JP4001855B2 - ハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法及び検査装置 - Google Patents
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- 隔壁によって流体の流路となる複数のセルが区画形成された筒状のハニカム構造体の、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法であって、
前記ハニカム構造体の一方の端面側から、所定の照明手段によって拡散光を入射させて、前記セルの内部を通過させた後に、前記ハニカム構造体の他方の端面側から出射させ、出射させた前記拡散光を、前記ハニカム構造体の前記他方の端面側に接触させた状態で配設した半透明のスクリーンを透過させて透過光とし前記スクリーンの前記透過光側の面上に、前記隔壁の表面の凹凸に反射することによって生じる明るさの異なる前記透過光の明暗による透過像を投影させ、前記スクリーン上に投影させた前記透過像を撮像手段によって撮像させ、得られた画像の前記透過光の明暗による濃淡を解析手段によって解析させることによって、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法。 - 隔壁によって流体の流路となる複数のセルが区画形成された筒状のハニカム構造体の、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法であって、
前記ハニカム構造体の一方の端面側から、所定の照明手段によって拡散光を入射させて、前記セルの内部を通過させた後に、前記ハニカム構造体の他方の端面側から出射させ、出射させた前記隔壁の表面の凹凸に反射することによって生じる明るさの異なる前記拡散光を、前記ハニカム構造体の前記他方の端面に垂直な方向から、それぞれの前記セル毎に撮像手段によって撮像させ、得られたそれぞれの画像の前記拡散光の明暗による濃淡を解析手段によって解析させることにより、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法。 - 前記解析手段に、前記画像の濃淡を二値化処理させて解析させる請求項1又は2に記載のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法。
- 前記解析手段に、前記画像の濃淡を解析させる前に、前記画像における前記隔壁によって生ずる影を除去させる請求項1〜3のいずれかに記載のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法。
- 前記照明手段の前記拡散光の照度が、3000Lux以上である請求項1〜4のいずれかに記載のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法。
- 前記スクリーンの光透過率が、35〜90%である請求項1〜5のいずれかに記載のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法。
- 隔壁によって流体の流路となる複数のセルが区画形成された筒状のハニカム構造体の、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査装置であって、
前記ハニカム構造体の一方の端面側に配設された、拡散光を前記一方の端面側から入射して、前記セルの内部を通過した後に前記ハニカム構造体の他方の端面側から出射することが可能な照明手段と、前記ハニカム構造体の他方の端面側に接触させた状態で配設された、前記他方の端面側から出射した前記拡散光を透過させて透過光とし、その透過光側の面上に、前記隔壁の表面の凹凸に反射することによって生じる明るさの異なる前記透過光の明暗による透過像を投影することが可能な半透明のスクリーンと、前記スクリーン上に投影した前記透過像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像した画像の前記透過光の明暗による濃淡を解析する解析手段とを備え、前記解析手段によって解析した結果から、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査装置。 - 隔壁によって流体の流路となる複数のセルが区画形成された筒状のハニカム構造体の、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査装置であって、
前記ハニカム構造体の一方の端面側に配設された、拡散光を前記一方の端面側から入射して、前記セルの内部を通過した後に前記ハニカム構造体の他方の端面側から出射することが可能な照明手段と、前記ハニカム構造体の他方の端面側に配設された、前記他方の端面側から出射した前記隔壁の表面の凹凸に反射することによって生じる明るさの異なる前記拡散光を前記ハニカム構造体の前記他方の端面に垂直な方向から、それぞれの前記セル毎に撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像した画像の前記拡散光の明暗による濃淡を解析する解析手段とを備え、前記解析手段によって解析した結果から、前記隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれの前記セル毎に検査するハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査装置。 - 前記解析手段が、前記画像の濃淡を二値化処理して解析する請求項7又は8に記載のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査装置。
- 前記解析手段が、前記画像の濃淡を解析する前に、前記画像における前記隔壁によって生ずる影を除去する請求項7〜9のいずれかに記載のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査装置。
- 前記照明手段の前記拡散光の照度が、3000Lux以上である請求項7〜10のいずれかに記載のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査装置。
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