JP4237877B2 - センサ配列体を正規化、較正するシステムおよび方法 - Google Patents
センサ配列体を正規化、較正するシステムおよび方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4237877B2 JP4237877B2 JP17627399A JP17627399A JP4237877B2 JP 4237877 B2 JP4237877 B2 JP 4237877B2 JP 17627399 A JP17627399 A JP 17627399A JP 17627399 A JP17627399 A JP 17627399A JP 4237877 B2 JP4237877 B2 JP 4237877B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- sensor array
- workpiece
- array
- linear
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9073—Recording measured data
- G01N27/9086—Calibrating of recording device
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【関連出願】
本出願は、1998年6月23日に出願された先の米国仮出願番号60/090,293号に関して、米国法35USC119のもとに優先権を主張するものである。
【0002】
【技術分野】
この発明はセンサ配列体に関し、特にセンサ配列体を正規化、較正する方法に関する。
【0003】
【背景技術】
センサの配列体(アレー)を用いて、金属要素や部品中の欠陥を検出したり、欠陥の寸法を測定することができる。この場合、配列体内の各センサは、金属要素または部品中の欠陥を示す電気信号を発生する。一つのセンサに対して金属要素または部品が大きすぎる場合には、多数のセンサを一緒に配列体として用いて、金属部品のある区域をスキャンすればよい。しかし、欠陥の検出および/または測定を正確に行うためには、配列体内のセンサすべてが同じ欠陥に対して同様に反応する(すなわち、同じ電気信号を発生する)ことが重要である。そうなるためには、配列体内のセンサがすべて同じダイナミックレンジを有し、同じ欠陥に対して同じ信号振幅で応答する必要がある。
【0004】
複数のセンサから均一な反応を得るために、これらのセンサを正規化し、較正する。たとえば、航空機エンジン構成部品を検査するのに用いられるフレキシブル渦電流センサアレーは、従来、2つの別個の検体、すなわち、すべてのセンサ素子からの信号を正規化するための検体と、素子信号レベルを較正するための検体とを用いて、正規化と較正を行っている。正規化のためには、すべての素子を線形特徴を横切って走査する。各素子について、その信号レベルから補正率およびオフセットを計算し、後で部品の検査時に用いるように保存する。較正のためには、センサ素子の一つを用いて、試験検体上の単一ノッチを二次元的に走査する。センサ配列体を各試験検体に対して適切に位置決めするのに、かなり長い時間が必要とされるので、このプロセスにかかる時間は長くなる。この場合、センサを試験検体と最低でも2回位置決めする必要がある。また、二次元走査を高い空間解像度で行う。さらに、検査しようとする部品の幾何形状と合致しない(したがって、部品試験条件が較正条件と合致しない)試験検体を用いてデータを得ているので、結果の正確さに限度がある。したがって、得られたデータは、複雑な表面を有する部品を走査するのに用いたセンサ配列体の走査条件を十分に表わしていない。
【0005】
【発明の概要】
したがって、センサ配列体を正規化し、較正する、迅速、簡単かつ正確なシステムおよび方法が求められている。この発明は、単一の試験検体の1回以上の走査(スキャン)により、センサの配列体を正規化(normalize)し、較正(calibrate)する、システム、試験検体および方法を提供する。試験検体に対するセンサの位置決めは1回しか必要でない。試験検体は、欠陥を検出するために走査すべき金属要素または部品と同一または類似の材料から、部品と同様の幾何形状(たとえば、単純な平坦表面またはもっと複雑な表面)に形成するのが好ましい。試験検体は、検体の表面に切削加工された、少なくとも1個の線形特徴(linear feature)と複数のノッチとを有する。線形特徴およびノッチは両方共、配列体のセンサに電気信号を発生させ、これらの電気信号を用いてセンサ配列体を正規化し、較正する。本発明の方法では、走査中に、配列体内の各センサが試験検体上の線形特徴を検出したことにより各センサが発生する電気信号トレースを用いて、バイアスを除去し、また各センサのダイナミックレンジを正規化する。さらに本発明の方法では、走査中に、配列体内の特定のセンサが試験検体の複数のノッチの1個以上を検出したことによりこれらのセンサが発生する電気信号トレースを用いて、配列体の各センサの利得設定を確立し、各センサを較正する。
【0006】
【好適な実施態様】
図1は、本発明の1実施例にしたがって、渦電流センサ60の配列体50を正規化し、較正する方法の工程を示すフローチャートである。各渦電流センサ60は、1対の差動接続した素子58,59、すなわち二重コイルから構成される。ただし、この発明は絶対型の素子、すなわち単一コイルから構成されるセンサにも等しく適用できる。
【0007】
まず最初、試験検体を選定する。試験検体は、これから正規化、較正する必要のあるセンサ配列体50により走査(スキャン)される。試験検体は、欠陥を検出するために走査すべき金属要素または部品と同一または類似の材料から形成し、類似の幾何表面形状とするのが好ましい。場合によっては、製作を簡単にするために、試験検体を、多数の材料片を互いに接着して構成することもできる。図2は平坦な表面を有する試験検体10の平面図である。図3は複雑な表面を有する試験検体18の斜視図である。図4は、その試験検体18の内面を二次元的に平らに伸ばした状態を示す、試験検体18の平面図である。
【0008】
