JP3780028B2 - 走査型プローブ顕微鏡用の調整治具 - Google Patents

走査型プローブ顕微鏡用の調整治具 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は走査型プローブ顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】
走査型トンネル顕微鏡(STM)や原子間力顕微鏡(AFM)など、簡単な構成で原子サイズレベルの高い縦横方向分解能を有する走査型プローブ顕微鏡(SPM)が提案されている。
【0003】
SPMの一つに、先端に探針を設けたカンチレバーを用いるタイプがある。カンチレバーの先端に支持された探針を、試料に近づけると、探針先端と試料表面の両原子間に相互作用が働き、その強さに応じてカンチレバーの先端が上下方向(z方向)に変位する。試料表面の所望の領域の範囲内で探針を表面方向(xy方向)に走査すれば、その領域の各点における相互作用がカンチレバーの変位として確認される。例えば、相互作用を原子間力とした場合、その強さは探針先端と試料表面の間隔に依存するため、走査領域の各点での高さ情報(z位置)が得られる。この高さ情報を表面上での位置情報(xy位置)に同期させて処理して画像化すれば、試料表面の三次元的な画像が得られる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
カンチレバータイプのSPMでは、カンチレバーの先端の変位を検出するセンサーが必要である。このようなセンサーには一般に光学的な手法によるものが用いられ、特に光てこ法を用いた光学系は簡単な構成で感度が良いことから広く使用されている。
【0005】
光学的手法による変位センサーを用いる場合、光学系の各素子とカンチレバー先端との間で光学調整を行なう必要がある。このため、SPMには、光学系に対するカンチレバーの位置を調整する機構が必ず設けられている。通常、このような調整機構はカンチレバーを移動可能に保持する構成となっている。
【0007】
カンチレバーを付け換える度に光学調整を行なう必要があるため、交換に伴なう時間的損失が多い。
本発明は、カンチレバーの交換の際の時間的損失を少なくする走査型プローブ顕微鏡用の調整冶具を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、支持部から延びたカンチレバーの先端に探針を備えたカンチレバーチップの支持部を基準面を持つホルダー本体に固定する際に、ホルダー本体の基準面を当て付ける、当付面を有するホルダー取付部の当付面に当て付けたときにカンチレバーの先端が変位を検出する変位検出光学系の照準位置に来るように、ホルダー本体に対するカンチレバーチップの位置を調整するための調整治具に向けられている。
本発明の調整治具は、ホルダー本体に移動可能に保持されたカンチレバーチップをホルダー本体に対して相対的に移動させる手段と、カンチレバーの先端の位置を観察、調整するための位置調整光学系と、ホルダー本体の基準面を当て付ける当付面を持つ治具用ホルダー取付部とを備えている。これらの治具用当付面はカンチレバーの先端が位置調整光学系の照準位置に来るように位置決めされており、位置調整光学系の照準位置に対する治具用当付面の位置関係は、変位検出光学系の照準位置に対する当付面の位置関係と全く同じになっている。さらに調整治具は、ホルダー取付治具部に当て付けたレバーホルダーを保持する治具用ホルダー保持手段を備えている。
【0011】
カンチレバーチップは、ホルダー本体の基準面に対して、カンチレバーの先端が所定の位置に来るように、予め位置決めされレバーホルダーに固定される。ここでいう所定の位置とは、ホルダー本体の基準面をホルダー取付部材の当付面に当て付けて、ホルダー本体をホルダー取付部材に保持した際に、カンチレバーの先端が変位検出系の照準位置に来る位置のことである。この位置調整は、調整治具を用いることにより簡単に行なえる。調整治具は、治具用当付面を持つ治具用ホルダー取付部材と位置調整光学系を有しており、位置調整光学系に対する治具用当付面の位置関係は、走査型プローブ顕微鏡における変位検出光学系に対する当付面の位置関係と同じとなっている。従って、位置調整光学系の照準位置にカンチレバーの先端が来るように、ホルダー本体に対するカンチレバーチップの位置調整をすれば、調整後のレバーホルダーを走査型プローブ顕微鏡のホルダー取付部材に装着した際には、カンチレバーの先端が変位検出系の照準位置に必ず来る。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。
<第一の実施の形態>
本実施形態は、本発明を試料走査型のSPMに適用した例で、SPM測定に先立ち、SPMとは別体の調整治具を用いて、カンチレバーの位置調整を予め行なっておき、カンチレバーの交換時間を短縮するものである。以下の説明では、最初にSPMの走査部について述べ、次に調整治具について述べる。
【0013】
[走査部]
SPMの走査部について図1と図2を用いて説明する。図1はスキャナーとヘッドを横から見た図で、図2はスキャナーに取り付けられたヘッドを下から見た図である。
【0014】
[走査部の構成]
カンチレバーチップ10は、支持部12から延びたカンチレバー14の先端に探針16を有している。カンチレバーチップ10は、レバーホルダー18に保持される。
【0015】
レバーホルダー18は、カンチレバーチップ10の支持部12を収容する凹部22が形成されたホルダー本体20を有している。ホルダー本体20には、カンチレバーチップ10の支持部12を弾性力により押さえる板バネ24がネジ26により固定されている。ホルダー本体20の凹部22は、カンチレバーチップ10の支持部12よりも一回り大きく形成されている。従って、カンチレバーチップ10は、板バネ24の固定を緩めれば、凹部22の壁22aと支持部12の間に出来る隙間の範囲内で自由に移動できる。
【0016】
レバーホルダー18を取り付けるヘッド38は、ベース58に固定されたスキャナー56の自由端に固定されており、スキャナー56に電圧を印加することによりxyz方向に自由に変位し得る。
【0017】
ヘッド38は、レバーホルダー18を受ける凹部が形成されたヘッド本体40を有し、レバーホルダー18は面42a、42b、42cに当て付けられる。当付面42aにはマグネット44が埋め込まれている。ヘッド本体40にはレバーホルダー18を横から挿入するための溝50が設けられている。また、レバーホルダー18を受ける凹部の面42dにはバネ46が斜めに固定され、その先端にはボール48が固定されている。
【0018】
これに関連して、ホルダー本体20には、このボール48を受けるための、断面が三角形の溝28が形成されている。さらに、ホルダー本体20には、その取り扱いを容易にするための摘み30が設けられている。
【0019】
また、ヘッド38は、カンチレバー14の自由端の変位を光学的に検出する光てこ法による変位検出光学系を有している。この光学系は、カンチレバー14の自由端に集束性のビームを照射するレーザーモジュール52と、カンチレバー14の自由端で反射された光を受ける四分割フォトダイオード54で構成されている。レーザーモジュール52と四分割フォトダイオード54は、ヘッド本体40の所定の位置に固定されている。カンチレバー14の自由端がZ方向に変位すると、四分割フォトダイオード54に出来るスポット55の位置が変化する。このスポット55の位置を、四分割フォトダイオード54の各受光領域の出力に基づいてとらえることにより、カンチレバー14の自由端の変位が分かる。
【0020】
上述の構成において、ヘッド本体40、ホルダー本体20、カンチレバー14は高い精度で加工されていて、カンチレバー先端はz方向に数μm以下の精度でセンサー光の焦点に位置する。すなわち、レーザーモジュールの取付位置Aからセンサー光の焦点位置Bまでのz方向の距離をz1 とし、取付位置Aからカンチレバー先端までのz方向の距離をz2 とした場合、z1 とz2 の差は数μm以下となっている。
【0021】
[走査部の作用]
レバーホルダー18に対するカンチレバーユニット10のxy位置は、後述する調整治具を用いて予め調整しておく。その調整の終わったレバーホルダー18の摘み14を手でもって、調整治具から取り外し、横からヘッド38に挿入する。その際に、マグネット44の磁力により、ホルダー本体20の上面(基準面20a)はヘッド本体40の当付面42aに押し付けられ固定される。また、ボール43がホルダー本体20に設けた溝28に入り込み、ホルダー本体20を点C方向に押し付ける。これにより、ホルダー本体20の背面(基準面20b)と側面(基準面20c)は、それぞれ、ヘッド本体40の面42b、42cに当て付けられ固定される。これらの当付面42a、42b、42cにより、レバーホルダー18は、常にヘッド38の決まった位置に固定される。また、カンチレバーユニット10は、調整治具を用いて、予めxy位置が調整してあるので、レバーホルダー18をヘッド38に取り付けると、カンチレバー14の自由端は自動的にレーザーモジュール52の射出光の焦点位置にくる。
【0022】
SPM測定時には、スキャナー56によりヘッド38を移動させて、試料に対して探針16をxy方向に走査する。走査の間、カンチレバー14の自由端の変位をモニターする。カンチレバー14の自由端の変位すなわち探針16のz位置は、前述したように、レーザーモジュール52から射出した光がカンチレバー14で反射しフォトダイオード54に形成するスポット55の位置を監視することで分かる。スキャナー56に関して得られるxy位置とフォトダイオード54に関して得られるz位置とに基づき画像処理を行なうことにより、試料のSPM像が得られる。
【0023】
[調整治具]
次に、SPM測定に先立ってレバーホルダーに対するカンチレバーチップのxy位置を調整するための調整治具について図3〜図6を用いて説明する。図3は調整治具の側面図、図4は調整治具の平面図である。図中、既に説明した部材は同じ参照符号で示し、そのものではないがそれと同じ機能を持つ部材は100を加えた参照符号で示してある。図5はアームの先端部を示す図、図6は擦りガラスに投影されるカンチレバーの影を示した図である。
【0024】
[調整治具の構成]
調整治具は、ヘッド38と全く同じ構成の治具ヘッド138を有している。すなわち、治具ヘッド138は、ヘッド38と同様に、レバーホルダー18を位置決めするための当付面142a、142b、142cが形成された治具ヘッド本体140、当付面142aに埋め込まれたマグネット144、面142dに固定されたバネ146、バネ146の先端に固定されたボール148、レーザーモジュール152と四分割フォトダイオード154からなる光てこ法を用いた光学系を有している。
【0025】
これらの各要素はすべてヘッド38の要素と同じ位置関係になっている。特に、レーザーモジュール152の射出光の焦点位置は数μmの精度で同じとなっており、レーザーモジュール152の取付位置Aに対する当付面142a、142b、142cの位置は数μmの精度で同じとなっている。
【0026】
治具ヘッド本体140は、ネジ64により、台60に固定されている。台60の上面にはxyzステージ66が固定されている。このxyzステージ66は1μmの位置決め分解能を有している。xyzステージ66の上面にはピン68が固定されており、ピン68にはチップ把持具70が設けられ、バネ69により下方に押し付けられている。チップ把持具70は、ピン68を支点として開閉自在な二本のアーム72と、二本のアーム72を引き付けるバネ74とで構成されている。アーム72は、途中から下方に曲がって延びており、その先端には、図5に示すように、カンチレバーチップ10の支持部12を摘むための切り欠き72aが形成されている。二本のアーム72はバネ74の弾性力により閉じ、その先端の切り欠き72aでカンチレバーチップ10の支持部12を挟持する。
【0027】
台60の上面で、xyzステージ66の向かい側には、スタンド76がネジ78により固定され、スタンド76の先端には擦りガラス80がネジ82により固定されている。また、スタンド76の横には、フォトダイオード154に入射する光の光量をモニターするための表示器84が設置されている。
【0028】
[調整治具の作用]
まず、レバーホルダー18を治具ヘッド138に固定する。このとき、ヘッド38と同様に、マグネット144、ボール148、バネ146により、治具ヘッド本体140の当付面142a、142b、142cに、ホルダー本体20の基準面20a、20b、20cを当て付けて固定する。続いて、レバーホルダー18にカンチレバーチップ10を装着するが、その際、ネジ26の締め具合を調整して、カンチレバーチップ10の支持部12がホルダー本体20に板バネ24によって半固定された状態にする。
【0029】
次に、カンチレバーチップ10の支持部12をアーム72で摘み保持する。その保持力はバネ74により発生する。アーム72の先端には切り欠き72aがあり、アーム72の支点部はバネ69により下方に押されているため、カンチレバーチップ10はホルダー本体20に押し付けられた状態で保持される。アーム72はxyzステージ66に取り付けられているため、xyzステージを操作することにより、カンチレバーチップ10をxy方向に1μmの精度で移動させることができる。
【0030】
続いて、レーザーモジュール152から光をカンチレバー14に向けて照射する。光は、カンチレバー14の先端付近を通過した後に広がり、擦りガラス80に入射する。擦りガラス80には、カンチレバー14の影15が投影される。その影を見ることにより、カンチレバー14の先端がセンサー光の焦点位置にあるかどうかが判断できる。例えば、カンチレバー14の先端がセンサー光の焦点より左側に位置していれば、カンチレバー14の影15は図6(A)に示すようになり、右側に位置していれば、図6(B)に示すようになり、ちょうどセンサー光の焦点に位置していれば、図6(C)に示すようになる。
【0031】
カンチレバー14のxy位置調整は、擦りガラス80に投影されるカンチレバー14の影15を見ながら、xyzステージ66を操作してアーム72によりカンチレバーチップ10をxy方向に移動させて行なう。そして、擦りガラス80上のカンチレバー14の影15の状態が、図6(C)のようになれば、調整は完了である。また、調整完了時に表示器84でフォトダイオード154に入射しているカンチレバーからの反射光の光量をモニターし、調整完了を確認する。そのあと、ネジ26を締めてカンチレバーチップ10をホルダー本体20に固定する。
【0032】
調整の終了したカンチレバーチップ10とレバーホルダー18は、調整治具から取り外し、SPMのヘッド38に取り付ける。その際、調整は全く不要である。従って、新たなカンチレバーチップ10をヘッド38に装着する際に要する時間が数秒で済む。
【0033】
[効果]
カンチレバーの調整機構をヘッド38に搭載していないので、スキャナー56の負荷が小さくなる。従って、スキャナー56の固有振動数が大きくなり、さらに高速での走査が行なえようになる。また、カンチレバーチップ10は複雑な調整機構を介することなくヘッド38に保持されるので、カンチレバーチップ10の支持が堅固なものとなる。従って、カンチレバー14が振動し難くなり、SPM測定に有害な振動の影響を殆ど受けていない、良質なSPM像が得られるようになる。
【0034】
測定に使用するカンチレバーの交換は、レバーホルダー18を交換するだけで行なわれるなので、その所要時間を短縮できる。カンチレバーチップ10とレバーホルダー20を複数個用意し、その全てを調整治具により予め調整しておけば、複数のカンチレバーの交換も連続して行なえる。また、半導体の製造ライン等において、半導体の検査用にSPMを使用する場合、SPMの非可動時間を減らすことができ、ラインを止める時間を短縮できる。
【0035】
<第二の実施の形態>
本実施形態は、前述の調整治具の一部を変更したものである。その構成を図7に示す。
【0036】
[構成]
スタンド76には、カンチレバー14を光学的に観察するための光学顕微鏡86が固定されている。光学顕微鏡86の対物レンズの倍率は十倍程度のものを用いる。光学顕微鏡86には、光学像を電気信号に変換するCCD88が取り付けられている。CCD88には、その出力信号を画像に変換し表示するモニター90に接続されている。他の構成は前述の調整治具と全く同じである。
【0037】
[作用]
第一の実施の形態と同様に、レバーホルダー18を治具ヘッド138に固定し、レバーホルダー18にカンチレバーチップ10を半固定し、アーム72をセットする。続いて、カンチレバー14に向けてレーザーモジュール152から光を射出する。カンチレバー14の先端付近を通過した光は、光学顕微鏡86に入射し、CCD88の受光面に結像する。これにより生成したカンチレバー14の影の像は、CCD88により電気信号に変換され、モニター90に送られる。モニター90は、送られてくる電気信号を画像に変換して表示する。モニター90にはカンチレバー14が拡大されて表示される。カンチレバーチップ10の位置決めは、モニター90の画像を見ながら、第一の実施の形態と同様にxyzステージ66を操作して行なう。
【0038】
[効果]
本実施形態の調整治具では、カンチレバー14がモニター90に高い倍率で拡大し表示されるので、位置調整が正確に行なえる。
【0039】
なお、実施の形態では、カンチレバーチップ10の位置調整は、擦りガラスや光学顕微鏡を用いてカンチレバー14を観察しながら行なったが、フォトダイオード154の出力だけを頼りに行なってもよい。
【0040】
<第三の実施の形態>
本実施形態は、前述のSPMの走査部を改良したものである。その構成を図8に示す。
【0041】
[構成]
四分割フォトダイオード54は微動機構256を介してヘッド本体40に取り付けられている。微動機構256は、四分割フォトダイオード54をzx面に平行な方向にその前面256aに沿って移動可能に支持している。これにより、四分割フォトダイオード54は、レーザーモジュール52からカンチレバー14を経由して四分割フォトダイオード54に至る光軸を含む面と微動機構256の前面256aとの交線に沿って移動可能となっている。
【0042】
微動機構256は、四分割フォトダイオード54を移動させるための駆動源として例えばモーター(図示せず)を含んでおり、制御装置258は、このモーターの駆動を制御し、四分割フォトダイオード54の位置を間接的に制御する。他の構成は前述のSPMの走査部と全く同じである。
【0043】
[作用]
カンチレバーチップ10は、通常、光が照射されるカンチレバー14の自由端部の面つまり探針16の反対側の面の反射率を高めるため、反射面が設けられる。この反射面は一般に金の膜をカンチレバー14に形成することで作られる。この反射面として設けた金の膜の応力のせいでカンチレバー14には反りが生じてしまう。また、金の膜を形成する際、金の膜とカンチレバー14の密着性を高めるため、カンチレバー14に先ずクロムの薄膜を形成し、その上に金をメッキする手法がよく採用される。このクロムの膜は応力が大きいため、カンチレバーの反りを更に大きなものにしてしまう。
【0044】
前述の実施の形態は、カンチレバーチップ10として、カンチレバー14に反りの無い理想的なものを想定しており、カンチレバー14に反りの有るものには対応していない。このため、カンチレバー14が反っているカンチレバーチップ10を前述の実施の形態に適用した場合には、次に述べる不具合が生じる。
【0045】
第一の実施の形態を例にあげて説明する。カンチレバー14に反りがあっても、レバーホルダー18に対するカンチレバーチップ10の位置調整は、擦りガラス80に写るカンチレバー14の影を見ながら行なえる。しかし、この位置調整の済んだカンチレバーチップ10とレバーホルダー18をSPMのヘッド38に取り付けても、カンチレバー14の反りのため、カンチレバー14からの反射光は四分割フォトダイオード54の中心に入射しない。さらに詳しく述べると、カンチレバー14は反ってはいるが捻れてはいないので、カンチレバー14からの反射光は、四分割フォトダイオード54の中心に対して、レーザーモジュール52からカンチレバー14を経由して四分割フォトダイオード54に至る光軸を含む面と微動機構256の前面156aとの交線に沿ってずれた位置に入射する。
【0046】
本実施形態では、微動機構256により四分割フォトダイオード54の位置を調整することで、この事態に対処する。つまり、位置調整の済んだカンチレバーチップ10とレバーホルダー18をSPMのヘッド38に取り付けた後、カンチレバー14からの反射光のスポット55が四分割フォトダイオード54の中心に位置していない場合には、制御装置258により四分割フォトダイオード54を移動させて、スポット55を四分割フォトダイオード54の中心に配置させる。
【0047】
次に、図9を参照しながら、四分割フォトダイオード54の移動について説明する。四分割フォトダイオード54の受光領域をスポット55のずれる方向に沿って二つに分け、その上側の出力をA、下側の出力をBとする。その和信号A+Bは、スポット55が四分割フォトダイオード54の中心に位置するときに最も大きく、中心から離れるにつれて小さくなる。制御部258は、スポット55を四分割フォトダイオード54の中心に短時間の内に正確に配置させるため、和信号A+Bに応じて四分割フォトダイオード54の移動速度を変更する。つまり、和信号A+Bが閾値以下のときは移動時間を短縮するために高速で移動させ、和信号A+Bが閾値以上のときは位置精度を高めるために低速で移動させる。
【0048】
また、差信号A−Bは、スポット55の位置が四分割フォトダイオード54の中心に近いほど0に近い値を示す。制御部258は、差信号A−Bが所定の目標範囲内の値になったとき、四分割フォトダイオード54の移動を停止させる。この結果、スポット55は、図9の上側中央に図示されるように、四分割フォトダイオード54の中央に配置される。差信号の目標範囲は幅を持っているため、スポット55はスポット目標範囲に納まっている範囲内において、四分割フォトダイオード54の中心から僅かにずれている可能性もある。しかし、スポット55は厳密に四分割フォトダイオード54の中心に位置する必要はなく、この僅かな位置のずれは信号処理の際に補正される。
【0049】
このような制御によりカンチレバー14に反りがある場合にもスポット55は短時間の内に正確に四分割フォトダイオード54の中心に配置される。
この実施形態においては、制御部258は、差信号A+Bに基づいて四分割フォトダイオード54の移動速度を変更しているが、このような移動速度の変更は行なわなくてもよい。つまり、制御部258は、四分割フォトダイオード54を一定の速度で移動させ、差信号A−Bが所定の目標範囲内の値になったときに、四分割フォトダイオード54の移動を停止させてもよい。
【0050】
[効果]
本実施形態の走査部は、四分割フォトダイオード54の位置を調整する微動機構256を備えているので、カンチレバー14に反りがあるカンチレバーチップ10に対しても対応可能である。
【0051】
【発明の効果】
本発明の調整治具によれば、ホルダー本体の基準面をホルダー取付部材の当付面に押し当てて装着するだけで必ずカンチレバーの先端が変位検出光学系の照準位置に来るので、カンチレバーの交換時の光学調整が不要になり、時間的損失が少なくなる。これにより、走査型プローブ顕微鏡の非可動時間を減らし、効率良く使用できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】SPMの走査部の側面図で、一部を破断して示してある。
【図2】図1に示したヘッドを下方から見た平面図である。
【図3】カンチレバーチップの位置調整を行なうための調整治具の側断面図である。
【図4】図3に示した調整治具の平面図である。
【図5】図3と図4に示したアームの先端の形状を示した図である。
【図6】図3と図4に示した擦りガラスに投影されるカンチレバーの影のいくつかの状態を示した図である。
【図7】カンチレバーチップの位置調整を行なうための別の調整治具の側断面図である。
【図8】SPMの別の走査部の側面図で、一部を破断して示してある。
【図9】図8の走査部における四分割フォトダイオードの移動の制御を説明するための図である。
【符号の説明】
10 カンチレバーチップ
12 支持部
14 カンチレバー
16 探針
18 レバーホルダー
20 ホルダー本体
20a、20b、20c 基準面
24 板バネ
26 ネジ
38 ヘッド
40 ヘッド本体
44 マグネット
42a、42b、42c 当付面
52 レーザーモジュール
54 フォトダイオード

Claims (5)

  1. 支持部から延びたカンチレバーの先端に探針を備えたカンチレバーチップの支持部を基準面を持つホルダー本体に固定する際に、ホルダー本体の基準面を当て付ける、当付面を有するホルダー取付部の当付面に当て付けたときにカンチレバーの先端が変位を検出する変位検出光学系の照準位置に来るように、ホルダー本体に対するカンチレバーチップの位置を調整するための走査型プローブ顕微鏡用の調整治具であって、ホルダー本体に移動可能に保持されたカンチレバーチップをホルダー本体に対して相対的に移動させる手段と、カンチレバーの先端の位置を観察、調整するための位置調整光学系と、ホルダー本体の基準面を当て付ける当付面を持つ治具用ホルダー取付部であって、これらの治具用当付面はカンチレバーの先端が位置調整光学系の照準位置に来るように位置決めされており、位置調整光学系の照準位置に対する治具用当付面の位置関係は、前記変位検出光学系の照準位置に対する当付面の位置関係と全く同じになっている、治具用ホルダー取付部と、ホルダー取付治具部に当て付けたレバーホルダーを保持する治具用ホルダー保持手段とを備えていることを特徴とする調整治具。
  2. 前記位置調整光学系はカンチレバー先端の位置を確認する光学装置を備えていることを特徴とする請求項1記載の調整冶具。
  3. 前記位置調整光学系の光学装置は、対物レンズを備える光学顕微鏡であることを特徴とする請求項1記載の調整冶具。
  4. 前記位置調整光学系はカンチレバー先端の位置を確認する光検出器を備えていることを特徴とする請求項1記載の調整冶具。
  5. 前記位置調整光学系の光学装置はカンチレバー先端の位置を確認する光学装置及び光検出器を備えていることを特徴とする請求項1記載の調整冶具。
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