JP4097834B2 - リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に用いられるカラーフィルターにおいて、スペーサー用突起が付加されたリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法の分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のカラーフィルター基板の検査方法は、カラーフィルターの規則的に配列されたカラーパターンに着目し、カラーフィルター基板をＣＣＤカメラにより撮像し、入力された信号と、パターン間隔分を遅延した信号とを比較することにより規則的なパターン以外のデータを欠陥として検出する方法が多く用いられていた。リブ付カラーフィルター基板においても、この方法により、遅延間隔をリブとカラーパターンとの最小公倍数の間隔に設定することでリブの欠落の部分的な検出は可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記従来のカラーフィルター検査方法においては、▲１▼部分的なリブの欠落の検出をすることはできても広範囲なリブの欠落の検出をすることはできない、▲２▼リブ以外の欠陥との区別ができない、▲３▼リブ欠落部分を面積として判定できないといった、問題点がある。
【０００４】
本発明は、上記の従来の問題点を解決するものであって、リブ付カラーフィルター基板において、リブ欠落部を容易に検出し、良否の判定を迅速かつ正確に行うことができる検査方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
そのために、本発明のリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法は、液晶のギャップ制御用のスペーサー突起を故意に形成した、リブ付カラーフィルター基板において、規則的なカラーパターン及びリブパターンをＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データから、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含まないカラーパターンデータとの比較を行うことにより、リブのみを検出し、リブのみを検出した画像データから、画像の収縮処理を行うことによりリブを１点化するとともに、１点にならないデータを省き、かつ１点化した点をカウントすることにより単位面積当たりのリブの個数を求め、求めた単位面積当たりの個数と予め設計された個数とを比較してリブの欠落を検査することを特徴とする。また、この際、リブのみを検出した画像データから、位置データを検出し、予め設計された座標と比較することより、リブとリブ以外の欠陥を判別する。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。図１は、本発明のリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法の１実施形態を示した図である。本発明のリブ欠落検査方法は、リブ付カラーフィルター基板を搬送装置４上に載せられ一定速度で矢印Ｙ方向に搬送される。カラーフィルター３のカラーパターンに向けて照明２が配設され、また、カラーパターンにむけてＣＣＤカメラ１が配設される。ＣＣＤカメラ１の撮像信号は、検出装置５に送られる。検出装置５は検出部６、比較処理部７、収縮処理部８、データ処理部９をそなえる。
【０００７】
本実施形態の欠落検査方法について説明する。ＣＣＤカメラ１を駆動すると共に搬送装置４を所定の速度で駆動すると、ＣＣＤカメラ１で撮像したカラーパターン１０の画像は検出部６に送られ、カラーパターン１０の副走査方向Ｙに対応して主走査方向Ｘの検出信号が得られる。この検出信号は、カラーパターン１０上にリブがあるとその高さに応じた波形を出力し、その信号は図２（ｂ）に示すように、Ｘ１・Ｘ２・Ｘ３の位置に規則的に現れる。これに対し、異物等の不良突起の検出信号は、不規則にかつサイズもまちまちに現れる。この信号を比較処理部７にて、カラーパターンのピッチＸＣ１遅延させた信号と比較処理を行うことにより、図２（ｃ）のごとくリブ信号のみを抽出する。次に、収縮処理部８にてリブの画像を図３のごとく１点にする。ここで１点にならないデータはリブより大きな欠陥として省くことができる。次に、データ処理部９にて、この１点のデータを読み出し、この１点の座標データと、予め設計した座標データとの比較を行うことにより、リブ以外の欠陥との切り分けを行う。更に、この１点のデータを図４のごとく単位面積にてカウントすることにより、予め設計した数との比較を行い、少ない場合はリブの欠落と判定を行うことができる。なお、画像の収縮処理を行うことによりリブを１点化することにより、リブの欠落個数から欠陥面積を容易に算出することができる。
【０００８】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変更が可能である。例えば、遅延した信号の替わりに、メモリーに記憶させた信号でもよいし、また、照明の形態を変更し、リブの信号をピーク信号として処理することも可能である。
【０００９】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように本発明によればリブ付カラーフィルター基板においてリブの欠落を、正確かつ容易に検出し、良否の判定を高速に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法の１実施形態を示した図である。
【図２】本発明の実施形態を説明するための図である。
【図３】本発明の実施形態を説明するための図である。
【図４】本発明の実施形態を説明するための図である。
【符号の説明】
１…ＣＣＤカメラ
２…ライン照明装置
３…カラーフィルター
４…搬送装置
５…検出装置
６…検出部
７…比較処理部
８…収縮処理部
９…データ処理部
１０…カラーパターン
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に用いられるカラーフィルターにおいて、スペーサー用突起が付加されたリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法の分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のカラーフィルター基板の検査方法は、カラーフィルターの規則的に配列されたカラーパターンに着目し、カラーフィルター基板をＣＣＤカメラにより撮像し、入力された信号と、パターン間隔分を遅延した信号とを比較することにより規則的なパターン以外のデータを欠陥として検出する方法が多く用いられていた。リブ付カラーフィルター基板においても、この方法により、遅延間隔をリブとカラーパターンとの最小公倍数の間隔に設定することでリブの欠落の部分的な検出は可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記従来のカラーフィルター検査方法においては、▲１▼部分的なリブの欠落の検出をすることはできても広範囲なリブの欠落の検出をすることはできない、▲２▼リブ以外の欠陥との区別ができない、▲３▼リブ欠落部分を面積として判定できないといった、問題点がある。
【０００４】
本発明は、上記の従来の問題点を解決するものであって、リブ付カラーフィルター基板において、リブ欠落部を容易に検出し、良否の判定を迅速かつ正確に行うことができる検査方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
そのために、本発明のリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法は、液晶のギャップ制御用のスペーサー突起を故意に形成した、リブ付カラーフィルター基板において、規則的なカラーパターン及びリブパターンをＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データから、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含まないカラーパターンデータとの比較を行うことにより、リブのみを検出し、リブのみを検出した画像データから、画像の収縮処理を行うことによりリブを１点化するとともに、１点にならないデータを省き、かつ１点化した点をカウントすることにより単位面積当たりのリブの個数を求め、求めた単位面積当たりの個数と予め設計された個数とを比較してリブの欠落を検査することを特徴とする。また、この際、リブのみを検出した画像データから、位置データを検出し、予め設計された座標と比較することより、リブとリブ以外の欠陥を判別する。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。図１は、本発明のリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法の１実施形態を示した図である。本発明のリブ欠落検査方法は、リブ付カラーフィルター基板を搬送装置４上に載せられ一定速度で矢印Ｙ方向に搬送される。カラーフィルター３のカラーパターンに向けて照明２が配設され、また、カラーパターンにむけてＣＣＤカメラ１が配設される。ＣＣＤカメラ１の撮像信号は、検出装置５に送られる。検出装置５は検出部６、比較処理部７、収縮処理部８、データ処理部９をそなえる。
【０００７】
本実施形態の欠落検査方法について説明する。ＣＣＤカメラ１を駆動すると共に搬送装置４を所定の速度で駆動すると、ＣＣＤカメラ１で撮像したカラーパターン１０の画像は検出部６に送られ、カラーパターン１０の副走査方向Ｙに対応して主走査方向Ｘの検出信号が得られる。この検出信号は、カラーパターン１０上にリブがあるとその高さに応じた波形を出力し、その信号は図２（ｂ）に示すように、Ｘ１・Ｘ２・Ｘ３の位置に規則的に現れる。これに対し、異物等の不良突起の検出信号は、不規則にかつサイズもまちまちに現れる。この信号を比較処理部７にて、カラーパターンのピッチＸＣ１遅延させた信号と比較処理を行うことにより、図２（ｃ）のごとくリブ信号のみを抽出する。次に、収縮処理部８にてリブの画像を図３のごとく１点にする。ここで１点にならないデータはリブより大きな欠陥として省くことができる。次に、データ処理部９にて、この１点のデータを読み出し、この１点の座標データと、予め設計した座標データとの比較を行うことにより、リブ以外の欠陥との切り分けを行う。更に、この１点のデータを図４のごとく単位面積にてカウントすることにより、予め設計した数との比較を行い、少ない場合はリブの欠落と判定を行うことができる。なお、画像の収縮処理を行うことによりリブを１点化することにより、リブの欠落個数から欠陥面積を容易に算出することができる。
【０００８】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変更が可能である。例えば、遅延した信号の替わりに、メモリーに記憶させた信号でもよいし、また、照明の形態を変更し、リブの信号をピーク信号として処理することも可能である。
【０００９】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように本発明によればリブ付カラーフィルター基板においてリブの欠落を、正確かつ容易に検出し、良否の判定を高速に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法の１実施形態を示した図である。
【図２】本発明の実施形態を説明するための図である。
【図３】本発明の実施形態を説明するための図である。
【図４】本発明の実施形態を説明するための図である。
【符号の説明】
１…ＣＣＤカメラ
２…ライン照明装置
３…カラーフィルター
４…搬送装置
５…検出装置
６…検出部
７…比較処理部
８…収縮処理部
９…データ処理部
１０…カラーパターン
Claims (2)
- 液晶のギャップ制御用のスペーサー突起（以下リブと称する）を故意に形成した、リブ付カラーフィルター基板において、規則的なカラーパターン及びリブパターンをＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データから、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含まないカラーパターンデータとの比較を行うことによりリブのみを検出し、リブのみを検出した画像データから、画像の収縮処理を行うことによりリブを１点化するとともに、１点にならないデータを省き、かつ１点化した点をカウントすることにより単位面積当たりのリブの個数を求め、求めた単位面積当たりの個数と予め設計された個数とを比較してリブの欠落を検査することを特徴とするカラーフィルターのリブ欠落検査方法。
- 前記リブのみを検出した画像データから、位置データを検出し、予め設計された座標と比較することより、リブとリブ以外の欠陥を判別することを特徴とする請求項１記載のカラーフィルターのリブ欠落検査方法。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06378799A JP4097834B2 (ja) | 1999-02-03 | 1999-02-03 | リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06378799A JP4097834B2 (ja) | 1999-02-03 | 1999-02-03 | リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000221514A JP2000221514A (ja) | 2000-08-11 |
| JP4097834B2 true JP4097834B2 (ja) | 2008-06-11 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06378799A Expired - Fee Related JP4097834B2 (ja) | 1999-02-03 | 1999-02-03 | リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109540918A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-03-29 | 鞍钢集团自动化有限公司 | 一种热轧卷边部缺陷检测装置及方法 |
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|---|---|---|---|---|
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| CN103809309B (zh) * | 2014-01-22 | 2016-07-06 | 北京京东方显示技术有限公司 | 基板检测设备及方法 |
| CN103792705B (zh) * | 2014-01-28 | 2017-02-01 | 北京京东方显示技术有限公司 | 检测基板缺陷的检测方法及检测装置 |
-
1999
- 1999-02-03 JP JP06378799A patent/JP4097834B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109540918A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-03-29 | 鞍钢集团自动化有限公司 | 一种热轧卷边部缺陷检测装置及方法 |
| CN109540918B (zh) * | 2018-11-28 | 2021-04-16 | 鞍钢集团自动化有限公司 | 一种热轧卷边部缺陷检测装置及方法 |
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| JP2000221514A (ja) | 2000-08-11 |
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