試験検体は、たとえば既知の放電加工法を用いて試験検体の表面に加工した、1個以上の線形特徴12と多数のノッチ14とを有する。たとえばある用途には、線形特徴は、約0.003インチ(3ミル)の狭い幅を有し、センサ60の差動素子により無限に深いと見なされる(すなわち、ノッチ14がそれ以上深くても信号振幅が増加しない)のに十分な深さを有するが、これらの寸法値は用途に応じて変えればよい。すべての用途について、すべてのセンサ60が線形特徴を検出した結果として信号を発生するように、線形特徴の長さまたは複数の線形特徴の組合せが、センサ配列体50の走査区域をカバーすることが必要である。たとえばある用途には、ノッチ14が深さ約15ミル、長さ約30ミル、幅約3ミル(すなわち0.015″x0.030″x0.003″)であるが、これらの寸法値は用途に応じて変えればよい。すべての用途について、複数ノッチ14を走査方向に、1つの素子が同時に1つのノッチにしかかからないように、配置する必要がある。ノッチ同士は水平方向において素子の幅の約3/4だけ離す必要があるが、これ以外の分離距離としてもよい。図2に示す試験検体10は、1個の線形特徴12と複数個のノッチ14とを有する。図4に示す試験検体18は、多数の線形特徴20,21,22と複数個のノッチ14とを有する。
【0009】
渦電流センサ配列体50は、図2および図4に示すように、センサ60の列56が二列互いにずれた構成であるが、工程30で、渦電流センサ配列体50をあらかじめ選択された試験検体に対して位置決めする。図2において、センサ配列体50は試験検体に対して、(イ)線形特徴がセンサ配列体50の走査区域をカバーし、(ロ)センサ配列体50の第一列からの一つのセンサ54だけとセンサ配列体50の第二列からの一つのセンサ52だけがノッチ14上を通るように、位置決めする。なお、センサ配列体50の試験検体に対する位置決めは1回しか必要ない。
【0010】
つぎに、工程31で、初期システム位相角および利得設定を選択し、そして、試験検体の走査をおこなう。試験検体の走査は方向56に行う。位相角および利得設定は、センサ配列体50を用いて試験検体を走査するときに、センサ60が出す電気信号が飽和されないように、選択する。たとえば、センサ配列体50を用いた以前の経験から得られたデータを用いて、位相角および利得設定を選択することができる。あるいはまた、位相角は、1チャンネルのみの電気信号振幅を最適にするように選択してもよい。このように選択した位相角および利得設定から1組のトレース(記録)が得られ、試験検体の走査を1回行ったときに配列体50内の各センサ60から1トレースが得られる。たとえば、図2に、センサ52からのトレース51およびセンサ54からのトレース53を示す。図2に、センサ52についての走査通路62およびセンサ54についての走査通路64も示す。
【0011】
つぎに、工程32で、配列体50内の各センサについてのダイナミックレンジを、線形特徴を検出した結果として配列体50内の各センサ60が出す電気信号の最大および最小振幅から求める。ダイナミックレンジは、センサの表面適合性およびセンサ素子製造正確度の反映である。工程32で、配列体50内の各センサ60が出す電気信号のオフセットから、各センサ60についてのDCバイアスも求める。図2において、試験検体10の線形特徴12は、センサ50の配列体の検査幅より広い区域にまたがり、センサ配列体50の走査方向56に対して傾斜している。線形特徴12は、配列体50の各センサが出す電気信号を用いて、各センサ60の差動要素を正規化することを可能にする。その結果、得られる電気信号は、図2のトレースにより示されるように、最大および最小振幅両方を有する。得られる信号の幅70は、差動素子(コイル58および59)の幅および素子に対する線形特徴の角度に相関する。なお、線形特徴12は、センサ配列体50の走査方向に垂直ではない。もしも線形特徴12をセンサ配列体50の走査方向に垂直に位置させると、センサ50の配列を正規化することが不可能になるおそれがある。その理由は、センサ60が線形特徴12を通過する際に、各センサ60の差動素子58,59が出す電気信号が互いにキャンセルし合うであろうからである。センサ配列体が絶対素子を有するセンサから構成される場合には、線形特徴をセンサ配列体の走査方向に垂直に位置させてもよい。
【0012】
図4に示す試験検体18は、第1線形特徴20、第2線形特徴21および第3線形特徴22を有し、複雑な表面を有する金属要素または部品についてダイナミックレンジおよびDCバイアスのより正確な測定を可能にするものである。この場合、単一の線形特徴を複雑な表面幾何形状の部品に加工するのは困難である。その結果、複数の線形特徴の多数の重複セグメントを加工して、単一線形特徴と同じ機能を得る。多数の線形特徴は、センサ配列体50の検査幅を完全にカバーする。図3において、第1線形特徴20は、第1線形特徴20の端部23が第2線形特徴21の端部25と重なり、第2線形特徴21の他端26は第3線形特徴22の端部27と重なるように、配置されている。この重なり(オーバーラップ)は、センサ素子58,59と走査される試験検体18の表面部分との空間差を補償する。つぎに、工程33で、各信号トレースからDCバイアスを取り除き、トレース信号のすべてを同じダイナミックレンジに正規化する。
【0013】
つぎに、工程34で、ノッチ14を検出した結果としてセンサ60が出す最大信号をノッチ信号から計算する。この計算は、最大信号を選ぶか、ともにノッチ14上を通過するずれた2列における隣接するオーバーラップ素子であるセンサ60からセンサ52,54への信号の組合せを用いて最大応答に近似させることにより、行う。図2および図4において、試験検体10,18の多数のノッチ14は、センサ50の配列体に対して垂直に配向され、ノッチの端部が重ならないように互いにオフセットされている。ノッチ14の数およびノッチ14間の水平方向オフセット距離は、代表的なセンサ60の幾何形状および空間応答機能に基づいて定め、これにより、得られたデータから確実にピーク応答を計算できるようにする。センサ60の幅に沿ってのセンサ60の応答が均一であればあるほど、ノッチの必要数は少なくてよい。図2および図4に示すように、センサ50の配列体は、渦電流センサ60の互いにずれた2列からなる。特に図2に示すように、ノッチ14は試験検体10上に、ノッチ14が第1センサ列からの一つのセンサのみおよび第2センサ列からの一つのセンサのみの走査通路に入るように、配置されている。たとえば、センサ52についてのトレース51とセンサ54についてのトレース53を図2に示す。センサ52についての走査通路62およびセンサ54についての走査通路64も図2に示す。同様に、図4でも、ノッチ14は試験検体18上に、ノッチ14が第1センサ列からの一つのセンサのみおよび第2センサ列からの一つのセンサのみの走査通路に入るように、配置されている。その結果として、センサ52,54からの電気信号を用いて、システム利得を確立する。
【0014】
つぎに、工程35で、ノッチ14を検出した結果としてセンサ52,54が発生する電気信号を用いて、最大信号推定値を改良し、つぎに必要なシステム利得を最大信号推定値から確立する。もしも、正規化に用いたセンサ60についての利得が、ノッチ14についてのセンサ60から良好な信号を得るのに十分な高いものでなければ、2回目の走査をより高いシステム利得(この場合、線形特徴からの信号が飽和信号となる)で行い、ノッチ14を検出した結果としてセンサ52,54が発生する信号のより良好な評価値を得るのがよい。1回の走査を用いた低いノッチ信号振幅では、ノッチ応答を解析するのにエンハンスメント型信号処理が必要となるが、2回の走査を行う場合には、これは不要となる。こうして正規化兼較正プロセスを完了する。このセンサ配列体50は、信頼性のある欠陥検出その他の測定を目的として、正規化兼較正プロセスにより求めたとおりの適切な設定で、種々の部品の検査に用いることができる。
【0015】
線形特徴およびノッチの片方または両方について、最適な位相角を求めるために、追加の走査を行うことができる。あるいはまた、所定のシステム/センサ組合せについて位相角が先験的に知られていることもあり、これを直接用いてもよい。正規化および較正工程の順序は、試験検体が単純な平坦表面であれば、互換可能である。しかし、表面が複雑であると、センサ配列体50は試験検体の表面に沿って同一に順応しないので、最適な結果を得るには正規化工程を最初に行うのが好ましい。
【0016】
以上、渦電流センサ配列について説明したが、同様の正規化・較正方法を他のセンサ配列(たとえば熱電対、超音波またはデジタルX線センサアレー)にも適用できる。また、データの解析および/または組合せアルゴリズムとして別のものを開発することも、本発明の範囲内で可能である。二重使用のために試験検体設計を変えることも本発明の範囲内である。
【0017】
したがって、この発明によれば、ここに記載した目的および効果を完全に満足する、渦電流センサ配列体を正規化、較正するシステム、試験検体および方法が提供される。本発明をその好適な実施例について説明したが、当業者であれば、本発明の要旨から逸脱しない範囲内で、種々の変更や改変を加えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例にしたがって、渦電流センサの配列体を正規化し、較正する方法の工程を示すフローチャートである。
【図2】この発明による平坦な表面を有する試験検体の平面図である。
【図3】この発明による複雑な表面を有する試験検体の平面図である。
【図4】試験検体の内面を二次元的に平らに広げた状態の、図3の試験検体の平面図である。
【符号の説明】
10 試験検体
12 線形特徴
14 ノッチ
50 配列体
51,53 トレース
52,54,60 センサ
56 走査方向
Claims (11)
- 加工品を走査して加工品内の不連続部を検出するのに用いるセンサ配列体( 50 )を同時に正規化、較正するにあたり、
加工品内の不連続部を表す電気信号を発生する多数のセンサ( 60 )を有するセンサ配列体を用意し、
1個以上の線形被切削部( 12 )であって前記センサ配列体( 50 )の走査幅を完全にカバーし且つ前記センサにより無限に深いとみなされる深さを有する線形被切削部( 12 )、および、2個以上のノッチ状被切削部( 14 )であって前記センサ配列体( 50 )に対して垂直に配向され且つ走査方向に対し1つの前記センサ( 60 )が同時に1つのノッチ状被切削部( 14 )にしかかからないように配置されたノッチ状被切削部( 14 )を有する試験検体( 10 )を用意し、
前記センサ配列体を用いて前記試験検体を走査し、前記線形被切削部( 12 )および前記2個以上のノッチ状被切削部( 14 )を表す多数の電気信号からなる電気信号トレースを生成し、
線形被切削部( 12 )を検出した結果として前記センサが出す電気信号を用いて、前記センサ配列体( 50 )の各センサ( 60 )のDCバイアスを除去して前記センサ配列体を正規化し、前記ノッチ状被切削部( 14 )を検出した結果として前記センサが出す電気信号を用いて各センサ( 60 )の利得設定を確立し各センサから均一な電気信号を得るようにして前記センサ配列体を較正する
工程を含む、センサ配列体を同時に正規化、較正する方法。 - さらに、前記センサ配列体を前記試験検体に対して位置決めする工程を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記センサ配列体が互いにずれた2列のセンサを備え、前記センサ配列体を前記試験検体に対して位置決めする工程は、前記センサ配列体の第1列からの第1センサを、走査中にこの第1センサが前記ノッチ状被切削部( 14 )上を通過するように、位置決めし、前記センサ配列体の第2列からの第2センサを、走査中にこの第2センサが前記ノッチ状被切削部( 14 )上を通過するように、位置決めする工程を含む、請求項2に記載の方法。
- 前記センサ配列体が渦電流センサを備える、請求項1に記載の方法。
- 前記試験検体が前記加工品と実質的に同一の材料からなる、請求項1に記載の方法。
- 前記線形被切削部( 12 )が前記センサ配列体の走査方向に対して傾斜している、請求項1に記載の方法。
- 前記線形被切削部( 12 )が前記センサ配列体の走査方向に対して垂直である、請求項1に記載の方法。
- 前記センサ配列体を正規化することが、前記線形被切削部( 12 )を検出した結果として各センサが出す最大および最小電気信号から、前記センサ配列体の各センサについてのダイナミックレンジを求めることを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記センサ配列体を較正することが、前記2個以上のノッチ状被切削部( 14 )を検出した結果として各センサが出す最大電気信号から、ノッチ状被切削部( 14 )の最大応答を決定することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記センサ配列体を較正することが、前記2個以上のノッチ状被切削部( 14 )を検出したセンサに隣接するセンサが出す電気信号を用いる推定値から、ノッチ状被切削部( 14 )の最大応答を決定することを含む、請求項1に記載の方法。
- 加工品を走査して加工品内の不連続部を検出するのに用いるセンサ配列体( 50 )を同時に正規化、較正するシステムにおいて、
加工品内の不連続部を表す電気信号を発生する多数のセンサ( 60 )を有するセンサ配列体と、
1個以上の線形被切削部( 12 )であって前記センサ配列体( 50 )の走査幅を完全にカバーし且つ前記センサにより無限に深いとみなされる深さを有する線形被切削部( 12 )、および、2個以上のノッチ状被切削部( 14 )であって前記センサ配列体( 50 )に対して垂直に配向され且つ走査方向に対し1つの前記センサ( 60 )が同時に1つのノッチ状被切削部( 14 )にしかかからないように配置されたノッチ状被切削部( 14 )を有する試験検体( 10 )とを備え、
前記システムは、前記センサ配列体を用いて前記試験検体を走査し、前記線形被切削部( 12 )および前記2個以上のノッチ状被切削部( 14 )を表す多数の電気信号からなる電気信号トレースを生成し、線形被切削部( 12 )を検出した結果として前記センサが出す電気信号を用いて、前記センサ配列体( 50 )の各センサ( 60 )のDCバイアスを除去して前記センサ配列体を正規化し、前記ノッチ状被切削部( 14 )を検出した結果として前記センサが出す電気信号を用いて各センサ( 60 )の利得設定を確立し各センサから均一な電気信号を得るようにして前記センサ配列体を較正することを特徴とする、センサ配列体を同時に正規化、較正するシステム。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US9029398P | 1998-06-23 | 1998-06-23 | |
US60/090293 | 1998-06-23 | ||
US09/330108 | 1998-06-23 | ||
US09/330,108 US6252393B1 (en) | 1998-06-23 | 1999-06-10 | System and method for normalizing and calibrating a sensor array |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000028585A JP2000028585A (ja) | 2000-01-28 |
JP4237877B2 true JP4237877B2 (ja) | 2009-03-11 |
Family
ID=26782120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17627399A Expired - Fee Related JP4237877B2 (ja) | 1998-06-23 | 1999-06-23 | センサ配列体を正規化、較正するシステムおよび方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6252393B1 (ja) |
EP (1) | EP0969267B1 (ja) |
JP (1) | JP4237877B2 (ja) |
DE (1) | DE69912685T2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8056490B2 (en) | 2004-09-06 | 2011-11-15 | Skysails GmbH Co. KG | Watercraft having a kite-like element |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7514917B2 (en) * | 2003-09-19 | 2009-04-07 | Automotive Systems Laboratory, Inc. | Magnetic crash sensor |
TR200002716A2 (tr) * | 1999-09-22 | 2001-04-20 | General Electric Company | İndüksiyon akımı ayar ölçüsü |
US6734664B2 (en) * | 2001-07-30 | 2004-05-11 | United Technologies Corporation | Compliant laminar eddy current sensitivity standard |
US6662088B1 (en) | 2002-06-28 | 2003-12-09 | General Electric Company | Methods and systems for inspecting aircraft fuselage frames |
EP1663707A4 (en) * | 2003-09-19 | 2007-03-14 | Automotive Systems Lab | MAGNETIC SHOCK SENSOR |
JP2007510134A (ja) * | 2003-09-19 | 2007-04-19 | オートモーティブ システムズ ラボラトリー インコーポレーテッド | 磁気衝突検知方法 |
US7664612B2 (en) * | 2003-09-19 | 2010-02-16 | T K Holdings, Inc. | Signal processing system and method |
US7570068B2 (en) * | 2003-09-19 | 2009-08-04 | Tk Holdings, Inc. | Signal processing system and method |
CN101035699A (zh) * | 2003-12-21 | 2007-09-12 | 汽车***实验室公司 | 磁传感器 |
US7564249B2 (en) * | 2003-12-21 | 2009-07-21 | Tk Holdings, Inc. | Signal processing system and method |
EP1564551A1 (en) * | 2004-02-10 | 2005-08-17 | Alstom Technology Ltd | Non-destructive method for the detection of creep damage in ferromagnetic parts with a device consisting of an eddy current coil and a hall sensor |
JP2009507210A (ja) | 2005-07-29 | 2009-02-19 | オートモーティブ システムズ ラボラトリー インコーポレーテッド | 磁気衝突センサー |
EP1798516A1 (en) * | 2005-12-14 | 2007-06-20 | Aktiebolaget SKF | Method for generating a relation between an output signal of a distance gauge and a distance between the distance gauge and a measuring surface of a mechanical element |
US7888932B2 (en) * | 2007-11-05 | 2011-02-15 | General Electric Company | Surface flaw detection system to facilitate nondestructive inspection of a component and methods of assembling the same |
US7952348B2 (en) * | 2007-11-05 | 2011-05-31 | General Electric Company | Flexible eddy current array probe and methods of assembling the same |
US20100312494A1 (en) * | 2007-12-28 | 2010-12-09 | Sanghamithra Korukonda | Process and apparatus for testing a component using an omni-directional eddy current probe |
US8272246B2 (en) * | 2008-09-30 | 2012-09-25 | General Electric Company | Electronic self-calibration for sensor clearance |
US8269489B2 (en) * | 2008-11-25 | 2012-09-18 | General Electric Company | System and method for eddy current inspection of parts with complex geometries |
JP5364643B2 (ja) * | 2009-09-07 | 2013-12-11 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | 渦電流探傷法およびこれに用いる対比試験片 |
EP2312266B1 (en) * | 2009-10-12 | 2015-06-17 | General Electric Company | Electronic self-calibration for turbine blade clearance sensor |
JP5626678B2 (ja) * | 2010-11-24 | 2014-11-19 | 国立大学法人神戸大学 | 磁場分布取得装置 |
US8884614B2 (en) | 2011-10-31 | 2014-11-11 | General Electric Company | Eddy current array probe |
CN104636559B (zh) * | 2015-02-11 | 2017-08-11 | 西北工业大学 | 一种利用三维检验模型对飞机零件进行检验的方法 |
US10025289B2 (en) * | 2015-05-26 | 2018-07-17 | Pratt & Whitney Canada Corp. | System and method for automated part inspection |
GB201515483D0 (en) * | 2015-09-01 | 2015-10-14 | Rolls Royce Plc | Multi-element sensor array calibration method |
CA3030247A1 (en) | 2018-01-19 | 2019-07-19 | Ascension Technology Corporation | Calibrating a magnetic sensor |
CA3030409A1 (en) | 2018-01-19 | 2019-07-19 | Ascension Technology Corporation | Calibrating a magnetic transmitter |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3718855A (en) * | 1970-11-30 | 1973-02-27 | R Cordova | Eddy current flaw detection system |
DE2756244A1 (de) * | 1977-12-16 | 1979-06-21 | Graenges Oxeloesunds Jaernverk | Verfahren und vorrichtung zum ueberpruefen der funktionsfaehigkeit und zum einstellen und eichen einer pruefvorrichtung zum zerstoerungsfreien elektrischen oder magnetischen pruefen von metallenen rohlingen |
DE2853457A1 (de) | 1978-12-11 | 1980-06-12 | Ssab Svenskt Stal Ab | Verfahren und vorrichtung zum ueberpruefen der funktionsfaehigkeit und zum einstellen und eichen einer pruefvorrichtung zum zerstoerungsfreien elektrischen oder magnetischen pruefen von metallenen rohlingen |
US4418315A (en) * | 1981-05-22 | 1983-11-29 | Combustion Engineering, Inc. | Method for effecting a surface examination of coated components |
US4425545A (en) * | 1981-07-27 | 1984-01-10 | Scalese Joseph J | Eddy current probe calibration standard |
US4963826A (en) * | 1989-07-18 | 1990-10-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Reference standard block for use in nondestructive test probe calibration and method of manufacture thereof |
EP0439912B1 (en) | 1989-11-30 | 1994-08-17 | Texas Instruments Incorporated | Circuit and method for normalizing detector output |
US5182513A (en) | 1991-04-06 | 1993-01-26 | General Electric Company | Method and apparatus for a multi-channel multi-frequency data acquisition system for nondestructive eddy current inspection testing |
US5389876A (en) | 1991-05-06 | 1995-02-14 | General Electric Company | Flexible eddy current surface measurement array for detecting near surface flaws in a conductive part |
US5345514A (en) | 1991-09-16 | 1994-09-06 | General Electric Company | Method for inspecting components having complex geometric shapes |
US5315234A (en) | 1992-04-03 | 1994-05-24 | General Electric Company | Eddy current device for inspecting a component having a flexible support with a plural sensor array |
US5262722A (en) | 1992-04-03 | 1993-11-16 | General Electric Company | Apparatus for near surface nondestructive eddy current scanning of a conductive part using a multi-layer eddy current probe array |
US5371461A (en) | 1992-06-26 | 1994-12-06 | General Electric Company | Apparatus and method for compensating for variations in the lift-off of eddy current surface inspection array elements |
US5418457A (en) | 1993-03-12 | 1995-05-23 | General Electric Company | System and method for aligning an inspection probe and maintaining uniform spacing between the probe surface and an inspection surface |
US5371462A (en) | 1993-03-19 | 1994-12-06 | General Electric Company | Eddy current inspection method employing a probe array with test and reference data acquisition and signal processing |
-
1999
- 1999-06-10 US US09/330,108 patent/US6252393B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-06-18 DE DE69912685T patent/DE69912685T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-06-18 EP EP99304814A patent/EP0969267B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-06-23 JP JP17627399A patent/JP4237877B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8056490B2 (en) | 2004-09-06 | 2011-11-15 | Skysails GmbH Co. KG | Watercraft having a kite-like element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69912685T2 (de) | 2004-09-30 |
EP0969267A1 (en) | 2000-01-05 |
US6252393B1 (en) | 2001-06-26 |
JP2000028585A (ja) | 2000-01-28 |
DE69912685D1 (de) | 2003-12-18 |
EP0969267B1 (en) | 2003-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4237877B2 (ja) | センサ配列体を正規化、較正するシステムおよび方法 | |
JP4814511B2 (ja) | パルス渦電流センサプローブ及び検査方法 | |
US20210010975A1 (en) | Eddy current array probe and method for lift-off compensation during operation without known lift references | |
CA2337294C (en) | Method and apparatus for evaluation of eddy current testing signal | |
JP5194131B2 (ja) | 無指向性渦電流プローブを用いた部品検査方法及び装置 | |
US20070132990A1 (en) | Surface inspection apparatus | |
US9759692B2 (en) | System and method of dynamic gating in non-destructive weld inspection | |
JP5562629B2 (ja) | 探傷装置及び探傷方法 | |
JP2009282027A (ja) | 導電性材料からなる試験対象物における特に亀裂の渦電流表示を判定して評価する方法 | |
JP2009282027A6 (ja) | 導電性材料からなる試験対象物における特に亀裂の渦電流表示を判定して評価する方法 | |
JP6022088B2 (ja) | 不規則な測定時のsaft法による解析を改良する方法及び装置 | |
US4706021A (en) | Crossed wire defect detector employing eddy currents | |
US7505859B2 (en) | Method and algorithms for inspection of longitudinal defects in an eddy current inspection system | |
US10132906B2 (en) | Multi-element sensor array calibration method | |
US10775346B2 (en) | Virtual channels for eddy current array probes | |
JP4215220B2 (ja) | 表面検査方法及び表面検査装置 | |
KR102008105B1 (ko) | 멀티 채널 와전류센서를 이용한 레일 결함 검출 장치, 센서 교정 방법 및 결함 검출 방법 | |
KR102052849B1 (ko) | 멀티 채널 와전류센서를 이용한 레일 결함 검출 장치, 센서 교정 방법 및 결함 검출 방법 | |
JP2007147323A (ja) | 表面検査装置 | |
JPS6135481B2 (ja) | ||
US20060202688A1 (en) | Detection system and method thereof | |
JP2004053462A (ja) | 超音波tofd法用探触子と探傷方法 | |
JP3413249B2 (ja) | 配管非破壊検査用標準試験片 | |
JPH08159722A (ja) | 製品寸法測定装置 | |
JPH075408Y2 (ja) | 金属探傷用プロ−ブ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060620 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080410 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080507 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20080805 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20080808 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081202 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081219 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111226 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |