JP4148658B2 - パターン形成方法 - Google Patents

パターン形成方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4148658B2
JP4148658B2 JP2001119546A JP2001119546A JP4148658B2 JP 4148658 B2 JP4148658 B2 JP 4148658B2 JP 2001119546 A JP2001119546 A JP 2001119546A JP 2001119546 A JP2001119546 A JP 2001119546A JP 4148658 B2 JP4148658 B2 JP 4148658B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
mask
fluid
supercritical
subcritical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001119546A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002313750A (ja
Inventor
均 井上
Original Assignee
財団法人かがわ産業支援財団
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 財団法人かがわ産業支援財団 filed Critical 財団法人かがわ産業支援財団
Priority to JP2001119546A priority Critical patent/JP4148658B2/ja
Publication of JP2002313750A publication Critical patent/JP2002313750A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4148658B2 publication Critical patent/JP4148658B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【0001】
【産業の属する技術分野】
本発明は、パターンの形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
各種材料を利用する場合、単なるバルク体や薄膜ではなく、任意の形状にパターン化されたものが必要になることが多い。例えば、半導体デバイスのトランジスタやキャパシタなどの素子、各種ディスプレイの画素、圧電アクチュエーター、マイクロマシンの部品などを製造する場合、有機材料、無機材料、あるいはこれらの複合材料を、目的に応じて数ミルメートルからサブミクロンのオーダーのピッチでパターン化することが要求される。
パターン形成の手法としては、半導体デバイスで一般的なリソグラフィー技術や、スクリーン印刷、サンドブラスト、イオンエッチングなどが知られている。
【0003】
リソグラフィー技術ではサブミクロンピッチのパターン形成が可能である。しかし材料の製膜はCVDなどのドライプロセスが主に用いられ、材料そのものの加工はレジストパターンをマスクにしたエッチングによるので、対応可能な厚さもサブミクロンで、1μm以上の厚膜のパターン形成は困難である。
スクリーン印刷では、例えば特開2000−168257号公報に開示されているように孔を開けたマスクの上から材料粒子のペーストを注入するので、厚膜化は容易である。しかし、粒子を用いる方法では微小パターンへの注入は困難で、特に材料そのものを液体化しにくい無機材料に関しては、100μm以下のピッチのパターン形成は難しい。
【0004】
粒子のペーストに代えて液体状の無機材料である金属アルコキシドやその溶液を用いるゾルゲル法もあるが、ミクロンオーダーの微細ピッチのパターンに対応しやすい反面、アルコキシドの反応性の高さなどから膜厚はサブミクロンに制限されることが一般的に知られている。
特開平10−092775号公報などに開示されているサンドブラスト法や機械加工によるパターン形成も可能であるが、機械的に材料を削り取るこれらの手法では、やはり100μm以下のピッチの微細パターンは困難である。また、特開2000−024580号公報の、凹部を設けた基体に材料を埋め込んだ後に目的の基板に転写する方法や、特開2000−348607号公報の、硬化前の材料に冶具を押し付けて型を取る方法などが厚膜パターン形成方法として開示されているが、同様に微細パターンには対応できない。
レーザー加工やイオンエッチングなどの手法は微細な厚膜パターンを形成できるが、多大な時間とコストを要し、汎用的な手法とは言い難い。
以上のように、100μm以下のピッチで、ミクロンオーダーの厚膜パターンを容易に形成できる手法は存在しない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、100μm以下の微細ピッチの領域で、ミクロンオーダーの厚さを有するパターンを容易に形成できる手法を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、基体上に所望の形状に孔を開けたマスクを設け、マスクの上から物質を付着させることによりマスクの孔の形状通りのパターンを形成するに当たり、該物質を超臨界流体または亜臨界流体に溶解させて微小孔から基体に向けて噴射することを特徴とするパターン形成方法を要旨としている。
【0007】
超臨界流体または亜臨界流体として超臨界状態または亜臨界状態の二酸化炭素を用いており、その場合、本発明は、基体上に所望の形状に孔を開けたマスクを設け、マスクの上から物質を付着させることによりマスクの孔の形状通りのパターンを形成するに当たり、該物質を超臨界状態または亜臨界状態の二酸化炭素に溶解させて微小孔から基体に向けて噴射することを特徴とするパターン形成方法を要旨としている。
【0008】
超臨界流体または亜臨界流体に溶解させる物質が金属アルコキシドまたは金属錯体であり、その場合、本発明は、基体上に所望の形状に孔を開けたマスクを設け、マスクの上から金属アルコキシドまたは金属錯体を付着させることによりマスクの孔の形状通りのパターンを形成するに当たり、金属アルコキシドまたは金属錯体を、超臨界流体または亜臨界流体、より具体的には超臨界状態または亜臨界状態の二酸化炭素に溶解させて微小孔から基体に向けて噴射することを特徴とするパターン形成方法を要旨としている。
【0009】
【発明の実施の形態】
超臨界または亜臨界状態にするガスとしては、二酸化炭素、トリフロロメタン、脂肪族炭化水素類、アルコール類などが利用可能である。比較的温和な条件で超臨界または亜臨界状態となり、無害であることなどを考慮して、二酸化炭素が特に好適に用いられるが、溶解させる物質に応じて適宜選択すればよいが、超臨界状態または亜臨界状態の二酸化炭素が好ましい例として例示される。二酸化炭素は31℃、7.37MPa以上の条件で、気体と液体の区別がなくなる超臨界状態となる。この超臨界状態、あるいは、上記の温度、圧力よりも低いがこれに近い温度、圧力にある亜臨界状態の二酸化炭素は、気体に匹敵する高い拡散係数を持ちながら、液体に近い密度を有し、種々の物質を溶解できる。
【0010】
超臨界または亜臨界流体に溶解させる物質としては、種々のポリマー、モノマー等の有機物、金属アルコキシド、金属錯体あるいはこれらの混合物が用いられる。特に、他の方法では利用が難しい金属アルコキシドや金属錯体も、本発明によれば好適に用いることができる。金属アルコキシドや金属錯体は液体あるいは溶液化できる無機原料としてゾルゲル法などによる無機合成に用いられているが、反応性が高く、空気中の水分などで容易に分解するため、扱いに注意を要する物質である。この金属アルコキシドを超臨界または亜臨界流体に溶解させて微小孔から噴射することで、金属酸化物のパターンを形成することができる。 超臨界または亜臨界流体に溶解している状態では金属アルコキシド等は流体で十分に希釈されているので、分解は起こりにくく、安定に保管できる。またこれを微小孔から噴射した際には、析出した金属アルコキシド等は気化した流体に保護された状態で基体に到達し、ここで初めて分解、固化するので、通常のスプレー塗布のように、途中で分解してしまうこともなく、密着性のよい良質の膜が得られる。
一般的なゾルゲル法では、塗布した金属アルコキシド等の溶液を乾燥させる際に亀裂が生じやすいため、厚膜化が困難になるが、本発明では主溶媒は超臨界または亜臨界流体であり、噴射と同時に飛散するため、このような問題も生じない。
【0011】
パターンを形成する基体は金属、ガラス、プラスチック等、目的に応じて種々の物が用いられる。また、溶媒に溶解するポリマーやこれを金属やガラス表面に塗布したもの、あるいはハロゲン化アルカリなどを基体に用いると、パターン形成後にポリマーやハロゲン化アルカリを水や溶媒に浸して溶解除去することで、単独のパターン化材料を回収することもできる。特にハロゲン化アルカリを基体に用いれば、高温で熱処理した後にパターンを回収することも可能になる。
【0012】
本発明の実施形態について説明する。図1は本発明を実施する際に用いる装置例の概略図である。ボンベ1から供給された超臨界または亜臨界にするガスは高圧ポンプ2によって昇圧され、保圧弁3により一定圧力を維持された状態で、目的物質またはその前駆体が入れられた溶解槽4に送られる。溶解槽4はヒーター5によって所定温度に昇温されているので、ここでガスは超臨界、または亜臨界の状態となり、目的物質またはその前駆体を溶解する。溶解槽4内の圧力は圧力計6によってモニターされている。バルブ7を開くと、加圧状態にある溶解槽4内の流体が、微細な孔をあけた部品8を通して基体9上に噴射される。基体9上には所望の形状に孔を開けたマスク10が乗せてあり、マスク10の孔の部分にのみ基体9上に目的物質が付着し、パターンが形成される。溶解槽4からバルブ7を経て微細な孔をあけた部品8に至る経路や各部品、基体9および高圧ポンプ2から溶解槽4に至る経路についても、必要に応じてヒーターによって加熱できる。
一般に溶解槽の温度、圧力を変えると超臨界または亜臨界流体の物質溶解能力は変化するので、用いる物質に応じて温度、圧力は適当に設定すればよい。溶解槽4に入れる物質の量は必要な塗布膜厚に応じて調整すればよく、厚く塗布する必要がある時には多く、薄い塗布膜が必要な時には少なくする。
【0013】
【作用】
高圧、高密度の超臨界流体は物質溶解能力が高く、種々の目的物質、あるいはその前駆体を溶解することができる。これを微小孔から噴射すると、急激な膨張とそれに伴う圧力低下が起こり、流体の物質溶解能力が急減するので、それまで溶解していた溶質が微小粒子として析出し、基体に付着する。析出する粒子は極めて微細で、高速の流体の流れに乗って基体に吹き付けられるので、微細なマスクパターンの細部にまで入り込み、正確なマスクパターンの転写が可能になる。また、溶剤として働いていた流体は噴射と同時に気化、飛散するので、基体に付着するのは目的物質のみとなり、基体上で液が流れることもなく、厚膜パターンが形成できる。
一般的なゾルゲル法では、塗布した金属アルコキシド等の溶液を乾燥させる際に亀裂が生じやすいため、厚膜化が困難になるが、本発明では主溶媒は超臨界または亜臨界流体であり、噴射と同時に飛散するため、このような問題も生じない。
【0014】
【実施例】
本願発明の詳細を実施例で説明する。本願発明はこれら実施例によって何ら限定されるものではない。
【0015】
実施例1
容量500cm3のステンレススチール製の溶解槽にチタンテトライソプロポキシドの10%イソプロパノール溶液を入れ、45℃で、10MPaの二酸化炭素を導入し、温度、圧力を一定に保ち1時間撹拌した。ガラス板に銅製の200メッシュの網状マスク(網を構成する銅の幅約20μm、孔部分は一辺約100μmの正方形)を乗せて300℃に加熱しておき、これに向けて内径0.45mmのノズルを通して、10cmの距離から10分間、流体を噴射した。ガラス板からマスクを除いたところ、厚さ2μm、一辺約100μmの正方形の形状に、チタン酸化物のパターンが形成できていた。
【0016】
実施例2
銅製の400メッシュの網状マスク(網を構成する銅の幅約20μm、孔部分は一辺約40μmの正方形)を用いて実施例1と同様にしてパターンを形成した。マスクのサイズが小さくなっっても、実施例1と同様に、チタン酸化物のパターンが得られた。
【0017】
実施例3
容量500cm3のステンレススチール製の溶解槽にチタンテトラエトキシドの10%エタノール溶液を入れ、実施例1と同様にしてパターンを形成した。得られたチタン酸化物のパターンの厚さは約10μmであった。
【0018】
実施例4
容量500cm3のステンレススチール製の溶解槽にスズテトライソプロポキシドの10%イソプロパノール溶液を入れ、実施例1と同様にしてパターンを形成した。得られたスズ酸化物のパターンの厚さは約1μmであった。
【0019】
実施例5
容量500cm3のステンレススチール製の溶解槽にテトラエチルオルソシリケートの20%エタノール溶液と水3.46gを入れ、1気圧の二酸化炭素下、45℃で1時間撹拌した後、二酸化炭素を10MPaまで導入して、さらに1時間撹拌した。ニッケル板に銅製の200メッシュの網状マスク(網を構成する銅の幅約20μm、孔部分は一辺約100μmの正方形)を乗せて300℃に加熱しておき、これに向けて内径0.45mmのノズルを通して、10cmの距離から10分間、流体を噴射した。ガラス板からマスクを除いたところ、厚さ2μm、一辺約100μmの正方形の形状に、シリカのパターンが形成できていた。
【0020】
実施例6
ガスとしてトリフロロメタンを用い、実施例1と同様の条件でパターンを形成した。得られたパターンは二酸化炭素を用いた場合と同様であった。
【0021】
実施例7
マスクとして径1mmの孔を開けたアルミニウム板を用い、臭化カリウムの単結晶の壁開面に乗せ、実施例1と同様にしてパターンを形成した。その後臭化カリウムの結晶ごと500℃で2時間加熱処理し、水に浸して酸化チタンのパターンを剥離させて、径1mmのアナターゼ型酸化チタンの円盤を得た。
【0022】
【発明の効果】
本発明により、100μm以下の微細ピッチの領域で、ミクロンオーダーの厚さを有するパターンを容易に形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を実施する際に用いる装置例の概略図である。
【符号の説明】
1 ガスボンベ
2 高圧ポンプ
3 保圧弁
4 溶解槽
5 ヒーター
6 圧力計
7 バルブ
8 微細な孔をあけた部品
9 基体
10 マスク

Claims (2)

  1. 基体上に所望の形状に孔を開けたマスクを設け、マスクの上から物質を付着させることによりマスクの孔の形状通りのパターンを形成するに当たり、該物質を超臨界流体または亜臨界流体に溶解させて微小孔から基体に向けて噴射すること、100μm以下の微細ピッチの領域で、ミクロンオーダーの厚さを有する厚膜パターンを形成すること、ならびに、該物質が金属アルコキシドであることを特徴とするパターン形成方法。
  2. 超臨界流体または亜臨界流体として超臨界状態または亜臨界状態の二酸化炭素を用いる請求項1記載のパターン形成方法。
JP2001119546A 2001-04-18 2001-04-18 パターン形成方法 Expired - Fee Related JP4148658B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001119546A JP4148658B2 (ja) 2001-04-18 2001-04-18 パターン形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001119546A JP4148658B2 (ja) 2001-04-18 2001-04-18 パターン形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002313750A JP2002313750A (ja) 2002-10-25
JP4148658B2 true JP4148658B2 (ja) 2008-09-10

Family

ID=18969751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001119546A Expired - Fee Related JP4148658B2 (ja) 2001-04-18 2001-04-18 パターン形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4148658B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6790483B2 (en) * 2002-12-06 2004-09-14 Eastman Kodak Company Method for producing patterned deposition from compressed fluid
JP4852293B2 (ja) * 2005-10-19 2012-01-11 日立マクセル株式会社 ポリマー基材の表面改質方法及びポリマー基材、並びに、コーティング部材
JP4783110B2 (ja) * 2005-10-06 2011-09-28 日立マクセル株式会社 ポリマー基材の表面改質方法
JP2007014889A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Shikoku Instrumentation Co Ltd 超臨界流体による微粒子の配列塗布方法および装置
JP4919262B2 (ja) * 2006-06-02 2012-04-18 日立マクセル株式会社 貯蔵容器、樹脂の成形方法及びメッキ膜の形成方法
JP5660605B2 (ja) * 2010-10-19 2015-01-28 独立行政法人産業技術総合研究所 高圧二酸化炭素と高粘度有機性流体の連続混合方法及びその装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4582731A (en) * 1983-09-01 1986-04-15 Battelle Memorial Institute Supercritical fluid molecular spray film deposition and powder formation
US5009367A (en) * 1989-03-22 1991-04-23 Union Carbide Chemicals And Plastics Technology Corporation Methods and apparatus for obtaining wider sprays when spraying liquids by airless techniques
JP3032875B2 (ja) * 1991-11-07 2000-04-17 ノードソン株式会社 液体の塗布方法
JP3331940B2 (ja) * 1997-08-27 2002-10-07 株式会社豊田中央研究所 微細構造転写方法
JPH11197494A (ja) * 1998-01-13 1999-07-27 Kenji Mishima 超臨界流体を用いた微小粒子コーティング
JP3603592B2 (ja) * 1998-03-17 2004-12-22 株式会社豊田中央研究所 形態転写材の製造方法
CN1239269C (zh) * 1999-11-26 2006-02-01 旭硝子株式会社 有机材料的制膜方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002313750A (ja) 2002-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4942263B2 (ja) 洗浄装置
US20070246081A1 (en) Methods and apparatus for cleaning a substrate
JP2006286665A (ja) 電子デバイス洗浄方法及び電子デバイス洗浄装置
JP4148658B2 (ja) パターン形成方法
US11425822B2 (en) Methods of etching conductive features, and related devices and systems
CN107113982A (zh) 印刷配线板用基板、制作印刷配线板用基板的方法、印刷配线板、制作印刷配线板的方法以及树脂基材
CN107262428A (zh) 一种半导体设备EncoreTa装置部件清洗保护治具及其洗净方法
JP2007173785A5 (ja)
TW200837816A (en) Method for cleaning a surface
JP2003332288A (ja) 水供給方法および水供給装置
JP2009167522A (ja) 銅膜の形成方法
US7655496B1 (en) Metal lift-off systems and methods using liquid solvent and frozen gas
EP2218522B1 (en) Method and device for local treatment of substrates
JP2005216908A (ja) 対象物処理装置および対象物処理方法
JP2005163058A (ja) エアロゾルデポジッション成膜装置
JP2009132945A (ja) エアロゾルデポジション法による成膜体の形成方法
JP4407143B2 (ja) 石英ガラス部品及びその製造方法並びにそれを用いた装置
TW201843710A (zh) 製造結構化層之方法
JP2015188811A (ja) 再利用基材の製造方法およびカーボンナノチューブ生成用触媒基材の製造方法
US20230138216A1 (en) Filter membrane and method for making the same
TWI818336B (zh) 表面處理設備及表面處理方法
KR20130124864A (ko) 나노구조의 미세패턴을 갖는 실리카 박막 제조방법
JP2000096240A (ja) プラズマ化学蒸着用有孔電極板の処理方法
JP4378555B2 (ja) 薄膜形成装置内部の表面処理方法
KR102031299B1 (ko) 3d 프린터 제조물의 표면 처리 장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050117

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061018

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061215

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070118

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070319

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070328

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070403

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20070420

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080528

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080624

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110704

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110704

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110704

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120704

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130704

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees