JP3887367B2 - トンネル接合を有する素子の製造方法および製造装置 - Google Patents
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Description
Dian Song, Janusz Nowak, and Mark Covington, Journal of Applied Physics誌第87巻第9号5197〜5199ページ(2000年発行)
前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の変化量=前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の修正後の値−前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚、
前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の酸化膜厚の変化量=前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚−前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚
としたとき、
(前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の変化量/前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の酸化膜厚の変化量)=(前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚/前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚)
の関係から前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記修正後の値を求め、前記修正後の値を用いて求めてもよい。
前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性から前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚となる第1酸化時間を求め、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性から前記第1酸化時間における前記第1被酸化層の第1酸化膜厚を求め、
前記第1被酸化層の前記第1酸化膜厚を用いて求めてもよい。
本実施形態における試料基板表面の酸化膜厚測定方法は、以下の3通りの方法があり、これら3通りのうちのいずれかの方法が用いられる。
(3)MTJ形成用基板と、シリコン基板の酸化は、同じ酸化装置を用いて、酸化を同時に行うか、または同一のバッチで行うが、SiO2膜の膜厚の測定は、酸化装置とは異なる別の装置内で行う。
上記(1)の方法の一具体例を、図1を参照して説明する。まず、MTJ形成用基板(素子形成用基板)と、シリコン基板(酸化力モニタ用基板)を酸化装置内に搬入する。そして、予め求めておいたトンネルバリア層の膜厚の酸化時間依存特性のモデル式からトンネルバリア層の目標膜厚となる酸化時間(以下、目標酸化時間という)を決定するとともに、予め求めておいたシリコン酸化膜の膜厚の酸化時間依存特性を示すモデル式から上記目標酸化時間におけるシリコン酸化膜の目標膜厚を決定する。次に、MTJ形成用基板と、シリコン基板(酸化力モニタ用基板)の酸化を開始する。なお、図1において、O*は酸素ラジカルを示し、O2は酸素を示し、O3はオゾンを示す。このとき、酸化工程の初期に、シリコン酸化膜の膜厚測定を行う(図1のステップS1参照)。なお、シリコン酸化膜の膜厚測定は、例えばシリコン基板上に形成されたシリコン酸化膜の表面に光を当ててその反射光を検出することにより行う。続いて、上記シリコン酸化膜の膜厚の測定値とこの測定値に対応する実際の酸化時間からシリコン酸化膜の膜厚の実際の酸化時間依存特性を求め、この実際の酸化時間依存特性から上記目標酸化時間におけるシリコン酸化膜の膜厚を予測する(ステップS2参照)。そして、シリコン酸化膜の目標膜厚と予測値を比較し(ステップS3参照)、一致する場合にはステップS4に進み、酸化時間が目標酸化時間に到達するまで酸化を行う。
次に、上記(2)の方法の一具体例を、図2を参照して説明する。まず、予め求めておいたトンネルバリア層の膜厚の酸化時間依存特性のモデル式からトンネルバリア層の目標膜厚となる目標酸化時間を決定するとともに、予め求めておいたシリコン酸化膜の膜厚の酸化時間依存特性を示すモデル式から上記目標酸化時間におけるシリコン酸化膜の目標膜厚を決定する。その後、シリコン基板(酸化力モニタ用基板)を酸化装置内に搬入し、ある時間だけ酸化する(図2(a)のステップS11、および図2(b)参照)。なお、図2において、O*は酸素ラジカルを示し、O2は酸素を示し、O3はオゾンを示す。次に、酸化装置の酸化室から基板を取りだし、シリコン酸化膜の膜厚測定を行う(図2(a)のステップS12、および図2(c)参照)。なお、シリコン酸化膜の膜厚測定は、例えばシリコン基板上に形成されたシリコン酸化膜の表面に光を当ててその反射光を検出することにより行う(図2(c)参照)。この膜厚測定は、基板を取りだしてから膜厚測定までの間に基板が大気に曝される場合には、酸化膜厚が変化してしまうので、酸化膜厚変化量をそろえるべく、大気暴露時間を均一にする。ここで、素子の製造は通常、同一クリーンルーム中で温度、湿度等が一定に保たれた大気雰囲気で行われるので大気暴露時間が均一なら酸化膜厚変化量がそろうと考えられる。
