JP4252528B2 - Active matrix type liquid crystal display panel and inspection method thereof - Google Patents
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Description
本発明は、絵素電極にスイッチング素子を介して駆動信号を印加し、対向する電極との電位差によって表示を行うアクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法に関する。 The present invention relates to an active matrix liquid crystal display panel that applies a drive signal to a pixel electrode via a switching element and performs display based on a potential difference with an opposing electrode, and an inspection method thereof.
従来、液晶表示装置は、マトリクス状に配列された複数の絵素電極とこれらの絵素電極と対向して配される共通電極である対向電極を備え、両電極間に表示媒体である液晶を介在させている。表示にあたっては、絵素電極に選択的に電位が書き込まれ、この絵素電極と対向電極との間の電圧差により、介在する液晶の光学的変調が行われ、表示パターンとして視認されることとなる。 2. Description of the Related Art Conventionally, a liquid crystal display device includes a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix and a counter electrode that is a common electrode arranged to face these pixel electrodes, and a liquid crystal that is a display medium is provided between the two electrodes. Intervene. In displaying, a potential is selectively written to the pixel electrode, and the liquid crystal optically modulated by the voltage difference between the pixel electrode and the counter electrode is visually recognized as a display pattern. Become.
絵素電極の駆動方法としては、マトリクス状に配された絵素電極のそれぞれにスイッチング素子を接続し、絵素電極個々をスイッチング素子にて駆動する、いわゆるアクティブマトリクス駆動方式が知られている。上記のスイッチング素子としては、TFT(薄膜トランジスタ)、MIM(金属−絶縁膜−金属)素子等が一般的である。 As a pixel electrode driving method, a so-called active matrix driving method is known in which a switching element is connected to each of the pixel electrodes arranged in a matrix and each pixel electrode is driven by the switching element. As said switching element, a TFT (thin film transistor), a MIM (metal-insulating film-metal) element, etc. are common.
アクティブマトリクス型液晶表示装置に備えられるアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、透明な絶縁性基板上に複数の走査線と複数のデータ線とが互いに交差して配設されると共に、各交差部ごとに、絵素電極、該絵素電極を駆動するスイッチング素子が形成されたアクティブマトリクス基板と、透明な絶縁性基板上に対向電極が形成された対向基板とが、各対向面に配向膜を備えると共に、液晶層を介して貼り合わされている。 The active matrix type liquid crystal display panel provided in the active matrix type liquid crystal display device includes a plurality of scanning lines and a plurality of data lines arranged on a transparent insulating substrate so as to intersect each other. An active matrix substrate on which a pixel electrode and a switching element for driving the pixel electrode are formed, and a counter substrate on which a counter electrode is formed on a transparent insulating substrate, each having an alignment film on each counter surface Are bonded together via a liquid crystal layer.
図14に、スイッチング素子としてTFTを用いた前記アクティブマトリクス基板における1絵素部分の構成を示す。走査線2は絵素TFT1のゲート電極に接続され、そこへ入力される走査信号によって絵素TFT1が駆動される。データ線3は絵素TFT1のソース電極に接続され、表示信号が入力される。絵素TFT1のドレイン電極には、絵素電極14及び補助容量の一方の端子が補助容量電極28を介して接続される。補助容量のもう一方の端子は補助容量配線4に接続され、液晶セルの構成とされた場合に対向基板上の対向電極と接続される。絶縁性基板上には、上記の絵素TFT1及び絵素電極14がマトリクス状に配設されている。
FIG. 14 shows a configuration of one picture element portion in the active matrix substrate using a TFT as a switching element. The
図15に、アクティブマトリクス基板の断面構造の一例を示す。絶縁性基板7上にゲート電極8、ゲート絶縁膜9、半導体層10、ソース,ドレイン電極となるn+ −Si層11、データ線3となる金属層12、層間絶縁膜13、絵素電極14となる透明導電層の順に形成されている。絵素電極14は層間絶縁膜13を貫くコンタクトホール15を介して絵素TFT1のドレイン電極に、詳細には補助容量電極28を介して接続されている。
FIG. 15 shows an example of a cross-sectional structure of the active matrix substrate. On the
図15の構造では、走査線2(ゲート電極8と同層)及びデータ線3と絵素電極14との間には層間絶縁膜13が形成されているため、データ線3に対して絵素電極14をオーバーラップさせることが可能となる。この様な構造によると、開口率の向上、データ線3に起因する電界をシールドすることによる液晶の配向不良の抑制といった効果があることが知られている。
In the structure of FIG. 15, since the interlayer
次いで、図16を用いてこれ以降の工程を説明する。図16は、従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置の平面模式図である。但し、図示するのは大型の基板からそれぞれの表示装置に相当する部分ごとに1セルずつに切り出した後の状態である。実際の工程上はこれらが縦横に数セル並んだ状態で生産される場合が多い。 Next, the subsequent steps will be described with reference to FIG. FIG. 16 is a schematic plan view of a conventional active matrix liquid crystal display device. However, what is shown is a state after a cell is cut out from a large substrate for each portion corresponding to each display device. In actual processes, these are often produced in a state where several cells are arranged vertically and horizontally.
完成したアクティブマトリクス基板50の有効表示領域(二点鎖線内)17にポリイミド系の配向膜を成膜し、ラビングなどの処理により、配向機能を付加する。対向基板51においても、ITO(Indium Tin Oxide)などの透明な対向電極(図示せず)を成膜した後、有効表示領域17に当たる部分に同じ処理を施しておく。
A polyimide-based alignment film is formed on the effective display area (inside the two-dot chain line) 17 of the completed
液晶表示パネルの周囲部において、液晶注入口の部分だけあけて、パネルを囲むように印刷方式などによりシール材(図示せず)を塗布し、さらにアクティブマトリクス基板50上の対向基板用信号入力端子27の上に、導電性物質19を付着させた後、液晶層のセル厚を一定にするためのスペーサ(図示せず)を散布し、対向基板51と貼り合わせ、熱を加えてシール材を硬化させる。
In the periphery of the liquid crystal display panel, only the liquid crystal injection hole is opened, and a sealing material (not shown) is applied by a printing method or the like so as to surround the panel. Further, the signal input terminal for the counter substrate on the
その後、液晶注入口から液晶を注入し、封止材により液晶注入口を塞ぎ、液晶表示装置のパネル部分が完成し、これに各データ線3へ表示信号を印加するソースドライバ20a、各走査線2に走査信号を印加するゲートドライバ20b、制御回路(図示せず)、バックライト(図示せず)などの実装部材を取り付けることにより液晶表示装置が完成する。なお、図16に示す液晶表示装置においては、補助容量配線4は設けられていない。
Thereafter, liquid crystal is injected from the liquid crystal injection port, the liquid crystal injection port is closed by a sealing material, and a panel portion of the liquid crystal display device is completed. A
ところで、このような液晶表示装置の検査としては通常、工程における各過程での光学的検査、アクティブマトリクス基板が完成した段階での電気的検査、ドライバなどの実装部材を取り付ける前のパネル部分が完成した時点での点灯検査、電気的検査が行われる。 By the way, the inspection of such a liquid crystal display device is usually completed by an optical inspection in each process in the process, an electrical inspection at the stage when the active matrix substrate is completed, and a panel part before mounting a mounting member such as a driver. Lighting inspection and electrical inspection are performed at the time.
これは、不良部分を後工程に流すことによって材料や作業の無駄が生じることを防ぐためであって、不具合がある場合はこの時点で廃棄されるか、もしくはレーザなどの手段によって修正が施される。 This is to prevent waste of material and work from flowing through the defective part to the subsequent process. If there is a defect, it is discarded at this point or corrected by means such as laser. The
ところが、近年の生産技術の向上により、液晶表示パネルはますます高精細化が進んでおり、それに伴って検査工程においても高度な技術が要求されるようになってきている。 However, with the recent improvement in production technology, liquid crystal display panels are becoming increasingly finer, and accordingly, advanced technology is also required in the inspection process.
すなわち、データ線3や走査線2に信号を入力するための端子はますます狭ピッチになっており、このそれぞれにピンで電気的にコンタクトをとって信号を供給しようとする場合には、極めて精細な高価なプローバを用意せねばならず、また、検査時に端子上に微細なダストが存在しても正常な点灯ができず、検査不良をパネルの不具合と誤認識する場合があり、これを防止するためには検査そのものを極めてクリーン度の高い環境で行わねばならないなど、トータル的にコストアップを余儀なくされることになっていた。
In other words, the terminals for inputting signals to the
そこで、より容易な検査を可能とするために、図16に示す液晶表示装置では、検査時に同一の信号を供給するデータ線3,走査線2を、検査用表示信号線52a・52b・52c,検査用走査信号線53a・53bで短絡しておき、検査後にこれをダイシングで切断線Lに沿って基板ごと切り離したり、レーザ切断などの手段で電気的に切り離すなどの手段を用いるのが一般的である(例えば、特開平07−005481号公報に開示)。
Therefore, in order to enable easier inspection, in the liquid crystal display device shown in FIG. 16, the
ところが、この方法によると、切断にかかる工程数の増加という新たな問題が生じるほか、切断によって生じた配線パターンの破片やガラス屑などによって新たな不良を発生する可能性があるという問題もある。さらに、ダイシングの場合には切断されるべき領域が大判の基板上では無駄な領域となり、パネルの取れ数の上で不利になるという問題もあった。 However, according to this method, there is a new problem that the number of steps for cutting is increased, and there is a problem that a new defect may be generated due to a broken piece of the wiring pattern or glass dust generated by the cutting. Further, in the case of dicing, there is a problem that the area to be cut becomes a useless area on a large-sized substrate, which is disadvantageous in terms of the number of panels to be taken.
また、上記基板の切断時には静電気が発生し、これによりスイッチング素子が静電破壊される虞があるなどの問題もあった。 In addition, there is a problem that static electricity is generated when the substrate is cut, which may cause the switching element to be electrostatically broken.
そこで、切断にかかる工程数の増加を回避する一例として、同一の信号を供給すべき線を電気的に完全に導通しておくのではなく、その部分にTFTなどのスイッチング素子を配置しておき、検査時に必要に応じてこのスイッチング素子を導通させる信号を供給して、予め短絡させておいたのと同様の効果を得る方法が考えられた。 Therefore, as an example of avoiding an increase in the number of steps required for cutting, a line to which the same signal should be supplied is not completely electrically connected, but a switching element such as a TFT is arranged in that portion. There has been considered a method of obtaining the same effect as that in which a signal for conducting the switching element is supplied as necessary at the time of inspection and short-circuited in advance.
このようなスイッチング素子を介して走査線やデータ線に信号を供給するものとして、例えば特開平03−142499号公報には、大判の基板状態でこのスイッチング素子を介して次々と信号を供給し、各絵素を充電させた後、さらにスイッチング素子を介して信号を次々と読み出して画面内の欠陥情報を電気的に得る方法が示されている。 For example, in Japanese Patent Laid-Open No. 03-142499, a signal is supplied one after another through the switching element in a large-sized substrate state as a signal to be supplied to the scanning line and the data line through such a switching element. A method is shown in which after charging each picture element, signals are successively read out via switching elements to obtain defect information in the screen electrically.
この方法では、対向基板を貼り付けるより前の工程で不良のアクティブマトリクス基板を検出できるため、より工程数の無駄を省けるというメリットがある。しかしながら、特にこの方法で点欠陥を検出しようとした場合、極めて微少な電気信号を制度よく読み出す必要があるため、読み出しアンプの設計や回路シーケンス、絵素TFTの時定数と読み出し時間のバランスの最適化など困難な問題が大きいのみならず、特に表示ムラや低輝点の検出においては、電気的検査によって得た結果と実際に表示してみた場合の検査結果との間の隔たりが大きいといった問題があった。 This method is advantageous in that it is possible to detect a defective active matrix substrate in a process prior to attaching the counter substrate, thereby further eliminating the number of processes. However, especially when trying to detect point defects using this method, it is necessary to systematically read out very small electrical signals, so the design of the readout amplifier, the circuit sequence, the balance between the time constant of the pixel TFT and the readout time are optimal. Not only is the problem difficult to make large, but especially in the detection of display unevenness and low bright spots, there is a large gap between the result obtained by the electrical inspection and the inspection result when actually displayed. was there.
そこで、同じくスイッチング素子を介して信号を供給するものであって、従来どおりの点灯検査を行えるように考えられたのが、特開平07−333275号公報に記載されている液晶表示パネルであった。 In view of this, a liquid crystal display panel described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-333275 was designed to supply a signal through a switching element and to be able to perform a conventional lighting test. .
図17に、特開平07−333275号公報に開示されている液晶表示パネルの構成を示す。これにおいては、周縁部近傍表面に近接して設けられた5つの端子z1〜z5に、検査用の信号線x1〜x7が接続されている。さらに、信号線x1・x2・x3と走査線2との間にスイッチング素子であるTFT66が走査線2ごとに個別に形成される一方、信号線x4・x5とデータ線3との間にはTFT67がデータ線3ごとに個別に形成されている。端子z1〜z5から入力された信号は、各TFT67・66を経て絵素部60へと送られる。
FIG. 17 shows a configuration of a liquid crystal display panel disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-333275. In this case, inspection signal lines x1 to x7 are connected to five terminals z1 to z5 provided close to the peripheral surface. Further, a
したがって、液晶表示パネルの検査を行う際、走査線2の端子pやデータ線3の端子qなどの端子に1本ずつ検査信号を供給しなくとも、端子z1〜z5に検査信号を入力するだけで駆動させることができるので、検査の際の手間を省くことができる。
Therefore, when the liquid crystal display panel is inspected, the inspection signals are only input to the terminals z1 to z5 without supplying inspection signals one by one to the terminals p such as the terminal p of the
しかしながら、上記の特開平07−333275号公報の構造では、検査において次のような欠点がある。 However, the structure disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-333275 has the following drawbacks in inspection.
すなわち、図17に示すように、各データ線3に信号を供給すべき検査用の信号線がx4の1本であるため、この検査においては黒または白の単色表示を行って、線欠陥および点欠陥を検知することとなる。
That is, as shown in FIG. 17, since there is one inspection signal line x4 to supply a signal to each
ところが、近年、生産技術の向上によって表示装置により高い表示品位が求められており、輝点はもちろんのこと、黒点についても厳しい基準が設けられつつある。黒点には数種類あるが、ノーマリーホワイト方式で最も多いのが、絵素電極とそれに信号を供給すべきでないデータ線3(一般には隣接絵素に信号を供給するデータ線3)とのリークがあった場合の欠陥であり、単色表示を行った場合に現われるものである。
However, in recent years, display devices have been required to have high display quality due to improvements in production technology, and strict standards are being established not only for bright spots but also for black spots. There are several types of black dots, but the most common in the normally white method is leakage between the pixel electrode and the
上記した従来公報の構成では、隣接するデータ線に異なる信号を流すことができないので、このような黒点を検出できない。表示装置の高精細化が進む昨今、パターンの高密度化と絵素数の増加によって、このタイプの欠陥はますます無視できなくなってきている。 In the configuration of the above-described conventional publication, since different signals cannot be sent to adjacent data lines, such a black spot cannot be detected. With the progress of higher definition display devices, this type of defect is becoming more and more negligible with the increase in pattern density and the number of picture elements.
また、上記した従来公報の構成では、隣接するデータ線に異なる信号を流すことができないので、データ線3・3同士のリークを検出できない。
Further, in the configuration of the above-described conventional publication, since different signals cannot be sent to adjacent data lines, a leak between the
そして、データ線3・3同士のリーク欠陥は、目視検査のみならず電気的検査も行わなければならない。それは、線欠陥が点欠陥より極めて重大な欠陥であるのに加え、リーク部分の経時変化やリーク電流の温度特性によって、目視検査でみつからなかった欠陥が市場で問題をおこすという危険をはらんでいるためである。
The leak defect between the
また、上記特開平07−333275号公報に開示されている液晶表示パネルのように、データ線または走査線にスイッチング素子を介して検査用信号を供給する場合、液晶表示パネルの完成後は上記データ線や走査線はそれぞれ電気的に独立したものである必要があるため、上記スイッチング素子においてリークが生じると、表示上の不具合や誤作動が生じる虞がある。 In addition, when a test signal is supplied to a data line or a scanning line via a switching element as in the liquid crystal display panel disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-333275, the data is displayed after the liquid crystal display panel is completed. Since the lines and the scanning lines need to be electrically independent from each other, if a leak occurs in the switching element, there is a possibility that a display malfunction or malfunction may occur.
また、上記スイッチング素子を介してデータ線や走査線に検査用の信号を供給する配線に静電気が入り込むと、該スイッチング素子のゲート−ドレイン間やゲート−ソース間に高電圧がかかって絶縁破壊が起こり、上述のリーク欠陥をおこす虞がある。 In addition, when static electricity enters a wiring for supplying a test signal to the data line or the scanning line via the switching element, a high voltage is applied between the gate and the drain of the switching element or between the gate and the source, resulting in dielectric breakdown. May occur and cause the above-described leakage defect.
さらに、基板の静電破壊を防止する方法としては、データ線間または走査線間を抵抗素子で接続し、特定のラインに発生した静電気を他のラインに逃がすようにして電荷の分散を図ったアクティブマトリクス基板が従来よりある。しかしながら、このようなアクティブマトリクス基板では、その検査時において、検査用配線を通じてデータ線または走査線に信号を供給する時に、該検査用配線での電圧降下によりデータ線または走査線にかかる電圧が低下するといった問題が生じる。 Furthermore, as a method of preventing electrostatic breakdown of the substrate, the data lines or the scanning lines are connected by a resistance element, and the static electricity generated in a specific line is released to other lines so as to distribute the charges. There are conventional active matrix substrates. However, in such an active matrix substrate, when the signal is supplied to the data line or the scanning line through the inspection wiring at the time of the inspection, the voltage applied to the data line or the scanning line is lowered due to the voltage drop in the inspection wiring. Problem arises.
また、上記検査は、複数枚の液晶表示パネルを大判の基板にて作成したのち、これを1枚ずつに切断して得られる各液晶表示パネルにおいて行なわれるものであるため、その検査効率が低いという問題がある。 Further, the inspection is performed on each liquid crystal display panel obtained by forming a plurality of liquid crystal display panels on a large substrate and then cutting them one by one, so that the inspection efficiency is low. There is a problem.
本発明は、上記3つの公開特許公報にみられるような先行技術の問題点を同時に解決するものであり、不要な領域の増加やその切断にかかる工程増加や不良増加を招くことなく、単色表示によるより精度のよい検査を実現して不良品流出の防止や生産コストの軽減を図るものである。 The present invention solves the problems of the prior art as seen in the above three published patent publications at the same time, without causing an increase in unnecessary areas, an increase in the number of steps for cutting, and an increase in defects. This makes it possible to prevent the outflow of defective products and reduce the production cost by realizing a more accurate inspection.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、上記の課題を解決するために、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするための検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各検査用スイッチング素子には、検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が共通に配設されると共に、検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する制御信号線が、隣接するデータ線に異なる制御信号が入力されるように複数本配設されていることを特徴としている。 In order to solve the above problems, an active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, a pixel switching element individually connected to the pixel electrodes, and the pixel elements. An active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and driving a picture element electrode via a switching element and a counter substrate having a common electrode are bonded via a liquid crystal layer. In the active matrix liquid crystal display panel, the inspection switching elements for switching the supply of the display signal for inspection are individually connected to the plurality of data lines, and the inspection switching elements are connected to the inspection switching elements. An inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the element is provided in common, and an inspection switching element is provided. Control signal lines for inputting a control signal for passing and blocking is is characterized by being a plurality of arranged such different control signals to the adjacent data line is input.
これによれば、まず、複数のデータ線に個別に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするための検査用スイッチング素子が接続されているので、検査後に、検査用の該配線を切り離す必要がなく、工程数は増加しない。なお、検査用スイッチング素子も、絵素スイッチング素子と同工程で作製できるので、工程数の増加はない。 According to this, since the inspection switching element for switching the supply of the display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, it is necessary to disconnect the wiring for inspection after the inspection. There is no increase in the number of processes. Since the inspection switching element can also be manufactured in the same process as the pixel switching element, the number of processes does not increase.
この場合、走査線側にも検査用の走査信号の入力をスイッチングする検査用スイッチング素子を設けておく構成が望ましいが、例えば、検査用の走査信号の入力は、従来の図16に示した構成と同じにしておき、検査後の基板分断工程で、走査線側の検査用の配線を切断してもよく、また、このことによる工程数の増加が許されない場合は、走査線方向に複数枚パネルが連結された状態で検査工程を行って、検査後個々のパネルに分断する際に該検査用配線を同時に切断できるようにしておくことも有効である。 In this case, it is desirable to provide an inspection switching element for switching the input of the scanning signal for inspection on the scanning line side. For example, the input of the scanning signal for inspection is configured as shown in FIG. The wiring for inspection on the scanning line side may be cut in the substrate cutting process after inspection, and if this does not allow an increase in the number of processes, multiple sheets in the scanning line direction It is also effective to perform the inspection process in a state where the panels are connected so that the inspection wiring can be cut simultaneously when dividing into individual panels after the inspection.
次に、上記の構成では、データ線に接続された検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する制御信号線が、隣接するデータ線に異なる制御信号が入力されるように複数本配設されているので、信号系統間のリークを電気的に検出できるのみならず、データ線間のリークの目視検査もできる。 Next, in the above configuration, a plurality of control signal lines for inputting control signals for conducting / cutting off the inspection switching elements connected to the data lines are arranged so that different control signals are input to the adjacent data lines. Therefore, it is possible not only to electrically detect leaks between signal systems, but also to visually check for leaks between data lines.
また、特に上記の構成では、データ線に接続された検査用スイッチング素子に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線は、各検査用スイッチング素子共通に配設されているので、各データ線に検査用の表示信号を供給する際の信号遅延を考慮しなければならない配線は1本となり、設計が容易である。 In particular, in the above configuration, the inspection display signal line for supplying the inspection display signal to the inspection switching element connected to the data line is provided in common for each inspection switching element. There is only one wiring that needs to take into account signal delay when supplying a display signal for inspection to the line, and the design is easy.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、データ線に接続された検査用スイッチング素子に複数本配設された前記制御信号線は、検査用スイッチング素子を介して絵素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとに接続されていることを特徴としている。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a plurality of the control signal lines arranged in the inspection switching element connected to the data line are respectively displayed in a plurality of display colors in the picture element via the inspection switching element. It is characterized by being connected for each corresponding data line.
また、本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、検査用表示信号線に検査用の表示信号を供給しつつ、複数本配設されたデータ線検査用制御信号線に供給する制御信号を順次切り替えて色表示することを特徴としている。 Further, the inspection method of the active matrix type liquid crystal display panel according to the present invention provides a control signal supplied to a plurality of data line inspection control signal lines while supplying an inspection display signal to the inspection display signal line. The color display is performed by sequentially switching the display.
これによれば、複数の制御信号線が、検査用スイッチング素子を介して絵素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとに接続されているので、点灯検査することで、検査時に色表示が可能となり、データ線間のリークや隣接絵素間のリーク欠陥を目視で容易に検出することができる。 According to this, since the plurality of control signal lines are connected to the data lines corresponding to the plurality of display colors in the picture element via the inspection switching element, the color display is performed at the time of inspection by performing the lighting inspection. Thus, a leak between data lines and a leak defect between adjacent picture elements can be easily detected visually.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、複数の走査線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするための検査用スイッチング素子が個別に接続されており、走査線に接続された各検査用スイッチング素子には、該検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する制御信号線、及び該検査用スイッチング素子に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が配設されていることを特徴としている。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, inspection switching elements for switching the supply of display signals for inspection are individually connected to a plurality of scanning lines, and each inspection line connected to the scanning lines is connected. The switching element is provided with a control signal line for inputting a control signal for conducting and blocking the inspection switching element, and an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the inspection switching element. It is characterized by that.
これによれば、走査線側にも検査用の走査信号の入力をスイッチングする検査用スイッチング素子が設けられているので、走査線側の検査用の配線も切断する必要がない。したがって、液晶表示パネルを個々に分割した後で検査を実施しても、工程数の増加は一切ない。 According to this, since the inspection switching element for switching the input of the scanning signal for inspection is provided also on the scanning line side, it is not necessary to cut the inspection wiring on the scanning line side. Therefore, even if the inspection is performed after dividing the liquid crystal display panel individually, there is no increase in the number of processes.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、走査線に接続された各検査用スイッチング素子に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる検査用の走査信号が入力されるように複数本配設されていることを特徴としている。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to each inspection switching element connected to the scanning line has different inspection scanning signals on adjacent scanning lines. A plurality of lines are arranged so as to be input.
これによれば、走査線に接続された検査用スイッチング素子に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に該検査用スイッチング素子を介して接続される検査用走査信号線が異なるように接続されているので、隣接する走査線を絵素電極の補助容量として使う、いわゆるCs on Gate構造の場合にも、支障無く点灯検査が可能である。 According to this, the inspection scanning signal line for supplying the inspection scanning signal to the inspection switching element connected to the scanning line is connected to the adjacent scanning line via the inspection switching element. Since the signal lines are connected differently, the lighting inspection can be performed without any trouble even in the case of a so-called Cs on Gate structure in which adjacent scanning lines are used as auxiliary capacitors of the pixel electrodes.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、データ線に接続された検査用スイッチング素子に制御信号を入力する前記制御信号線と、走査線に接続された検査用スイッチング素子に制御信号を入力する前記制御信号線とが、前記絶縁性基板上で電気的に接続されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes the control signal line that inputs a control signal to the inspection switching element connected to the data line, and the control signal that is input to the inspection switching element connected to the scanning line. A control signal line is electrically connected on the insulating substrate.
これによれば、両制御信号線が共通化するので、検査用配線の形成にかかる領域を小さくでき、また、検査時と実装後の点灯時の制御信号の入力を容易にできる。 According to this, since both control signal lines are shared, the area required for forming the inspection wiring can be reduced, and the input of the control signal at the time of inspection and lighting after mounting can be facilitated.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、液晶表示パネル駆動時には、前記データ線検査用制御信号線または走査線検査用制御信号線に、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子を遮断する電圧がそれぞれ印加されることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. The control display signal line for supplying the display signal for inspection to the data line via the control line and the control signal for connecting / disconnecting the data line inspection switching element. And a data line inspection control signal line for inputting a scanning line, or a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the inspection scanning signal is individually connected to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element is connected to an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element and a scanning line inspection switching element. A scanning line inspection control signal line for inputting a control signal to be cut off, and the data line is connected to the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line when the liquid crystal display panel is driven. A voltage for interrupting the inspection switching element or the scanning line inspection switching element is applied.
これによれば、液晶表示パネルの駆動時、制御信号線には検査用スイッチング素子を遮断する電圧が印加されているので、駆動時の誤動作を防止できる。 According to this, when the liquid crystal display panel is driven, a voltage that cuts off the inspection switching element is applied to the control signal line, so that malfunction during driving can be prevented.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記絶縁性基板上に液晶表示パネルを駆動するための外部回路と、該外部回路を駆動するための配線が形成され、データ線に接続された検査用スイッチング素子に制御信号を入力する前記制御信号線及び/又は走査線に接続された検査用スイッチング素子に制御信号を入力する前記制御信号線が、前記外部回路を駆動するための前記配線の内、接地電位を加える配線、外部回路のロジック内のスイッチング素子をオフする電圧が加えられる配線、又は外部回路の出力電圧の内のローレベルを規定する電圧が加えられる配線に接続されていることを特徴としている。 The active matrix type liquid crystal display panel according to the present invention has an external circuit for driving the liquid crystal display panel and wiring for driving the external circuit formed on the insulating substrate and connected to the data line. Of the wiring for driving the external circuit, the control signal line for inputting a control signal to the switching element and / or the control signal line for inputting the control signal to the switching element for inspection connected to the scanning line, It is connected to a wiring for applying a ground potential, a wiring to which a voltage for turning off a switching element in the logic of the external circuit is applied, or a wiring to which a voltage defining a low level of the output voltage of the external circuit is applied. It is said.
これは、制御信号線を、外部回路を駆動するための前記配線の内、接地電位を加える配線、外部回路のロジック内のスイッチング素子をオフする電圧が加えられる配線、又は外部回路の出力電圧の内のローレベルを規定する電圧が加えられる配線に接続しておくことで、新たに別系統の電源を設けることなく、液晶表示パネル駆動時の誤動作を防止できる。 This is because the control signal line is one of the wiring for driving the external circuit, the wiring for applying the ground potential, the wiring for applying the voltage for turning off the switching element in the logic of the external circuit, or the output voltage of the external circuit. By connecting to the wiring to which the voltage defining the low level is applied, it is possible to prevent malfunction during driving of the liquid crystal display panel without newly providing a separate power source.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用制御信号線または前記走査線検査用制御信号線の信号入力点と、該データ線検査用制御信号線または走査線検査用制御信号線が接続されているデータ線検査用スイッチング素子群または走査線検査用スイッチング素子との間に、抵抗素子が設けられていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. The control display signal line for supplying the display signal for inspection to the data line via the control line and the control signal for connecting / disconnecting the data line inspection switching element. And a data line inspection control signal line for inputting a scanning line, or a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the inspection scanning signal is individually connected to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element is connected to an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element and a scanning line inspection switching element. A scanning line inspection control signal line for inputting a control signal to be cut off, a signal input point of the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line, and the data line inspection A resistive element is provided between the data line inspection switching element group or the scanning line inspection switching element to which the control signal line for scanning or the control signal line for scanning line inspection is connected. It is set to.
これによれば、制御信号線の信号入力点と、該制御信号線が接続されている検査用スイッチング素子群との間に、抵抗素子が設けられているので、該制御信号線に流れる静電気による検査用スイッチング素子の破壊を、検査に支障なく防止できる。 According to this, since the resistance element is provided between the signal input point of the control signal line and the inspection switching element group to which the control signal line is connected, it is caused by static electricity flowing through the control signal line. Destruction of the inspection switching element can be prevented without any trouble in the inspection.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、制御信号線と接続された、前記の接地電位を加える配線、外部回路のロジック内のスイッチング素子をオフする電圧が加えられる配線、又は外部回路の出力電圧の内のローレベルを規定する電圧が加えられる配線と、該制御信号線が接続されている検査用スイッチング素子群との間に、抵抗素子が設けられていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention is connected to a control signal line, the wiring for applying the ground potential, the wiring for applying a voltage for turning off the switching element in the logic of the external circuit, or the output voltage of the external circuit A resistance element is provided between a wiring to which a voltage defining a low level is applied and a test switching element group to which the control signal line is connected.
これは、静電気対策を講じたもので、該制御信号線に流れる静電気による検査用スイッチング素子の破壊を、検査に支障なく防止できる。 This is a countermeasure against static electricity, and it is possible to prevent the inspection switching element from being destroyed by static electricity flowing through the control signal line without any trouble in the inspection.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、抵抗素子は絵素スイッチング素子と同工程で作製された非線形素子であることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention is characterized in that the resistive element is a non-linear element manufactured in the same process as the pixel switching element.
線形素子からなる抵抗素子の場合、静電気が加わった際の過電流によてジュール熱が発生して抵抗素子が融解されると、導電性を失い、後に検査用スイッチング素子をオフする電圧を加えることができなくなる。しかしながら、非線形素子の場合、たとえ過電流によって該素子が破壊されても、導電性であることには変わりなく、検査用スイッチング素子をオフする電圧を加えることができる。 In the case of a resistance element composed of a linear element, when Joule heat is generated due to an overcurrent when static electricity is applied and the resistance element is melted, the resistance is lost, and a voltage is applied to turn off the switching element for inspection later. I can't do that. However, in the case of a non-linear element, even if the element is destroyed by an overcurrent, it remains conductive, and a voltage for turning off the inspection switching element can be applied.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、非線形素子が複数個直列に接続されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention is characterized in that a plurality of nonlinear elements are connected in series.
これによれば、たとえ上記のように過電流が加わって非線形素子の1つが破壊されたとしても、次段の非線形素子で、静電気対策の抵抗素子としての機能を確保できる。 According to this, even if an overcurrent is applied as described above and one of the nonlinear elements is destroyed, the function as a resistance element for countermeasures against static electricity can be secured by the next-stage nonlinear element.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記絶縁性基板上に液晶表示パネルを駆動するための外部回路と、該外部回路を駆動するための配線が形成され、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子が、該外部回路の反対側の辺に設けられていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. The control display signal line for supplying the display signal for inspection to the data line via the control line and the control signal for connecting / disconnecting the data line inspection switching element. And a data line inspection control signal line for inputting a scanning line, or a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the inspection scanning signal is individually connected to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element is connected to an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element and a scanning line inspection switching element. A control signal line for scanning line inspection for inputting a control signal to be cut off is provided, an external circuit for driving the liquid crystal display panel on the insulating substrate, and a wiring for driving the external circuit And the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is provided on the opposite side of the external circuit.
これによれば、検査用スイッチング素子が、該外部回路の反対側の辺に設けられているので、ドライバ回路周辺のパターン形成に領域的な余裕ができるほか、検査用スイッチング素子が破壊されてしまった場合など、必要に応じて検査用スイッチング素子を切断することができる。 According to this, since the inspection switching element is provided on the opposite side of the external circuit, there is a sufficient area for pattern formation around the driver circuit, and the inspection switching element is destroyed. If necessary, the inspection switching element can be cut off as necessary.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子が遮光されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. The control display signal line for supplying the display signal for inspection to the data line via the control line and the control signal for connecting / disconnecting the data line inspection switching element. And a data line inspection control signal line for inputting a scanning line, or a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the inspection scanning signal is individually connected to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element is connected to an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element and a scanning line inspection switching element. A scanning line inspection control signal line for inputting a control signal to be cut off is provided, and the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is shielded from light.
これによれば、検査用スイッチング素子が遮光されているので、該素子を遮断した際の漏れ電流を抑えることができ、液晶表示パネル駆動時の誤動作を防ぎ信頼性上の問題をなくすることができる。 According to this, since the switching element for inspection is shielded from light, it is possible to suppress the leakage current when the element is cut off, and to prevent malfunction during driving of the liquid crystal display panel and eliminate the problem of reliability. it can.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、検査用スイッチング素子が、対向基板上に形成された遮光膜に相対して設置されていることを特徴としている。 The active matrix type liquid crystal display panel of the present invention is characterized in that the inspection switching element is disposed to face the light shielding film formed on the counter substrate.
これによれば、検査用スイッチング素子が対向基板上に形成された遮光膜に相対して設置されている。 According to this, the inspection switching element is disposed to face the light shielding film formed on the counter substrate.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記データ線検査用制御信号線、前記走査線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、および前記検査用走査信号線のうち、該液晶表示パネルに含まれているもの全ての入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、前記アクティブマトリクス基板上の1辺もしくは対向する2辺に設置されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes the liquid crystal display panel among the control signal line for data line inspection, the control signal line for scanning line inspection, the display signal line for inspection, and the scanning signal line for inspection. Input terminals for inputting signals to the common electrode during inspection of the liquid crystal display panel are installed on one side or two opposite sides on the active matrix substrate. It is characterized by having.
また、本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法において、前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルには、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設され、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、前記走査線検査用制御信号線、および前記検査用走査信号線のうち、該液晶表示パネルに含まれているもの全ての入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、前記アクティブマトリクス基板上の1辺もしくは対向する2辺に設置されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、前記各入力端子が配置される辺と同一の方向に列状に配置してなる母基板に対して、前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なうことを特徴としている。 Further, the inspection method for an active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, a pixel switching element individually connected to the pixel electrode, and the pixel switching element. An active matrix substrate in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. In the liquid crystal display panel inspection method, the active matrix liquid crystal display panel is individually connected to the plurality of data lines with data line inspection switching elements for controlling the supply of display signals for inspection. For the data line inspection switching element, an inspection display signal is supplied to the data line via the data line inspection switching element. A display signal line and a data line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / cutting off the data line inspection switching element, or supply of a scanning signal for inspection to the plurality of scanning lines The scanning line inspection switching element for controlling the scanning line is individually connected, and each scanning line inspection switching element supplies an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element. A scanning signal line and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / cutting off the scanning line inspection switching element are provided, the data line inspection control signal line, and the inspection display. Among the signal lines, the scanning line inspection control signal lines, and the inspection scanning signal lines, all the input terminals included in the liquid crystal display panel and the common power supply when inspecting the liquid crystal display panel. Input terminals for inputting signals to the active matrix substrate are provided on one side or two opposite sides on the active matrix substrate, and a plurality of the active matrix type liquid crystal display panels are arranged with the respective input terminals. An inspection jig is attached to the mother board before dividing the mother board into individual active matrix liquid crystal display panels with respect to the mother board arranged in a row in the same direction as the side It is characterized by conducting an inspection.
これによれば、複数の液晶表示パネルが列状の連なった状態である母基板に関し、上記入力端子が設置された辺のみ対向基板を取り除き、ここに検査用治具を取り付ければ、これら複数の液晶表示パネルに対し同時に検査を行なうことが可能となり、生産性が向上する。また、検査用の入力端子を同じ辺に配設することで、検査用治具とのコンタクト不良が抑えられる。 According to this, with respect to the mother board in which a plurality of liquid crystal display panels are arranged in a row, if the counter board is removed only on the side where the input terminal is installed and an inspection jig is attached thereto, The liquid crystal display panel can be inspected at the same time, and productivity is improved. Further, by arranging the input terminals for inspection on the same side, contact failure with the inspection jig can be suppressed.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記データ線検査用制御信号線、前記走査線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、および前記検査用走査信号線のそれぞれの入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、前記アクティブマトリクス基板上の1辺の特定領域内で近接して設置されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes input terminals for the data line inspection control signal line, the scanning line inspection control signal line, the inspection display signal line, and the inspection scanning signal line, An input terminal for inputting a signal to the common electrode at the time of inspecting the liquid crystal display panel is provided in the vicinity of a specific region on one side on the active matrix substrate.
これによれば、検査用治具への設置時の位置合わせが、検査端子を液晶表示パネルの1辺に配置する場合よりもさらに容易になり、また、実装後に検査端子から静電気が入ったり、不要な信号が入るのを防ぐために検査端子に絶縁テープなどを施す際の作業性も向上する。 According to this, alignment at the time of installation to the inspection jig becomes easier than when the inspection terminal is arranged on one side of the liquid crystal display panel, and static electricity enters from the inspection terminal after mounting, The workability when applying an insulating tape or the like to the inspection terminal to prevent unnecessary signals from entering is also improved.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、液晶表示パネルが完成した段階においては、前記データ線検査用制御信号線、前記走査線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、および前記検査用走査信号線のそれぞれの入力端子の導電部分と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子の導電部分とが絶縁体によって覆われていることを特徴としている。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, when the liquid crystal display panel is completed, the control signal line for data line inspection, the control signal line for scanning line inspection, the display signal line for inspection, and the inspection signal line The conductive portion of each input terminal of the scanning signal line and the conductive portion of the input terminal for inputting a signal to the common electrode during inspection of the liquid crystal display panel are covered with an insulator.
これによれば、実装後に検査端子から静電気が入ったり、不要な信号が入るのを防ぐことができる。 According to this, it is possible to prevent static electricity from entering from the inspection terminal after mounting or unnecessary signals from entering.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子は、その閾値が、液晶表示パネルの駆動時において絵素スイッチング素子の閾値よりも高くなるように、液晶パネルの検査後に該データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子の閾値を正極側にシフトさせる処理が施されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. The control display signal line for supplying the display signal for inspection to the data line via the control line and the control signal for connecting / disconnecting the data line inspection switching element And a data line inspection control signal line for inputting a scanning line, or a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the inspection scanning signal is individually connected to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element is connected to an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element and a scanning line inspection switching element. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal to be cut off, and the threshold value of the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is set when the liquid crystal display panel is driven. The threshold value of the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element after the inspection of the liquid crystal panel so as to be higher than the threshold value of the picture element switching element. Process of shifting to the positive electrode side is characterized in that it is subjected.
これによれば、実装終了後の液晶表示パネルの実駆動時において、上記検査用スイッチング素子の閾値を絵素スイッチング素子の閾値よりも高くすることによって、検査用スイッチングにおけるリークを防止できる。また、この時、上記検査用スイッチング素子の閾値は、液晶表示パネルの検査終了後において、上記検査用スイッチング素子のゲート電極に正極の電圧を与えることで正方向にシフトさせることができる。尚、この時、正極の電圧を与えると同時に熱を加えると、閾値のシフトが促進され、好ましい。 According to this, at the time of actual driving of the liquid crystal display panel after the completion of mounting, it is possible to prevent leakage in inspection switching by making the threshold value of the inspection switching element higher than the threshold value of the pixel switching element. At this time, the threshold value of the inspection switching element can be shifted in the positive direction by applying a positive voltage to the gate electrode of the inspection switching element after the inspection of the liquid crystal display panel is completed. At this time, it is preferable to apply heat at the same time as applying the voltage of the positive electrode because the shift of the threshold is promoted.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線には、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設され、隣接するデータ線間には抵抗素子が配置されており、または、前記複数の走査線には、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設され、隣接する走査線間には抵抗素子が配置されていると共に、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、前記データ線の本数をn、前記検査用表示信号線の本数をk、前記検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合と、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、前記走査線の本数をn、前記検査用走査信号線の本数をk、前記検査用走査信号線の抵抗値をRとした場合との何れにおいても、
R<(rd/8)/(n/k)
を満たすことを特徴としている。
The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. In the plurality of data lines, a plurality of inspection display signal lines for supplying a display signal for inspection are arranged so that different display signals are input to adjacent data lines, and between the adjacent data lines, Resistive elements are arranged, or the scanning signal lines for supplying inspection scanning signals are inputted to the plurality of scanning lines, and different scanning signals are inputted to the adjacent scanning lines. A plurality of resistive elements are arranged between adjacent scanning lines, the resistance value of each resistive element is rd, the number of data lines is n, and the number of display signal lines for inspection K, the resistance value of the inspection display signal line is R, the resistance value of each resistance element is rd, the number of scanning lines is n, the number of scanning signal lines for inspection is k, and the inspection In any case where the resistance value of the scanning signal line is R,
R <(rd / 8) / (n / k)
It is characterized by satisfying.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線が共通に配設され、データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設され、隣接するデータ線間には抵抗素子が配置されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線が共通に配設され、走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設され、隣接する走査線間には抵抗素子が配置されていると共に、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、各データ線検査用スイッチング素子の抵抗値をrtr、前記データ線の本数をn、前記検査用表示信号線の本数をk、前記検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合と、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、各走査線検査用スイッチング素子の抵抗値をrtr、前記走査線の本数をn、前記検査用走査信号線の本数をk、前記検査用走査信号線の抵抗値をRとした場合との何れにおいても、
R<(rd/8−2rtr)/(n/k)
を満たすことを特徴としている。
The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and the data line inspection switching element is electrically connected to each data line inspection switching element.・ The control signal line for data line inspection that inputs the control signal to be cut off is provided in common, and the data line is connected via the switching element for data line inspection. A plurality of inspection display signal lines for supplying a display signal for inspection are arranged so that different display signals are inputted to adjacent data lines, and resistance elements are arranged between adjacent data lines, or The scanning line inspection switching elements for controlling the supply of the scanning signal for inspection are individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. A scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for conduction / cutoff is provided in common, and an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element is adjacent to the scanning line inspection control signal line. A plurality of scanning lines are arranged so that different scanning signals are input to the scanning lines, and resistance elements are arranged between adjacent scanning lines. The resistance value of each resistance element is rd, and each data line is inspected. Sui A resistance value of each of the resistance elements, and a resistance value of each of the resistance elements is represented by rtr, n the number of the data lines, k the number of the display signal lines for inspection, and R the resistance value of the display signal lines for inspection. Rd, the resistance value of each scanning line inspection switching element is rtr, the number of scanning lines is n, the number of scanning signal lines for inspection is k, and the resistance value of the scanning signal lines for inspection is R. In either
R <(rd / 8-2rtr) / (n / k)
It is characterized by satisfying.
これによれば、検査用表示信号線および/または検査用走査信号線によって生じる電圧降下の影響を低減し、検査用配線の入力端子に印加される電圧の8割以上をデータ線または走査線に印加することができ、十分な印加電圧が得られる。 According to this, the influence of the voltage drop caused by the inspection display signal line and / or the inspection scanning signal line is reduced, and 80% or more of the voltage applied to the input terminal of the inspection wiring is supplied to the data line or the scanning line. A sufficient applied voltage can be obtained.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線には、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設されており、または、前記複数の走査線には、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設されていると共に、同一の検査用表示信号線に共通に接続されたデータ線間、または同一の検査用走査信号線に共通に接続された走査線間に抵抗素子が配置されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. The plurality of data lines are provided with a plurality of inspection display signal lines for supplying display signals for inspection so that different display signals are input to adjacent data lines, or the plurality of data lines The scanning lines are provided with a plurality of inspection scanning signal lines that supply inspection scanning signals so that different scanning signals are input to adjacent scanning lines.査用 display signal lines commonly connected to the data lines or between the resistance element between a scanning line connected to the common to the same test scanning signal line is characterized by being arranged.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線が共通に配設されると共に、データ線検査用スイッチング素子に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線が共通に配設されると共に、走査線検査用スイッチング素子に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設されていると共に、前記データ線検査用スイッチング素子を介して同一の検査用表示信号線に共通に接続されたデータ線間、または前記走査線検査用スイッチング素子を介して同一の検査用走査信号線に共通に接続された走査線間に抵抗素子が配置されていることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel of the present invention has a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, pixel switching elements individually connected to the pixel electrodes, and pixel electrodes via the pixel switching elements. In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer. The data line inspection switching elements for controlling the supply of display signals for inspection are individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element includes a data line inspection switching element. A control signal line for data line inspection for inputting a control signal for conduction / interruption is provided in common, and is also detected by a switching element for data line inspection. A plurality of inspection display signal lines for supplying display signals for inspection are arranged so that different display signals are input to adjacent data lines, or a scanning signal for inspection is provided on the plurality of scanning lines. The scanning line inspection switching elements for controlling the supply of the scanning line are individually connected, and each scanning line inspection switching element is supplied with a control signal for turning on / off the scanning line inspection switching element. And a plurality of inspection scanning signal lines for supplying an inspection scanning signal to the scanning line inspection switching element so that different scanning signals are input to adjacent scanning lines. The data line inspection switching element is arranged between the data lines commonly connected to the same inspection display signal line through the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element. It is characterized in that the resistance element between the scanning line connected in common to the same test scanning signal lines are arranged.
これによれば、同一の抵抗素子で接続されたデータ線または走査線は、共通の検査用表示信号線または検査用走査信号線に接続される。このため、上記抵抗素子は、静電気を逃がす構造を維持しつつも、検査中には電圧がかからず電流が流れないため、検査用表示信号線または検査用走査信号線での電圧降下がなく検査精度がさらに向上する。 According to this, the data lines or scanning lines connected by the same resistive element are connected to the common inspection display signal line or inspection scanning signal line. For this reason, while the resistance element maintains a structure for releasing static electricity, no voltage is applied and no current flows during the inspection, so there is no voltage drop in the inspection display signal line or the inspection scanning signal line. Inspection accuracy is further improved.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記抵抗素子は絵素スイッチング素子と同工程で作製された非線形素子であることを特徴としている。 The active matrix type liquid crystal display panel of the present invention is characterized in that the resistance element is a non-linear element manufactured in the same process as the pixel switching element.
これによれば、上記抵抗素子を作製するにあたって、工程の増加を招くことがない。 According to this, an increase in a process is not caused in producing the resistance element.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、アクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記検査用表示信号線と、検査用走査信号線、および対向基板への信号入力端子との間の電気抵抗を測定しつつ、データ線検査用制御信号線および走査線検査用制御信号線に供給する制御信号を順次切り替えることを特徴としている。 The active matrix liquid crystal display panel inspection method according to the present invention is the active matrix liquid crystal display panel in which the electrical resistance between the inspection display signal line, the inspection scanning signal line, and the signal input terminal to the counter substrate is used. The control signal supplied to the data line inspection control signal line and the scanning line inspection control signal line is sequentially switched.
別の検査方法を提案するもので、上記のように検査することで、データ線統間のリーク欠陥を検出することができる。 Another inspection method is proposed. By performing the inspection as described above, it is possible to detect a leak defect between data line series.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、データ線検査用制御信号線および走査線検査用制御信号線に、データ線検査用スイッチング素子および走査線検査用スイッチング素子のそれぞれを導通するための制御信号を与えつつ、複数の検査用表示信号線間、および/または、検査用表示信号線、検査用走査信号線、および共通電極のうちの任意の配線間の電気抵抗を測定することを特徴としている。 According to the inspection method of the active matrix type liquid crystal display panel of the present invention, the data line inspection switching element and the scanning line inspection switching element are electrically connected to the data line inspection control signal line and the scanning line inspection control signal line, respectively. Measuring the electrical resistance between a plurality of inspection display signal lines and / or between any of the inspection display signal lines, the inspection scanning signal lines, and the common electrode. It is a feature.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、データ線検査用制御信号線および走査線検査用制御信号線に、データ線検査用スイッチング素子および走査線検査用スイッチング素子のそれぞれを導通するための制御信号を与えつつ、複数の検査用表示信号線間、複数の検査用走査信号線間、ないし/または、検査用表示信号線、検査用走査信号線、および共通電極のうちの任意の配線間の電気抵抗を測定することを特徴としている。 According to the inspection method of the active matrix type liquid crystal display panel of the present invention, the data line inspection switching element and the scanning line inspection switching element are electrically connected to the data line inspection control signal line and the scanning line inspection control signal line, respectively. While providing the control signal, any wiring among a plurality of inspection display signal lines, between a plurality of inspection scanning signal lines, and / or inspection display signal lines, inspection scanning signal lines, and common electrodes It is characterized by measuring the electrical resistance between.
別の検査方法を提案するもので、任意の配線間のリーク欠陥を検出することができる。 Another inspection method is proposed, and a leak defect between arbitrary wirings can be detected.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法において、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記液晶表示パネルの検査時には、データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子に光を当てながら検査することを特徴としている。 An inspection method for an active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, a pixel switching element individually connected to the pixel electrode, and a picture via the pixel switching element. An active matrix liquid crystal display in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and driving an elemental electrode and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer In the panel inspection method, a data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element includes the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line inspection switching element Data line inspection control signal lines for inputting control signals for passing / blocking are provided, or scanning line inspection switching for controlling supply of inspection scanning signals to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element includes an inspection scanning signal line for supplying a scanning signal for inspection to the scanning line via the scanning line inspection switching element, and a scanning line inspection. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on / off the switching element for the data line, and at the time of inspection of the liquid crystal display panel, the switching element for data line inspection or the switching element for scanning line inspection It is characterized by inspecting while shining light on.
このように、検査時に検査用スイッチング素子に光を当てることにより、検査用スイッチング素子の電気抵抗を下げつつ検査用スイッチング素子自体の大型化を防止することができ、良品率の低下を防ぐことができる。 In this way, by illuminating the inspection switching element during inspection, it is possible to prevent the inspection switching element itself from being enlarged while lowering the electrical resistance of the inspection switching element, and to prevent a decrease in the yield rate. it can.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、上記母基板において、隣接する液晶表示パネルの同一種類の検査用配線同士が電気的に接続されていることを特徴としている。 The inspection method for an active matrix liquid crystal display panel of the present invention is characterized in that the same type of inspection wirings of adjacent liquid crystal display panels are electrically connected to each other on the mother board.
これによれば、アライメント後や検査信号入力ピンのずれ等によって検査端子の何カ所において入力のコンタクトが悪くても、同一種類の検査用配線同士が電気的に接続されているため、この接続部分を介して検査用信号が供給され、検査が可能となる。また、間のセルの検査信号入力ピンを省略したり、信号入力端子のピッチが小さい場合には、隣接セルと交互に入力端子を設けることにより、検査用治具の製作コストを削減することもできる。 According to this, since the same type of inspection wirings are electrically connected to each other even if the input contact is poor at any number of inspection terminals due to the alignment of the inspection signal input pins after alignment or the like, this connection portion An inspection signal is supplied via the, thereby enabling inspection. In addition, when the test signal input pins of the cells in between are omitted, or when the pitch of the signal input terminals is small, the manufacturing cost of the inspection jig can be reduced by providing input terminals alternately with adjacent cells. it can.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法において、前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルには、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設され、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが列状に配置してなる母基板に対して、隣接する液晶表示パネルの同一種類の検査用配線同士が電気的に接続されており、前記データ線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、前記走査線検査用制御信号線、および前記検査用走査信号線のうち、該液晶表示パネルに含まれているもの全ての入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、隣接パネルの接続方向であって何れの液晶表示パネルにも属しない領域に形成されると共に、前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なうことを特徴としている。 An inspection method for an active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, a pixel switching element individually connected to the pixel electrode, and a picture via the pixel switching element. An active matrix liquid crystal display in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and driving an elemental electrode and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer In the panel inspection method, the active matrix liquid crystal display panel is individually connected to the plurality of data lines with data line inspection switching elements for controlling the supply of display signals for inspection. The inspection switching element supplies an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element. And a data line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / cutting off the data line inspection switching element, or supply of the inspection scanning signal to the plurality of scanning lines is controlled. Scanning line inspection switching elements are individually connected, and each scanning line inspection switching element supplies an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / cutting off the scanning line inspection switching element, and a plurality of the active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row. The same type of inspection wirings of adjacent liquid crystal display panels are electrically connected to the mother substrate formed by the control line for the data line inspection and the display signal line for inspection. Of the scanning line inspection control signal line and the inspection scanning signal line, all input terminals included in the liquid crystal display panel and signals are input to the common electrode when the liquid crystal display panel is inspected. And an input terminal for connecting to the adjacent panel and not in any liquid crystal display panel, and before dividing the mother substrate into individual active matrix liquid crystal display panels. The inspection is performed by attaching an inspection jig to the mother board.
これによれば、複数枚のアクティブマトリクス型液晶表示パネルが列状に配置してなる母基板に対して検査が行なえるため、検査効率が向上する。さらに、検査される液晶表示パネルのサイズ等の規格が異なっても、上記領域に形成される検査用の入力端子の配置位置を同一にすれば、共通の検査用治具を用いて検査を行なうことができ、多機種小量生産の場合に好適である。 According to this, since the inspection can be performed on a mother substrate in which a plurality of active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row, the inspection efficiency is improved. Further, even if the standards such as the size of the liquid crystal display panel to be inspected are different, the inspection is performed using a common inspection jig if the arrangement positions of the input terminals for inspection formed in the region are the same. It is suitable for multi-model small-volume production.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、絶縁性基板上に、複数の絵素電極、該絵素電極に個別に接続される絵素スイッチング素子、該絵素スイッチング素子を介して絵素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリクス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して貼り合わされてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法において、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が配設されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、データ線方向に列状に配置してなる母基板に対して、複数のデータ線が隣接する液晶表示パネルの領域を経由して、自パネルの検査用表示信号線に接続されているか、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が配設されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、走査線方向に列状に配置してなる母基板に対して、複数の走査線が隣接する液晶表示パネルの領域を経由して、自パネルの検査用走査信号線に接続されていると共に、前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なうことを特徴としている。 An inspection method for an active matrix liquid crystal display panel according to the present invention includes a plurality of pixel electrodes on an insulating substrate, a pixel switching element individually connected to the pixel electrode, and a picture via the pixel switching element. An active matrix liquid crystal display in which an active matrix substrate having a plurality of scanning lines and data lines arranged in a grid and driving an elemental electrode and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer In the panel inspection method, an inspection display signal line for supplying a display signal for inspection is disposed on the plurality of data lines, and the plurality of active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row in the data line direction. Whether a plurality of data lines are connected to the display signal lines for inspection of the own panel via the area of the adjacent liquid crystal display panel with respect to the mother board arranged in Alternatively, inspection scanning signal lines for supplying inspection scanning signals are arranged on the plurality of scanning lines, and the plurality of active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row in the scanning line direction. A plurality of scanning lines are connected to the inspection scanning signal lines of the self-panel through a region of the liquid crystal display panel adjacent to the mother substrate, and each of the mother substrates is displayed in an active matrix liquid crystal display. It is characterized in that an inspection jig is attached to the mother board and inspected before dividing into panels.
これによれば、複数枚のアクティブマトリクス型液晶表示パネルが列状に配置してなる母基板に対して検査が行なえるため、検査効率が向上する。さらに、液晶表示パネルの検査後、上記母基板を個々のパネルに切断することにより、隣接する液晶表示パネルの領域を経由して自パネルの検査用表示信号線(および/または検査用走査信号線)に接続されるデータ線(および/または走査線)が分断される。このため、分断されるデータ線(および/または走査線)に対しては検査用スイッチング素子が不要となり、信頼性上の都合がよい。 According to this, since the inspection can be performed on a mother substrate in which a plurality of active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row, the inspection efficiency is improved. Further, after the liquid crystal display panel is inspected, the mother substrate is cut into individual panels, thereby inspecting the display signal lines (and / or the scanning signal lines for inspection) of the panel through the adjacent liquid crystal display panel region. The data line (and / or the scanning line) connected to () is disconnected. This eliminates the need for an inspection switching element for the divided data lines (and / or scanning lines), which is advantageous in terms of reliability.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、以上のように、複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするための検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各検査用スイッチング素子には、検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が共通に配設されると共に、検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する制御信号線が、隣接するデータ線に異なる制御信号が入力されるように複数本配設されている構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, as described above, inspection switching elements for switching the supply of display signals for inspection are individually connected to a plurality of data lines, and each switching for inspection is performed. The element is commonly provided with an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the inspection switching element, and a control signal for turning on / off the inspection switching element is input to the element. A plurality of control signal lines are arranged so that different control signals are input to adjacent data lines.
これにより、工程数を増やすことなく、信号系統間のリーク欠陥を識別可能で、かつデータ線間のリークも目視にて検出可能な液晶表示パネルを提供することができるという効果を奏する。 Thereby, it is possible to provide a liquid crystal display panel that can identify a leak defect between signal systems and can also visually detect a leak between data lines without increasing the number of processes.
また、本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、検査用表示信号線に検査用の表示信号を供給しつつ、複数本配設されたデータ線検査用制御信号線に供給する制御信号を順次切り替えて色表示するものである。 Further, the inspection method of the active matrix type liquid crystal display panel according to the present invention provides a control signal supplied to a plurality of data line inspection control signal lines while supplying an inspection display signal to the inspection display signal line. Are sequentially displayed in color.
これにより、工程数を増やすことなく、検査時の色表示が可能となり、信号系統間のリーク欠陥に加えて、データ線間のリークや隣接絵素間のリーク欠陥をも目視で容易に検出可能な液晶表示パネルを提供することができるという効果を奏する。 This enables color display during inspection without increasing the number of processes. In addition to leak defects between signal systems, leaks between data lines and leak defects between adjacent picture elements can be easily detected visually. The liquid crystal display panel can be provided.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、液晶表示パネル駆動時には、前記データ線検査用制御信号線または走査線検査用制御信号線に、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子を遮断する電圧がそれぞれ印加される構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a switching element for data line inspection for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching The element includes an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line for inputting a control signal for conducting / interrupting the data line inspection switching element. And a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines. The line inspection switching element includes an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element, and a scanning line inspection switch. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on / off the chucking element, and when driving the liquid crystal display panel, the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line is provided. In addition, a voltage that cuts off the switching element for data line inspection or the switching element for scanning line inspection is applied.
これにより、液晶表示パネルの駆動時、制御信号線には検査用スイッチング素子を遮断する電圧が印加されているので、駆動時の誤動作を防止できるという効果を奏する。 As a result, when the liquid crystal display panel is driven, a voltage that cuts off the switching element for inspection is applied to the control signal line, so that it is possible to prevent malfunction during driving.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用制御信号線または前記走査線検査用制御信号線の信号入力点と、該データ線検査用制御信号線または走査線検査用制御信号線が接続されているデータ線検査用スイッチング素子群または走査線検査用スイッチング素子との間に、抵抗素子が設けられている構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a switching element for data line inspection for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching The element includes an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line for inputting a control signal for conducting / interrupting the data line inspection switching element. And a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines. The line inspection switching element includes an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element, and a scanning line inspection switch. A scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the chucking element, and a signal input point of the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line; The resistor element is provided between the data line inspection switching element group or the scanning line inspection switching element to which the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line is connected. is there.
これにより、制御信号線に流れる静電気による検査用スイッチング素子の破壊を、検査に支障なく防止できるという効果を奏する。 As a result, it is possible to prevent the inspection switching element from being destroyed due to static electricity flowing in the control signal line without any trouble in the inspection.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記絶縁性基板上に液晶表示パネルを駆動するための外部回路と、該外部回路を駆動するための配線が形成され、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子が、該外部回路の反対側の辺に設けられている構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a switching element for data line inspection for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching The element includes an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line for inputting a control signal for conducting / interrupting the data line inspection switching element. And a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines. The line inspection switching element includes an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element, and a scanning line inspection switch. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the chucking element, an external circuit for driving the liquid crystal display panel on the insulating substrate, and the external circuit Wiring for driving is formed, and the switching element for data line inspection or the switching element for scanning line inspection is provided on the opposite side of the external circuit.
これにより、ドライバ回路周辺のパターン形成に領域的な余裕ができるほか、必要に応じて検査用スイッチング素子を切断することができるという効果を奏する。 As a result, there is an area margin in the pattern formation around the driver circuit, and the inspection switching element can be cut as necessary.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子が遮光されている構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a switching element for data line inspection for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching The element includes an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line for inputting a control signal for conducting / interrupting the data line inspection switching element. And a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines. The line inspection switching element includes an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element, and a scanning line inspection switch. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the chucking element, and the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is shielded from light. .
これにより、検査用スイッチング素子が遮光されているので、該素子を遮断した際の漏れ電流を抑えることができ、液晶表示パネル駆動時の誤動作を防ぎ信頼性上の問題をなくすることができるという効果を奏する。 As a result, since the inspection switching element is shielded from light, it is possible to suppress a leakage current when the element is cut off, to prevent a malfunction during driving of the liquid crystal display panel, and to eliminate a problem in reliability. There is an effect.
また、本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルには、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設され、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、前記走査線検査用制御信号線、および前記検査用走査信号線のうち、該液晶表示パネルに含まれているもの全ての入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、前記アクティブマトリクス基板上の1辺もしくは対向する2辺に設置されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、前記各入力端子が配置される辺と同一の方向に列状に配置してなる母基板に対して、前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なう構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel inspection method according to the present invention, the active matrix liquid crystal display panel has data line inspection switching for controlling supply of display signals for inspection to the plurality of data lines. Elements are individually connected, and each data line inspection switching element includes an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line inspection switching A data line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / interrupting the element is provided, or scanning line inspection switching for controlling supply of an inspection scanning signal to the plurality of scanning lines. Elements are individually connected, and each scanning line inspection switching element is supplied with a scanning signal for inspection on the scanning line via the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line to be supplied, and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / interrupting the scanning line inspection switching element, and the data line inspection control signal line, Of the inspection display signal line, the scanning line inspection control signal line, and the inspection scanning signal line, all input terminals included in the liquid crystal display panel and the common at the time of inspection of the liquid crystal display panel Input terminals for inputting signals to the electrodes are provided on one side or two opposite sides on the active matrix substrate, and a plurality of the active matrix type liquid crystal display panels are arranged with the respective input terminals. In a stage before dividing the mother substrate into individual active matrix liquid crystal display panels, the mother substrate is arranged in a row in the same direction as the side to be formed.査用 jig is attached inspected configure.
これにより、複数の液晶表示パネルが列状の連なった状態である母基板に関し、上記入力端子が設置された辺のみ対向基板を取り除き、ここに検査用治具を取り付ければ、これら複数の液晶表示パネルに対し同時に検査を行なうことが可能となり、生産性が向上するという効果を奏する。また、検査用の入力端子を同じ辺に配設することで、検査用治具とのコンタクト不良が抑えられるという効果を併せて奏する。 As a result, with respect to the mother board in which a plurality of liquid crystal display panels are arranged in a row, if the counter board is removed only on the side where the input terminal is installed and an inspection jig is attached thereto, the plurality of liquid crystal displays The panel can be inspected at the same time, and the productivity is improved. Further, by arranging the input terminals for inspection on the same side, there is also an effect that the contact failure with the inspection jig can be suppressed.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子は、その閾値が、液晶表示パネルの駆動時において絵素スイッチング素子の閾値よりも高くなるように、液晶パネルの検査後に該データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子の閾値を正極側にシフトさせる処理が施されている構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a switching element for data line inspection for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching The element includes an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line for inputting a control signal for conducting / interrupting the data line inspection switching element. And a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines. The line inspection switching element includes an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element, and a scanning line inspection switch. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on / off the chucking element, and the threshold value of the switching element for data line inspection or the switching element for scanning line inspection is a liquid crystal display. After the liquid crystal panel is inspected, the threshold of the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is shifted to the positive electrode side so that it becomes higher than the threshold of the picture element switching element when the panel is driven. It is the composition which is.
これにより、実装終了後の液晶表示パネルの実駆動時において、上記検査用スイッチング素子の閾値を絵素スイッチング素子の閾値よりも高くすることによって、検査用スイッチングにおけるリークを防止できるという効果を奏する。 Thereby, at the time of actual driving of the liquid crystal display panel after the completion of mounting, the threshold value of the inspection switching element is made higher than the threshold value of the pixel switching element, thereby producing an effect of preventing leakage in inspection switching.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線には、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設され、隣接するデータ線間には抵抗素子が配置されており、または、前記複数の走査線には、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設され、隣接する走査線間には抵抗素子が配置されていると共に、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、前記データ線の本数をn、前記検査用表示信号線の本数をk、前記検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合と、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、前記走査線の本数をn、前記検査用走査信号線の本数をk、前記検査用走査信号線の抵抗値をRとした場合との何れにおいても、
R<(rd/8)/(n/k)
を満たす構成である。
In the active matrix liquid crystal display panel according to the present invention, the plurality of data lines include a plurality of test display signal lines for supplying a display signal for test, so that different display signals are input to adjacent data lines. A resistive element is arranged between adjacent data lines, or inspection scanning signal lines for supplying an inspection scanning signal to the plurality of scanning lines are different from adjacent scanning lines. A plurality of scanning signals are provided, and resistance elements are arranged between adjacent scanning lines. The resistance value of each resistance element is rd, the number of data lines is n, and the inspection is performed. When the number of display signal lines is k and the resistance value of the inspection display signal line is R, the resistance value of each resistance element is rd, the number of scanning lines is n, and the number of scanning signal lines of the inspection The number k is the resistance of the scanning signal line for inspection. In any of the case where the R is also
R <(rd / 8) / (n / k)
It is the composition which satisfies.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線が共通に配設され、データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設され、隣接するデータ線間には抵抗素子が配置されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線が共通に配設され、走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設され、隣接する走査線間には抵抗素子が配置されていると共に、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、各データ線検査用スイッチング素子の抵抗値をrtr、前記データ線の本数をn、前記検査用表示信号線の本数をk、前記検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合と、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、各走査線検査用スイッチング素子の抵抗値をrtr、前記走査線の本数をn、前記検査用走査信号線の本数をk、前記検査用走査信号線の抵抗値をRとした場合との何れにおいても、
R<(rd/8−2rtr)/(n/k)
を満たす構成である。
In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. Is provided with a common data line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on / off the data line inspection switching element, and an inspection display signal is supplied to the data line via the data line inspection switching element. A plurality of inspection display signal lines are provided so that different display signals are input to adjacent data lines, and a resistive element is disposed between the adjacent data lines, or the plurality of scans The scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the line, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. Scanning inspection control signal line for inputting a control signal for turning on / off the switching element for scanning is commonly provided, and scanning for inspection is supplied to the scanning line via the scanning line inspection switching element. A plurality of signal lines are arranged so that different scanning signals are inputted to adjacent scanning lines, and resistance elements are arranged between the adjacent scanning lines, and the resistance values of the respective resistance elements are set to rd, When the resistance value of the data line inspection switching element is rtr, the number of the data lines is n, the number of the display signal lines for inspection is k, and the resistance value of the display signal lines for inspection is R, The resistance value of the element is rd, the resistance value of each scanning line inspection switching element is rtr, the number of scanning lines is n, the number of scanning signal lines for inspection is k, and the resistance value of the inspection scanning signal lines is R. Either Even if,
R <(rd / 8-2rtr) / (n / k)
It is the composition which satisfies.
これにより、検査用表示信号線および/または検査用走査信号線によって生じる電圧降下の影響を低減し、検査用配線の入力端子に印加される電圧の8割以上をデータ線または走査線に印加することができ、十分な印加電圧が得られるという効果を奏する。 Thereby, the influence of the voltage drop caused by the inspection display signal line and / or the inspection scanning signal line is reduced, and 80% or more of the voltage applied to the input terminal of the inspection wiring is applied to the data line or the scanning line. Therefore, there is an effect that a sufficient applied voltage can be obtained.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線には、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設されており、または、前記複数の走査線には、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設されていると共に、同一の検査用表示信号線に共通に接続されたデータ線間、または同一の検査用走査信号線に共通に接続された走査線間に抵抗素子が配置されている構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel according to the present invention, the plurality of data lines include a plurality of test display signal lines for supplying a display signal for test, and different display signals are input to adjacent data lines. The plurality of scanning lines are provided with a plurality of inspection scanning signal lines for supplying a scanning signal for inspection so that different scanning signals are input to adjacent scanning lines. In addition, a resistive element is arranged between data lines commonly connected to the same inspection display signal line or between scanning lines commonly connected to the same inspection scanning signal line.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルは、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線が共通に配設されると共に、データ線検査用スイッチング素子に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線が共通に配設されると共に、走査線検査用スイッチング素子に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設されていると共に、前記データ線検査用スイッチング素子を介して同一の検査用表示信号線に共通に接続されたデータ線間、または前記走査線検査用スイッチング素子を介して同一の検査用走査信号線に共通に接続された走査線間に抵抗素子が配置されている構成である。 In the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a switching element for data line inspection for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching The element is provided with a common data line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / cutting off the data line inspection switching element and supplies a display signal for inspection to the data line inspection switching element. A plurality of display signal lines for inspection are arranged so that different display signals are inputted to adjacent data lines, or in order to control the supply of the scanning signal for inspection to the plurality of scanning lines Each scanning line inspection switching element is individually connected, and each scanning line inspection switching element is controlled to conduct / cut off the scanning line inspection switching element. The scanning line inspection control signal line for inputting the signal is provided in common, and the inspection scanning signal line for supplying the scanning line inspection switching signal to the scanning line inspection switching element is different from the adjacent scanning line. And a plurality of scanning line inspection switching elements connected to the same inspection display signal line via the data line inspection switching element. In this configuration, a resistive element is arranged between the scanning lines commonly connected to the same inspection scanning signal line.
これにより、同一の抵抗素子で接続されたデータ線または走査線は、共通の検査用表示信号線または検査用走査信号線に接続される。このため、上記抵抗素子は、静電気を逃がす構造を維持しつつも、検査中には電圧がかからず電流が流れないため、検査用表示信号線または検査用走査信号線での電圧降下がなく検査精度がさらに向上するという効果を奏する。 As a result, the data lines or scanning lines connected by the same resistive element are connected to the common inspection display signal line or inspection scanning signal line. For this reason, while the resistance element maintains a structure for releasing static electricity, no voltage is applied and no current flows during the inspection, so there is no voltage drop in the inspection display signal line or the inspection scanning signal line. There is an effect that the inspection accuracy is further improved.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設されており、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、前記液晶表示パネルの検査時には、データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子に光を当てながら検査する構成である。 In the inspection method for an active matrix liquid crystal display panel of the present invention, a data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines. The inspection switching element is supplied with an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a control signal for conducting / interrupting the data line inspection switching element. A control signal line for data line inspection to be performed, or a switching element for scanning line inspection for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element includes an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element, and a scanning line. And a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / interrupting the inspection switching element, and when inspecting the liquid crystal display panel, the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching is provided. It is the structure which inspects, irradiating light to an element.
これにより、検査時に検査用スイッチング素子に光を当てることにより、該素子の電気抵抗を下げつつ検査用スイッチング素子自体が大型化することを防止することができ、良品率の低下を防ぐことができるという効果を奏する。 Thus, by applying light to the inspection switching element at the time of inspection, it is possible to prevent the inspection switching element itself from increasing in size while lowering the electrical resistance of the element, and to prevent a decrease in the yield rate. There is an effect.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルには、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設され、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設されていると共に、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが列状に配置してなる母基板に対して、隣接する液晶表示パネルの同一種類の検査用配線同士が電気的に接続されており、前記データ線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、前記走査線検査用制御信号線、および前記検査用走査信号線のうち、該液晶表示パネルに含まれているもの全ての入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、隣接パネルの接続方向であって何れの液晶表示パネルにも属しない領域に形成されると共に、前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なう構成である。 According to the active matrix liquid crystal display panel inspection method of the present invention, the active matrix liquid crystal display panel includes a data line inspection switching element for controlling supply of an inspection display signal to the plurality of data lines. Each of the data line inspection switching elements connected individually is provided with an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and a data line inspection switching element. A data line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / interrupting is provided, or a scanning line inspection switching element for controlling the supply of the inspection scanning signal to the plurality of scanning lines. Each scanning line inspection switching element is connected individually, and a scanning signal for inspection is supplied to the scanning line via the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for conducting / interrupting the scanning line inspection switching element are arranged, and a plurality of the active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row. The same type of inspection wirings of adjacent liquid crystal display panels are electrically connected to a mother substrate arranged in a shape, and the data line inspection control signal line, the inspection display signal line, Of the scanning line inspection control signal line and the inspection scanning signal line, all input terminals included in the liquid crystal display panel and signals are input to the common electrode when the liquid crystal display panel is inspected. And an input terminal for the active substrate is formed in a region which does not belong to any liquid crystal display panel in the connection direction of adjacent panels, and the mother substrate is connected to each active matrix liquid crystal display panel. Before the step of dividing the a configuration for inspecting attach the inspection jig on the mother board.
これにより、複数枚のアクティブマトリクス型液晶表示パネルが列状に配置してなる母基板に対して検査が行なえるため、検査効率が向上すると共に、検査される液晶表示パネルのサイズ等の規格が異なっても、上記領域に形成される検査用の入力端子の配置位置を同一にすれば、共通の検査用治具を用いて検査を行なうことができるという効果を奏する。 As a result, inspection can be performed on a mother substrate in which a plurality of active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row, so that inspection efficiency is improved and standards such as the size of the liquid crystal display panel to be inspected are set. Even if they are different, if the arrangement positions of the input terminals for inspection formed in the region are made the same, it is possible to perform inspection using a common inspection jig.
本発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は、前記複数のデータ線に、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が配設されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、データ線方向に列状に配置してなる母基板に対して、複数のデータ線が隣接する液晶表示パネルの領域を経由して、自パネルの検査用表示信号線に接続されているか、または、前記複数の走査線に、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が配設されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、走査線方向に列状に配置してなる母基板に対して、複数の走査線が隣接する液晶表示パネルの領域を経由して、自パネルの検査用走査信号線に接続されていると共に、前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なう構成である。 According to the inspection method of the active matrix liquid crystal display panel of the present invention, the plurality of data lines are provided with inspection display signal lines for supplying display signals for inspection, and the plurality of the active matrix liquid crystal display panels. However, with respect to the mother board arranged in a row in the data line direction, a plurality of data lines are connected to the display signal lines for inspection of the own panel via the adjacent liquid crystal display panel area, Alternatively, inspection scanning signal lines for supplying inspection scanning signals are arranged on the plurality of scanning lines, and the plurality of active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row in the scanning line direction. A plurality of scanning lines are connected to the inspection scanning signal lines of the self-panel via the adjacent liquid crystal display panel region, and the mother substrate is connected to each active matrix. Before the step of cutting the liquid crystal display panel, a structure to be inspected by attaching the inspection jig on the mother board.
これにより、複数枚のアクティブマトリクス型液晶表示パネルが列状に配置してなる母基板に対して検査が行なえるため、検査効率が向上すると共に、液晶表示パネルの検査後、上記母基板を個々のパネルに切断することにより、隣接する液晶表示パネルの領域を経由して自パネルの検査用表示信号線(および/または検査用走査信号線)に接続されるデータ線(および/または走査線)が分断される。このため、分断されるデータ線(および/または走査線)に対しては検査用スイッチング素子が不要となり、信頼性上の都合がよくなるという効果を奏する。 As a result, inspection can be performed on a mother substrate in which a plurality of active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row, so that inspection efficiency is improved, and after the inspection of the liquid crystal display panel, each of the mother substrates is individually The data lines (and / or the scanning lines) connected to the inspection display signal lines (and / or the inspection scanning signal lines) of the self-panel through the adjacent liquid crystal display panel area by cutting the panel. Is divided. This eliminates the need for an inspection switching element for the data lines (and / or scanning lines) to be divided, and has an effect of improving reliability.
〔実施の形態1〕
本発明に係る実施の一形態を、図1、図2、図14、図15、図18に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前述の従来技術の説明にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 1]
An embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIGS. 1, 2, 14, 15, and 18. For convenience of explanation, members having the same functions as those shown in the description of the prior art are given the same reference numerals, and description thereof is omitted.
図1は、本発明の一実施の形態であるアクティブマトリクス型液晶表示装置の平面模式図である。本実施の形態を含め以下に記すその他の実施の形態ともに、アクティブマトリクス型液晶表示装置は、ノーマリーホワイトモードで駆動されるものとする。 FIG. 1 is a schematic plan view of an active matrix liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. The active matrix liquid crystal display device is assumed to be driven in a normally white mode in all of the following embodiments including this embodiment.
ここでも、まず、前述の図14及び図15に示すように、絶縁性基板7上にゲート電極8、ゲート絶縁膜9、半導体層10、ソース,ドレイン電極となるn+ −Si層11、データ線3を構成する金属層12を順に形成して、アクティブマトリクス基板16を作製する。この作製工程及び有効表示領域17の構造は従来技術の項で説明したのと同じであるので、ここではその説明を省略する。
Also here, first, as shown in FIGS. 14 and 15, the
図16に示した従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置のアクティブマトリクス基板50では、走査線2,データ線3と、検査用表示信号線52a・52b・52c,検査用走査信号線53a・53bとは、単なる電気的接続となっており、その接続点はそれぞれの配線の交差部におけるゲート絶縁膜9(図15参照)などの絶縁性薄膜にあけられたコンタクトホールによるに過ぎなかった。
In the
これに対し、図1に示す本実施の形態のアクティブマトリクス基板16では、データ線3と検査用表示信号線21は検査用TFT(データ線検査用スイッチング素子)26aを、走査線2と検査用走査信号線22とは検査用TFT(走査線検査用スイッチング素子)26bを介して接続されている。検査用TFT26a・26bは、有効表示領域17における絵素TFT1(図14参照)と導光TFTで作製されるため、工程の増加はない。
On the other hand, in the
検査用TFT26aのドレインはそれぞれデータ線3に接続されており、そのソースはいずれも共通の検査用表示信号線21に接続されている。そして、検査用TFT26aのゲートは、該検査用TFT26aが接続されているデータ線3の該当する色ごとに、データ線検査用制御信号線として、赤の検査用制御信号線25R、緑の検査用制御信号線25G、青の検査用制御信号線25Bに接続されている。各データ線検査用制御信号線25R・25G・25Bには、検査用の入力端子(以下、検査端子と略記)30R・30G・30Bより信号が入力され、検査用表示信号線21には検査端子32から信号が入力される。
The drains of the
また、検査用TFT26bのドレインはそれぞれ走査線2に接続されており、そのソースはいずれも共通の検査用走査信号線22に接続されている。そして、検査用TFT26bのゲートは、走査線検査用制御信号線24に接続されている。走査線検査用制御信号線24には、検査端子41より信号が入力され、検査用走査信号線22には検査端子39から信号が入力される。
The drains of the
ここで、上記検査用TFT26aは、液晶表示装置の正規のデータ線3の入力端子qの対辺側に設けられている。これは次の理由による。
Here, the
すなわち、例えば図1に示すように、アクティブマトリクス基板16上に直接ソースドライバ20aを装着するCOG方式(Chip on Gate)は、従来のTAB(Tape Automated Bonding)方式よりドライバ実装にかかる加工精度はより高度なものが求められるものの、フィルム加工にかかる工程数や材料費がより小さくて済むため、絵素数が少なく低コストが求められる小型の液晶表示装置には好んで用いられる。
That is, for example, as shown in FIG. 1, the COG method (Chip on Gate) in which the
ところが、この方式では液晶表示パネルの有効表示領域17にあるデータ線3を、これより格段に小型であるソースドライバ20aまで引き出してこなければならないため、そのパターン形成領域はおのずと高密度となり、額縁部分が非常に広く設計されている場合を除いては、上記検査用TFT26aを、この引出し領域に形成することは困難な場合が殆どである。しかも、これを無理に配置したとしても、検査用表示信号線21とデータ線3との間の電気容量が問題になる場合が多い。
However, in this method, since the
すなわち、図1では、データ線3は走査線2および補助容量配線4と交差しているに過ぎないが、もし検査用表示信号線21などをソースドライバ20a側に配置したとすると、これら配線と検査用表示信号線21とデータ線3との間に電気容量が形成され、その大きさによっては信号遅延によって表示上不具合が生ずることが考えられる。
That is, in FIG. 1, the
特に、後に述べるように検査用表示信号線21は、同時に多数のデータ線3を駆動する必要があることから、その抵抗を極力小さくするために線幅を広くとる場合が多いため、その静電容量は大きく、データ線3に悪影響を与えるのみならず、検査用表示信号線21の遅延も極めて大きくなって検査に支障をきたすことが懸念される。
In particular, as will be described later, since the inspection
このような問題点が、検査用TFT26aを対辺側に設けることによって回避できるほか、仮に検査用TFT26aに不具合があって表示に悪影響を与える事態が生じた場合にも、レーザ切断などによって容易に検査用TFT26aと表示部とを電気的に切り離すことができる。
Such a problem can be avoided by providing the
つまり、検査用TFT26aは、その抵抗値と静電容量の積からなる時定数で決定される配線遅延を、極力小さくするためにチャネル幅を大きくするように設計されているが、このことによって不良発生率も同時に増加することは避けることができない。
That is, the
本来、この検査用TFT26aは表示装置完成後は表示になんら寄与しないものであるから、これら素子によって良品率が左右されることは許されない。つまり、万一検査用TFT26aに不良があっても良品として表示装置を出荷することが求められており、その為に検査用TFT26aは容易に切り離すことができるように設計しておかなければならず、検査用TFT26aをソースドライバ20aの対辺側に設けることが有効となる。
Originally, since the
そして、望ましい形態としては、検査用TFT26aの近傍の有効表示領域17に程近い位置に、レーザなどによって切断しやすいよう、パターンのくびれた部分を形成しておくことであり、また、仮に検査用TFT26aが何らかの理由でソースドライバ20aのある側に設けざるをえない場合も、切り離せることを考えてデータ線3に支線を設け、そこに検査用TFT26aを設けることが望ましい。
A desirable form is to form a constricted portion of the pattern at a position near the
尚、ここではデータ線3側について説明したが、走査線2側についても同様であることは当然であり、図1では走査線2側の走査線検査用制御信号線24と走査線2との間に交差部があるが、これらの間の静電容量の大小によっては、これらが交差しないように配線することが有効である。
Although the
次いで、上記のようにしてデータ線3まで形成されたアクティブマトリクス基板16に対して、層間絶縁膜13として感光性のアクリル樹脂をスピン塗布法によって3μmの膜厚で形成し、所望のパターンに従って露光し、アルカリ性の溶液によって処理することによって、層間絶縁膜13を貫通するコンタクトホール15を形成する(図15参照)。
Next, on the
この際、データ線3及び走査線2の端子q・p上は、TABを介した外部回路と電気的接触がとれるように、層間絶縁膜13が形成されないようにするが、検査用TFT26a・26bの上層には、層間絶縁膜13が配置されるようにしておく。これは、検査用TFT26a・26b上のソース−ドレイン間に何らかの物質の付着などによってリークがおこり、表示に悪影響を与えるのを防ぐためである。
At this time, the
さらに、絵素電極14となる透明導電膜をスパッタ法によって形成し、パターニングする。この絵素電極14は層間絶縁膜13を貫くコンタクトホール15を介して絵素TFT1のドレイン電極と接続される(図15参照)。
Further, a transparent conductive film to be the
このようにして完成したアクティブマトリクス基板16の有効表示領域17にポリイミド系の配向膜を成膜し、ラビングなどの処理により、配向機能を付加する。対向基板18においても、ITO(Indium Tin Oxide)などの透明な対向電極を成膜した後、有効表示領域17に当たる部分に同じ処理を施しておく。
A polyimide-based alignment film is formed on the
次いで、液晶表示パネルの周囲部において、液晶注入口の部分だけあけて、パネルを囲むように印刷方式などによりシール材(図示せず)を塗布し、さらにアクティブマトリクス基板16上の対向基板用信号入力端子と接続された配線の上に、導電性物質19を付着させた後、液晶層のセル厚を一定にするためのスペーサ(図示せず)を散布し、対向基板18と貼り合わせ、熱を加えてシール材を硬化させる。これにより、上記導電性物質を介して対向基板用信号入力端子と対向基板18の共通電極とが電気的に接続される。尚、ここでは、上記対向基板用信号入力端子として、液晶表示パネルの実駆動時に使用される入力端子pと、液晶表示パネルの検査時に使用される検査端子27とが形成されている。
Next, in the periphery of the liquid crystal display panel, only the liquid crystal injection hole is opened, a sealing material (not shown) is applied by a printing method or the like so as to surround the panel, and the counter substrate signal on the
その後、液晶注入口から液晶を注入し、封止材により液晶注入口を塞ぎ、液晶表示装置のパネル部分を完成させる。 Thereafter, liquid crystal is injected from the liquid crystal injection port, the liquid crystal injection port is closed with a sealing material, and the panel portion of the liquid crystal display device is completed.
このようにして完成した液晶表示パネルに対して、以下のようにして点灯検査を行う。図2に、点灯検査時に与える信号のタイミングを示す。 A lighting test is performed on the liquid crystal display panel thus completed as follows. FIG. 2 shows the timing of signals given at the time of lighting inspection.
走査線2側の走査線検査用制御信号線24に、+20Vを印加しつつ(図2(a)参照)、検査用走査信号線22に信号を供給する。この信号は表示装置完成後に任意の走査線2に供給される走査信号に近いものを供給することが望ましく、ここでは−10Vにバイアスしつつ周期16.7msでパルス幅50μsの+15Vのパルス電圧を供給した(図2(b)参照)。
While applying + 20V to the scanning line inspection
また、対向基板用信号入力端子27に、−1Vの直流電圧を加え(図2(c)参照)、検査用表示信号線21には、16.7msごとに極性が反転する±3.5Vの信号を供給した(図2(d)参照)。
Further, a DC voltage of −1 V is applied to the counter substrate signal input terminal 27 (see FIG. 2C), and the inspection
この状態で例えば、検査端子30R・30G・30Bから、赤緑青のデータ線検査用制御信号線25R・25G・25Bにすべて+20Vを供給すると、データ線3側の検査用TFT26aはすべて導通し、すべてのデータ線3に電圧が印加されるため、ノーマリーホワイトの本液晶表示装置の場合、画面は黒表示になる。
In this state, for example, if all + 20V is supplied from the
次に、赤のデータ線検査用制御信号線25Rのみ−10V印加してしばらくすると、赤のデータ線3の電荷が抜けてゆくにしたがって徐々に画面は赤表示になる。これは、赤に相当する検査用TFT26aが非導通であるため、赤のデータ線3に信号が供給されない上、赤のデータ線検査用制御信号線25Rにはまだ+20Vだったときに供給されていた電圧が、表示装置内の薄膜や検査用TFT26aの漏れ電流によって徐々に抜けて行くためである。この徐々に抜けて行く速度は、漏れ電流の量とデータ線3の静電容量による時定数によって決定されるが、これは検査用表示信号線21の反転周期よりも十分大きい為、最終的に到達する電圧は検査用表示信号線21に印加される信号の平均値となるように落ち着く。
Next, after −10 V is applied only to the
なお、電荷の抜ける時間が長すぎて検査に支障を来すようであれば、例えば−10Vではなく0Vや+5Vなどを印加して、適度に大きな抵抗値で検査用TFT26aが動作するようにしてもよい。
If the time for removing the charge is too long and the inspection is hindered, for example, 0V or + 5V is applied instead of -10V so that the
このように、赤緑青のそれぞれの色表示を行いつつ点灯検査することによって、輝点のみならず、絵素電極14とそれに信号を供給すべきでないデータ線3(一般には隣接絵素に信号を供給するデータ線3)とのリークがあった場合の欠陥である黒点の検出、及び隣接絵素どうしのリーク欠陥、並びに隣接するデータ線3・3間のリーク欠陥の検出も目視によって容易に行える。
In this way, by performing the lighting inspection while displaying each color of red, green, and blue, not only the bright spot but also the
また、本実施の形態のアクティブマトリクス基板16の構造では、検査用表示信号を供給するのは、共通の検査用表示信号線21のみであるため、検査時の信号遅延を考慮しなければならない検査用配線はこの21の1本だけであり、このことはパターン配置をする上で有利である。
Further, in the structure of the
つまり、後述する実施の形態2のように、赤緑青のそれぞれの検査用表示信号を別々に供給する方式の場合には、それぞれについて信号遅延を考慮しなければならず、抵抗値を下げるために線幅を大きくとるとすると、全体としては検査に要するパターン領域の面積が大きくなってしまい、不要領域の縮小という仕様上の制約に反することになってしまうが、この点で本方式は優れている。また、信号系も少なくて済み、色の切り替えは、表示したい色のデータ線検査用制御信号線25R・25G・25Bのハイ/ローの切り替えだけで行われるため、極めて容易である。
That is, in the case of a system in which display signals for inspection of red, green, and blue are separately supplied as in the second embodiment to be described later, the signal delay must be taken into account for reducing the resistance value. If the line width is increased, the area of the pattern area required for the inspection will increase as a whole, which would violate the restriction on the specification of reducing the unnecessary area, but this method is excellent in this respect. Yes. In addition, the number of signal systems can be reduced, and the color can be easily switched because only the high / low switching of the data line inspection
また、本実施の形態では、検査用表示信号線21は1本のみとしたが、液晶表示装置が大型である場合など、全体を同時に表示したときに検査用表示信号線21にかかる負荷が大きくなり過ぎて、検査上不具合を生じる場合などは、点灯すべきブロックを複数個に分割しておいて、それぞれに検査用表示信号線21を設けておくことも考えられる。この場合、配線数が増加するものの、上記の目的に加えて、次に述べる電気的検査において、欠陥箇所を特定する上でも都合がよい場合がある。
In the present embodiment, only one inspection
次に、線欠陥を検出するための電気的検査を行う。例えば、データ線3と走査線2との間のリークなどでは、そのリークの量によって点灯検査時には視認されないが、実装後に複雑な信号が供給された際に不良が視認されたり、長時間使用しているうちに徐々にリーク電流が増大して不良が明確化してくることがある。
Next, an electrical inspection for detecting line defects is performed. For example, a leak between the
このような欠陥は先に述べた点灯検査では発見されないため、電気的に抵抗検査を行って判別することが求められる。そして不良があった場合、修正できるものは修正し、できないものは廃棄するのであるが、この際重要なのがどの信号系とどの信号系がリークしているかということである。 Since such a defect is not found in the above-described lighting inspection, it is required to perform an electrical resistance inspection for determination. If there is a defect, what can be corrected is corrected, and what cannot be discarded is discarded. What is important at this time is which signal system and which signal system are leaking.
例えば、データ線3と対向電極との間でのリークなどは、力学的に力を加えるなどの比較的容易な方法で修正することができるが、走査線2と補助容量配線4との間のリークは、膜残りが巨大である場合が殆どであるため、修正が困難であるといった具合である。
For example, a leak between the
従来の液晶表示パネルの場合、それぞれの信号系の間の電気抵抗を測定して判別していたが、量産性を考えるとこのような測定は時間がかかりすぎて実用的でない。 In the case of the conventional liquid crystal display panel, the electric resistance between the respective signal systems is measured and discriminated. However, considering the mass productivity, such measurement is too time-consuming and impractical.
これに対し、本実施の形態の液晶表示パネルでは、例えば補助容量配線4と対向電極を短絡してマイナス電圧を、検査用表示信号線21と検査用走査信号線22を短絡してプラス電圧をそれぞれ与えつつ、電流をモニターしておき、データ線検査用制御信号線25R・25G・25B、および走査線検査用制御信号線24にそれぞれ制御信号を加えた際の電流の変化で、どの系統間にリークがあるのかを判断することができる。
On the other hand, in the liquid crystal display panel according to the present embodiment, for example, the
前述の場合、例えば走査線2側の検査用TFT26bを導通させて電流が検出されれば、図15の様な断面構造における走査線2(ゲート電極8と同層)と対向電極との間のリークは殆どないため、走査線2と補助容量配線4との間のリークであると判断できる。
In the above case, for example, if a current is detected by conducting the
また、データ線3側の検査用TFT26aを導通させた際に電流が検出されたとすると、データ線3と対向電極との間のリークか、データ線3と補助容量配線4との間のリークかが判断できない。
Further, if a current is detected when the
そこで、次に検査用表示信号線21と対向電極を短絡してプラス電圧を、検査用走査信号線22と補助容量配線4を短絡してマイナス電圧をそれぞれ印加する。そして、データ線3の検査用TFT26aを導通させたときに電流が検出されれば、データ線3と補助容量配線4との間のリークであることが判断できる。また、データ線3側と走査線2側の両方の検査用TFT26a・26bを導通させたときの電流の有無によって、データ線3と走査線2との間のリークも検知することができる。
Therefore, next, the inspection
以上に述べたように、この電気的検査の利点は、電源の供給系統を2通り切り替えて、後はスイッチングの動作だけで全抵抗検査が完了することであり、従来の図16に示したアクティブマトリクス基板50の構造の検査の様に、検査したい端子間の電圧を一回ずつ切り替えるための複雑なリレー回路等を外部に要しない。
As described above, the advantage of this electrical inspection is that the two resistance power supply systems are switched, and then the entire resistance inspection is completed only by the switching operation. Unlike the inspection of the structure of the
また、本実施の形態のアクティブマトリクス基板16の構成では、データ線3にリークがあった場合には、それが赤、緑、青のいずれのデータ線3にあるかが電気的にも判断できるため、修正を施す際には有利である。
Further, in the configuration of the
さらに、走査線検査用制御信号線24、データ線検査用制御信号線25R・25G・25Bをいくつかのブロックごとに設けるなどの構造をとれば、リーク箇所の位置を特定することができ、さらに有利である。
Furthermore, if the scanning line inspection
また、本実施の形態のアクティブマトリクス基板16を備えた液晶表示パネルを検査する際の応用例としては、以上に述べた順序に限らず、また、例えば検査用表示信号線21、検査用走査信号線22、対向電極および補助容量配線4にそれぞれ異なる電圧を与えて、検査用表示信号線21と補助容量配線4の電流をモニターしておき、検査用TFT26a・26bをそれぞれ導通/遮断するようにしてもよい。この方法では、電源系統は余分に要るものの全抵抗検査を検査用TFT26a・26bのスイッチング動作だけで行うことができるため、さらに高速な検査が実現できる。
Further, the application example when inspecting the liquid crystal display panel provided with the
その後、このように検査して良品と判定された液晶表示パネルに対して、走査線2を駆動するゲートドライバ20b、およびデータ線3を駆動するソースドライバ20aをそれぞれ必要数実装し、最後にこれらドライバ20を駆動するのに必要な信号を供給するためのFPC(Flexible Printed Circuit)(図示せず)を、アクティブマトリクス基板16を構成する絶縁性基板の端に実装することで、アクティブマトリクス型液晶表示装置が完成する。
After that, the necessary number of
ところで、すでに述べたように、検査用TFT26a・26bは、表示装置完成後は表示になんら寄与しないものであるばかりでなく、各データ線3や各走査線2がそれぞれ電気的に独立したものである必要を考えるとむしろ有害なものである。すなわち、これが悪影響を与えないためには、検査用TFT26a・26bは表示装置完成後は十分に高い抵抗であることが必須である。
By the way, as already described, the
ところが、TFTは半導体素子であるため、これに光があたると真性半導体中に電子・正孔対が発生し、漏れ電流が増加する。すなわち外部からの入射光の強度によっては、表示装置の性能に悪影響を与えかねず、また信頼性上の問題も懸念される。 However, since a TFT is a semiconductor element, when light is applied to the TFT, electron-hole pairs are generated in the intrinsic semiconductor, and leakage current increases. That is, depending on the intensity of incident light from the outside, the performance of the display device may be adversely affected, and there is a concern about reliability problems.
したがって、検査用TFT26a・26bは、十分に遮光されていることが望ましく、ここでは、図1に示すように、対向基板18のブラックマトリクス(図中、クロスハッチングにて示す)に相対する場所に、検査用TFT26a・26bを設けている。
Therefore, it is desirable that the
このような構成により、有効表示領域17の外周の無駄な領域を有効利用することができ、完全な遮光を期することができる。ただし、ブラックマトリクスの領域に十分な余分領域がない場合や、ブラックマトリクスそのものがない場合などは、実装部材などで遮光すればよい。
With such a configuration, a useless area on the outer periphery of the
また、検査用TFT26a・26bの閾値を高くすることによって、実装終了後のアクティブマトリクス16において、該検査用TFT26a・26bが導通状態となることを防ぐ方法もある。すなわち、上述したように、液晶パネルの検査終了後の実駆動時においては、上記検査用TFT26a・26bが導通状態となることは、表示に悪影響を与えるため避けるべきであり、上記検査用TFT26a・26bの閾値をあげることによって、検査用TFT26a・26bが表示に悪影響を与えない条件を広げることができる。
Further, there is a method of preventing the
上記検査用TFT26a・26bの閾値を高くするためには、例えば、以下の方法がある。例として、図1に示す液晶表示パネルにおいて検査用制御信号線24・25B・25G・25R(すなわち、検査用TFT26a・26bのゲート電極)に+50Vの正バイアスを与え、60℃のプレートの上に約1分置いたところ、図18に表すように、TFT26a・26bの特性は大きくシフトし、初期特性Aに対して閾値が大きくプラス側に動き、上記検査用制御信号線24・25に仮に+20Vが印加されてもTFT26a・26bは導通状態にならなくなった(図18における特性B)。ちなみに、上記検査用TFT26a・26bのゲート電極に過大なプラスバイアスを加えるだけでも閾値のシフトは起こるが、熱を加えることによってそれが促進されるため、より好ましい。
In order to increase the threshold value of the
〔実施の形態2〕
本発明に係る他の実施の形態を、図3〜図5、図14、図15に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 2]
Another embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIGS. 3 to 5, 14, and 15. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
図3は、本実施の形態のアクティブマトリクス型液晶表示装置の平面模式図である。 FIG. 3 is a schematic plan view of the active matrix liquid crystal display device of the present embodiment.
実施の形態1の図1に示したアクティブマトリクス基板16と異なり、図3に示す液晶表示装置のアクティブマトリクス基板31では、検査用TFT26aのゲートはいずれもデータ線検査用制御信号線25に共通に接続され、検査用TFT26aのソースが、2本の検査用表示信号線21a・21bに交互に接続されている。また、走査線2側の検査用TFT26bのソースも、2本の検査用走査信号線22a・22bに交互に接続されている。
Unlike the
データ線検査用制御信号線25には検査端子40より信号が入力され、検査用表示信号線21a・21bには、検査端子32a・32bより信号が入力される。検査用走査信号線22a・22bには、検査端子39a・39bより信号が入力される。
A signal is input from the
また、図1に示したアクティブマトリクス基板16は、補助容量配線4を有したCs on Common構造であったが、アクティブマトリクス基板31は、ある絵素の上方または下方の絵素の絵素TFT1(図14参照)を駆動する走査線2を、補助容量の代わりとして用いることによって開口率の向上を図る、いわゆるCs on Gate構造である。
Further, the
このようなアクティブマトリクス基板31からなる液晶表示パネルに対しては、以下のようにして点灯検査を行う。図4に、点灯検査時に与える信号のタイミングを示す。
A lighting test is performed on the liquid crystal display panel including the
走査線検査用制御信号線24、及びデータ線検査用制御信号線25のそれぞれに、+20Vを印加しつつ(図4(a)(b)参照)、検査用表示信号線21a・21bに実施の形態1と同じ信号を入力し(図4(c)参照)、検査用走査信号線22a・22bには、実施の形態1と同じ信号をタイミングをずらして入力する(図4(d)(e)参照)。また、対向基板用信号入力端子27には、−1Vの直流電圧を加える(図4(f)参照)。
While applying + 20V to each of the scanning line inspection
アクティブマトリクス基板31の構造では、実施の形態1のアクティブマトリクス基板16のように、検査用の配線が赤緑青に対応していないため、色表示を行うことはできないが、点灯検査の後、表示装置内のデータ線3・3間のリーク欠陥を電気的に検出できる。
In the structure of the
すなわち、データ線検査用制御信号線25に+20Vを印加することで、検査用TFT26aを導通状態にしておき、検査用表示信号線21a・21bの各検査端子32a・32b間の電気抵抗を測定する。
That is, by applying + 20V to the data line inspection
一般にデータ線3・3間のリークは、隣接ライン間で生ずるため、該検査用TFT26aを交互に2本の検査用表示信号線21a・21b間に接続することで、これが可能となる。
In general, a leak between the
そのため、検査用TFT26aに求められる導通状態における抵抗値は検出しようとするリークの抵抗値と比べて十分に小さなものでなければならない。具体的には、一般にデータ線3・3間に10MΩ以下のリークがあった場合には、その表示装置の置かれる環境の如何および使用時間によって視認される虞れがあるため、不良として排除する必要がある。検査用TFT26aの特性のばらつきを考えると、導通時の抵抗はトータルで検出抵抗値(リーク抵抗値)の10%以下であることが妥当であり、両検査端子32a・32bの間には、検査用TFT26aが2個直列に存在するため、1個当たりの抵抗値は500kΩ(リーク抵抗値の5%)以下である必要がある。
For this reason, the resistance value in the conductive state required for the
本実施の形態ではこれを満たすため、検査用TFT26aのチャネル幅、チャネル長をそれぞれ200(μm),5(μm)とした。これは絶縁膜の単位面積当たりの静電容量と半導体中の電子の移動度から算出して170kΩとなるような設計にしたものであるが、検査用TFT26aの構成によってはチャネルのサイズはそれぞれ設計し直す必要があるのは当然である。
In this embodiment, in order to satisfy this, the channel width and the channel length of the
また、検査用TFT26aが破壊されない程度であれば、データ線検査用制御信号線25に供給される制御信号の電圧は高いほうが導通時の抵抗値が低くなって有利であるため、上述した+20Vに限定されるものではない。
Further, if the
ところで、図3のアクティブマトリクス基板31の構成では色表示ができないことは既に述べたが、図5に示すアクティブマトリクス基板33の構成とすると、この問題は解決される。
By the way, although it has already been described that the color display cannot be performed with the configuration of the
すなわち、このアクティブマトリクス基板33では、検査用TFT26aのソースは、検査用TFT26aが接続されているデータ線3の該当する色ごとに、赤の検査用表示信号線21R、緑の検査用表示信号線21G、青の検査用表示信号線21Bに接続されている。
That is, in the
したがって、データ線検査用制御信号線25に検査用TFT26aを導通させる信号を供給した上で、3本の検査用表示信号線21R・21G・21Bのそれぞれに独立して信号を供給することによって色表示が可能になる。もちろん、図3の場合と同様に、検査端子32R・32G・32Bの抵抗を測定することで、データ線3・3間のリークを検出できる。
Accordingly, a signal for conducting the
そしてまた、図3のアクティブマトリクス基板31も、図5のアクティブマトリクス基板33も、検査用走査信号線が22a・22bの2本設けられ、偶数番目の走査線2と奇数番目の走査線2のそれぞれが交互に、各検査用走査信号線22a・22bに接続されている。
In addition, both the
これは、Cs on Gate構造の場合、上下の隣り合う走査線2・2には異なるタイミングで絵素TFT1を導通させる信号を供給しなければならず、これに対応するためである。
This is because, in the case of the Cs on Gate structure, the upper and lower
また、このように走査線2のそれぞれが交互に2本の検査用走査信号線22a・22bに接続されている構造では、上述したデータ線3・3のリークの抵抗検査と同じ原理で、点灯検査後に、検査端子39a・39bの抵抗を測定することで、走査線2・2同士のリークを検出できる。尚、この場合の検査用TFT26bの抵抗値も500kΩ(リーク抵抗値の5%)以下とするのが好ましい。
Further, in the structure in which each of the
また、本実施の形態では、検査用制御信号線24・25は、データ線側及び走査線側においてそれぞれ1本ずつとしたが、実施の形態1で述べたのと同じ理由で、全体表示時の検査用表示信号線や走査信号線、もしくは対向電極や補助電極にかかる負荷が大きくなり過ぎて検査上不具合を生じる場合などは、これらを複数本に分割して、ブロック毎に点灯することで、解決を図ることができる。
In the present embodiment, one inspection
〔実施の形態3〕
本発明に係る他の実施の形態を、図6、図19〜図24に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1,2にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 3]
Another embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIGS. 6 and 19 to 24. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first and second embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
図6は、本実施の形態のアクティブマトリクス型液晶表示装置の平面模式図である。 FIG. 6 is a schematic plan view of the active matrix liquid crystal display device of the present embodiment.
図6に示すアクティブマトリクス基板34は、実施の形態2の図5に示したアクティブマトリクス基板33とは、検査に必要な信号の供給をすべて1辺から行っている点が異なる。つまり、検査用走査信号線22a・22bがゲートドライバ20bが配設されている辺にまで周回されており、検査端子39a・39bが該辺に形成されている。また、走査線検査用制御信号線24においては、データ線3側のデータ線検査用制御信号線25とパネル内部で電気的に接続されており、検査端子40より信号供給される。またこの時、検査時において対向基板18にも信号入力可能となるように対向基板信号入力用の検査端子27も上記各検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40)と同一辺に配置されている。
The
このように検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40・27)を同じ辺に配設することで、検査用の治具の設計が容易かつ安価になり、また治具への設置時の液晶表示パネルの回転方向のずれに対するコンタクト不良の発生率が、2辺以上に検査端子がある場合と比べて抑えられる。 By arranging the inspection terminals (39a, 39b, 32R, 32G, 32B, 40, and 27) on the same side in this way, the design of the inspection jig becomes easy and inexpensive, and the inspection terminal is installed on the jig. The occurrence rate of contact failure with respect to the deviation of the rotation direction of the liquid crystal display panel at the time can be suppressed as compared with the case where there are inspection terminals on two or more sides.
さらに、図における縦方向に多数の液晶表示パネルが連なった状態でも、点灯検査することができるため、小型パネルを大量に検査する場合でもこれらをまとめて検査することが可能となり、生産性が向上する。 Furthermore, even when a large number of liquid crystal display panels are connected in the vertical direction in the figure, it is possible to inspect the lighting, so even when a large number of small panels are inspected, these can be inspected together, improving productivity. To do.
すなわち、基板を大判にて生産した後、点灯検査する前に図の縦長方向に分断した後、検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40・27)がある方の辺だけ対向基板18をさらに切断して、端子へのコンタクトが可能となるようにする。こうして点灯検査を行ったあと、個々の液晶表示パネルに分断し、そのそれぞれに対してさらに対向基板18を切断してソースドライバ20aの実装領域のあたりの対向基板18を取り除く。
In other words, after the board is produced in large format, before being inspected for lighting, it is divided in the longitudinal direction of the figure, and then only the side where the inspection terminals (39a, 39b, 32R, 32G, 32B, 40, 27) are located is the opposite substrate. 18 is further cut to allow contact to the terminals. After performing the lighting inspection in this way, the liquid crystal display panel is divided into individual liquid crystal display panels, and the
この構造によると、例えば実装後に検査端子から静電気が入ったり、不要な信号が入るのを防ぐために検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40・27)に絶縁テープ等を施そうとした場合でも、これを施すべき領域が一辺に限定されているため、作業性がよくなる。 According to this structure, for example, in order to prevent static electricity from entering the inspection terminal after mounting or unnecessary signals from entering, an inspection tape (39a / 39b / 32R / 32G / 32B / 40/27) is to be provided with an insulating tape or the like. Even in this case, the workability is improved because the area where this should be performed is limited to one side.
さらに、これらの検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40・27)を、図19に示すように、液晶表示パネルの何れか1カ所に集中して配置すれば、すなわち、アクティブマトリクス基板の34−1の1辺における特定領域内で近接して配置されれば、さらに検査用治具への設置時の位置合わせが容易になり、また、絶縁テープなどを施す際の作業性も向上する。 Further, as shown in FIG. 19, these inspection terminals (39a, 39b, 32R, 32G, 32B, 40, and 27) are concentrated in any one of the liquid crystal display panels, that is, an active matrix. If they are arranged close to each other in a specific region on one side of the board 34-1, it is easier to align when installing on the inspection jig, and workability when applying insulating tape or the like is also improved. improves.
また、図6のアクティブマトリクス基板34では、データ線検査用制御信号線25と走査線検査用制御信号線24とを、パネル内部で電気的に接続したため、これによって余分な配線領域の確保が不要になるばかりでなく、この1本の制御信号線に加える信号のハイ/ローの切り替えのみで、全ての検査用TFT26a・26bのオン/オフが切り替わり、検査モードと実表示モードの切り替えが可能になる。
Further, in the
ここで、上記アクティブマトリクス基板34を大判にて生産した後、縦長方向に分断し、複数枚連なった状態の液晶表示パネルに対して検査を行なう場合の構成を図20に示す。尚、図20において、アクティブマトリクス型液晶表示パネルがデータ線方向に複数枚連なったものを母基板と称する。従来では、マザーガラスに縦横多数枚のアクティブマトリクスセルを配置して形成し、これと対向基板とを貼り合わせた後、それぞれのセルに分断するのが通常であるが、本実施の形態では、検査前の段階では個々のセルに分断するのではなく、図のように短冊状に分断する。但し、プロセスによっては、アクティブマトリクス基板34に対向基板18を貼り合わせてから分断するのではなく、先に予めアクティブマトリクス基板34および対向基板18を所定の形状(すなわち、短冊状)に分断してから貼り合わせる場合もある。
Here, FIG. 20 shows a configuration in the case where the
図20は検査段階での状態であり、アクティブマトリクス基板34の分断線71と対向基板18の分断線72とがずれて形成されている。これは、検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40・27)の配置領域が検査用治具とコンタクトできるように、該領域を露出させるためであり、この部分はそのまま液晶表示パネル完成時の走査線側実装領域となる。すなわち、上記構成では、それぞれのセルにおける全ての検査端子が、走査線側実装領域に対応する1辺に配置されているため、データ線側実装領域が対向基板18によってカバーされている図20の状態でも、点灯検査および電気的検査を通常通り行なうことができる。尚、ここでの検査の行い方については、既に述べたのと同様である。
FIG. 20 shows a state at the inspection stage, in which the
検査が終わった後は、分断線73において個々のセルに分断した後、対向基板18を分断線74において切り離し、データ線側実装領域を露出させる。ちなみに図の70a、70bはそれぞれソースドライバ、ゲートドライバが装着される部分であり、75はセルの分断後において廃棄される不要部分である。
After the inspection is finished, the cell is divided into individual cells at the
このように、上記図20の構成では、複数枚のセルを一度に検査できるため、検査効率がよく、検査にかかるコストを削減できる。また、上記母基板の状態で検査を行なう場合には、もとのマザーガラスの端面76を基準にして検査用治具に装着されるが、上記端面76の寸法精度は十分良好であるため、分断されたセルを検査用治具に装着する場合と比べてアライメントが取りやすい。
As described above, in the configuration of FIG. 20, a plurality of cells can be inspected at a time, so that the inspection efficiency is good and the cost for the inspection can be reduced. Further, when performing the inspection in the state of the mother substrate, it is mounted on the inspection jig with reference to the
次に、隣接するセルにおいて、同一信号を供給すべき配線を相互に結線した場合の構成を図21に示す。図21における母基板は、アクティブマトリクス基板34とほぼ類似した構成のアクティブマトリクス基板34−2がデータ線方向に複数枚連なった状態のものである。但し、上記母基板におけるアクティブマトリクス基板34−2では、検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40)に接続される各配線(22a、22b、24、25、21B、21G、21R)が各セル間において相互に結線されている。但し、データ線検査用制御信号線25は、走査線検査用制御信号線24に接続されているため、走査線検査用制御信号線24を介して結線されることとなる。
Next, FIG. 21 shows a configuration when adjacent lines to which the same signal is supplied are connected to each other in adjacent cells. The mother substrate in FIG. 21 is a state in which a plurality of active matrix substrates 34-2 having a configuration substantially similar to that of the
この場合、アライメント後や検査信号入力ピンのずれ等によって検査端子の何カ所において入力のコンタクトが悪くても、上記結線部分を介して隣接セルから信号が供給されるため、検査が可能となる。また、治具の製作コストを削減するために、間のセルの検査信号入力ピンを省略したり、信号入力端子のピッチが小さい場合には、隣接セルと交互に入力端子を設けても良い。例えば、図21の場合では、第1のセルにおいて39a、32G、40、27の検査端子を設け、第2のセルにおいて39b、32B、32R、27の検査端子を設けることができる。これにより、検査信号の入力をしやすくしたり、あるいは検査用治具の製作コストを下げることができる。 In this case, since the signal is supplied from the adjacent cell via the connection portion, the inspection can be performed even if the input contact is poor at any number of the inspection terminals due to the alignment or the inspection signal input pin shift. Further, in order to reduce the manufacturing cost of the jig, the input terminals may be provided alternately with adjacent cells when the inspection signal input pins of the cells between them are omitted or when the pitch of the signal input terminals is small. For example, in the case of FIG. 21, 39a, 32G, 40, and 27 inspection terminals can be provided in the first cell, and 39b, 32B, 32R, and 27 inspection terminals can be provided in the second cell. As a result, it is possible to easily input the inspection signal, or to reduce the manufacturing cost of the inspection jig.
また、図21の構成では、同一信号を供給すべき配線を相互に結線したことにより、各検査用信号配線(22a、22b、24、25、21B、21G、21R)には、個々のセルにおいて検査信号を入力する必要が無くなる。このため、各セル上部の検査用信号配線近傍に十分な空き領域が無い場合や、検査端子の配置領域が十分に確保されない場合等には、上記各検査端子を走査線側実装領域に配置するのではなく、マザーガラスの余白領域75に配置することもできる。
In the configuration shown in FIG. 21, the wirings to be supplied with the same signal are connected to each other, so that each inspection signal wiring (22a, 22b, 24, 25, 21B, 21G, 21R) is connected to each cell. There is no need to input an inspection signal. For this reason, when there is no sufficient free area near the inspection signal wiring in the upper part of each cell, or when the inspection terminal arrangement area is not sufficiently secured, the inspection terminals are arranged in the scanning line side mounting area. Instead, it can be arranged in the
但し、この場合、上記余白領域75において各検査端子に信号入力できるように、検査前の段階で上記余白領域75に対向する部分の対向基板18を切断して取り除く必要がある。
However, in this case, it is necessary to cut and remove the portion of the
上記各検査端子をマザーガラスの余白領域75に配置した構成の母基板を図22に示す。上記図22における母基板は、アクティブマトリクス基板34とほぼ類似した構成のアクティブマトリクス基板34−3がデータ線方向に複数枚連なった状態のものである。
FIG. 22 shows a mother board having a configuration in which the inspection terminals are arranged in the
上記母基板においては、対向基板18側の共通電極への対向基板用信号入力端子27は、上記各検査端子と同様に余白領域75に設けられており、コモン移転部19a・19bを介して隣接セルの共通電極同士をアクティブマトリクス基板34−3側の配線を通じて接続する形状となっている。すなわち、上記コモン移転部19a・19bは、隣接する2枚のセルにおける各対向基板18の下端部付近および上端部付近にそれぞれ設けられており、コモン移転部19aと19bとがアクティブマトリクス基板34−3側の配線を通じて接続されている。また、上記アクティブマトリクス基板34−3側の配線部分には、液晶表示パネルの実駆動時に対向基板18に電圧を印加するための端子pが形成されている。これにより、セルの分断後における液晶表示パネルの実駆動時には、上記端子pからコモン移転部19aを介して対向基板18に電圧が印加される。
In the mother board, the counter substrate
さらにここでは、検査端子のそれぞれの配置とマザーガラスの端面76との位置関係を他の全ての機種と共通にしており、これによって、各セルのサイズなど規格が異なっても、全て共通の治具で検査を行なうことができる。このため、多機種少量生産の液晶表示パネルであっても、単一機種大量生産の場合と同様の検査を行なうことができ、生産性がよくなる。また、もとのマザーガラスの端面76に機械的にアライメントを取ることになるが、マザーガラスの寸法精度が十分良好であるので、信号入力の位置合わせが容易である上、該構造では入力端子の大きさを十分大きくすることができる。
Furthermore, here, the positional relationship between the arrangement of the inspection terminals and the
また、図11の例では、隣接セル間の各検査用配線の結線は単純な電気的接続としたが、配置的に十分な余裕がある場合は、スイッチング素子を介して接続した方が望ましい場合もある。この場合、上記スイッチング素子のオンオフを切り替えるのみで非検査セルを選択できることになり、全セルを同時に検査する際に検査用配線の負荷が大きくなりすぎて不都合を生ずる場合や、何れかのセルに重大なリーク欠陥があって、このリーク電流が大きすぎて検査用配線に十分電圧がかからず、他のセルの検査にまで悪影響を及ぼす場合等に都合がよい。また、前述の電気的検査を行なう場合には、これらセル間の切り替えを行ないつつ検査することによって、不良セルの特定が容易になる。 Further, in the example of FIG. 11, the connection of each inspection wiring between adjacent cells is a simple electrical connection. However, when there is a sufficient margin in arrangement, it is desirable to connect via a switching element. There is also. In this case, a non-inspection cell can be selected simply by switching on / off the switching element. When all the cells are inspected at the same time, the load of the inspection wiring becomes too large, causing inconvenience, or in any cell This is convenient when there is a serious leak defect, the leak current is too large, and a voltage is not sufficiently applied to the inspection wiring, which adversely affects the inspection of other cells. Further, when performing the electrical inspection described above, the defective cell can be easily identified by performing the inspection while switching between these cells.
尚、上記の説明では、複数のアクティブマトリクスセルをデータ線方向に連結したものを母基板としたが、走査線方向であっても手段方向ともに同様であり、したがって特許請求の範囲において記載の列状という表現もセルの連結の方向を規定するものではない。 In the above description, the mother substrate is formed by connecting a plurality of active matrix cells in the data line direction. However, even in the scanning line direction, the means direction is the same. Therefore, the columns described in the claims are the same. The expression “state” does not define the direction of cell connection.
上記図20ないし図22の構成では、各データ線3は、検査用TFT26aを介してデータ線検査用制御信号線25と検査用表示信号線、21B、21G、および21Rとに接続されている。しかしながら、液晶表示パネルの実駆動時において各データ線3と検査用表示信号線21B、21G、21Rとが導通することは、表示に悪影響を与える。このため、液晶表示パネルの実駆動時では、データ線検査用制御信号線25にオフ電位が与えられ、検査用TFT26aは常にオフ状態となっている。
20 to 22, each
これに対し、図23の構成では、各データ線3は検査用TFT26aを介してデータ線検査用制御信号線25、および検査用表示信号線21B、21G、21Rに接続されるのではなく、一旦隣接セルまで延長してから折り返し、自セルの検査用表示信号線21B、21G、21Rに直接接続される。なお、この場合、検査用TFT26aが形成されないため、データ線検査用制御信号線25も不要となる。
On the other hand, in the configuration of FIG. 23, each
上記構造によると、母基板の状態では各データ線3は常に検査用表示信号線21B、21G、21Rと接続されているため、各走査線2のみ前述と同様に検査用TFT26bを介して信号を供給し、検査用表示信号線21B、21G、21Rには通常の点灯検査と同様のデータ信号を与えれば、検査を行なうことができる。検査後、個々のセルに分断する際に、各データ線3の延長部はこの折り返し部分において切断されるので、各データ線3は検査用データ線から切り離され、個々の独立した配線となる。
According to the above structure, since the
上記構造によると、検査用のスイッチング素子が大幅に減るため、検査用TFT部におけるデータ線間のリーク欠陥による歩留まり低下の懸念が大幅に減少し、また、信頼性上も都合がよい。また、検査用TFT26aにかかる領域上の制約も改善される上、データ線3への検査信号の入力抵抗が大幅に減少するため、より少ない書き込み時間での検査ができるなど、検査精度の向上にも貢献する。ちなみに該折り返し部は隣接セルに残留するが、これは電気的になんら不具合を与えるものではなく、必要とあらば面取り等で取り除くこともできる。また、データ線方向でなく走査線方向にセルが連なる母基板構造とする場合には、隣接セルから折り返すのはデータ線でなく走査線であることは言うまでもない。
According to the above structure, the number of inspection switching elements is greatly reduced, so that the risk of a decrease in yield due to leakage defects between data lines in the inspection TFT portion is greatly reduced, and the reliability is also favorable. In addition, the restriction on the area of the
また、上記図20および図21の構成では、それぞれのセルにおける全ての検査端子(39a・39b・32R・32G・32B・40・27)が、走査線側実装領域に対応する1辺に配置されているが、図24に示すように、対向する2辺に分けて配置することもできる。すなわち、図24に示す構成では、アクティブマトリクス基板34−4において検査端子32R・32G・32B・40・27が走査線側実装領域に対応する辺に配置されているが、検査端子39a・39bはこれと対向する辺に配置されている。このような場合においても、データ線側実装領域が対向基板18によってカバーされている状態で点灯検査および電気的検査を通常通り行なうことができ、アクティブマトリクス型液晶表示パネルがデータ線方向に複数枚連なった母基板に対して検査が可能となる。
20 and 21, all the inspection terminals (39a, 39b, 32R, 32G, 32B, 40, and 27) in each cell are arranged on one side corresponding to the scanning line side mounting region. However, as shown in FIG. 24, it can also be divided into two opposing sides. That is, in the configuration shown in FIG. 24, in the active matrix substrate 34-4, the
〔実施の形態4〕
本発明に係る他の実施の形態を、図7、図8に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1〜3にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 4]
Another embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIGS. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first to third embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
すでに述べたように検査用TFT26a・26bは、表示装置完成後は表示になんら寄与しないものであるばかりでなく、データ線3や走査線2はそれぞれ電気的に独立したものである必要があることから、検査用TFT26a,26bは表示装置完成後は十分に高い抵抗であることが必須である。
As described above, the
これを実現するため、表示中にはこれら検査用TFT26a・26bを非導通にする信号を与えておくことが望ましく、検査用TFT26a・26bがn型である場合には、表示中はゲートにマイナスの電圧が与えられていることが望ましい。
In order to realize this, it is desirable to give a signal for turning off the
そこで、図7に示す本実施の形態のアクティブマトリクス型液晶表示装置のアクティブマトリクス基板35では、パネル内部で接続された1本の検査用制御信号線25(24)の端が、アクティブマトリクス基板35における下端(図において)にまで延設されている。その他の構成は、実施の形態3の図6に示したアクティブマトリクス基板34と同じである。
Therefore, in the
この下端は、ドライバ20ヘの信号を供給するFPCを接続する領域であり、ここに1本の検査用制御信号線25(24)に信号を供給する端子43を設けて、これをFPCと接続しておき、外部から検査用TFT26a・26bにマイナスの電圧を加えている。これにより、液晶表示装置の駆動時には必ず検査用TFT26a・26bが遮断されている状態にあり、表示上不具合を生じない。
This lower end is an area for connecting an FPC for supplying a signal to the
さらに、図8に示すアクティブマトリクス基板36のように、ゲートドライバ20bの駆動用電源の内のマイナス側の電源と検査用制御信号線25(24)を接続する構成ともできる。
Further, as in the
これは、ゲートドライバ20bやソースドライバ20a等のドライバ20のICには、このICの内部のロジック回路内のスイッチング素子をオン/オフするための電源が必要であることを利用したもので、図7のアクティブマトリクス基板35の構成のように外部から別に電圧を印加する必要がなく、かつ表示上不具合を生じない。
This is because the IC of the
このパネル内の接続は、ドライバ20の駆動用電源の内のマイナス側の電源のほか、ドライバ20からの出力の電圧レベルを外部から与える電源でもよく、また検査用TFT26a・26bの特性によってはドライバ20に接地電位を与える配線と接続してもよい。
The connection in this panel may be a negative power source of the driving power source of the
〔実施の形態5〕
本発明に係る他の実施の形態を、図9に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1〜4にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 5]
Another embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIG. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first to fourth embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
前述の実施の形態1〜4においては、検査用TFT26a・26bは、対向基板18上のブラックマトリクスに相当する部分に設けられていたのに対し、本実施の形態のアクティブマトリクス型液晶表示装置では、検査用TFT26a・26bの上には対向基板42のブラックマトリクス(図中、クロスハッチングにて示す)がなく、検査用TFT26a・26bに光を照射することができるようになっている。
In the first to fourth embodiments described above, the
この構造は以下ような利点がある。つまり、前述したように検査時には検査用TFT26a・26bの抵抗値は低ければ低いほどよく、そのため検査用TFT26a・26bのチャネル幅Wをチャネル長Lで除した値は大きくする必要がある。具体的にはデータ線3・3間のリーク抵抗を検知するには500kΩ以下にする必要があり、これを実現するために前述の実施の形態2では、W/Lを200/5とした。このように大きな検査用TFT26a・26bでは、これを設置したことによる不良の発生が懸念され、また、これによって良品率が低下することが許されないことは前述した通りである。
This structure has the following advantages. In other words, as described above, the resistance value of the
また、例えば大型機種のCs on Gateの場合の様に、走査線容量が大きい場合を例に考察してみると、検査用TFT26bが600pFの走査線容量をスイッチングするとして、実駆動時のパルス幅25μsに対して時定数が十分小さい3μsとなるように検査用TFT26bの抵抗値を設定すると、5kΩ以下でなければならない。これをMOSTFTの一般的な電流の近似式である以下の式に従って導くとW/Lは1500以上でなければならない。
Considering an example where the scanning line capacitance is large as in the case of a large model Cs on Gate, for example, the
Id=(W/L)μC{(Vg−Vth)Vds−Vds2 /2}
ただし、ここでμは電子の移動度で0.5cm2 /Vs、Cは単位面積当たりのゲート絶縁膜9の容量で1.6×10-8F/m2 とした。
Id = (W / L) μC {(Vg-Vth) Vds-
Here, μ is the electron mobility of 0.5 cm 2 / Vs, and C is the capacity of the
また、走査線2の電圧を−10Vおよび+15Vとし、検査用制御信号線24(25)の印加電圧を20Vとして電圧固定で抵抗値計算した。現実としてはLは最小で5μm程度が限界であり、この場合Wは7500μm以上となり、これは歩留りまで考慮すると実現は困難であると言わざるを得ない。
The resistance value was calculated with the voltage fixed at a voltage of -10 V and +15 V for the
そこで、検査用TFT26a・26bに検査時だけ光を照射して電流値を増大させることによって、W/Lが小さくても必要な書き込み特性が得られるようにしたのである。
Therefore, by irradiating the
すなわち、検査用TFT26a・26bは半導体素子であり、これに光が当たると真性半導体中に電子・正孔対が発生する。TFTがオンされた状態においては、真性半導体は十分に反転しているため、オフの場合の漏れ電流ほどの光感度は得られないが、それでも光の強度によっては5倍から10倍程度の電流増加があることが実験的に確認された。
That is, the
アクティブマトリクス基板34では、検査用TFT26a・26bは一様にオン状態としており、検査用表示信号線21R・21G・21Bや検査用走査信号線22a・22bの信号の切り替えで点灯状態を変化させる方式であるため、検査が終わるまでの間は検査用TFT26a・26bをスイッチングする必要がなく、検査用TFT26a・26bに一様に強い光を照射し続けるだけでよい。
In the
但し、検査時に検査用TFT26a・26bに光を当てるべく、対向基板42においてはブラックマトリクスをこれら検査用TFT26a・26bに重ならないように設けているので、実装後は遮光を考慮にいれて外装部材を設計しておく必要がある。
However, in order to irradiate light to the
〔実施の形態6〕
本発明に係る他の実施の形態を、図10に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1〜5にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 6]
Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first to fifth embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
図10は、本実施の形態のアクティブマトリクス型液晶表示装置の平面模式図である。 FIG. 10 is a schematic plan view of the active matrix liquid crystal display device of the present embodiment.
図10に示すアクティブマトリクス基板37は、実施の形態4の図7に示したアクティブマトリクス基板35とほぼ同じ構成を有しているが、FPCと接続される前述の端子43が検査端子40としての機能も有し、かつ、この端子43と、検査用TFT26a・26bとの間に、入力保護用の抵抗素子44が設けられている構成である。
The
これは、次のような理由による。すなわち、検査用制御信号線24(25)は、検査用TFT26a・26bのゲート電極とつながれているのみで他に電荷の逃げる経路がないため、一般のMOSトランジスタのゲートと同様にインピーダンスが非常に高い。したがって、この配線に静電気が入り込んだ場合、検査用TFT26a・26bのゲート−ドレイン間やゲート−ソース間に高電圧がかかることとなり、絶縁破壊が起こり、リーク欠陥をおこす恐れがある。
This is due to the following reason. That is, since the inspection control signal line 24 (25) is connected to the gate electrodes of the
そこで、実施の形態3で述べたように、不要な信号が入るのを防ぐために各検査端子に絶縁テープ等を施す絶縁処理が有効であるが、図10の構成では、この端子43は検査後、検査用TFT26a・26bに遮断電圧を与えるべくFPCを通じて外部に導通される。
Thus, as described in the third embodiment, in order to prevent an unnecessary signal from entering, an insulation process for applying an insulating tape or the like to each inspection terminal is effective. However, in the configuration shown in FIG. The
したがって、この液晶表示装置を外部の装置に装着したり取り扱う際に帯電した物体に触れる機会が多くなり、静電気不良の確率が高くなる。そして、この不良は液晶表示装置が実際に使用されるユーザの手元で発生する可能性があるため、出荷前の検査などで選別することができず極めて不都合であり、表示装置の構造面で何らかの対策を講じておく必要がある。 Therefore, there are many opportunities to touch a charged object when the liquid crystal display device is mounted on or handled by an external device, and the probability of static electricity failure is increased. This defect may occur at the hands of the user who actually uses the liquid crystal display device, so it cannot be sorted out by inspection prior to shipment or the like, and is extremely inconvenient. It is necessary to take measures.
そこで、従来の表示装置における配線間の入力保護回路のように、トランジスタのゲートとソースを短絡して構成したダイオードを双方向につないで隣接配線に静電気を逃がすことが有効であり、図10に示すように、このアクティブマトリクス基板37では、検査用走査信号線22a・22b間、及び検査用表示信号線21R・21G・21B間に、該ダイオード型のTFTからなる入力保護回路45をつないで静電気対策としている。
Therefore, as in an input protection circuit between wirings in a conventional display device, it is effective to connect a diode formed by short-circuiting the gate and source of a transistor in both directions to release static electricity to adjacent wirings. As shown in the figure, the
しかしながら、検査用制御信号線24(25)と、これら検査用走査信号線22a・22b、及び検査用表示信号線21R・21G・21Bの間には入力保護回路45を設けず、検査用制御信号線24(25)においては、端子43と検査用TFT26a・26bとの間に入力保護用の抵抗素子44を設けている。
However, the
これは、検査時に検査用制御信号線24(25)にはプラスのバイアスを加えるため、ダイオード間に閾値を大きく越える電圧が印加されることによって、入力保護回路45を経路として電流が流れるため、検査用TFT26a・26bの各端子に所望の電圧がかからず、検査上不具合が生じる可能性が高いためである。
This is because a positive bias is applied to the inspection control signal line 24 (25) at the time of inspection, and a voltage that greatly exceeds the threshold is applied between the diodes, so that a current flows through the
この入力保護用の抵抗素子44の構造は、配線の一部を金属膜のかわりに半導体のn+ 層で置き換えたもので、比抵抗が高いことによって高抵抗部を設けている。n+ 層の比抵抗は、1kΩcm程度であり膜厚300Åとすると、パターンの長さと幅の比を3:1とすることで、抵抗は1MΩとなる。このn+ 層は、絵素TFT1や検査用TFT26a・26bを形成する工程で同時に形成されるため、工程数の増加はない。
The structure of the
このようにして入力部に高抵抗を接続しておくことで、静電気の経路の時定数を大きくしておき、検査用TFT26a・26bの破壊を防ぐことができる。
By connecting a high resistance to the input portion in this manner, the time constant of the static electricity path can be increased and the destruction of the
ここでは、検査用制御信号線24(25)の静電容量は数百pF程度であるため、時定数は数百μsであり、抵抗素子44を設けない場合のように一瞬のうちに静電気が検査用TFT26a・26bに達する場合とくらべて、破壊は極端に少なくなる。
Here, since the electrostatic capacity of the inspection control signal line 24 (25) is about several hundreds pF, the time constant is several hundreds μs, and static electricity is generated in an instant as in the case where the
なお、図10においては、走査線検査用制御信号線24とデータ線検査用制御信号線25を基板上で導通しており、かつこれに電圧を印加する検査端子としての機能も有する端子43がFPC部に延長されて形成されているため、入力保護用の抵抗素子44はFPCのすぐ内側に設けているが、FPC部ではなく空き領域に検査端子が設けられている場合には、その検査端子と検査用TFT26a・26bの間に入力保護用の抵抗素子44を設けるべきである。
In FIG. 10, the scanning line inspection
また、図1、図3、図5に示した構成のように、走査線検査用制御信号線24とデータ線検査用制御信号線25とが導通していない別々の場合は、それぞれの検査端子41・40と検査用TFT26a・26bとの間に入力保護用の抵抗素子44を設けることが有効である。
Further, as in the configuration shown in FIGS. 1, 3, and 5, when the scanning line inspection
また、それら検査用制御信号線24・25同士の間も前述のダイオード型のTFTを用いた入力保護回路45を介して接続しておくことで、どちらか1本の配線に入った静電気を他方に逃がすことができるので、より有効な静電気対策となる。なお、このようなダイオード型のTFTを用いた入力保護回路45は、絵素TFT1の作製工程で同時に作製できるので、工程数の増加はない。
In addition, the inspection
また、図7の構成のように、検査用の制御信号を入力する検査端子40と、実装後に検査用TFT26a・26bを遮断するための電圧を印加するべき端子43が別々に設けられている場合には、そのそれぞれ入力部と検査用TFT26a・26bとの問に入力保護用の抵抗素子44を設けることが望ましい。
In addition, as in the configuration of FIG. 7, a
そして、以上のような構成では、検査の際、検査用制御信号の入力は抵抗素子44を介して行われるが、既に述べたように制御信号はプラスの直流電圧が与えられるため、該抵抗素子44があることによる不具合は発生しない。また、検査後のドライバ20が実装された段階においても、該抵抗素子44を介して端子43からマイナスの電圧が与えられるが、これも直流であるため時定数などは考慮する必要がないので、抵抗素子44による不具合は生じない。
In the configuration as described above, the inspection control signal is input via the
〔実施の形態7〕
本発明に係る他の実施の形態を、図11〜図13に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1〜6にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 7]
Another embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIGS. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first to sixth embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
図11は、本実施の形態のアクティブマトリクス型液晶表示装置の平面模式図である。 FIG. 11 is a schematic plan view of the active matrix liquid crystal display device of the present embodiment.
図11に示すアクティブマトリクス基板38は、実施の形態4の図8に示したアクティブマトリクス基板36とほぼ同じ構成を有しているが、検査用制御信号線24(25)がゲートドライバ20bの駆動用電源の内のマイナス側の電源と接続される配線に、入力保護回路46が設けられた構成である。静電気はこの保護回路46の抵抗値と検査用制御信号線24(25)の静電容量と、外部回路における電源系統の静電容量からなる時定数によって遅延し、破壊が防止される。
The
そして、この入力保護回路46は、前述の入力保護用の抵抗素子44のような単純な線形素子のかわりに非線形素子であるダイオードからなる。
The
図12に、入力保護回路46の回路図を示す。入力保護回路46は、順方向をそれぞれ逆の方向にもつダイオードD1 ・D2 を並列に配置してなる抵抗回路46aを構成単位として複数個直列につなげた構成である。該ダイオードD1 ・D2 を用いた入力保護回路46のような回路は、実施の形態6で前述した入力保護回路45ように配線の静電気対策として一般に用いられているもので、絵素TFT1と同工程で、ゲートとソースを短絡して2端子素子としたダイオード型TFTを用いる。図13に、図12の回路図を、トランジスタレベルで表わした回路図を示す。
FIG. 12 shows a circuit diagram of the
前述の実施の形態6のアクティブマトリクス基板37に備えられた入力保護用の抵抗素子44の場合、静電気の電圧によらず抵抗値が一定であるため、設計しやすいという利点があるが、工程数の低減を目的としてn+ 層の形成にかかるフォト工程を削減し、その上層のソース、ドレイン電極を構成する金属膜をフォトレジストの代わりとする場合等のように、高抵抗の配線を形成することが困難な場合には実現できない。
In the case of the
さらに、このような工程上の都合を無視したとしても、次の点から本実施の形態のような非線形素子からなる構造は利点がある。 Further, even if such process convenience is ignored, the structure composed of the nonlinear element as in the present embodiment is advantageous from the following points.
すなわち、抵抗素子44のような高抵抗素子の場合には、静電気が加わって過電流が該抵抗素子44を流れた場合、ここで発生するジュール熱によって抵抗素子44が融解され、電気的に離れた状態となる。このような状態となると、検査用TFT26a,26bを遮断する電圧を印加することができず、信頼性を保証する上で問題である。
That is, in the case of a high resistance element such as the
ところが、本実施の形態のように、ダイオードD1 ・D2 でこれを構成した場合は、ダイオードD1 ・D2 に高電圧が加わった段階で、半導体層が劣化すると同時にダイオードD1 ・D2 のゲート絶縁膜が破壊され、ダイオードD1 ・D2 の両端は短絡状態となりやすい。すなわち、仮に静電気によって入力保護回路46が破壊されたとしても、実装後に外部回路を駆動するための基板上の配線の内の出力電圧のローレベルを規定する電圧が加えられる配線と検査用制御信号線24(25)は電気的に接続されており、検査用TFT26a・26bが及ぼす悪影響の心配はなくなる。
However, as in the present embodiment, the diode when configured this in D 1 · D 2, diode D to 1 · D 2 at the stage when a high voltage is applied, at the same time the diode D 1 · D when the semiconductor layer is deteriorated 2 is destroyed, and both ends of the diodes D 1 and D 2 are easily short-circuited. In other words, even if the
ちなみに、本実施の形態の入力保護回路46では、一対のダイオードD1 ・D2 からなる抵抗回路46aを複数個直列につなげた状態に設置しているのは、仮に静電気で一段目の抵抗回路46aのダイオードD1 ・D2 が破壊されても、次段目の抵抗回路46aによって保護抵抗としての機能を維持するための構造である。
Incidentally, in the
このような入力保護回路46を、図10に示した実施の形態6のアクティブマトリクス基板37における抵抗素子44の代わりに設けることもできる。
Such an
この場合、検査の際に検査用の制御信号の入力は入力保護回路46を介して行われるが、既に述べたように制御信号はプラスの直流電圧が与えられ、また、検査後のドライバ20が実装された段階においても、入力保護回路46を介して端子43からマイナスの電圧が与えられ、これも直流であるため時定数などは考慮する必要がないので、入力保護回路46による不具合は生じない。
In this case, the control signal for inspection is input via the
但し、1段の抵抗回路46aあたりダイオードD1 ・D2 の閾値に相当する電圧が入力保護回路46にかかるため、検査用TFT26a・26bを十分に機能させるためには、入力保護回路46は多くとも5段程度以下におさめておくべきである。
However, since a voltage corresponding to the threshold value of the diodes D 1 and D 2 is applied to the
〔実施の形態8〕
本発明に係る他の実施の形態を、図25〜図29に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1〜7にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 8]
Another embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIGS. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first to seventh embodiments are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
アクティブマトリクス基板においては、各バスラインや絵素スイッチング素子を静電気から守る目的で、ある特定ラインにかかった静電気を他のバスラインに逃がし、パネル全体に電荷を分散させることにより、特定箇所の静電破壊を防ぐ構造がある。もちろん、バスラインにまたがる電流パスは、ある程度高抵抗でなければ表示上不具合を生じるため、各バスラインは通常数MΩ以上の抵抗素子で接続されている。ところが、上記構造では、検査時には複数本のバスラインを束ねて信号を供給するため、これらの抵抗素子は複数個並列に並ぶことになり、実質の抵抗値が低下して検査上不具合を生じることがある。 In the active matrix substrate, in order to protect each bus line and the pixel switching element from static electricity, the static electricity applied to one specific line is released to other bus lines, and the charges are dispersed throughout the panel, thereby static electricity at a specific location. There is a structure that prevents electric breakdown. Of course, since the current path across the bus lines has a problem in display unless the resistance is high to some extent, each bus line is usually connected by a resistance element of several MΩ or more. However, in the above structure, since a signal is supplied by bundling a plurality of bus lines at the time of inspection, a plurality of these resistance elements are arranged in parallel, and the actual resistance value is lowered, causing a problem in inspection. There is.
図25は、本実施の形態における走査線2と検査用走査信号線22a・22bの一部を示したものである。走査線2は偶数ライン、奇数ラインごとにそれぞれ検査用走査信号線22a・22bに接続されている。また、各走査線間は抵抗素子78で接続されており、これを流れる電流をi/2とする。この場合、1本の走査線に流れ込む電流はiとなり、検査用走査信号線全体を流れる電流はni/kとなる。但し、nは走査線2の本数、kは検査用走査信号線の本数であって本実施の形態の場合はk=2である。このni/kの電流によって、検査用走査信号線での電圧降下が発生し、走査線に所定の電圧がかからなくなる。尚、上記検査用走査信号線22a・22bは、検査後において分断線77で分断される。
FIG. 25 shows a part of the
図25において1対の走査線2・2に注目した場合の等価回路を図26に示す。ただし、ここでは検査用走査信号線の抵抗値をRとし、入力端(図では、Vgh、Vglと記述、これはこの部分の印加電圧でもある)近傍にR/2の抵抗値を置いた。また、全ての走査線2は検査用走査信号線22a・22bの中間点に集中して配置されていると近似した。この近似は後に述べる試作結果によって、妥当であることが確認された。
FIG. 26 shows an equivalent circuit when attention is paid to the pair of
図26において各抵抗を流れる電流から、各部の電圧を容易に求めることができ、各走査線2に実際にかかる電圧は入力をVgh、Vglとした時、
In FIG. 26, the voltage of each part can be easily obtained from the current flowing through each resistor. The voltage actually applied to each
であることが求まる。但し、vo 、ve は上記図26に示された一対の走査線のそれぞれにかかる電圧、rdは抵抗素子78の1個あたりの抵抗値である。数1より明らかなように、これら一対の走査線間における電位差(vo −ve )は、検査用走査信号線22a・22bの入力端子に与えられる印加電圧Vgh、Vglの電位差よりも小さくなる。但し、最低でも印加電圧の8割は走査線にかかることが望ましい。走査線にかかる電圧がこれより小さい場合、絵素スイッチング素子が十分に導通せず、オン不良画素の見極めに不具合を生じ、検査の精度を著しく低下させる。このことから以下の式を満たすことが必要である。
It is determined that However, v o and v e are voltages applied to the pair of scanning lines shown in FIG. 26, and rd is a resistance value per one
これら2式から関係を導くと、以下の式を満たす必要があることがわかる。 When the relationship is derived from these two equations, it can be seen that the following equation must be satisfied.
尚、上記説明は走査線について考察したものであるが、これはデータ線についても同様のことが言える。すなわち、隣接するデータ線3・3間に抵抗素子を配置し、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、データ線3の本数をn、検査用表示信号線の本数をk、検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合、これらの値は数3を満たす必要がある。
Although the above description has been considered for scanning lines, the same can be said for data lines. That is, a resistance element is arranged between
ところで、上記抵抗素子78は図27に示すように、トランジスタのゲートとドレインとを接続してダイオード特性を示す非線形素子を双方向に並列に配置したものとすることが多い。これは、該抵抗素子78を絵素トランジスタと同工程で作成することができ、工程数の増加を防ぐことができるという効果が得られる以外に、弱電圧に対しては高抵抗で、静電破壊を起こすような強電圧に対しては低抵抗になるという特性が、保護用の抵抗素子としては好都合であることによる。
In the meantime, as shown in FIG. 27, the
この場合でも、検査用走査信号線22a・22bの電圧降下まで考慮して、実際に非線形素子にかかる電圧とそのときの電流を計算して設計すれば、上記と同様の考え方が通用する。具体的には、移動度0.5、Vth=1Vのトランジスタで抵抗素子78を形成し、Vgh=15V、Vgl=−10V、検査用走査信号線の全抵抗値5kΩ、走査線数220本で計算したところ、抵抗素子78のトランジスタにおけるチャネル幅およびチャネル長さの比は3.25以下でなければならないことが算出された。逆に抵抗素子78のトランジスタにおけるチャネル幅およびチャネル長さの比が3.25のとき、この抵抗素子を流れる電流の大きさに応じておこる検査用走査信号線での電圧降下は、Vgh側Vgl側それぞれ2.5Vずつであり、各走査線2にかかる電圧(抵抗素子の両端にかかる電圧)は それぞれ12.5V、−7.5V(HighとLowの差は印加電圧の8割)である。したがって抵抗素子78には20Vかかることになり、この電圧における抵抗値は4.4MΩである(この時、抵抗素子1本あたりの電流量i/2は4.5μAであり、検査用走査信号線には110×i=1mA流れる。したがって、検査用走査信号線での電圧降下は1mA×5kΩ/2=2.5Vとなり、上述の電圧降下量と一致しているのがわかる)。抵抗素子78の抵抗値がこの4.4MΩより小さい場合には、検査用走査信号線にはより大きな電流が流れ、結果的に検査用走査信号線での電圧降下がさらに大きくなるため、各走査線にかかる電圧はさらに小さくなり(印加電圧の8割未満)、検査上の不具合を生ずる。したがって、このrd=4.4MΩとn=110、k=2という値を数3の右辺に代入すると、5kΩとなっており、検査用走査信号線Rの満たすべき値の最小値であるという上記計算結果と一致する。
Even in this case, if the voltage applied to the nonlinear element and the current at that time are calculated and designed in consideration of the voltage drop of the inspection
実際にこのような液晶表示パネルを作成したところ、検査用配線を用いて検査をおこなったときの結果と、実装部材を実装して実駆動した時の見え方とはよく一致した。さらに、検査用配線を用いて検査する際、わざと抵抗素子78の部分に光をあてて抵抗値を下げてみたところ、パネルによっては点欠陥が実駆動のときより多く視認されるものがあり、検査の精度が悪くなることが分かった。
When such a liquid crystal display panel was actually produced, the result when the inspection was performed using the inspection wiring and the appearance when the mounting member was mounted and actually driven were in good agreement. Furthermore, when inspecting using the inspection wiring, when the resistance value is lowered by intentionally applying light to the portion of the
図28は、各走査線2に対して検査用TFT26bを介して検査用走査信号線22a・22bから検査用信号が供給される場合である。また、図28において1対の走査線2・2に注目した場合の等価回路を図29に示す。この場合、検査用TFT26bの抵抗値も考慮に入れなければならず、上記と同様の考え方により、vo およびve は次式のようになる。
FIG. 28 shows a case where inspection signals are supplied from the inspection
但し、ここでは検査用TFT26bの抵抗値をrtrとしている。したがって、抵抗素子78の抵抗値の満たすべき条件は以下のようになる。
However, here, the resistance value of the
具体的には、移動度0.5、Vth=1Vのトランジスタで抵抗素子78および検査用TFT26bを形成し、検査用TFT26bのチャネル幅およびチャネル長さをそれぞれ200μm、7μm検査用スイッチング素子を導通させるために走査線検査用制御信号線に与える電圧25Vとし、Vgh=15V、Vgl=−10V、検査用走査信号線の抵抗値5kΩ、走査線数220本で計算したところ、抵抗素子78のトランジスタのチャネル幅、チャネル長さの比は1.6以下でなければならないことが算出された。逆に抵抗素子78のトランジスタにおけるチャネル幅およびチャネル長さの比が1.6のとき、この抵抗素子を流れる電流の大きさに応じておこる検査用走査信号線および検査用スイッチング素子26bでの電圧降下は、Vgh側Vgl側それぞれ3.1V、1.9Vであり、各走査線2にかかる電圧(抵抗素子の両端にかかる電圧)は それぞれ11.9V、−8.1V(HighとLowの差は印加電圧の8割)である。したがって抵抗素子78には20Vかかることになり、この電圧における抵抗値は8.7MΩである(この時、抵抗素子1本あたりの電流量i/2は2.3μAであり、検査用走査信号線には110×i=0.51mA流れる。したがって、検査用走査信号線での電圧降下は0.51mA×5kΩ/2=1.3Vとなる。またこの条件における検査用スイッチング素子26bのソース−ドレイン間抵抗はVgh側Vgl側でそれぞれ396kΩ、136kΩであり、これらによる電圧降下量はそれぞれ396kΩ×i=1.8V、136kΩ×i=0.6Vであり、検査用走査信号線での電圧降下と検査用スイッチング素子での電圧降下の和は、Vgh側Vgl側ともに上述の電圧降下量と一致していることがわかる)。抵抗素子78の抵抗値がこの8.7MΩより小さい場合には、検査用走査信号線にはより大きな電流が流れ、結果的に検査用走査信号線および検査用スイッチング素子での電圧降下がさらに大きくなるため、各走査線にかかる電圧はさらに小さくなり(印加電圧の8割未満)、検査上の不具合を生ずる。したがって、このrd=8.7MΩ、rtr=(396kΩ+136kΩ)/2=0.27MΩ、n=110、k=2という値を数5の右辺に代入すると、5kΩとなっており、検査用走査信号線Rの満たすべき値の最小値であるという上記計算結果と一致する。
Specifically, the
実際にこのような液晶表示パネルを作成したところ、検査用配線を用いて検査をおこなったときの結果と、実装部材を実装して実駆動した時の見え方とはよく一致した。さらに、検査用配線を用いて検査する際、わざと抵抗素子78の部分に光をあてて抵抗値を下げてみたところ、パネルによっては点欠陥が実駆動のときより多く視認されるものがあり、検査の精度が悪くなることが分かった。
When such a liquid crystal display panel was actually produced, the result when the inspection was performed using the inspection wiring and the appearance when the mounting member was mounted and actually driven were in good agreement. Furthermore, when inspecting using the inspection wiring, when the resistance value is lowered by intentionally applying light to the portion of the
尚、上記説明は検査用TFTを設けた場合に走査線について考察したものであるが、これはデータ線についても同様のことが言える。すなわち、隣接するデータ線3・3間に抵抗素子を配置し、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、各データ線検査用スイッチング素子22aの抵抗値をrtr、データ線3の本数をn、検査用表示信号線の本数をk、検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合、これらの値は数5を満たす必要がある。
In the above description, the scanning line is considered when the inspection TFT is provided, but the same can be said for the data line. That is, a resistance element is arranged between the
〔実施の形態9〕
本発明に係る他の実施の形態を、図30、図31に基づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前記の従来技術の説明、及び実施の形態1〜8にて示した部材と同一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 9]
Another embodiment according to the present invention will be described below with reference to FIGS. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the description of the prior art and in the first to eighth embodiments are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
図30は、本実施の形態における走査線2と検査用走査信号線22a・22bの一部を示したものである。走査線2は偶数ライン、奇数ラインごとにそれぞれ検査用走査信号線22a・22bに接続されている。また、各走査線間は静電気からパネルを守る目的で抵抗素子78で接続されているが、図25の場合と異なり隣接走査線間ではなく、同一の検査用走査信号線に接続されている走査線ごとに抵抗素子78で結ばれている。この構造により、抵抗素子78には、検査中に電圧がかからず電流が流れないため、静電気を逃す構造を維持しつつも、抵抗素子78を電流が流れることによる検査用走査信号線での電圧降下がなく、検査精度が更に向上する。また、上記検査用走査信号線22a・22bは、検査後において分断線77で分断される。
FIG. 30 shows a part of the
図31は、同様の構成を検査用表示信号線21R、21G、21Bに当てはめた場合の図である。図31の構成では、検査用TFT26aを用いて検査する場合の構造を図示しているが、抵抗素子78を同一の検査用表示信号線に接続されたデータ線ごとに接続する点では同じである。ただし、検査用TFT26a における電圧降下がある分、検査後分断して検査用配線から開放する場合より、さらに、本形態の効果が大きくなる。
FIG. 31 is a diagram when the same configuration is applied to the inspection
尚、図31の構成では、検査用表示信号線は3本設けられているので、抵抗素子78もおのずと3本ごとに接続されることになる。また、RGB各色ごとに抵抗素子78で結ばれているので、例えば抵抗素子78が前述の非線形素子で形成されている場合などで、使用しているうちに微小なリークが発生した場合でも、同色間での隣接リークであるため表示上視認されにくく都合がよい。
In the configuration of FIG. 31, since three test display signal lines are provided, the
1 絵素TFT(絵素スイッチング素子)
2 走査線
3 データ線
4 補助容量配線
7 絶縁性基板
14 絵素電極
16 アクティブマトリクス基板
18 対向基板
20 ドライバ(外部回路)
21 検査用表示信号線
21R 検査用表示信号線
21G 検査用表示信号線
21B 検査用表示信号線
22 検査用走査信号線
22a 検査用走査信号線
22b 検査用走査信号線
24 走査線検査用制御信号線
25 データ線検査用制御信号線
25R データ線検査用制御信号線
25G データ線検査用制御信号線
25B データ線検査用制御信号線
26a 検査用TFT(データ線検査用スイッチング素子)
26b 検査用TFT(走査線検査用スイッチング素子)
32B、32G、32R、39a、39b、40、27
検査端子
44 抵抗素子
46 入力保護回路(抵抗素子)
78 抵抗素子
1 Picture element TFT (picture element switching element)
2
21 inspection
26b Inspection TFT (scanning line inspection switching element)
32B, 32G, 32R, 39a, 39b, 40, 27
78 resistance elements
Claims (32)
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、
各データ線検査用スイッチング素子には、データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が共通に配設されると共に、検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線が、隣接するデータ線に異なる制御信号が入力されるように複数本配設されていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A data line inspection switching element for switching supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines,
Each data line inspection switching element is commonly provided with an inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line via the data line inspection switching element, and the inspection switching element is electrically connected. An active matrix type liquid crystal display panel, wherein a plurality of data line inspection control signal lines for inputting control signals to be cut off are arranged so that different control signals are input to adjacent data lines.
走査線に接続された各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線、及び該走査線検査用スイッチング素子に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が配設されていることを特徴とする請求項1または2に記載のアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 A scanning line inspection switching element for switching supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines,
Each scanning line inspection switching element connected to the scanning line has a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the scanning line inspection switching element, and the scanning line inspection switching element. 3. An active matrix liquid crystal display panel according to claim 1, further comprising inspection scanning signal lines for supplying a scanning signal for inspection.
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
液晶表示パネル駆動時には、前記データ線検査用制御信号線または走査線検査用制御信号線に、前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子を遮断する電圧がそれぞれ印加されることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying a display signal for inspection to the data line via the data line and a control signal line for data line inspection for inputting a control signal for conducting / cutting off the switching element for data line inspection are provided . Constitution,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line, and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the scanning line inspection switching element are provided . Has a configuration,
When the liquid crystal display panel is driven, a voltage for blocking the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is applied to the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line, respectively. An active matrix liquid crystal display panel.
前記データ線検査用制御信号線及び/又は前記走査線検査用制御信号線が、前記外部回路を駆動するための前記配線の内、接地電位を加える配線、外部回路のロジック内のスイッチング素子をオフする電圧が加えられる配線、又は外部回路の出力電圧の内のローレベルを規定する電圧が加えられる配線に接続されていることを特徴とする請求項6に記載のアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 An external circuit for driving the liquid crystal display panel and a wiring for driving the external circuit are formed on the insulating substrate,
The control signal line for data line inspection and / or the control signal line for scanning line inspection turns off the wiring for applying the ground potential and the switching element in the logic of the external circuit among the wiring for driving the external circuit. 7. The active matrix liquid crystal display panel according to claim 6, wherein the active matrix liquid crystal display panel is connected to a wiring to which a voltage to be applied is applied, or to a wiring to which a voltage defining a low level among output voltages of an external circuit is applied.
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
前記データ線検査用制御信号線または前記走査線検査用制御信号線の信号入力点と、該データ線検査用制御信号線または走査線検査用制御信号線が接続されているデータ線検査用スイッチング素子群または走査線検査用スイッチング素子との間に、抵抗素子が設けられていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying a display signal for inspection to the data line via the data line and a control signal line for data line inspection for inputting a control signal for conducting / cutting off the switching element for data line inspection are provided . Constitution,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line, and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the scanning line inspection switching element are provided . Has a configuration ,
A data line inspection switching element to which a signal input point of the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line is connected to the data line inspection control signal line or the scanning line inspection control signal line An active matrix liquid crystal display panel, wherein a resistance element is provided between the group or the scanning line inspection switching element.
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
前記絶縁性基板上に液晶表示パネルを駆動するための外部回路と、該外部回路を駆動するための配線が形成され、
前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子が、該外部回路の反対側の辺に設けられていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying a display signal for inspection to the data line via the data line and a control signal line for data line inspection for inputting a control signal for conducting / cutting off the switching element for data line inspection are provided . Constitution,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line, and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the scanning line inspection switching element are provided . Has a configuration,
An external circuit for driving the liquid crystal display panel and a wiring for driving the external circuit are formed on the insulating substrate,
An active matrix liquid crystal display panel, wherein the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is provided on a side opposite to the external circuit.
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子が遮光されていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying a display signal for inspection to the data line via the data line and a control signal line for data line inspection for inputting a control signal for conducting / cutting off the switching element for data line inspection are provided . Constitution,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line, and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the scanning line inspection switching element are provided . Has a configuration,
An active matrix liquid crystal display panel, wherein the data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element is shielded from light.
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
前記データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子は、その閾値が、液晶表示パネルの駆動時において絵素スイッチング素子の閾値よりも高くなるように、液晶パネルの検査後に該データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子の閾値を正極側にシフトさせる処理が施されていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying a display signal for inspection to the data line via the data line and a control signal line for data line inspection for inputting a control signal for conducting / cutting off the switching element for data line inspection are provided . Constitution,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line, and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the scanning line inspection switching element are provided . Has a configuration,
The data line inspection switching element or the scanning line inspection switching element has a threshold value higher than that of the pixel switching element when the liquid crystal display panel is driven. An active matrix liquid crystal display panel, wherein a process for shifting a threshold value of a switching element or a scanning line inspection switching element to a positive electrode side is performed.
前記複数のデータ線には、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設され、隣接するデータ線間には抵抗素子が配置された構成、
または、
前記複数の走査線には、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設され、隣接する走査線間には抵抗素子が配置された構成を有しており、
前記各抵抗素子の抵抗値をrd、前記データ線の本数をn、前記検査用表示信号線の本数をk、前記検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合と、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、前記走査線の本数をn、前記検査用走査信号線の本数をk、前記検査用走査信号線の抵抗値をRとした場合との何れにおいても、
R<(rd/8)/(n/k)
を満たすことを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
In the plurality of data lines, a plurality of inspection display signal lines for supplying a display signal for inspection are arranged so that different display signals are input to adjacent data lines, and between the adjacent data lines, A configuration in which a resistive element is disposed ;
Or
The plurality of scanning lines are provided with a plurality of inspection scanning signal lines for supplying inspection scanning signals so that different scanning signals are input to adjacent scanning lines, and between the adjacent scanning lines. Having a configuration in which a resistive element is arranged ;
When the resistance value of each resistance element is rd, the number of data lines is n, the number of display signal lines for inspection is k, and the resistance value of the display signal lines for inspection is R, The resistance value is rd, the number of scanning lines is n, the number of scanning signal lines for inspection is k, and the resistance value of the scanning signal lines for inspection is R.
R <(rd / 8) / (n / k)
An active matrix liquid crystal display panel satisfying the above requirements.
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線が共通に配設され、データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設され、隣接するデータ線間には抵抗素子が配置された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線が共通に配設され、走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設され、隣接する走査線間には抵抗素子が配置された構成を有しており、
前記各抵抗素子の抵抗値をrd、各データ線検査用スイッチング素子の抵抗値をrtr、前記データ線の本数をn、前記検査用表示信号線の本数をk、前記検査用表示信号線の抵抗値をRとした場合と、前記各抵抗素子の抵抗値をrd、各走査線検査用スイッチング素子の抵抗値をrtr、前記走査線の本数をn、前記検査用走査信号線の本数をk、前記検査用走査信号線の抵抗値をRとした場合との何れにおいても、
R<(rd/8−2rtr)/(n/k)
を満たすことを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and the data line inspection switching element is electrically connected to each data line inspection switching element. A control signal line for data line inspection for inputting a control signal to be cut off is provided in common, and an inspection display signal line for supplying a display signal for inspection to the data line via the switching element for data line inspection is adjacent. A configuration in which a plurality of display signals are input so that different display signals are input to the data lines, and a resistive element is disposed between adjacent data lines ,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and the scanning line inspection switching element is electrically connected to each scanning line inspection switching element. A scanning line inspection control signal line for inputting a control signal to be cut off is provided in common, and an inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line inspection switching element is adjacent. A plurality of scanning signals are arranged so that different scanning signals are input to the scanning lines, and a resistive element is arranged between adjacent scanning lines .
The resistance value of each resistance element is rd, the resistance value of each data line inspection switching element is rtr, the number of data lines is n, the number of display signal lines for inspection is k, and the resistance of the display signal lines for inspection When the value is R, the resistance value of each resistive element is rd, the resistance value of each scanning line inspection switching element is rtr, the number of scanning lines is n, the number of inspection scanning signal lines is k, In any case where the resistance value of the scanning signal line for inspection is R,
R <(rd / 8-2rtr) / (n / k)
An active matrix liquid crystal display panel satisfying the above requirements.
前記複数のデータ線には、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設された構成、
または、
前記複数の走査線には、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設された構成を有しており、
同一の検査用表示信号線に共通に接続されたデータ線間、または同一の検査用走査信号線に共通に接続された走査線間に抵抗素子が配置されていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
A configuration in which a plurality of inspection display signal lines for supplying a display signal for inspection are arranged in the plurality of data lines so that different display signals are input to adjacent data lines ,
Or
The plurality of scanning lines have a configuration in which a plurality of inspection scanning signal lines for supplying inspection scanning signals are arranged so that different scanning signals are input to adjacent scanning lines ,
An active matrix type wherein a resistance element is arranged between data lines commonly connected to the same inspection display signal line or between scanning lines commonly connected to the same inspection scanning signal line LCD display panel.
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線が共通に配設されると共に、データ線検査用スイッチング素子に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が、隣接するデータ線に異なる表示信号が入力されるように複数本配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線が共通に配設されると共に、走査線検査用スイッチング素子に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が、隣接する走査線に異なる走査信号が入力されるように複数本配設された構成を有しており、
前記データ線検査用スイッチング素子を介して同一の検査用表示信号線に共通に接続されたデータ線間、または前記走査線検査用スイッチング素子を介して同一の検査用走査信号線に共通に接続された走査線間に抵抗素子が配置されていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
The data line inspection switching elements for controlling the supply of display signals for inspection are individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element includes a data line inspection switching element. The data line inspection control signal line for inputting the control signal for conduction / cutoff is provided in common and the inspection display signal line for supplying the inspection display signal to the data line inspection switching element is adjacent to the data. A configuration in which a plurality of display signals are input to the line ,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling the supply of an inspection scanning signal is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element includes a scanning line inspection switching element. A scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for conduction / cutoff is provided in common, and an inspection scanning signal line for supplying a scanning signal for inspection to the scanning line inspection switching element is adjacent to the scanning line inspection scanning line. A plurality of lines are arranged so that different scanning signals are input to the line ;
Data lines commonly connected to the same inspection display signal line via the data line inspection switching element, or commonly connected to the same inspection scanning signal line via the scanning line inspection switching element. An active matrix type liquid crystal display panel, wherein a resistance element is disposed between the scanning lines.
前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルは、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続されており、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
前記液晶表示パネルの検査時には、データ線検査用スイッチング素子または走査線検査用スイッチング素子に光を当てながら検査することを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an inspection method of an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
The active matrix liquid crystal display panel is
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying a display signal for inspection to the data line via the data line and a control signal line for data line inspection for inputting a control signal for conducting / cutting off the switching element for data line inspection are provided . Constitution,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling supply of a scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. An inspection scanning signal line for supplying an inspection scanning signal to the scanning line via the scanning line, and a scanning line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the scanning line inspection switching element are provided . Has a configuration,
An inspection method for an active matrix liquid crystal display panel, wherein the liquid crystal display panel is inspected while applying light to a switching element for data line inspection or a switching element for scanning line inspection.
前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルは、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
前記データ線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、前記走査線検査用制御信号線、および前記検査用走査信号線のうち、該液晶表示パネルにふくまれているもの全ての入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、前記アクティブマトリクス基板上の1辺もしくは対向する2辺に設置されており、
複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、前記各入力端子が配置される辺と同一の方向に列状に配置してなる母基板に対して、前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なうことを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an inspection method of an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
The active matrix liquid crystal display panel is
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line, and a data line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the data line inspection switching element ,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. a test scanning signal line for supplying a scan signal for inspection to the scan line Te, a configuration in which the scanning line test control signal line for inputting a control signal to conduct and blocking the scanning line inspection switching elements are arranged Have
Of the data line inspection control signal line, the inspection display signal line, the scanning line inspection control signal line, and the inspection scanning signal line, all input terminals included in the liquid crystal display panel; And an input terminal for inputting a signal to the common electrode when inspecting the liquid crystal display panel is provided on one side or two opposite sides on the active matrix substrate,
A plurality of the active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row in the same direction as the side where the input terminals are arranged, and the mother substrate is an individual active matrix liquid crystal display panel. An inspection method for an active matrix liquid crystal display panel, characterized in that an inspection jig is attached to the mother substrate and inspected at a stage before dividing the substrate.
前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルは、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給を制御するためのデータ線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各データ線検査用スイッチング素子には、該データ線検査用スイッチング素子を介してデータ線に検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線と、データ線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力するデータ線検査用制御信号線とが配設された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号の供給を制御するための走査線検査用スイッチング素子が個別に接続され、各走査線検査用スイッチング素子には、該走査線検査用スイッチング素子を介して走査線に検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線と、走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断する制御信号を入力する走査線検査用制御信号線とが配設された構成を有しており、
複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが列状に配置してなる母基板に対して、隣接する液晶表示パネルの同一種類の検査用配線同士が電気的に接続されており、前記データ線検査用制御信号線、前記検査用表示信号線、前記走査線検査用制御信号線、および前記検査用走査信号線のうち、該液晶表示パネルにふくまれているもの全ての入力端子と、液晶表示パネルの検査時に前記共通電極への信号入力を行なうための入力端子とが、隣接パネルの接続方向であって何れの液晶表示パネルにも属しない領域に形成されると共に、
前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なうことを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an inspection method of an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
The active matrix liquid crystal display panel is
A data line inspection switching element for controlling supply of a display signal for inspection is individually connected to the plurality of data lines, and each data line inspection switching element is connected to the data line inspection switching element. An inspection display signal line for supplying an inspection display signal to the data line, and a data line inspection control signal line for inputting a control signal for turning on and off the data line inspection switching element ,
Or
A scanning line inspection switching element for controlling the supply of the scanning signal for inspection is individually connected to the plurality of scanning lines, and each scanning line inspection switching element is connected to the scanning line inspection switching element. a test scanning signal line for supplying a scan signal for inspection to the scan line Te, a configuration in which the scanning line test control signal line for inputting a control signal to conduct and blocking the scanning line inspection switching elements are arranged Have
The same type of inspection wirings of adjacent liquid crystal display panels are electrically connected to a mother substrate in which a plurality of the active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row, and the data line inspection Of the control signal lines, the inspection display signal lines, the scanning line inspection control signal lines, and the inspection scanning signal lines, all input terminals included in the liquid crystal display panel, and the liquid crystal display panel An input terminal for inputting a signal to the common electrode at the time of inspection is formed in a region that does not belong to any liquid crystal display panel in the connection direction of adjacent panels,
An inspection method for an active matrix liquid crystal display panel, wherein an inspection jig is attached to the mother substrate and inspected before the mother substrate is divided into individual active matrix liquid crystal display panels.
前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルは、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号を供給する検査用表示信号線が配設されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、データ線方向に列状に配置してなる母基板に対して、複数のデータ線が隣接する液晶表示パネルの領域を経由して、自パネルの検査用表示信号線に接続された構成、
または、
前記複数の走査線に、検査用の走査信号を供給する検査用走査信号線が配設されており、複数の前記アクティブマトリクス型液晶表示パネルが、走査線方向に列状に配置してなる母基板に対して、複数の走査線が隣接する液晶表示パネルの領域を経由して、自パネルの検査用走査信号線に接続された構成を有しており、
前記母基板を個々のアクティブマトリクス型液晶表示パネルに分断する前の段階で、該母基板に検査用治具を取り付けて検査を行なうことを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法。 On an insulating substrate, a plurality of picture element electrodes, picture element switching elements individually connected to the picture element electrodes, and a plurality of arranged in a grid pattern for driving the picture element electrodes via the picture element switching elements In an inspection method of an active matrix liquid crystal display panel in which an active matrix substrate having scanning lines and data lines and a counter substrate having a common electrode are bonded together via a liquid crystal layer,
The active matrix liquid crystal display panel is
The plurality of data lines are provided with inspection display signal lines for supplying display signals for inspection, and a plurality of the active matrix liquid crystal display panels are arranged in columns in the data line direction. A configuration in which a plurality of data lines are connected to a display signal line for inspection of the own panel via a region of the liquid crystal display panel adjacent to the substrate ,
Or
The plurality of scanning lines are provided with inspection scanning signal lines for supplying an inspection scanning signal, and a plurality of the active matrix liquid crystal display panels are arranged in a row in the scanning line direction. The substrate has a configuration in which a plurality of scanning lines are connected to the scanning signal lines for inspection of the own panel via a region of an adjacent liquid crystal display panel ,
An inspection method for an active matrix liquid crystal display panel, wherein an inspection jig is attached to the mother substrate and inspected before the mother substrate is divided into individual active matrix liquid crystal display panels.
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