JP4232130B2 - Laser apparatus and light irradiation apparatus and exposure method using this laser apparatus - Google Patents

Laser apparatus and light irradiation apparatus and exposure method using this laser apparatus Download PDF

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    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70575Wavelength control, e.g. control of bandwidth, multiple wavelength, selection of wavelength or matching of optical components to wavelength

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ装置に係り、特に半導体素子、液晶表示素子、撮像素子(CCDなど)、及び薄膜磁気ヘッドなどのマイクロデバイスを製造するフォトリソグラフィ工程で使用される露光装置用光源のように、低コヒーレンスでスペックルの発生を抑制することができる紫外光を発生することが可能なレーザ装置及びこのようなレーザ装置を用いた露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
情報機器の進歩に伴い、半導体集積回路には機能の充実、記憶容量の向上、小型化などが求められており、そのためには集積回路の集積度を上げる必要がある。この集積度を上げるためには個々の回路パターンを小さくすればよいわけであるが、回路の最小パターン寸法は、一般的には製造過程で使用される露光装置の性能によって決定される。
【0003】
光リソグラフィによる露光装置は、フォトマスク上に精密に描かれた回路パターンを、フォトレジストを塗布した半導体ウエハー上に光学的に縮小投影し、転写する。この露光時におけるウエハー上での最小パターン寸法(解像度)Rは、露光装置で投影するために用いる光源の波長λ、投影光学系の開口数NAによって次式(1)で、また焦点深度DFは次式(2)で示される。
R=K・λ/NA・・・・・・(1)
DF=λ/2(NA)2 ・・・(2)
【0004】
上記の式(1)から明らかなように、最小パターン寸法Rを小さくするためには、この定数Kを小さくする方向、開口数NAを大きくする方向、そして投影する光源の波長λを小さくする方向、の3方向があることがわかる。
【0005】
ここで定数Kは投影光学系やプロセスによって決まる定数であり、通常0.5〜0.8程度の値をとる。この定数Kを小さくする方法は、広い意味での超解像と呼ばれている。今までに、投影光学系の改良、変形投影、フェーズシフトマスク法などが提案、研究されてきた。しかし、適用できるパターンに制限があるなどの難点があった。一方、開口数NAは(1)式からその値が大きいほど最小パターン寸法Rを小さくできるが、このことは同時に(2)式から明らかなように焦点深度が浅くなってしまうことを意味する。このため、NA値は大きくするにも限界があり、通常はこれら両者のかねあいから0.5〜0.6程度が適当とされている。
【0006】
従って、最小パターン寸法Rを小さくするのに最も単純かつ有効な方法は、露光に用いる光の波長λを小さくすることである。ここで短波長化の実現とあわせ、露光装置の光源を作る上で備えるべき条件がいくつかある。以下これらの条件について説明する。
【0007】
第1に、数ワットの光出力が求められる。これは集積回路パターンの露光、転写に要する時間を短く保つために必要である。
【0008】
第2に、波長300nm以下の紫外光の場合には、露光装置のレンズとして使用できる材料が限られ、色収差の補正が難しくなってくる。このため光源の単色性が必要であり、スペクトルの線幅は1pm以下にすることが求められる。
【0009】
第3に、このスペクトル線幅の狭帯域化にともない時間的コヒーレンス(干渉性)が高くなるため、狭い線幅の光をそのまま照射すると、スペックルと呼ばれる不要な干渉パターンが生ずる。従ってこのスペックル発生を抑制するために、光源ではその空間的コヒーレンスを低下させる必要がある。
【0010】
これらの条件を満たし、かつ高解像度を実現するため露光光源の短波長化に対し多くの開発がなされてきた。これまで検討されてきた短波長化の方向は主に次の2種に大別される。その一つはレーザの発振波長自身が短波長であるエキシマレーザの露光装置への適用開発であり、もう一つは赤外又は可視光レーザの高調波発生を利用した短波長露光光源の開発である。
【0011】
このうち、前者の方法を用いて実用化された短波長光源としては、KrFエキシマレーザ(波長248nm)が使用されており、現在ではさらに短波長の光源としてArFエキシマレーザ(波長193nm)を使用する露光装置の開発が進められている。しかし、これらのエキシマレーザは大型であること、1パルスあたりのエネルギーが大きいことにより光学部品の損傷が生じやすいこと、有毒なフッ素ガスを使用するためレーザのメインテナンスが煩雑でかつ費用が高額となることなど種々の問題があった。
【0012】
また後者の方法としては、非線形光学結晶の2次の非線形光学効果を利用して、長波長の光(赤外光、可視光)をより短波長の紫外光に変換する方法がある。例えば「Longitudinally diode pumped continuous wave 3.5W green laser (L. Y. Liu, M. Oka, W. Wiechmann and S. Kubota, Optics Letters, vol.19(1994),p189)」では、半導体励起の固体レーザからの光を波長変換するレーザ光源が開示されている。この従来例では、Nd:YAGレーザの発する1064nmのレーザ光を、非線形光学結晶を用いて波長変換し、4倍高調波の266nmの光を発生させる方式が記載されている。なお、固体レーザとは、レーザ媒質が固体であるレーザの総称である。従って広義には、半導体レーザも固体レーザに含まれるが、通常は固体レーザというと、例えばNd:YAGレーザやルビーレーザのように光によって励起される固体レーザのことをさす。ここでもそのように区別する。
【0013】
また、固体レーザを用いて露光装置の光源とした例では、レーザ光を発生するレーザ光発生部と、このレーザ光発生部からの光を紫外光に波長変換する波長変換部とから構成されるレーザ要素を、複数マトリックス状に束ねたアレイレーザが提案されている。例えば特開平8−334803号公報では、半導体レーザを備えたレーザ光発生部からの光を、波長変換部に設けた非線形光学結晶により波長変換し、紫外光を発生させるひとつのレーザー要素を、複数本マトリックス状(例えば10×10)に束ねて一つの紫外光源とするアレイレーザの例が開示されている。
【0014】
前記のような構成のアレイレーザでは、個々に独立なレーザ要素を複数本束ねることによって、個々のレーザ要素の光出力を低く押さえつつ、装置全体の光出力を高出力とすることができる。このため非線形光学素子への負担を軽減することができる。しかし、一方では、個々のレーザ要素が独立していることから、露光装置への適用を考慮した場合には、レーザ要素全体でその発振スペクトルを一致させる必要がある。例えば、個々のレーザ要素についてその発振スペクトル線幅が1pm以下であっても、複数のレーザ要素全体で、相互の波長の差が3pmであってはならなず、全幅で1pm以下とする必要がある。
【0015】
このためには、例えば、各レーザ要素に自律的に同一波長の単一縦モード発振をさせるためには、各々のレーザ要素の共振器長を調整し、あるいは共振器中に波長選択素子を挿入したりする必要があった。しかし、これらの方法は、その調整が微妙であること、構成するレーザ要素が多くなればなるほど全体を同一波長で発振させるのに複雑な構成が必要になること等の問題があった。
【0016】
一方、これら複数のレーザを能動的に単一波長化する方法としてインジェクションシード法がよく知られている(例えば、Walter KoechnerによるSolid-state Laser Engineering, 3rd Edition, Springer Series in Optical Science, Vol.1, Springer-Verlag, ISBN 0-387-53756-2, p246-249)。これは、発振スペクトル線幅の狭い単一のレーザ光源からの光を複数のレーザ要素に分岐し、このレーザ光を誘導波として用いることにより、各レーザ要素の発振波長を同調させ、かつスペクトル線幅を狭帯域化するという方法である。しかしこの方法では、シード光を各レーザ要素に分岐する光学回路や、発振波長の同調制御部を必要とするため構造が複雑になるという問題があった。
【0017】
さらに、このようなアレイレーザは、従来のエキシマレーザに比べて装置全体を格段に小さくすることが可能だが、それでもアレイ全体の出力ビーム系を数センチメートル以下におさえるパッケージングは困難であった。また、このように構成されたアレイレーザでは、各アレーごとに波長変換部が必要となるため高価となること、アレイを構成するレーザ要素の一部にアライメントずれが生じた場合や構成する光学素子に損傷が発生した場合に、このレーザ要素の調整をするためには、一度アレイ全体を分解してこのレーザ要素を取り出し、調整した上で再度アレイを組み立て直す必要があること、などの課題があった。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記従来技術の問題点、例えば露光装置の紫外光源としてエキシマレーザを用いた場合に生ずる問題であるところの、装置の大型化、有毒なフッ素ガスの使用、メインテナンスの煩雑さと高価さなどという諸問題や、露光装置の紫外光源として例えばNd:YAGレーザなどの様な固体レーザの高調波を用いた場合に考えられる非線形光学結晶の損傷や、空間的コヒーレンスの増加に伴うスペックル発生等の問題、また露光装置の紫外光源として、紫外光を発生する複数のレーザ要素をマトリックス状に束ねたアレイレーザを用いた場合に考えられる同調機構を含めた構造の複雑さや出力ビーム径小型化の難しさ、メインテナンスの煩雑さ等の問題を考慮してなされたものである。
【0019】
すなわち、本発明の目的は露光装置の光源として充分に狭帯域化された単一波長の紫外光を、空間的コヒーレンスの低い紫外光出力として安定して発生することにあり、あわせてコンパクトで取り扱いの容易なレーザ装置を提供することにある。また、このような小型で取り扱いの容易なレーザ装置を光源として用いたコンパクトで自由度の高い露光装置を提供することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明のレーザ装置は、赤外域から可視域までの波長範囲内で単一波長のパルス状のレーザ光を発生させるレーザ光発生部と、前記レーザ光発生部から発生させるレーザ光の発振波長を制御する発振波長制御手段と、前記レーザ光発生部から入射される単一波長のパルス光を複数に分岐する光分岐手段と、前記光分岐手段から分岐されて出力される複数の分岐光をそれぞれ複数回増幅する複数のファイバー光増幅器を有する複数の光増幅器と、前記複数の光増幅器により増幅された分岐光を非線形光学結晶を用いて波長変換する波長変換部とを備え、前記レーザ光発生部は、パルス光を発生する光源と、当該パルス光の一部を切り出してパルス幅を狭める光変調器とを有して、パルス幅が狭められたパルス光が前記光分岐手段に入射され、前記光分岐手段は、前記レーザ光発生部から入射された前記パルス光を複数に分岐するとともに、分岐された各パルス光が互いに時間的に重ならない状態の分岐光として出射し、空間的コヒーレンスが低い単一波長の紫外光を発生するように構成される。
【0021】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光分岐手段は、前記レーザ光発生部から入射されたパルス光を複数に並列分岐するスプリッタを有するとともに、前記スプリッタの射出側に互いに長さの異なるファイバーが設けられ、前記互いに長さの異なるファイバーの出力端において、前記並列分岐された各パルス光が互いに時間的に重ならない状態の分岐光となるように構成する。
さらに好ましくは、前記互いに長さの異なるファイバーは、その出力端における前記複数の分岐光の遅延間隔が、前記スプリッタに入射するパルス光の繰り返し周波数と前記スプリッタにより並列分岐される分岐光路数との積の逆数となるようにその長さがそれぞれ定められ、それにより前記ファイバーのそれぞれの出力端における前記複数の分岐光の遅延間隔が略一定間隔となる。
【0022】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光分岐手段は、時分割光分岐手段(Time Division Multiplexer)を有し、前記レーザ光発生部から入射されたパルス光を時分割して複数に分岐することにより、分岐された各パルス光が互いに時間的に重ならない状態の分岐光となるように構成する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器はその出力端におけるファイバー出力端部のコアがテーパ状に広がって形成される。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器はその出力端におけるファイバー出力端部に前記増幅したレーザ光を透過する窓部材が設けられる。
【0023】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器は、エルビウム・ドープ・ファイバー光増幅器を有する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器は、エルビウムおよびイットリビウムをともにドープしたファイバー光増幅器を有しても良い。
【0024】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器は、前記紫外光の出力、あるいは前記増幅した複数の分岐光の各出力を調整するために、前記並列に設けられる複数のファイバー光増幅器の各々の励起強度を制御するファイバー出力制御手段を有する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器は、前記増幅した複数の分岐光をそれぞれ出力する複数のファイバー出力端が1つに束ねられる、もしくは複数の出力群に分けられ、かつ出力群毎に束ねられる。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器は、前記複数のファイバー出力端の一部を束ねた第1の出力群と、前記第1の出力群を除いた残りのファイバー出力端を1つに束ねる、もしくは複数の出力群に略均等に分けて各々束ねた第2の出力群とを有する。
【0025】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器は、前記出力群に各分岐光を透過する窓部材を有する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器は、前記複数のファイバー出力端が複数の出力群に分けられて各々束ねられ、前記波長変換部は前記出力群ごとに設けられる。
【0026】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記波長変換部の入力側には、前記光増幅器から射出されるレーザ光を前記非線形光学結晶に集光して入射させる集光光学素子を有する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記集光光学素子は、前記光増幅器の出力群ごとに束ねられた出力端部を、それぞれの出力群ごとにレンズとすることにより設けている。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記集光光学素子は、前記増幅したレーザ光を出力する前記光増幅器のファイバー出力端にそれぞれ設けられる。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記集光光学素子は、前記光増幅器の複数のファイバー出力端部をそれぞれレンズとすることにより設けられる。
【0027】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、波長が1.5μm付近の単一波長のレーザ光を発生し、前記波長変換部は、前記光増幅器から出力される前記波長1.5μm付近の基本波を、8倍高調波又は10倍高調波の紫外光として発生させる。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、1.51μm〜1.59μmの範囲内に発振波長を持つDFB半導体レーザもしくはファイバーレーザを有し、前記波長変換部は、発生波長が189nm〜199nmの範囲内である8倍高調波を発生する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、1.544μm〜1.552μmの範囲内に発振波長を持つレーザ光を発生し、前記波長変換部は、発生波長がArFエキシマレーザの発振波長と略同一波長である193nm〜194nmの範囲内の8倍高調波を発生する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記波長変換部は、前記基本波と、前記基本波の7倍高調波とから、和周波発生により前記基本波の8倍高調波を発生する第1の非線形光学結晶を有する。
【0028】
上記レーザ装置において、好ましくは、 前記レーザ光発生部は、1.51μm〜1.59μmの範囲内に発振波長を持つDFB半導体レーザもしくはファイバーレーザを有し、前記波長変換部は、発生波長が151nm〜159nmの範囲内である10倍高調波を発生する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、1.57μm〜1.58μmの範囲内に発振波長を持つレーザ光を発生し、前記波長変換部は、発生波長がF レーザの発振波長と略同一波長である157nm〜158nmの範囲内の10倍高調波を発生する。
【0029】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、波長が1.1μm付近の単一波長のレーザ光を発生し、前記波長変換部は、前記光増幅器から出力される前記波長1.1μm付近の基本波を、7倍高調波の紫外光として発生させる。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、1.03μm〜1.12μmの範囲内に発振波長を持つDFB半導体レーザもしくはファイバーレーザを有し、
前記波長変換部は、発生波長が147nm〜160nmの範囲内である7倍高調波を発生する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、1.099μm〜1.106μmの範囲内に発振波長を持つレーザ光を発生し、前記波長変換部は、発生波長がF レーザの発振波長と略同一波長である157nm〜158nmの範囲内の7倍高調波を発生する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部は、イットリビウム・ドープ・ファイバーレーザを有する。
【0030】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記複数のファイバー光増幅器の少なくとも一つの入射側に光分岐手段を更に備え、前記光分岐手段で複数に分割されるパルス光がその後段に配置されるファイバー光増幅器に入射する。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記分割された複数のパルス光をそれぞれ遅延させて前記光分岐手段の後段に配置されるファイバー光増幅器に入射させる遅延手段を更に備える。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記複数の分岐光をそれぞれ増幅する前記複数のファイバー光増幅器のうち少なくとも最終段のファイバー光増幅器は大モード径ファイバーである。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記大モード径ファイバーはZBLANファイバーである。
【0031】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記波長変換部はNCPM(Non-Critical Phase Matching)で使用される非線形光学結晶を含む。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記波長変換部は温度制御される非線形光学結晶を含む
【0032】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部と前記波長変換部との間における光の波長幅の広がりを抑制する光学装置を更に備える。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光学装置はその少なくとも一部が前記レーザ光発生部と前記波長変換部との間に配置される。
【0033】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光学装置の少なくとも一部は前記複数のファイバー光増幅器の間に配置される。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光学装置は狭帯域フィルタ及びアイソレータの少なくとも一方を含む。
【0034】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記複数の分岐光の光路に配置された前記複数のファイバー光増幅器において、光学的に最も下流に配置されるファイバー光増幅器のファイバーはフッ化物系ファイバーである
上記レーザ装置において、好ましくは、前記光増幅器はその少なくとも一部がユニットとして交換可能である。
【0035】
上記レーザ装置において、好ましくは、前記レーザ光発生部と前記光増幅器との少なくとも一方に接続され、前記紫外光の発振特性を調整するための調整装置を更に備え、前記発振特性は、前記紫外光の強度、中心波長、波長幅、および発振間隔の少なくとも一つを含む。
上記レーザ装置において、好ましくは、前記調整装置は、前記紫外光と、前記紫外光と波長が異なる光との少なくとも一方の検出によって得られる情報に基づいて調整する
【0036】
本発明に係る光照射装置は、上述のレーザ装置と、前記レーザ装置から発生される紫外光物体に導く光学系とを備え、前記光学系を介して前記紫外光を前記物体に照射するように構成される。
上記光照射装置において、好ましくは、前記紫外光の照射によって、前記物体上のパターンの検出、前記物体の加工、あるいは前記物体へのパターン像の形成を行う。
上記光照射装置において、好ましくは、前記物体は、デバイス製造工程で使用される基板である。
【0037】
本発明に係る露光方法は、上述の光照射装置を用いて前記紫外光をマスクに照射するとともに、前記マスクを介して前記紫外光で前記基板を露光するように構成される。
【0038】
【発明の実施の形態】
本発明によるレーザ光源は、レーザ光発生部からの単一波長の光を光増幅器によって増幅し、この増幅された光を波長変換部に備える非線形光学結晶により紫外光に変換するように構成することにより、複雑な構成を用いることなく所要のスペクトル線幅(例えば1pm以下)の紫外光を容易に得ることができるものである。
【0039】
さらに、単一波長のレーザ光を複数に分割(又は時分割)し、この出力光を複数のファイバー光増幅器で増幅し、この増幅された光を非線形光学結晶により紫外光に変換するよう構成することにより、パルス光の1パルスあたりのピークパワーを押さえつつ光源全体としてのレーザ光出力の増大をはかり、かつ光の空間的コヒーレンスの低い紫外光を供給しようとするものである。
【0040】
以下、本発明の好ましい実施形態について、図面を参照しながら説明する。まず、本発明に係るレーザ装置の第1の実施形態について図1を参照しながら説明する。本実施形態による紫外光発生装置は、単一波長発振レーザ11からなり単一波長のレーザー光を発生するレーザ光発生部と、ファイバー光増幅器13、18、19からなりこの光を増幅する光増幅器と、光を複数に並列分岐させる光分岐手段14、16と、各々長さの異なるファイバー15、17と、そして後述する非線形光学結晶からなり前記増幅された光を波長変換する波長変換部とから構成され、ArFエキシマレーザと同じ出力波長(193nm)あるいはF2レーザと同じ出力波長(157nm)を発生し、かつ空間的コヒーレンスの低いレーザ装置を提供するものである。
【0041】
本実施形態において、図1には本発明に係るレーザ装置のレーザ光発生部から出力された単一波長のレーザ光が分岐され増幅されるまでの構成例を示す。まず、図1に基づいて説明すると、レーザ光発生部には、単一波長のレーザ光を発生する単一波長発振レーザ11が備えられ、さらに、光分岐手段であるスプリッタ14、16と、各々長さの異なるファイバー15、17とを備え、各々長さの異なるファイバー17の射出側にはファイバー光増幅器18、19が接続され複数並列に増幅される。
【0042】
このファイバー光増幅器19の出射端はバンドル状に束ねられ、例えば図11(a)に示す波長変換部(502〜506)にその増幅されたレーザ光が入射する。図1中に示されるファイバー光増幅器19のファイバーバンドル出射端114は、図11(a)〜(d)にそれぞれ示されるファイバーバンドル出射端501に対応する。この波長変換部は、非線形光学結晶502〜504等を備えて構成され、ファイバー光増幅器19から射出される基本波を紫外光に変換する。なお、本発明に係る波長変換部については、本発明の実施の形態の後段において実施形態4〜7として詳細に説明する。
【0043】
以下、本実施形態についてより詳細に説明する。図1に示す単一波長で発振する単一波長発振レーザ11としては、例えば、発振波長1.544μm、連続波出力(以下CW出力という)20mWのInGaAsP,DFB半導体レーザを用いる。ここでDFB半導体レーザとは、縦モード選択性の低いファブリーペロー型共振器の代わりに、回折格子を半導体レーザ内に作り上げたもので、どのような状況下であっても単一縦モード発振をするように構成されており、分布帰還型(Distributed Feedback:DFB)レーザと呼ばれるものである。この様なレーザでは基本的に単一縦モード発振をすることから、その発振スペクトル線幅は0.01pm以下に抑えられる。
【0044】
なお、レーザ装置の出力波長を特定波長に固定するためには、単一波長発振レーザ(Master Oscillator)の発振波長を一定波長に制御する発振波長制御装置を設けることが好ましい。逆に、この発振波長制御装置によって単一波長発振レーザの発振波長を積極的に変化させてその出力波長を調整可能にすることも好ましい。例えば、本発明のレーザ装置を露光装置に適用する場合、前者によれば、波長変動による投影光学系の収差の発生、又はその変動が防止され、パターン転写中にその像特性(像質などの光学的特性)が変化することがなくなる。
【0045】
また、後者によれば、露光装置が組立、調整される製造現場と露光装置の設置場所(納入先)との標高差や気圧差、更には環境(クリーンルーム内の雰囲気)の違いなどに応じて生じる投影光学系の結像特性(収差など)の変動を相殺でき、納入先で露光装置の立ち上げに要する時間を短縮することが可能になる。さらに後者によれば、露光装置の稼働中に、露光用照明光の照射、及び大気圧変化などに起因して生じる投影光学系の収差、投影倍率、及び焦点位置などの変動も相殺でき、常に最良の結像状態でパターン像を基板上に転写することが可能となる。
【0046】
このような発振波長制御手段としては、例えば、単一波長発振レーザとしてDFB半導体レーザを用いる場合には、DFB半導体レーザの温度制御を行うことにより達成することができ、この方法により発振波長をさらに安定化して一定の波長に制御したり、あるいは出力波長を微調整することができる。
【0047】
通常、DFB半導体レーザなどはヒートシンクの上に設けられ、これらが筐体内に収納されている。そこで本例では、単一波長発振レーザ (DFB半導体レーザなど)11に付設されるヒートシンクに設けられた温度調整器(例えばペルチェ素子など)を用いてその温度を制御して発振波長を調整する。ここで、DFB半導体レーザなどではその温度を0.001℃単位で制御することが可能である。
【0048】
また、DFB半導体レーザの発振波長は0.1nm/℃程度の温度依存性を持つ。例えば、DFB半導体レーザの温度を1℃変化させると、基本波(1544nm)ではその波長が0.1nm変化するので、8倍波(193nm)ではその波長が0.0125nm変化し、10倍波(157nm)ではその波長が0.01nm変化することになる。なお、露光装置では露光用照明光(パルス光)の波長をその中心波長に対して±20pm程度変化させることができれば十分である。従って、DFB半導体レーザ11の温度を8倍波では±1.6℃程度、10倍波では±2℃程度変化させればよい。
【0049】
そして、この発振波長を所定の波長に制御する際のフィードバック制御のモニター波長としては、DFB半導体レーザの発振波長、あるいは後述する波長変換出力(2倍波、3倍波、4倍波等)のうちから所望の波長制御を行うに当たって必要な感度を与え、かつ最もモニターしやすい波長を選択する。例えば、単一波長発振レーザとして発振波長1.51〜1.59μmのDFB半導体レーザを使用する場合に、この発振レーザ光の3倍波は503nm〜530nmの波長になるが、この波長帯はヨウ素分子の吸収線が密に存在する波長域に該当しており、ヨウ素分子の適切な吸収線を選んでその波長にロックすることにより精密な発振波長制御を行うことが可能である。
【0050】
この半導体レーザの光出力を例えば電気光学光変調素子や音響光学光変調素子などの光変調素子12を用いて、CW光(連続光)をパルス光に変換する。本構成例では一例として、この光変調素子12によってパルス幅1ns、繰り返し周波数100kHz(パルス周期10μs)のパルス光に変調させた場合について説明を行う。この様な光変調を行った結果、光変調素子12から出力されるパルス光のピーク出力は20mW、平均出力は2μWとなる。ここでは、光変調素子12の挿入による損失がないものとしたが、その挿入損失がある、例えば損失が−3dBである場合、パルス光のピーク出力は10mW、平均出力は1μWとなる。
【0051】
なお、光変調素子として電気光学変調素子を用いる場合には、屈折率の時間変化に伴うチャープによる半導体レーザ出力の波長広がりが小さくなるように、チャープ補正を行った電極構造を持つ電気光学変調素子(例えば二電極型変調器)を用いることが好ましい。また、繰り返し周波数を100kHz程度以上に設定することにより、後述するファイバー光増幅器においてASE(Amplified Spontaneous Emission,自然放出光)ノイズの影響による増幅率低下を阻止することができ、このような変調器構成とすることが望ましい。
【0052】
さらに、半導体レーザなどではその電流制御を行うことで、出力光をパルス発振させることができる。このため、本例(及び後述の各実施形態)では単一波長発振レーザ(DFB半導体レーザなど)11の電流制御と光変調素子12とを併用してパルス光を発生させることが好ましい。そこで、DFB半導体レーザ11の電流制御によって、例えば10〜20ns程度のパルス幅を有するパルス光を発振させるとともに、光変調素子12によってそのパルス光からその一部のみを切り出す、すなわち本例ではパルス幅が1nsのパルス光に変調する。
【0053】
これにより、光変調素子12のみを用いる場合に比べて、パルス幅が狭いパルス光を容易に発生させることが可能になるとともに、パルス光の発振間隔や発振の開始及びその停止などをより簡単に制御することが可能になる。特に、光変調素子12のみを用いてパルス光をオフの状態にしてもその消光比が充分でない場合には、DFB半導体レーザ11の電流制御を併用することが望ましい。
【0054】
このようにして得たパルス光出力を、初段のエルビウム(Er)・ドープ・ファイバー光増幅器(EDFA)13に接続し、35dB(3162倍)の光増幅を行う。このときパルス光は、ピーク出力約63W、平均出力約6.3mWとなる。
【0055】
この初段の光増幅器であるファイバー増幅器13の出力を、光分岐手段であるスプリッタ14(平板導波路1×4スプリッタ)でまずチャネル0〜3の4出力に並列分割する。このチャネル0〜3の各出力を、各々長さの異なるファイバー15(図ではチャネル0の一本のみを表示する)に接続することにより、各ファイバーから出力される光は、各出力光にファイバー長に対応した遅延が与えられる。例えば本実施形態では、ファイバー中の光の伝搬速度を2×108m/sであるとし、チャネル0、1、2、3にそれぞれ0.1m、19.3m、38.5m、57.7mの長さのファイバーを接続する。この場合、各ファイバー出口での隣り合うチャネル間の光の遅延は96nsとなる。なおここでは、この様に光を遅延させる目的で使用するファイバーを、便宜的に遅延ファイバーと呼ぶ。
【0056】
次に、前記4本の遅延ファイバー出力を、4ブロックの平板導波路1×32スプリッタ16でさらに32出力に並列分割(各ブロックでチャネル0〜31)し、合計128のチャネルに分割する。そして、各ブロックともチャネル0をのぞくチャネル1〜31に再び長さの異なる遅延ファイバー17を接続する。例えば本実施形態では、チャネル1から31にそれぞれ0.6×Nメートル(Nはチャネル番号)の長さのファイバーを接続する。この結果、各ブロック内の隣り合うチャネル間では3nsの遅延が与えられ、各ブロックのチャネル0出力に対し、チャネル31出力は、3×31=93nsの遅延が与えられる。
【0057】
一方、第1から第4までの各ブロック間には、前記のように遅延ファイバー15によって、各ブロックの入力時点で各々96nsの遅延が与えられている。従って、第2ブロックのチャネル0出力は第1ブロックのチャネル0出力に対し96nsの遅延となり、第1ブロックのチャネル31との遅延は3nsとなる。このことは、第2〜第3、第3〜第4のブロック間においても同様である。この結果、全体の出力として総計128チャネルの出力端で、隣り合うチャネル間に3nsの遅延を持つパルス光が得られる。なお、図1では第1ブロックのチャネル1についてのみ記載し、他のチャネルの記載を省略しているが、他のチャネルについても同様に構成するものである。
【0058】
以上の分岐及び遅延により、総計128チャネルの出力端では、隣り合うチャネル間で3nsの遅延を持つパルス光が得られるが、このとき各々の出力端で観測される光パルスは、光変調素子12によって変調されたパルスと同じ100kHz(パルス周期10μs)である。従って、レーザ光発生部全体として見ると、128パルスが3ns間隔で発生した後、9.62μsの間隔を置いて次のパルス列が発生するという繰り返しが100kHzで行われる。即ち全体の出力は128×100×103=1.28×107パルス/秒となる。
【0059】
なお本実施形態では、分割数を128とし、また遅延用ファイバーとして短いものを用いた例について説明した。このため各パルス列の間に9.62μsの発光しない間隔が生じたが、分割数を増加させる、または遅延用ファイバーをより長くして適切な長さとする、あるいはこれらを組み合わせて用いることにより、パルス間隔を完全な等間隔とすることも可能である。例えば、前記スプリッタ14に入射するレーザ光のパルス繰り返し数をf[Hz]、分割数をmとしたときに、各ファイバーの遅延間隔が1/(f×m)となるように各ファイバー長を設定することによっても達成できるものである。
【0060】
また、前述のパルス間隔を完全な等間隔とするように、スプリッタ14、16の少なくとも一方の分割数、又は光変調素子12によって規定されるパルス繰り返し数fを調整する、あるいはその分割数と繰り返し数fの両方を調整するようしてもよい。従って、遅延ファイバー15、17の各ファイバー長、スプリッタ14、16の少なくとも一方の分割数、及びパルス繰り返し数fの少なくとも1つを調整することで、パルス間隔を等間隔に設定できるだけでなく、その間隔を任意に設定することができる。
【0061】
なお、光源を組み上げた後にファイバー長を変更するためには、例えば遅延ファイバー15、17をそれぞれ束ねてユニット化しておき、このユニットをチャネル間の遅延時間が異なる別の遅延ファイバー・ユニットと交換できるように構成しておくことが好ましい。また、スプリッタ14、16の分割数を変更するときも、スプリッタ14、16にそれぞれ対応して分割数が異なる別のスプリッタを用意しておき、これらを交換可能に構成しておくことが好ましい。このとき、スプリッタ14、16の分割数の変更に応じて遅延ファイバー15、17の各ユニットを交換可能に構成しておくことが望ましい。
【0062】
また、本例では光変調素子12に印加するドライブ用電圧パルスのタイミングを制御することによって、光源(パルス光)の発振タイミング、即ち繰り返し周波数f(パルス周期)を調整することができる。さらに、この発振タイミングの変更に伴ってパルス光の出力が変動し得る場合には、光変調素子12に印加するドライブ用電圧パルスの大きさも同時に調整してその出力変動を補償するようにしてもよい。
【0063】
このとき、単一波長発振レーザ11の発振制御のみ、あるいは前述した光変調素子12の制御との併用によってそのパルス光の出力変動を補償するようにしても良い。なお、パルス光の出力変動はその発振タイミングの変更時だけでなく、単一波長発振レーザの出力(すなわち、パルス光のファイバー光増幅器への入射)を所定時間だけ停止した後にその発振を再開するときにも生じ得る。また、単一波長発振レーザ11をパルス発振させる場合、単一波長発振レーザ11の電流制御のみ、あるいは前述した光変調素子12の制御との併用によってパルス光の発振タイミング(パルス周期)を調整するようにしても良い。
【0064】
さて、本例では128本の遅延ファイバー17にそれぞれファイバー光増幅器18が接続され、さらに狭帯域フィルタ113を挟んでファイバー光増幅器19が接続されている。狭帯域フィルタ113は、ファイバー光増幅器13及び18でそれぞれ発生するASE光をカットし、かつDFB半導体レーザ11の出力波長(波長幅は1pm程度以下)を透過させることで、透過光の波長幅を実質的に狭帯化するものである。これにより、ASE光が後段のファイバー光増幅器(18及び19)に入射してレーザ光の増幅利得を低下させるのを防止することができる。ここで、狭帯域フィルタはその透過波長幅が1pm程度であることが好ましいが、ASE光の波長幅は数十nm程度であるので、現時点で得られる透過波長幅が100pm程度の狭帯域フィルタを用いても実用上問題がない程度にASE光をカットすることができる。
【0065】
また、DFB半導体レーザ11の出力波長を積極的に変化させる場合、その出力波長に応じて狭帯域フィルタを交換するようにしてもよいが、その出力波長の可変幅(露光装置では一例として前述した±20pm程度)に応じた透過波長幅(可変幅と同程度以上)を持つ狭帯域フィルタを用いておくことが好ましい。なお、露光装置に適用されるレーザ装置ではその波長幅が1pm程度以下に設定される。また、図1のレーザ装置には3つのアイソレータ110、111、112が設けられており、これらによって戻り光の影響が低減されるようになっている。
【0066】
以上のように構成することにより、前記発生部(ファイバー光増幅器19の出射端)からの出力光は、極めて狭帯域化された光でありながら、お互いに時間的に重なり合うことがない。従って、各チャネル出力間の空間的コヒーレンスを低減することができる。
【0067】
なお以上の構成では、単一波長発振レーザ11としてDFB半導体レーザを用い、光分岐手段の分岐要素として平板導波路型スプリッタ14、16を用いた例について説明したが、レーザ光源としては、DFB半導体レーザと同様に、この波長領域で狭帯域化されたレーザであれば良く、例えばエルビウム(Er)・ドープ・ファイバー・レーザであっても同様の効果を奏する。また、光分岐手段の分岐要素としては、平板導波路スプリッタと同様に、光を並列に分岐するものであれば良く、例えばファイバースプリッタや、部分透過鏡を用いたビームスプリッタであっても同様の効果を奏する。
【0068】
また、前述したように本実施形態では、遅延ファイバーであるファイバー17の出力を、一段あるいは多段のEDFA(エルビウム・ドープ・ファイバー光増幅器、以下同じ)で更に増幅する。本実施形態では、一例として、前記レーザ光発生部での各チャネルの平均出力約50μW、全チャネル合計での平均出力約6.3mWを2段のEDFA18、19によって合計46dB(40600倍)の増幅を行う例について示している。この場合、各チャネルの出力端ではピーク出力20kW、パルス幅1ns、パルス繰り返し100kHz、平均出力2W、全チャネルでの平均出力約256Wを得る。
【0069】
ここでは、平板導波路型スプリッタ14、16での結合損失を考慮していないが、その結合損失がある場合にはその損失分だけファイバー光増幅器(例えばEDFA18、19などの少なくとも1つ)の増幅利得を上げることにより、EDFA19から発生する基本波の出力を前述した値(例えばピーク出力20kWなど)と同一にすることができる。なお、ファイバー光増幅器の増幅利得を変化させることで、基本波の出力を前述した値よりも大きくしたり、あるいは小さくしたりすることができる。
【0070】
この光増幅器の出力である波長1.544μmの単一波長パルスレーザ光は、非線形光学結晶を用いた波長変換部により、スペクトル線幅の狭い紫外光パルス出力に変換される。この波長変換部の実施形態については後述する。
【0071】
次に本発明に係るレーザ装置の第2の実施形態を、図2を参照しながら説明する。本実施形態による紫外光発生装置は、単一波長のレーザ光を発生するレーザ光発生部と、この光を増幅する光増幅器、及び前記増幅された光を波長変換する波長変換部とから構成され、ArFエキシマレーザと同じ出力波長(193nm)あるいはF2レーザと同じ出力波長(157nm)のレーザ光を発生し、かつ空間的コヒーレンスの低い紫外レーザ装置を提供するものである。なお本発明の第1の実施形態における紫外レーザ装置とは、光分岐手段が光を時間的に分割し分岐するものである点、この光分岐手段に入射されるまでのレーザ光はファイバー光増幅器で増幅されていない点、の2点において異なっている。このうち、光分岐手段とファイバー光増幅器の先後はいずれの構成をとることも可能である。
【0072】
また、前述の実施形態1(図1)と同様に、光分岐手段(本例ではTDM23)の入射側(単一波長発振レーザ21側)にファイバー光増幅器を更に設け、ここで増幅したパルス光を光分岐手段に入射させるように構成してもよい。これにより、光分岐手段よりも後段に配置されるファイバー光増幅器(本例では24、25)で必要な増幅利得を図2の構成よりも下げることができ、例えばファイバー光増幅器の交換回数などが減るのでより経済的である。
【0073】
ところで、本実施形態において、図2には本発明に係る紫外レーザ装置の、レーザ光発生部と光分岐手段と光増幅器の部分の構成例を示す。図2に示すとおり、本実施形態による紫外レーザ装置は、単一波長のレーザ光を発生する単一波長発振レーザ21からなるレーザ光発生部と、光を分岐させる光分岐手段23とを備え、この光分岐手段23からの複数の光出力はそれぞれファイバー光増幅器24、25により複数並列に増幅される。このファイバー光増幅器25の射出端はバンドル状に束ねられ、例えば図14に示す非線形光学結晶などからなる波長変換部(702〜712)にその増幅されたレーザ光が入射する。
【0074】
ここで、図2中に示されるファイバー光増幅器25のファイバーバンドル出射端29は、図14に示されるファイバーバンドル出射端701に対応する。この波長変換部は、一群の非線形光学結晶702、705、710、712を備えて構成され、光増幅器(21〜28)から出射される基本波を紫外光に変換する。なお、本発明に係る波長変換部については、実施の形態の後段において実施形態4〜7として詳細に説明する。
【0075】
以下、本実施形態についてより詳細に説明する。図2に示す単一波長で発振するレーザ21としては、例えば、発振波長1.099μm、CW出力20mWのDFB半導体レーザあるいはイットリビウム(Yb)・ドープ・ファイバーレーザを用いる。これらのレーザは基本的に単一縦モード発振をすることから、その発振スペクトル線幅は0.01pm以下に抑えられる。
【0076】
この半導体レーザの光出力を例えば電気光学光変調素子や音響光学光変調素子などの光変調素子22を用いて、CW光(連続光)をパルス光に変換する。本構成例では一例として、この光変調素子22によってパルス幅1ns、繰り返し周波数12.8MHz(パルス周期約78ns)のパルス光に変調させた場合について説明を行う。この様な光変調を行った結果、光変調素子から出力されるパルス光のピーク出力は20mW、平均出力は0.256mWとなる。
【0077】
このパルス光出力を、光分岐手段である時分割光分岐手段(Time Division Multiplexer:TDM)23により、パルス光を各パルスごとに、順次チャネル0からチャネル127の総計128チャネルに振り分ける。すなわち、パルス周期78nsごとのパルスを順次チャネル0からチャネル1、2、3・・・127に順次振り分けてゆく。この結果を各チャネルごとについてみると、出力パルスのパルス周期は78ns×128=10μs(パルス周波数100kHz)、パルスピーク出力20mW、平均出力2μWのパルス光となる。また、レーザ光発生部全体で見ると、パルス周波数12.8MHz、パルスピーク出力20mW、平均出力0.256mWの平均化されたパルス光となる。なお、隣り合うチャネル間では78nsの遅延があり、各チャネル間のパルス光はお互いに重なり合うことがない。
【0078】
また、本例では光変調素子22から出力されるパルス光の繰り返し周波数fを100kHz(パルス周期は10μs)とし、時分割光分岐手段(TDM)23のチャネル0〜127から出力されるパルス光を、光変調素子22によって規定されるパルス周期(10μs)を128等分した時間間隔(78ns)ずつ遅延させるようにしているが、その遅延時間は等時間間隔でなくてもよいし、あるいは前述の第1実施形態と同様にパルス周期(10μs)の一部のみで、チャネル0〜127からパルス光を出力させるようにしてもよい。さらに、光変調素子22に印加するドライブ用電圧パルスのタイミングも同時に制御して前述のパルス周期(10μs)を変更してもよく、例えばその変更されたパルス周期を128等分した時間間隔である遅延時間を変化させることもできる。
【0079】
なお、前述した第1の実施形態と同様に、本例でも単一波長発振レーザ21をパルス発振させても良い。さらに、時分割光分岐装置(TDM)23と単一波長発振レーザ21の電流制御とを併用する、あるいは光変調素子22の制御をさらに併用して前述のパルス周期(10μs)を変更しても良い。
【0080】
以上のように構成することにより、前記発生部からの出力光は、極めて狭帯域化された単一波長の光でありながら、お互いに時間的に重なり合うことがない。従って、各チャネル出力間の空間的コヒーレンスを低減することができる。
【0081】
なお以上の構成では、単一波長発振レーザ21としてDFB半導体レーザあるいはイットリビウム(Yb)・ドープ・ファイバーレーザを用いた例について説明したが、レーザ光源としては、DFB半導体レーザと同様に、この波長領域で狭帯域化されたレーザであれば同様の効果を奏する。
【0082】