次に、上記(3)の方法の一具体例を、図3を参照して説明する。まず、MTJ形成用基板と、シリコン基板(酸化力モニタ用基板)を酸化装置内に搬入する。そして、予め求めておいたトンネルバリア層の膜厚の酸化時間依存特性のモデル式からトンネルバリア層の目標膜厚となる目標酸化時間を決定するとともに、予め求めておいたシリコン酸化膜の膜厚の酸化時間依存特性を示すモデル式から上記目標酸化時間におけるシリコン酸化膜の目標膜厚を決定する。MTJ形成用基板と、シリコン基板(酸化力モニタ用基板)の酸化を行う(図3(a)のステップS21および図3(b)参照)。このとき、酸化工程の初期に、酸化装置の酸化室からシリコン基板を取りだし、シリコン酸化膜の膜厚測定を行う(図3(a)のステップS22および図3(c)参照)。なお、図3(c)に示すように、シリコン酸化膜の膜厚測定は、例えばシリコン基板上に形成されたシリコン酸化膜の表面に光を当ててその反射光を検出することにより行う。続いて、上記シリコン酸化膜の膜厚の測定値とこの測定値に対応する実際の酸化時間からシリコン酸化膜の膜厚の実際の酸化時間依存特性を求め、この実際の酸化時間依存特性から上記目標酸化時間におけるシリコン酸化膜の膜厚を予測する(図3(a)のステップS23参照)。
次に、上述の酸化プロセスによってトンネルバリア層103を形成した後、トンネルバリア層103上に磁気記録膜104を形成し、MTJ用の成膜を終了する(図11参照)。その後、図12に示すように、例えばイオンミリング法により、磁化固着膜102、トンネルバリア層103、磁気記録膜104を選択的にエッチングする。そして、図13に示すように、例えばスパッタリング法や化学的気相堆積(CVD)法により、次工程でMTJを保護するための絶縁膜106を形成する。絶縁膜106は例えばSiOxである。続いて、絶縁膜106上に、MTJを覆う例えばフォトレジストからなるレジストパターンを形成し、このレジストパターンをマスクとして、例えば反応性イオンエッチング(RIE)法により、絶縁膜106および下部配線層101をパターニングする。この際、MTJは図13に示した絶縁膜106によって保護されている。
次に、酸化プロセスの酸化時間の補正について具体的に説明する。
図7は、トンネルバリア層となる酸化アルミニウム(Al2O3)膜の膜厚およびシリコン酸化膜の膜厚の酸化時間依存特性を用いて酸化時間の補正を行う方法の参考例を示す図である。図7において、実線で示すグラフg1は酸化アルミニウム膜の、グラフg2はシリコン酸化膜の、既存の実験値に対するフィッティング結果であり、点線のグラフg3,g4は酸化装置の酸化力が何らかの原因により増加した場合を示している。なお、トンネルバリア層アルミニウム膜厚およびシリコン酸化膜厚の酸化時間依存特性を示すグラフg1,g2,g3,g4は、種々の酸化膜の成長をモデル化する式であらわされる。
Tox = a×tb、 すなわち log(Tox) = α×log(t)+β、ここでα=b、β=log(a)
であり、Deal-Groveの式は、
Tox2 + A×Tox = B×(t+τ)、
であり、Cabrera-Mottの式は、
Tox = X1/(A1+ln(t))
であり、これらのいずれの式を用いることができる。ここで、Toxは酸化膜厚、tは酸化時間、a、b、α、β、A、B、τ、X1、およびA1はパラメータである。なお、図7のグラフg1,g2,g3,g4は、Power-Lawの式が用いられている。また、図7においては、酸化前のアルミニウムの膜厚が1.5nmである場合を示している。
図4に、本実施形態の製造方法に用いられる酸化時間の補正方法の第1の例を示す。図4において、実線で示すグラフg1は酸化アルミニウム膜の、グラフg2はシリコン酸化膜の、既存の実験値に対するフィッティング結果であり、点線のグラフg3,g4は酸化装置の酸化力が何らかの原因により増加した場合を示している。図4においては、トンネルバリア層アルミニウム膜厚およびシリコン酸化膜厚の酸化時間依存特性を示すグラフg1,g2,g3,g4は、Power-Lawの式を用いて求められているが、Deal-Groveの式、または、Cabrera-Mottの式を用いてもよい。また、図4においては、酸化前のアルミニウムの膜厚が1.5nmである場合を示している。
図5に、本実施形態の製造方法に用いられる酸化時間補正方法の第2の例を示す。図5において、実線で示すグラフg1は酸化されるアルミニウム膜の、グラフg2はシリコン酸化膜の、既存の実験値に対するフィッティング結果であり、点線のグラフg3,g4は酸化装置の酸化力が何らかの原因により増加した場合を示している。図5においては、トンネルバリア層アルミニウム膜厚およびシリコン酸化膜厚の酸化時間依存特性を示すグラフg1,g2,g3,g4は、Power-Lawの式を用いて求められているが、Deal-Groveの式、または、Cabrera-Mottの式を用いてもよい。また、図5においては、酸化前のアルミニウムの膜厚が1.5nmである場合を示している。
図6に、本実施形態の製造方法に用いられる酸化時間補正方法の第3の例を示す。図4に示す第1の例および図5に示す第2の例では、トンネルバリア層となるアルミニウム膜厚の酸化時間依存特性およびシリコン酸化膜の酸化時間依存特性はPower-Lawの式が使用されていたが、図6に示す第3の例では、トンネルバリア層となるアルミニウム膜厚の酸化時間依存特性(グラフg1、g3)は、Cabrera-Mottの式が使用され、シリコン酸化膜の酸化時間依存特性(グラフg2、g4)は、Power-Lawの式が使用されている。
本発明の適用範囲は、上記実施形態に限定されるものではない。トンネルバリア層酸化条件において、アルミニウム膜厚、プラズマ源ガスの種類や混合比、雰囲気圧力、放電周波数、放電出力、酸化温度、酸化時間などを種々に変化させてもよい。また、トンネルバリア層酸化方法として、オゾン酸化や酸素ガス含有雰囲気による自然酸化を用いてもよい。
第1基板の表面に形成され酸化によりトンネルバリア層となる第1被酸化層とは酸化膜厚の酸化時間依存特性が異なる第2被酸化層が表面に形成された第2基板を酸化雰囲気に置いて酸化する第1酸化装置と、上記第2被酸化層の酸化膜厚を測定する測定装置と、上記第1被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる上記第1被酸化層の酸化膜厚が目標酸化膜厚となる目標酸化時間における上記第2被酸化層の第1酸化膜厚を上記第2被酸化層の酸化膜厚の測定値から求め、上記第2被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる上記目標酸化時間における上記第2被酸化層の第2酸化膜厚と、上記第2被酸化層の上記第1酸化膜厚とを比較する比較装置と、上記第2被酸化層の上記第2酸化膜厚と上記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、上記第2被酸化層の上記第1酸化膜厚から、上記第1被酸化層の酸化膜厚の上記第1酸化時間依存特性を修正した上記第1被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性を求め、上記第1被酸化層の酸化膜厚の上記第2酸化時間依存特性から上記第1被酸化層の酸化膜厚が上記第1被酸化層の上記目標酸化膜厚となる修正された目標酸化時間を求める修正装置と、上記第2被酸化層の上記第2酸化膜厚と、上記第2被酸化層の第1酸化膜厚が同じ場合には、上記第1被酸化層が形成された上記第1基板を上記第2基板と同じ酸化雰囲気に置いて上記第1被酸化層の酸化時間が上記目標酸化時間となるように酸化し、上記第2被酸化層の上記第2酸化膜厚と上記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、上記第1被酸化層が形成された上記第1基板を上記第2基板と同じ酸化雰囲気に置いて上記第1被酸化層の酸化時間が上記修正された目標酸化時間となるように酸化する第2酸化装置と、を備えている。
102 磁化固着層
103 トンネルバリア層
104 記憶層
105 上部配線層
106、107 絶縁膜層
108 コンタクト孔
201 下部配線接続層
202 バッファー層
203 反強磁性層
204 磁化固着層
205 記憶層
206 キャップ層
207 エッチングマスク兼表面保護層
Claims (15)
- 2つの磁性層間にトンネルバリア層が設けられたトンネル接合を有する素子の製造方法であって、
第1基板の表面に形成され酸化によりトンネルバリア層となる第1被酸化層とは酸化膜厚の酸化時間依存特性が異なる第2被酸化層が表面に形成された第2基板を酸化雰囲気に置いて前記第2被酸化層を酸化し、
前記第2被酸化層の酸化膜厚を測定し、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記第1被酸化層の酸化膜厚が目標酸化膜厚となる目標酸化時間における前記第2被酸化層の第1酸化膜厚を前記第2被酸化層の酸化膜厚の測定値から求め、
前記第2被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の第2酸化膜厚と、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚とを比較し、
前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が同じ場合には、前記第1被酸化層が形成された前記第1基板を前記第2基板と同じ酸化雰囲気に置いて前記第1被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間となるように酸化し、
前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚から、前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性を修正した前記第1被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性を求め、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第2酸化時間依存特性から前記第1被酸化層の酸化膜厚が前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚となる修正された目標酸化時間を求め、
前記第1被酸化層が形成された前記第1基板を前記第2基板と同じ酸化雰囲気に置いて前記第1被酸化層の酸化時間が前記修正された目標酸化時間となるように酸化することを特徴とするトンネル接合を有する素子の製造方法。 - 2つの磁性層間にトンネルバリア層が設けられたトンネル接合を有する素子の製造方法であって、
酸化によりトンネルバリア層となる第1被酸化層が表面に形成された第1基板と、酸化膜厚の酸化時間依存特性が前記第1被酸化層とは異なる第2被酸化層が表面に形成された第2基板とを同じ酸化雰囲気に置いて前記第1および第2被酸化層を同時に酸化し、
酸化の途中で前記第2被酸化層の酸化膜厚を測定し、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記第1被酸化層の酸化膜厚が目標酸化膜厚となる目標酸化時間における前記第2被酸化層の第1酸化膜厚を前記第2被酸化層の酸化膜厚の測定値から求め、
前記第2被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の第2酸化膜厚と、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚とを比較し、
前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が同じ場合には、前記第1被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間となるように酸化し、
前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚から、前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性を修正した前記第1被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性を求め、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第2酸化時間依存特性から前記第1被酸化層の酸化膜厚が前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚となる修正された目標酸化時間を求め、
前記第1被酸化層の酸化時間が前記修正された目標酸化時間となるように酸化することを特徴とするトンネル接合を有する素子の製造方法。 - 前記第2被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間に等しい場合は、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚は、前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記測定値であることを特徴とする請求項1または2記載のトンネル接合を有する素子の製造方法。
- 前記第2被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間と異なる場合は、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚は、
前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記測定値に基づいて、前記第2被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性を修正した前記第2被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性を求め、
前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記第2酸化時間依存特性から求められることを特徴とする請求項1または2記載のトンネル接合を有する素子の製造方法。 - 前記第2被酸化層の酸化膜厚の測定は、前記第1および第2基板が設置された酸化雰囲気で行うことを特徴とする請求項2記載のトンネル接合を有する素子の製造方法。
- 前記第2被酸化層の酸化膜厚の測定を行う際に前記第2被酸化層が大気暴露され、前記第2被酸化層の酸化膜厚は、前記第2被酸化層が前記酸化雰囲気から大気中に搬出される時刻を始点とする大気暴露時間を所定の値に固定したときの酸化膜厚であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のトンネル接合を有する素子の製造方法。
- 前記第1被酸化層はアルミニウムであり、前記第2被酸化層はシリコンであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載のトンネル接合を有する素子の製造方法。
- 前記第1被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性は、
前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の変化量=前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の修正後の値−前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚、
前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の酸化膜厚の変化量=前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚−前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚
としたとき、
(前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の変化量/前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の酸化膜厚の変化量)=(前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚/前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚)
の関係から前記目標酸化時間における前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記修正後の値を求め、前記修正後の値を用いて求められることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載のトンネル接合を有する素子の製造方法。 - 前記第1被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性は、
前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性から前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚となる第1酸化時間を求め、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性から前記第1酸化時間における前記第1被酸化層の第1酸化膜厚を求め、
前記第1被酸化層の前記第1酸化膜厚を用いて求められることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載のトンネル接合を有する素子の製造方法。 - 2つの磁性層間にトンネルバリア層が設けられたトンネル接合を有する素子の製造装置であって、
第1基板の表面に形成され酸化によりトンネルバリア層となる第1被酸化層とは酸化膜厚の酸化時間依存特性が異なる第2被酸化層が表面に形成された第2基板を酸化雰囲気に置いて酸化する第1酸化装置と、
前記第2被酸化層の酸化膜厚を測定する測定装置と、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記第1被酸化層の酸化膜厚が目標酸化膜厚となる目標酸化時間における前記第2被酸化層の第1酸化膜厚を前記第2被酸化層の酸化膜厚の測定値から求め、前記第2被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の第2酸化膜厚と、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚とを比較する比較装置と、
前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚から、前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性を修正した前記第1被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性を求め、前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第2酸化時間依存特性から前記第1被酸化層の酸化膜厚が前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚となる修正された目標酸化時間を求める修正装置と、
前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と、前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が同じ場合には、前記第1被酸化層が形成された前記第1基板を前記第2基板と同じ酸化雰囲気に置いて前記第1被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間となるように酸化し、前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、前記第1被酸化層が形成された前記第1基板を前記第2基板と同じ酸化雰囲気に置いて前記第1被酸化層の酸化時間が前記修正された目標酸化時間となるように酸化する第2酸化装置と、
を備えたことを特徴するトンネル接合を有する素子の製造装置。 - 前記第1および第2酸化装置は同一の酸化装置であることを特徴とする請求項10記載のトンネル接合を有する素子の製造装置。
- 2つの磁性層間にトンネルバリア層が設けられたトンネル接合を有する素子の製造装置であって、
酸化によりトンネルバリア層となる第1被酸化層が表面に形成された第1基板と、酸化膜厚の酸化時間依存特性が前記第1被酸化膜とは異なる第2被酸化層を表面に有する第2基板とを同じ酸化雰囲気に置いて前記第1および第2基板を同時に酸化する酸化装置と、
前記第2被酸化層の酸化膜厚を測定する測定装置と、
前記第1被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記第1被酸化層の酸化膜厚が目標酸化膜厚となる目標酸化時間における前記第2被酸化層の第1酸化膜厚を前記第2被酸化層の酸化膜厚の測定値から求め、前記第2被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性から求められる前記目標酸化時間における前記第2被酸化層の第2酸化膜厚と、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚とを比較する比較装置と、
前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚から、前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第1酸化時間依存特性を修正した前記第1被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性を求め、前記第1被酸化層の酸化膜厚の前記第2酸化時間依存特性から前記第1被酸化層の酸化膜厚が前記第1被酸化層の前記目標酸化膜厚となる修正された目標酸化時間を求める修正装置と、
を備え、前記酸化装置は、前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と、前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が同じ場合には、前記第1被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間となるように酸化し、前記第2被酸化層の前記第2酸化膜厚と前記第2被酸化層の第1酸化膜厚が異なる場合には、前記第1被酸化層の酸化時間が前記修正された目標酸化時間となるように酸化することを特徴とするトンネル接合を有する素子の製造装置。 - 前記修正装置は、前記第2被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間に等しい場合は、前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚を前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記測定値であるとして求めることを特徴とする請求項10乃至12のいずれかに記載のトンネル接合を有する素子の製造装置。
- 前記修正装置は、前記第2被酸化層の酸化時間が前記目標酸化時間と異なる場合は、前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記測定値に基づいて、前記第2被酸化層の酸化膜厚の第1酸化時間依存特性を修正した前記第2被酸化層の酸化膜厚の第2酸化時間依存特性を求め、 前記第2被酸化層の酸化膜厚の前記第2酸化時間依存特性から前記第2被酸化層の前記第1酸化膜厚を求めることを特徴とする請求項10乃至12のいずれかに記載のトンネル接合を有する素子の製造装置。
- 前記第1被酸化層はアルミニウムであり、前記第2被酸化層はシリコンであることを特徴とする請求項10乃至14のいずれかに記載のトンネル接合を有する素子の製造装置。
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