性値取得手段３６は、特性値取得用撮像データ蓄積部４２に蓄積された特性値取得用撮像データと、画素マッピングデータ蓄積部４７に蓄積された画素マッピングデータに基づいて、表示画像上の各画素の特性値を取得する部分であり、次のような手順で画素特性値の取得を行う。
(1) まず、画素特性値取得手段３６は、特性値取得用撮像データ蓄積部４２より特性値取得用撮像データを取得し、撮像データ上での特性値を取得する。特性値としては、例えば、輝度値、色ムラ等の数値データが与えられる。

(2) 次に、画素特性値取得手段３６は、画素マッピングデータ蓄積部４７より画素マッピングデータを取得し、表示画像上の各画素位置と、その画素位置が撮像データ上にマッピングされたマッピング位置との対応に基づいて、表示画像上の各画素位置について、その画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置の輝度値、色ムラ等の特性値データを取得する。
(3) 最後に、画素特性値取得手段３６は、表示画像上のすべての画素位置に応じた特性値データを画素特性値データとして画素特性値データ蓄積部４８に蓄積する。

〔６〕本実施形態の作用
次に、前述した各機能的手段によって実施される画素特性値取得方法の全体の流れを、図１２に示されるフローチャートに基づいて説明する。
(1) 表示画像形成手段３２は、プロジェクタ１００に縦線画像データ、横線画像データ、及び特性値取得用画像データに基づく画像を順次表示させ（処理Ｓ２７）、各画像データによりスクリーン１０１上に表示された表示画像を撮像装置２によって撮像し、表示画像取込手段３１により撮像データとして順次取り込み（処理Ｓ２８）、縦線画像撮像データ蓄積部４０、横線画像撮像データ蓄積部４１、及び特性値取得用撮像データ蓄積部４２に記録保存する（処理Ｓ２９）。
(2) 表示画像取込手段３１により、すべての撮像データの取り込みが終了したと判定されたら（処理Ｓ３０）、マッピング領域取得手段３３は、縦線画像データ及び横線画像データを取得し（処理Ｓ３１）、さらに縦線画像撮像データ及び横線画像撮像データを取得する（処理Ｓ３２）。

(3) マッピング領域取得手段３３は、まず、縦線画像データ上に設定されたマーカ位置が縦線画像撮像データ上のどこにマッピングされているかを把握して、マーカ位置とマッピング位置との対応を表す式（３）、式（４）を算出する（処理Ｓ３３）。そして、式（３）、式（４）が算出されたら、マッピング領域取得手段３３は、縦線画像データ上で設定される各直線を囲む領域を設定し、これに基づいて、式（３）、式（４）によって変換された撮像データ上にマッピングされた領域により、各撮像線の切り出しを行い（処理Ｓ３４）、得られた縦線マッピング領域データを縦線マッピング領域データ蓄積部４３に蓄積する（処理Ｓ３５）。
(4) 同様に横線画像データ及び横線画像撮像データについても、式（３）、式（４）に基づいて撮像データ中の各撮像線の切り出しを行い、横線マッピング領域データとして蓄積し、縦線及び横線のすべての撮像線についてマッピング領域データが取得されるまで、処理を繰り返す（処理Ｓ３６）。

(5) マッピング領域取得手段３３によるマッピング領域データの取得が終了したら、近似関数設定手段３４は、縦線マッピング領域データ及び横線マッピング領域データを取得する（処理Ｓ３７）。
(6) マッピング領域取得手段３３は、縦線マッピング領域データとして格納された各撮像線を与える撮像線の位置を取得し（処理Ｓ３８）、続けてこの撮像線を近似する、式（５）で与えられる多項式の近似関数の当てはめを行う（処理Ｓ３９）。
(7) 得られた近似関数を縦線マッピングデータとして縦線マッピングデータ蓄積部４５に蓄積する（処理Ｓ４０）。
(8) マッピング領域取得手段３３は、横線マッピング領域データに基づいて、横線マッピングデータ中の撮像線を当てはめる式（６）を用いて、同様の手順で近似関数の設定を行い、すべてのマッピング領域データ上の撮像線について近似関数の設定及びマッピングデータの蓄積が終了したら（処理Ｓ４１）、処理を終了する。

(9) 次に、画素マッピング算出手段３５は、縦線マッピングデータ及び横線マッピングデータを取得し（処理Ｓ４２）、各縦線マッピングデータを与える近似関数及び各横線マッピングデータを与える近似関数に基づいて、縦線撮像線と横線撮像線との交点を算出する（処理Ｓ４３）。
(10) 画素マッピング算出手段３５は、縦線マッピングデータ及び横線マッピングデータにより生成される四辺形領域内の任意の点と、この点に対応する縦線画像データ及び横線画像データによる四辺形領域内の点との対応関係を与える補間関数を式（７）及び式（８）に基づいて算出する（処理Ｓ４４）。
(11) 画素マッピング算出手段３５は、算出された補間関数を画素マッピングデータとして蓄積し（処理Ｓ４５）、すべての縦線及び横線内の領域についての補間関数が求められるまで繰り返す（処理Ｓ４６）。

(12) 画素マッピング算出手段３５による補間関数の算出が終了したら、画素特性値取得手段３６は、特性値取得用撮像データ蓄積部４２から特性値取得用撮像データを取得し（処理Ｓ４７）、画素マッピングデータ蓄積部４７から画素マッピングデータを取得し（処理Ｓ４８）、表示画像上の各画素と特性値との関連づけを行い（処理Ｓ４９）、画素特性値データ蓄積部４８に画素特性値データとして蓄積する（処理Ｓ５０）。
このような本実施形態によれば、画素位置取得用の画像データとして縦線データ及び横線データを採用しているので、撮像装置２に起因する、表示画像上の画素位置とその画素位置が撮像データ上にマッピングされる位置との間に生じる複雑な歪みを、近似関数という形で精度よく把握でき、表示画像の画素位置と、その画素位置が撮像データにマッピングされた位置との対応を高精度に取得することができる。
また、前述した式（１）〜（１２）によって高精度な対応関係を把握できるので、複雑な演算処理を行う必要もなく、簡単に高精度な対応関係を求めることができる。

〔第２実施形態〕
次に、本発明の第２実施形態について説明する。尚、以下の説明では既に説明した部分と同一の部分等については、その説明を省略する。
前述の第１実施形態では、画素マッピング算出手段３５による画素マッピングデータを算出した後、直ちに画素特性値取得手段３６によって画素特性値の取得を行うように構成されていた。
これに対して、第２実施形態に係る画素特性値取得システム４では、図１３に示されるように、コンピュータ４内に処理終了判定手段４９が設けられ、画素マッピングデータが適切でないと判定された場合、再度画像データの表示から取り込みを行い、画素マッピング算出手段５０による画素マッピングデータの算出を行い、適切な画素マッピングデータが得られるまで処理を繰り返す点が相違する。

また、前述した第１実施形態では、画素マッピング算出手段３５は、四辺形領域内の任意の点の座標を縦線及び横線の交点のみを用いて算出していた。これに対して、第２実施形態に係る画素マッピング算出手段５０は、図１４に示されるように、四辺形領域内の任意の点の座標を算出するのに、交点及び縦線及び横線の中点を用いている点が相違する。
以下、これらの相違点について詳述する。

まず、画素マッピング算出手段５０は、図１４に示されるように、画像Ａ１８に示される撮像データ上の四辺形領域内の任意の点ｃ_αβと、これに対応する画像Ａ１９に示される画像データ上の点Ｃ_αβとの対応関係を与える補間関数を算出する際に、第１実施形態と同様の交点ｃ_ａａ、ｃ_ａｂ、ｃ_ｂａ、ｃ_ｂｂ（Ａ２０）の他、各交点の中点ｃ_ｐａ、ｃ_ｐｂ、ｃ_ｑａ、ｃ_ｑｂを利用し、これと対応する画像データ上の点Ｃ_ｐａ、Ｃ_ｐｂ、Ｃ_ｐｂ、Ｃ_ｑｂ、との対応関係を求めた上で補間関数を算出している（Ａ２１）。

ここで、点ｃ_ｐａのｘ座標は、交点ｃ_ａａ及びｃ_ｂａのｘ座標を等分する値とし、ｙ座標は横線マッピングデータの近似関数から算出し、点ｃ_ｐｂ、ｃ_ｑａ、ｃ_ｑｂも同様に算出している。
このような交点及び中点を用いて撮像データ中の四辺形領域内の任意の点ｃ_αβの位置座標（ｘ、ｙ）は、各点ｃ_ｉｊの座標値を（ｘ_ｉｊ，ｙ_ｉｊ）とすると、補間関数は、次の式（１３）、式（１４）で与えられる。

式（１３）、式（１４）における係数Ｎ_ａａ、Ｎ_ｂａ、Ｎ_ａｂ、Ｎ_ｂｂ、Ｎ_ｐａ、Ｎ_ｐｂ、Ｎ_ｑａ、Ｎ_ｑｂは、画像Ａ１９に示される画像データの交点Ｃ_ａａ、Ｃ_ｂａ間の距離をΔＷ、Ｃ_ａａ、Ｃ_ａｂ間の距離をΔＨとすると、次の式（１５）〜式（２２）で求められる。

画素マッピング算出手段５０がこのようにして撮像データ上にマッピングされた四辺形領域内の任意の位置と、表示画像の画素位置との対応を与える補間関数を求めることにより、対比するサンプル点が増加するので、任意の位置の対応関係をより高精度に求めることができる。

次に、処理終了判定手段４９は、画素マッピング算出手段５０によって求められた画素マッピングデータの精度が十分でないと判定されたら、再度の画素マッピングデータを生成させる部分であり、具体的には、次の式（２３）で与えられる評価値Errorに基づいて、処理終了の判定を行っている。評価値Errorは、すべての画素について行ってもよいが、予め代表点をＮ個設定しておき、その代表点で評価値がどのように変化するかを判定すればよい。

ここで評価値Errorは、複数回取得された画素マッピングデータ間の差分として算出されており、処理終了判定手段４９は、評価値Errorが十分に小さくなったか、前回の処理後の評価値Errorと、最新の処理後の評価値Errorとの差が十分に小さくなれば処理を終了する。
一方、処理終了判定手段４９が評価値Errorが十分に小さくなっていない、前回との差が大きいと判定した場合、処理終了判定手段４９は、図１５に示されるように、最初の縦線表示画像Ａ２２の縦線のピッチを、画像Ａ２３のように倍に設定した画像データや、縦線のピッチを、画像Ａ２４のように不等間隔に設定した画像データを再構成し、プロジェクタ１００に入力し、これに基づく表示画像を表示させる。横線画像データも同様にして再構成を行う。

次に、前述した第２実施形態に係る画素特性値取得システム４の作用について、図１６に示されるフローチャートに基づいて説明する。
(1) まず、表示画像形成手段３２は、プロジェクタ１００に縦線画像データ、横線画像データ、及び特性値取得用画像データを入力し、スクリーン１０１上にそれぞれの表示画像を表示させつつ（処理Ｓ５１）、表示画像取込手段３１によって各表示画像の撮像及び取り込みを行う（処理Ｓ５２）。

(2) 次に、マッピング領域取得手段３３は、マッピング領域の取得を行い（処理Ｓ５３）、さらに取得されたマッピング領域に基づいて、近似関数設定手段３４は、マッピングデータを取得する（処理Ｓ５４）。
(3) そして、画素マッピング算出手段５０は、前述した処理によって画素マッピングデータの算出を行う（処理Ｓ５５）。ここまでは、第１実施形態と同様の手順である。
(4) 処理終了判定手段４９は、前回算出された画素マッピングデータが存在しているか否かを判定し（処理Ｓ５６）、ない場合は、画像Ａ２３又は画像Ａ２４のような画像データの再構成を行って（処理Ｓ５７）、これをプロジェクタ１００に入力して前記の処理Ｓ５１〜処理Ｓ５５までを繰り返す。

(5) 処理終了判定手段４９は、処理Ｓ５１〜処理Ｓ５５を繰り返して得られた再構成画像データに基づく画素マッピングデータと、前回の画素マッピングデータに基づいて、式（２３）に基づく評価値Errorを算出し（処理Ｓ５８）、評価値Errorが所定の閾値以下かどうか判定する（処理Ｓ５９）。
(6) 評価値Errorが所定の閾値以下となっていないと判定された場合、処理終了判定手段４９は、画像Ａ２３又は画像Ａ２４のような画像データの再構成を行って、これをプロジェクタ１００に入力して処理Ｓ５１〜Ｓ５５を繰り返し、新たな画素マッピングデータの算出を行う。一方、所定の閾値以下となっていると判定された場合、処理を終了し、画素特性値取得手段３６による最新の画素マッピングデータに基づく画素特性値の取得を開始する（処理Ｓ６０）。

〔実施形態の変形〕
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
前記実施形態では、プロジェクタ１００による表示画像の画素特性値取得のために、本発明に係る画素位置取得方法を採用していたが、これに限らず、直視型の液晶ディスプレイや、プラズマディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ等の画素特性値を高精度に取得するために、本発明に係る画素位置取得方法を採用してもよい。
その他、本発明の実施の際の具体的な構造及び形状等は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造等としてもよい。

本発明の第１実施形態に係る画素特性値取得システムの構成を表す模式図。 前記実施形態における表示画像取込手段及び表示画像形成手段における処理を表すフローチャート。 縦線画像データの構成を表す模式図。 横線画像データの構成を表す模式図。 マッピング領域取得手段における処理を表すフローチャート。 マッピング領域取得手段による処理を説明するための模式図。 マッピング領域取得手段による処理を説明するための模式図。 近似関数設定手段における処理を表すフローチャート。 近似関数設定手段による処理を説明するための模式図。 画素マッピング算出手段における処理を表すフローチャート。 画素マッピング算出手段による処理を説明するための模式図。 前記実施形態の作用を表すフローチャート。 本発明の第２実施形態に係る画素特性値取得システムの構成を表す模式図。 前記実施形態における画素マッピング算出手段による処理を説明するための模式図。 前記実施形態における画像データの再構成を説明するための模式図。 前記実施形態の作用を表すフローチャート。

符号の説明

１…画素特性値取得システム、３１…表示画像取込手段、３２…表示画像形成手段、３３…マッピング領域取得手段、３４…近似関数設定手段、３５、５０…画素マッピング算出手段、４９…処理終了判定手段

Claims (10)

1. スクリーン上に表示された表示画像を撮像装置により撮像し、撮像された撮像データに基づいて、前記スクリーン上に投影される画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を取得する画素位置取得方法であって、
   前記画像生成デバイスの垂直方向に沿って延びる複数の直線からなる第１の線画像を、前記スクリーン上に表示させる手順と、
   前記第１の線画像による表示画像を前記撮像装置により撮像し、撮像された第１の撮像データを取得する手順と、
   前記画像生成デバイスの水平方向に沿って延びる複数の直線からなる第２の線画像を、前記スクリーン上に表示させる手順と、
   前記第２の線画像による表示画像を前記撮像装置により撮像し、撮像された第２の撮像データを取得する手順と、
   前記第１の撮像データ上にマッピングされた複数の撮像線を、各撮像線を含む領域を単位として切り出す手順と、
   切り出された各撮像線の領域に基づいて、前記第１の撮像データにおける各撮像線を表す近似関数を設定する手順と、
   前記第２の撮像データ上にマッピングされた複数の撮像線を、各撮像線を含む領域を単位として切り出す手順と、
   切り出された各撮像線の領域に基づいて、前記第２の撮像データにおける各撮像線を表す近似関数を設定する手順と、
   前記第１の撮像データ及び第２の撮像データで設定された近似関数に基づいて、前記画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順とを備えていることを特徴とする画素位置取得方法。
2. 請求項１に記載の画素位置取得方法において、
   前記第１の線画像及び前記第２の線画像は、それぞれの撮像データとの対応を与える少なくとも４つのマーカを含んで構成され、
   前記第１又は第２の撮像データ上にマッピングされた複数の撮像線を、各撮像線を含む領域として切り出す手順は、
   前記第１の線画像及び前記第１の撮像データのマーカの対応関係に基づいて、前記第１の線画像及び前記第１の撮像データの、前記第１の線画像の画素位置を前記撮像データのマッピング位置に変換する変換式を設定するステップと、
   前記第２の線画像及び前記第２の撮像データのマーカの対応関係に基づいて、前記第２の線画像及び前記第２の撮像データの、前記第２の線画像の画素位置を前記撮像データのマッピング位置に変換する変換式を設定するステップと、
   前記第１又は第２の線画像中の各直線を囲む領域を設定するステップと、
   前記第１又は第２の線画像中の各直線を囲む領域を、前記設定された変換式によって変換するステップと、
   変換された領域に基づいて、前記第１の撮像データ又は前記第２の撮像データの各撮像線を切り出すステップとを備えていることを特徴とする画素位置取得方法。
3. 請求項１又は請求項２に記載の画素位置取得方法において、
   前記各撮像線を表す近似関数を設定する手順は、
   前記第１の撮像データ又は前記第２の撮像データの垂直方向をｙ軸、水平方向をｘ軸とするｘｙ座標系を設定したときに、
   前記第１の撮像データ上にマッピングされた各撮像線は、ｘをｙの多項式として表した近似関数として設定され、
   前記第２の撮像データ上にマッピングされた各撮像線は、ｙをｘの多項式として表した近似関数として設定されることを特徴とする画素位置取得方法。
4. 請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の画素位置取得方法において、
   前記画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順は、
   前記第１の線画像上の各直線と前記第１の撮像データ上の各撮像線との対応付け、並びに、前記第２の線画像上の各直線と前記第２の撮像データ上の各撮像線との対応付けを行うステップと、
   対応付けされた各撮像線に応じて設定された近似関数に基づいて、前記第１の撮像データ上の複数の撮像線及び前記第２の撮像データ上の複数の撮像線の交点を求めるステップと、
   求められた各交点に基づいて、前記第１の撮像データ上の隣り合う２本の撮像線と、前記第２の撮像データ上の隣り合う２本の撮像線とによって囲まれる領域内の任意の点を与える補間関数を設定するステップとを備えていることを特徴とする画素位置取得方法。
5. 請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の画素位置取得方法において、
   前記画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順の後に、
   既に算出された前記画像生成デバイスの画素位置と前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係、並びに、再度算出された前記画像生成デバイスの画素位置と前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係に基づいて、良否評価を行う手順を備え、
   否と評価された場合、再度第１の線画像を前記スクリーン上に表示させる手順から前記画像生成デバイスの画素位置と前記画素位置が撮像データ上にマッピングされた位置との対応付けを求める手順までを繰り返すことを特徴とする画素位置取得方法。
6. 請求項５に記載の画素位置取得方法において、
   前記繰り返す際の第１の線画像を表示させる手順及び第２の線画像を表示させる手順の少なくともいずれかは、前回よりも各直線の間隔を狭めて更新された線画像を表示させることを特徴とする画素位置取得方法。
7. 請求項５に記載の画素位置取得方法において、
   前記繰り返す際の第１の線画像を表示させる手順及び第２の線画像を表示させる手順の少なくともいずれかは、前回とは異なる位置に各直線を配置した線画像を表示させることを特徴とする画素位置取得方法。
8. スクリーン上に表示された表示画像を撮像装置により撮像し、撮像された撮像データに基づいて、前記スクリーン上に投影される画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を取得する画像処理装置であって、
   請求項１乃至請求項７に記載の画素位置取得方法を構成する各手順を実行することを特徴とする画像処理装置。
9. スクリーン上に表示された表示画像を撮像装置により撮像し、撮像された撮像データに基づいて、前記スクリーン上に投影される画像生成デバイスの画素位置と、前記画素位置が前記撮像データ上にマッピングされた位置との対応関係を取得する画素位置取得方法をコンピュータ上で実行させるプログラムであって、
   前記コンピュータが請求項１乃至請求項７に記載の画素位置取得方法を構成する各手順を実行することを特徴とするプログラム。
10. 請求項９に記載のプログラムが記録されたことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。

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