JP4261958B2 - 液晶表示パネルの検査方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルの検査方法に係り、特に液晶表示パネルの電極に電圧を印加して点灯状態を判定する検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示パネルは、電極が形成された２枚の基板を貼り合わせて構成されているが、２枚の基板の一方を他方より大きくして延長部を設け、この延長部に電極から延在する配線を引き回して、外部回路と接続を取るための端子を構成していた。
【０００３】
このような液晶表示パネルにおいて、ＬＣＤコントローラやドライバＩＣ等の外部回路を実装する前に、電極の断線もしくは短絡の有無を確認し、液晶表示パネルが正常に点灯するか否かを確認するための点灯確認検査が行われている。
【０００４】
従来の液晶表示パネルの検査装置は、液晶表示パネルの配線と接続を取るプローブピンを有し、プローブピンと液晶表示パネルの電極との位置合わせを行う位置合わせ機構を備えていた。
【０００５】
点灯確認検査は、液晶表示パネルの延長部において、液晶表示パネルの配線（端子の部分も含む）に検査装置のプローブピンを直接接触させて所定の点灯電圧を印加し、その点灯状態によって液晶表示パネルの電極の断線もしくは短絡の有無および正常な点灯状態であるかを検査するものであった。
【０００６】
この点灯確認検査は、各配線とプローブピンを正確に位置合わせしなければならなかったため、例えば、液晶表示パネルに設けられているアライメントマークをＣＣＤカメラによって撮像し、その撮像信号を画像処理ユニットで処理して液晶表示パネルの配線の位置を特定し、その位置データに基づいて液晶表示パネルもしくはプローブピンのいずれかを移動させ、配線とプローブピンとの位置合わせを行う位置合わせ機構が必要であった（特許文献１参照）。
【０００７】
ところで、近年、液晶表示パネルの基板に直接ＩＣチップを実装させたＣＯＧ（Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｇｌａｓｓ）型の液晶表示装置が製造されている。ＣＯＧ型の液晶表示装置は、ＩＣチップを液晶表示パネルの基板上に直接実装しているので、ファインピッチ化でき、軽量薄型化に有利であり、ＩＣチップのパッケージを節約できるのでコスト低下等の効果があった。
【０００８】
上述したとおり、従来の検査方法は、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの位置合わせ作業を行うので、位置合わせ機構として配線の幅程度の位置決め精度が必要であり、特に、ＣＯＧ型の液晶表示パネルにおいては、基板の延長部で配線がファインピッチ化されているため、精密な位置決め精度が求められていた。このため、位置合わせ作業に長時間要していたのである。
【０００９】
この問題を解決するために、液晶表示パネルの配線を交互に延長させ、先端にプローブピンとの接続を取るための拡幅ランドを設けることで、位置決め精度の制限を緩和して位置合わせ作業を容易にする手段が知られている（特許文献２参照）。
【００１０】
【特許文献１】
特開２００３−４３５１７号公報（段落０００２−０００４）
【特許文献２】
特開２０００−１３７２３９号公報（図３−５）
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
上述したとおり、従来の検査方法は、多数本の配線をプローブピンと一対一で接続させるので、接続不良の確率が高く、検査の信頼性に影響を与えていた。
【００１２】
更に、狭額縁化の要求から延長部の面積が小さくなり、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの接続を取る作業の困難性が高まっていた。
【００１３】
また、上記の配線を交互に延長させた構成の液晶表示パネルにおいては、接続を取るための拡幅ランドがジグザグに並んでいるため、位置合わせ作業を一方向（Ｘ軸方向）だけの制御では実現できず、二方向（Ｘ軸およびＹ軸方向）の制御が必要であったため、位置合わせ機構が複雑で高価なものになり、検査時間も長くなっていた。
【００１４】
本発明は、液晶表示パネルの配線に直接検査装置の端子を接続させる検査を容易、確実に行うことができ、検査時間を短縮し、生産性を向上するための検査方法を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために本発明の検査方法は、短配線と、終端の位置が前記短配線よりも延在された長配線とを交互に設けた液晶表示パネルを第１の面電極および第２の面電極を有する検査装置によって検査する方法であって、前記液晶表示パネルの長配線の複数本と前記検査装置の第１の面電極とが接続されるように、且つ前記長配線の複数本および前記液晶表示パネルの短配線の複数本と前記検査装置の第２の面電極とが接続されるように前記液晶表示パネルと前記検査装置の位置合わせを行い、前記長配線の複数本と前記第１の面電極とを接続して検査用の信号を印加し、前記長配線の複数本と前記第１の面電極との接続を維持したまま、前記長配線の複数本および前記短配線の複数本と前記第２の面電極とを接続して検査用の信号を印加することを特徴とする。
【００１６】
このような構成を採用したことにより、１回の位置合わせで、第１の面電極を短配線と交互に存在する液晶表示パネルの長配線と接続させて液晶表示パネルの電極の短絡の有無を検査することができ、続けて第２の面電極を長配線および短配線と接続させて液晶表示パネルの電極の断線や点灯状態の確認をすることができるので、検査時間を短縮することができる。また検査装置の面電極に液晶表示パネルの配線の複数本を接続するので、位置合わせも容易になり、確実に接続を取ることができ、検査時間を短縮することができ、生産性が向上する。
【００１７】
さらに、このような構成を採用したことにより、長配線の複数本と第１の面電極との接続が、第２の面電極を接続する際に生じる液晶表示パネルと検査装置の間の位置ずれ防止の効果を有する。
【００１８】
また、本発明の検査方法は、前記第１の面電極および前記第２の面電極は導電性を有するゴムからなることを特徴とする。
【００１９】
このような構成を採用したことにより、検査装置の面電極を液晶表示パネルの配線と接触させたときに、ゴムの弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。
【００２０】
また、本発明の検査方法は、前記第１の面電極と前記第２の面電極とを駆動する駆動機構を有することを特徴とし、さらに、前記駆動機構は、前記第１の面電極と前記第２の面電極の間の連結部に設けられていてもよい。
【００２１】
このような構成を採用したことにより、駆動機構によって各面電極を動かして液晶表示パネルの配線と接触させて接続をとることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
【００２３】
図１（Ａ）乃至（Ｃ）は、本発明の検査装置１の実施形態を示す概略縦断面図であり、図２は液晶表示パネル１０の概略平面図である。
【００２４】
検査装置１は、第１の面電極２と第２の面電極３を有している。ステージ４の上に載置された液晶表示パネル１０は簡略化しており、電極が形成された第１の基板１１および第２の基板１２と、電極から第１の基板１１の延長部１４まで延在した配線１３のみを示す。
【００２５】
検査装置１の第１の面電極２は、液晶表示パネル１０の複数の配線１３と接続を取るために、従来のプローブピンのような針状や棒状の電極ではなく、液晶表示パネル１０の複数の配線１３と接続するのに必要な面積を有した面状の電極である。
【００２６】
検査装置１の第２の面電極３は、第１の面電極２が接続した配線１３を含みそれ以上の数の配線１３と接続を取るためのものであり、第１の面電極２と同様に、必要な面積を有した面状の電極である。
【００２７】
第１および第２の面電極２，３としては、導電性を有するゴムを用いることができる。この場合、液晶表示パネル１０の配線１３と接触させたときに、ゴムの弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。また、面電極２，３として、可撓性の基板の一方の面に導電性材料をべたに印刷したＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）基板を用いることもできる。ＦＰＣ基板の可撓性の基板として、弾性を有する合成樹脂を使用すれば、液晶表示パネル１０の配線１３と接触させたときに、基板の弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。
【００２８】
第１の面電極２および第２の面電極３は、それぞれ支持部材５、６に固定して、支持部材５，６を動かして第１の面電極２および第２の面電極３を制御してもよい。
【００２９】
第１の面電極２と第２の面電極３とは連結部７によって連結してもよい。連結部７は、図１に示すように両方の支持部材５，６を連結する構成としてもよい。
【００３０】
検査装置１は、ステージ４の上の液晶表示パネル１０の配線１３と、第１の面電極２および第２の面電極３とを接続するための位置合わせ機構（図示せず）を有していてもよい。位置合わせ機構としては、各面電極２，３を別々に移動させる構成としてもよいが、第１および第２の面電極２，３をまとめて、液晶表示パネル１０の配線１３に対して相対的に移動させ、位置合わせを行う構成が好ましい。このような位置合わせ機構として、第１および第２の面電極２，３をまとめて移動する方法（例えば図１の連結部７を移動する方法）やステージ４を移動する方法がある。
【００３１】
ただし、本発明の検査装置１は、面電極２，３を利用して複数の配線１３と同時に接続を取るものであるから、精密な位置合わせを必要としない場合もあり、このような場合にあっては目視で位置合わせをすることもできる。
【００３２】
更に、検査装置１は、第１の面電極２を駆動する駆動機構（図示せず）および第２の面電極３を駆動する駆動機構（図示せず）を有していてもよい。これらの駆動機構は、各面電極２，３を液晶表示パネルの配線１３と接触させるために用いられるものであり、各面電極２，３を動かしても支持部材５，６を動かしても目的を達することができる。
【００３３】
駆動機構として、図１に示すように、第１の面電極２と第２の面電極３を逆方向に連動させる機構を採用すると、一つの駆動機構で両方の面電極２，３を駆動できるので好ましい。特に、駆動機構を第１の面電極２と第２の面電極３の連結部７に設けると検査装置の小型化に有効である。例えば、モータの回転軸に設けたピニオンを、各面電極の支持部材に形成したラックにかみ合わせれば、モータを回転させることで各面電極を逆方向に駆動できる。
【００３４】
検査装置１は、図示していないが、位置合わせ機構や駆動機構を制御し、液晶表示パネル１０に検査用の信号を印加するための制御手段および電源を有している。
【００３５】
検査対象である液晶表示パネル１０は、第１の基板１１を第２の基板１２よりも大きくして延長部１４を設けている（図２参照）。基板の電極から延在した配線１３は、延長部１４における終端の位置を交互に延在させて、終端の位置が延在した長配線１３ａの群と、長配線１３ａに隣接する短配線１３ｂの群とを形成している。
【００３６】
図２の点線で囲った領域１５および領域１６は、それぞれ検査装置１の第１の面電極２および第２の面電極３が接触する場所である。長配線１３ａは領域１５内まで延在させ、短配線１３ｂは領域１６内は延在してもよいが領域１５までは到達しないように終端させる。
【００３７】
また、領域１５と領域１６の間隔は、位置決め精度の要因の一つであり、０．３ｍｍ以上離せば、液晶表示パネルの検査に簡易で敏速な位置合わせ機構を使用することができる。
【００３８】
以上述べた構成の検査装置１による液晶表示パネル１０の検査は次の通りである。
【００３９】
まず、ステージ４の上に液晶表示パネル１０を載置し、位置合わせ機構（図示せず）によって、第１の面電極２が液晶表示パネル１０の長配線１３ａの群と接続されるように、また第２の面電極３が液晶表示パネル１０の長配線１３ａの群および短配線１３ｂの群と接続されるように位置合わせを行う。具体的には、検査装置１の第１の面電極２が液晶表示パネル１０の領域１５に重なり、第２の面電極３が液晶表示パネル１０の領域１６に重なるように位置合わせを行う。
【００４０】
次に、第１の面電極２は、検査装置１の駆動機構（図示せず）によって液晶表示パネル１０の領域１５に接触し、長配線１３ａの複数本と接続を取る（図１（Ｂ）参照）。その後、検査装置１から第１の面電極２を介して長配線１３ａに検査用の信号を印加する。長配線１３ａは、短配線１３ｂと交互に設けられているため、液晶表示パネル１０の電極には一本おきに信号が印加されることになる。液晶表示パネル１０の電極が短絡している場合、まず隣接した電極と短絡するため、一本おきに信号を印加するこの検査によって、液晶表示パネル１０の電極の短絡の有無を確認することができる。
【００４１】
そして、第２の面電極３が、検査装置１の駆動機構（図示せず）によって液晶表示パネル１０の領域１６に接触し、第１の面電極２と接触した長配線１３ａの複数本および隣接する短配線１３ｂの複数本と接続を取る（図１（Ｃ）参照）。第２の面電極３を駆動して接続を取る場合、図１（Ｃ）に示すように、第１の面電極２と長配線１３ａとの接続を解除してもよいが、そのまま接続を維持していてもよい。第２の面電極３を接続させる際に、第１の面電極２と長配線１３ａとの接続を維持しておくと、液晶表示パネルと検査装置の間に生じる位置ずれを防止できる。
【００４２】
その後、検査装置１から第２の面電極３を介して長配線１３ａおよび短配線１３ｂに検査用の信号を印加する。この検査で、液晶表示パネル１０の全ての電極に信号が印加されるので、電極の断線や点灯状態の確認をすることができる。
【００４３】
以上の検査方法においては、第１の面電極２を接触させることによる検査と第２の面電極３を接触させることによる検査との間で、位置合わせを行う必要がないので、非常に短時間で検査を終了することができる。
【００４４】
図３は、ＣＯＧ型の液晶表示パネル１０の概略平面図であり、（Ａ）はＩＣチップ実装前であり、（Ｂ）はＩＣチップ１７実装後である。ＣＯＧ型の液晶表示パネル１０は、ＩＣチップ１７が延長部１４に直接実装されており、配線１３がＩＣチップ実装場所においてファインピッチ化されている。このため、図３においては各配線１３は省略して、領域として配線１３を記載している。
【００４５】
ＩＣチップ１７は、長辺側だけではなく短辺側にもバンプを有しており、図３（Ｂ）に示すように、配線１３は、ＩＣチップ１７の長辺側にも短辺側にも延びている。そして、配線１３のうち隔本に設けられた長配線１３ａは、図３（Ａ）に示すように、ＩＣチップ１７が実装される位置において更に延長されて終端している。
【００４６】
図３（Ａ）において、点線で囲った領域１５は、検査装置１の第１の面電極２が接触する場所であり、領域１６は、検査装置１の第２の面電極３が接触する場所である。そして、領域１５および領域１６の形状から、検査装置１の第１の面電極２が長方形であり、第２の面電極３がコの字形であることが分かる。
【００４７】
領域１５において接触した第１の面電極２は、液晶表示パネル１０の長配線１３ａと接続され、電極の短絡の検査を行うことができる。また、領域１６において接触した第２の面電極３は、長配線１３ａを含む液晶表示パネル１０の配線１３と接続され、電極の断線や点灯状態の検査を行うことができる。
【００４８】
また、図４に示すように、液晶表示パネル１０が複数のＩＣチップを実装する場合は、第１の面電極２および第２の面電極３を平行移動すれば、各ＩＣチップの実装位置における領域１５および領域１６で長配線（図４には図示せず）との接続および配線１３との接続を取ることができる。
【００４９】
この方法は、検査に時間を要するので、より検査時間を短縮するため、検査装置１に第１の面電極２を複数設けて、各ＩＣチップの実装位置における領域１５において、同時に第１の面電極２と長配線（図４には図示せず）との接続を取る構成としてもよい。なお、第２の面電極３についても検査装置１に複数設けてもよいが、図４に示すように、全ての配線１３を横切るような細長い領域１６に対応する形状の電極を設けることで、一度に全ての配線１３と接続を取ることができ有効である。
【００５０】
【発明の効果】
本発明による液晶表示パネルの検査方法は、１回の位置合わせで、第１の面電極を短配線と交互に存在する液晶表示パネルの長配線と接続させて液晶表示パネルの電極の短絡の有無を検査することができ、続けて第２の面電極を長配線および短配線と接続させて液晶表示パネルの電極の断線や点灯状態の確認をすることができるので、検査時間を短縮することができる。また検査装置の面電極に液晶表示パネルの配線の複数本を接続するので、位置合わせも容易になり、確実に接続を取ることができ、検査時間を短縮することができ、生産性が向上する。
【００５１】
長配線の複数本および短配線の複数本と第２の面電極とを接続する際に、長配線の複数本と第１の面電極との接続を維持している場合は、長配線の複数本と第１の面電極との接続が、第２の面電極を接続する際に生じる液晶表示パネルと検査装置の間の位置ずれ防止の効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】 （Ａ）乃至（Ｃ）は本発明の検査装置の実施形態を示す概略縦断面図
【図２】 液晶表示パネルの概略平面図
【図３】 （Ａ）および（Ｂ）は液晶表示パネルの概略平面図
【図４】 液晶表示パネルの概略平面図
【符号の説明】
１ 検査装置
２ 第１の面電極
３ 第２の面電極
７ 連結部
１０ 液晶表示パネル
１３ａ 長配線
１３ｂ 短配線
１５ 第１の面電極の接続領域
１６ 第２の面電極の接続領域
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルの検査方法に係り、特に液晶表示パネルの電極に電圧を印加して点灯状態を判定する検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示パネルは、電極が形成された２枚の基板を貼り合わせて構成されているが、２枚の基板の一方を他方より大きくして延長部を設け、この延長部に電極から延在する配線を引き回して、外部回路と接続を取るための端子を構成していた。
【０００３】
このような液晶表示パネルにおいて、ＬＣＤコントローラやドライバＩＣ等の外部回路を実装する前に、電極の断線もしくは短絡の有無を確認し、液晶表示パネルが正常に点灯するか否かを確認するための点灯確認検査が行われている。
【０００４】
従来の液晶表示パネルの検査装置は、液晶表示パネルの配線と接続を取るプローブピンを有し、プローブピンと液晶表示パネルの電極との位置合わせを行う位置合わせ機構を備えていた。
【０００５】
点灯確認検査は、液晶表示パネルの延長部において、液晶表示パネルの配線（端子の部分も含む）に検査装置のプローブピンを直接接触させて所定の点灯電圧を印加し、その点灯状態によって液晶表示パネルの電極の断線もしくは短絡の有無および正常な点灯状態であるかを検査するものであった。
【０００６】
この点灯確認検査は、各配線とプローブピンを正確に位置合わせしなければならなかったため、例えば、液晶表示パネルに設けられているアライメントマークをＣＣＤカメラによって撮像し、その撮像信号を画像処理ユニットで処理して液晶表示パネルの配線の位置を特定し、その位置データに基づいて液晶表示パネルもしくはプローブピンのいずれかを移動させ、配線とプローブピンとの位置合わせを行う位置合わせ機構が必要であった（特許文献１参照）。
【０００７】
ところで、近年、液晶表示パネルの基板に直接ＩＣチップを実装させたＣＯＧ（Ｃｈｉｐ Ｏｎ Ｇｌａｓｓ）型の液晶表示装置が製造されている。ＣＯＧ型の液晶表示装置は、ＩＣチップを液晶表示パネルの基板上に直接実装しているので、ファインピッチ化でき、軽量薄型化に有利であり、ＩＣチップのパッケージを節約できるのでコスト低下等の効果があった。
【０００８】
上述したとおり、従来の検査方法は、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの位置合わせ作業を行うので、位置合わせ機構として配線の幅程度の位置決め精度が必要であり、特に、ＣＯＧ型の液晶表示パネルにおいては、基板の延長部で配線がファインピッチ化されているため、精密な位置決め精度が求められていた。このため、位置合わせ作業に長時間要していたのである。
【０００９】
この問題を解決するために、液晶表示パネルの配線を交互に延長させ、先端にプローブピンとの接続を取るための拡幅ランドを設けることで、位置決め精度の制限を緩和して位置合わせ作業を容易にする手段が知られている（特許文献２参照）。
【００１０】
【特許文献１】
特開２００３−４３５１７号公報（段落０００２−０００４）
【特許文献２】
特開２０００−１３７２３９号公報（図３−５）
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
上述したとおり、従来の検査方法は、多数本の配線をプローブピンと一対一で接続させるので、接続不良の確率が高く、検査の信頼性に影響を与えていた。
【００１２】
更に、狭額縁化の要求から延長部の面積が小さくなり、液晶表示パネルの配線と検査装置のプローブピンとの接続を取る作業の困難性が高まっていた。
【００１３】
また、上記の配線を交互に延長させた構成の液晶表示パネルにおいては、接続を取るための拡幅ランドがジグザグに並んでいるため、位置合わせ作業を一方向（Ｘ軸方向）だけの制御では実現できず、二方向（Ｘ軸およびＹ軸方向）の制御が必要であったため、位置合わせ機構が複雑で高価なものになり、検査時間も長くなっていた。
【００１４】
本発明は、液晶表示パネルの配線に直接検査装置の端子を接続させる検査を容易、確実に行うことができ、検査時間を短縮し、生産性を向上するための検査方法を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために本発明の検査方法は、短配線と、終端の位置が前記短配線よりも延在された長配線とを交互に設けた液晶表示パネルを第１の面電極および第２の面電極を有する検査装置によって検査する方法であって、前記液晶表示パネルの長配線の複数本と前記検査装置の第１の面電極とが接続されるように、且つ前記長配線の複数本および前記液晶表示パネルの短配線の複数本と前記検査装置の第２の面電極とが接続されるように前記液晶表示パネルと前記検査装置の位置合わせを行い、前記長配線の複数本と前記第１の面電極とを接続して検査用の信号を印加し、前記長配線の複数本と前記第１の面電極との接続を維持したまま、前記長配線の複数本および前記短配線の複数本と前記第２の面電極とを接続して検査用の信号を印加することを特徴とする。
【００１６】
このような構成を採用したことにより、１回の位置合わせで、第１の面電極を短配線と交互に存在する液晶表示パネルの長配線と接続させて液晶表示パネルの電極の短絡の有無を検査することができ、続けて第２の面電極を長配線および短配線と接続させて液晶表示パネルの電極の断線や点灯状態の確認をすることができるので、検査時間を短縮することができる。また検査装置の面電極に液晶表示パネルの配線の複数本を接続するので、位置合わせも容易になり、確実に接続を取ることができ、検査時間を短縮することができ、生産性が向上する。
【００１７】
さらに、このような構成を採用したことにより、長配線の複数本と第１の面電極との接続が、第２の面電極を接続する際に生じる液晶表示パネルと検査装置の間の位置ずれ防止の効果を有する。
【００１８】
また、本発明の検査方法は、前記第１の面電極および前記第２の面電極は導電性を有するゴムからなることを特徴とする。
【００１９】
このような構成を採用したことにより、検査装置の面電極を液晶表示パネルの配線と接触させたときに、ゴムの弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。
【００２０】
また、本発明の検査方法は、前記第１の面電極と前記第２の面電極とを駆動する駆動機構を有することを特徴とし、さらに、前記駆動機構は、前記第１の面電極と前記第２の面電極の間の連結部に設けられていてもよい。
【００２１】
このような構成を採用したことにより、駆動機構によって各面電極を動かして液晶表示パネルの配線と接触させて接続をとることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
【００２３】
図１（Ａ）乃至（Ｃ）は、本発明の検査装置１の実施形態を示す概略縦断面図であり、図２は液晶表示パネル１０の概略平面図である。
【００２４】
検査装置１は、第１の面電極２と第２の面電極３を有している。ステージ４の上に載置された液晶表示パネル１０は簡略化しており、電極が形成された第１の基板１１および第２の基板１２と、電極から第１の基板１１の延長部１４まで延在した配線１３のみを示す。
【００２５】
検査装置１の第１の面電極２は、液晶表示パネル１０の複数の配線１３と接続を取るために、従来のプローブピンのような針状や棒状の電極ではなく、液晶表示パネル１０の複数の配線１３と接続するのに必要な面積を有した面状の電極である。
【００２６】
検査装置１の第２の面電極３は、第１の面電極２が接続した配線１３を含みそれ以上の数の配線１３と接続を取るためのものであり、第１の面電極２と同様に、必要な面積を有した面状の電極である。
【００２７】
第１および第２の面電極２，３としては、導電性を有するゴムを用いることができる。この場合、液晶表示パネル１０の配線１３と接触させたときに、ゴムの弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。また、面電極２，３として、可撓性の基板の一方の面に導電性材料をべたに印刷したＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）基板を用いることもできる。ＦＰＣ基板の可撓性の基板として、弾性を有する合成樹脂を使用すれば、液晶表示パネル１０の配線１３と接触させたときに、基板の弾性により接触面積を増やすことができ、良好な接続を取ることができる。
【００２８】
第１の面電極２および第２の面電極３は、それぞれ支持部材５、６に固定して、支持部材５，６を動かして第１の面電極２および第２の面電極３を制御してもよい。
【００２９】
第１の面電極２と第２の面電極３とは連結部７によって連結してもよい。連結部７は、図１に示すように両方の支持部材５，６を連結する構成としてもよい。
【００３０】
検査装置１は、ステージ４の上の液晶表示パネル１０の配線１３と、第１の面電極２および第２の面電極３とを接続するための位置合わせ機構（図示せず）を有していてもよい。位置合わせ機構としては、各面電極２，３を別々に移動させる構成としてもよいが、第１および第２の面電極２，３をまとめて、液晶表示パネル１０の配線１３に対して相対的に移動させ、位置合わせを行う構成が好ましい。このような位置合わせ機構として、第１および第２の面電極２，３をまとめて移動する方法（例えば図１の連結部７を移動する方法）やステージ４を移動する方法がある。
【００３１】
ただし、本発明の検査装置１は、面電極２，３を利用して複数の配線１３と同時に接続を取るものであるから、精密な位置合わせを必要としない場合もあり、このような場合にあっては目視で位置合わせをすることもできる。
【００３２】
更に、検査装置１は、第１の面電極２を駆動する駆動機構（図示せず）および第２の面電極３を駆動する駆動機構（図示せず）を有していてもよい。これらの駆動機構は、各面電極２，３を液晶表示パネルの配線１３と接触させるために用いられるものであり、各面電極２，３を動かしても支持部材５，６を動かしても目的を達することができる。
【００３３】
駆動機構として、図１に示すように、第１の面電極２と第２の面電極３を逆方向に連動させる機構を採用すると、一つの駆動機構で両方の面電極２，３を駆動できるので好ましい。特に、駆動機構を第１の面電極２と第２の面電極３の連結部７に設けると検査装置の小型化に有効である。例えば、モータの回転軸に設けたピニオンを、各面電極の支持部材に形成したラックにかみ合わせれば、モータを回転させることで各面電極を逆方向に駆動できる。
【００３４】
検査装置１は、図示していないが、位置合わせ機構や駆動機構を制御し、液晶表示パネル１０に検査用の信号を印加するための制御手段および電源を有している。
【００３５】
検査対象である液晶表示パネル１０は、第１の基板１１を第２の基板１２よりも大きくして延長部１４を設けている（図２参照）。基板の電極から延在した配線１３は、延長部１４における終端の位置を交互に延在させて、終端の位置が延在した長配線１３ａの群と、長配線１３ａに隣接する短配線１３ｂの群とを形成している。
【００３６】
図２の点線で囲った領域１５および領域１６は、それぞれ検査装置１の第１の面電極２および第２の面電極３が接触する場所である。長配線１３ａは領域１５内まで延在させ、短配線１３ｂは領域１６内は延在してもよいが領域１５までは到達しないように終端させる。
【００３７】
また、領域１５と領域１６の間隔は、位置決め精度の要因の一つであり、０．３ｍｍ以上離せば、液晶表示パネルの検査に簡易で敏速な位置合わせ機構を使用することができる。
【００３８】
以上述べた構成の検査装置１による液晶表示パネル１０の検査は次の通りである。
【００３９】
まず、ステージ４の上に液晶表示パネル１０を載置し、位置合わせ機構（図示せず）によって、第１の面電極２が液晶表示パネル１０の長配線１３ａの群と接続されるように、また第２の面電極３が液晶表示パネル１０の長配線１３ａの群および短配線１３ｂの群と接続されるように位置合わせを行う。具体的には、検査装置１の第１の面電極２が液晶表示パネル１０の領域１５に重なり、第２の面電極３が液晶表示パネル１０の領域１６に重なるように位置合わせを行う。
【００４０】
次に、第１の面電極２は、検査装置１の駆動機構（図示せず）によって液晶表示パネル１０の領域１５に接触し、長配線１３ａの複数本と接続を取る（図１（Ｂ）参照）。その後、検査装置１から第１の面電極２を介して長配線１３ａに検査用の信号を印加する。長配線１３ａは、短配線１３ｂと交互に設けられているため、液晶表示パネル１０の電極には一本おきに信号が印加されることになる。液晶表示パネル１０の電極が短絡している場合、まず隣接した電極と短絡するため、一本おきに信号を印加するこの検査によって、液晶表示パネル１０の電極の短絡の有無を確認することができる。
【００４１】
そして、第２の面電極３が、検査装置１の駆動機構（図示せず）によって液晶表示パネル１０の領域１６に接触し、第１の面電極２と接触した長配線１３ａの複数本および隣接する短配線１３ｂの複数本と接続を取る（図１（Ｃ）参照）。第２の面電極３を駆動して接続を取る場合、図１（Ｃ）に示すように、第１の面電極２と長配線１３ａとの接続を解除してもよいが、そのまま接続を維持していてもよい。第２の面電極３を接続させる際に、第１の面電極２と長配線１３ａとの接続を維持しておくと、液晶表示パネルと検査装置の間に生じる位置ずれを防止できる。
【００４２】
その後、検査装置１から第２の面電極３を介して長配線１３ａおよび短配線１３ｂに検査用の信号を印加する。この検査で、液晶表示パネル１０の全ての電極に信号が印加されるので、電極の断線や点灯状態の確認をすることができる。
【００４３】
以上の検査方法においては、第１の面電極２を接触させることによる検査と第２の面電極３を接触させることによる検査との間で、位置合わせを行う必要がないので、非常に短時間で検査を終了することができる。
【００４４】
図３は、ＣＯＧ型の液晶表示パネル１０の概略平面図であり、（Ａ）はＩＣチップ実装前であり、（Ｂ）はＩＣチップ１７実装後である。ＣＯＧ型の液晶表示パネル１０は、ＩＣチップ１７が延長部１４に直接実装されており、配線１３がＩＣチップ実装場所においてファインピッチ化されている。このため、図３においては各配線１３は省略して、領域として配線１３を記載している。
【００４５】
ＩＣチップ１７は、長辺側だけではなく短辺側にもバンプを有しており、図３（Ｂ）に示すように、配線１３は、ＩＣチップ１７の長辺側にも短辺側にも延びている。そして、配線１３のうち隔本に設けられた長配線１３ａは、図３（Ａ）に示すように、ＩＣチップ１７が実装される位置において更に延長されて終端している。
【００４６】
図３（Ａ）において、点線で囲った領域１５は、検査装置１の第１の面電極２が接触する場所であり、領域１６は、検査装置１の第２の面電極３が接触する場所である。そして、領域１５および領域１６の形状から、検査装置１の第１の面電極２が長方形であり、第２の面電極３がコの字形であることが分かる。
【００４７】
領域１５において接触した第１の面電極２は、液晶表示パネル１０の長配線１３ａと接続され、電極の短絡の検査を行うことができる。また、領域１６において接触した第２の面電極３は、長配線１３ａを含む液晶表示パネル１０の配線１３と接続され、電極の断線や点灯状態の検査を行うことができる。
【００４８】
また、図４に示すように、液晶表示パネル１０が複数のＩＣチップを実装する場合は、第１の面電極２および第２の面電極３を平行移動すれば、各ＩＣチップの実装位置における領域１５および領域１６で長配線（図４には図示せず）との接続および配線１３との接続を取ることができる。
【００４９】
この方法は、検査に時間を要するので、より検査時間を短縮するため、検査装置１に第１の面電極２を複数設けて、各ＩＣチップの実装位置における領域１５において、同時に第１の面電極２と長配線（図４には図示せず）との接続を取る構成としてもよい。なお、第２の面電極３についても検査装置１に複数設けてもよいが、図４に示すように、全ての配線１３を横切るような細長い領域１６に対応する形状の電極を設けることで、一度に全ての配線１３と接続を取ることができ有効である。
【００５０】
【発明の効果】
本発明による液晶表示パネルの検査方法は、１回の位置合わせで、第１の面電極を短配線と交互に存在する液晶表示パネルの長配線と接続させて液晶表示パネルの電極の短絡の有無を検査することができ、続けて第２の面電極を長配線および短配線と接続させて液晶表示パネルの電極の断線や点灯状態の確認をすることができるので、検査時間を短縮することができる。また検査装置の面電極に液晶表示パネルの配線の複数本を接続するので、位置合わせも容易になり、確実に接続を取ることができ、検査時間を短縮することができ、生産性が向上する。
【００５１】
長配線の複数本および短配線の複数本と第２の面電極とを接続する際に、長配線の複数本と第１の面電極との接続を維持している場合は、長配線の複数本と第１の面電極との接続が、第２の面電極を接続する際に生じる液晶表示パネルと検査装置の間の位置ずれ防止の効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】 （Ａ）乃至（Ｃ）は本発明の検査装置の実施形態を示す概略縦断面図
【図２】 液晶表示パネルの概略平面図
【図３】 （Ａ）および（Ｂ）は液晶表示パネルの概略平面図
【図４】 液晶表示パネルの概略平面図
【符号の説明】
１ 検査装置
２ 第１の面電極
３ 第２の面電極
７ 連結部
１０ 液晶表示パネル
１３ａ 長配線
１３ｂ 短配線
１５ 第１の面電極の接続領域
１６ 第２の面電極の接続領域
Claims (4)
- 短配線と、終端の位置が前記短配線よりも延在された長配線とを交互に設けた液晶表示パネルを第１の面電極および第２の面電極を有する検査装置によって検査する方法であって、
前記液晶表示パネルの長配線の複数本と前記検査装置の第１の面電極とが接続されるように、且つ前記長配線の複数本および前記液晶表示パネルの短配線の複数本と前記検査装置の第２の面電極とが接続されるように前記液晶表示パネルと前記検査装置の位置合わせを行い、
前記長配線の複数本と前記第１の面電極とを接続して検査用の信号を印加し、
前記長配線の複数本と前記第１の面電極との接続を維持したまま、前記長配線の複数本および前記短配線の複数本と前記第２の面電極とを接続して検査用の信号を印加することを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。 - 前記第１の面電極および前記第２の面電極は導電性を有するゴムからなる請求項１に記載の液晶表示パネルの検査方法。
- 前記第１の面電極と前記第２の面電極とを駆動する駆動機構を有する請求項１または２に記載の液晶表示パネルの検査方法。
- 前記駆動機構は、前記第１の面電極と前記第２の面電極の間の連結部に設けられている請求項３に記載の液晶表示パネルの検査方法。
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