時分割光分岐手段23の出力は、そのチャネル0〜127に対応してそれぞれ設けられる、一段あるいは多段のYDFA(イットリビウム・ドープ・ファイバー光増幅器、以下同じ)で構成されたファイバー光増幅器24、25によって増幅される。このイットリビウム・ドープ・ファイバー光増幅器は、前述のエルビウム・ドープ・ファイバー光増幅器よりも半導体レーザによる励起効率が高く経済的である。また、前述の第1実施形態(図1)と同様に戻り光の影響の低減、及び波長幅の狭帯化などを目的として、単一波長発振レーザ21と光変調素子22との間にアイソレータ26が配置されるとともに、ファイバー光増幅器24と25との間には狭帯域フィルタ28とアイソレータ27とが配置されている。
【0083】
本実施形態では、一例として、時分割光分岐手段23での各チャネルの平均出力2μW、全チャネルでの平均出力0.256mWを2段のYDFA24、25によって合計60dB(1000000倍)の増幅を行う例について示す。この場合、各チャネルの出力端では、ピーク出力20kW、パルス幅1ns、パルス繰り返し100kHz、平均出力2W、全チャネル合計での平均出力256Wを得る。なお、図3では全チャネル中チャネル0についてのみ記載し、他のチャネルの記載を省略しているが、他のチャネルについても同様に構成する。
【0084】
この光増幅器の出力である波長1.099μmの単一波長パルスレーザ光は、非線形光学結晶を用いた波長変換部により、スペクトル線幅の狭い紫外光パルス出力に変換される。この波長変換部の実施形態については後述する。
【0085】
以上説明した実施の形態1及び実施の形態2では光増幅器の出力波長が異なるが、これらは以上の各説明に述べたように、単一波長発振レーザ(11、21)の発振波長によって定まり、さらに増幅効率を考慮したファイバー光増幅器、即ち利得波長幅(例えばエルビウム・ドープ・ファイバーでは1530〜1560nm、イットリビウム・ドープ・ファイバーでは990〜1200nm)の組み合わせにより得られるものである。従って、本発明の実施の形態では単一波長発振レーザに対してその発振波長に応じた利得波長幅を持つファイバー光増幅器を適宜選択して組み合わせればよい。さらに、例えば実施形態1では平板導波路型スプリッタ(14、16)の代わりに実施形態2で用いたTDM(23)を用いてもよいし、実施形態2ではTDM(23)の代わりに平板導波路型スプリッタを用いてもよい。なお、波長変換部の実施形態については後述する。
【0086】
なお、これらの実施形態における最終段の高ピーク出力ファイバー光増幅器(図1では19、図2では25)においては、ファイバー中での非線形効果による増幅光のスペクトル幅の増加を避けるため、ファイバーモード径が通常通信で用いられているもの(5〜6μm)よりも広い、例えば20〜30μmの大モード径ファイバー光増幅器を使用することが望ましい。
【0087】
この大モード径ファイバー光増幅器を用いた光増幅器の構成例を図4に示す。図4中で点線の四角で囲んだ部分のファイバーをモード径の広いものにするこの光増幅器42では、上記のモード径の広い光増幅器用ドープ・ファイバーを励起するための半導体レーザ43を、光増幅器用ドープ・ファイバーの径に合わせた大モード径ファイバーにファイバー結合し、この半導体レーザ出力を波長分割多重化装置(Wavelength Division Multiplexer:WDM)45、46を用いて、光増幅器用ドープ・ファイバーに入力し、ドープ・ファイバーを励起する。
【0088】
この大モード径ファイバー(光増幅器)42で増幅されたレーザ光は波長変換部500に入射し、ここで紫外レーザ光に波長変換される。この大モード径ファイバーを伝播する増幅されるべきレーザ光(信号)は、主に基本モードであることが望ましく、これは、シングルモードあるいはモード次数の低いマルチモードファイバーにおいて、主に基本モードを選択的に励起することにより実現できる。
【0089】
また、特に図4では半導体レーザ43とWDM45との間に光偏波結合素子44が設けられ、互いに偏光方向が直交する、2つの半導体レーザ43から出力されるレーザ光を合成できるようになっている。なお、本例では光偏波結合素子44でレーザ光の偏光方向を直交させるものとしたが、レーザ光の合成効率の低下を許容できる場合にはその偏光方向を直交させなくてもよい。さらに、大モード径ファイバー光増幅器42の入射側に設けられたアイソレータ404によって、戻り光の影響が低減される。
【0090】
また、標準的なモード径を持つファイバー光増幅器41と大モード径ファイバー光増幅器42との間に、ファイバー光増幅器42から発生するASE光を除去するために狭帯域フィルタ403が設けられている。また、ファイバー光増幅器41にはその励起用の半導体レーザ401がファイバー結合されるとともに、この半導体レーザ401の出力がWDM402を通して光増幅器用ドープ・ファイバーに入力し、それによりこのドープ・ファイバーが励起される。
【0091】
このような方法によれば、大モード径ファイバーに半導体レーザ43をカップリングすることになるため、ファイバーへのカップリング効率が向上し、半導体レーザ出力を有効に使用できる。また、同一径の大モード径ファイバーを用いることにより、WDM45、46での損失も軽減できるため効率的である。なお、標準的なモード径を持つ前段のファイバー光増幅器41と、上記モード径の広い最終段のファイバー光増幅器42との接続は、テーパ状にモード径が増加するファイバーを用いて行う。
【0092】
さらに、最終段のファイバー光増幅器(19、25)において高出力を得るためには、図4における大モード径ファイバー(42)に代えて、ファイバー・クラッドが二重構造となったダブル・クラッド・ファイバー410を用いるようにしてもよい。このファイバー410の断面図の一例を図5に示す。この構造では、コア411の部分にレーザ光の増幅に寄与するイオンがドープされており、増幅されるレーザ光(信号)がこのコア内を伝搬する。コアを取り巻く第1クラッド412に励起用半導体レーザをカップリングする。この第1クラッドはマルチモードであり、断面積も大きいため高出力の励起用半導体レーザ光の伝導が容易であり、マルチモード発振の半導体レーザを効率よくカップリングし、励起用光源を効率よく使用することができる。第1クラッドの外周には第1クラッドの導波路を形成するための第2クラッド413が形成されている。
【0093】
また、前述の第1及び第2実施形態でのファイバー光増幅器として石英ファイバー、又はシリケイト系ファイバーを用いることができるが、これらの他にフッ化物系ファイバー、例えばZBLANファイバーを用いるようにしてもよい。このフッ化物系ファイバーでは、石英やシリケイト系などに比べてエルビウム・ドープ濃度を大きくすることができ、これにより増幅に必要なファイバー長を短縮することができる。
【0094】
このフッ化物系ファイバーは、特に最終段のファイバー光増幅器(19、25)に適用することが望ましく、ファイバー長の短縮により、パルス光のファイバー伝播中の非線形効果による波長幅の広がりを抑えることができ、例えば露光装置に必要な波長幅が狭帯化された光源を得ることが可能となる。特に開口数が大きい投影光学系を有する露光装置でこの狭帯化光源が使用できることは、例えば投影光学系を設計、製造する上で有利である。
【0095】
ところで、前述のように二重構造のクラッドを持つファイバー光増幅器の出力波長として1.51〜1.59μmを使用する場合には、ドープするイオンとしてエルビウムに加えイットリビウムを共にドープすることが好ましい。これは半導体レーザによる励起効率を向上させる効果があるためである。すなわち、エルビウムとイットリビウムの両方をドープする場合、イットリビウムの強い吸収波長が915〜975nm付近に広がっており、この近傍の波長で各々異なる発振波長を持つ複数の半導体レーザをWDMにより結合させて第1クラッドにカップリングすることで、その複数の半導体レーザを励起光として使用できるため大きな励起強度を実現することができる。さらに、例えば図4における光結合素子44として偏光結合素子を用いれば、偏光方向の異なる半導体レーザ出力を共に結合することができるため、さらに励起強度を2倍に高めることができる。
【0096】
また、ファイバー光増幅器のドープ・ファイバーの設計については、本発明のようにあらかじめ定められた一定の波長で動作する装置(例えば露光装置)では、所望の波長におけるファイバー光増幅器の利得が大きくなるように材質を選択する。例えば、ArFエキシマレーザと同じ出力波長(193〜194nm)を得るための紫外レーザ装置において、光増幅器用ファイバーを用いる場合には所望の波長、例えば1.548μmで利得が大きくなる材質を選ぶことが望ましい。
【0097】
しかしながら、通信用ファイバーでは波長分割多重化通信のため、1.55μm付近の数十nmの波長領域で、比較的平坦な利得を持つように設計されている。そこで、例えば励起媒質としてエルビウム単一ドープのコアを持つ通信用ファイバーでは、この平坦な利得特性を実現するために、アルミやリンをシリカファイバーにコ・ドープする手法が用いられる。このためこの種のファイバーでは、1.548μmで必ずしも利得が大きくならない。この様子を図6に示す。
【0098】
図6は横軸に波長を縦軸に蛍光強度をとり、ファイバーによる蛍光強度特性の差異を示したものである。図中のAl /P Silicaが通信用ケーブル材料に該当するが、これに対して図6に示したSilicate L22を用いれば、1.547μmでより高い利得を得ることができる。また、ドープ元素のアルミは、1.55μm付近のピークを長波長側にシフトさせ、リンは短波長側にシフトさせる効果を持つ。従って、1.547μm近傍で利得を大きくするためには、Silicate L22に少量のリンをドープすることで達成できる。
【0099】
一方、例えばエルビウムとイットリビウムをともにドープ(コ・ドープ)したコアを持つ光増幅器用ファイバー(例えば前記ダブル・クラッド・タイプのファイバー)を用いる場合には、図7に示すように、コアに少量のリンを加えることにより、1.547μm付近でより高い利得を得ることができる。なお図7は、横軸に波長を、縦軸に単位長さ当たりの利得をとり、図中に励起強度を変化させ、反転分布密度を変化させたときの波長に対するゲインの変化を示したものである。
【0100】
さて、実施形態1および2におけるファイバー光増幅器では、各ファイバーが独立した光増幅器であるため、各光増幅器のゲインの差が各チャネルの光出力のばらつきとなる。従って、このような形態のレーザ装置においては、例えば図8に示すように、各チャネルのファイバー光増幅器(41、42)で出力の一部を分岐させて光強度をモニターし、各ファイバー光増幅器からの光出力が各増幅段で一定になるように(即ちバランスするように)、各励起用半導体レーザ(401、43)のドライブ電流をフィードバック制御するファイバー出力制御装置405、406を設けることが望ましい。図8では、ファイバー光増幅器41からの分岐光を検出するファイバー出力制御装置405が、その検出値に基づいてファイバー光増幅器41に接続される半導体レーザ401のドライブ電流を制御し、大モード径ファイバー光増幅器42からの分岐光を検出するファイバー出力制御装置406が、その検出値に基づいて大モード径ファイバー光増幅器42に接続される半導体レーザ43のドライブ電流を制御するようになっている。
【0101】
さらに、図8に示すように波長変換部500からの光出力が所定の光出力となるように波長変換部500における光強度をモニターし、ファイバー光増幅器全体(41、42)としての励起用半導体レーザ401、43のドライブ電流をそれぞれフィードバック制御するファイバー出力制御装置407をさらに備えることが好ましい。図8では、ファイバー出力制御装置407が半導体レーザ401、43をそれぞれ独立に制御するものとしたが、波長変換部500で検出される光強度に基づいて半導体レーザ401、43のいずれか一方のみを制御するだけでもよい。また、ファイバー出力制御装置407は波長変換部500の途中でレーザ光を分岐してその強度を検出するものとしたが、波長変換部500の射出端から出力されるレーザ光の一部を分岐してその強度を検出するようにしてもよい。なお、図8では図4と同一の他の構成要素については同一の番号を付し、説明を省略する。
【0102】
このような構成とすることにより、各増幅段ごとに各チャネルのファイバー光増幅器の増幅率が一定化されるため、各ファイバー光増幅器間に偏った負荷がかかることがなく全体として均一な光強度が得られる。また、波長変換部500における光強度をモニターすることにより、予定される所定の光強度を各増幅段にフィードバックし、所望の紫外光出力を安定して得ることができる。
【0103】
なお、図8では示していないが、ファイバー出力制御装置405、406、407の少なくとも1つは、単一波長発振レーザ(11又は21)及び光変調素子(12又は22)にそれぞれ接続され、単一波長発振レーザの温度制御及び電流制御を行うとともに、光変調素子にドライブ用電圧パルスを印加し、且つその電圧パルスのタイミング及び大きさを制御することがさらに可能となっている。
【0104】
従って、その少なくとも1つのファイバー出力制御装置はパルス光(基本波、又は波長変換部で少なくとも1回波長変換された可視光、又は赤外光、あるいは紫外光)の強度、中心波長、及び波長幅を検出し、この検出値に基づいて単一波長発振レーザの温度をフィードバック制御してそのパルス光の中心波長及び波長幅を制御する。さらに、その検出値に基づいて単一波長発振レーザの電流制御と、光変調素子に印加する電圧パルスの制御とを行い、そのパルス光の強度、出力間隔、及びパルス出力の開始と停止などを制御する。
【0105】
また、少なくとも1つのファイバー出力制御装置は、単一波長発振レーザのパルス出力と連続出力との切替、及びそのパルス出力時における出力間隔やパルス幅などの制御を行うとともに、パルス光の出力変動を補償するするように、単一波長発振レーザの発振制御と光変調素子の制御との少なくとも一方を行う。
【0106】
なお、図8では大モード径ファイバー光増幅器の使用を前提としているが、ここで説明したファイバー光増幅器に接続される励起用半導体レーザ(401など)の電流制御と、単一波長発振レーザ及び光変調素子の制御とは、大モードファイバー光増幅器を使用しない、前述の第1及び第2実施形態による紫外レーザ装置(図1、図2)にもそのまま適用することが可能である。
【0107】
以上説明した実施形態1及び2における最終段のファイバー光増幅器19、25の出力端は束ねられて所要のバンドル形状に成形される(114、29)。バンドルの数及び形状は、波長変換部の構成や必要とされる光源の形状に合わせて定める。例えば、本実施形態では一つの円形断面を有するバンドルの場合を示す(114、29、501、601等)。このとき、各ファイバーのクラッド直径は125μm程度であることから、128本を束ねた出力端でのバンドルの直径は約2mm以下とすることができる。バンドルは最終段のEDFAもしくはYDFAの出力端をそのまま用いて形成することができるが、最終段のEDFAもしくはYDFAに無ドープのファイバーを結合させ、その出力端でバンドルを形成することも可能である。
【0108】
また、図9に示すように、光増幅器における最終段の各ファイバー422の出力端部423では、そのファイバー422内のコア421の径を出力端に向けてテーパ状に徐々に広げて配設し、出力端面423での光のパワー密度(単位面積当たりの光強度)を小さくしてやることが好ましい。このとき、テーパの形状はコア径の広がりが出力端面423に向けて十分緩やかに増加し、増幅されたレーザ光がテーパ部を伝搬する際にファイバー中での伝搬横モードが保存され、他の横モードの励起が十分無視できる程度(例えば数mrad程度)となるように設定する。
【0109】
このように設定することにより、ファイバーの出力端面423における光のパワー密度を低下させることができ、ファイバーの損傷において最も問題であるファイバー出力端部のレーザ光による損傷を大幅に抑制する効果が得られる。この効果は、ファイバー光増幅器の出力端から射出されるレーザ光のパワー密度が高いほど(例えば光強度が高いほど、また同一パワーに対するコア径が小さいほど、あるいは全パワーを分割するチャネル数が少ないほど等)大きな効果が得られる。
【0110】
また、図10(a)に示すように最終段のファイバー432の出力端部434には、上記コア径の拡大と併せて、あるいはレーザ光のパワー密度によっては単独で、レーザ光を透過する適切な厚さの窓部材433を密着して配設することが好ましい。但し、図10(a)ではファイバー内のコア431の径を拡大しないで、窓部材433のみによって出力光のパワー密度を小さくしている。
【0111】
ここで、前述の実施形態1、2のようにファイバー出力が複数の場合には、各ファイバー端部毎に窓部材を設ける図10(a)の方法のほか、図10(b)に示すように、各ファイバー光増幅器442の出力群ごとの出力端部444に共通の窓部材443を設けることも本形態における一つの実施例である。但し、図10(b)ではファイバー内のコア441の径を拡大していないが、コア径の拡大を併用してもよい。
【0112】
なお、1つの窓部材443が共通に設けられる複数のファイバー光増幅器の数は任意でよく、例えば図1又は図2に示した最終段のファイバー光増幅器19又は25の総数、即ち128本としてもよい。なお、窓部材(433又は443)は基本波レーザ光の波長域での透過率、及びファイバーとの密着性などを考慮してその材質が適宜選定(例えばBK7等の光学ガラス材や石英材等)され、またファイバーと窓部材との密着には、オプティカルコンタクトあるいは融着等の方法を用いることができる。
【0113】
このように構成することにより、窓部材から射出されるレーザ光のパワー密度はファイバー・コア431、441中でのパワー密度より小さくなるため、ファイバー出力端部のレーザ光による損傷を抑制する効果が得られる。そして、前記出力端部におけるファイバー・コア径の拡大と組み合わせることにより、従来問題であったファイバー出力端部の損傷の問題を解決することが可能である。
【0114】
なお、以上の各実施形態(図1、図2、図4、図8)では、戻り光の影響を避けるため、各接続部に適宜アイソレータ110、111、112、26、27、404等を挿入し、また良好なEDFA増幅特性を得るために狭帯域フィルタ113、28、403を挿入する構成例を示した。但し、アイソレータ又は狭帯域フィルターを配置する箇所、あるいはその数は前述の実施形態に限定されるものではなく、例えば本発明によるレーザ光源が適用される各種装置(露光装置など)の要求精度などに応じて適宜決定すればよく、アイソレータと狭帯域フィルターとの少なくとも一方を一切設けないこともある。
【0115】
なお狭帯域フィルターは、所望の単一波長のみに対して高透過率が得られればよく、フィルターの透過波長幅は1pm以下で十分である。このように狭帯域フィルターを用いることにより、ファイバー増幅器で発生する自然放出光ASE(Amplified Spontaneous Emission)によるノイズを軽減でき、また、前段のファイバー光増幅器からのASEによる、基本波出力の増幅率低下を押さえることができる。
【0116】
また、前述の実施形態では光変調素子12又は22で切り出されるパルス光の強度又はファイバー光増幅器の出力をモニターしておき、パルス毎にその強度が一定となるように、光変調素子に印加するドライブ用電圧パルス、及びオフセットDC電圧の大きさを調整して、パルス光の強度をフィードバック制御してもよい。さらに、多数のファイバー光増幅器19又は25から発生するレーザ光を検出して、各チャネルでのレーザ光の遅延時間やチャネル間でのレーザ光の発振間隔などをモニターし、その遅延時間や発振間隔などがそれぞれ所定値となるように、光変調素子に印加するドライブ用電圧パルスのタイミングを制御したり、あるいは図2中のTDM23を制御することで、ファイバーバンドル出力端でのレーザ光の発振タイミングをフィードバック制御してもよい。また、波長変換部500から発生する紫外光の波長を検出し、この検出値に基づいて単一波長発振レーザ11又は21の温度を調整して、紫外光の波長をフィードバック制御してもよい。
【0117】
さらに、光変調素子12又は22で切り出されるパルス光の強度変動を検出し、この出力変動を補償するように光変調素子よりも後段に配置される複数段のファイバー光増幅器(13、18、19、又は24、25)の少なくとも一段での利得を制御する、いわゆるフィードフォワード制御を行うようにしてもよい。また、前述のチャネル0〜127のうち、遅延時間が短いチャネル、即ちパルス光が早く出力されるチャネルの出力(光強度)を検出し、この検出値に基づいてファイバー光増幅器の利得(又はTDM23)を制御して、そのチャネルよりも遅延時間が長いチャネル、即ちパルス光が遅れて出力されるチャネルの出力をフィードフォワード制御するようにしてもよい。また、特に図1に示した実施形態1では、チャネル単位でその出力を制御するのではなく、32個のチャネルを持つブロック単位でその出力を制御してもよく、例えば第1ブロックの少なくとも1つのチャネルの出力を検出し、この検出値に基づいて第2ブロックでのチャネルの出力を制御してもよい。
【0118】
本発明に係る紫外レーザ装置の第3の実施形態を、図3を参照しながら説明する。本実施形態による紫外光発生装置は、単一波長発振レーザ31からなり単一波長のレーザ光を発生するレーザ光発生部と、ファイバー光増幅器33、34からなり入射光を増幅する光増幅器、及び増幅された光を波長変換する波長変換部(不図示)などから構成され、ArFエキシマレーザと同じ出力波長(193nm)あるいはF2レーザと同じ出力波長(157nm)のレーザ光を発生する紫外レーザ装置を提供するものである。
【0119】
本実施形態において、図3に示す紫外レーザ装置には、単一波長のレーザ光を発生する単一波長発振レーザ31を備え、この単一波長発振レーザ31の光出力はファイバー光増幅器33、34により増幅される。このファイバー光増幅器34の出力は、例えば図13に示す波長変換部(602〜611)にその増幅されたレーザ光が入射する。なお、図3におけるファイバー光増幅器34の出射端は、図11及び図13に示されるファイバーバンドル出射端501及び601に対応する。この波長変換部は、一組の非線形光学結晶602、604、609、611などを備えて構成され、光増幅器(31〜36)から出射される基本波を紫外光に変換する。なお、本発明に係る波長変換部については、実施の形態の後段において実施形態4〜7として詳細に説明する。
【0120】
以下、本実施形態についてより詳細に説明する。図3に示す単一波長で発振する単一波長発振レーザ31としては、例えば、発振波長1.544μm、CW出力30mWのInGaAsP,DFB半導体レーザを用いる。このレーザは基本的に単一縦モード発振をすることから、その発振スペクトル線幅は0.01pm以下に抑えられる。
【0121】
この半導体レーザ31の光出力(連続光)は、例えば電気光学光変調素子や音響光学光変調素子などの光変調素子32によってパルス光に変換される。本構成例では一例として、この光変調素子32によってパルス幅1ns、繰り返し周波数100kHzのパルス光に変調させた場合について説明を行う。この様な光変調を行った結果、光変調素子32から出力されるパルス光のピーク出力は30mW、平均出力は3μWとなる。
【0122】
前述の実施形態1、2と同様にしてパルス化された出力光を、一段あるいは多段のEDFA(エルビウム・ドープ・ファイバー光増幅器)を有するファイバー光増幅器によって増幅する。本実施形態では、一例として、2段のファイバー光増幅器33、34によって合計58dB(667000倍)の増幅を行う場合について示した。この場合には、このファイバー光増幅器34の出力端での平均出力は2Wとなる。この出力端部は最終段のファイバー光増幅器34の出力端をそのまま用いて形成することができるが、最終段のファイバー光増幅器34に無ドープのファイバーを結合させる事も可能である。また、本実施形態では、戻り光の影響を避けるため、各接続部に適宜アイソレータ35、36を挿入した構成例を示す。
【0123】
この光増幅器の出力である波長1.544μmの単一波長パルスレーザ光は、非線形光学結晶を用いた波長変換部(詳細後述)により、スペクトル線幅の狭い紫外光パルス出力に変換される。なお、本実施形態による光増幅器(31〜36)ではその出力端が1本のファイバー光増幅器34からなるが、例えば実施形態1(図1)で用いた平板導波路型スプリッタ(16)、又は実施形態2で用いたTDM(23)とともに、ファイバー光増幅器(33、34)をそれぞれ複数用意してファイバー光増幅器34を束ねてファイバーバンドルを形成するようにしてもよい。このとき、複数の光増幅器にそれぞれ設けられる光変調素子32に印加するドライブ用電圧パルスのタイミングを調整して、複数の光増幅器から射出されるパルス光の発振間隔を調整可能とする、例えば等時間間隔でパルス光が順次発光されるように、光増幅器毎にその発光タイミングをずらすことが好ましい。
【0124】
また、本実施形態についても前述の実施形態1、2の変形例を適用することが可能である。例えば、単一波長発振レーザ31をパルス発振させても良いし、さらには単一波長発振レーザ31の電流制御のみ、あるいはその電流制御と光変調素子32の制御とを併用してパルス光の出力間隔(パルス周期)を変更しても良い。
【0125】
次に、前述の実施形態1〜3でそれぞれ使用される波長変換部の実施の形態について述べる。図11(a)〜(d)には、本発明に係る波長変換部の構成例を実施の形態4として示す。これらはいずれも、ファイバーバンドルの出力端501(実施の形態1における114、実施の形態2における29等に該当するが、実施の形態3における単一ファイバー(34)の出力端であってもよい。)から射出される波長1.544nmの基本波を、非線形光学結晶を用いて8倍波(高調波)に波長変換して、ArFエキシマレーザと同じ波長である193nmの紫外光を発生する構成例を示したものである。
【0126】
図11(a)では、ファイバーバンドル出力端501から出力される波長1.544nm(周波数ω)の基本波は、非線形光学結晶502、503、504を図中左から右に向かって透過して出力される。基本波が非線形光学結晶502を通る際に、2次高調波発生により基本波の周波数ωの2倍、すなわち周波数2ω(波長は1/2の772nm)の2倍波が発生する。発生した2倍波は右方向へ進み、次の非線形光学結晶503に入射する。ここで再び第2次高調波発生を行い、入射波の周波数2ωの2倍、すなわち基本波に対し4倍の周波数4ω(波長は1/4の386nm)をもつ4倍波が発生する。発生した4倍波はさらに右の非線形光学結晶504に進み、ここで再び第2次高調波発生を行い、入射波の周波数4ωの2倍、すなわち基本波に対し8倍の周波数8ωを有する8倍波(波長は1/8の193nm)を発生する。
【0127】
前記波長変換に使用する非線形光学結晶としては、例えば基本波から2倍波への変換結晶502にはLiB3O5(LBO)結晶を、2倍波から4倍波への変換結晶503にはLiB3O5(LBO)結晶を、4倍波から8倍波への変換結晶504にはSr2Be2B2O7(SBBO)結晶を使用する。ここで、LBO結晶を使用した基本波から2倍波への変換には、波長変換のための位相整合にLBO結晶の温度調節による方法、Non-Critical Phase Matching:NCPMを使用する。NCPMは、非線形光学結晶内での基本波と第二高調波との角度ずれ(Walk-off)が起こらないため高効率で2倍波への変換を可能にし、また発生した2倍波はWalk-offによるビームの変形も受けないため有利である。
【0128】
図11(b)は、基本波(波長1.544μm)→2倍波(波長772nm)→3倍波(波長515nm)→6倍波(波長257nm)→8倍波(波長193nm)の順に波長変換する場合について示したものである。
【0129】
1段目の波長変換部507では、基本波から2倍波への2次高調波発生の変換にLBO結晶が前述したNCPMで使用される。波長変換部(LBO結晶)507は、基本波の一部を波長変換せずに透過させるとともに、基本波を波長変換して2倍波を発生し、この基本波と2倍波に波長板(例えば1/2波長板)508でそれぞれ半波長、1波長の遅延を与え、基本波の偏光のみ90度回転させる。この基本波と2倍波はそれぞれレンズ509を通って2段目の波長変換部510に入射する。
【0130】
2段目の波長変換部510では、1段目の波長変換部507で発生した2倍波と、変換せずに透過した基本波とから和周波発生により3倍波(波長515nm)を得る。波長変換結晶としてはLBO結晶が用いられるが、1段目の波長変換部(LBO結晶)507とは温度が異なるNCPMで使用される。波長変換部510で得られた3倍波と、波長変換されずに透過した2倍波とは、ダイクロイック・ミラー511により分離し、ダイクロイック・ミラー511で反射された3倍波は、レンズ513を通って3段目の波長変換部514に入射する。波長変換部514はβ-BaB2O4(BBO)結晶であり、ここで3倍波が2次高調波発生により6倍波 (波長257nm)に変換される。
【0131】
波長変換部514で得られた6倍波と、ダイクロイック・ミラー511を透過してレンズ512を通った2倍波とは、ダイクロイック・ミラー516で同軸に合成されて4段目の波長変換部517に入射する。波長変換部517はBBO結晶が用いられ、6倍波と2倍波とから和周波発生により8倍波(波長193nm)を得る。図11(b)の構成においては、4段目の波長変換部517の波長変換結晶として、BBO結晶の代わりにCsLiB6O10(CLBO)結晶を用いることも可能である。
【0132】
なお、本実施例では2段目の波長変換部510で得られた3倍波と2倍波とをダイクロイック・ミラー511で分岐し、かつ3段目の波長変換部514で得られた6倍波と2段目の波長変換部510で得られた2倍波とをダイクロイック・ミラー516で合成して、4段目の波長変換部517に入射させるように構成した。ここで、ダイクロイック・ミラー511の特性を反転させる、即ち3倍波が透過し、かつ2倍波が反射するものとして、3段目の波長変換部514を2段目の波長変換部510と同一光軸上に配置するようにしてもよい。このとき、ダイクロイック・ミラー516の特性も反転させておく必要がある。このように6倍波と2倍波との一方が分岐光路を通って4段目の波長変換部517に入射する構成では、6倍波と2倍波をそれぞれ4段目の波長変換部517に入射させる集光レンズ515、512を互いに異なる光路に配置することができる。
【0133】
3段目の波長変換部514で発生した6倍波はその断面形状がWalk-off現象により長円形になっているため、4段目の波長変換部517で良好な変換効率を得るためには、その6倍波のビーム整形を行うことが望ましい。そこで本実施例のように、集光レンズ515、512を別々の光路に配置することにより、例えばレンズ515としてシリンドリカルレンズ対を用いること等が可能となり、6倍波のビーム整形を容易に行うことができる。このため、4段目の波長変換部(BBO結晶)517での2倍波との重なりを良好にし、変換効率を高めることが可能である。
【0134】
なお、2段目の波長変換部510と4段目の波長変換部517との間の構成は図11(b)に限られるものではなく、4段目の波長変換部517に6倍波と2倍波とが同時に入射するように、6倍波と2倍波とでその光路長が等しくなっていれば、いかなる構成であってもよい。さらに、例えば2段目の波長変換部510と同一光軸上に3段目及び4段目の波長変換部514、517を配置し、3段目の波長変換部514で3倍波のみを第2高調波発生により6倍波に変換して、波長変換されない2倍波とともに4段目の波長変換部517に入射させてもよく、これによりダイクロイック・ミラー511、516を用いる必要がなくなる。
【0135】
図11(c)は、基本波(波長1.544μm)→2倍波(波長772nm)→4倍波(波長386nm)→6倍波(波長257nm)→8倍波(波長193nm)の順に波長変換する場合について示したものである。
【0136】
1段目の波長変換部518ではその波長変換結晶としてLBO結晶が用いられ、基本波を2倍波に波長変換するためにそのLBO結晶がNCPMで使用される。1段目の波長変換部518から発生する2倍波は、集光レンズ519を通って2段目の波長変換部520に入射する。
【0137】
2段目の波長変換部520では、その波長変換結晶としてLBO結晶が用いられ、1段目の波長変換部518で発生した2倍波から2次高調波発生により4倍波(波長386nm)を得る。波長変換部520で得られた4倍波と、波長変換されずにその波長変換部520を透過した2倍波とは、ダイクロイック・ミラー521により分離し、ここで反射された4倍波は集光レンズ524を通ってダイクロイック・ミラー525に達する。一方、ダイクロイック・ミラー521を透過した2倍波は、半波長板522でその偏光方向が90°回転されるとともに、集光レンズ523を通ってダイクロイック・ミラー525に達し、ここで分岐光路を通った2倍波と同軸に合成されて3段目の波長変換部526に入射する。
【0138】
3段目の波長変換部526では、その波長変換結晶としてBBO結晶が用いられ、2段目の波長変換部520で発生した4倍波と、波長変換されずにその波長変換部520を透過した2倍波とから和周波発生により6倍波(波長257nm)を得る。波長変換部520で得られた6倍波と、波長変換されずにその波長変換部520を透過した2倍波とは、ダイクロイック・ミラー527により分離し、ここで反射された2倍波は半波長板528でその偏光方向が90°回転されるとともに、集光レンズ529を通ってダイクロイック・ミラー531に達する。一方、ダイクロイック・ミラー527を透過した6倍波は、集光レンズ530を通ってダイクロイック・ミラー531に達し、ここで分岐光路を通った2倍波と同軸に合成されて4段目の波長変換部532に入射する。
【0139】
4段目の波長変換部532では、その波長変換結晶としてBBO結晶が用いられ、3段目の波長変換部526で発生した6倍波と、波長変換されずにその波長変換部526を透過した2倍波とから和周波発生により8倍波(波長193nm)を得る。上記構成においては、4段目の波長変換部532の波長変換結晶として、BBO結晶の代わりにCLBO結晶を用いることも可能である。
【0140】
なお、本実施例では2段目及び3段目の波長変換部520、526の後にそれぞれダイクロイック・ミラー(521、又は527)を配置して、その波長変換部(520、又は526)から射出される一対の高調波(2倍波と4倍波、又は2倍波と6倍波)がそれぞれ異なる光路を通って次段の波長変換部(526、又は532)に入射するように構成したが、図11(b)での説明と同様に、3段目の波長変換部526を他の波長変換部518、520、532と同一光軸上に配置してもよく、これによりダイクロイック・ミラー521、525、527、531などを用いる必要がなくなる。
【0141】
ところで、本実施例では2段目および3段目の波長変換部520、526で発生した4倍波、及び6倍波はそれぞれ断面形状がWalk-off現象により長円形になっている。このため、このビームを入力とする3段目および4段目の波長変換部526、532で良好な変換効率を得るためには、入射ビームとなる4倍波及び6倍波のビーム形状を整形し、2倍波ビームとの重なりを良好にすることが望ましい。本実施例のように、集光レンズ523と524、及び529と530とをそれぞれ別々の光路に置くことにより、例えばレンズ524、530としてシリンドリカルレンズ対を用いることが可能になり、4倍波及び6倍波のビーム整形を容易に行うことができる。このため、3段目および4段目の波長変換部526、532でそれぞれ2倍波との重なりが良好になり、変換効率を高めることが可能である。
【0142】
なお、2段目の波長変換部520から発生する2倍波と4倍波とが同時に3段目の波長変換部526に入射するように、その2倍波と4倍波の各光路長が同一になっていればよく、2つの波長変換部520、526間の構成は図11(c)に限られるものではない。このことは3段目の波長変換部526と4段目の波長変換部532との間でも同様である。
【0143】
図11(d)は、基本波(波長1.544μm)→2倍波(波長772nm)→3倍波(波長515nm)→4倍波(波長386nm)→7倍波(波長221nm)→8倍波(波長193nm)の順に波長変換する場合について示したものである。
【0144】
1段目の波長変換部533では、その波長変換結晶としてLBO結晶が用いられ、基本波を2倍波に波長変換するためにそのLBO結晶をNCPMで使用する。波長変換部533で波長変換されずに透過した基本波と、波長変換で発生した2倍波とは、波長板534でそれぞれ半波長、1波長の遅延が与えられて、基本波のみその偏光方向が90度回転する。2段目の波長変換部536は、その波長変換結晶としてLBO結晶が用いられるとともに、そのLBO結晶は1段目の波長変換部(LBO結晶)533とは温度が異なるNCPMで使用される。この波長変換部536では、1段目の波長変換部533で発生した2倍波と、波長変換されずにその波長変換部533を透過した基本波とから和周波発生により3倍波(波長515nm)を得る。
【0145】
波長変換部536で得られた3倍波と、波長変換されずにその波長変換部536を透過した基本波および2倍波とは、ダイクロイック・ミラー537により分離し、ここで反射された3倍波は集光レンズ540、及びダイクロイック・ミラー543を通って4段目の波長変換部545に入射する。一方、ダイクロイック・ミラー537を透過した基本波および2倍波は、集光レンズ538を通って3段目の波長変換部539に入射する。
【0146】
3段目の波長変換部539は、その波長変換結晶としてLBO結晶が用いられ、基本波が波長変換されずにそのLBO結晶を透過するとともに、2倍波がLBO結晶で2次高調波発生により4倍波(波長386nm)に変換される。波長変換部539で得られた4倍波とそれを透過した基本波とは、ダイクロイック・ミラー541により分離し、ここを透過した基本波は集光レンズ544を通るとともに、ダイクロイックミラー546で反射されて5段目の波長変換部548に入射する。一方、ダイクロイック・ミラー541で反射された4倍波は、集光レンズ542を通ってダイクロイック・ミラー543に達し、ここでダイクロイック・ミラー537で反射された3倍波と同軸に合成されて4段目の波長変換部545に入射する。
【0147】
4段目の波長変換部545は、その波長変換結晶としてBBO結晶が用いられ、3倍波と4倍波とから和周波発生により7倍波(波長221nm)を得る。波長変換部545で得られた7倍波は集光レンズ547を通るとともに、ダイクロイック・ミラー546で、ダイクロイック・ミラー541を透過した基本波と同軸に合成されて、5段目の波長変換部548に入射する。
【0148】
5段目の波長変換部548は、その波長変換結晶としてLBO結晶が用いられ、基本波と7倍波とから和周波発生により8倍波(波長193nm)を得る。上記構成において、7倍波発生用BBO結晶545、及び8倍波発生用LBO結晶548のかわりに、CLBO結晶を用いることも可能である。
【0149】
本実施例では、4段目の波長変換部545に3倍波と4倍波とが互いに異なる光路を通って入射するので、3倍波を集光するレンズ540と、4倍波を集光するレンズ542とを別々の光路に置くことができる。3段目の波長変換部539で発生した4倍波はその断面形状がWalk-off現象により長円形になっている。このため、4段目の波長変換部545で良好な変換効率を得るためには、その4倍波のビーム整形を行うことが望ましい。本実施例では、集光レンズ540、542を別々の光路に配置しているので、例えばレンズ542としてシリンドリカルレンズ対を用いることができ、4倍波のビーム整形を容易に行うことが可能となる。このため、4段目の波長変換部(BBO結晶)545での3倍波との重なりを良好にし、変換効率を高めることが可能である。
【0150】
さらに本実施例では、5段目の波長変換部548に入射する基本波を集光するレンズ544と、7倍波を集光するレンズ547とを別々の光路に置くことができる。4段目の波長変換部545で発生した7倍波はその断面形状がWalk-off現象により長円形になっている。このため、5段目の波長変換部548で良好な変換効率を得るためには、その7倍波のビーム整形を行うことが好ましい。本実施例では、集光レンズ544、547を別々の光路に配置することができるので、例えばレンズ547としてシリンドリカルレンズ対を用いることができ、7倍波のビーム整形を容易に行うことが可能となる。このため、5段目の波長変換部(LBO結晶)548での基本波との重なりを良好にし、変換効率を高めることが可能である。
【0151】
なお、2段目の波長変換部536と4段目の波長変換部545との間の構成は図11(d)に限られるものではなく、波長変換部536から発生してダイクロイック・ミラー537で反射される3倍波と、波長変換部536から発生してダイクロイック・ミラー537を透過する2倍波を波長変換部539で波長変換して得られる4倍波とが同時に波長変換部545に入射するように、両波長変換部536、545間の2つの光路長が等しくなっていれば、いかなる構成であっても構わない。このことは3段目の波長変換部539と5段目の波長変換部548との間でも同様である。
【0152】
図12(a)〜(d)は、図11(a)〜(d)に示した波長変換部についてそれぞれ実験の結果得られた各チャネル当たりの各段での波長変換効率、及び得られた8倍波(波長193nm)の平均出力を示す。基本波の出力は前述の実施形態で説明した通り各チャネルの出力端で、ピーク・パワー20kW、パルス幅1ns、パルス繰り返し周波数100kHz、及び平均出力2Wである。この結果、各チャネル当たりの8倍波(波長193nm)の平均出力は、図11(a)の波長変換部では229mW、図11(b)の波長変換部では38.3mW、図11(c)の波長変換部では40.3mW、図11(d)の波長変換部では45.9mWであった。従って、全128チャネルを合わせたバンドルからの平均出力は、図11(a)では29W、図11(b)では4.9W、図11(c)では5.2W、図11(d)では5.9Wとなり、いずれの波長変換部であっても露光装置用光源として十分な出力の、波長193nmの紫外光を提供することができる。
【0153】
これらの実施形態のうちで図11(a)の構成は最も簡略であり、変換効率も最も高い。このため、ファイバー光増幅器のチャネル数を前述の実施形態1、2(128チャネル)よりも減少させる、例えば1/2〜1/3のチャネル数としてバンドルを構成するか、あるいは、本実施例で示した基本波出力よりも低い基本波出力で構成するなどしても露光装置用光源として十分な出力の、波長193nmの紫外光を提供することが可能である。
【0154】
図11(d)の構成は、波長変換部の段数が5段とこれらの実施形態中で最も多いが、193nmへの変換効率は図11(b)、(c)の実施形態と同等程度であり、ほぼ同一の紫外光出力を得ることができる。また、図11(b)、(c)の構成では、8倍波(193nm)の発生にBBO結晶を用いているため、BBO結晶による8倍波(193nm)の吸収があり、BBO結晶の損傷が問題となる可能性がある。これに対し、図11(d)の構成では8倍波(193nm)の発生にLBO結晶を用いることができる。このLBO結晶は、現在、市販品として良質の結晶が容易に入手可能であり、さらに193nmの紫外光の吸収係数が非常に小さく、結晶の光損傷が問題とならないため耐久性の面で有利である。
【0155】
また、8倍波(例えば波長193nm)の発生部ではLBO結晶を角度位相整合させて用いるが、この位相整合角が大きいために実効非線形光学定数(deff)が小さくなる。そこで、このLBO結晶に温度制御機構を設け、LBO結晶を高温で用いることが好ましい。これにより、位相整合角を小さくすることができる、即ち上記定数(deff)を増加させることができ、8倍波発生効率を向上させることができる。
【0156】
なお、以上は基本波から8倍波を発生させる波長変換部の構成例についてその好ましい実施の形態について説明してきたが、本発明の波長変換部はこの実施形態にのみ拘束されるものではなく、基本波である1.544μmの8倍波を発生させる構成であれば、同様の効果を奏するものである。例えば、基本波(波長1.544μm)→2倍波(波長772nm)→3倍波(波長515nm)→4倍波(波長386nm)→6倍波(波長257nm)→7倍波(波長221nm)→8倍波(波長193nm)の順に波長変換することによっても同様の効果を奏するものである。
【0157】
このとき、この波長変換に使用する非線形光学結晶としては、例えば基本波から2倍波への変換結晶にはLBO結晶を、2倍波から4倍波への変換結晶にはLBO結晶を、2倍波と4倍波との和周波発生による6倍波発生にはBBO結晶を、基本波と6倍波との和周波発生による7倍波発生にはBBO結晶を、基本波と7倍波との和周波発生による8倍波発生にはLBO結晶を使用することで達成できる。この場合にも8倍波発生にLBO結晶を使用できるため結晶の損傷が問題とならない点で有利である。
【0158】
以上の実施形態4に示したように波長変換部を構成することにより、基本波発生部で発生させた波長1.544μmの基本波を波長193nmの紫外光に波長変換することができる。
【0159】
次に、図13に本発明に係る波長変換部の他の構成例を実施形態5として示す。これは、ファイバーバンドルの出力端601(実施形態1における114、実施形態2における29等に該当する)から射出される波長1.57μmの基本波を非線形光学結晶を用いて10倍波の高調波発生を行い、F2レーザと同じ波長である157nmの紫外光を発生する構成例を示したものである。なお、本実施形態における基本波出力部は、これまで述べてきた実施の形態1〜3のいずれか、あるいはそれらを組み合わせて用いることが可能である
【0160】
図13に示す波長変換部の構成例では、基本波(波長1.57μm)→2倍波(波長785nm)→4倍波(波長392.5nm)→8倍波(波長196.25nm)→10倍波(波長157nm)の順に波長変換する場合について示したものである。本実施例では2倍波発生から8倍波発生までの各波長変換段において、各波長変換段に入射された波長の2次高調波発生を行っている。
【0161】
また、本例では波長変換に使用する非線型光学結晶として、波長変換部602における基本波から2次高調波発生による2倍波の発生にはLBO結晶を使用し、波長変換部604における2倍波から2次高調波発生による4倍波の発生にはLBO結晶を使用する。さらに、波長変換部609における4倍波から2次高調波発生による8倍波の発生にはSr2Be2B2O7(SBBO)結晶を使用し、波長変換部611における2倍波と8倍波とから和周波発生による10倍波(波長157nm)の発生にはSBBO結晶を使用する。
【0162】
なお、波長変換部602から発生する2倍波は、集光レンズ603を通って波長変換部604に入射し、この波長変換部604は前述の4倍波と波長変換されない2倍波とを発生する。次に、ダイクロイック・ミラー605を透過する2倍波は集光レンズ606を通るとともに、ダイクロイック・ミラー607で反射されて波長変換部611に入射する。一方、ダイクロイック・ミラー605で反射された4倍波は、集光レンズ608を通って波長変換部609に入射し、ここで発生される8倍波は集光レンズ610、及びダイクロイック・ミラー607を通って波長変換部611に入射する。さらに波長変換部611は、ダイクロイック・ミラー607で同軸に合成される2倍波と8倍波とから和周波発生により10倍波(波長157nm)を発生する。
【0163】
ところで、本実施例では2段目の波長変換部604から発生する2倍波と4倍波とをダイクロイック・ミラー605で分岐することで、ここを透過した2倍波と、4倍波を波長変換部609で波長変換して得られる8倍波とが互いに異なる光路を通って4段目の波長変換部611に入射するように構成したが、ダイクロイック・ミラー605、607を用いずに4つの波長変換部602、604、609、611を同一光軸上に配置してもよい。
【0164】
但し、本実施例では2段目の波長変換部604で発生した4倍波はその断面形状がWalk-off現象により長円形になっている。このため、このビームを入力とする4段目の波長変換部611で良好な変換効率を得るためには、入射ビームとなる4倍波のビーム形状を整形し、2倍波との重なりを良好にすることが望ましい。本実施例では、集光レンズ606、608を別々の光路に配置することができるので、例えばレンズ608としてシリンドリカルレンズを用いることが可能になり、4倍波のビーム整形を容易に行うことができる。このため、4段目の波長変換部611での2倍波との重なりを良好にし、変換効率を高めることが可能である。
【0165】
以上の実施形態5に示したように波長変換部を構成することにより、基本波発生部で発生させた波長1.57μmの基本波を、波長157nmの紫外光に波長変換させることができる。
【0166】
図14には、本発明に係る波長変換部の他の構成例を実施の形態6として示す。これは、例えば実施の形態2に示したように基本波発生部を構成し、ファイバーバンドルの出力端701(実施の形態1における114、実施の形態2における29等に該当する)から射出される波長1.099μmの基本波を、非線形光学結晶を用いて7倍波の高調波発生を行い、F2レーザと同じ波長である157nmの紫外光を発生する構成例を示したものである。なお、本実施形態における基本波出力部は、これまで述べてきた実施の形態1〜3のいずれか、あるいはこれらを組み合わせて用いることが可能である。
【0167】
図14に示す波長変換部の構成例では、基本波(波長1.099μm)→2倍波(波長549.5nm)→3倍波(波長366.3nm)→4倍波(波長274.8nm)→7倍波(波長157nm)の順に波長変換する場合について示したものである。本実施例では、各波長変換部で入射光の2次高調波発生、又は和周波発生を行っている。
【0168】
さて、本例では波長変換に使用する非線型光学結晶として、波長変換部702における基本波から2次高調波発生による2倍波の発生にはLBO結晶を使用し、波長変換部705における基本波と2倍波とから和周波発生による3倍波の発生にはLBO結晶を使用する。さらに、波長変換部710における2倍波から2次高調波発生による4倍波の発生にはBBO結晶を使用し、波長変換部712における3倍波と4倍波とから和周波発生による7倍波の発生にはSBBO結晶を使用する。
【0169】
また、波長変換部(LBO結晶)702から発生する基本波と2倍波とは1/2波長板703に入射し、基本波のみその偏光方向が90度回転されるとともに、集光レンズ704を通って波長変換部(LBO結晶)705に入射する。波長変換部705は、基本波と2倍波とから和周波発生により3倍波を得るとともに、2倍波を波長変換することなく透過させる。波長変換部705から発生される2倍波と3倍波とはダイクロイック・ミラー706で分岐され、ここを透過した3倍波は集光レンズ707を通り、ダイクロイック・ミラー708で反射されて波長変換部712に入射する。一方、ダイクロイック・ミラー706で反射された2倍波は、集光レンズ709を通って波長変換部710に入射し、この波長変換部710は2倍波から2次高調波発生により4倍波を発生する。この4倍波は、集光レンズ711、及びダイクロイック・ミラー708を通って波長変換部712に入射する。この波長変換部712は、3倍波と4倍波とから和周波発生により7倍波を発生する。
【0170】
ところで、本実施例では2段目の波長変換部705から発生する2倍波と3倍波とをダイクロイック・ミラー706で分岐することで、ここを透過した3倍波と、2倍波を波長変換部710で波長変換して得られる4倍波とが互いに異なる光路を通って4段目の波長変換部712に入射するように構成したが、ダイクロイック・ミラー706、708を用いずに4つの波長変換部702、705、710、712を同一光軸上に配置してもよい。
【0171】
但し、本実施例では3段目の波長変換部710で発生した4倍波はその断面形状がWalk-off現象により長円形になっている。このため、このビームを入力とする4段目の波長変換部712で良好な変換効率を得るためには、入射ビームとなる4倍波のビーム形状を整形し、3倍波との重なりを良好にすることが望ましい。本実施例では、集光レンズ707、711を別々の光路に配置することができるので、例えばレンズ711としてシリンドリカルレンズを用いることが可能になり、4倍波のビーム整形を容易に行うことができる。このため、4段目の波長変換部712での3倍波との重なりを良好にし、変換効率を高めることが可能である。
【0172】
以上の実施形態6に示したように波長変換部を構成することにより、基本波発生部で発生させた波長1.099μmの基本波を、波長157nmの紫外光に波長変換させることができる。
【0173】
次に、本発明に係る光増幅器および波長変換部の他の構成例を実施形態7として図15に示す。図15では、波長変換部を複数の並列光路構成(図の例では4光路の正方形配置)とし、これにあわせて多数のファイバー光増幅器19または25の出力端を4つのバンドル(出力群)に分割するとともに、この4つのファイバーバンドル出力端に対応してそれぞれ集光光学素子、及び波長変換部を設ける実施例を示す。本例では、図1又は図2に示した光増幅器を用いることを前提としているので、1つのファイバーバンドルには32本のファイバー光増幅器19又は25が束ねられることになる。なお、バンドルは最終段のEDFA出力端もしくはYDFA出力端をそのまま用いて形成することができるが、最終段のEDFA等に無ドープのファイバーを結合させ、その出力端でバンドルを形成することも可能である。
【0174】
また、ファイバー光増幅器19または25の出力端を複数に分割して、複数個のファイバーバンドルを形成する場合には、多数(本例では128本)のファイバー光増幅器19又は25のうち、レーザ光の射出順番で隣り合う出力端(ファイバー光増幅器)は、互いに異なるファイバーバンドルに束ねる構成とすることが好ましい。例えば、レーザ光が射出する順番にその128本のファイバー光増幅器(19又は25)にNo.0〜127の番号を付けるものとすると、No.0、4、8、・・・、124のファイバー光増幅器を第1のファイバーバンドルとして束ね、No.1、5、9、・・・、125のファイバー光増幅器を第2のファイバーバンドルとして束ね、No.3、6、10、・・・、126のファイバー光増幅器を第3のファイバーバンドルとして束ね、No.4、7、11、・・・、127のファイバー光増幅器を第4のファイバーバンドルとして束ねる。これにより、ファイバーバンドル毎にそれに対応して配置される波長変換部(非線形光学結晶)に入射するパルス光の時間間隔を均等に分割することができる。
【0175】
さて、図15に示すように4つのファイバーバンドルからなる光増幅器(図1、又は図2)の出力端841から射出される基本波は、本例では3段の波長変換部842、843、844でそれぞれ波長変換される。なお、本例では前述の実施形態4〜6で説明した波長変換部(図11、図13、図14)のいずれでも用いることができるが、ここでは図11(a)に示した波長変換部を用いる、即ち基本波(波長1.544μm)を3段の非線形光学結晶(502〜504)によって波長193nmの紫外光に波長変換する例について説明する。従って、波長1.544μm(周波数ω)の基本波は、非線形光学結晶842、843、844を図中左から右に向かって透過いていくことで、2倍波、4倍波、8倍波(波長193nm)と順次波長変換されて出力される。
【0176】
図15において、4つのファイバーバンドルからなる光増幅器の出力端841から射出される基本波(波長1.544μm)は、4つのファイバーバンドルに対応してそれぞれ設けられる集光レンズ845を通って波長変換部(非線形光学結晶)842に入射し、ここで2次高調波発生により基本波の周波数ωの2倍、すなわち周波数2ω(波長772nm)の2倍波が発生する。波長変換部842で発生した2倍波は右方向へ進み、集光レンズ846を通って次の波長変換部(非線形光学結晶)843に入射する。ここで再び2次高調波発生が行われ、入射波(2倍波)の周波数2ωの2倍、すなわち基本波に対して4倍の周波数4ω(波長386nm)をもつ4倍波が発生する。波長変換部843で発生した4倍波は、集光レンズ847を通ってさらに右の波長変換部(非線形光学結晶)844に入射し、ここでさらに2次高調波発生が行われ、入射波(4倍波)の周波数4ωの2倍、すなわち基本波に対して8倍の周波数8ω(波長193nm)をもつ8倍波を発生する。
【0177】
この実施形態において前記波長変換に使用する非線形光学結晶としては、例えば波長変換部842での基本波から2倍波への波長変換結晶としてLBO結晶を、波長変換部843での2倍波から4倍波への波長変換結晶としてBBO結晶を、波長変換部844での4倍波から8倍波への波長変換結晶としSBBO結晶を使用する。
【0178】
なお、本実態様では基本波(波長1.544μm)→2倍波(波長772nm)→4倍波(波長386nm)→8倍波(波長193nm)の順に波長変換する場合について示したが、これは既に説明した実施形態4における図11(a)の波長変換部を複数並列化したものに相当する。従って、すでに示した他の波長変換部構成である図11(b)〜図11(d)を本実施形態と同様の手法で複数並列化したものも本実施形態と同様に構成することができる。同様に、図13及び図14にそれぞれ示した波長変換部を複数並列化して構成するようにしてもよい。
【0179】
次に、図16を参照して光増幅器と波長変換部との結合部についての本実施形態における第2の実施例を説明する。この実施例は図15に示した波長変換部の構成を5光路の並列構成とし、これに合わせてファイバー光増幅器の出力端を5つに分割して5つのファイバーバンドル(出力群)を形成したものである。この分割に際してファイバー光増幅器の出力端を均等に5分割せず、5つのファイバーバンドル(出力群)の一部(図15では1つのファイバーバンドル)の出力端850は単独又は少数のファイバー光増幅器で構成し、他(図15では4つ)のファイバーバンドル出力端851はファイバー光増幅器の数が同数となるように均等に分割された複数のファイバー光増幅器を束ねたものである。
【0180】
そして、これら出力光は各出力群(ファイバーバンドル)ごとに設けられた波長変換部852〜857で所定波長の紫外光に変換され、例えば露光装置へ供給される。なお、3段の波長変換部852〜854はそれぞれ複数(5つ)のファイバーバンドルと同数の波長変換部から構成され、その波長変換部852〜854の入射側にそれぞれ配置される集光光学素子855〜857もそれぞれファイバーバンドルと同数の集光レンズから構成されている。
【0181】
ここで、本例による紫外レーザ装置を露光装置(図19又は図20)に適用する場合、4つのファイバーバンドルの出力端851からそれぞれ発生する基本波は、波長変換部(852〜857)で紫外光に波長変換され、この紫外光が露光用照明光として照明光学系を通ってレチクルに照射される。即ち、4つのファイバーバンドルは露光用光源として使用される。一方、単独あるいは少数のファイバー光増幅器で構成されるファイバーバンドルの出力端850から発生して、紫外光に波長変換された光出力は、露光装置に設けられるアライメント系、又はモニター系などに導かれる。即ち、1つのファイバーバンドル(850)はアライメント用光源などとして使用される。なお、ファイバーバンドル出力端850から発生して波長変換された紫外光は、例えば3段目の波長変換部854に結合される無ドープ・ファイバーによってアライメント系などに伝送される。
【0182】
ところで、図16では4つのファイバーバンドルの出力端851から発生する基本波を紫外光に波長変換して照明光学系に導くものとしたが、そのファイバーバンドルの数は1つであっても複数であってもよい。また、アライメントやモニターに用いるファイバーバンドルは1つであったが、その数を複数としてもよく、この複数のファイバーバンドルから射出される光をそれぞれ異なる光学系に導くようにしてもよい。
【0183】
本例では、露光用光源とアライメント用、又はモニター用等に使用する光源とが同一であり、露光用照明光とアライメント用照明光などとは同一の単一波長発振レーザの出力光を分岐、増幅、及び波長変換したものとなり、同一波長の紫外光を用いることができる。このため、アライメントあるいは各種のモニターを露光装置の照明光学系や投影光学系などの光学系を通して行うことが可能になる。
【0184】
従って、アライメント用光学系などの設計が容易になり、その構成を大幅に簡略化できる、あるいは別途設ける必要がなくなり、露光装置を簡易に構築することが可能となる。なお、露光用照明光の照射とアライメント用照明光などの照射とを同時に行わないことがあるので、例えば照明光路内にそれぞれシャッターを設ける、あるいはTDM23によってパルス光を振り分けるチャネルを選択するようにして、その照射のタイミングを独立に制御することが好ましい。
【0185】
さらに、投影光学系の焦点位置、投影倍率、収差、及びテレセントリシティなどを計測するために、前述のアライメント用やモニター用の紫外光を用いることができ、その計測精度を向上させることが可能となる。なお、投影光学系の結像面と感光基板(ウエハ)との焦点合わせを行う場合にも、露光波長と同一波長の光を使用し、かつ投影光学系を通してその焦点合わせを行うことにより、位置合わせ精度の向上も同時に達成することができる。
【0186】
ところで、以上説明した様な本実施形態(図15、図16)の構成によれば、ファイバー光増幅器のファイバー出力を複数の群に分割し、非線形光学結晶への入力光を分割することにより、非線形光学結晶への入射パワーを効果的に低減できる。従って、非線形光学結晶中での光吸収・熱効果に起因する出力低下や光損傷などの問題を解決することができる。なお、ファイバー光増幅器の出力端の分割数(ファイバーバンドルの数)は4つ又は5つに限られるものではなく、2つ以上であればよい。
【0187】
次に、本発明に係る紫外光発生装置における光増幅器と波長変換部との結合部について実施形態8として説明する。ここで、光増幅器の出力端は前述の実施形態1及び2で述べたようにファイバー光増幅器の出射端がバンドル状に束ねられ形成されている。このとき、各ファイバー光増幅器のクラッド直径は125μm程度であることから、128本を束ねた出力端でのバンドルの直径は約2mm以下とすることができる。
【0188】
ここで、バンドルの数及び形状は、波長変換部の構成や必要とされる光源の形状に合わせて定めることが可能であり、例えば実施形態1、2では一つの円形断面を有するバンドルの場合を示している(114、29、501、601、701等)。このとき、ファイバー光増幅器の出力端部が例えば図9あるいは図10に示したように平坦面に形成されている場合には、ファイバーバンドルの出力端と第1段目の波長変換部(非線形光学結晶)との間に集光レンズ(例えば図15の集光レンズ845など)を設けて、ファイバーバンドルから発生する光を非線形光学結晶に集光させることにより、ファイバー光増幅器の出力光を有効に入射させることができる。
【0189】
また、本発明に係るこの結合部の他の実施例を図17に示す。図17において、複数のファイバー光増幅器の出射端が束ねられたファイバーバンドル出力端901から基本波が射出されるが、ファイバー光増幅器毎にレンズ902が配置され、このレンズ902によって基本波は1段目の波長変換部(非線形光学結晶)903(例えば第4の実施形態(図11)における502、507、518、533等)に集光する。本実施例では、ファイバーバンドル全体の直径を2mm、ファイバーバンドルを構成する各ファイバー光増幅器のモード径を20μmとし、個別のレンズ902により、1段目の波長変換部903に集光する例について示す。なお、1段目の波長変換部903と2段目の波長変換部906との間には一対のレンズ904、905が配置されており、波長変換部903から射出される光がその波長変換部903への入射時と同じ条件で波長変換部906に入射するようになっている。
【0190】
このような実施形態においては、非線形光学結晶での各ビーム径が最適な高調波変換効率を得るのに望ましい大きさ(例えば本実施例では200μm程度)となる様に、集光レンズ902の倍率(例えば本実施例では10倍程度)を選ぶ。各ファイバー出力を個別のレンズ902により集光しているため、ファイバーバンドル中のすべてのファイバーから集光された非線形結晶中での全光束の占める大きさ(断面積)は、集光レンズの倍率によらずファイバーバンドル自身の直径程度となる。従って、必要な波長変換結晶の大きさ(断面)は、ファイバーバンドルの直径程度となるため、数ミリ角程度の小さな波長変換結晶を用いることができ経済的である。なお、レンズ902を設ける代わりに、ファイバー出力端面を直接、球面あるいは非球面のレンズ状に加工して集光光学素子の機能を持たせてもよい。
【0191】
次に、光増幅器と波長変換部との結合部におけるファイバー出力端の他の実施例を図18に示す。図18(a)および(c)に示した実施例は、図17に示した集光レンズ902を、ファイバー452毎にその出力端部に形成する、及びこれを出力群ごとにバンドル状にまとめた例を示している。本例では、ファイバー452毎にその出力端部に集光光学素子453が形成されているが、これは既に図10(a)を用いて説明したファイバー出力端部に設けた窓部材433をレンズ状に加工し、集光光学素子の機能を持たせたものである。このように構成することにより、図17と同様の集光機能を備えると共にファイバー出力端面の損傷を抑制することができる。
【0192】
また、図18(b)は複数のファイバー462を束ねた出力群ごとに集光光学素子463を設ける場合の実施例である。本例では、例えば図15に示した集光レンズ845をファイバーバンドルの出力端部に形成したものであり、既に図10(b)を用いて説明した窓部材443を球面あるいは非球面のレンズ状に加工して集光光学素子の機能を持たせたものである。
【0193】
なお、ファイバー端部あるいは窓部材の出力面を、球面あるいは非球面のレンズ形状に加工する代わりに、熱イオン交換法や電解イオン交換法等のイオン交換法を用いてファイバー端部を、あるいは窓部材としてガラス窓を用いるときにはガラス窓端部のガラス組成を、イオン交換により部分的に変化させ、これによりレンズと同等の屈折率分布を持たせることで集光光学機能を持たせるものであっても良い。また、図18(a)〜(c)ではファイバー内のコア451、461の径は拡大されていないが、このコア径の拡大を併用することもできる。
【0194】
さて、2段目以降の波長変換部(非線形光学結晶)への集光は、1段目の場合と同様にファイバー毎、又はバンドル毎にその出力を個別のレンズにより行うこともできるが、本実施例ではファイバーバンドルの全出力を共通の1組あるいは1個のレンズで集光する場合について記述している。このように共通のレンズを使用することにより、使用するレンズの数が少なくなり、レンズのアライメントも容易になるため、経済的である。
【0195】
なお、波長変換結晶(非線形光学結晶)の出力端はその波長変換結晶で集光されたビームのレイリー長のなかに位置するため、波長変換結晶からの射出ビームは波長変換結晶の出力端でほぼ平行光となる。本実施例(図17)ではこの射出ビームを一対のレンズ904、905により2段目の波長変換結晶906に集光する場合について示した。ここで、レンズ対の焦点距離は2段目の波長変換部906で最適な変換効率を得るのに望ましいビーム径となる倍率に定めることができる。なお、図11、図13、図14に示した波長変換結晶に基本波又はその高調波を集光する集光光学素子(例えば図11(a)に示す505、506等)は1個のレンズで構成されていたが、本実施例のように1組のレンズで構成することも可能である。
【0196】
このように実施の形態1〜3に示した構成により基本波発生部(レーザ光発生部及び光増幅器)を構成し、実施の形態4〜7に示した構成により波長変換部を構成し、また実施形態8に示した構成により光増幅器と波長変換部との結合部を構成することによって、出力波長157nm、193nm等の紫外光出力を得ることができる。これらはそれぞれF2レーザ、ArFエキシマレーザの発振波長と同一波長である。
【0197】
しかも、この様にして得られる紫外出力光は、例えば実施の形態1による基本波発生部を用いて構成した場合には、約3nsの間隔で発光するパルス光であるため、互いに時間的に重なり合うことがなく、極めて狭帯域化された単一波長の紫外光でありながら、個々の出力光は互いに干渉することがない。また、例えば実施の形態2による基本波発生部を用いて構成した場合には得られる紫外出力光は、約78nsの等間隔で発光するパルス光であるため、互いに時間的に重なり合うことがなく、極めて狭帯域化された単一波長の紫外光でありながら、個々の出力光は互いに干渉することがない。
【0198】
さらに、例えば特開平8−334803号公報に開示されているような固体紫外レーザアレイでは、並列化された個々の基本波レーザに対し(個々のレーザ要素ごとに)それぞれ波長変換部が必要であるが、本実施形態によれば基本波出力のファイバーバンドル直径が全チャネルをあわせても2mm以下であるため、わずか1組の波長変換部ですべてのチャネルの波長変換を行うことが可能である。しかも、出力端が柔軟なファイバーであるため、波長変換部と単一波長発振レーザやスプリッタ、時分割光分岐手段等の他の構成部とを分けて配置することが可能となるなど、配置の自由度が極めて高い。従って、本発明により安価でコンパクトかつ、単一波長でありながら空間的コヒーレンスの低い紫外レーザ装置が提供できる。
【0199】
次に本発明に係る紫外レーザ装置の第9の実施形態について説明する。本実施形態による紫外レーザ装置は、既にこれまでの第1から第8の実施形態で述べてきた様な紫外レーザ装置が露光装置用光源であることを特徴とするものである。
【0200】
以下、本発明に係る紫外レーザ装置を用いた露光装置の実施例について図19を参照しながら説明する。光リソグラフィ工程で使用される露光装置は、原理的には写真製版と同じであり、フォトマスク(レチクル)上に精密に描かれたデバイスパターンを、フォトレジストを塗布した半導体ウエハーやガラス基板などの上に光学的に投影して転写する。本発明に係る紫外レーザ装置1261は、照明光学系1262、投影光学系1265などを含む露光装置全体と一体に設けられている。このとき、照明光学系1262を支持する架台に紫外レーザ装置1261を固定しても良いし、あるいは紫外レーザ装置1261を単独で架台に固定しても良い。但し、紫外レーザ装置1261に接続される電源などは別置きにしておくことが好ましい。
【0201】
また、紫外レーザ装置1261をレーザ光発生部および光増幅器を有する第1部分と、波長変換部を有する第2部分とに分け、第2部分を照明光学系1262と一体に架台に固定し、第1部分をその架台と異なる架台に固定しても良い。さらに、露光装置本体を収納するチャンバー内に紫外レーザ装置1261をすべて配置しても良いし、あるいは紫外レーザ装置1261の一部、例えば波長変換部をチャンバー内に配置し、残りの部分はチャンバーと一体にその外側に配置するようにしても良い。また、紫外レーザ装置1261の制御系はチャンバーとは別置される制御ラックに収納しても良いし、あるいは表示部(ディスプレイ)、スイッチ類などをチャンバーと一体にその外側に配置し、残りはチャンバー内に配置しても良い。
【0202】
そして、本発明により狭帯域化されかつ空間的コヒーレンスの低い紫外光は、照明光学系1262により必要な投影面上での照度分布が均一となるように拡大投影され、集積回路の回路パターンが精密に描かれた石英マスク(石英レチクル)1263上に照射される。レチクル1263の回路パターンは、投影光学系1265により所定の縮小倍率で縮小されフォトレジストの塗布された半導体ウエハー(例えばシリコンウエハー)1266に投影され、前記回路パターンがウエハー上に結像・転写される。
【0203】
照明光学系1262は、レチクル1263のパターン面とほぼ共役な面内に配置され、かつレチクル1263上での照明領域を規定する視野絞り、照明光学系1262内でレチクル1263のパターン面とほぼフーリエ変換の関係となる所定面上での紫外光の光量分布を規定する開口絞り、および開口絞りを射出する紫外光をレチクル1263に照射するコンデンサーレンズなどを含む。このとき、所定面上での紫外光を光量分布を変更するために、互いに形状と大きさとの少なくとも一方が異なる複数の開口絞りをターレットに設け、レチクル1263のパターンに応じて選択される複数の開口絞りの一つを照明光学系1262の光路内に配置するようにしても良い。
【0204】
また、紫外レーザ装置1261の波長変換部と視野絞りとの間にオプティカルインテグレータ(ホモジナイザ)を配置しても良く、フライアイレンズを用いるときはその射出側焦点面がレチクル1263のパターン面とほぼフーリエ変換の関係となるように配置し、ロッドインテグレータを用いるときはその射出面がレチクル1263のパターン面とほぼ共役となるように配置すればよい。
【0205】
なお、露光装置の露光開始シャッタとしては、既に実施形態1〜3で説明した電気光学変調素子あるいは音響光学変調素子(12、22、32)を用いることができる。電気光学変調素子あるいは音響光学変調素子をオフの状態すなわちパルスを発生しない(内部損失が大の)状態からオンの状態すなわちパルスを発生する(パルス状に内部損失が小となる)状態に切り替えて露光を開始する。
【0206】
なお、紫外レーザ装置1261を有する露光装置では、紫外レーザ装置1261を構成する単一波長発振レーザから連続光を出力させても良いし、あるいは単一波長発振レーザをパルス出力させるようにしても良い。特に後者では、単一波長発振レーザの電流制御と前述の電気光学変調素子又は音響光学変調素子の制御とを併用して、レチクル1263及び半導体ウエハ1266に照射される紫外光(パルス光)の出力間隔や出力の開始及びその停止などを制御するようにしても良い。
【0207】
また、本実施形態での紫外レーザ装置1261を有する露光装置では、機械的なシャッタを用いてウエハ1266上での紫外光の積算光量を制御する必要はないが、例えば紫外レーザ装置1261の出力(パワー、中心波長、波長幅など)を安定化するために紫外光を発振させるとき、その紫外光がウエハ1266に到達してフォトレジストを感光させるのを防止するために、紫外レーザ装置1261とウエハ1266との間の照明光路内にシャッタを配置しても良いし、あるいはステージ1267を駆動してウエハ1266を紫外光の照射領域から退避させるようにしても良い。
【0208】
半導体ウエハー1266は、駆動機構1269を具備するステージ1267上に載置され、一回の露光が完了する度にステージを移動することにより、半導体ウエハー上の異なる位置に回路パターンが転写される。この様なステージの駆動、露光方式をステップ・アンド・リピート方式という。ステージの駆動、露光方式にはこのほかに、レチクル1263を支持する支持部材1264にも駆動機構を設け、レチクルと半導体ウエハとを同期移動して走査露光を行うステップ・アンド・スキャン方式があるが、この方式についても本発明の紫外レーザ装置を適用することが可能である。
【0209】
なお、本発明に係る紫外レーザ装置を用いた露光装置の様に紫外光で露光を行う露光装置では、通常、照明光学系1262、投影光学系1265ともに色補正なしの全石英レンズ構成である。また、特に紫外光の波長が200nm以下であるときは、投影光学系1265を構成する複数の屈折光学素子のうち少なくとも一つを蛍石で構成しても良いし、あるいは少なくともひとつの反射光学素子(凹面鏡、ミラー等)と屈折光学素子とを組み合わせた反射屈折光学系を用いるようにしてもよい。
【0210】
以上のように、本発明に係る紫外レーザ装置を用いた露光装置は従来の他の方式(エキシマレーザや固体レーザを用いた露光装置)にくらべて小型であり、また、各要素がファイバー接続されて構成されているため装置を構成する各ユニットの配置の自由度が高い。図20には、このような本発明に係る紫外レーザ装置の特質を生かした他の実施例を示す。
【0211】
この実施例は、実施形態1〜3に記載したレーザ装置のレーザ光発生部(単一波長レーザ、光分岐手段等)および光増幅器の構成部分と、実施形態4〜7に記載した波長変換部とを分離して配置し、露光装置を構成したものである。すなわち、波長変換部1272を露光機本体に載置する一方、紫外レーザ装置の他の部分(レーザ光発生部、光増幅器等)1271を露光装置本体の外に別置して設け、これらの間を接続用ファイバー1273で接続することにより紫外レーザ装置を構成する。ここで、接続用ファイバー1273は、ファイバー光増幅器のファイバー自身(例えば実施形態1におけるファイバーバンドル114等)、無ドープのファイバー、あるいはこれらの組み合わせであっても良い。なお、紫外レーザ装置以外の露光機本体の部分は図19と同一の装置を用いて構成することができる。
【0212】
このような構成とすることにより、ファイバー光増幅器の励起用半導体レーザや半導体レーザのドライブ用電源、温度コントローラ等の発熱を伴う主要な構成部分を露光機本体の外に配設することができる。従って、露光装置本体が露光光源である紫外レーザ装置からの発熱の影響を受けて光軸のアライメントが狂う等熱に起因する問題を抑制することができる。
【0213】
ところで、図20に示すようにレチクル1263を保持するレチクルステージ1264は駆動機構1268によってX方向、Y方向に移動可能で、かつ微小回転可能に構成されている。また、ウエハステージ1267上には基準マーク板FMが設けられており、この基準マーク板は後述するベースライン計測などに用いられる。さらに本例では、レチクル1263上のアライメントマークを検出するアライメント系1280と、投影光学系1265とは別設されるオフアクシス方式のアライメント系1281とが設けられている。
【0214】
アライメント系1280は、露光用照明光、又はそれと同一波長域の照明光をレチクル1263上のアライメントマーク、及び投影光学系1265を通して基準マーク板FM上の基準マークに照射するとともに、両マークから発生する光を撮像素子(CCD)で受光してその位置ずれを検出するものであり、レチクル1263のアライメントやアライメント系1281のベースライン計測などに用いられる。
【0215】
オフアクシス方式のアライメント系1281は、例えば550〜750nm程度の波長幅を持つ白色光(ブロードバンド光)を半導体ウエハ1266上のアライメントマークに照射するとともに、その内部に設けられる指標マークの像とアライメントマークの像とを撮像素子(CCD)上に結像させて両マークの位置ずれを検出するものである。
【0216】
なお、アライメント系1280、1281でそれぞれ基準マーク板FM上の基準マークを検出することで、その検出結果からアライメント系1281のベースライン量を計測することができる。なお、ベースライン計測は半導体ウエハの露光開始前に行われるが、半導体ウエハを交換するたびにベースライン計測を行ってもよいし、あるいは複数枚の半導体ウエハの露光動作に1回の割合でベースライン計測を行うようにしてもよい。但し、レチクル交換後には必ずベースライン計測が行われる。
【0217】
さて、本例では紫外レーザ装置(基本波発生部)1271に接続される波長変換部として図16に示した波長変換部を用いる。即ち、4つのファイバーバンドル出力端851から発生する基本波が入射する波長変換部1272と、ファイバーバンドル出力端850から発生する基本波が入射する波長変換部1279とを分離し、波長変換部1272は照明光学系1262を保持する架台に一体に設け、波長変換部1279はアライメント系1280を保持する架台に一体に設ける。このとき、ファイバーバンドル出力端850に接続用ファイバー1278を結合して基本波を波長変換部1279に導く。これにより、アライメント系1280の光源を別途用意する必要がなくなるとともに、露光用照明光と同一波長の照明光を用いて基準マークを検出でき、高精度なマーク検出が可能となる。
【0218】
なお、本例では露光用照明光と同一波長の照明光をアライメント系1280に導くものとしたが、露光用照明光の波長(例えば193nm)よりも長い波長をアライメント系1280、又は1281などに導くようにしてもよい。即ち、図16に示した3段の波長変換部のうち、例えば2段目の波長変換部853から射出されるパルス光を接続用ファイバーでアライメント系に導けばよい。また、1段目の波長変換部852から射出されるパルス光の一部を分岐するとともに、その残りのパルス光を2段目の波長変換部853で波長変換し、2つの波長変換部852、853からそれぞれ射出される互いに波長が異なる2つのパルス光をアライメント系に導くようにしてもよい。
【0219】
また、図20に示した露光装置には、基本波発生部1271内の単一波長発振レーザ、例えばDFB半導体レーザ(図1中の11など)が載置されるヒートシンクに設けられた温度調整器(例えばペルチェ素子)を用いてその温度を調整することで、DFB半導体レーザの発振波長、即ちレチクル1263に照射される紫外レーザ光(露光用照明光)の波長を制御する波長制御装置1274が設けられている。波長制御装置1274は、DFB半導体レーザの温度を0.001℃単位で制御することで、紫外レーザ光の中心波長の安定化、及び投影光学系1265の光学特性(収差、焦点位置、投影倍率など)の調整などを行うものである。これにより、半導体ウエハの露光動作中における紫外レーザ光の波長安定性を向上させることができ、かつ紫外レーザ光の照射、及び大気圧変化などに起因して変動する投影光学系1265の光学特性を簡単に調整することができる。
【0220】
さらに、図20に示した露光装置には、基本波発生部1271内で単一波長発振レーザ(DFB半導体レーザなど)から発生する連続光をパルス光に変換する光変調素子(図1中の12など)にドライブ用電圧パルスを印加するパルス制御部1275と、半導体ウエハ1266に塗布されるフォトレジストの感度特性に応じて、回路パターン転写時にそのフォトレジストを露光するのに必要なパルス数を計算するとともに、そのパルス数に応じてパルス制御部1275から出力される制御パルスの発振タイミング、及びその大きさなどを制御する露光制御部1276と、露光装置全体を統括制御する制御装置1277とが設けられている。
【0221】
ここで、パルス制御部1275は基本波発生部1271内の単一波長発振レーザ(11など)の電流制御あるいは光変調素子12に印加する電圧の制御を行って、その単一波長発振レーザをパルス出力させることもできるようになっている。即ち、パルス制御部1275による電流あるいは電圧の出力制御によって、単一波長発振レーザは連続光とパルス光とを切り替えて出力することが可能となる。本実施例では、パルス制御部1275によって単一波長レーザをパルス発振させるとともに、前述した光変調素子の制御によってその発振されるパルス光(パルス幅が10〜20ns程度)からその一部のみを切り出す、即ちパルス幅が1nsのパルス光に変調する。これにより、光変調素子のみを用いて連続光をパルス光に変換する場合に比べて、消光比の高いパルス光を容易に発生させることが可能になるとともに、露光制御部1276によってパルス出力の間隔やパルス出力の開始及びその停止などをより簡単に制御することが可能になっている。
【0222】
また、パルス制御部1275は単一波長発振レーザのパルス発振と連続発振との切替だけでなく、そのパルス出力の間隔やパルス幅などの制御を行うとともに、パルス光の出力変動を補償するように、単一波長発振レーザの発振制御と、光変調素子に印加する電圧パルスの大きさの制御との少なくとも一方を行う。これにより、パルス光の発振間隔の変更時、あるいはパルス光の発振再開時などに生じるパルス光の出力変動を補償することができる。即ちパルス毎にその出力(強度)を常にほぼ一定値に維持することが可能となる。
【0223】
さらに、パルス制御部1275は、基本波発生部1271内で直列に配置される複数のファイバー光増幅器(図1中の13、18、19など)の少なくとも1つの利得を調整し、この利得調整のみ、あるいは前述した光変調素子の制御との併用によって、半導体ウエハ上でのパルス光の強度を制御することが可能となっている。なお、光分岐装置で並列分割される複数のチャネルに対応して並列に設けられるファイバー光増幅器の少なくとも1つの利得も同様に制御することも可能となっている。
【0224】
また、露光制御部1276は基本波発生部1271から出力される基本波、または波長変換部1272から出力される紫外光、あるいは波長変換部1272内で、例えば1段目または2段目の非線形光学結晶から出力されるパルス光を検出するとともに、この検出値(強度、波長、及び波長幅などを含む)に基づいてパルス制御部1275を制御し、前述したパルス光の発振間隔、その発振の開始と停止、及びパルス光の強度などを調整するようになっている。さらに、その検出値は波長制御装置1274にも入力され、波長制御装置1274はその検出値に基づいて単一波長発振レーザの温度制御を行い、露光用照明光(紫外レーザ光)の中心波長や波長幅を調整するようになっている。
【0225】
制御装置1277は、半導体ウエハ又はそれを保持するカセットに付された識別記号(バーコードなど)の読取装置(不図示)、あるいはオペレータから入力されるフォトレジストの感度特性に関する情報を露光制御部1276に送り、露光制御部1276はその入力情報に基づいてパターン転写に必要な露光パルス数を計算する。さらに露光制御部1276は、露光パルス数とこれに応じて決定されるパルス光の強度とに基づいてトリガパルス制御部1275を制御し、光変調素子に印加する制御パルスの発振タイミング、及びその大きさを調整する。これにより、露光の開始と終了、及び半導体ウエハ1266上に照射されるパルス光の強度が制御され、複数のパルス光の照射によってフォトレジストに与えられる積算光量がその感度に応じた適正露光量に制御される。
【0226】
なお、露光制御部1276はパルス制御部1275に指令を送って、単一波長発振レーザの電流制御を行わせることで、その電流制御のみ、あるいは光変調素子の制御との併用によって露光(パルス出力)の開始と終了などを制御できるようになっている。
【0227】
ここで、本例での基本波発生部1271として図1又は図2のレーザ装置を用いる場合、光変調素子で切り出される1つのパルス光が複数(128個)に分割されることになるが、本例ではその分割された128個のパルス光を1パルスとして、このパルス単位で露光量制御を行うようにしてもよいし、あるいはその分割された128個のパルス光をそれぞれ1パルスとして露光量制御を行うようにしてもよい。なお、後者の露光量制御を行う場合には、パルス制御部1275による光変調素子の制御の代わりに、基本波発生部1271内のファイバー光増幅器の利得を調整して、半導体ウエハ上でのパルス光の強度を制御するようにしてもよいし、あるいはこの2つの制御を併用するようにしてもよい。
【0228】
また、図20に示した露光装置は、ステップ・アンド・リピート方式とステップ・アンド・スキャン方式とを選択的に切り替えて半導体ウエハの露光を行うことが可能となっている。ステップ・アンド・リピート方式では、レチクル1263上の回路パターンの全体が露光用照明光で照射されるように、照明光学系1262内の視野絞り(レチクルブラインド)を駆動してその開口の大きさなどを調整する。一方、ステップ・アンド・スキャン方式では、投影光学系1265の円形投影視野内で露光用照明光の照射領域がレチクル1263の走査方向と直交する方向に沿って延びる矩形スリット状に制限されるように視野絞りの開口を調整する。従って、ステップ・アンド・スキャン方式ではレチクル1263上の回路パターンの一部のみが照明されるので、その回路パターンの全体を半導体ウエハ上に走査露光するために、露光用照明光に対してレチクル1263を相対移動するのに同期して、投影光学系1265の投影倍率に応じた速度比で半導体ウエハ1266を露光用照明光に対して相対移動する。
【0229】
ところで、前述の走査露光時における露光量制御では、光変調素子によって規定されるパルス繰り返し周波数fと、図2に示したTDM23によって規定されるチャネル間の遅延時間との少なくとも一方を調整して、走査露光中に基本波発生部1271から複数のパルス光を等時間間隔で発振させる。さらに、フォトレジストの感度特性に応じて、半導体ウエハ上でのパルス光の強度、半導体ウエハの走査速度、パルス光の発振間隔(周波数)、及び半導体ウエハの走査方向に関するパルス光(即ちその照射領域)の幅の少なくとも1つを調整し、半導体ウエハ上の各点が照射領域を横切る間に照射される複数のパルス光の積算光量を適正露光量に制御する。このとき、スループットを考慮して、半導体ウエハの走査速度がウエハステージ1267の最高速度にほぼ維持されるように、露光量制御では他の制御パラメータ、即ちパルス光の強度、発振周波数、及び照射領域の幅の少なくとも1つを調整することが好ましい。
【0230】
また、図1又は図2に示したレーザ装置を用いて走査露光を行う場合、露光量制御では前述のように分割される128個のパルス光をそれぞれ1パルスとして等時間間隔で発振させることが好ましい。但し、半導体ウエハの走査速度に応じてその分割された128個のパルス光の発振間隔を調整して、その128個のパルス光が1パルスと見做せる、即ち128個のパルス光が照射される間に半導体ウエハが移動する距離が露光量制御精度を低下させる要因とならないのであれば、その128個のパルス光を1パルスとして露光量制御を行うようにしてもよい。
【0231】
なお、以上に示した本発明の各実施形態の説明に於いては、ArFエキシマレーザもしくはF2レーザと同じ出力波長193nm、157nmを出力する紫外レーザ装置の構成例について説明を行ったが、本発明はこの波長のレーザ装置に限定されるものでなく、レーザー光発生部、光増幅器、波長変換部の構成内容を適宜選択することにより、例えばKrFエキシマレーザと同じ出力波長248nmを発生する紫外レーザ装置を提供することも可能である。
【0232】
例えば、レーザ光発生部における単一波長発振レーザとして992nmで発振するイットリビウム(Yb)ドープ・ファイバーレーザあるいは半導体レーザを、ファイバー光増幅器としてイットリビウム・ドープ・ファイバー光増幅器を用い、波長変換部としてファイバー光増幅器の出力をLBO結晶を用いて第2次高調波(波長496nm)発生を行い、更にその出力をBBO結晶を用いて第4次高調波(波長248nm)の紫外光を発生するような4倍高調波発生光路を構成することにより、KrFエキシマレーザと同じ248nmの紫外光を発生する紫外レーザ装置を提供することができる。
【0233】
なお、前述した実施形態で用いるファイバー(ファイバー光増幅器などを含む)はその表面をテフロンで被覆しておくことが好ましい。このテフロンによる被覆は全てのファイバーについて行うことが望ましいが、特に露光装置本体を収納するチャンバー内に配置されるファイバーはテフロンで被覆しておく。これは、ファイバーから発生する異物(繊維などを含む)が露光装置を汚染する物質となり得るためであり、この汚染物質に起因して生じる照明光学系、投影光学系、及びアライメント光学系などを構成する光学素子の曇り、又はこれら光学系の透過率(反射率)や光学特性(収差などを含む)の変動、もしくはレチクル又は半導体ウエハ上での照度、及びその分布の変動などを防止することが可能となる。また、テフロンで被覆する代わりに、チャンバー内に配置されるファイバーをまとめてステンレス製の筐体に収納するようにしてもよい。
【0234】
なお、半導体デバイスはその機能・性能設計を行うステップ、この設計ステップに基づいてレチクルを製作するステップ、シリコン材料からウエハを製造するステップ、前述の露光装置を用いてレチクルのパターンをウエハに転写するステップ、デバイスの組立ステップ(ダイシング工程、ボンディング工程、パッケージ工程を含む)、および検査ステップ等を経て製造される。また、前述の露光装置は半導体素子の製造だけでなく、例えば液晶ディスプレー、撮像素子(例えばCCD等)、薄膜磁気ヘッドなどのデバイス、またはレチクルの製造などにも用いることができる。
【0235】
さらに、複数の光学素子から構成される照明光学系、および投影光学系を露光装置本体に組み込んでその光学調整を行うとともに、多数の機械部品からなるレチクルステージやウエハステージを露光装置本体に取り付けて配線や配管を接続し、さらに総合調整(電気調整、動作確認等)を行うことによる本実施例の露光装置を製造することができる。
【0236】
また、前述の露光装置では紫外レーザ装置1261の露光装置本体への取り付け、または露光装置本体外に配置される紫外レーザ装置1261の一部(レーザ光発生部および光増幅器など)と本体内に配置される波長変換部とをファイバーで接続したり、紫外レーザ装置1261(波長変換部)と照明光学系1262との光軸合わせなどが行われる。なお、露光装置の製造は温度、およびクリーン度等が管理されたクリーンルームで行うことが望ましい。
【0237】
なお、以上の第9実施形態では、本発明によるレーザ装置を露光装置に適用するものとしたが、例えばウエハ上に形成された回路パターンの一部(ヒューズなど)を切断するために用いられるレーザリペア装置などにも本発明によるレーザ装置を用いることができる。また、本発明によるレーザ装置は可視光または赤外光を用いる検査装置などにも適用することができる。そしてこの場合には前述の第4〜第7実施形態で説明した波長変換部をレーザ装置に組み込む必要がない。即ち、本発明は紫外レーザ装置だけでなく、可視域または赤外域の基本波を発生する、波長変換部がないレーザ装置に対しても有効なものである。
【0238】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、コンパクトで機器配置の自由度が高く、メインテナンスが容易であり、かつ非線形光学結晶の損傷が生じにくく、空間的コヒーレンスの低い紫外光を発生する紫外レーザ装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る紫外レーザ装置の、第1の実施形態のレーザ光発生部及び光増幅器の構成を示す説明図である。
【図2】本発明に係る紫外レーザ装置の、第2の実施形態のレーザ光発生部及び光増幅器の構成を示す説明図である。
【図3】本発明に係る紫外レーザ装置の、第3の実施形態のレーザ光発生部及び光増幅器の構成を示す説明図である。
【図4】本発明に係る紫外レーザ装置の、他の実施形態の光増幅器の構成を示す説明図である。
【図5】ダブル・クラッド・ファイバー光増幅器の断面図である。
【図6】エルビウム・ドープ・ファイバー光増幅器にドープする元素による、波長と利得との関係を示す特性図である。
【図7】エルビウムおよびイットリウムをコ・ドープするファイバー光増幅器において、励起強度に対する利得の変化を示す特性図である。
【図8】本発明に係る紫外レーザ装置の、ファイバー出力制御手段の構成を示す構成図である。
【図9】ファイバー光増幅器の出力端部におけるファイバー・コアの拡大状況を例示する側面図である。
【図10】ファイバー光増幅器の出力端部の一例を示す側面図である。
【図11】本発明に係る紫外レーザ装置の、第4の実施形態の波長変換部の構成を示す説明図である。
【図12】本発明に係る波長変換部の変換効率を示す図表である。
【図13】本発明に係る紫外レーザ装置の、第5の実施形態の波長変換部の構成を示す説明図である。
【図14】本発明に係る紫外レーザ装置の、第6の実施形態の波長変換部の構成を示す説明図である。
【図15】本発明に係る紫外レーザ装置の、第7の実施の形態の波長変換部の構成を示す説明図である。
【図16】本発明に係る紫外レーザ装置の、第8の実施形態である波長変換部入力部の実施例を示す説明図である。
【図17】本発明に係る紫外レーザ装置の、波長変換部入力部の他の実施例を示す説明図である。
【図18】本発明に係る紫外レーザ装置の、波長変換部入力部の他の実施例を示す説明図である。
【図19】本発明に係る露光装置の構成実施例を示す説明図である。
【図20】本発明に係る露光装置の他の構成実施例を示す説明図である。
【符号の説明】
11 光源、単一波長発振レーザ(DFB半導体レーザ、ファイバーレーザ等)
12 光変調器
14、16 スプリッタ(光分岐手段)
13 ファイバー光増幅器
15、17 互いに長さの異なるファイバー(遅延手段、遅延ファイバー)
18 ファイバー光増幅器(第1ファイバー光増幅器)
19ファイバー光増幅器(第2ファイバー光増幅器)
114 ファイバー出力端(ファイバーバンドル出力端)
21 光源、単一波長発振レーザ(DFB半導体レーザ、ファイバーレーザ等)
22 光変調器
23 時分割光分岐手段(TDM、光分岐手段、遅延手段)
24 ファイバー光増幅器(第1ファイバー光増幅器)
25 ファイバー光増幅器(第2ファイバー光増幅器)
29 ファイバー出力端(ファイバーバンドル出力端)
31 光源、単一波長発振レーザ(DFB半導体レーザ、ファイバーレーザ等)
32 光変調器
33 ファイバー光増幅器(第1ファイバー光増幅器)
34 ファイバー光増幅器(第2ファイバー光増幅器)
41 ファイバー光増幅器(第1ファイバー光増幅器)
42 ファイバー光増幅器(第2ファイバー光増幅器)
405、406、407 ファイバー出力制御装置
421、341、441、451、461 コア
423、434、444、454、464 ファイバー出力端面
433、443(453、463) 窓部材
453、463 レンズ
501 ファイバー出力端(ファイバーバンドル出力端)
502〜504、507、510、513、514、517、518、520、526、532、533、536、539、545、548 非線形光学結晶
601 ファイバー出力端(ファイバーバンドル出力端)
602、604、609、611 非線形光学結晶
701 ファイバー出力端(ファイバーバンドル出力端)
702、705、710、712 非線形光学結晶
841 ファイバー出力端(ファイバーバンドル出力端)
842、843、844 非線形光学結晶
901 ファイバー出力端(ファイバーバンドル出力端)
902、904、905 レンズ
903、906 非線形光学結晶
1261 レーザ装置
1262 照明光学系
1263 マスク(レチクル)
1265 投影光学系
1266 ウエハー
1268、1269 駆動機構(駆動装置)
1271 レーザ装置
1272 波長変換部
1273 伝送系(第1ファイバー)
1277 制御装置(調整装置)
1278 伝送系(第2ファイバー)
1279 波長変換部
1280、1281 アライメント系
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a laser apparatus, and in particular, as a light source for an exposure apparatus used in a photolithography process for manufacturing a microdevice such as a semiconductor element, a liquid crystal display element, an imaging element (CCD, etc.), and a thin film magnetic head, The present invention relates to a laser device capable of generating ultraviolet light capable of suppressing speckle generation with low coherence and an exposure apparatus using such a laser device.
[0002]
[Prior art]
With the advancement of information equipment, semiconductor integrated circuits are required to have enhanced functions, improved storage capacity, and reduced size. For this purpose, it is necessary to increase the degree of integration of integrated circuits. In order to increase the degree of integration, individual circuit patterns need only be reduced. However, the minimum pattern size of a circuit is generally determined by the performance of an exposure apparatus used in the manufacturing process.
[0003]
An optical lithography exposure apparatus optically reduces and projects a circuit pattern precisely drawn on a photomask onto a semiconductor wafer coated with a photoresist, and transfers the circuit pattern. The minimum pattern dimension (resolution) R on the wafer at the time of exposure is expressed by the following equation (1) according to the wavelength λ of the light source used for projection by the exposure apparatus and the numerical aperture NA of the projection optical system. It is shown by the following formula (2).
R = K · λ / NA (1)
DF = λ / 2 (NA)2 ... (2)
[0004]
As apparent from the above equation (1), in order to reduce the minimum pattern dimension R, the direction of decreasing the constant K, the direction of increasing the numerical aperture NA, and the direction of decreasing the wavelength λ of the light source to be projected. It can be seen that there are three directions.
[0005]
Here, the constant K is a constant determined by the projection optical system and process, and usually takes a value of about 0.5 to 0.8. This method of reducing the constant K is called super-resolution in a broad sense. Up to now, improvement of the projection optical system, deformation projection, phase shift mask method, etc. have been proposed and studied. However, there are difficulties such as restrictions on the patterns that can be applied. On the other hand, the larger the numerical aperture NA from the equation (1), the smaller the minimum pattern dimension R can be. However, this also means that the depth of focus becomes shallow as is clear from the equation (2). For this reason, there is a limit to increasing the NA value. Usually, about 0.5 to 0.6 is considered appropriate because of the balance between the two.
[0006]
Therefore, the simplest and most effective method for reducing the minimum pattern dimension R is to reduce the wavelength λ of light used for exposure. Here, along with the realization of a shorter wavelength, there are several conditions that should be provided for making the light source of the exposure apparatus. These conditions will be described below.
[0007]
First, a light output of several watts is required. This is necessary to keep the time required for exposure and transfer of the integrated circuit pattern short.
[0008]
Second, in the case of ultraviolet light having a wavelength of 300 nm or less, the materials that can be used as the lens of the exposure apparatus are limited, and correction of chromatic aberration becomes difficult. For this reason, the monochromaticity of the light source is required, and the spectral line width is required to be 1 pm or less.
[0009]
Thirdly, since temporal coherence (coherence) increases with the narrowing of the spectral line width, an unnecessary interference pattern called speckle is generated when light with a narrow line width is irradiated as it is. Therefore, in order to suppress this speckle generation, the light source needs to reduce its spatial coherence.
[0010]
Many developments have been made for shortening the wavelength of the exposure light source in order to satisfy these conditions and achieve high resolution. The direction of wavelength reduction that has been studied so far is roughly divided into the following two types. One is the development of an excimer laser that uses a short laser oscillation wavelength itself, and the other is the development of a short-wavelength exposure light source that uses harmonic generation of an infrared or visible laser. is there.
[0011]
Among these, a KrF excimer laser (wavelength 248 nm) is used as a short wavelength light source put into practical use using the former method, and an ArF excimer laser (wavelength 193 nm) is used as a light source of a shorter wavelength at present. Development of exposure equipment is in progress. However, these excimer lasers are large, the optical energy per pulse is large, optical components are easily damaged, and the use of toxic fluorine gas makes the laser maintenance complicated and expensive. There were various problems.
[0012]
As the latter method, there is a method of converting long-wavelength light (infrared light, visible light) into shorter-wavelength ultraviolet light by utilizing the second-order nonlinear optical effect of the nonlinear optical crystal. For example, in `` Longitudinally diode pumped continuous wave 3.5W green laser (LY Liu, M. Oka, W. Wiechmann and S. Kubota, Optics Letters, vol. 19 (1994), p189) '' A laser light source for converting the wavelength is disclosed. This conventional example describes a method in which a 1064 nm laser beam emitted from an Nd: YAG laser is wavelength-converted using a non-linear optical crystal to generate a 266 nm light of a fourth harmonic. The solid-state laser is a general term for lasers whose laser medium is solid. Therefore, in a broad sense, a semiconductor laser is also included in a solid-state laser. Normally, a solid-state laser refers to a solid-state laser excited by light, such as an Nd: YAG laser or a ruby laser. This is also the case here.
[0013]
Further, in an example in which a solid laser is used as a light source of an exposure apparatus, the exposure apparatus includes a laser light generation unit that generates laser light and a wavelength conversion unit that converts the light from the laser light generation unit into ultraviolet light. An array laser in which a plurality of laser elements are bundled in a matrix has been proposed. For example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-334803, a plurality of laser elements that generate ultraviolet light by converting the wavelength of light from a laser light generator provided with a semiconductor laser by a nonlinear optical crystal provided in the wavelength converter are provided. An example of an array laser that is bundled in a matrix (for example, 10 × 10) to form one ultraviolet light source is disclosed.
[0014]
In the array laser having the above-described configuration, by bundling a plurality of independent laser elements, it is possible to increase the light output of the entire apparatus while keeping the light output of each laser element low. For this reason, the burden on the nonlinear optical element can be reduced. However, on the other hand, since each laser element is independent, it is necessary to match the oscillation spectrum of the entire laser element when considering application to an exposure apparatus. For example, even if the oscillation spectral line width of each laser element is 1 pm or less, the difference between the wavelengths of the plurality of laser elements as a whole must not be 3 pm, and the total width needs to be 1 pm or less. is there.
[0015]
For this purpose, for example, in order to cause each laser element to autonomously oscillate a single longitudinal mode of the same wavelength, the resonator length of each laser element is adjusted, or a wavelength selection element is inserted in the resonator. It was necessary to do. However, these methods have problems such as fine adjustment, and the more the number of laser elements to be configured, the more complicated the configuration is required to oscillate the whole at the same wavelength.
[0016]
On the other hand, an injection seed method is well known as a method for actively converting a plurality of lasers into a single wavelength (for example, Solid-state Laser Engineering, 3rd Edition, Springer Series in Optical Science, Vol. 1 by Walter Koechner). , Springer-Verlag, ISBN 0-387-53756-2, p246-249). This is because light from a single laser light source having a narrow oscillation spectral line width is branched into a plurality of laser elements, and this laser light is used as a guide wave to tune the oscillation wavelength of each laser element. This is a method of narrowing the width. However, this method has a problem that the structure is complicated because an optical circuit for branching the seed light to each laser element and a tuning control unit for the oscillation wavelength are required.
[0017]
Furthermore, such an array laser can make the entire apparatus much smaller than a conventional excimer laser, but it is still difficult to package the entire array with an output beam system of several centimeters or less. In addition, the array laser configured as described above is expensive because a wavelength conversion unit is required for each array, and when a misalignment occurs in a part of the laser elements constituting the array or the optical element to be configured In order to adjust this laser element when damage occurs, it is necessary to disassemble the entire array, take out this laser element, adjust it, and then reassemble the array. there were.
[0018]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention has the above-mentioned problems in the prior art, for example, a problem that occurs when an excimer laser is used as an ultraviolet light source of an exposure apparatus. However, the apparatus is enlarged, toxic fluorine gas is used, maintenance is complicated and expensive. Spectra generation due to damage to nonlinear optical crystals and increase in spatial coherence, which can be considered when using harmonics of solid-state lasers such as Nd: YAG lasers as the ultraviolet light source of exposure equipment In addition, the complexity of the structure including the tuning mechanism that can be considered when using an array laser in which a plurality of laser elements that generate ultraviolet light are bundled in a matrix as the ultraviolet light source of an exposure apparatus, and the output beam diameter are reduced. This has been made in consideration of problems such as difficulty of maintenance and complexity of maintenance.
[0019]
That is, an object of the present invention is to stably generate ultraviolet light having a single wavelength sufficiently narrowed as a light source of an exposure apparatus as an ultraviolet light output having a low spatial coherence, and is compact and handled. It is an object of the present invention to provide an easy laser device. Another object of the present invention is to provide a compact and highly flexible exposure apparatus using such a small and easy-to-handle laser apparatus as a light source.
[0020]
[Means for Solving the Problems]
  In order to achieve the above object, a laser device of the present invention includes a laser beam generator that generates a pulsed laser beam having a single wavelength within a wavelength range from an infrared region to a visible region, and a laser beam generator that generates the laser beam. Oscillation wavelength control means for controlling the oscillation wavelength of the laser beam to be generated, and the laser beam generatorincidentOptical branching means for branching a single-wavelength pulsed light into a plurality of optical amplifiers, and a plurality of fiber optical amplifiers each amplifying a plurality of branched lights output from the optical branching means And a wavelength converter that converts the wavelength of the branched light amplified by the plurality of optical amplifiers using a nonlinear optical crystal,The laser beam generator includes a light source that generates pulsed light and an optical modulator that cuts out a part of the pulsed light to narrow the pulse width, and the pulsed light with the narrowed pulse width is the optical branching unit. Incident onThe light branching means is from the laser light generator.IncidentThe pulsed light is branched into a plurality of light beams, and the branched light beams are emitted as branched light beams that do not overlap with each other in time.Low spatial coherenceIt is configured to generate single wavelength ultraviolet light.
[0021]
  In the laser apparatus, preferably, the light branching unit is connected to the laser light generating unit.IncidentA splitter having a plurality of parallel branches of pulsed light is provided, and fibers having different lengths are provided on the exit side of the splitter, and each of the pulsed lights branched in parallel is output at the output end of the fibers having different lengths. It is configured so as to be branched lights that do not overlap with each other in time.
  More preferably, in the fibers having different lengths, the delay intervals of the plurality of branched lights at the output ends thereof are the repetition frequency of the pulsed light incident on the splitter and the number of branched optical paths branched in parallel by the splitter. The lengths are respectively determined so as to be the reciprocal of the product, whereby the delay intervals of the plurality of branched lights at the respective output ends of the fiber become substantially constant intervals.
[0022]
  In the laser apparatus, preferably, the optical branching unit includes a time division optical branching unit (Time Division Multiplexer), and the laser beam generation unitIncidentThe pulsed light is time-divided and branched into a plurality of light beams so that the branched light beams become branched light beams that do not overlap in time.
  In the above laser apparatus, the optical amplifier is preferably formed such that the core of the fiber output end at the output end of the optical amplifier expands in a tapered shape.
  In the laser apparatus, preferably, the optical amplifier is provided with a window member that transmits the amplified laser light at a fiber output end portion at an output end thereof.
[0023]
    In the above laser apparatus, preferably, the optical amplifier includes an erbium-doped fiber optical amplifier.
  In the above laser apparatus, preferably, the optical amplifier may include a fiber optical amplifier doped with both erbium and yttrium.
[0024]
  In the above laser apparatus, it is preferable that the optical amplifier is configured to pump each of the plurality of fiber optical amplifiers provided in parallel in order to adjust the output of the ultraviolet light or the outputs of the plurality of amplified branched lights. Fiber output control means for controlling strength is provided.
  In the above laser apparatus, preferably, the optical amplifier includes a plurality of fiber output ends that respectively output the plurality of amplified branched lights, or are bundled into one or divided into a plurality of output groups, and each output group includes Bundled.
  In the laser apparatus, it is preferable that the optical amplifier has a first output group in which a part of the plurality of fiber output ends is bundled and a remaining fiber output end excluding the first output group. A second output group that is bundled or divided into a plurality of output groups approximately equally.
[0025]
  In the laser apparatus, preferably, the optical amplifier includes a window member that transmits each branched light to the output group.
  In the laser apparatus, it is preferable that the optical amplifier has the plurality of fiber output ends divided into a plurality of output groups and bundled, and the wavelength conversion unit is provided for each output group.
[0026]
  In the above laser apparatus, it is preferable that a condensing optical element that condenses and enters the laser light emitted from the optical amplifier onto the nonlinear optical crystal is provided on the input side of the wavelength conversion unit.
  In the above laser apparatus, preferably, the condensing optical element is provided by using an output end bundled for each output group of the optical amplifier as a lens for each output group.
  In the laser apparatus, preferably, the condensing optical element is provided at a fiber output end of the optical amplifier that outputs the amplified laser light.
  In the laser apparatus, preferably, the condensing optical element is provided by using a plurality of fiber output ends of the optical amplifier as lenses.
[0027]
  In the laser apparatus, preferably, the laser light generation unit generates a single wavelength laser beam having a wavelength of about 1.5 μm, and the wavelength conversion unit outputs the wavelength of 1.5 μm output from the optical amplifier. A fundamental wave in the vicinity is generated as ultraviolet light of 8th harmonic or 10th harmonic.
  In the laser apparatus, preferably, the laser light generation unit includes a DFB semiconductor laser or a fiber laser having an oscillation wavelength in a range of 1.51 μm to 1.59 μm, and the wavelength conversion unit has a generation wavelength of 189 nm. Eight harmonics that are in the range of ~ 199 nm are generated.
  In the above laser apparatus, preferably, the laser light generation unit generates laser light having an oscillation wavelength in a range of 1.544 μm to 1.552 μm, and the wavelength conversion unit generates an oscillation of an ArF excimer laser. Eight harmonics within a range of 193 nm to 194 nm, which is substantially the same wavelength as the wavelength, are generated.
  In the above laser apparatus, it is preferable that the wavelength conversion unit includes a first nonlinear optical that generates an eighth harmonic of the fundamental wave by sum frequency generation from the fundamental wave and the seventh harmonic of the fundamental wave. Has crystals.
[0028]
  In the laser apparatus, preferably,  The laser beam generator has a DFB semiconductor laser or fiber laser having an oscillation wavelength in a range of 1.51 μm to 1.59 μm, and the wavelength converter has a generated wavelength in a range of 151 nm to 159 nm. Generates harmonics.
  In the above laser apparatus, preferably, the laser light generation unit generates laser light having an oscillation wavelength in a range of 1.57 μm to 1.58 μm, and the wavelength conversion unit generates a generated wavelength of F. 2 A 10th harmonic within a range of 157 nm to 158 nm, which is substantially the same wavelength as the oscillation wavelength of the laser, is generated.
[0029]
  In the laser apparatus, preferably, the laser light generation unit generates a single wavelength laser beam having a wavelength of about 1.1 μm, and the wavelength conversion unit outputs the wavelength 1.1 μm output from the optical amplifier. A nearby fundamental wave is generated as ultraviolet light having a seventh harmonic.
  In the laser apparatus, preferably, the laser light generation unit includes a DFB semiconductor laser or a fiber laser having an oscillation wavelength in a range of 1.03 μm to 1.12 μm,
The wavelength converter generates a seventh harmonic whose generated wavelength is in the range of 147 nm to 160 nm.
  In the above laser apparatus, preferably, the laser light generation unit generates laser light having an oscillation wavelength within a range of 1.099 μm to 1.106 μm, and the wavelength conversion unit has a generation wavelength of F. 2 A seventh harmonic wave in the range of 157 nm to 158 nm, which is substantially the same wavelength as the laser oscillation wavelength, is generated.
  In the laser apparatus, preferably, the laser light generation unit includes an yttrium-doped fiber laser.
[0030]
In the above laser apparatus, preferably, a fiber optical amplifier further comprising an optical branching unit on at least one incident side of the plurality of fiber optical amplifiers, and the pulsed light divided into a plurality by the optical branching unit is disposed in the subsequent stage Is incident on.
  Preferably, the laser apparatus further includes a delay unit that delays each of the plurality of divided pulse lights so as to be incident on a fiber optical amplifier disposed at a subsequent stage of the optical branching unit.
  In the laser apparatus, preferably, at least a final stage fiber optical amplifier among the plurality of fiber optical amplifiers that respectively amplifies the plurality of branched lights is a large mode diameter fiber.
  In the laser apparatus, preferably, the large mode diameter fiber is a ZBLAN fiber.
[0031]
  In the laser apparatus, preferably, the wavelength converter includes a nonlinear optical crystal used in NCPM (Non-Critical Phase Matching).
  In the above laser apparatus, it is preferable that the wavelength conversion unit includes a temperature-controlled nonlinear optical crystal..
[0032]
Preferably, the laser device further includes an optical device that suppresses the spread of the wavelength width of light between the laser light generation unit and the wavelength conversion unit.
  In the above laser apparatus, it is preferable that at least a part of the optical apparatus is disposed between the laser light generation unit and the wavelength conversion unit.
[0033]
  In the laser apparatus, preferably, at least a part of the optical device is disposed between the plurality of fiber optical amplifiers.
  In the laser device, preferably, the optical device includes at least one of a narrow band filter and an isolator.
[0034]
  In the above laser apparatus, preferably, in the plurality of fiber optical amplifiers arranged in the optical paths of the plurality of branched lights, the fiber of the fiber optical amplifier arranged optically downstreamIs a fluoride fiber.
  In the above laser apparatus, it is preferable that at least a part of the optical amplifier is replaceable as a unit.
[0035]
In the laser apparatus, preferably, the laser light generator is connected to at least one of the laser light generator and the optical amplifier to adjust the oscillation characteristics of the ultraviolet light.forAn adjustment device is further provided, and the oscillation characteristic includes at least one of the intensity of the ultraviolet light, a center wavelength, a wavelength width, and an oscillation interval.
  In the laser apparatus, preferably,The adjusting deviceIs adjusted based on information obtained by detecting at least one of the ultraviolet light and light having a wavelength different from that of the ultraviolet light.Do.
[0036]
  The light irradiation device according to the present invention includes the laser device described above and ultraviolet light generated from the laser device.TheAn optical system for guiding the object to the object, and configured to irradiate the object with the ultraviolet light through the optical system.
  In the light irradiation apparatus, preferably, the pattern on the object is detected, the object is processed, or a pattern image is formed on the object by irradiation with the ultraviolet light.
  In the light irradiation apparatus, preferably, the object is a substrate used in a device manufacturing process.
[0037]
  The exposure method according to the present invention includes the above-described exposure method.With light irradiation deviceWhile irradiating the mask with the ultraviolet light, the ultraviolet light is transmitted through the mask.AboveIt is configured to expose the substrate.
[0038]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The laser light source according to the present invention is configured to amplify light of a single wavelength from the laser light generation unit by an optical amplifier and convert the amplified light into ultraviolet light by a nonlinear optical crystal provided in the wavelength conversion unit. Therefore, ultraviolet light having a required spectral line width (for example, 1 pm or less) can be easily obtained without using a complicated configuration.
[0039]
Further, the laser light having a single wavelength is divided into a plurality (or time-division), the output light is amplified by a plurality of fiber optical amplifiers, and the amplified light is converted into ultraviolet light by a nonlinear optical crystal. Thus, while suppressing the peak power per pulse of the pulsed light, the laser light output as the whole light source is increased, and ultraviolet light having low spatial coherence of light is supplied.
[0040]
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, a first embodiment of a laser apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. The ultraviolet light generation apparatus according to the present embodiment includes a laser light generation unit that includes a single wavelength oscillation laser 11 and generates laser light having a single wavelength, and an optical amplifier that includes fiber optical amplifiers 13, 18, and 19 and amplifies the light. And optical branching means 14 and 16 for branching the light in parallel, fibers 15 and 17 having different lengths, respectively, and a wavelength conversion unit for converting the wavelength of the amplified light, which will be described later. The same output wavelength (193 nm) or F as the ArF excimer laser2A laser device that generates the same output wavelength (157 nm) as that of a laser and has low spatial coherence is provided.
[0041]
In the present embodiment, FIG. 1 shows a configuration example until a single wavelength laser beam outputted from a laser beam generator of a laser apparatus according to the present invention is branched and amplified. First, referring to FIG. 1, the laser light generation unit includes a single wavelength oscillation laser 11 that generates a single wavelength laser beam, and further includes splitters 14 and 16 that are optical branching units, Fibers 15 and 17 having different lengths are provided, and fiber optical amplifiers 18 and 19 are connected to the emission sides of the fibers 17 having different lengths, respectively, and a plurality of them are amplified in parallel.
[0042]
The emission ends of the fiber optical amplifier 19 are bundled in a bundle shape, and the amplified laser light is incident on, for example, the wavelength converters (502 to 506) shown in FIG. The fiber bundle output end 114 of the fiber optical amplifier 19 shown in FIG. 1 corresponds to the fiber bundle output end 501 shown in FIGS. 11 (a) to 11 (d), respectively. The wavelength conversion unit is configured to include nonlinear optical crystals 502 to 504, and converts the fundamental wave emitted from the fiber optical amplifier 19 into ultraviolet light. The wavelength conversion unit according to the present invention will be described in detail as Embodiments 4 to 7 in the subsequent stage of the embodiment of the present invention.
[0043]
Hereinafter, this embodiment will be described in more detail. As the single wavelength oscillation laser 11 oscillating at a single wavelength shown in FIG. 1, for example, an InGaAsP or DFB semiconductor laser having an oscillation wavelength of 1.544 μm and a continuous wave output (hereinafter referred to as CW output) of 20 mW is used. Here, the DFB semiconductor laser is the one in which a diffraction grating is built in the semiconductor laser instead of the Fabry-Perot type resonator having low longitudinal mode selectivity, and single longitudinal mode oscillation is performed under any circumstances. This is a so-called distributed feedback (DFB) laser. Since such a laser basically oscillates in a single longitudinal mode, its oscillation spectral line width is suppressed to 0.01 pm or less.
[0044]
In order to fix the output wavelength of the laser device to a specific wavelength, it is preferable to provide an oscillation wavelength control device that controls the oscillation wavelength of a single wavelength oscillation laser (Master Oscillator) to a constant wavelength. On the contrary, it is also preferable that the output wavelength can be adjusted by actively changing the oscillation wavelength of the single wavelength oscillation laser by this oscillation wavelength control device. For example, when the laser apparatus of the present invention is applied to an exposure apparatus, according to the former, the occurrence of the aberration of the projection optical system due to the wavelength fluctuation or the fluctuation is prevented, and the image characteristics (image quality, etc.) are transferred during pattern transfer. The optical characteristics are not changed.
[0045]
Further, according to the latter, depending on the altitude difference or atmospheric pressure difference between the manufacturing site where the exposure apparatus is assembled and adjusted and the installation location (delivery destination) of the exposure apparatus, and the difference in the environment (atmosphere in the clean room), etc. Variations in the imaging characteristics (such as aberrations) of the projection optical system that occur can be offset, and the time required to start up the exposure apparatus at the delivery destination can be shortened. Furthermore, according to the latter, during the operation of the exposure apparatus, fluctuations in the aberration of the projection optical system, the projection magnification, the focal position, etc. caused by the irradiation of the illumination light for exposure and the change in atmospheric pressure can be canceled out. The pattern image can be transferred onto the substrate in the best imaging state.
[0046]
As such an oscillation wavelength control means, for example, when a DFB semiconductor laser is used as a single wavelength oscillation laser, it can be achieved by controlling the temperature of the DFB semiconductor laser. It can be stabilized and controlled to a constant wavelength, or the output wavelength can be finely adjusted.
[0047]
Usually, a DFB semiconductor laser or the like is provided on a heat sink, and these are housed in a housing. Thus, in this example, the oscillation wavelength is adjusted by controlling the temperature using a temperature regulator (for example, a Peltier element) provided on a heat sink attached to the single wavelength oscillation laser (DFB semiconductor laser or the like) 11. Here, the temperature of a DFB semiconductor laser or the like can be controlled in units of 0.001 ° C.
[0048]
The oscillation wavelength of the DFB semiconductor laser has a temperature dependency of about 0.1 nm / ° C. For example, if the temperature of the DFB semiconductor laser is changed by 1 ° C., the wavelength of the fundamental wave (1544 nm) changes by 0.1 nm, so that the wavelength of the eighth harmonic (193 nm) changes by 0.0125 nm and the tenth harmonic ( 157 nm), the wavelength changes by 0.01 nm. In the exposure apparatus, it is sufficient if the wavelength of the illumination light for exposure (pulse light) can be changed by about ± 20 pm with respect to the center wavelength. Therefore, the temperature of the DFB semiconductor laser 11 may be changed by about ± 1.6 ° C. for the 8th wave and about ± 2 ° C. for the 10th wave.
[0049]
As a monitor wavelength for feedback control when controlling the oscillation wavelength to a predetermined wavelength, the oscillation wavelength of the DFB semiconductor laser or a wavelength conversion output (second harmonic, third harmonic, fourth harmonic, etc.) described later is used. The wavelength that gives the sensitivity necessary for desired wavelength control and is the easiest to monitor is selected. For example, when a DFB semiconductor laser having an oscillation wavelength of 1.51 to 1.59 μm is used as a single wavelength oscillation laser, the third harmonic of this oscillation laser light has a wavelength of 503 nm to 530 nm. This corresponds to a wavelength region where molecular absorption lines are densely present, and precise oscillation wavelength control can be performed by selecting an appropriate absorption line of iodine molecules and locking to that wavelength.
[0050]
The CW light (continuous light) is converted into pulsed light by using the light modulation element 12 such as an electro-optic light modulation element or an acousto-optic light modulation element. In this configuration example, as an example, a case where the light modulation element 12 modulates pulsed light having a pulse width of 1 ns and a repetition frequency of 100 kHz (pulse period 10 μs) will be described. As a result of such light modulation, the peak output of the pulsed light output from the light modulation element 12 is 20 mW, and the average output is 2 μW. Here, it is assumed that there is no loss due to the insertion of the light modulation element 12. However, when the insertion loss is present, for example, the loss is −3 dB, the peak output of the pulsed light is 10 mW and the average output is 1 μW.
[0051]
When an electro-optic modulation element is used as the light modulation element, the electro-optic modulation element having an electrode structure with chirp correction so that the wavelength broadening of the semiconductor laser output due to the chirp accompanying the time change of the refractive index is reduced. It is preferable to use (for example, a two-electrode modulator). Further, by setting the repetition frequency to about 100 kHz or more, it is possible to prevent the amplification factor from being lowered due to the influence of ASE (Amplified Spontaneous Emission) noise in the fiber optical amplifier described later. Is desirable.
[0052]
Furthermore, by controlling the current of a semiconductor laser or the like, the output light can be pulse-oscillated. For this reason, in this example (and each embodiment described later), it is preferable to generate pulsed light by using the current control of the single wavelength oscillation laser (DFB semiconductor laser or the like) 11 and the light modulation element 12 in combination. Therefore, by controlling the current of the DFB semiconductor laser 11, pulse light having a pulse width of, for example, about 10 to 20 ns is oscillated, and only a part thereof is cut out from the pulse light by the light modulation element 12. Is modulated into 1 ns pulsed light.
[0053]
As a result, it is possible to easily generate pulsed light having a narrow pulse width as compared with the case where only the light modulation element 12 is used, and it is easier to start and stop oscillation of the pulsed light and oscillation. It becomes possible to control. In particular, when the extinction ratio is not sufficient even when the pulsed light is turned off using only the light modulation element 12, it is desirable to use the current control of the DFB semiconductor laser 11 in combination.
[0054]
The pulsed light output thus obtained is connected to the first-stage erbium (Er) -doped fiber optical amplifier (EDFA) 13 to perform optical amplification of 35 dB (3162 times). At this time, the pulsed light has a peak output of about 63 W and an average output of about 6.3 mW.
[0055]
The output of the fiber amplifier 13 as the first-stage optical amplifier is first divided in parallel into four outputs of channels 0 to 3 by a splitter 14 (flat waveguide 1 × 4 splitter) as an optical branching unit. By connecting the outputs of channels 0 to 3 to fibers 15 having different lengths (only one channel 0 is shown in the figure), the light output from each fiber is transmitted to each output light. A delay corresponding to the length is given. For example, in this embodiment, the propagation speed of light in the fiber is 2 × 10.8Assuming m / s, fibers having lengths of 0.1 m, 19.3 m, 38.5 m, and 57.7 m are connected to channels 0, 1, 2, and 3, respectively. In this case, the light delay between adjacent channels at each fiber exit is 96 ns. Here, a fiber used for the purpose of delaying light in this way is called a delay fiber for convenience.
[0056]
Next, the four delay fiber outputs are further divided into 32 outputs in parallel by 4 blocks of flat plate waveguide 1 × 32 splitter 16 (channels 0 to 31 in each block), and divided into a total of 128 channels. In each block, delay fibers 17 having different lengths are connected again to channels 1 to 31 except for channel 0. For example, in this embodiment, fibers having a length of 0.6 × N meters (N is a channel number) are connected to channels 1 to 31, respectively. As a result, a delay of 3 ns is given between adjacent channels in each block, and a delay of 3 × 31 = 93 ns is given to the channel 31 output with respect to the channel 0 output of each block.
[0057]
On the other hand, a delay of 96 ns is given between the first to fourth blocks by the delay fiber 15 as described above at the input time of each block. Therefore, the channel 0 output of the second block has a delay of 96 ns with respect to the channel 0 output of the first block, and the delay with the channel 31 of the first block is 3 ns. The same applies to the second to third and third to fourth blocks. As a result, pulsed light having a delay of 3 ns between adjacent channels is obtained at the output end of a total of 128 channels as a total output. In FIG. 1, only the channel 1 of the first block is described, and the description of the other channels is omitted, but the other channels are configured similarly.
[0058]
Due to the above branching and delay, pulse light having a delay of 3 ns between adjacent channels can be obtained at the output terminals of a total of 128 channels. At this time, the optical pulse observed at each output terminal is the light modulation element 12. 100 kHz (pulse period 10 μs), which is the same as the pulse modulated by. Accordingly, when viewed as a whole laser beam generator, after the 128 pulses are generated at intervals of 3 ns, the next pulse train is generated at intervals of 9.62 μs at 100 kHz. That is, the total output is 128 × 100 × 10Three= 1.28 × 107Pulse / second.
[0059]
In the present embodiment, an example in which the number of divisions is 128 and a short delay fiber is used has been described. For this reason, an interval of 9.62 μs that does not emit light is generated between each pulse train. However, by increasing the number of divisions, or making the delay fiber longer to an appropriate length, or using a combination of these, It is also possible to make the intervals completely equal. For example, when the number of pulse repetitions of the laser light incident on the splitter 14 is f [Hz] and the number of divisions is m, the length of each fiber is set so that the delay interval of each fiber is 1 / (f × m). It can also be achieved by setting.
[0060]
Further, the division number of at least one of the splitters 14 and 16 or the pulse repetition number f defined by the light modulation element 12 is adjusted or the division number and repetition so that the above-described pulse interval is completely equal. Both of the number f may be adjusted. Therefore, by adjusting at least one of the fiber lengths of the delay fibers 15 and 17, the number of divisions of at least one of the splitters 14 and 16, and the number of pulse repetitions f, not only can the pulse intervals be set to equal intervals, The interval can be set arbitrarily.
[0061]
In order to change the fiber length after assembling the light source, for example, the delay fibers 15 and 17 are bundled to form a unit, and this unit can be replaced with another delay fiber unit having a different delay time between channels. It is preferable to configure as described above. Also, when changing the number of divisions of the splitters 14 and 16, it is preferable to prepare another splitter having a different number of divisions corresponding to each of the splitters 14 and 16, and to be able to replace them. At this time, it is desirable that each unit of the delay fibers 15 and 17 be configured to be replaceable in accordance with the change in the number of divisions of the splitters 14 and 16.
[0062]
Further, in this example, by controlling the timing of the drive voltage pulse applied to the light modulator 12, the oscillation timing of the light source (pulse light), that is, the repetition frequency f (pulse period) can be adjusted. Further, when the output of the pulsed light can vary with the change of the oscillation timing, the magnitude of the drive voltage pulse applied to the light modulation element 12 is also adjusted at the same time to compensate for the output variation. Good.
[0063]
At this time, the output fluctuation of the pulse light may be compensated only by the oscillation control of the single wavelength oscillation laser 11 or by the combined use with the control of the light modulation element 12 described above. Note that the fluctuation of the output of the pulsed light is not only when the oscillation timing is changed, but also after the output of the single wavelength oscillation laser (that is, the incidence of the pulsed light to the fiber optical amplifier) is stopped for a predetermined time, the oscillation is resumed. Sometimes it can happen. When the single wavelength oscillation laser 11 is pulse-oscillated, the oscillation timing (pulse period) of the pulsed light is adjusted only by the current control of the single wavelength oscillation laser 11 or in combination with the control of the light modulation element 12 described above. You may do it.
[0064]
In this example, the fiber optical amplifier 18 is connected to each of the 128 delay fibers 17, and the fiber optical amplifier 19 is further connected with the narrow band filter 113 interposed therebetween. The narrow band filter 113 cuts the ASE light generated by the fiber optical amplifiers 13 and 18 and transmits the output wavelength of the DFB semiconductor laser 11 (wavelength width is about 1 pm or less), thereby reducing the wavelength width of the transmitted light. The band is substantially narrowed. As a result, it is possible to prevent the ASE light from entering the subsequent fiber optical amplifiers (18 and 19) and reducing the amplification gain of the laser light. Here, the narrowband filter preferably has a transmission wavelength width of about 1 pm. However, since the wavelength width of the ASE light is about several tens of nm, a narrowband filter having a transmission wavelength width of about 100 pm obtained at the present time is used. ASE light can be cut to such an extent that there is no practical problem even if it is used.
[0065]
When the output wavelength of the DFB semiconductor laser 11 is positively changed, the narrow band filter may be replaced according to the output wavelength. However, the variable width of the output wavelength (as described above as an example in the exposure apparatus). It is preferable to use a narrowband filter having a transmission wavelength width (approximately equal to or greater than the variable width) corresponding to ± 20 pm). In the laser apparatus applied to the exposure apparatus, the wavelength width is set to about 1 pm or less. In addition, the laser apparatus of FIG. 1 is provided with three isolators 110, 111, and 112, which reduce the influence of return light.
[0066]
With the configuration described above, the output light from the generation unit (the output end of the fiber optical amplifier 19) is light that is extremely narrow band, but does not overlap in time. Therefore, the spatial coherence between the channel outputs can be reduced.
[0067]
In the above configuration, an example in which a DFB semiconductor laser is used as the single wavelength oscillation laser 11 and the plate waveguide type splitters 14 and 16 are used as the branching elements of the optical branching unit has been described. Similarly to the laser, any laser having a narrow band in this wavelength region may be used. For example, an erbium (Er) -doped fiber laser has the same effect. Further, the branching element of the light branching means may be any element that splits light in parallel as in the case of the flat plate waveguide splitter. For example, the same applies to a fiber splitter or a beam splitter using a partial transmission mirror. There is an effect.
[0068]
As described above, in this embodiment, the output of the fiber 17 that is a delay fiber is further amplified by a single-stage or multi-stage EDFA (erbium-doped fiber optical amplifier, the same applies hereinafter). In this embodiment, as an example, an average output of about 50 μW for each channel in the laser beam generator and an average output of about 6.3 mW for all channels are amplified by a total of 46 dB (40600 times) by two stages of EDFAs 18 and 19. The example which performs is shown. In this case, a peak output of 20 kW, a pulse width of 1 ns, a pulse repetition of 100 kHz, an average output of 2 W, and an average output of about 256 W in all channels are obtained at the output end of each channel.
[0069]
Here, the coupling loss in the plate waveguide type splitters 14 and 16 is not considered, but if there is such coupling loss, the amplification of the fiber optical amplifier (for example, at least one of the EDFAs 18 and 19) is performed by the loss. By increasing the gain, the output of the fundamental wave generated from the EDFA 19 can be made the same as the above-described value (for example, peak output 20 kW). Note that by changing the amplification gain of the fiber optical amplifier, the output of the fundamental wave can be made larger or smaller than the aforementioned value.
[0070]
The single-wavelength pulsed laser light having a wavelength of 1.544 μm, which is the output of this optical amplifier, is converted into an ultraviolet light pulse output having a narrow spectral line width by a wavelength converter using a nonlinear optical crystal. An embodiment of this wavelength converter will be described later.
[0071]
Next, a second embodiment of the laser apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. The ultraviolet light generation apparatus according to the present embodiment includes a laser light generation unit that generates laser light having a single wavelength, an optical amplifier that amplifies the light, and a wavelength conversion unit that converts the wavelength of the amplified light. The same output wavelength (193 nm) or F as the ArF excimer laser2The present invention provides an ultraviolet laser device that generates laser light having the same output wavelength (157 nm) as a laser and has low spatial coherence. The ultraviolet laser apparatus in the first embodiment of the present invention is such that the light branching means splits the light in terms of time, and the laser light before entering the light branching means is a fiber optical amplifier. It is different in two points, that is, not amplified. Of these, any configuration can be adopted before and after the optical branching means and the fiber optical amplifier.
[0072]
As in the first embodiment (FIG. 1), a fiber optical amplifier is further provided on the incident side (single wavelength oscillation laser 21 side) of the optical branching means (TDM 23 in this example), and the amplified pulse light is used here. May be made incident on the light branching means. As a result, the amplification gain required for the fiber optical amplifier (24 and 25 in this example) arranged downstream of the optical branching means can be lowered as compared with the configuration of FIG. It is more economical because it decreases.
[0073]
By the way, in this embodiment, FIG. 2 shows a configuration example of the laser light generating unit, the optical branching unit, and the optical amplifier of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention. As shown in FIG. 2, the ultraviolet laser apparatus according to the present embodiment includes a laser light generation unit including a single wavelength oscillation laser 21 that generates laser light having a single wavelength, and an optical branching unit 23 that splits the light. A plurality of optical outputs from the optical branching means 23 are amplified in parallel by fiber optical amplifiers 24 and 25, respectively. The exit ends of the fiber optical amplifier 25 are bundled, and the amplified laser light is incident on a wavelength converter (702 to 712) made of, for example, a nonlinear optical crystal shown in FIG.
[0074]
Here, the fiber bundle output end 29 of the fiber optical amplifier 25 shown in FIG. 2 corresponds to the fiber bundle output end 701 shown in FIG. The wavelength conversion unit is configured to include a group of nonlinear optical crystals 702, 705, 710, and 712, and converts the fundamental wave emitted from the optical amplifiers (21 to 28) into ultraviolet light. The wavelength conversion unit according to the present invention will be described in detail as Embodiments 4 to 7 in a subsequent stage of the embodiment.
[0075]
Hereinafter, this embodiment will be described in more detail. As the laser 21 oscillating at a single wavelength shown in FIG. 2, for example, a DFB semiconductor laser or an yttrium (Yb) -doped fiber laser having an oscillation wavelength of 1.099 μm and a CW output of 20 mW is used. Since these lasers basically oscillate in a single longitudinal mode, the oscillation spectral line width is suppressed to 0.01 pm or less.
[0076]
The CW light (continuous light) is converted into pulsed light by using a light modulation element 22 such as an electro-optic light modulation element or an acousto-optic light modulation element. In this configuration example, as an example, a case where the light modulation element 22 modulates pulse light having a pulse width of 1 ns and a repetition frequency of 12.8 MHz (pulse period of about 78 ns) will be described. As a result of such light modulation, the peak output of the pulsed light output from the light modulation element is 20 mW and the average output is 0.256 mW.
[0077]
This pulsed light output is sequentially distributed to a total of 128 channels, channel 0 to channel 127, for each pulse by a time division multiplexer (TDM) 23 which is an optical branching unit. That is, the pulses with a pulse period of 78 ns are sequentially distributed from channel 0 to channels 1, 2, 3,. Looking at this result for each channel, the pulse period of the output pulse is 78 ns × 128 = 10 μs (pulse frequency 100 kHz), the pulse peak output is 20 mW, and the average output is 2 μW. Further, when viewed from the whole laser beam generator, the pulsed light is averaged with a pulse frequency of 12.8 MHz, a pulse peak output of 20 mW, and an average output of 0.256 mW. Note that there is a delay of 78 ns between adjacent channels, and the pulsed light between the channels does not overlap each other.
[0078]
In this example, the repetition frequency f of the pulsed light output from the light modulation element 22 is set to 100 kHz (pulse period is 10 μs), and the pulsed light output from the channels 0 to 127 of the time division optical branching means (TDM) 23 is The pulse period (10 μs) defined by the light modulation element 22 is delayed by 128 equally divided time intervals (78 ns), but the delay time may not be equal time intervals, or Similarly to the first embodiment, pulse light may be output from the channels 0 to 127 in only a part of the pulse period (10 μs). Further, the timing of the drive voltage pulse applied to the light modulation element 22 may be controlled at the same time to change the above-described pulse period (10 μs), for example, a time interval obtained by dividing the changed pulse period into 128 equal parts. The delay time can be changed.
[0079]
As in the first embodiment described above, the single wavelength oscillation laser 21 may also be pulsed in this example. Furthermore, even if the time division optical branching device (TDM) 23 and the current control of the single wavelength oscillation laser 21 are used in combination, or the control of the optical modulation element 22 is further used in combination, the aforementioned pulse period (10 μs) is changed. good.
[0080]
With the configuration as described above, the output light from the generation unit is light of a single wavelength with a very narrow band, but does not overlap in time with each other. Therefore, the spatial coherence between the channel outputs can be reduced.
[0081]
In the above configuration, an example in which a DFB semiconductor laser or an yttrium (Yb) -doped fiber laser is used as the single-wavelength oscillation laser 21 has been described. The same effect can be obtained with a narrow band laser.
[0082]
The outputs of the time-division optical branching means 23 are fiber optical amplifiers 24 and 25 each composed of a single-stage or multi-stage YDFA (yttrium-doped fiber optical amplifier, the same applies hereinafter) provided corresponding to the channels 0 to 127, respectively. Is amplified by. This yttrium-doped fiber optical amplifier has higher pumping efficiency by a semiconductor laser and is more economical than the above-mentioned erbium-doped fiber optical amplifier. Similarly to the first embodiment (FIG. 1) described above, an isolator is provided between the single wavelength oscillation laser 21 and the light modulation element 22 for the purpose of reducing the influence of return light and narrowing the wavelength width. 26 and a narrow band filter 28 and an isolator 27 are arranged between the fiber optical amplifiers 24 and 25.
[0083]
In this embodiment, as an example, the average output 2 μW of each channel in the time division optical branching means 23 and the average output 0.256 mW in all channels are amplified by a total of 60 dB (1000000 times) by the two stages of YDFAs 24 and 25. An example is shown. In this case, at the output end of each channel, a peak output of 20 kW, a pulse width of 1 ns, a pulse repetition of 100 kHz, an average output of 2 W, and an average output of 256 W in all channels are obtained. In FIG. 3, only channel 0 among all channels is described and description of other channels is omitted, but the other channels are configured in the same manner.
[0084]
The single-wavelength pulsed laser light having a wavelength of 1.099 μm, which is the output of this optical amplifier, is converted into an ultraviolet light pulse output having a narrow spectral line width by a wavelength converter using a nonlinear optical crystal. An embodiment of this wavelength converter will be described later.
[0085]
Although the output wavelengths of the optical amplifiers are different in the first and second embodiments described above, these are determined by the oscillation wavelength of the single-wavelength laser (11, 21) as described in the above explanations. Furthermore, it is obtained by a fiber optical amplifier considering the amplification efficiency, that is, a combination of gain wavelength widths (for example, 1530 to 1560 nm for erbium-doped fiber and 990 to 1200 nm for yttrium-doped fiber). Therefore, in the embodiment of the present invention, a fiber optical amplifier having a gain wavelength width corresponding to the oscillation wavelength may be appropriately selected and combined with the single wavelength oscillation laser. Further, for example, in the first embodiment, the TDM (23) used in the second embodiment may be used instead of the flat-plate waveguide splitters (14, 16), and in the second embodiment, a flat plate conductor is used instead of the TDM (23). A waveguide splitter may be used. An embodiment of the wavelength conversion unit will be described later.
[0086]
In these embodiments, the final high peak output fiber optical amplifier (19 in FIG. 1 and 25 in FIG. 2) uses a fiber mode to avoid an increase in the spectral width of the amplified light due to nonlinear effects in the fiber. It is desirable to use a large-mode-diameter fiber optical amplifier whose diameter is wider than that normally used for communication (5 to 6 μm), for example, 20 to 30 μm.
[0087]
FIG. 4 shows a configuration example of an optical amplifier using this large mode diameter fiber optical amplifier. In this optical amplifier 42 in which the fiber surrounded by the dotted-line square in FIG. 4 has a wide mode diameter, a semiconductor laser 43 for exciting the above-mentioned doped fiber for an optical amplifier having a wide mode diameter is optically coupled. The fiber is coupled to a large mode diameter fiber that matches the diameter of the doped fiber for the amplifier, and this semiconductor laser output is converted into a doped fiber for the optical amplifier by using wavelength division multiplexers (WDM) 45 and 46. Enter and excite the doped fiber.
[0088]
The laser light amplified by the large mode diameter fiber (optical amplifier) 42 enters the wavelength conversion unit 500, where the wavelength is converted into ultraviolet laser light. The laser beam (signal) to be amplified propagating through this large mode fiber is preferably mainly in the fundamental mode, which is mainly the fundamental mode in single mode or multimode fiber with a low mode order. It can be realized by exciting it.
[0089]
In particular, in FIG. 4, an optical polarization coupling element 44 is provided between the semiconductor laser 43 and the WDM 45, so that laser beams output from two semiconductor lasers 43 whose polarization directions are orthogonal to each other can be synthesized. Yes. In this example, the polarization direction of the laser beam is orthogonalized by the optical polarization coupling element 44. However, the polarization direction does not have to be orthogonal if a reduction in the synthesis efficiency of the laser beam can be allowed. Further, the influence of the return light is reduced by the isolator 404 provided on the incident side of the large mode fiber optical amplifier 42.
[0090]
A narrow band filter 403 is provided between the fiber optical amplifier 41 having a standard mode diameter and the large mode fiber optical amplifier 42 in order to remove ASE light generated from the fiber optical amplifier 42. The fiber optical amplifier 41 is coupled with the pumping semiconductor laser 401, and the output of the semiconductor laser 401 is input to the optical amplifier doped fiber through the WDM 402, thereby exciting the doped fiber. The
[0091]
According to such a method, since the semiconductor laser 43 is coupled to the large mode fiber, the coupling efficiency to the fiber is improved, and the semiconductor laser output can be used effectively. In addition, the use of a large mode fiber having the same diameter is efficient because loss in the WDM 45 and 46 can be reduced. Note that the connection between the front-stage fiber optical amplifier 41 having a standard mode diameter and the final-stage fiber optical amplifier 42 having a wide mode diameter is performed using a fiber having a tapered mode diameter.
[0092]
Furthermore, in order to obtain high output in the final stage fiber optical amplifiers (19, 25), a double clad type in which the fiber clad has a double structure instead of the large mode diameter fiber (42) in FIG. A fiber 410 may be used. An example of a cross-sectional view of the fiber 410 is shown in FIG. In this structure, the portion of the core 411 is doped with ions that contribute to the amplification of the laser beam, and the amplified laser beam (signal) propagates in the core. A pumping semiconductor laser is coupled to the first cladding 412 surrounding the core. This first clad is multimode and has a large cross-sectional area, so that it is easy to conduct high-power pumping semiconductor laser light. Efficiently couples multimode oscillation semiconductor lasers and uses pumping light sources efficiently. can do. A second cladding 413 for forming a first cladding waveguide is formed on the outer periphery of the first cladding.
[0093]
In addition, although a quartz fiber or a silicate fiber can be used as the fiber optical amplifier in the first and second embodiments described above, a fluoride fiber such as a ZBLAN fiber may be used in addition to these. . In this fluoride fiber, the erbium doping concentration can be increased as compared with quartz or silicate fiber, thereby shortening the fiber length necessary for amplification.
[0094]
This fluoride fiber is desirably applied to the fiber optical amplifier (19, 25) in the final stage, and by shortening the fiber length, it is possible to suppress the spread of the wavelength width due to nonlinear effects during fiber propagation of pulsed light. For example, it is possible to obtain a light source in which the wavelength width necessary for the exposure apparatus is narrowed. In particular, the ability to use this narrow-band light source in an exposure apparatus having a projection optical system having a large numerical aperture is advantageous in designing and manufacturing the projection optical system, for example.
[0095]
By the way, in the case where 1.51 to 1.59 μm is used as the output wavelength of the fiber optical amplifier having the double structure clad as described above, it is preferable to dope yttrium together with erbium as ions to be doped. This is because the pumping efficiency by the semiconductor laser is improved. That is, when both erbium and yttrium are doped, the strong absorption wavelength of yttrium is broadened in the vicinity of 915 to 975 nm, and a plurality of semiconductor lasers each having a different oscillation wavelength are coupled by WDM to the first wavelength. By coupling to the clad, the plurality of semiconductor lasers can be used as excitation light, so that a high excitation intensity can be realized. Further, for example, if a polarization coupling element is used as the optical coupling element 44 in FIG. 4, semiconductor laser outputs having different polarization directions can be coupled together, so that the excitation intensity can be further increased by a factor of two.
[0096]
As for the design of the doped fiber of the fiber optical amplifier, the gain of the fiber optical amplifier at a desired wavelength is increased in an apparatus operating at a predetermined wavelength (for example, an exposure apparatus) as in the present invention. Select the material. For example, in an ultraviolet laser device for obtaining the same output wavelength (193 to 194 nm) as that of an ArF excimer laser, when an optical amplifier fiber is used, a material whose gain is increased at a desired wavelength, for example, 1.548 μm, should be selected. desirable.
[0097]
However, the communication fiber is designed to have a relatively flat gain in a wavelength region of several tens of nm near 1.55 μm for wavelength division multiplexing communication. Therefore, for example, in a communication fiber having an erbium single-doped core as an excitation medium, a technique of co-doping aluminum or phosphorus into a silica fiber is used in order to realize this flat gain characteristic. For this reason, this type of fiber does not necessarily have a large gain at 1.548 μm. This is shown in FIG.
[0098]
In FIG. 6, the horizontal axis indicates the wavelength and the vertical axis indicates the fluorescence intensity. Al / P Silica in the figure corresponds to the communication cable material. On the other hand, if Silicate L22 shown in FIG. 6 is used, a higher gain can be obtained at 1.547 μm. The doping element aluminum has the effect of shifting the peak near 1.55 μm to the longer wavelength side and phosphorus shifting to the shorter wavelength side. Therefore, increasing the gain in the vicinity of 1.547 μm can be achieved by doping Silicate L22 with a small amount of phosphorus.
[0099]
On the other hand, for example, when an optical amplifier fiber having a core doped with both erbium and yttrium (co-doped) (for example, the double-clad type fiber) is used, a small amount is added to the core as shown in FIG. By adding phosphorus, a higher gain can be obtained in the vicinity of 1.547 μm. FIG. 7 shows the change in gain with respect to wavelength when the horizontal axis indicates the wavelength, the vertical axis indicates the gain per unit length, the excitation intensity is changed, and the inversion distribution density is changed. It is.
[0100]
In the fiber optical amplifiers according to the first and second embodiments, since each fiber is an independent optical amplifier, a difference in gain between the optical amplifiers causes variation in optical output of each channel. Therefore, in the laser apparatus of this type, for example, as shown in FIG. 8, the optical intensity is monitored by branching a part of the output with the fiber optical amplifiers (41, 42) of each channel, and each fiber optical amplifier. Fiber output control devices 405 and 406 for feedback controlling the drive currents of the respective pumping semiconductor lasers (401 and 43) may be provided so that the optical output from the laser is constant (that is, balanced) at each amplification stage. desirable. In FIG. 8, the fiber output control device 405 that detects the branched light from the fiber optical amplifier 41 controls the drive current of the semiconductor laser 401 connected to the fiber optical amplifier 41 based on the detected value, and the large mode fiber A fiber output control device 406 that detects the branched light from the optical amplifier 42 controls the drive current of the semiconductor laser 43 connected to the large mode diameter fiber optical amplifier 42 based on the detected value.
[0101]
Further, as shown in FIG. 8, the light intensity in the wavelength conversion unit 500 is monitored so that the light output from the wavelength conversion unit 500 becomes a predetermined light output, and the pumping semiconductor as the entire fiber optical amplifier (41, 42). It is preferable to further include a fiber output control device 407 that performs feedback control of the drive currents of the lasers 401 and 43, respectively. In FIG. 8, the fiber output control device 407 controls the semiconductor lasers 401 and 43 independently. However, only one of the semiconductor lasers 401 and 43 is controlled based on the light intensity detected by the wavelength converter 500. Just control. Further, although the fiber output control device 407 detects the intensity by branching the laser beam in the middle of the wavelength conversion unit 500, it branches a part of the laser beam output from the emission end of the wavelength conversion unit 500. The intensity may be detected. In FIG. 8, the same components as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
[0102]
By adopting such a configuration, the amplification factor of the fiber optical amplifier of each channel is made constant for each amplification stage, so that there is no biased load between the fiber optical amplifiers, and the entire light intensity is uniform. Is obtained. Further, by monitoring the light intensity in the wavelength converter 500, a predetermined predetermined light intensity can be fed back to each amplification stage, and a desired ultraviolet light output can be stably obtained.
[0103]
Although not shown in FIG. 8, at least one of the fiber output control devices 405, 406, and 407 is connected to a single wavelength oscillation laser (11 or 21) and an optical modulation element (12 or 22), respectively. In addition to performing temperature control and current control of the single-wavelength laser, it is further possible to apply a drive voltage pulse to the light modulator and to control the timing and magnitude of the voltage pulse.
[0104]
Therefore, the at least one fiber output control device has the intensity, the center wavelength, and the wavelength width of the pulsed light (the fundamental wave, or visible light, infrared light, or ultraviolet light that has been wavelength-converted at least once by the wavelength conversion unit). And the feedback control of the temperature of the single wavelength oscillation laser based on the detected value to control the center wavelength and wavelength width of the pulsed light. Furthermore, based on the detected value, the current control of the single wavelength oscillation laser and the control of the voltage pulse applied to the light modulation element are performed, the intensity of the pulsed light, the output interval, the start and stop of the pulse output, etc. Control.
[0105]
In addition, at least one fiber output control device performs switching between pulse output and continuous output of the single wavelength oscillation laser, and controls the output interval and pulse width at the time of the pulse output, and also changes the output of the pulsed light. In order to compensate, at least one of the oscillation control of the single wavelength oscillation laser and the control of the light modulation element is performed.
[0106]
In FIG. 8, it is assumed that a large-mode fiber optical amplifier is used. However, the current control of a pumping semiconductor laser (such as 401) connected to the fiber optical amplifier described here, a single wavelength oscillation laser, and an optical The control of the modulation element can be applied as it is to the ultraviolet laser devices (FIGS. 1 and 2) according to the first and second embodiments described above, which do not use a large mode fiber optical amplifier.
[0107]
The output ends of the fiber optical amplifiers 19 and 25 at the final stage in the first and second embodiments described above are bundled and formed into a required bundle shape (114 and 29). The number and shape of the bundles are determined according to the configuration of the wavelength conversion unit and the shape of the required light source. For example, in this embodiment, the case of a bundle having one circular cross section is shown (114, 29, 501, 601 etc.). At this time, since the clad diameter of each fiber is about 125 μm, the diameter of the bundle at the output end where 128 fibers are bundled can be about 2 mm or less. A bundle can be formed by using the output end of the final stage EDFA or YDFA as it is, but it is also possible to form a bundle at the output end by coupling an undoped fiber to the final stage EDFA or YDFA. .
[0108]
Further, as shown in FIG. 9, at the output end portion 423 of each fiber 422 in the final stage in the optical amplifier, the diameter of the core 421 in the fiber 422 is gradually widened in a tapered shape toward the output end. It is preferable to reduce the light power density (light intensity per unit area) at the output end face 423. At this time, in the taper shape, the spread of the core diameter increases sufficiently slowly toward the output end face 423, and the propagation transverse mode in the fiber is preserved when the amplified laser light propagates through the taper portion. It is set so that the excitation in the transverse mode is sufficiently negligible (for example, about several mrad).
[0109]
By setting in this way, the power density of the light at the output end face 423 of the fiber can be reduced, and the effect of greatly suppressing the damage caused by the laser beam at the fiber output end, which is the most problematic in the fiber damage, is obtained. It is done. The effect is that the higher the power density of the laser light emitted from the output end of the fiber optical amplifier (for example, the higher the light intensity, the smaller the core diameter for the same power, or the smaller the number of channels that divide the total power) A large effect is obtained.
[0110]
Further, as shown in FIG. 10A, the output end 434 of the final-stage fiber 432 is suitable for transmitting the laser beam in combination with the increase in the core diameter or independently depending on the power density of the laser beam. It is preferable to arrange the window member 433 having a sufficient thickness in close contact. However, in FIG. 10A, the power density of the output light is reduced only by the window member 433 without increasing the diameter of the core 431 in the fiber.
[0111]
Here, when there are a plurality of fiber outputs as in the first and second embodiments, as shown in FIG. 10 (b) in addition to the method of FIG. 10 (a) in which a window member is provided for each fiber end. In addition, providing a common window member 443 at the output end 444 of each output group of the fiber optical amplifiers 442 is also an example of this embodiment. However, although the diameter of the core 441 in the fiber is not enlarged in FIG. 10B, the core diameter may be increased.
[0112]
Note that the number of the plurality of fiber optical amplifiers in which one window member 443 is provided in common may be arbitrary. For example, the total number of fiber optical amplifiers 19 or 25 in the final stage shown in FIG. Good. Note that the window member (433 or 443) is appropriately selected in consideration of the transmittance in the wavelength region of the fundamental laser beam and the adhesion to the fiber (for example, optical glass material such as BK7, quartz material, etc.) In addition, for contact between the fiber and the window member, a method such as optical contact or fusion can be used.
[0113]
With this configuration, the power density of the laser light emitted from the window member is smaller than the power density in the fiber cores 431 and 441, so that the effect of suppressing damage by the laser light at the fiber output end is effective. can get. By combining with an increase in the fiber core diameter at the output end, it is possible to solve the problem of damage to the fiber output end, which has been a problem in the past.
[0114]
In each of the above-described embodiments (FIGS. 1, 2, 4, and 8), isolators 110, 111, 112, 26, 27, 404 and the like are appropriately inserted in each connection portion in order to avoid the influence of return light. In addition, a configuration example is shown in which narrow band filters 113, 28, and 403 are inserted in order to obtain good EDFA amplification characteristics. However, the location where the isolator or the narrow band filter is arranged, or the number thereof, is not limited to the above-described embodiment. For example, the required accuracy of various apparatuses (such as an exposure apparatus) to which the laser light source according to the present invention is applied. It may be determined accordingly, and at least one of the isolator and the narrow band filter may not be provided at all.
[0115]
The narrow band filter only needs to have a high transmittance with respect to only a desired single wavelength, and the transmission wavelength width of the filter is sufficient to be 1 pm or less. By using such a narrow band filter, noise due to spontaneous emission ASE (Amplified Spontaneous Emission) generated by the fiber amplifier can be reduced, and the amplification factor of the fundamental wave output is reduced by ASE from the preceding fiber optical amplifier. Can be suppressed.
[0116]
In the above-described embodiment, the intensity of the pulsed light cut out by the light modulation element 12 or 22 or the output of the fiber optical amplifier is monitored and applied to the light modulation element so that the intensity is constant for each pulse. The intensity of the pulsed light may be feedback controlled by adjusting the magnitude of the drive voltage pulse and the offset DC voltage. Further, the laser light generated from a large number of fiber optical amplifiers 19 or 25 is detected, and the delay time of the laser light in each channel and the oscillation interval of the laser light between the channels are monitored. The oscillation timing of the laser beam at the output end of the fiber bundle is controlled by controlling the timing of the drive voltage pulse applied to the light modulation element or controlling the TDM 23 in FIG. May be feedback controlled. Alternatively, the wavelength of the ultraviolet light generated from the wavelength conversion unit 500 may be detected, and the temperature of the single wavelength laser 11 or 21 may be adjusted based on the detected value to feedback control the wavelength of the ultraviolet light.
[0117]
Further, a plurality of stages of fiber optical amplifiers (13, 18, 19) arranged after the light modulation element so as to detect the intensity fluctuation of the pulsed light cut out by the light modulation element 12 or 22 and compensate for the output fluctuation. Alternatively, so-called feedforward control for controlling the gain in at least one stage of 24, 25) may be performed. Further, the output (light intensity) of the channel having a short delay time among the above-described channels 0 to 127, that is, the channel from which the pulsed light is output early is detected, and the gain (or TDM23) of the fiber optical amplifier is based on the detected value. ) May be controlled to feedforward control the output of a channel having a longer delay time than that channel, that is, a channel in which pulsed light is output with a delay. In particular, in the first embodiment shown in FIG. 1, the output may be controlled not in units of channels but in units of blocks having 32 channels. For example, at least one of the first blocks may be controlled. The output of one channel may be detected, and the output of the channel in the second block may be controlled based on the detected value.
[0118]
A third embodiment of the ultraviolet laser device according to the present invention will be described with reference to FIG. The ultraviolet light generation apparatus according to the present embodiment includes a laser light generation unit that includes a single wavelength oscillation laser 31 and generates laser light having a single wavelength, an optical amplifier that includes fiber optical amplifiers 33 and 34, and amplifies incident light. It is composed of a wavelength converter (not shown) that converts the wavelength of the amplified light, and has the same output wavelength (193 nm) or F as the ArF excimer laser.2An ultraviolet laser device that generates laser light having the same output wavelength (157 nm) as that of a laser is provided.
[0119]
In the present embodiment, the ultraviolet laser device shown in FIG. 3 includes a single wavelength oscillation laser 31 that generates a single wavelength laser beam, and the optical output of the single wavelength oscillation laser 31 is fiber optical amplifiers 33 and 34. Is amplified. For example, the amplified laser light is incident on the wavelength converter (602 to 611) shown in FIG. Note that the exit ends of the fiber optical amplifier 34 in FIG. 3 correspond to the fiber bundle exit ends 501 and 601 shown in FIGS. The wavelength conversion unit includes a set of nonlinear optical crystals 602, 604, 609, 611 and the like, and converts the fundamental wave emitted from the optical amplifiers (31 to 36) into ultraviolet light. The wavelength conversion unit according to the present invention will be described in detail as Embodiments 4 to 7 in a subsequent stage of the embodiment.
[0120]
Hereinafter, this embodiment will be described in more detail. As the single wavelength oscillation laser 31 oscillating at a single wavelength shown in FIG. 3, for example, an InGaAsP, DFB semiconductor laser having an oscillation wavelength of 1.544 μm and a CW output of 30 mW is used. Since this laser basically oscillates in a single longitudinal mode, its oscillation spectral line width is suppressed to 0.01 pm or less.
[0121]
The light output (continuous light) of the semiconductor laser 31 is converted into pulsed light by a light modulation element 32 such as an electro-optic light modulation element or an acousto-optic light modulation element. In this configuration example, as an example, a case where the light modulation element 32 modulates pulse light having a pulse width of 1 ns and a repetition frequency of 100 kHz will be described. As a result of such light modulation, the peak output of the pulsed light output from the light modulation element 32 is 30 mW, and the average output is 3 μW.
[0122]
The output light pulsed in the same manner as in the first and second embodiments is amplified by a fiber optical amplifier having a single-stage or multi-stage EDFA (erbium-doped fiber optical amplifier). In the present embodiment, as an example, a case where a total of 58 dB (667,000 times) amplification is performed by the two-stage fiber optical amplifiers 33 and 34 is shown. In this case, the average output at the output end of the fiber optical amplifier 34 is 2W. The output end can be formed by using the output end of the final-stage fiber optical amplifier 34 as it is, but it is also possible to couple an undoped fiber to the final-stage fiber optical amplifier 34. Further, in the present embodiment, a configuration example in which isolators 35 and 36 are appropriately inserted in each connection portion is shown in order to avoid the influence of return light.
[0123]
The single-wavelength pulsed laser light having a wavelength of 1.544 μm, which is the output of this optical amplifier, is converted into an ultraviolet light pulse output having a narrow spectral line width by a wavelength converter (described later in detail) using a nonlinear optical crystal. In the optical amplifier (31 to 36) according to the present embodiment, the output end is composed of one fiber optical amplifier 34. For example, the plate waveguide type splitter (16) used in the first embodiment (FIG. 1), or A plurality of fiber optical amplifiers (33, 34) may be prepared together with the TDM (23) used in the second embodiment, and the fiber optical amplifiers 34 may be bundled to form a fiber bundle. At this time, by adjusting the timing of the drive voltage pulse applied to the light modulation elements 32 respectively provided in the plurality of optical amplifiers, the oscillation interval of the pulsed light emitted from the plurality of optical amplifiers can be adjusted. It is preferable to shift the light emission timing for each optical amplifier so that the pulsed light is emitted sequentially at time intervals.
[0124]
Also, the modification of the first and second embodiments can be applied to this embodiment. For example, the single wavelength oscillation laser 31 may be pulse-oscillated, and furthermore, only the current control of the single wavelength oscillation laser 31 or the combination of the current control and the control of the light modulation element 32 may be used to output pulsed light. The interval (pulse period) may be changed.
[0125]
Next, an embodiment of the wavelength conversion unit used in each of the first to third embodiments will be described. FIGS. 11A to 11D show a configuration example of the wavelength conversion unit according to the present invention as the fourth embodiment. These correspond to the output end 501 of the fiber bundle (114 in the first embodiment, 29 in the second embodiment, etc., but may be the output end of the single fiber (34) in the third embodiment). )), A fundamental wave having a wavelength of 1.544 nm is converted into an eighth harmonic (harmonic) using a nonlinear optical crystal to generate 193 nm ultraviolet light having the same wavelength as the ArF excimer laser. An example is shown.
[0126]
In FIG. 11A, the fundamental wave having a wavelength of 1.544 nm (frequency ω) output from the fiber bundle output end 501 is transmitted through the nonlinear optical crystals 502, 503, and 504 from the left to the right in the figure and output. Is done. When the fundamental wave passes through the nonlinear optical crystal 502, the second harmonic generation generates a double wave of the frequency ω of the fundamental wave, that is, a double wave of the frequency 2ω (wavelength is 1/2, 772 nm). The generated second harmonic wave proceeds rightward and enters the next nonlinear optical crystal 503. Here, the second harmonic generation is performed again, and a quadruple wave having a frequency 4ω (wavelength is 1/4 of 386 nm) that is twice the frequency 2ω of the incident wave, that is, four times that of the fundamental wave, is generated. The generated fourth harmonic wave further proceeds to the right nonlinear optical crystal 504, where second harmonic generation is performed again, and the frequency 8ω is twice the frequency 4ω of the incident wave, that is, 8 times the fundamental wave. A double wave (wavelength is 1/8, 193 nm) is generated.
[0127]
As the nonlinear optical crystal used for the wavelength conversion, for example, the conversion crystal 502 from the fundamental wave to the second harmonic is LiB.ThreeOFiveThe (LBO) crystal is converted from a 2nd harmonic to a 4th harmonic by a LiB.ThreeOFiveThe (LBO) crystal is converted from a 4th harmonic wave to an 8th harmonic wave.2Be2B2O7(SBBO) crystals are used. Here, for the conversion from the fundamental wave to the second harmonic using the LBO crystal, a method by adjusting the temperature of the LBO crystal, Non-Critical Phase Matching: NCPM, is used for phase matching for wavelength conversion. NCPM does not cause an angular shift (Walk-off) between the fundamental wave and the second harmonic in the nonlinear optical crystal, so it can be converted to a double wave with high efficiency. This is advantageous because it does not undergo beam deformation due to -off.
[0128]
FIG. 11B shows the wavelength in the order of fundamental wave (wavelength 1.544 μm) → 2nd harmonic (wavelength 772 nm) → 3rd harmonic (wavelength 515 nm) → 6th harmonic (wavelength 257 nm) → 8th harmonic (wavelength 193 nm). This shows the case of conversion.
[0129]
In the first-stage wavelength conversion unit 507, the LBO crystal is used in the NCPM described above for conversion of the second harmonic generation from the fundamental wave to the second harmonic. The wavelength converter (LBO crystal) 507 transmits a part of the fundamental wave without wavelength conversion, converts the wavelength of the fundamental wave to generate a double wave, and converts the fundamental wave and the double wave into a wave plate ( For example, the half-wave plate) 508 gives a delay of one half wavelength and one wavelength, and rotates only the polarization of the fundamental wave by 90 degrees. Each of the fundamental wave and the second harmonic wave passes through the lens 509 and enters the second-stage wavelength conversion unit 510.
[0130]
The second-stage wavelength converter 510 obtains a third harmonic (wavelength 515 nm) by sum frequency generation from the second harmonic generated by the first-stage wavelength converter 507 and the fundamental wave transmitted without being converted. An LBO crystal is used as the wavelength conversion crystal, but it is used in an NCPM having a temperature different from that of the first-stage wavelength conversion unit (LBO crystal) 507. The third harmonic wave obtained by the wavelength conversion unit 510 and the second harmonic wave transmitted without being wavelength-converted are separated by the dichroic mirror 511, and the third harmonic wave reflected by the dichroic mirror 511 passes through the lens 513. Then, the light enters the third-stage wavelength conversion unit 514. The wavelength converter 514 is β-BaB2OFour(BBO) crystal, where the third harmonic is converted to the sixth harmonic (wavelength 257 nm) by second harmonic generation.
[0131]
The 6th harmonic wave obtained by the wavelength conversion unit 514 and the 2nd harmonic wave that has passed through the dichroic mirror 511 and passed through the lens 512 are synthesized coaxially by the dichroic mirror 516 to be the fourth wavelength conversion unit 517. Is incident on. The wavelength converter 517 uses a BBO crystal and obtains an eighth harmonic (wavelength 193 nm) from the sixth harmonic and the second harmonic by sum frequency generation. In the configuration of FIG. 11B, the wavelength conversion crystal of the fourth-stage wavelength conversion unit 517 is CsLiB instead of the BBO crystal.6OTenIt is also possible to use (CLBO) crystals.
[0132]
In the present embodiment, the third and second harmonics obtained by the second-stage wavelength converter 510 are branched by the dichroic mirror 511, and the sixth-fold obtained by the third-stage wavelength converter 514. The wave and the second harmonic wave obtained by the second-stage wavelength conversion unit 510 are combined by the dichroic mirror 516 and are incident on the fourth-stage wavelength conversion unit 517. Here, it is assumed that the characteristics of the dichroic mirror 511 are inverted, that is, the third harmonic wave is transmitted and the second harmonic wave is reflected. The third-stage wavelength converter 514 is the same as the second-stage wavelength converter 510. You may make it arrange | position on an optical axis. At this time, the characteristics of the dichroic mirror 516 must be reversed. As described above, in the configuration in which one of the sixth harmonic and the second harmonic is incident on the fourth-stage wavelength conversion unit 517 through the branch optical path, the sixth-harmonic wave and the second-harmonic wave are respectively input to the fourth-stage wavelength conversion unit 517. The condensing lenses 515 and 512 to be incident on can be arranged in different optical paths.
[0133]
In order to obtain good conversion efficiency in the fourth-stage wavelength conversion section 517, the sixth harmonic wave generated in the third-stage wavelength conversion section 514 has an elliptical cross-sectional shape due to the Walk-off phenomenon. It is desirable to perform beam shaping of the 6th harmonic. Therefore, by arranging the condensing lenses 515 and 512 in separate optical paths as in this embodiment, for example, a pair of cylindrical lenses can be used as the lens 515, and beam shaping of 6th harmonic waves can be easily performed. Can do. For this reason, it is possible to improve the conversion efficiency by improving the overlap with the second harmonic wave in the wavelength conversion unit (BBO crystal) 517 at the fourth stage.
[0134]
The configuration between the second-stage wavelength conversion unit 510 and the fourth-stage wavelength conversion unit 517 is not limited to FIG. 11B, and the fourth-stage wavelength conversion unit 517 has a sixth harmonic wave. Any configuration may be used as long as the optical path lengths of the sixth harmonic and the second harmonic are equal so that the second harmonic is incident at the same time. Further, for example, the third and fourth stage wavelength converters 514 and 517 are arranged on the same optical axis as the second stage wavelength converter 510, and the third stage wavelength converter 514 outputs only the third harmonic wave. The second harmonic wave may be converted into a sixth harmonic wave and incident on the fourth-stage wavelength conversion unit 517 together with the second harmonic wave that is not wavelength-converted, thereby eliminating the need to use the dichroic mirrors 511 and 516.
[0135]
FIG. 11C shows the wavelength in the order of fundamental wave (wavelength 1.544 μm) → 2nd harmonic (wavelength 772 nm) → 4th harmonic (wavelength 386 nm) → 6th harmonic (wavelength 257 nm) → 8th harmonic (wavelength 193 nm). This shows the case of conversion.
[0136]
In the first-stage wavelength conversion unit 518, an LBO crystal is used as the wavelength conversion crystal, and the LBO crystal is used in NCPM for wavelength conversion of the fundamental wave to a double wave. The second harmonic generated from the first-stage wavelength conversion unit 518 passes through the condenser lens 519 and enters the second-stage wavelength conversion unit 520.
[0137]
In the second-stage wavelength conversion unit 520, an LBO crystal is used as the wavelength conversion crystal, and a second harmonic is generated from the second harmonic generated by the first-stage wavelength conversion unit 518 to generate a fourth harmonic (wavelength 386 nm). obtain. The fourth harmonic wave obtained by the wavelength conversion unit 520 and the second harmonic wave transmitted through the wavelength conversion unit 520 without being wavelength-converted are separated by the dichroic mirror 521, and the fourth harmonic wave reflected here is collected. It reaches the dichroic mirror 525 through the optical lens 524. On the other hand, the double wave transmitted through the dichroic mirror 521 is rotated by 90 ° in the polarization direction by the half-wave plate 522 and reaches the dichroic mirror 525 through the condenser lens 523, where it passes through the branch optical path. The second harmonic wave is combined coaxially and is incident on the third-stage wavelength conversion unit 526.
[0138]
In the third-stage wavelength conversion unit 526, a BBO crystal is used as the wavelength conversion crystal, and the fourth harmonic generated in the second-stage wavelength conversion unit 520 passes through the wavelength conversion unit 520 without being wavelength-converted. A 6th harmonic wave (wavelength 257 nm) is obtained from the 2nd harmonic wave by sum frequency generation. The 6th harmonic wave obtained by the wavelength conversion unit 520 and the 2nd harmonic wave that has passed through the wavelength conversion unit 520 without being wavelength-converted are separated by the dichroic mirror 527, and the reflected 2nd harmonic wave is a half wave. The polarization direction of the wave plate 528 is rotated by 90 °, and the light reaches the dichroic mirror 531 through the condenser lens 529. On the other hand, the 6th harmonic wave transmitted through the dichroic mirror 527 passes through the condensing lens 530 and reaches the dichroic mirror 531, where it is synthesized coaxially with the 2nd harmonic wave passing through the branch optical path and converted into the fourth stage wavelength conversion. It enters the part 532.
[0139]
In the fourth-stage wavelength conversion unit 532, a BBO crystal is used as the wavelength conversion crystal, and the sixth harmonic wave generated in the third-stage wavelength conversion unit 526 is transmitted through the wavelength conversion unit 526 without being wavelength-converted. An 8th harmonic wave (wavelength 193 nm) is obtained from the 2nd harmonic wave by sum frequency generation. In the above configuration, a CLBO crystal can be used instead of the BBO crystal as the wavelength conversion crystal of the wavelength conversion unit 532 in the fourth stage.
[0140]
In the present embodiment, a dichroic mirror (521 or 527) is arranged after the second and third stage wavelength converters 520 and 526, respectively, and emitted from the wavelength converter (520 or 526). A pair of harmonics (2nd harmonic and 4th harmonic, or 2nd harmonic and 6th harmonic) pass through different optical paths and are incident on the next wavelength converter (526 or 532). 11B, the third-stage wavelength converter 526 may be arranged on the same optical axis as the other wavelength converters 518, 520, and 532, and thereby the dichroic mirror 521. 525, 527, 531, etc. need not be used.
[0141]
By the way, in this embodiment, the fourth harmonic wave and the sixth harmonic wave generated in the second-stage and third-stage wavelength converters 520 and 526 have an oval cross-sectional shape due to the Walk-off phenomenon. Therefore, in order to obtain good conversion efficiency in the third-stage and fourth-stage wavelength converters 526 and 532 using this beam as an input, the beam shapes of the 4th and 6th harmonics as the incident beam are shaped. It is desirable to make the overlap with the second harmonic beam good. As in this embodiment, by placing the condenser lenses 523 and 524 and 529 and 530 in separate optical paths, for example, it is possible to use a pair of cylindrical lenses as the lenses 524 and 530, and so on. 6th harmonic beam shaping can be easily performed. For this reason, the third-stage and fourth-stage wavelength converters 526 and 532 each have a good overlap with the second harmonic wave, and the conversion efficiency can be increased.
[0142]
Note that the optical path lengths of the second harmonic and the fourth harmonic are so that the second harmonic and the fourth harmonic generated from the second wavelength converter 520 are simultaneously incident on the third wavelength converter 526. The configuration between the two wavelength conversion units 520 and 526 is not limited to that shown in FIG. This is the same between the third-stage wavelength converter 526 and the fourth-stage wavelength converter 532.
[0143]
FIG. 11D shows a fundamental wave (wavelength 1.544 μm) → second harmonic (wavelength 772 nm) → third harmonic (wavelength 515 nm) → fourth harmonic (wavelength 386 nm) → 7th harmonic (wavelength 221 nm) → 8 times. The case of wavelength conversion in the order of waves (wavelength 193 nm) is shown.
[0144]
In the first-stage wavelength conversion unit 533, an LBO crystal is used as the wavelength conversion crystal, and the LBO crystal is used in NCPM for wavelength conversion of the fundamental wave to a double wave. The fundamental wave transmitted without being wavelength-converted by the wavelength converter 533 and the double wave generated by the wavelength conversion are respectively given a half-wavelength and one-wavelength delay by the wavelength plate 534, and only the polarization direction of the fundamental wave is given. Rotate 90 degrees. The second-stage wavelength conversion unit 536 uses an LBO crystal as the wavelength conversion crystal, and the LBO crystal is used in NCPM having a temperature different from that of the first-stage wavelength conversion unit (LBO crystal) 533. In this wavelength conversion unit 536, a triple wave (wavelength 515 nm) is generated by sum frequency generation from the double wave generated by the wavelength conversion unit 533 in the first stage and the fundamental wave transmitted through the wavelength conversion unit 533 without wavelength conversion. )
[0145]
The triple wave obtained by the wavelength converter 536 and the fundamental wave and the double wave transmitted through the wavelength converter 536 without wavelength conversion are separated by the dichroic mirror 537 and reflected by the triple wave. The wave passes through the condenser lens 540 and the dichroic mirror 543 and enters the wavelength converter 545 at the fourth stage. On the other hand, the fundamental wave and the second harmonic wave transmitted through the dichroic mirror 537 pass through the condenser lens 538 and enter the third-stage wavelength conversion unit 539.
[0146]
The third-stage wavelength conversion unit 539 uses an LBO crystal as the wavelength conversion crystal, transmits the fundamental wave through the LBO crystal without being wavelength-converted, and generates the second harmonic by the second harmonic generation in the LBO crystal. It is converted into a fourth harmonic (wavelength 386 nm). The 4th harmonic wave obtained by the wavelength conversion unit 539 and the fundamental wave transmitted therethrough are separated by the dichroic mirror 541, and the fundamental wave transmitted therethrough passes through the condenser lens 544 and is reflected by the dichroic mirror 546. Then, the light enters the fifth-stage wavelength conversion unit 548. On the other hand, the fourth harmonic wave reflected by the dichroic mirror 541 passes through the condenser lens 542 and reaches the dichroic mirror 543, where it is synthesized coaxially with the third harmonic wave reflected by the dichroic mirror 537 and is four-staged. The light enters the eye wavelength converter 545.
[0147]
The fourth-stage wavelength conversion unit 545 uses a BBO crystal as the wavelength conversion crystal, and obtains a seventh harmonic (wavelength 221 nm) from the third harmonic and the fourth harmonic by sum frequency generation. The seventh harmonic wave obtained by the wavelength converter 545 passes through the condenser lens 547 and is synthesized by the dichroic mirror 546 coaxially with the fundamental wave transmitted through the dichroic mirror 541 to be the fifth-stage wavelength converter 548. Is incident on.
[0148]
The wavelength converter 548 in the fifth stage uses an LBO crystal as the wavelength conversion crystal, and obtains an eighth harmonic (wavelength 193 nm) from the fundamental wave and the seventh harmonic by sum frequency generation. In the above configuration, a CLBO crystal can be used instead of the 7th harmonic wave generating BBO crystal 545 and the 8th harmonic wave generating LBO crystal 548.
[0149]
In this embodiment, since the third harmonic and the fourth harmonic are incident on the fourth-stage wavelength conversion unit 545 through different optical paths, the lens 540 that condenses the third harmonic and the fourth harmonic are condensed. The lens 542 to be placed can be placed in a separate optical path. The fourth harmonic wave generated in the third-stage wavelength converter 539 has an elliptical cross-sectional shape due to the Walk-off phenomenon. Therefore, in order to obtain good conversion efficiency in the fourth-stage wavelength conversion unit 545, it is desirable to perform beam shaping of the fourth harmonic. In this embodiment, since the condensing lenses 540 and 542 are arranged in separate optical paths, for example, a pair of cylindrical lenses can be used as the lens 542, and beam shaping of a fourth harmonic can be easily performed. . For this reason, it is possible to make the overlap with the third harmonic wave in the fourth-stage wavelength conversion unit (BBO crystal) 545 good and increase the conversion efficiency.
[0150]
Furthermore, in this embodiment, the lens 544 for condensing the fundamental wave incident on the fifth-stage wavelength conversion unit 548 and the lens 547 for condensing the seventh harmonic wave can be placed in different optical paths. The seventh harmonic wave generated in the fourth-stage wavelength conversion unit 545 has an elliptical cross-sectional shape due to the Walk-off phenomenon. Therefore, in order to obtain good conversion efficiency in the fifth-stage wavelength conversion unit 548, it is preferable to perform beam shaping of the seventh harmonic wave. In this embodiment, since the condensing lenses 544 and 547 can be arranged in separate optical paths, for example, a pair of cylindrical lenses can be used as the lens 547, and beam shaping of 7th harmonic can be easily performed. Become. For this reason, it is possible to improve the overlap with the fundamental wave in the fifth-stage wavelength conversion unit (LBO crystal) 548, and to increase the conversion efficiency.
[0151]
Note that the configuration between the second-stage wavelength conversion unit 536 and the fourth-stage wavelength conversion unit 545 is not limited to that shown in FIG. 11D, and is generated from the wavelength conversion unit 536 and is generated by the dichroic mirror 537. The reflected third harmonic wave and the fourth harmonic wave obtained by wavelength-converting the second harmonic wave generated from the wavelength converter 536 and transmitted through the dichroic mirror 537 by the wavelength converter 539 are simultaneously incident on the wavelength converter 545. As long as the two optical path lengths between the wavelength conversion units 536 and 545 are equal, any configuration may be used. This is the same between the third-stage wavelength converter 539 and the fifth-stage wavelength converter 548.
[0152]
12 (a) to 12 (d) show the wavelength conversion efficiencies at each stage for each channel obtained as a result of the experiment for the wavelength converters shown in FIGS. 11 (a) to 11 (d), respectively. The average output of 8th harmonic wave (wavelength 193 nm) is shown. As described in the above embodiment, the output of the fundamental wave has a peak power of 20 kW, a pulse width of 1 ns, a pulse repetition frequency of 100 kHz, and an average output of 2 W at the output end of each channel. As a result, the average output of the 8th harmonic wave (wavelength 193 nm) per channel is 229 mW in the wavelength converter of FIG. 11A, 38.3 mW in the wavelength converter of FIG. 11B, and FIG. In the wavelength conversion part, 40.3 mW, and in the wavelength conversion part in FIG. 11D, it was 45.9 mW. Therefore, the average output from the bundle including all 128 channels is 29 W in FIG. 11A, 4.9 W in FIG. 11B, 5.2 W in FIG. 11C, and 5 in FIG. .9 W, and any wavelength converter can provide ultraviolet light having a wavelength of 193 nm, which is sufficient output as a light source for an exposure apparatus.
[0153]
Among these embodiments, the configuration of FIG. 11A is the simplest and has the highest conversion efficiency. For this reason, the number of channels of the fiber optical amplifier is reduced from that of the first and second embodiments (128 channels) described above, for example, a bundle is formed with the number of channels of 1/2 to 1/3, or in this embodiment Even if it is configured with a fundamental wave output lower than the fundamental wave output shown, it is possible to provide ultraviolet light with a wavelength of 193 nm, which is sufficient output as a light source for an exposure apparatus.
[0154]
The configuration of FIG. 11 (d) has the largest number of wavelength converters in five embodiments, and the conversion efficiency to 193 nm is comparable to the embodiments of FIGS. 11 (b) and 11 (c). Yes, almost the same ultraviolet light output can be obtained. 11B and 11C, since the BBO crystal is used to generate the eighth harmonic (193 nm), the BBO crystal absorbs the eighth harmonic (193 nm), and the BBO crystal is damaged. May be a problem. On the other hand, in the configuration of FIG. 11D, an LBO crystal can be used to generate an eighth harmonic (193 nm). As this LBO crystal, a good quality crystal is readily available as a commercial product at present, and the absorption coefficient of ultraviolet light at 193 nm is very small, and the optical damage of the crystal is not a problem, so it is advantageous in terms of durability. is there.
[0155]
In addition, an LBO crystal is used with an angular phase matching at a generation portion of an eighth harmonic (for example, a wavelength of 193 nm), but since the phase matching angle is large, the effective nonlinear optical constant (deff) is small. Therefore, it is preferable to provide a temperature control mechanism for the LBO crystal and use the LBO crystal at a high temperature. Thereby, the phase matching angle can be reduced, that is, the constant (deff) can be increased, and the eighth harmonic generation efficiency can be improved.
[0156]
Although the preferred embodiment has been described above for the configuration example of the wavelength conversion unit that generates the eighth harmonic from the fundamental wave, the wavelength conversion unit of the present invention is not limited to this embodiment. The same effect can be obtained with a configuration that generates an eighth harmonic wave of 1.544 μm, which is the fundamental wave. For example, fundamental wave (wavelength 1.544 μm) → 2nd harmonic (wavelength 772 nm) → 3rd harmonic (wavelength 515 nm) → 4th harmonic (wavelength 386 nm) → 6th harmonic (wavelength 257 nm) → 7th harmonic (wavelength 221 nm) The same effect can be achieved by wavelength conversion in the order of the 8th harmonic wave (wavelength 193 nm).
[0157]
At this time, as the nonlinear optical crystal used for the wavelength conversion, for example, an LBO crystal is used for the conversion crystal from the fundamental wave to the second harmonic wave, and an LBO crystal is used for the conversion crystal from the second harmonic wave to the fourth harmonic wave. BBO crystal is used for 6th harmonic generation by sum frequency generation of harmonics and 4th harmonics, BBO crystal is used for 7th harmonic generation by sum frequency generation of fundamental waves and 6th harmonics, and fundamental waves and 7th harmonics. Can be achieved by using an LBO crystal. Also in this case, since LBO crystal can be used for the generation of the eighth harmonic wave, it is advantageous in that crystal damage does not become a problem.
[0158]
By configuring the wavelength converter as shown in the fourth embodiment, the fundamental wave having a wavelength of 1.544 μm generated by the fundamental wave generator can be wavelength-converted into ultraviolet light having a wavelength of 193 nm.
[0159]
Next, FIG. 13 shows another configuration example of the wavelength converter according to the present invention as the fifth embodiment. This is because a fundamental wave having a wavelength of 1.57 μm emitted from the output end 601 of the fiber bundle (corresponding to 114 in the first embodiment, 29 in the second embodiment, etc.) is used as a harmonic of a tenth harmonic using a nonlinear optical crystal. Generated, F2A configuration example for generating ultraviolet light having a wavelength of 157 nm, which is the same wavelength as that of a laser, is shown. In addition, the fundamental wave output part in this embodiment can be used in any one of Embodiments 1 to 3 described so far, or in combination thereof.
[0160]
In the configuration example of the wavelength conversion unit shown in FIG. 13, the fundamental wave (wavelength 1.57 μm) → second harmonic (wavelength 785 nm) → fourth harmonic (wavelength 392.5 nm) → 8 harmonic (wavelength 196.25 nm) → 10 The case where wavelength conversion is performed in the order of the harmonic wave (wavelength 157 nm) is shown. In this embodiment, in each wavelength conversion stage from second harmonic generation to eighth harmonic generation, second harmonic generation of the wavelength incident on each wavelength conversion stage is performed.
[0161]
In this example, as the nonlinear optical crystal used for wavelength conversion, an LBO crystal is used for generation of a second harmonic wave from the fundamental wave in the wavelength conversion unit 602 by the second harmonic generation, and doubled in the wavelength conversion unit 604. An LBO crystal is used to generate a fourth harmonic wave from the wave by second harmonic generation. Furthermore, in the wavelength conversion unit 609, the Sr is used to generate the 8th harmonic from the 4th harmonic by the second harmonic generation.2Be2B2O7The (SBBO) crystal is used, and the SBBO crystal is used for generation of the 10th harmonic wave (wavelength 157 nm) by the sum frequency generation from the 2nd harmonic wave and the 8th harmonic wave in the wavelength converter 611.
[0162]
The second harmonic generated from the wavelength conversion unit 602 passes through the condenser lens 603 and enters the wavelength conversion unit 604. The wavelength conversion unit 604 generates the aforementioned fourth harmonic and the second harmonic that is not wavelength-converted. To do. Next, the double wave transmitted through the dichroic mirror 605 passes through the condenser lens 606, is reflected by the dichroic mirror 607, and enters the wavelength conversion unit 611. On the other hand, the fourth harmonic wave reflected by the dichroic mirror 605 passes through the condenser lens 608 and enters the wavelength conversion unit 609, and the eighth harmonic wave generated here passes through the condenser lens 610 and the dichroic mirror 607. Then, the light enters the wavelength converter 611. Further, the wavelength conversion unit 611 generates a 10th harmonic wave (wavelength 157 nm) from the 2nd harmonic wave and the 8th harmonic wave that are coaxially combined by the dichroic mirror 607 by sum frequency generation.
[0163]
By the way, in the present embodiment, the second harmonic wave and the fourth harmonic wave generated from the second-stage wavelength conversion unit 604 are branched by the dichroic mirror 605, and the second harmonic wave and the fourth harmonic wave transmitted therethrough are converted into wavelengths. Although the configuration is such that the eighth harmonic wave obtained by wavelength conversion by the conversion unit 609 is incident on the fourth-stage wavelength conversion unit 611 through different optical paths, four types are used without using the dichroic mirrors 605 and 607. The wavelength conversion units 602, 604, 609, and 611 may be disposed on the same optical axis.
[0164]
However, in this embodiment, the fourth harmonic wave generated in the second-stage wavelength conversion unit 604 has an elliptical cross-sectional shape due to the Walk-off phenomenon. For this reason, in order to obtain good conversion efficiency in the fourth-stage wavelength conversion unit 611 that receives this beam, the beam shape of the fourth harmonic wave that becomes the incident beam is shaped, and the overlap with the second harmonic wave is good. It is desirable to make it. In this embodiment, since the condensing lenses 606 and 608 can be arranged in separate optical paths, for example, a cylindrical lens can be used as the lens 608, and beam shaping of a fourth harmonic can be easily performed. . For this reason, it is possible to improve the overlap with the second harmonic wave in the wavelength conversion unit 611 in the fourth stage, and increase the conversion efficiency.
[0165]
By configuring the wavelength converter as shown in the fifth embodiment, the fundamental wave having a wavelength of 1.57 μm generated by the fundamental wave generator can be wavelength-converted into ultraviolet light having a wavelength of 157 nm.
[0166]
FIG. 14 shows another configuration example of the wavelength conversion unit according to the present invention as the sixth embodiment. For example, as shown in the second embodiment, this constitutes a fundamental wave generation unit and is emitted from the output end 701 of the fiber bundle (corresponding to 114 in the first embodiment, 29 in the second embodiment, etc.). A fundamental wave having a wavelength of 1.099 μm is generated by using a nonlinear optical crystal to generate a seventh harmonic wave, and F2A configuration example for generating ultraviolet light having a wavelength of 157 nm, which is the same wavelength as that of a laser, is shown. In addition, the fundamental wave output unit in the present embodiment can be used in any one of Embodiments 1 to 3 described so far or in combination.
[0167]
In the configuration example of the wavelength conversion unit shown in FIG. 14, the fundamental wave (wavelength 1.099 μm) → second harmonic (wavelength 549.5 nm) → third harmonic (wavelength 366.3 nm) → fourth harmonic (wavelength 274.8 nm). This shows the case where wavelength conversion is performed in the order of 7th harmonic wave (wavelength 157 nm). In the present embodiment, the second harmonic generation or sum frequency generation of incident light is performed at each wavelength conversion unit.
[0168]
In this example, as the nonlinear optical crystal used for wavelength conversion, an LBO crystal is used to generate a second harmonic from the fundamental wave in the wavelength conversion unit 702, and the fundamental wave in the wavelength conversion unit 705. An LBO crystal is used to generate a third harmonic wave by sum frequency generation from the second harmonic wave. Further, a BBO crystal is used for generation of the 4th harmonic wave from the 2nd harmonic wave by the 2nd harmonic generation in the wavelength conversion unit 710, and the 7th wave by the sum frequency generation from the 3rd harmonic wave and the 4th harmonic wave in the wavelength conversion unit 712 SBBO crystals are used to generate the waves.
[0169]
In addition, the fundamental wave and the second harmonic wave generated from the wavelength converter (LBO crystal) 702 are incident on the half-wave plate 703, the polarization direction of only the fundamental wave is rotated by 90 degrees, and the condenser lens 704 is Then, the light enters the wavelength conversion unit (LBO crystal) 705. The wavelength conversion unit 705 obtains a third harmonic wave by sum frequency generation from the fundamental wave and the second harmonic wave, and transmits the second harmonic wave without converting the wavelength. The 2nd harmonic and the 3rd harmonic generated from the wavelength conversion unit 705 are branched by the dichroic mirror 706, and the transmitted 3rd harmonic passes through the condenser lens 707 and is reflected by the dichroic mirror 708 to be wavelength converted. It enters the part 712. On the other hand, the second harmonic wave reflected by the dichroic mirror 706 passes through the condenser lens 709 and enters the wavelength conversion unit 710. The wavelength conversion unit 710 generates the second harmonic wave from the second harmonic wave by generating the second harmonic. appear. The fourth harmonic wave enters the wavelength conversion unit 712 through the condenser lens 711 and the dichroic mirror 708. The wavelength converter 712 generates a seventh harmonic wave from the third harmonic wave and the fourth harmonic wave by sum frequency generation.
[0170]
By the way, in this embodiment, the second harmonic wave and the third harmonic wave generated from the second-stage wavelength conversion unit 705 are branched by the dichroic mirror 706 so that the third harmonic wave and the second harmonic wave transmitted therethrough are converted into wavelengths. Although the fourth harmonic wave obtained by wavelength conversion by the conversion unit 710 is configured to enter the fourth-stage wavelength conversion unit 712 through different optical paths, the four harmonics are not used, but the dichroic mirrors 706 and 708 are not used. The wavelength conversion units 702, 705, 710, and 712 may be arranged on the same optical axis.
[0171]
However, in this embodiment, the fourth harmonic wave generated by the third-stage wavelength conversion unit 710 has an oval cross-sectional shape due to the Walk-off phenomenon. For this reason, in order to obtain good conversion efficiency in the fourth-stage wavelength conversion unit 712 using this beam as an input, the beam shape of the fourth harmonic wave as the incident beam is shaped and the overlap with the third harmonic wave is good. It is desirable to make it. In this embodiment, since the condensing lenses 707 and 711 can be arranged in separate optical paths, for example, a cylindrical lens can be used as the lens 711, and beam shaping of a quadruple wave can be easily performed. . For this reason, it is possible to improve the overlap with the third harmonic wave in the wavelength conversion unit 712 in the fourth stage and to improve the conversion efficiency.
[0172]
By configuring the wavelength converter as shown in the sixth embodiment, the fundamental wave having a wavelength of 1.099 μm generated by the fundamental wave generator can be wavelength-converted into ultraviolet light having a wavelength of 157 nm.
[0173]
Next, another configuration example of the optical amplifier and the wavelength conversion unit according to the present invention is shown as Embodiment 7 in FIG. In FIG. 15, the wavelength converter has a plurality of parallel optical path configurations (square arrangement of four optical paths in the example shown in the figure), and the output ends of a large number of fiber optical amplifiers 19 or 25 are combined into four bundles (output groups). An example is shown in which a condensing optical element and a wavelength conversion unit are provided corresponding to the four fiber bundle output ends, respectively, while being divided. In this example, since it is assumed that the optical amplifier shown in FIG. 1 or 2 is used, 32 fiber optical amplifiers 19 or 25 are bundled in one fiber bundle. The bundle can be formed using the EDFA output end or YDFA output end of the final stage as it is, but it is also possible to form a bundle at the output end by coupling an undoped fiber to the final stage EDFA or the like. It is.
[0174]
In addition, when a plurality of fiber bundles are formed by dividing the output end of the fiber optical amplifier 19 or 25 into a plurality, a laser beam among a large number (128 in this example) of the fiber optical amplifiers 19 or 25 is used. It is preferable that the output ends (fiber optical amplifiers) adjacent in the emission order are bundled in different fiber bundles. For example, if the 128 fiber optical amplifiers (19 or 25) are numbered No. 0 to 127 in the order in which the laser beams are emitted, No. 0, 4, 8,. The optical amplifiers are bundled as a first fiber bundle, and the fiber optical amplifiers No. 1, 5, 9,..., 125 are bundled as a second fiber bundle, Nos. 3, 6, 10,. No. 4, 7, 11,..., 127 are bundled as a fourth fiber bundle. Thereby, the time interval of the pulsed light incident on the wavelength converter (nonlinear optical crystal) arranged corresponding to each fiber bundle can be divided equally.
[0175]
As shown in FIG. 15, the fundamental wave emitted from the output end 841 of the optical amplifier (FIG. 1 or FIG. 2) composed of four fiber bundles is three-stage wavelength converters 842, 843, 844 in this example. In each case, the wavelength is converted. In this example, any of the wavelength converters (FIGS. 11, 13, and 14) described in the fourth to sixth embodiments can be used, but here, the wavelength converter shown in FIG. In other words, an example in which the fundamental wave (wavelength 1.544 μm) is converted into ultraviolet light having a wavelength of 193 nm by a three-stage nonlinear optical crystal (502 to 504) will be described. Accordingly, the fundamental wave having a wavelength of 1.544 μm (frequency ω) passes through the nonlinear optical crystals 842, 843, and 844 from the left to the right in the drawing, so that the second harmonic, the fourth harmonic, and the eighth harmonic ( Wavelength 193 nm) and wavelength conversion in sequence.
[0176]
In FIG. 15, the fundamental wave (wavelength 1.544 μm) emitted from the output end 841 of the optical amplifier composed of four fiber bundles passes through a condenser lens 845 provided corresponding to each of the four fiber bundles, and is converted in wavelength. Is incident on a portion (nonlinear optical crystal) 842, where the second harmonic generation generates a double wave of the frequency ω of the fundamental wave, that is, a double wave of the frequency 2ω (wavelength 772 nm). The double wave generated in the wavelength conversion unit 842 travels in the right direction, passes through the condenser lens 846, and enters the next wavelength conversion unit (nonlinear optical crystal) 843. Here, second harmonic generation is performed again, and a quadruple wave having a frequency 4ω (wavelength 386 nm) that is twice the frequency 2ω of the incident wave (double wave), that is, four times the fundamental wave, is generated. The fourth harmonic generated by the wavelength conversion unit 843 passes through the condenser lens 847 and enters the right wavelength conversion unit (nonlinear optical crystal) 844, where further second-order harmonic generation is performed, and the incident wave ( The fourth harmonic wave having a frequency 8ω (wavelength 193 nm) that is twice the frequency 4ω, that is, eight times the fundamental wave is generated.
[0177]
In this embodiment, as the nonlinear optical crystal used for the wavelength conversion, for example, an LBO crystal is used as the wavelength conversion crystal from the fundamental wave to the second harmonic wave in the wavelength conversion unit 842, and the second harmonic wave from the second wave in the wavelength conversion unit 843 is 4 A BBO crystal is used as the wavelength conversion crystal to the harmonic wave, and an SBBO crystal is used as the wavelength conversion crystal from the fourth harmonic wave to the eighth harmonic wave in the wavelength conversion unit 844.
[0178]
In this embodiment, the case of wavelength conversion in the order of fundamental wave (wavelength 1.544 μm) → 2nd harmonic (wavelength 772 nm) → 4th harmonic (wavelength 386 nm) → 8th harmonic (wavelength 193 nm) is shown. Corresponds to a parallel arrangement of a plurality of wavelength converters in FIG. Therefore, a configuration in which a plurality of the already described wavelength conversion unit configurations shown in FIGS. 11B to 11D are parallelized by the same method as in this embodiment can be configured in the same manner as in this embodiment. . Similarly, a plurality of wavelength conversion units shown in FIGS. 13 and 14 may be arranged in parallel.
[0179]
Next, with reference to FIG. 16, a second example of the present embodiment regarding the coupling portion between the optical amplifier and the wavelength conversion portion will be described. In this embodiment, the configuration of the wavelength conversion unit shown in FIG. 15 is a parallel configuration of five optical paths, and the output end of the fiber optical amplifier is divided into five in accordance with this to form five fiber bundles (output group). Is. In this division, the output end of the fiber optical amplifier is not equally divided into five, and the output end 850 of a part of the five fiber bundles (output group) (one fiber bundle in FIG. 15) is a single or a small number of fiber optical amplifiers. The other (four in FIG. 15) fiber bundle output ends 851 are configured by bundling a plurality of fiber optical amplifiers that are equally divided so that the number of fiber optical amplifiers is the same.
[0180]
These output lights are converted into ultraviolet light having a predetermined wavelength by wavelength converters 852 to 857 provided for each output group (fiber bundle), and supplied to, for example, an exposure apparatus. The three-stage wavelength converters 852 to 854 are each composed of the same number of wavelength converters as a plurality (five) of fiber bundles, and are arranged on the incident side of the wavelength converters 852 to 854, respectively. 855 to 857 are each composed of the same number of condensing lenses as the fiber bundle.
[0181]
Here, when the ultraviolet laser apparatus according to the present example is applied to an exposure apparatus (FIG. 19 or FIG. 20), the fundamental waves generated from the output ends 851 of the four fiber bundles are converted into ultraviolet rays by the wavelength converters (852 to 857). The wavelength is converted into light, and this ultraviolet light is irradiated as illumination light for exposure to the reticle through the illumination optical system. That is, the four fiber bundles are used as exposure light sources. On the other hand, the light output generated from the output end 850 of the fiber bundle composed of a single or a small number of fiber optical amplifiers and wavelength-converted to ultraviolet light is guided to an alignment system or a monitor system provided in the exposure apparatus. . That is, one fiber bundle (850) is used as an alignment light source. The ultraviolet light generated from the fiber bundle output end 850 and wavelength-converted is transmitted to the alignment system or the like by, for example, an undoped fiber coupled to the third-stage wavelength conversion unit 854.
[0182]
In FIG. 16, the fundamental waves generated from the output ends 851 of the four fiber bundles are converted into ultraviolet light and guided to the illumination optical system. However, even if the number of fiber bundles is one, there are a plurality of fiber bundles. There may be. Moreover, although the number of fiber bundles used for alignment and monitoring is one, the number may be plural, and the light emitted from the plural fiber bundles may be guided to different optical systems.
[0183]
In this example, the light source for exposure and the light source used for alignment or monitoring are the same, and the illumination light for exposure and the illumination light for alignment branch the output light of the same single wavelength oscillation laser, Amplified and wavelength-converted, and ultraviolet light having the same wavelength can be used. Therefore, alignment or various types of monitors can be performed through an optical system such as an illumination optical system or a projection optical system of the exposure apparatus.
[0184]
Therefore, the design of the alignment optical system and the like is facilitated, and the configuration can be greatly simplified, or it is not necessary to provide it separately, and the exposure apparatus can be easily constructed. Note that exposure illumination light irradiation and alignment illumination light irradiation may not be performed at the same time. For example, a shutter is provided in the illumination light path, or a channel to which pulse light is distributed by the TDM 23 is selected. It is preferable to control the irradiation timing independently.
[0185]
Furthermore, in order to measure the focal position, projection magnification, aberration, telecentricity, etc. of the projection optical system, the aforementioned ultraviolet light for alignment and monitor can be used, and the measurement accuracy can be improved. It becomes. Even when focusing is performed between the imaging surface of the projection optical system and the photosensitive substrate (wafer), the position of the projection optical system can be adjusted by using light having the same wavelength as the exposure wavelength and performing the focusing through the projection optical system. Improvement of alignment accuracy can be achieved at the same time.
[0186]
By the way, according to the configuration of the present embodiment as described above (FIGS. 15 and 16), by dividing the fiber output of the fiber optical amplifier into a plurality of groups and dividing the input light to the nonlinear optical crystal, The incident power to the nonlinear optical crystal can be effectively reduced. Therefore, it is possible to solve problems such as a decrease in output and optical damage due to light absorption and thermal effects in the nonlinear optical crystal. The number of divisions (number of fiber bundles) at the output end of the fiber optical amplifier is not limited to four or five, and may be two or more.
[0187]
Next, a coupling part between the optical amplifier and the wavelength conversion part in the ultraviolet light generation apparatus according to the present invention will be described as an eighth embodiment. Here, the output end of the optical amplifier is formed by bundling the output ends of the fiber optical amplifier as described in the first and second embodiments. At this time, since the clad diameter of each fiber optical amplifier is about 125 μm, the diameter of the bundle at the output end where 128 wires are bundled can be about 2 mm or less.
[0188]
Here, the number and shape of the bundles can be determined according to the configuration of the wavelength conversion unit and the shape of the required light source. For example, in Embodiments 1 and 2, the case of a bundle having one circular cross section is used. (114, 29, 501, 601, 701, etc.). At this time, when the output end of the fiber optical amplifier is formed on a flat surface as shown in FIG. 9 or FIG. 10, for example, the output end of the fiber bundle and the first-stage wavelength conversion unit (nonlinear optical unit) A condensing lens (for example, a condensing lens 845 in FIG. 15) is provided between the optical fiber and the light generated from the fiber bundle to be condensed on the nonlinear optical crystal, thereby effectively using the output light of the fiber optical amplifier. It can be made incident.
[0189]
FIG. 17 shows another embodiment of the connecting portion according to the present invention. In FIG. 17, a fundamental wave is emitted from a fiber bundle output end 901 in which the emission ends of a plurality of fiber optical amplifiers are bundled. A lens 902 is arranged for each fiber optical amplifier, and the fundamental wave is one-stage by this lens 902. The light is condensed on a wavelength conversion unit (nonlinear optical crystal) 903 (for example, 502, 507, 518, and 533 in the fourth embodiment (FIG. 11)). In this embodiment, the diameter of the entire fiber bundle is set to 2 mm, the mode diameter of each fiber optical amplifier constituting the fiber bundle is set to 20 μm, and the light is condensed on the first-stage wavelength conversion unit 903 by an individual lens 902. . A pair of lenses 904 and 905 are arranged between the first wavelength conversion unit 903 and the second wavelength conversion unit 906, and light emitted from the wavelength conversion unit 903 is the wavelength conversion unit. The light is incident on the wavelength conversion unit 906 under the same conditions as those when the light is incident on 903.
[0190]
In such an embodiment, the magnification of the condensing lens 902 is set so that each beam diameter in the nonlinear optical crystal has a desirable size (for example, about 200 μm in this embodiment) to obtain an optimum harmonic conversion efficiency. (For example, about 10 times in this embodiment) is selected. Since each fiber output is collected by an individual lens 902, the size (cross-sectional area) occupied by the total luminous flux in the nonlinear crystal collected from all the fibers in the fiber bundle is the magnification of the condenser lens. Regardless of the diameter of the fiber bundle itself. Accordingly, since the necessary size (cross section) of the wavelength conversion crystal is about the diameter of the fiber bundle, a small wavelength conversion crystal of about several millimeters square can be used, which is economical. Instead of providing the lens 902, the fiber output end face may be directly processed into a spherical or aspherical lens shape to have the function of the condensing optical element.
[0191]
Next, another embodiment of the fiber output end in the coupling portion between the optical amplifier and the wavelength converting portion is shown in FIG. In the embodiment shown in FIGS. 18A and 18C, the condenser lens 902 shown in FIG. 17 is formed at the output end of each fiber 452, and this is bundled for each output group. An example is shown. In this example, a condensing optical element 453 is formed at the output end of each fiber 452. This is because the window member 433 provided at the fiber output end described with reference to FIG. This is processed into a shape and has the function of a condensing optical element. With this configuration, it is possible to provide the same light collecting function as that in FIG. 17 and to suppress damage to the fiber output end face.
[0192]
FIG. 18B shows an embodiment in which a condensing optical element 463 is provided for each output group in which a plurality of fibers 462 are bundled. In this example, for example, the condenser lens 845 shown in FIG. 15 is formed at the output end of the fiber bundle, and the window member 443 already described with reference to FIG. And a function of a condensing optical element.
[0193]
In addition, instead of processing the fiber end or the output surface of the window member into a spherical or aspherical lens shape, the fiber end or window can be formed using an ion exchange method such as a thermal ion exchange method or an electrolytic ion exchange method. When using a glass window as a member, the glass composition at the edge of the glass window is partially changed by ion exchange, thereby providing a condensing optical function by having a refractive index distribution equivalent to that of the lens. Also good. Further, in FIGS. 18A to 18C, the diameters of the cores 451 and 461 in the fiber are not enlarged, but this enlargement of the core diameter can be used in combination.
[0194]
Condensation to the wavelength converters (nonlinear optical crystals) in the second and subsequent stages can be output by individual lenses for each fiber or bundle as in the first stage. The embodiment describes a case where all the outputs of the fiber bundle are collected by a common set or a single lens. By using a common lens in this way, the number of lenses to be used is reduced and lens alignment is facilitated, which is economical.
[0195]
Since the output end of the wavelength conversion crystal (nonlinear optical crystal) is located in the Rayleigh length of the beam condensed by the wavelength conversion crystal, the emitted beam from the wavelength conversion crystal is almost at the output end of the wavelength conversion crystal. It becomes parallel light. In this embodiment (FIG. 17), the case where the emitted beam is condensed on the second-stage wavelength conversion crystal 906 by the pair of lenses 904 and 905 is shown. Here, the focal length of the lens pair can be set to a magnification that provides a beam diameter desirable for obtaining optimum conversion efficiency in the second-stage wavelength conversion unit 906. In addition, the condensing optical element (for example, 505 and 506 shown in FIG. 11A) that condenses the fundamental wave or its harmonics on the wavelength conversion crystal shown in FIGS. 11, 13, and 14 is one lens. However, it is also possible to configure with one set of lenses as in the present embodiment.
[0196]
Thus, the fundamental wave generator (laser light generator and optical amplifier) is configured by the configuration shown in the first to third embodiments, the wavelength converter is configured by the configuration shown in the fourth to seventh embodiments, and By configuring the coupling portion between the optical amplifier and the wavelength conversion portion with the configuration shown in the eighth embodiment, it is possible to obtain an ultraviolet light output with an output wavelength of 157 nm, 193 nm, or the like. These are F2It is the same wavelength as the oscillation wavelength of the laser and ArF excimer laser.
[0197]
Moreover, the ultraviolet output light obtained in this way is, for example, pulsed light that is emitted at intervals of about 3 ns when configured using the fundamental wave generator according to the first embodiment, and thus overlaps with each other in time. However, the individual output lights do not interfere with each other even though they are ultraviolet light having a single wavelength and a very narrow band. In addition, for example, when configured using the fundamental wave generation unit according to the second embodiment, the ultraviolet output light obtained is pulsed light that is emitted at equal intervals of about 78 ns, so that they do not overlap in time. Although it is a single-wavelength ultraviolet light with a very narrow band, the individual output lights do not interfere with each other.
[0198]
Further, for example, in a solid-state ultraviolet laser array as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-334803, a wavelength converter is required for each of the parallel fundamental wave lasers (for each individual laser element). However, according to the present embodiment, since the fiber bundle diameter of the fundamental wave output is 2 mm or less even when all channels are combined, it is possible to perform wavelength conversion of all channels with only one set of wavelength conversion units. In addition, since the output end is a flexible fiber, it becomes possible to separately arrange the wavelength conversion unit and other components such as a single wavelength oscillation laser, splitter, and time-division optical branching means. The degree of freedom is extremely high. Therefore, the present invention can provide an ultraviolet laser apparatus that is inexpensive, compact, and has a single wavelength but low spatial coherence.
[0199]
Next, a ninth embodiment of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention will be described. The ultraviolet laser apparatus according to this embodiment is characterized in that the ultraviolet laser apparatus as already described in the first to eighth embodiments is a light source for an exposure apparatus.
[0200]
Hereinafter, an embodiment of an exposure apparatus using the ultraviolet laser device according to the present invention will be described with reference to FIG. The exposure apparatus used in the photolithography process is in principle the same as photolithography, and a device pattern precisely drawn on a photomask (reticle) is applied to a semiconductor wafer or glass substrate coated with a photoresist. Optically project and transfer onto. The ultraviolet laser device 1261 according to the present invention is provided integrally with the entire exposure apparatus including the illumination optical system 1262, the projection optical system 1265, and the like. At this time, the ultraviolet laser device 1261 may be fixed to a gantry that supports the illumination optical system 1262, or the ultraviolet laser device 1261 may be singly fixed to the gantry. However, it is preferable that the power source connected to the ultraviolet laser device 1261 is separately provided.
[0201]
Further, the ultraviolet laser device 1261 is divided into a first part having a laser light generation part and an optical amplifier, and a second part having a wavelength conversion part, and the second part is fixed to a frame integrally with the illumination optical system 1262, and the first part is fixed. One part may be fixed to a gantry different from the gantry. Further, all of the ultraviolet laser device 1261 may be disposed in a chamber that accommodates the exposure apparatus main body, or a part of the ultraviolet laser device 1261, for example, a wavelength converter is disposed in the chamber, and the remaining portion is the chamber. You may make it arrange | position on the outer side integrally. Further, the control system of the ultraviolet laser device 1261 may be housed in a control rack that is provided separately from the chamber, or a display unit (display), switches, and the like are disposed outside the chamber integrally with the chamber, and the rest You may arrange | position in a chamber.
[0202]
The ultraviolet light having a narrow band and low spatial coherence according to the present invention is enlarged and projected by the illumination optical system 1262 so that the illuminance distribution on the required projection surface becomes uniform, and the circuit pattern of the integrated circuit is precise. The quartz mask (quartz reticle) 1263 depicted in FIG. The circuit pattern of the reticle 1263 is reduced by a projection optical system 1265 at a predetermined reduction magnification and projected onto a semiconductor wafer (for example, a silicon wafer) 1266 coated with a photoresist, and the circuit pattern is imaged and transferred onto the wafer. .
[0203]
The illumination optical system 1262 is disposed in a plane substantially conjugate with the pattern surface of the reticle 1263, and a field stop that defines an illumination area on the reticle 1263. The illumination optical system 1262 substantially Fourier transforms with the pattern surface of the reticle 1263 in the illumination optical system 1262. The aperture stop which prescribes | regulates the light quantity distribution of the ultraviolet light on the predetermined surface which becomes the relationship of this, and the condenser lens etc. which irradiate the reticle 1263 with the ultraviolet light which inject | emits an aperture stop. At this time, in order to change the light amount distribution of the ultraviolet light on the predetermined surface, a plurality of aperture stops having at least one of a shape and a size different from each other are provided in the turret, and a plurality of selected apertures are selected according to the pattern of the reticle 1263. One of the aperture stops may be arranged in the optical path of the illumination optical system 1262.
[0204]
Further, an optical integrator (homogenizer) may be disposed between the wavelength converter of the ultraviolet laser device 1261 and the field stop. When a fly-eye lens is used, the focal plane on the emission side is substantially Fourier-modulated with the pattern surface of the reticle 1263. When the rod integrator is used, the emission surface may be arranged so as to be substantially conjugate with the pattern surface of the reticle 1263 when the rod integrator is used.
[0205]
As the exposure start shutter of the exposure apparatus, the electro-optic modulation element or acousto-optic modulation element (12, 22, 32) already described in the first to third embodiments can be used. The electro-optic modulation element or acousto-optic modulation element is switched from an off state, that is, a pulse is not generated (internal loss is large) to an on state, that is, a pulse is generated (internal pulse has a small internal loss). Start exposure.
[0206]
In the exposure apparatus having the ultraviolet laser device 1261, continuous light may be output from the single wavelength oscillation laser constituting the ultraviolet laser device 1261, or the single wavelength oscillation laser may be pulsed. . In particular, in the latter case, the output of ultraviolet light (pulse light) irradiated to the reticle 1263 and the semiconductor wafer 1266 is obtained by using the current control of the single wavelength oscillation laser in combination with the control of the electro-optic modulation element or the acousto-optic modulation element. You may make it control an interval, the start of output, its stop, etc.
[0207]
In the exposure apparatus having the ultraviolet laser device 1261 according to the present embodiment, it is not necessary to control the integrated light amount of the ultraviolet light on the wafer 1266 using a mechanical shutter. In order to prevent the ultraviolet light from reaching the wafer 1266 and exposing the photoresist when the ultraviolet light is oscillated to stabilize the power, the center wavelength, the wavelength width, etc., the ultraviolet laser device 1261 and the wafer A shutter may be disposed in the illumination optical path between the wafer 1266 and the stage 1267 may be driven to retract the wafer 1266 from the ultraviolet light irradiation region.
[0208]
The semiconductor wafer 1266 is placed on a stage 1267 having a driving mechanism 1269, and the circuit pattern is transferred to different positions on the semiconductor wafer by moving the stage each time one exposure is completed. Such a stage drive and exposure method is called a step-and-repeat method. In addition to the stage driving and exposure methods, there is a step-and-scan method in which a driving mechanism is also provided on the support member 1264 that supports the reticle 1263, and the reticle and the semiconductor wafer are moved synchronously to perform scanning exposure. The ultraviolet laser device of the present invention can also be applied to this method.
[0209]
Note that in an exposure apparatus that performs exposure with ultraviolet light, such as an exposure apparatus that uses an ultraviolet laser apparatus according to the present invention, the illumination optical system 1262 and the projection optical system 1265 generally have an all-quartz lens configuration without color correction. In particular, when the wavelength of ultraviolet light is 200 nm or less, at least one of the plurality of refractive optical elements constituting the projection optical system 1265 may be made of fluorite, or at least one reflective optical element. A catadioptric optical system in which a (concave mirror, mirror, etc.) and a refractive optical element are combined may be used.
[0210]
As described above, the exposure apparatus using the ultraviolet laser device according to the present invention is smaller than other conventional systems (exposure apparatuses using excimer lasers or solid lasers), and each element is fiber-connected. Therefore, the degree of freedom of arrangement of each unit constituting the apparatus is high. FIG. 20 shows another embodiment that takes advantage of the characteristics of the ultraviolet laser device according to the present invention.
[0211]
This example includes the laser beam generator (single wavelength laser, optical branching means, etc.) and the optical amplifier components of the laser apparatus described in the first to third embodiments, and the wavelength converter described in the fourth to seventh embodiments. Are arranged separately to constitute an exposure apparatus. That is, the wavelength conversion unit 1272 is placed on the exposure apparatus main body, while the other part (laser light generation unit, optical amplifier, etc.) 1271 is separately provided outside the exposure apparatus main body. Are connected by a connecting fiber 1273 to constitute an ultraviolet laser device. Here, the connection fiber 1273 may be a fiber itself of the fiber optical amplifier (for example, the fiber bundle 114 in the first embodiment), an undoped fiber, or a combination thereof. The exposure apparatus main body other than the ultraviolet laser apparatus can be constructed using the same apparatus as that shown in FIG.
[0212]
By adopting such a configuration, it is possible to dispose main components that generate heat, such as a fiber laser amplifier excitation semiconductor laser, a semiconductor laser drive power supply, and a temperature controller, outside the exposure apparatus main body. Accordingly, it is possible to suppress problems caused by heat such that the alignment of the optical axis is misaligned due to the influence of heat generated from the ultraviolet laser device, which is the exposure light source of the exposure apparatus body.
[0213]
By the way, as shown in FIG. 20, the reticle stage 1264 holding the reticle 1263 is configured to be movable in the X direction and the Y direction by the drive mechanism 1268 and to be slightly rotatable. Further, a reference mark plate FM is provided on the wafer stage 1267, and this reference mark plate is used for baseline measurement to be described later. Further, in this example, an alignment system 1280 for detecting an alignment mark on the reticle 1263 and an off-axis alignment system 1281 provided separately from the projection optical system 1265 are provided.
[0214]
The alignment system 1280 irradiates the illumination light for exposure or illumination light in the same wavelength range to the alignment mark on the reticle 1263 and the reference mark on the reference mark plate FM through the projection optical system 1265, and is generated from both marks. Light is received by an image sensor (CCD) to detect its positional deviation, and is used for alignment of the reticle 1263, baseline measurement of the alignment system 1281, and the like.
[0215]
The off-axis alignment system 1281 irradiates the alignment mark on the semiconductor wafer 1266 with white light (broadband light) having a wavelength width of about 550 to 750 nm, for example, and an image of the index mark and the alignment mark provided therein. These images are formed on an image pickup device (CCD) to detect the positional deviation between both marks.
[0216]
By detecting the reference marks on the reference mark plate FM with the alignment systems 1280 and 1281 respectively, the baseline amount of the alignment system 1281 can be measured from the detection results. Although the baseline measurement is performed before the start of exposure of the semiconductor wafer, the baseline measurement may be performed every time the semiconductor wafer is replaced, or the base measurement may be performed once for the exposure operation of a plurality of semiconductor wafers. Line measurement may be performed. However, baseline measurement is always performed after reticle replacement.
[0217]
In this example, the wavelength converter shown in FIG. 16 is used as the wavelength converter connected to the ultraviolet laser device (fundamental wave generator) 1271. That is, the wavelength converter 1272 that receives the fundamental wave generated from the four fiber bundle output ends 851 and the wavelength converter 1279 that receives the fundamental wave generated from the fiber bundle output end 850 are separated. The wavelength conversion unit 1279 is integrally provided on the gantry holding the alignment optical system 1262, and the wavelength conversion unit 1279 is integrally provided on the gantry holding the alignment system 1280. At this time, the connection fiber 1278 is coupled to the fiber bundle output end 850 to guide the fundamental wave to the wavelength converter 1279. Thereby, it is not necessary to prepare a separate light source for the alignment system 1280, and the reference mark can be detected using illumination light having the same wavelength as that of the exposure illumination light, thereby enabling highly accurate mark detection.
[0218]
In this example, the illumination light having the same wavelength as the exposure illumination light is guided to the alignment system 1280. However, a wavelength longer than the wavelength of the exposure illumination light (for example, 193 nm) is guided to the alignment system 1280 or 1281. You may do it. That is, among the three-stage wavelength conversion units shown in FIG. 16, for example, the pulsed light emitted from the second-stage wavelength conversion unit 853 may be guided to the alignment system using the connection fiber. In addition, a part of the pulsed light emitted from the first-stage wavelength conversion unit 852 is branched, and the remaining pulsed light is wavelength-converted by the second-stage wavelength conversion unit 853 so that two wavelength conversion units 852 are provided. You may make it guide | induced to the alignment system the two pulsed light in which a wavelength mutually radiate | emits from 853.
[0219]
Further, the exposure apparatus shown in FIG. 20 includes a temperature controller provided on a heat sink on which a single wavelength oscillation laser in the fundamental wave generator 1271, for example, a DFB semiconductor laser (11 in FIG. 1) is placed. A wavelength control device 1274 is provided for controlling the oscillation wavelength of the DFB semiconductor laser, that is, the wavelength of the ultraviolet laser light (exposure illumination light) irradiated to the reticle 1263 by adjusting the temperature using a Peltier element (for example, a Peltier element). It has been. The wavelength control device 1274 controls the temperature of the DFB semiconductor laser in units of 0.001 ° C., thereby stabilizing the center wavelength of the ultraviolet laser light and the optical characteristics of the projection optical system 1265 (aberration, focal position, projection magnification, etc.) ). As a result, the wavelength stability of the ultraviolet laser light during the exposure operation of the semiconductor wafer can be improved, and the optical characteristics of the projection optical system 1265 that fluctuate due to irradiation of the ultraviolet laser light, changes in atmospheric pressure, and the like. Can be adjusted easily.
[0220]
Further, the exposure apparatus shown in FIG. 20 includes an optical modulation element (12 in FIG. 1) that converts continuous light generated from a single wavelength oscillation laser (such as a DFB semiconductor laser) in the fundamental wave generator 1271 into pulsed light. The number of pulses required to expose the photoresist during circuit pattern transfer is calculated according to the pulse controller 1275 that applies a drive voltage pulse to the semiconductor wafer 1266 and the sensitivity characteristics of the photoresist applied to the semiconductor wafer 1266. In addition, an exposure control unit 1276 that controls the oscillation timing and magnitude of the control pulse output from the pulse control unit 1275 according to the number of pulses, and a control device 1277 that controls the entire exposure apparatus are provided. It has been.
[0221]
Here, the pulse control unit 1275 controls the current applied to the single wavelength oscillation laser (11 or the like) in the fundamental wave generation unit 1271 or the voltage applied to the optical modulation element 12 to pulse the single wavelength oscillation laser. It can also be output. That is, the single wavelength oscillation laser can switch between continuous light and pulsed light and output by controlling output of current or voltage by the pulse controller 1275. In this embodiment, the pulse controller 1275 causes the single wavelength laser to oscillate, and only a part of the oscillated pulse light (pulse width is about 10 to 20 ns) is cut out by the above-described control of the light modulation element. That is, it is modulated into pulse light having a pulse width of 1 ns. This makes it possible to easily generate pulsed light with a high extinction ratio as compared with the case where continuous light is converted into pulsed light using only the light modulation element, and the exposure control unit 1276 provides a pulse output interval. And the start and stop of pulse output can be controlled more easily.
[0222]
The pulse controller 1275 not only switches between pulse oscillation and continuous oscillation of a single wavelength laser, but also controls the pulse output interval and pulse width, and compensates for fluctuations in the output of pulsed light. Then, at least one of the oscillation control of the single wavelength oscillation laser and the control of the magnitude of the voltage pulse applied to the light modulation element is performed. As a result, it is possible to compensate for fluctuations in the output of pulsed light that occurs when the pulse light oscillation interval is changed or when pulsed light oscillation is resumed. That is, the output (intensity) of each pulse can always be maintained at a substantially constant value.
[0223]
Further, the pulse control unit 1275 adjusts at least one gain of a plurality of fiber optical amplifiers (13, 18, 19 and the like in FIG. 1) arranged in series in the fundamental wave generation unit 1271, and only this gain adjustment is performed. Alternatively, it is possible to control the intensity of the pulsed light on the semiconductor wafer by using together with the control of the light modulation element described above. Note that it is also possible to similarly control at least one gain of a fiber optical amplifier provided in parallel corresponding to a plurality of channels divided in parallel by the optical branching device.
[0224]
In addition, the exposure control unit 1276 has a fundamental wave output from the fundamental wave generation unit 1271, an ultraviolet light output from the wavelength conversion unit 1272, or a nonlinear optical in the first stage or the second stage in the wavelength conversion unit 1272, for example. While detecting the pulsed light output from the crystal, the pulse control unit 1275 is controlled based on the detected value (including the intensity, wavelength, wavelength width, etc.), and the oscillation interval of the pulsed light and the start of oscillation are described above. And stop, and adjust the intensity of the pulsed light. Further, the detected value is also input to the wavelength control device 1274, and the wavelength control device 1274 controls the temperature of the single wavelength oscillation laser based on the detected value, and the center wavelength of the illumination light for exposure (ultraviolet laser light) The wavelength width is adjusted.
[0225]
The controller 1277 is an exposure controller 1276 that receives information on the sensitivity characteristics of the photoresist input from a reader (not shown) of an identification symbol (bar code or the like) attached to a semiconductor wafer or a cassette holding the semiconductor wafer. The exposure control unit 1276 calculates the number of exposure pulses necessary for pattern transfer based on the input information. Further, the exposure control unit 1276 controls the trigger pulse control unit 1275 based on the number of exposure pulses and the intensity of the pulsed light determined in accordance with the number of exposure pulses, and the oscillation timing and magnitude of the control pulse applied to the light modulation element. Adjust the height. This controls the start and end of exposure and the intensity of the pulsed light irradiated on the semiconductor wafer 1266, and the integrated light quantity given to the photoresist by the irradiation of a plurality of pulsed light becomes an appropriate exposure amount according to the sensitivity. Be controlled.
[0226]
The exposure control unit 1276 sends a command to the pulse control unit 1275 to control the current of the single wavelength oscillation laser so that the exposure (pulse output) can be performed only by the current control or in combination with the control of the light modulation element. ) Can be controlled at the start and end.
[0227]
Here, when the laser device of FIG. 1 or FIG. 2 is used as the fundamental wave generating unit 1271 in this example, one pulsed light cut out by the light modulation element is divided into a plurality (128). In this example, the divided 128 pieces of pulsed light may be used as one pulse, and the exposure amount may be controlled in units of pulses. Alternatively, the divided 128 pieces of pulsed light may be used as one pulse, respectively. Control may be performed. In the case of performing the latter exposure amount control, instead of controlling the light modulation element by the pulse control unit 1275, the gain of the fiber optical amplifier in the fundamental wave generation unit 1271 is adjusted, and the pulse on the semiconductor wafer is adjusted. The intensity of light may be controlled, or these two controls may be used in combination.
[0228]
In addition, the exposure apparatus shown in FIG. 20 can perform exposure of a semiconductor wafer by selectively switching between the step-and-repeat method and the step-and-scan method. In the step-and-repeat method, a field stop (reticle blind) in the illumination optical system 1262 is driven so that the entire circuit pattern on the reticle 1263 is irradiated with the illumination light for exposure, and the size of the opening thereof. Adjust. On the other hand, in the step-and-scan method, the irradiation area of the exposure illumination light is limited to a rectangular slit extending along the direction orthogonal to the scanning direction of the reticle 1263 within the circular projection field of the projection optical system 1265. Adjust the aperture of the field stop. Accordingly, in the step-and-scan method, only a part of the circuit pattern on the reticle 1263 is illuminated, and therefore the reticle 1263 is exposed to the exposure illumination light in order to scan and expose the entire circuit pattern on the semiconductor wafer. The semiconductor wafer 1266 is moved relative to the exposure illumination light at a speed ratio corresponding to the projection magnification of the projection optical system 1265 in synchronization with the relative movement.
[0229]
By the way, in the exposure amount control at the time of the above-described scanning exposure, at least one of the pulse repetition frequency f defined by the light modulation element and the delay time between channels defined by the TDM 23 shown in FIG. During the scanning exposure, a plurality of pulse lights are oscillated from the fundamental wave generator 1271 at equal time intervals. Further, depending on the sensitivity characteristics of the photoresist, the intensity of the pulsed light on the semiconductor wafer, the scanning speed of the semiconductor wafer, the oscillation interval (frequency) of the pulsed light, and the pulsed light related to the scanning direction of the semiconductor wafer (that is, its irradiation area) ) Is adjusted, and the integrated light quantity of the plurality of pulse lights irradiated while each point on the semiconductor wafer crosses the irradiation area is controlled to an appropriate exposure quantity. At this time, in consideration of the throughput, other control parameters such as the intensity of the pulsed light, the oscillation frequency, and the irradiation region are used in the exposure amount control so that the scanning speed of the semiconductor wafer is substantially maintained at the maximum speed of the wafer stage 1267. It is preferable to adjust at least one of the widths.
[0230]
Further, when scanning exposure is performed using the laser apparatus shown in FIG. 1 or FIG. 2, in the exposure amount control, the 128 pulsed lights divided as described above are each oscillated at equal time intervals as one pulse. preferable. However, the 128 pulsed light oscillation intervals are adjusted according to the scanning speed of the semiconductor wafer, and the 128 pulsed light can be regarded as one pulse, that is, 128 pulsed light is irradiated. If the distance that the semiconductor wafer moves during this period does not cause a reduction in exposure control accuracy, the exposure control may be performed with the 128 pulsed light beams as one pulse.
[0231]
In the description of each embodiment of the present invention described above, an ArF excimer laser or F2The configuration example of the ultraviolet laser device that outputs the same output wavelengths 193 nm and 157 nm as the laser has been described, but the present invention is not limited to the laser device of this wavelength, and the laser light generation unit, the optical amplifier, the wavelength conversion It is also possible to provide an ultraviolet laser apparatus that generates the same output wavelength 248 nm as that of, for example, a KrF excimer laser by appropriately selecting the configuration contents of the unit.
[0232]
For example, an yttrium (Yb) -doped fiber laser or semiconductor laser that oscillates at 992 nm as a single wavelength oscillation laser in a laser light generation unit, an yttrium-doped fiber optical amplifier as a fiber optical amplifier, and fiber light as a wavelength conversion unit The output of the amplifier is quadrupled so that the LBO crystal is used to generate the second harmonic (wavelength 496 nm), and the output is generated using the BBO crystal to generate the fourth harmonic (wavelength 248 nm) ultraviolet light. By configuring the harmonic generation optical path, it is possible to provide an ultraviolet laser device that generates the same 248 nm ultraviolet light as the KrF excimer laser.
[0233]
In addition, it is preferable that the surface of the fiber (including the fiber optical amplifier) used in the above-described embodiment is coated with Teflon. The coating with Teflon is desirably performed on all the fibers, but in particular, the fibers arranged in the chamber for housing the exposure apparatus main body are coated with Teflon. This is because foreign matter (including fibers) generated from the fiber can become a substance that contaminates the exposure apparatus, and constitutes an illumination optical system, a projection optical system, an alignment optical system, and the like caused by the contaminant. To prevent fogging of the optical element, fluctuation of transmittance (reflectance) and optical characteristics (including aberration) of these optical systems, fluctuation of illumination on the reticle or semiconductor wafer, and fluctuation of its distribution, etc. It becomes possible. Further, instead of coating with Teflon, the fibers arranged in the chamber may be collectively stored in a stainless steel casing.
[0234]
The step of designing the function and performance of the semiconductor device, the step of manufacturing a reticle based on the design step, the step of manufacturing a wafer from a silicon material, and transferring the pattern of the reticle onto the wafer using the exposure apparatus described above. It is manufactured through a step, a device assembly step (including a dicing process, a bonding process, and a packaging process) and an inspection step. The above-described exposure apparatus can be used not only for the manufacture of semiconductor elements but also for the manufacture of devices such as liquid crystal displays, imaging elements (for example, CCDs), thin film magnetic heads, or reticles.
[0235]
Furthermore, an illumination optical system composed of a plurality of optical elements and a projection optical system are incorporated into the exposure apparatus body for optical adjustment, and a reticle stage or wafer stage comprising a large number of mechanical parts is attached to the exposure apparatus body. The exposure apparatus of the present embodiment can be manufactured by connecting wirings and pipes and further performing general adjustment (electrical adjustment, operation check, etc.).
[0236]
In the above-described exposure apparatus, the ultraviolet laser apparatus 1261 is attached to the exposure apparatus main body, or a part of the ultraviolet laser apparatus 1261 (laser light generator, optical amplifier, etc.) arranged outside the exposure apparatus main body and the main body is arranged. The wavelength conversion unit is connected with a fiber, or the optical axis alignment between the ultraviolet laser device 1261 (wavelength conversion unit) and the illumination optical system 1262 is performed. The exposure apparatus is preferably manufactured in a clean room in which the temperature, cleanliness, etc. are controlled.
[0237]
In the above ninth embodiment, the laser apparatus according to the present invention is applied to the exposure apparatus. For example, a laser used for cutting a part of a circuit pattern (such as a fuse) formed on a wafer. The laser device according to the present invention can also be used for a repair device or the like. The laser apparatus according to the present invention can also be applied to an inspection apparatus using visible light or infrared light. In this case, it is not necessary to incorporate the wavelength conversion unit described in the fourth to seventh embodiments into the laser device. That is, the present invention is effective not only for an ultraviolet laser device but also for a laser device that generates a fundamental wave in the visible region or the infrared region and does not have a wavelength conversion unit.
[0238]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, an ultraviolet laser that generates ultraviolet light that is compact, has a high degree of freedom in equipment arrangement, is easy to maintain, is not easily damaged by a nonlinear optical crystal, and has low spatial coherence. An apparatus can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a laser beam generator and an optical amplifier of a first embodiment of an ultraviolet laser device according to the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a configuration of a laser beam generator and an optical amplifier according to a second embodiment of an ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a configuration of a laser light generation unit and an optical amplifier according to a third embodiment of an ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a configuration of an optical amplifier according to another embodiment of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 5 is a cross-sectional view of a double clad fiber optical amplifier.
FIG. 6 is a characteristic diagram showing the relationship between wavelength and gain depending on the element doped in the erbium-doped fiber optical amplifier.
FIG. 7 is a characteristic diagram showing a change in gain with respect to excitation intensity in a fiber optical amplifier co-doped with erbium and yttrium.
FIG. 8 is a configuration diagram showing a configuration of fiber output control means of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 9 is a side view illustrating the state of expansion of the fiber core at the output end of the fiber optical amplifier.
FIG. 10 is a side view showing an example of an output end portion of the fiber optical amplifier.
FIG. 11 is an explanatory diagram showing a configuration of a wavelength conversion unit according to a fourth embodiment of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 12 is a chart showing the conversion efficiency of the wavelength conversion unit according to the present invention.
FIG. 13 is an explanatory diagram showing a configuration of a wavelength conversion unit of a fifth embodiment of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 14 is an explanatory diagram showing a configuration of a wavelength conversion unit of a sixth embodiment of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a configuration of a wavelength conversion unit of a seventh embodiment of the ultraviolet laser device according to the present invention.
FIG. 16 is an explanatory diagram showing an example of the wavelength conversion unit input unit according to the eighth embodiment of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 17 is an explanatory diagram showing another embodiment of the wavelength conversion unit input unit of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 18 is an explanatory diagram showing another embodiment of the wavelength conversion unit input unit of the ultraviolet laser apparatus according to the present invention.
FIG. 19 is an explanatory view showing an embodiment of an exposure apparatus according to the present invention.
FIG. 20 is an explanatory view showing another embodiment of the exposure apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
11 Light source, single wavelength laser (DFB semiconductor laser, fiber laser, etc.)
12 Optical modulator
14, 16 Splitter (optical branching means)
13 Fiber optical amplifier
15, 17 Fibers with different lengths (delay means, delay fiber)
18 Fiber optical amplifier (first fiber optical amplifier)
19 fiber optical amplifier (second fiber optical amplifier)
114 Fiber output end (fiber bundle output end)
21 Light source, single wavelength laser (DFB semiconductor laser, fiber laser, etc.)
22 Optical modulator
23 Time-division optical branching means (TDM, optical branching means, delay means)
24 Fiber optical amplifier (first fiber optical amplifier)
25 Fiber optical amplifier (second fiber optical amplifier)
29 Fiber output end (fiber bundle output end)
31 Light source, single wavelength laser (DFB semiconductor laser, fiber laser, etc.)
32 Optical modulator
33 Fiber optical amplifier (first fiber optical amplifier)
34 Fiber optical amplifier (second fiber optical amplifier)
41 Fiber optical amplifier (first fiber optical amplifier)
42 Fiber optical amplifier (second fiber optical amplifier)
405, 406, 407 Fiber output control device
421, 341, 441, 451, 461 core
423, 434, 444, 454, 464 Fiber output end face
433, 443 (453, 463) Window member
453 and 463 lenses
501 Fiber output end (fiber bundle output end)
502-504, 507, 510, 513, 514, 517, 518, 520, 526, 532, 533, 536, 539, 545, 548 Nonlinear optical crystal
601 Fiber output end (fiber bundle output end)
602, 604, 609, 611 Nonlinear optical crystal
701 Fiber output end (fiber bundle output end)
702, 705, 710, 712 Nonlinear optical crystal
841 Fiber output end (fiber bundle output end)
842, 843, 844 Nonlinear optical crystal
901 Fiber output end (fiber bundle output end)
902, 904, 905 lenses
903, 906 Nonlinear optical crystal
1261 Laser device
1262 Illumination optical system
1263 Mask (reticle)
1265 Projection optical system
1266 Wafer
1268, 1269 Drive mechanism (drive device)
1271 Laser equipment
1272 wavelength converter
1273 Transmission system (first fiber)
1277 Control device (adjustment device)
1278 Transmission system (second fiber)
1279 Wavelength converter
1280, 1281 alignment system

Claims (47)

赤外域から可視域までの波長範囲内で単一波長のパルス状のレーザ光を発生させるレーザ光発生部と、
前記レーザ光発生部から発生させるレーザ光の発振波長を制御する発振波長制御手段と、
前記レーザ光発生部から入射される単一波長のパルス光を複数に分岐する光分岐手段と、
前記光分岐手段から分岐されて出力される複数の分岐光をそれぞれ複数回増幅する複数のファイバー光増幅器を有する複数の光増幅器と、
前記複数の光増幅器により増幅された分岐光を非線形光学結晶を用いて波長変換する波長変換部とを備え、
前記レーザ光発生部は、パルス光を発生する光源と、当該パルス光の一部を切り出してパルス幅を狭める光変調器とを有して、パルス幅が狭められたパルス光が前記光分岐手段に入射され、
前記光分岐手段は、前記レーザ光発生部から入射された前記パルス光を複数に分岐するとともに、分岐された各パルス光が互いに時間的に重ならない状態の分岐光として出射し、
空間的コヒーレンスが低い単一波長の紫外光を発生することを特徴とするレーザ装置。
A laser beam generator that generates a single-wavelength pulsed laser beam within a wavelength range from the infrared region to the visible region;
Oscillation wavelength control means for controlling the oscillation wavelength of the laser beam generated from the laser beam generator;
A light branching means for branching a single wavelength of pulsed light incident from the laser light generator into a plurality of parts;
A plurality of optical amplifiers having a plurality of fiber optical amplifiers each amplifying a plurality of branched light beams branched and output from the optical branching means;
A wavelength conversion unit that converts the wavelength of the branched light amplified by the plurality of optical amplifiers using a nonlinear optical crystal;
The laser beam generator includes a light source that generates pulsed light and an optical modulator that cuts out a part of the pulsed light to narrow the pulse width, and the pulsed light with the narrowed pulse width is the optical branching unit. Incident on
The light branching unit branches the pulsed light incident from the laser light generation unit into a plurality of light beams, and emits the branched light beams as branched light beams that do not overlap each other in time.
A laser device that generates ultraviolet light having a single wavelength with low spatial coherence.
前記光分岐手段は、前記レーザ光発生部から入射されたパルス光を複数に並列分岐するスプリッタを有するとともに、前記スプリッタの射出側には、互いに長さの異なるファイバーが設けられ、前記互いに長さの異なるファイバーの出力端において、前記並列分岐された各パルス光が互いに時間的に重ならない状態の分岐光となるように構成したことを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。Said light branching means, and has a splitter for parallel branch pulsed light entering Isa from the laser light generator to a plurality, in the exit side of the splitter, different fiber lengths are provided from one another, said length to each other is different at the output end of the fiber, the laser device according to claim 1, characterized by being configured such that the branched light state parallel branched each pulse light do not overlap each other temporally. 前記互いに長さの異なるファイバーは、前記出力端における前記複数の分岐光の遅延間隔が、前記スプリッタに入射するパルス光の繰り返し周波数と前記スプリッタにより並列分岐される分岐光路数との積の逆数となるようにその長さがそれぞれ定められ、それにより前記ファイバーのそれぞれの出力端における前記複数の分岐光の遅延間隔が略一定間隔となることを特徴とする請求項に記載のレーザ装置。In the fibers of different lengths, the delay interval of the plurality of branched lights at the output end is an inverse of the product of the repetition frequency of the pulsed light incident on the splitter and the number of branched optical paths branched in parallel by the splitter. 3. The laser device according to claim 2 , wherein the lengths are respectively determined so that the delay intervals of the plurality of branched lights at the output ends of the fibers become substantially constant intervals. 4. 前記光分岐手段は、時分割光分岐手段(Time Division Multiplexer)を有し、前記レーザ光発生部から入射されたパルス光を時分割して複数に分岐することにより、前記分岐された各パルス光が互いに時間的に重ならない状態の分岐光となるように構成したことを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The optical branching unit has a time division optical branching unit (Time Division Multiplexer), and time-divides and splits the pulsed light incident from the laser light generation unit into a plurality of pulsed light beams. The laser apparatus according to claim 1, wherein the laser beams are configured to be branched lights that do not overlap with each other in time. 前記光増幅器はその出力端におけるファイバー出力端部のコアがテーパ状に広がって形成されることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the optical amplifier is characterized in that the core of the fiber output end at its output end is formed spreads in a tapered shape. 前記光増幅器はその出力端におけるファイバー出力端部に前記増幅したレーザ光を透過する窓部材が設けられることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein said optical amplifier, characterized in that the window member that transmits laser light the amplified fiber output end at its output is provided. 前記光増幅器は、エルビウム・ドープ・ファイバー光増幅器を有することを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to claim 1, wherein the optical amplifier includes an erbium-doped fiber optical amplifier. 前記光増幅器は、エルビウムおよびイットリビウムをともにドープしたファイバー光増幅器を有することを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。2. The laser apparatus according to claim 1, wherein the optical amplifier includes a fiber optical amplifier doped with both erbium and yttrium. 前記光増幅器は、前記紫外光の出力、あるいは前記増幅した複数の分岐光の各出力を調整するために、前記並列に設けられる複数のファイバー光増幅器の各々の励起強度を制御するファイバー出力制御手段を有することを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The optical amplifier is a fiber output control means for controlling the excitation intensity of each of the plurality of fiber optical amplifiers provided in parallel in order to adjust the output of the ultraviolet light or the outputs of the plurality of amplified branched lights. The laser apparatus according to claim 1, wherein: 前記光増幅器は、前記増幅した複数の分岐光をそれぞれ出力する複数のファイバー出力端が1つに束ねられる、もしくは複数の出力群に分けられ、かつ出力群毎に束ねられることを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The optical amplifier is characterized in that a plurality of fiber output ends that respectively output the plurality of amplified branched lights are bundled into one, or divided into a plurality of output groups, and bundled for each output group. Item 2. The laser device according to Item 1 . 前記光増幅器は、前記複数のファイバー出力端の一部を束ねた第1の出力群と、前記第1の出力群を除いた残りのファイバー出力端を1つに束ねる、もしくは複数の出力群に略均等に分けて各々束ねた第2の出力群とを有することを特徴とする請求項10に記載のレーザ装置。The optical amplifier includes a first output group obtained by bundling a part of the plurality of fiber output ends and a remaining fiber output end excluding the first output group, or a plurality of output groups. The laser device according to claim 10 , further comprising a second output group that is divided substantially equally and bundled. 前記光増幅器は、前記出力群に各分岐光を透過する窓部材を有することを特徴とする請求項10又は11に記載のレーザ装置。The laser device according to claim 10 , wherein the optical amplifier includes a window member that transmits each branched light to the output group. 前記光増幅器は、前記複数のファイバー出力端が複数の出力群に分けられて各々束ねられ、前記波長変換部は前記出力群ごとに設けられることを特徴とする請求項10〜12のいずれか一項に記載のレーザ装置。The optical amplifier, the plurality of fiber output ends are bundled respectively divided into a plurality of output groups, any one of claims 10 to 12, wherein the wavelength converter is characterized in that it is provided for each said output group The laser device according to item. 前記波長変換部の入力側には、前記光増幅器から射出されるレーザ光を前記非線形光学結晶に集光して入射させる集光光学素子を有することを特徴とする請求項1〜13のいずれか一項に記載のレーザ装置。The input side of the wavelength converting part may be any of claims 1 to 13, characterized in that it comprises a laser beam emitted from the optical amplifier the nonlinear optical condenser to condensing optical element is incident on the crystal The laser device according to one item. 前記集光光学素子は、前記光増幅器の出力群ごとに束ねられた出力端部を、それぞれの出力群ごとにレンズとすることにより設けることを特徴とする請求項14に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to claim 14 , wherein the condensing optical element is provided by using an output end portion bundled for each output group of the optical amplifier as a lens for each output group. 前記集光光学素子は、前記増幅したレーザ光を出力する前記光増幅器のファイバー出力端にそれぞれ設けられることを特徴とする請求項14に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to claim 14 , wherein the condensing optical element is provided at a fiber output end of the optical amplifier that outputs the amplified laser light. 前記集光光学素子は、前記光増幅器の複数のファイバー出力端部をそれぞれレンズとすることにより設けることを特徴とする請求項16に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to claim 16 , wherein the condensing optical element is provided by using a plurality of fiber output ends of the optical amplifier as lenses. 前記レーザ光発生部は、波長が1.5μm付近の単一波長のレーザ光を発生し、
前記波長変換部は、前記光増幅器から出力される前記波長1.5μm付近の基本波を、8倍高調波又は10倍高調波の紫外光として発生させることを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載のレーザ装置。
The laser beam generator generates a single wavelength laser beam having a wavelength of about 1.5 μm,
The wavelength conversion unit of claim 1 to 17, characterized in the fundamental wave in the vicinity of the wavelength 1.5μm output from the optical amplifier, to generate as ultraviolet light 8 harmonic or 10 harmonic The laser device according to any one of the above.
前記レーザ光発生部は、1.51μm〜1.59μmの範囲内に発振波長を持つDFB半導体レーザもしくはファイバーレーザを有し、
前記波長変換部は、発生波長が189nm〜199nmの範囲内である8倍高調波を発生することを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載のレーザ装置。
The laser beam generator includes a DFB semiconductor laser or a fiber laser having an oscillation wavelength in a range of 1.51 μm to 1.59 μm,
The wavelength conversion unit, a laser device according to any one of claims 1 to 17, an oscillation wavelength, characterized in that to generate the 8 harmonic in the range of 189Nm~199nm.
前記レーザ光発生部は、1.544μm〜1.552μmの範囲内に発振波長を持つレーザ光を発生し、
前記波長変換部は、発生波長がArFエキシマレーザの発振波長と略同一波長である193nm〜194nmの範囲内の8倍高調波を発生することを特徴とする請求項18又は19に記載のレーザ装置。
The laser beam generator generates a laser beam having an oscillation wavelength in a range of 1.544 μm to 1.552 μm,
20. The laser device according to claim 18 , wherein the wavelength conversion unit generates an eighth harmonic within a range of 193 nm to 194 nm, the generation wavelength of which is substantially the same as the oscillation wavelength of an ArF excimer laser. .
前記波長変換部は、前記基本波と、前記基本波の7倍高調波とから、和周波発生により前記基本波の8倍高調波を発生する第1の非線形光学結晶を有することを特徴とする請求項18〜20のいずれか一項に記載のレーザ装置。The wavelength conversion unit includes a first nonlinear optical crystal that generates an eighth harmonic of the fundamental wave by sum frequency generation from the fundamental wave and a seventh harmonic of the fundamental wave. The laser apparatus as described in any one of Claims 18-20 . 前記波長変換部は、
前記基本波から2次高調波発生により2倍高調波を発生する第2の非線形光学結晶と、
前記基本波と前記2倍高調波とから和周波発生により前記基本波の3倍高調波を発生する第3の非線形光学結晶と、
前記2倍高調波の2次高調波発生により前記基本波の4倍高調波を発生する第4の非線形光学結晶と、
前記基本波の3倍高調波と前記基本波の4倍高調波とから和周波発生により前記基本波の7倍高調波を発生する第5の非線形光学結晶とを有することを特徴とする請求項21に記載のレーザ装置。
The wavelength converter is
A second nonlinear optical crystal that generates a second harmonic by generating a second harmonic from the fundamental wave;
A third nonlinear optical crystal that generates a third harmonic of the fundamental by sum frequency generation from the fundamental and the second harmonic;
A fourth nonlinear optical crystal that generates a fourth harmonic of the fundamental wave by generating a second harmonic of the second harmonic;
5. A fifth nonlinear optical crystal that generates a seventh harmonic of the fundamental wave from a third harmonic of the fundamental wave and a fourth harmonic of the fundamental wave by sum frequency generation. The laser apparatus according to 21 .
前記第1〜第4の非線形光学結晶はLiB(LBO)結晶であり、
前記第5の非線形光学結晶はβ−BaB(BBO)結晶もしくはCsLiB10(CLBO)結晶であることを特徴とする請求項22に記載のレーザ装置。
The first to fourth nonlinear optical crystals are LiB 3 O 5 (LBO) crystals,
The laser device according to claim 22 , wherein the fifth nonlinear optical crystal is a β-BaB 2 O 4 (BBO) crystal or a CsLiB 6 O 10 (CLBO) crystal.
前記レーザ光発生部は、1.51μm〜1.59μmの範囲内に発振波長を持つDFB半導体レーザもしくはファイバーレーザを有し、
前記波長変換部は、発生波長が151nm〜159nmの範囲内である10倍高調波を発生することを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載のレーザ装置。
The laser beam generator includes a DFB semiconductor laser or a fiber laser having an oscillation wavelength in a range of 1.51 μm to 1.59 μm,
The laser device according to any one of claims 1 to 17 , wherein the wavelength conversion unit generates a 10th harmonic whose generated wavelength is in a range of 151 nm to 159 nm.
前記レーザ光発生部は、1.57μm〜1.58μmの範囲内に発振波長を持つレーザ光を発生し、
前記波長変換部は、発生波長がFレーザの発振波長と略同一波長である157nm〜158nmの範囲内の10倍高調波を発生することを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載のレーザ装置。
The laser beam generator generates a laser beam having an oscillation wavelength within a range of 1.57 μm to 1.58 μm,
The wavelength conversion unit, any one of claims 1 to 17, an oscillation wavelength, characterized in that to generate the 10 harmonic in the range of 157nm~158nm is substantially the same wavelength as the oscillation wavelength of F 2 laser The laser device described in 1.
前記レーザ光発生部は、波長が1.1μm付近の単一波長のレーザ光を発生し、
前記波長変換部は、前記光増幅器から出力される前記波長1.1μm付近の基本波を、7倍高調波の紫外光として発生させることを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載のレーザ装置。
The laser beam generator generates a single wavelength laser beam having a wavelength of about 1.1 μm,
The wavelength conversion unit generates a fundamental wave in the vicinity of the wavelength of 1.1 μm output from the optical amplifier as ultraviolet light of a seventh harmonic, according to any one of claims 1 to 17. The laser apparatus described.
前記レーザ光発生部は、1.03μm〜1.12μmの範囲内に発振波長を持つDFB半導体レーザもしくはファイバーレーザを有し、
前記波長変換部は、発生波長が147nm〜160nmの範囲内である7倍高調波を発生することを特徴とする請求項1〜17のいずれか一項に記載のレーザ装置。
The laser beam generator includes a DFB semiconductor laser or a fiber laser having an oscillation wavelength in a range of 1.03 μm to 1.12 μm,
The wavelength conversion unit, a laser device according to any one of claims 1 to 17, an oscillation wavelength, characterized in that to generate the 7 harmonic in the range of 147Nm~160nm.
前記レーザ光発生部は、1.099μm〜1.106μmの範囲内に発振波長を持つレーザ光を発生し、
前記波長変換部は、発生波長がFレーザの発振波長と略同一波長である157nm〜158nmの範囲内の7倍高調波を発生することを特徴とする請求項26又は27に記載のレーザ装置。
The laser beam generator generates a laser beam having an oscillation wavelength within a range of 1.099 μm to 1.106 μm,
The wavelength conversion unit, a laser device according to claim 26 or 27 generated wavelength is characterized in that to generate the 7 harmonic in the range of 157nm~158nm is substantially the same wavelength as the oscillation wavelength of F 2 laser .
前記レーザ光発生部は、イットリビウム・ドープ・ファイバーレーザを有することを特徴とする請求項26〜28のいずれか一項に記載のレーザ装置。The laser device according to any one of claims 26 to 28 , wherein the laser beam generator includes an yttrium-doped fiber laser. 前記複数のファイバー光増幅器の少なくとも一つの入射側に光分岐手段を更に備え、前記光分岐手段で複数に分割されるパルス光がその後段に配置されるファイバー光増幅器に入射することを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。An optical branching unit is further provided on at least one incident side of the plurality of fiber optical amplifiers, and the pulsed light divided into a plurality by the optical branching unit is incident on a fiber optical amplifier disposed in the subsequent stage. The laser device according to claim 1 . 前記分割された複数のパルス光をそれぞれ遅延させて前記光分岐手段の後段に配置されるファイバー光増幅器に入射させる遅延手段を更に備えたことを特徴とする請求項30に記載のレーザ装置。31. The laser apparatus according to claim 30 , further comprising delay means for delaying each of the plurality of divided pulse lights so as to enter a fiber optical amplifier disposed at a subsequent stage of the optical branching means. 前記複数の分岐光をそれぞれ増幅する前記複数のファイバー光増幅器のうち少なくとも最終段のファイバー光増幅器は大モード径ファイバーであることを特徴とする請求項30又は31に記載のレーザ装置。32. The laser apparatus according to claim 30, wherein at least a final-stage fiber optical amplifier among the plurality of fiber optical amplifiers respectively amplifying the plurality of branched lights is a large mode diameter fiber. 前記大モード径ファイバーはZBLANファイバーであることを特徴とする請求項31に記載のレーザ装置。32. The laser device according to claim 31 , wherein the large mode fiber is a ZBLAN fiber. 前記波長変換部はNCPM(Non-Critical Phase Matching)で使用される非線形光学結晶を含むことを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to claim 1, wherein the wavelength conversion unit includes a nonlinear optical crystal used in NCPM (Non-Critical Phase Matching). 前記波長変換部は温度制御される非線形光学結晶を含むことを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The laser device according to claim 1, wherein the wavelength conversion unit includes a nonlinear optical crystal whose temperature is controlled. 前記レーザ光発生部と前記波長変換部との間における光の波長幅の広がりを抑制する光学装置を更に備えることを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The laser device according to claim 1, further comprising an optical device that suppresses a broadening of a wavelength width of light between the laser light generation unit and the wavelength conversion unit. 前記光学装置はその少なくとも一部が前記レーザ光発生部と前記波長変換部との間に配置されることを特徴とする請求項36に記載のレーザ装置。37. The laser device according to claim 36 , wherein at least a part of the optical device is disposed between the laser light generator and the wavelength converter. 前記光学装置の少なくとも一部は前記複数のファイバー光増幅器の間に配置されることを特徴とする請求項36に記載のレーザ装置。37. The laser device according to claim 36 , wherein at least a part of the optical device is disposed between the plurality of fiber optical amplifiers. 前記光学装置は狭帯域フィルタ及びアイソレータの少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項36〜38のいずれか一項に記載のレーザ装置。The laser device according to any one of claims 36 to 38 , wherein the optical device includes at least one of a narrow band filter and an isolator. 前記複数の分岐光の各光路に配置された前記複数のファイバー光増幅器において、光学的に最も下流に配置されるファイバー光増幅器のファイバーはフッ化物系ファイバーであることを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。In the plurality of the plurality of fiber optical amplifiers disposed in the optical path of the branched light, in claim 1 in which the fiber of the fiber optical amplifier characterized in that it is a fluoride fiber which is disposed on the most downstream optically The laser apparatus described . 前記光増幅器はその少なくとも一部がユニットとして交換可能であることを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。The laser apparatus according to claim 1, wherein at least a part of the optical amplifier is replaceable as a unit. 前記レーザ光発生部と前記光増幅器との少なくとも一方に接続され、前記紫外光の発振特性を調整するための調整装置を更に備え、前記発振特性は、前記紫外光の強度、中心波長、波長幅、および発振間隔の少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。It is connected to at least one of the laser beam generator and the optical amplifier, and further comprises an adjusting device for adjusting the oscillation characteristics of the ultraviolet light, wherein the oscillation characteristics include the intensity, the center wavelength, and the wavelength width of the ultraviolet light , and laser device according to claim 1, characterized in that it comprises at least one oscillation interval. 前記調整装置は、前記紫外光と、前記紫外光と波長が異なる光との少なくとも一方の検出によって得られる情報に基づいて調整することを特徴とする請求項42に記載のレーザ装置。43. The laser device according to claim 42 , wherein the adjustment device adjusts based on information obtained by detecting at least one of the ultraviolet light and light having a wavelength different from that of the ultraviolet light. 請求項1〜43のいずれか一項に記載のレーザ装置と、
前記レーザ装置から発生される紫外光を物体に導く光学系とを備え、
前記光学系を介して前記紫外光を前記物体に照射することを特徴とする光照射装置。
A laser device according to any one of claims 1 to 43 ,
An optical system that guides ultraviolet light generated from the laser device to an object,
A light irradiation apparatus for irradiating the object with the ultraviolet light through the optical system.
前記紫外光の照射によって、前記物体上のパターンの検出、前記物体の加工、あるいは前記物体へのパターン像の形成を行うことを特徴とする請求項44に記載の光照射装置。45. The light irradiation apparatus according to claim 44 , wherein a pattern on the object is detected, the object is processed, or a pattern image is formed on the object by irradiation with the ultraviolet light. 前記物体は、デバイス製造工程で使用される基板であることを特徴とする請求項45に記載の光照射装置。46. The light irradiation apparatus according to claim 45 , wherein the object is a substrate used in a device manufacturing process. 請求項46に記載の光照射装置を用いて、前記紫外光をマスクに照射するとともに、前記マスクを介して前記紫外光で前記基板を露光することを特徴とする露光方法。47. An exposure method comprising: irradiating a mask with the ultraviolet light using the light irradiation apparatus according to claim 46; and exposing the substrate with the ultraviolet light through the mask.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9172204B2 (en) 2011-02-10 2015-10-27 Nikon Corporation Method for adjusting electro-optic modulator in laser device, and laser device
DE112016002585T5 (en) 2015-06-10 2018-05-24 Furukawa Electric Co., Ltd. Pulse laser device
US11050211B2 (en) 2016-12-09 2021-06-29 Furukawa Electric Co., Ltd. Pulsed laser device, processing device, and method of controlling pulsed laser device

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002076484A (en) * 2000-09-04 2002-03-15 Mitsubishi Cable Ind Ltd High output pulse light source
JPWO2002054548A1 (en) * 2000-12-28 2004-05-13 松下電器産業株式会社 Short wavelength laser module and manufacturing method thereof
JP2002329911A (en) * 2001-04-27 2002-11-15 Komatsu Ltd Laser device, amplifier and ultraviolet laser device
JP2004046146A (en) * 2002-05-23 2004-02-12 Fuji Photo Film Co Ltd Exposure head
ATE376272T1 (en) 2002-12-10 2007-11-15 Nikon Corp ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE, PHOTOTHERAPY DEVICE USING AN ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE AND EXPOSURE SYSTEM USING AN ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE
WO2004086121A1 (en) * 2003-03-24 2004-10-07 Nikon Corporation Optical element, optical system, laser device, exposure device, mask testing device, and high polymer crystal processing device
JPWO2005085947A1 (en) * 2004-03-08 2008-01-24 株式会社ニコン LASER LIGHT SOURCE DEVICE, EXPOSURE DEVICE AND MASK INSPECTION DEVICE USING THIS LASER LIGHT SOURCE DEVICE
JP5255838B2 (en) * 2004-08-25 2013-08-07 ケーエルエー−テンカー コーポレイション Fiber amplifier based light source for semiconductor inspection
GB0520853D0 (en) * 2005-10-14 2005-11-23 Gsi Lumonics Ltd Optical fibre laser
JP2007114697A (en) * 2005-10-24 2007-05-10 Sony Corp Light source device
US20070127005A1 (en) * 2005-12-02 2007-06-07 Asml Holding N.V. Illumination system
JP2007318069A (en) * 2005-12-06 2007-12-06 Nikon Corp Exposure apparatus, exposure method, device producing method, and projection optical system
JP2008078629A (en) * 2006-09-20 2008-04-03 Imra America Inc Fiber laser, and optical fiber of large effective area doped with rare earth for fiber amplifier
JP2009210609A (en) * 2008-02-29 2009-09-17 Sumitomo Electric Ind Ltd Optical waveguide body
CN102130416B (en) 2010-01-15 2014-09-10 株式会社美加奥普托 Laser apparatus
JP5595740B2 (en) * 2010-01-15 2014-09-24 株式会社メガオプト Laser equipment
JP4590578B1 (en) 2010-04-01 2010-12-01 レーザーテック株式会社 Light source apparatus, mask inspection apparatus, and coherent light generation method
US8988768B2 (en) 2011-01-19 2015-03-24 Nikon Corporation Laser device
WO2012165495A1 (en) * 2011-06-03 2012-12-06 住友電気工業株式会社 Laser device
JP2015153919A (en) * 2014-02-17 2015-08-24 三星ダイヤモンド工業株式会社 Optical fiber and laser oscillator using the same
TWI684836B (en) * 2014-04-01 2020-02-11 日商尼康股份有限公司 Pattern drawing device
US9857703B2 (en) * 2014-07-30 2018-01-02 Asml Netherlands B.V. Alignment sensor and lithographic apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9172204B2 (en) 2011-02-10 2015-10-27 Nikon Corporation Method for adjusting electro-optic modulator in laser device, and laser device
DE112016002585T5 (en) 2015-06-10 2018-05-24 Furukawa Electric Co., Ltd. Pulse laser device
US10534128B2 (en) 2015-06-10 2020-01-14 Furukawa Electric Co., Ltd. Pulsed laser device
US11050211B2 (en) 2016-12-09 2021-06-29 Furukawa Electric Co., Ltd. Pulsed laser device, processing device, and method of controlling pulsed laser device

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