JP4028164B2 - Icカード - Google Patents

Icカード Download PDF

Info

Publication number
JP4028164B2
JP4028164B2 JP2000264376A JP2000264376A JP4028164B2 JP 4028164 B2 JP4028164 B2 JP 4028164B2 JP 2000264376 A JP2000264376 A JP 2000264376A JP 2000264376 A JP2000264376 A JP 2000264376A JP 4028164 B2 JP4028164 B2 JP 4028164B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
card
chip
reinforcing plate
sealing agent
sealant
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000264376A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002074309A (ja
Inventor
尚史 谷江
直人 斉藤
康二 佐々木
正雄 関端
亮三 吉野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2000264376A priority Critical patent/JP4028164B2/ja
Publication of JP2002074309A publication Critical patent/JP2002074309A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4028164B2 publication Critical patent/JP4028164B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

Landscapes

  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はICモジュールを内部に具備するICカードに関する。特に、ICカード内部に具備する補強構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
現在、記憶記録が可能なカードとしては、磁気による記憶を行う磁気カード方式や、カード内部にICモジュールを組み込みICメモリによって記憶を行うICカード方式が一般的である。このうち、ICカード方式は磁気カード方式と比較して記憶容量が大きく、偽造防止といったセキュリティ面に関しても磁気カードと比べて非常に強力である。これらの特徴によって、ICカード方式は定期券やテレホンカード等これまで磁気カード方式が採用されている用途のみではなく、電子マネーや社員証等といったより高いセキュリティが求められる用途においての利用が可能である。しかし、磁気カードが非常に薄型化,低コスト化が図られているのに対して、ICカードはカード内部にICモジュールを内蔵することから、カード厚の増大による携帯性の悪化や、製造コストの高さなどが問題となっており、ICカードの薄型化や低コストが強く求められている。その一方、ICカードの電子マネー等に関する用途への利用を図るためには、薄型化や低コスト化によって信頼性を低下させることはできない。
【0003】
ところで、ICカードは不特定多数の利用者によって携帯利用されるので、ICカードには使用時や携帯性に様々な外力が働き、その外力によってカード内部のICチップに応力が発生する。特に薄型カードの場合はICチップに外力が与える影響が大きくなるので、チップに大きな応力が生じ、チップの破損を起こすことが考えられる。そこで、ICカードの薄型化を行う場合は、様々な外力に対してICチップを保護するための補強機構が用いられている。ICチップの補強機構としてはこれまでに、例えば特開平9−263082号のように,ICチップ実装部の片面あるいは両面に補強板を接着する方式や、例えば特開平11−11061号のように、ICチップ周囲に補強部材を配置する方式などが考えられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
図6に、カード内部に補強板を持つICカードについて、一般的な構造の側断面図を示す。一般的なICカードにおいては、まず基板18の表面に配線12が設けられている。そして基板18上に設置されるICチップ13の端子は、導電材を介して配線12にボンディングされ、封止材15によって封止されている。また、ICチップ13の上面には、接着剤を介して強補板11が配置されている。これらを表面板16,17の間に配置して接着剤11を充填することで、ICカードが構成されている。このようにカード内部に補強板を配置することによって、ICチップに生じる応力が低減され、ICチップを保護することができる。しかし、ICチップ自体の保護のみで、カードの動作不良が無くなるわけではない。
【0005】
上記構造のカードにおいて、カードの上面あるいは下面から強い押し付け荷重が加えられたとき、ICチップ自体は補強板によって保護される。しかし、ICチップ端子とアンテナコイルあるいは入出力装置などを繋げる配線が封止剤と接着剤の界面にあたる個所で断線を起こし、カードが動作不良となることがある。これは、押し付け荷重によって補強板に生じた応力が、主に封止剤を介して封止剤下部の配線へとの作用する一方、接着剤部分への応力伝達は比較的小さく、接着剤下部の配線に伝達される応力が非常に小さくなるため、封止剤と接着剤界面付近の配線に大きなせん断応力が発生して断線を起こすからである。特に、薄型ICカードの配線には、薄型化あるいは製造におけるコスト低下や作業性向上のために銀箔などを基板上に印刷して用いることが多く、せん断力による断線防止は重大な問題である。
【0006】
せん断力による断線の防止には配線の断面積増加が有効であるが、ICカードにおいて配線の断面積増加は、カード製造コストの上昇を招くと共にカード自体が厚くなり携帯に不便なものとなる。さらには、カード表面の平滑性が失われることで使い勝手や意匠面において不具合が生じることも考えられる。また、リードフレームを用いることで断線を避けることが考えられるが、この方法はカード厚さ,平滑性,製造コスト,作業性などの点で、銀箔などを用いる方法に劣る。
【0007】
そこで、本発明の目的は、銀箔などの配線の断面積を増加することなく断線を防止することが可能な信頼性の高いICカードを、製造コストならびにカード厚さを増加することなく提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記の目的は、ICカード内部に具備するICチップ補強板の一部を、ICチップの封止剤よりも外側に配置することによって達成される。
【0009】
本発明によれば、カードに押し付け荷重を加えた場合において、補強板を介して伝わる応力は、封止剤にのみに伝達されるのではなく、接着剤部分にも伝達される。その結果、封止剤下部の配線と接着剤下部の配線の界面における大きなせん断応力の発生を抑さえることができ、断線の防止が可能になる。さらに、この手段を用いる場合、補強板の厚さを変更する必要が無いのでカード厚さを増加することはない。また、配線の断面積増加や材質変更などを行う必要がないので、製造コストの増加を抑さえることができる。
【0010】
なお、ICチップ補強板形状についての公知例として、端部の厚みを薄くした形状のものがある。しかし、この例の目的は補強板によるカバーフィルム損傷の防止であり、本発明の目的であるICカード内部の断線防止とは異なる。さらに、本発明の目的である断線防止のためには、単に端部の厚みを薄くした補強板ではなく、本発明のように補強板がチップや封止剤よりも外側に位置することが効果的である。これらの点から、本発明は上記公知例とは本質的に異なるものである。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。
【0012】
まず、本発明における第1の実施形態であるICカードを図1に示す。図1は平面図、図2は側断面図である。以下では、本発明の実施例として非接触ICカードを用いて説明を行うが、本発明は必ずしも非接触ICカードに限定されるものでは無く、接触型ICカードをも含むものである。
【0013】
本実施例におけるICカードは、基板18,配線12,ICチップ13,補強板11,封止剤15,接着剤14,表面板16,17、アンテナコイル19を具備して構成されている。上記基板18は、例えばPETなどの、薄手の可撓性を有する合成樹脂製とする。上記配線12は、例えば銀箔などの導電体を基板18の表面に所定のパターンに印刷して設けたものであり、アンテナコイル19と導通がとられている。上記ICチップ13の端子は異方性導電体である封止剤15を介して、配線12にボンディングされている。ICチップ13の上面には補強板11が接着固定されており、この補強板の端部側面に勾配を設け、外側に拡げた形状とすることで、補強板の一部を封止剤より外側に配置している特徴が提供される。すなわち、補強板11は円錐台をなし、図において、拡大部が上方に、縮小部が下方に位置する。ただし、補強板11の形状は円錐台には限定されない。上記基板18,配線12,ICチップ13,補強板11,封止剤15は上下の表面板16,17の間に配置され、接着剤14を充填することで、ICモジュールを保護するとともに表面の平滑さを得ることができる。ここで、表面板16,17は、例えばPETなどの、薄手の可撓性を有する合成樹脂製とする。
【0014】
図6に示した、補強板を封止剤より外側に配置しない構造のICカードでは、カードに押し付け荷重が生じる際に、封止剤と接着剤界面付近の配線に大きなせん断応力が発生し、断線を起こす恐れがある。しかし、図2に示すように補強板の一部を封止剤より外側に配置することで、補強板からの応力伝達は封止剤部分に対してのみではなく、接着剤部分に対しても大きく行われることになり、図6に示す構造と比較して分散した応力分布が得られる。その結果、封止剤と接着剤界面付近の配線に生じるせん断応力を小さくすることができるので、断線の防止が可能となり、ICカードの信頼性を向上することができる。また、本発明では断線を防止するために配線の断面積の増加や材質変更を行う必要がなく、製造,材料コストの増加を抑えることができる。さらに、補強板やその他部材の厚さを変更する必要が無いため、ICカードの厚さ増加を防ぐことができる。
【0015】
また、図2では表面板とは別に基板を設けているが、表面板自体を基板として使用することも可能である。また、図2ではチップと補強板は直接接着されているが、間に他の材質を介してもよい。さらに、図2では補強板側端部に勾配を設けることで補強板を封止剤の外側に配置しているが、側端部を段付き形状や曲面形状としたり、補強板全体を長くすることで補強板の一部を封止剤の外側に配置しても良い。また、図1では補強板は略正方形で示されているが、本発明における補強板は略正方形形状に限らず、円形,楕円形,長方形など形状を問わないものである。
【0016】
図3に、図1のICカードに押し付け荷重を与えた場合の、封止剤と接着剤界面直下の配線に生じるせん断応力について、補強板端部に図2に示すように補強板側端部に45゜の勾配を設けたもの、図6に示すように勾配を設けず補強板が封止剤の外側に存在しないものについて解析した結果を示す。勾配を設けない場合に配線に生じるせん断応力の値を1とすると、勾配を設け補強板を封止剤外側に配置した場合の応力値は0.26 と、せん断応力が1/4程度に低下することが示されており、本発明がICカード内部の断線防止に有効であることが分かる。
【0017】
次に、本発明の第2の実施例として、カード内部に補強板を具備しないICカードにおける実施例を示す。図4は本実施例におけるICカード側断面図である。本実施例におけるICカードは、基板18,配線12,ICチップ13,封止剤15,接着剤14,表面板16,17,アンテナコイル19を具備して構成されている。ICチップ13の端子が異方性導電体である封止剤15を介して、基板18の表面に印刷された配線12にボンディングされてICモジュールを構成していることについては実施例1と同様であるが、ICチップ13上面に補強板11を持たず、チップ上面と表面板17の間に接着剤を介している。ICチップ自体が補強構造(手段)を有し、ICチップ自体を厚く形成してあり(ICチップに補強板を加えた厚さよりも薄くてもよい。)、ICチップを台形カットしてチップ側面に勾配を設けている点が実施例1とは異なる。本実施例のように補強板を持たない構造のICカードにおいては、ICチップ自体の側面形状に勾配を設けることで、断線を防止することができる。ICチップ側面に勾配を設けた構造のICカードにおいて、ICカードに上面あるいは下面から押し付け荷重が加わった場合、ICチップに生じた応力は封止剤を介して封止剤下部の配線に伝達されるだけでなく、接着剤を介して接着剤下部の配線に対しても、勾配を持たない場合と比較して大きく伝達される。その結果、封止剤と接着剤界面付近の配線に生じるせん断応力を軽減することにより断線を防ぐことができ、ICカードの信頼性を向上することが可能である。なお、この実施例においても実施例1の場合と同様に、チップ側面形状は直線に限るものではなく曲線や段付き形状であってもよい。
【0018】
これらの実施例によれば、ICチップを補強する補強手段を設け、該補強手段の一部がICチップあるいはICチップの封止剤よりも外側に位置する構成としたICカードが提供される。
【0019】
次に、本発明の第3の実施例として、ICチップやワイヤーボンディング方式で実装する場合の実施例を示す。図5に、ワイヤーボンディング方式を用いたICカードの側断面図を示す。この実施例は基本的には図1に示す例と同じであるが、基板18上にICチップ13を端子が上部となるように配置し、ワイヤ41を用いてICチップの端子と配線12の導通をとる構成としている。ICチップならびにワイヤは非電導性の封止剤15によって封止され、封止剤上部にICチップを補強するための補強板11を具備しており、この補強板11端部に勾配等を設けることで補強板の一部が封止剤よりも外側に配置されることを特徴とする。ICチップがワイヤーボンディング方式で実装される構造においても、封止剤の内側にのみ配置された補強板を用いる場合、押し付け荷重によって封止剤と接着剤界面付近の配線がせん断応力によって断線を起こす恐れがある。そこで、本実施例に示すように補強板の一部を封止剤の外側に設けることで、封止剤と接着剤界面付近の配線に生じるせん断応力を減少し、断線を防ぐことができる。
【0020】
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【0021】
【発明の効果】
本発明によれば、ICカード内部のICチップ補強板あるいはICチップ自体を封止剤よりも外側に設けることによって、カードに大きな押し付け荷重が加わった場合であっても、カード内部の配線に生じるせん断応力を減少し、断線を防止することができる。したがって、ICカードの厚さや製造コストを増加させることなく、信頼性の高いICカードを提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるICカードの平面図である。
【図2】図1の側面断面図である。
【図3】本発明における補強板側端部の形状と配線に生じるせん断応力の関係を表す図である。
【図4】本発明の実施例2であるICカードの一部分を示す断面図である。
【図5】本発明の実施例3であるICカードの一部分を示す断面図である。
【図6】一般的なICカードの一部を示す断面図である。
【符号の説明】
11…補強板、12…配線、13…ICチップ、14…接着剤、15…封止剤、16,17…表面板、18…基板、19…アンテナコイル、41…ワイヤ。

