JP4279338B1 - 光ディスク装置および光パワーの補正方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光ディスク装置が,半導体レーザの光パワーとモニタ値との関係を表す感度係数を取得する取得部と,光パワーをピークパワーに設定したときの第1のモニタ値を導出する第1の導出部と,光パワーをイレーズパワーに設定したときの第2のモニタ値を導出する第2の導出部と,感度係数に基づいて,前記第1,第2のモニタ値を第1,第2の光パワー値に変換する変換部と,第1,第2の光パワー値の比を算出する第1の算出部と,ピークパワーとイレーズパワーの比の設定値と,前記第1,第2の光パワー値の比の算出値に基づいて,補正係数を算出する第2の算出部と,補正係数に基づいて,前記半導体レーザの光パワーを補正する補正部と,を具備する。
【選択図】図3
Description
上記に鑑み,本発明は,光パワーの補正を可能とする光ディスク装置および光パワーの補正方法を提供することを目的とする。
図1は,本発明の一実施形態に係る光ディスク装置100を表すブロック図である。光ディスク装置100は,光ディスクDに情報を記録及び再生する。
レーザ制御回路31は,半導体レーザ32を制御する。なお,レーザ制御回路31の詳細は後述する。
トラッキングエラー信号TE,フォーカスエラー信号FEがそれぞれ,トラッキング制御部17,フォーカス制御部18に供給され,トラック駆動信号およびフォーカス駆動信号が生成される。トラック駆動信号およびフォーカス駆動信号は,駆動コイル44に供給され,対物レンズ37がトラッキング方向(レンズの光軸と直交する方向)およびフォーカシング方向(レンズの光軸方向)に移動される。この結果,トラッキングサーボ(レーザ光が光ディスクD上に形成されたトラック上を常にトレースする),フォーカスサーボ(レーザ光が光ディスクDの記録層に常時ジャストフォーカスとなる)がなされる。
図2は,レーザ制御回路31の内部構成を表すブロック図である。レーザ制御回路31は,レーザ駆動回路51,S/H部52,APC部53,ACC部54,ADC55,切替スイッチSW,制御部56を有する。
S/H(サンプル・ホールド)部52は,光検出器34からの光パワー検出電流Ip(モニタ信号)をサンプリングし,一定時間保持(ホールド)し,サンプリング信号として出力する。
・感度係数を取得する取得部
・半導体レーザの光パワーをピークパワーに設定したときの第1のモニタ値を導出する第1の導出部
・半導体レーザの光パワーをイレーズパワーに設定したときの第2のモニタ値を導出する第2の導出部
・感度係数に基づいて,第1,第2のモニタ値を第1,第2の光パワー値に変換する変換部
・第1,第2の光パワー値の比を算出する第1の算出部
・補正係数を算出する第2の算出部と,
・補正係数に基づいて,半導体レーザの光パワーを補正する補正部
光ディスク装置100の動作につき説明する。図3は,光ディスク装置100の動作手順の一例を表すフロー図である。
感度係数ξは,光パワーとデジタル値(モニタ値)間の関係(特に,線形関係)を表す係数である。図4は,モニタ値と光パワーとの関係を表すグラフGを表す図である。この図の横軸,縦軸がそれぞれ,モニタ値と光パワーに対応する。感度係数ξ_slope,ξ_offsetはそれぞれ,グラフGの傾き,切片(オフセット値)に対応する。即ち,この例では,感度係数ξは,モニタ値と光パワーとの関係を表す一次式を規定する。
・APC部53が半導体レーザ32をAPCで駆動させ,半導体レーザ32の光パワーとモニタ値間の関係を取得する。即ち,ACC部54は用いられない。このとき,APC部53中のピークAPC部,イレーズAPC部が適宜に選択される。例えば,イレーズAPC部が選択され,半導体レーザ32がイレーズAPCで駆動される。
次の式(1),(2)に基づき,感度係数ξを算出する。
ξ_slope = (P2 - P1) / (D2 - D1) …(1)
ξ_offset = D2 -ξ_slope*P2 …(2)
次に記録で使用するピークパワー,イレーズパワー(ピークパワー,イレーズパワーの設定値)に対応するモニタ値D_peak,D_eraseを取得する。このとき,半導体レーザ32がモノパルスやキャッスルパルスの駆動電流Idで駆動されることが望ましい。半導体レーザ32からの光パワーがある程度の時間一定である方が安定的なモニタ値の取得が容易となる(モニタ値の精度向上)。このとき,半導体レーザ32は,ACC部54によるACCで駆動される。即ち,APC部53は用いられない。
感度係数ξを用いて,記録時に使用されるピークパワー,イレーズパワー(ピークパワー,イレーズパワーの設定値)に対応するモニタ値を光パワー値(ピークパワー,イレーズパワーの実測値)P_peak_real,P_erase_realに変換する。即ち,次の式(3),(4)により,ピークパワー,イレーズパワーの実測値P_peak_real,P_erase_realそれぞれが算出される。
P_erase_real =ξ_slope * D_erase + ξ_offset …(4)
次のようにして,補正係数τが算出される。
・係数ε’の算出
次の(3),(4)式より,係数ε’が算出される。係数ε’は,ピークパワー,イレーズパワーの実測値の比を表す。
ε’ = P_erase_real / P_peak_real
= (ξ_slope * D_erase + ξ_offset) / (ξ_slope * D_peak +ξ_offset)
…(5)
補正係数τは,次の式(6)により算出される。係数εは,ピークパワー,イレーズパワーの設定値の比を表す。
τ = ε / ε’ …(6)
次のようにして,補正係数τを用いて,光パワーを補正できる。
・イレーズパワーを制御する場合
次の式(7),(8)のいずれかを用いて,イレーズパワーP_eraseを補正できる。
P_erase = P_erase * τ …(7)
P_erase = P_peak * ε * τ …(8)
次の式(9),(10)のいずれかを用いて,ピークパワーP_peakを補正できる。
P_peak = P_peak * (1/τ) …(9)
P_peak = (P_erase / ε) * (1 / τ) …(10)
なお,OPC以外においても,光パワーの補正は適用可能である。即ち,補正係数の算出は,OPC前に制限されない。
本発明の実施形態は上記の実施形態に限られず拡張,変更可能であり,拡張,変更した実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
Claims (6)
- 光ディスクに光を照射する半導体レーザと,
前記半導体レーザからの出射光をモニタする光モニタと,
前記半導体レーザの光パワーと前記光モニタでのモニタ値との関係を表す感度係数を取得する取得部と,
前記半導体レーザの光パワーをピークパワーに設定したときの第1のモニタ値を導出する第1の導出部と,
前記半導体レーザの光パワーをイレーズパワーに設定したときの第2のモニタ値を導出する第2の導出部と,
前記感度係数に基づいて,前記第1,第2のモニタ値を第1,第2の光パワー値に変換する変換部と,
前記第1,第2の光パワー値の比を算出する第1の算出部と,
前記ピークパワーとイレーズパワーの比の設定値と,前記第1,第2の光パワー値の比の算出値に基づいて,補正係数を算出する第2の算出部と,
前記補正係数に基づいて,前記半導体レーザの光パワーを補正する補正部と,
を具備することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記感度係数が,光パワーが一定になるように前記半導体レーザが制御されたときの,前記半導体レーザの光パワーと前記光モニタでのモニタ値との関係を表す
ことを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記第1,第2のモニタ値が,電流が一定になるように前記半導体レーザが制御されたときの,前記光モニタでのモニタ値である
ことを特徴とする請求項1または2に記載の光ディスク装置。 - 前記取得部が,
前記半導体レーザの光パワーと前記光モニタでのモニタ値との関係を取得する第1の取得部と,
前記取得された関係を表す感度係数を取得する第2の取得部と,を有する
ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の光ディスク装置。 - 前記感度係数を記憶する記憶部をさらに具備し,
前記取得部が,前記記憶部から前記感度係数を取得する
ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の光ディスク装置。 - 光ディスクに光を照射する半導体レーザの光パワーと光モニタでのモニタ値との関係を表す感度係数を取得するステップと,
前記半導体レーザの光パワーをピークパワーとしたときの第1のモニタ値を導出するステップと,
前記半導体レーザの光パワーをイレーズパワーとしたときの第2のモニタ値を導出するステップと,
前記感度係数に基づいて,前記第1,第2のモニタ値を第1,第2の光パワー値に変換するステップと,
前記第1,第2の光パワー値の比を算出するステップと,
前記ピークパワーとイレーズパワーの比の設定値と,前記第1,第2の光パワー値の比の算出値に基づいて,補正係数を算出するステップと,
前記補正係数に基づいて,前記半導体レーザの光パワーを補正するステップと,
を具備することを特徴とする光パワーの補正方法。
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