Claims (3)

  1. 上下の表面板間に配置されたICチップ、基板、該基板に前記ICチップを封止する封止剤、前記ICチップの一面に直接あるいは間接に固定される補強板を備え、前記上下の表面板間で、前記ICチップ、封止剤および補強板の回りに充填された接着剤を有し、前記封止剤と接着剤の界面付近を延在する配線を備えるICカードにおいて、あるいは上下の表面板間に配置されたチップ、表面板自体が基板として使用され、一方の表面板に前記ICチップを封止する封止剤、前記ICチップの一面に直接あるいは間接に固定される補強板を備え、前記上下の表面板間で、前記ICチップ、封止剤および補強板の回りに充填された接着剤を有し、前記、封止剤と接着剤の界面付近を延在する配線を備えるICカードにおいて、
    前記補強板は担部側面に勾配が設けられて前記封止剤の反対方向で外側に拡げた形状とされて、前記封止剤よりも外側に配置されて、前記ICカードに押し付け荷重が生じたときに、該補強板からの応力伝達が前記封止剤と該封止剤回りの接着剤にもなされて応力分布が分散されるようになされたこと
    を特徴とするICカード。
  2. 上下の表面板間に配置されたICチップ、基板、該基板に前記ICチップを封止する封止剤を備え、前記上下の表面板間で、前記ICチップおよび封止剤の回りに充填された接着剤を有し、前記封止剤と接着剤の界面付近を延在する配線を備えるICカードにおいて、
    前記ICチップは担部側面に勾配が設けられて前記封止剤の反対方向で外側に拡げた形状とされて、前記封止剤よりも外側に配置されて、前記ICカードに押し付け荷重が生じたときに、該ICカードからの応力伝達が前記封止剤と該封止剤回りの接着剤にもなされて応力分布が分散されるようになされたこと
    を特徴とするICカード。
  3. 請求項2において、前記ICチップの端子を前記配線に接続するワイヤは、前記封止剤に封止されることを特徴とするICカード。
JP2000264376A 2000-08-31 2000-08-31 Icカード Expired - Fee Related JP4028164B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000264376A JP4028164B2 (ja) 2000-08-31 2000-08-31 Icカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000264376A JP4028164B2 (ja) 2000-08-31 2000-08-31 Icカード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002074309A JP2002074309A (ja) 2002-03-15
JP4028164B2 true JP4028164B2 (ja) 2007-12-26

Family

ID=18751802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000264376A Expired - Fee Related JP4028164B2 (ja) 2000-08-31 2000-08-31 Icカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4028164B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4504693B2 (ja) * 2004-01-30 2010-07-14 トッパン・フォームズ株式会社 スレッド、icチップ入りシート及びその製造方法
JP4999064B2 (ja) * 2006-10-27 2012-08-15 Necトーキン株式会社 Rfidタグ
KR101165087B1 (ko) 2011-10-27 2012-07-12 (주)뉴마드 보강판을 구비한 지문인식 카드

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002074309A (ja) 2002-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4108779B2 (ja) 回路チップ搭載カードおよび回路チップモジュール
JP3980697B2 (ja) 無線トランスポンダ
JP5069342B2 (ja) 指紋読み取りセンサ付icカードとその製造方法
US20010055202A1 (en) Reinforced micromodule
JPH07176646A (ja) 半導体パッケージ
US5965867A (en) Data medium incorporating integrated circuits
JPH04286697A (ja) 個人データカードとその製造方法
JP2844085B2 (ja) 回路基板及び半導体素子の実装方法
JP4284021B2 (ja) 携帯データサポート
US20020050635A1 (en) Integrated circuit device
JPH10326862A (ja) メモリ・カード用の改良型チップ実装構造
JP4028164B2 (ja) Icカード
JP2007193598A (ja) Icカード
JP2006074044A (ja) チップモジュール
KR101686140B1 (ko) 반도체 칩 패키지
RU2160468C2 (ru) Носитель данных с интегральной схемой
JP3877988B2 (ja) 半導体装置
JP2002536733A (ja) 集積回路デバイス、当該デバイスを用いたスマートカード用の電子ユニット及び当該デバイスの製造方法
JPH1111061A (ja) Icカード用モジュール、およびこれを備えたicカード
JPH1134558A (ja) Icカードおよびicカード用のicモジュール
JPH104122A (ja) 半導体装置
JP2000242761A (ja) カード型電子回路基板
JP3146436B2 (ja) Icモジユール
JP3485736B2 (ja) 半導体装置とその製造方法
JPH11316811A (ja) データキャリア装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070706

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070925

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071011

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111019

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131019

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees